JPH04257244A - Water carrier - Google Patents
Water carrierInfo
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- JPH04257244A JPH04257244A JP1854191A JP1854191A JPH04257244A JP H04257244 A JPH04257244 A JP H04257244A JP 1854191 A JP1854191 A JP 1854191A JP 1854191 A JP1854191 A JP 1854191A JP H04257244 A JPH04257244 A JP H04257244A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- door
- wafer
- wafer carrier
- wall
- inner door
- Prior art date
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Landscapes
- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
Abstract
Description
【0001】0001
【産業上の利用分野】本発明は真空雰囲気内でウェーハ
を収納して置けるウェーハキャリアに係わり、ロードロ
ック室などの真空チャンバ内で、扉を小さなトルクで開
閉できて、しかも気密性が完全に保持できるウェーハキ
ャリアに関する。[Industrial Application Field] The present invention relates to a wafer carrier that can store and place wafers in a vacuum atmosphere, and is capable of opening and closing the door with a small torque in a vacuum chamber such as a load lock chamber, while maintaining complete airtightness. Regarding a wafer carrier that can hold wafers.
【0002】近年、エレクトロニクスの発展は目ざまし
いものがあるが、その発展は半導体装置の製造技術の革
新に負うところが大きい。ところで、シリコンウェーハ
から半導体素子に仕上げるまでの一連の工程、いわゆる
ウェーハプロセスと呼ばれる工程においては、一般に、
酸化、レジスト処理、露光、現像、エッチング、不純物
導入といった幾つかの工程が何回か繰り返されるが、そ
の工程の各所でウェーハの保持や移動、移載が行われて
いる。In recent years, the development of electronics has been remarkable, and this development is largely due to innovations in semiconductor device manufacturing technology. By the way, in a series of steps from a silicon wafer to finishing a semiconductor element, a process called a wafer process, generally,
Several steps such as oxidation, resist treatment, exposure, development, etching, and impurity introduction are repeated several times, and the wafer is held, moved, and transferred at various points during these steps.
【0003】そして、半導体素子の集積度が増大するに
つれて、微細なパターニングを行ったり、スパッタのよ
うな真空処理を行ったりする工程などにおいては、ウェ
ーハを如何に清浄な状態を保ちながら持ち運び、装置内
に搬入したり搬出したりするかが重要な製造技術となっ
ている。As the degree of integration of semiconductor devices has increased, it has become important to keep wafers clean and transport them during processes such as fine patterning and vacuum processing such as sputtering. An important manufacturing technology is how to bring the product into the factory or take it out.
【0004】0004
【従来の技術】半導体装置に用いられる素子の集積度が
増大して例えば16Mビットとか64Mビットといった
超高集積度をもった半導体装置が開発されるに伴って、
半導体素子の製造工程における微細化指向がますます進
められている。その結果、例えばウェーハプロセスが行
われるクリーンルームは、クラス1以下といった高い清
浄度(クリーン度)が要求されるようになっている。2. Description of the Related Art As the degree of integration of elements used in semiconductor devices increases and semiconductor devices with ultra-high degree of integration, such as 16 Mbits or 64 Mbits, are developed,
The trend toward miniaturization in the manufacturing process of semiconductor devices is increasing. As a result, clean rooms in which wafer processes are performed, for example, are required to have a high degree of cleanliness, such as class 1 or lower.
【0005】そこで、このような高清浄度のクリーンル
ームを建設する巨額な費用の低減を図るために、クリー
ンベンチなどの局所クリーンエリア方式が採られるよう
になってきており、各種真空処理装置の中も局所クリー
ンエリアの一種と考えられるようになってきている。[0005] Therefore, in order to reduce the huge cost of constructing such a clean room with high cleanliness, local clean area systems such as clean benches have been adopted, and various types of vacuum processing equipment are being used. are also being considered as a type of local clean area.
【0006】この真空がクリーンエリアであるとの考え
方から、局所クリーンエリア間でウェーハを移動させる
際、ウェーハキャリアも内部を真空にした状態で持ち運
びができる形態になってきている。Based on the idea that this vacuum is a clean area, wafer carriers have also been designed so that they can be carried with the interior vacuumed when wafers are moved between local clean areas.
