JPH0424673B2 - - Google Patents
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- JPH0424673B2 JPH0424673B2 JP7062882A JP7062882A JPH0424673B2 JP H0424673 B2 JPH0424673 B2 JP H0424673B2 JP 7062882 A JP7062882 A JP 7062882A JP 7062882 A JP7062882 A JP 7062882A JP H0424673 B2 JPH0424673 B2 JP H0424673B2
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- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
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- G01T1/161—Applications in the field of nuclear medicine, e.g. in vivo counting
- G01T1/164—Scintigraphy
- G01T1/1641—Static instruments for imaging the distribution of radioactivity in one or two dimensions using one or several scintillating elements; Radio-isotope cameras
- G01T1/1642—Static instruments for imaging the distribution of radioactivity in one or two dimensions using one or several scintillating elements; Radio-isotope cameras using a scintillation crystal and position sensing photodetector arrays, e.g. ANGER cameras
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Description
【発明の詳細な説明】
この発明はシンチレーシヨンカメラの空間歪み
補正方法に関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to a method for correcting spatial distortion of a scintillation camera.
アンガーカメラと呼ばれるものを含めて一般に
シンチレーシヨンカメラは固有の空間歪み(空間
的非直線性)を持ち、従来よりこの空間歪みを補
正するための方法が種々提案されている。ところ
が従来の補正方法では、個々のシンチレーシヨン
カメラ毎に直交平行線パターンや多数の小孔の配
列パターンを用いて各位置の空間歪みを測定する
必要があり、極めて煩雑なものであつた。 Generally, scintillation cameras, including what is called an unger camera, have inherent spatial distortion (spatial nonlinearity), and various methods have been proposed to correct this spatial distortion. However, in the conventional correction method, it is necessary to measure the spatial distortion at each position using an orthogonal parallel line pattern or an arrangement pattern of a large number of small holes for each scintillation camera, which is extremely complicated.
本発明は、シンチレーシヨンカメラの空間歪み
が各光電変換器の中心軸上でホツトパターンとな
るような(中心軸上で像が縮小し、他の部分で拡
大するような)、あるいはライトガイド中にマス
クを持つ場合にはコールドパターンとなるような
(逆に中心軸上で像が拡大し、他の部分で縮小す
るような)、光電変換器配列間隔を空間的基本周
波数とする歪みが主体であることに着目して、よ
り簡単に空間歪みを補正することができるように
するシンチレーシヨンカメラの空間歪み補正方法
を提供することを目的とする。 The present invention is designed to prevent the spatial distortion of a scintillation camera from forming a hot pattern on the central axis of each photoelectric converter (the image shrinks on the central axis and expands elsewhere) or in a light guide. When a mask is attached to the center of the image, the main distortion is a cold pattern (on the contrary, the image expands on the central axis and shrinks in other parts), and the spatial fundamental frequency is the spacing of the photoelectric converter array. It is an object of the present invention to provide a spatial distortion correction method for a scintillation camera that makes it possible to more easily correct spatial distortion.
以下、本発明の一実施例について図面を参照し
ながら説明する。第1図においてシンチレータ1
の背面にライトガイド2を介して多数のPMT(光
電子増倍管)3が配列され、放射線入射によりシ
ンチレータ1内に生じた発光がライトガイド2を
通して各PMT3に到達し、各PMT3の出力電流
が各プリアンプ4によつて電圧に変換されたのち
演算処理部5に入力され、抵抗マトリクス等によ
る通常の位置演算や規格化演算とエネルギ信号の
波高分析等が行なわれ、位置信号X,Y及びエネ
ルギ信号Zならびに波高分析出力である輝度信号
UNBLANKが出