【0007】図4はウェーハキャリアの一例の一部切欠
き斜視図、図5は図4の取り扱い例の斜視図である。図
において、1はウェーハ、2はウェーハキャリア、2a
は衝合面、2bは扉、2cは軸、6はOリング、7は支
持部材、8はロードロック室、8aはロードロック扉、
8bは開閉機構、8cはロボットアーム、8dは排気手
段である。FIG. 4 is a partially cutaway perspective view of an example of a wafer carrier, and FIG. 5 is a perspective view of the handling example shown in FIG. In the figure, 1 is a wafer, 2 is a wafer carrier, 2a
is the abutment surface, 2b is the door, 2c is the shaft, 6 is the O-ring, 7 is the support member, 8 is the load-lock chamber, 8a is the load-lock door,
8b is an opening/closing mechanism, 8c is a robot arm, and 8d is an exhaust means.
【0008】図4において、ウェーハキャリア2は、複
数枚のウェーハ1を収納する容器であり、清浄度を保つ
ために内部を真空にして収納できるので真空キャリアと
も呼ばれている。In FIG. 4, a wafer carrier 2 is a container that stores a plurality of wafers 1, and is also called a vacuum carrier because it can be stored in a vacuum to maintain cleanliness.
【0009】ウェーハキャリア2の扉2bの内周壁には
、Oリング6が設けられている。そして、扉2bを閉じ
たとき、このOリング6がウェーハキャリア2の衝合面
2aに弾接し、ウェーハキャリア2の内部の気密性が保
てるようになっている。An O-ring 6 is provided on the inner peripheral wall of the door 2b of the wafer carrier 2. When the door 2b is closed, the O-ring 6 comes into elastic contact with the abutting surface 2a of the wafer carrier 2, thereby maintaining airtightness inside the wafer carrier 2.
【0010】また、収納されているウェーハ1がキャリ
ア内で動かないように支持するために、扉2bの内側に
はゴムなどの弾性体からなる支持部材7が設けられてい
る。一方、ウェーハ1は、このウェーハキャリア2に収
納され、ロードロック室8に運び込まれて、ウェーハ1
を搬入したり搬出したりすることが行われる。Further, in order to support the stored wafers 1 so that they do not move within the carrier, a support member 7 made of an elastic material such as rubber is provided inside the door 2b. On the other hand, the wafer 1 is stored in this wafer carrier 2, carried into the load lock chamber 8, and the wafer 1
Carrying in and out is carried out.
【0011】図5において、ロードロック室8は、図示
してないが例えば真空処理装置などに連なっており、上
部に設けられているロードロック扉8aを開ければ、ウ
ェーハキャリア2を出し入れできるようになっている。
そして、ウェーハキャリア2を所定の位置に配置すると
開閉機構8bが係合して、ロードロック室8の外部から
遠隔操作でウェーハキャリア2の扉2bを開閉できるよ
うになっている。In FIG. 5, the load lock chamber 8 is connected to, for example, a vacuum processing apparatus (not shown), and the wafer carrier 2 can be taken in and taken out by opening the load lock door 8a provided at the top. It has become. When the wafer carrier 2 is placed in a predetermined position, the opening/closing mechanism 8b is engaged, and the door 2b of the wafer carrier 2 can be opened and closed by remote control from outside the load lock chamber 8.
【0012】また、ロードロック室8の内部にはロボッ
トアーム8cが設けられており、このロボットアーム8
cによってウェーハ1をウェーハキャリア2の中からロ
ードロック室8に連なる真空処理装置などに搬出したり
、ウェーハ1をウェーハキャリア2の中に搬入したりす
るようになっている。Further, a robot arm 8c is provided inside the load lock chamber 8.
The wafer 1 is carried out from the wafer carrier 2 to a vacuum processing apparatus connected to the load lock chamber 8, or the wafer 1 is carried into the wafer carrier 2 by c.
【0013】さらに、ロードロック室8の底部は排気手
段8dに連なっており、ロードロック室8の内部を減圧
してウェーハキャリア2の内部とほゞ同じ気圧にすれば
、開閉機構8bによって扉2bを開閉できるようになっ
ている。Furthermore, the bottom of the load lock chamber 8 is connected to an exhaust means 8d, and when the pressure inside the load lock chamber 8 is reduced to almost the same pressure as the inside of the wafer carrier 2, the door 2b is opened by the opening/closing mechanism 8b. can be opened and closed.
【0014】ところで、従来のウェーハキャリア2の扉
2bは、一端部が軸2cを介してウェーハキャリア2の
一辺部に枢支されており、この軸2cに開閉機構8bが
係合して回動し、扉2bを開閉する構成になっている。By the way, the door 2b of the conventional wafer carrier 2 has one end pivotally supported on one side of the wafer carrier 2 via a shaft 2c, and an opening/closing mechanism 8b engages with this shaft 2c to rotate the door 2b. The door 2b is configured to open and close.
【0015】[0015]
【発明が解決しようとする課題】そのため、扉2bを閉
じる際、軸2cに近いOリング6から順次衝合面2aに
弾接していく。そのため、非常に強いトルクで軸2cを
回さないと、扉2bが十分気密性を保って閉まり切らな
い。そればかりでなく、Oリング6が扱かれて皺が生じ
、Oリング6と衝合面2aとの弾接状態が不揃いとなっ
て、気密性が阻害されることが間々起こる問題があった
。[Problems to be Solved by the Invention] Therefore, when closing the door 2b, the O-ring 6 comes into elastic contact with the abutment surface 2a in sequence starting from the O-ring 6 closest to the shaft 2c. Therefore, unless the shaft 2c is rotated with a very strong torque, the door 2b will not be able to fully close with sufficient airtightness. In addition, the O-ring 6 becomes wrinkled due to handling, and the elastic contact between the O-ring 6 and the abutting surface 2a becomes uneven, which often impairs airtightness.
【0016】さらに、扉2bに内張りされた支持部材7
が円弧を描いてウェーハ1の周縁部に当接するので、ウ
ェーハ1の周縁部を擦って塵が生ずる原因となり、製造
工程における歩留りを落とす原因となっていた。Furthermore, a support member 7 lined on the door 2b
Since it contacts the peripheral edge of the wafer 1 in a circular arc, it rubs the peripheral edge of the wafer 1, causing dust to be generated and reducing the yield in the manufacturing process.
【0017】そこで本発明はウェーハキャリアの扉を二
重構造となし、外扉を閉めたあと内扉がウェーハキャリ
アの衝合面に平行に弾接するように構成してなるウェー
ハキャリアを提供することを目的としている。Therefore, the present invention provides a wafer carrier in which the door of the wafer carrier has a double structure, and the inner door comes into elastic contact parallel to the abutting surface of the wafer carrier after the outer door is closed. It is an object.
【0018】[0018]
【課題を解決するための手段】上で述べた課題は、ウェ
ーハを真空雰囲気で収納できる気密性を具えたウェーハ
キャリアであって、外扉と内扉を有し、前記外扉は、ウ
ェーハキャリアの壁の一辺部に擺動可能に枢支されてい
るものであり、前記内扉は、外壁が外扉の内壁に押圧手
段を介して前進・後退可能に支持されており、かつ内壁
の、周辺部にOリングと中央部に支持部材を有するもの
であり、前記内扉は、外扉が閉じた際、押圧手段によっ
て前進させられ、Oリングが衝合面に気密可能に弾接す
るとともに、支持部材がウェーハの周縁部を支持するも
のであるように構造されたウェーハキャリアによって解
決される。[Means for Solving the Problems] The problem described above is to provide a wafer carrier that is airtight and can store wafers in a vacuum atmosphere, and has an outer door and an inner door, and the outer door is a wafer carrier. The inner door is slidably supported on one side of the wall, and the outer wall is supported by the inner wall of the outer door so as to be able to move forward and backward, and The inner door is moved forward by a pressing means when the outer door is closed, and the O-ring is brought into airtight elastic contact with the abutting surface, and the support member is provided in the center. The solution is a wafer carrier constructed in such a way that the members support the periphery of the wafer.
【0019】[0019]
【作用】ロードロック室に着脱可能に配設される従来の
ウェーハキャリアは、扉を閉じる際、内壁に設けられて
いるOリングが扱くように押圧されるので、閉めるのに
強い力が必要なばかりでなく、気密性が損なわれること
が間々起こったが、本発明においては、扉を外扉と内扉
の二重構造にして、Oリングが扱かれないようになって
いる。[Operation] When a conventional wafer carrier is removably installed in a load lock chamber, when the door is closed, the O-ring installed on the inner wall is pressed against it, so a strong force is required to close it. Not only that, but the airtightness was occasionally compromised, but in the present invention, the door has a double structure of an outer door and an inner door, so that the O-ring is not handled.
【0020】すなわち、外扉の内壁に押圧手段を介して
設けられた内扉が、押圧手段によって前進・後退するよ
うにしている。そして、外扉を閉じたあと内扉を押圧手
段によって平行に前進させて、Oリングをウェーハキャ
リアの衝合面に一様に弾接させるようにしている。That is, the inner door, which is provided on the inner wall of the outer door via the pressing means, is moved forward and backward by the pressing means. After the outer door is closed, the inner door is moved forward in parallel by a pressing means so that the O-ring is uniformly brought into elastic contact with the abutting surface of the wafer carrier.
【0021】こうすると、外扉が小さなトルクによって
開閉できるとともに、Oリングを扱く力が働かないので
、安定な気密性を得ることができる。[0021] In this way, the outer door can be opened and closed with a small torque, and since no force is applied to the O-ring, stable airtightness can be obtained.
【0022】[0022]
【実施例】図1は本発明の一実施例の一部切欠き斜視図
、図2は図1の開閉動作を説明する上断面図、図3は本
発明の他の実施例の要部の上断面図である。図において
、1はウェーハ、2はウェーハキャリア、2aは衝合面
、3は外扉、3aは案内孔、4は内扉、4aは案内軸、
5は押圧手段、5aはガス導入孔、5bは加圧ガス、6
はOリング、7は支持部材である。[Embodiment] Fig. 1 is a partially cutaway perspective view of one embodiment of the present invention, Fig. 2 is a top sectional view illustrating the opening/closing operation of Fig. 1, and Fig. 3 is a main part of another embodiment of the present invention. It is a top sectional view. In the figure, 1 is a wafer, 2 is a wafer carrier, 2a is a mating surface, 3 is an outer door, 3a is a guide hole, 4 is an inner door, 4a is a guide shaft,
5 is a pressing means, 5a is a gas introduction hole, 5b is a pressurized gas, 6
is an O-ring, and 7 is a support member.
【0023】実施例:1
図1〜図2において、複数枚のウェーハ1が収納される
ウェーハキャリア2には、外扉3と内扉4の二重構造の
扉が設けられている。そして、内扉4は外扉3の内壁に
複数個の押圧手段5を介して支持されている。Embodiment 1 In FIGS. 1 and 2, a wafer carrier 2 in which a plurality of wafers 1 are stored is provided with a double door structure including an outer door 3 and an inner door 4. The inner door 4 is supported on the inner wall of the outer door 3 via a plurality of pressing means 5.
【0024】内扉4の内壁の周囲には、ウェーハキャリ
ア2の衝合面2aに対向してOリング6が設けられてい
る。このOリング6には、例えば弾力性のあるシリコー
ンゴムやウレタンゴムなどのOリングが用いられる。ま
た、内扉4の内壁の中央部にはウェーハキャリア2に収
納されるウェーハ1が動かないように周縁部を支持する
支持部材7が設けられている。この支持部材7にも弾力
性のあるシリコーンゴムやウレタンゴムなどが用いられ
る。An O-ring 6 is provided around the inner wall of the inner door 4, facing the abutting surface 2a of the wafer carrier 2. This O-ring 6 is made of, for example, elastic silicone rubber or urethane rubber. Further, a support member 7 is provided at the center of the inner wall of the inner door 4 to support the peripheral portion so that the wafers 1 stored in the wafer carrier 2 do not move. This support member 7 is also made of elastic silicone rubber, urethane rubber, or the like.
【0025】押圧手段5は、内扉4を支持するに足る複
数個のベローズからなり、ガス導入孔5aを通して内部
に加圧ガス5bが吹き込めるようになっている。そして
、このベローズは、図2(A)に示したように常時ベロ
ーズが縮まっているので、外扉3を閉めてもOリング6
が衝合面2aと僅かな隙間が開くようになっている。The pressing means 5 is composed of a plurality of bellows sufficient to support the inner door 4, and is configured to allow pressurized gas 5b to be blown into the interior through the gas introduction hole 5a. Since the bellows is always contracted as shown in FIG. 2(A), even if the outer door 3 is closed, the O-ring 6
There is a slight gap between the contact surface 2a and the abutting surface 2a.
【0026】一方、例えば高圧窒素ガスなどの加圧ガス
5bをガス導入孔5aから吹き込むと、図2(B)に示
したようにベローズが伸びて内扉4が前進し、Oリング
6がウェーハキャリア2の衝合面2aに弾接するように
なっている。そして、キャリア2の内部が真空になった
状態では、内扉4は大気圧によって常に押圧されて、ウ
ェーハキャリア2の内部の気密が保たれるようになって
いる。On the other hand, when a pressurized gas 5b such as high-pressure nitrogen gas is blown into the gas introduction hole 5a, the bellows extends and the inner door 4 moves forward, as shown in FIG. It comes into elastic contact with the abutment surface 2a of the carrier 2. When the inside of the carrier 2 is in a vacuum state, the inner door 4 is constantly pressed by atmospheric pressure, so that the inside of the wafer carrier 2 is kept airtight.
【0027】ウェーハ1を内部が真空になったウェーハ
キャリア2から搬出する場合には、まず、ウェーハキャ
リア2を図示してないロードロック室の中の所定の位置
に配置する。次いで、ロードロック室の中を排気してウ
ェーハキャリア2の内部の気圧と同じにする。そうする
と内扉4は、押圧手段5であるベローズの収縮によって
自発的に後退してOリング6が衝合面2aから僅かに離
れるので、外扉3を開くことができる。次いで、図示し
てないロボットアームなどによってウェーハ1の搬出が
行われる。When carrying out the wafer 1 from the wafer carrier 2 whose interior is evacuated, the wafer carrier 2 is first placed at a predetermined position in a load lock chamber (not shown). Next, the inside of the load lock chamber is evacuated to make the atmospheric pressure the same as that inside the wafer carrier 2. Then, the inner door 4 spontaneously retreats due to contraction of the bellows, which is the pressing means 5, and the O-ring 6 slightly separates from the abutment surface 2a, so that the outer door 3 can be opened. Next, the wafer 1 is carried out by a robot arm (not shown) or the like.
【0028】一方、ウェーハ1をウェーハキャリア2の
中に搬入する場合には、減圧された図示してないロード
ロック室の中でウェーハ1をウェーハキャリア2に搬入
し終わったら、まず、外扉3を閉じる。次いで、押圧手
段5によって内扉4を前進させる。つまり、ガス導入孔
5aから加圧ガス5bを吹き込んでベローズを伸長させ
、Oリング6を衝合面2aに弾接させる。次いで、ロー
ドロック室をリークさせて大気圧に戻すと内扉4が大気
圧に押圧されてOリング6が衝合面2aに密接して閉成
される。
そして、ウェーハキャリア2がロードロック室の中から
取り出されて適宜持ち運ばれる。On the other hand, when loading the wafer 1 into the wafer carrier 2, after loading the wafer 1 into the wafer carrier 2 in a depressurized load lock chamber (not shown), first open the outer door 3. Close. Next, the inner door 4 is moved forward by the pressing means 5. That is, pressurized gas 5b is blown through the gas introduction hole 5a to expand the bellows and bring the O-ring 6 into elastic contact with the abutment surface 2a. Next, when the load lock chamber is leaked and returned to atmospheric pressure, the inner door 4 is pressed by atmospheric pressure and the O-ring 6 is closed in close contact with the abutment surface 2a. Then, the wafer carrier 2 is taken out of the load lock chamber and carried as appropriate.
【0029】実施例:2
図3において、内扉4は外扉3と平行に前進・後退する
ことが望ましい。そこで、内扉4には適宜複数個の案内
軸4aが設けられており、この案内軸4aが滑動自在に
嵌合する案内孔3aが外扉3に設けられている。そして
、内扉4はこの案内軸4aによって支持されながら前進
・後退するようになっている。Embodiment 2 In FIG. 3, it is desirable that the inner door 4 move forward and backward parallel to the outer door 3. Therefore, the inner door 4 is provided with a plurality of guide shafts 4a as appropriate, and the outer door 3 is provided with a guide hole 3a into which the guide shafts 4a are slidably fitted. The inner door 4 moves forward and backward while being supported by this guide shaft 4a.
【0030】こうすると、押圧手段5は内扉4を前進・
後退させるだけの機能なので、例えばベローズを1個設
けるだけでよい。こゝでは押圧手段5にはベローズと加
圧ガスを用いているが、コイルばねや板ばねなどの引っ
張りばねと内扉4を機械的に押す手段を組み合わせるこ
ともでき、種々の変形が可能である。[0030] In this way, the pressing means 5 moves the inner door 4 forward.
Since the function is simply to retreat, it is sufficient to provide only one bellows, for example. Here, a bellows and pressurized gas are used as the pressing means 5, but it is also possible to combine a tension spring such as a coil spring or a leaf spring with a means for mechanically pressing the inner door 4, and various modifications are possible. be.
【0031】[0031]
【発明の効果】内部を真空にしてウェーハを収納する従
来のウェーハキャリアは、扉の開閉に強い力を要したり
気密性が不完全であったりする難点があったが、本発明
になるウェーハキャリアは、扉を二重構造にすることに
よって、軽く開閉できてしかも気密性も完全に保持する
ことができる。[Effects of the Invention] Conventional wafer carriers that house wafers with a vacuum inside had drawbacks such as requiring strong force to open and close the door and imperfect airtightness, but the wafer carrier of the present invention By having a double door structure, the carrier can be easily opened and closed while maintaining complete airtightness.
【0032】その結果、ますます集積度が増大して塵埃
による汚染を避けなければならないウェーハプロセスに
おいて、ロードロック室のような真空チャンバの中に配
置されて遠隔操作されるウェーハキャリアの操作性の向
上とそれに因ってきたるプロセスの効率化に対して、本
発明は寄与するところが大である。As a result, in wafer processes where the degree of integration is increasing and dust contamination must be avoided, the operability of wafer carriers that are placed in vacuum chambers such as load lock chambers and are remotely operated has improved. The present invention greatly contributes to improvements in process efficiency and process efficiency.
【図1】 本発明の一実施例の一部切欠き斜視図であ
る。FIG. 1 is a partially cutaway perspective view of an embodiment of the present invention.
【図2】 図1の開閉動作の説明する上断面図である
。FIG. 2 is a top sectional view illustrating the opening/closing operation of FIG. 1;
【図3】 本発明の他の実施例の要部の上断面図であ
る。FIG. 3 is a top sectional view of essential parts of another embodiment of the present invention.
【図4】 ウェーハキャリアの一例の一部切欠き斜視
図である。FIG. 4 is a partially cutaway perspective view of an example of a wafer carrier.
【図5】 図4の取り扱い例の斜視図である。FIG. 5 is a perspective view of the handling example shown in FIG. 4.
1 ウェーハ
2 ウェーハキャリア 2a 衝合面3
外扉
4 内扉
5 押圧手段 5a ガス
導入孔 5b 加圧ガス
6 Oリング
7 支持部材1 Wafer 2 Wafer carrier 2a Abutment surface 3
Outer door 4 Inner door 5 Pressing means 5a Gas introduction hole 5b Pressurized gas 6 O-ring 7 Support member
Claims (3)
できる気密性を具えたウェーハキャリア(2) であっ
て、外扉(3) と内扉(4) を有し、前記外扉(3
) は、前記ウェーハキャリア(2) の壁の一辺部に
擺動可能に枢支されているものであり、前記内扉(4)
は、外壁が前記外扉(3) の内壁に押圧手段(5)
を介して前進・後退可能に支持されており、かつ内壁
の、周辺部にOリング(6) と中央部に支持部材(7
) を有するものであり、前記内扉(4) は、前記外
扉(3) が閉じた際、前記押圧手段(5) によって
前進させられ、Oリング(6) が前記衝合面(2a)
に気密可能に弾接するとともに、支持部材(7) が前
記ウェーハ(1) の周縁部を支持するものであること
を特徴とするウェーハキャリア。1. A wafer carrier (2) having an airtight property capable of storing a wafer (1) in a vacuum atmosphere, comprising an outer door (3) and an inner door (4), the outer door (3) having an outer door (3) and an inner door (4).
) is slidably pivoted to one side of the wall of the wafer carrier (2), and is connected to the inner door (4).
The outer wall is pressed against the inner wall of the outer door (3) by means (5).
It is supported so that it can advance and retreat through
), the inner door (4) is moved forward by the pressing means (5) when the outer door (3) is closed, and the O-ring (6) is pressed against the abutment surface (2a).
A wafer carrier characterized in that the support member (7) is in airtight elastic contact with the wafer (1) and supports the peripheral edge of the wafer (1).
3) の内壁と前記内扉(4) の外壁の間に気密可能
に架設され、かつ該外扉(3) に穿設されたガス導入
孔(5a)に連なっているベローズからなり、該ガス導
入孔(5a)から加圧ガス(5b)が吹き込まれた際、
伸長して該内扉(4) を前進させるものである請求項
1記載のウェーハキャリア。2. The pressing means (5) is configured to press the outer door (
The bellows is installed in an airtight manner between the inner wall of the inner door (3) and the outer wall of the inner door (4), and is connected to the gas introduction hole (5a) formed in the outer door (3). When pressurized gas (5b) is blown from the introduction hole (5a),
The wafer carrier according to claim 1, wherein the inner door (4) is extended to advance.
を有し、該案内軸(4a)が前記外扉(3) に設けら
れた案内孔(3a)に滑動自在に嵌合して前進・後退す
るものである請求項1記載のウェーハキャリア。[Claim 3] The inner door (4) has a guide shaft (4a).
The wafer carrier according to claim 1, wherein the guide shaft (4a) is slidably fitted into a guide hole (3a) provided in the outer door (3) and moves forward and backward.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1854191A JPH04257244A (en) | 1991-02-12 | 1991-02-12 | Water carrier |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1854191A JPH04257244A (en) | 1991-02-12 | 1991-02-12 | Water carrier |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04257244A true JPH04257244A (en) | 1992-09-11 |
Family
ID=11974495
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1854191A Withdrawn JPH04257244A (en) | 1991-02-12 | 1991-02-12 | Water carrier |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04257244A (en) |
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6113734A (en) * | 1997-01-09 | 2000-09-05 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Apparatus for opening/closing a process chamber door of ovens used for manufacturing semiconductor devices |
| KR100432975B1 (en) * | 1995-07-27 | 2004-10-22 | 닛토덴코 가부시키가이샤 | Retracting and withdrawing apparatus for semiconductor wafers and conveying container for semiconductor wafers used therein |
| KR100506972B1 (en) * | 1999-01-12 | 2005-08-09 | 삼성전자주식회사 | Device for opening and closing load lock door for ion implanter |
| JP2006100792A (en) * | 2004-08-02 | 2006-04-13 | Applied Materials Inc | Method and apparatus for providing a floating seal for a chamber door |
| JP2007227941A (en) * | 1998-07-10 | 2007-09-06 | Entegris Inc | Cushioned wafer container |
| US8206075B2 (en) | 2004-06-02 | 2012-06-26 | Applied Materials, Inc. | Methods and apparatus for sealing a chamber |
| KR101276619B1 (en) * | 2012-11-20 | 2013-06-19 | 주식회사 로우템 | Sterilizer door with sensor-opening structure |
| US8648977B2 (en) | 2004-06-02 | 2014-02-11 | Applied Materials, Inc. | Methods and apparatus for providing a floating seal having an isolated sealing surface for chamber doors |
-
1991
- 1991-02-12 JP JP1854191A patent/JPH04257244A/en not_active Withdrawn
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| KR100432975B1 (en) * | 1995-07-27 | 2004-10-22 | 닛토덴코 가부시키가이샤 | Retracting and withdrawing apparatus for semiconductor wafers and conveying container for semiconductor wafers used therein |
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| US6302684B1 (en) | 1997-01-09 | 2001-10-16 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Apparatus for opening/closing a process chamber door of ovens used for manufacturing semiconductor devices |
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| US9580956B2 (en) | 2004-06-02 | 2017-02-28 | Applied Materials, Inc. | Methods and apparatus for providing a floating seal for chamber doors |
| JP2006100792A (en) * | 2004-08-02 | 2006-04-13 | Applied Materials Inc | Method and apparatus for providing a floating seal for a chamber door |
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| A300 | Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 19980514 |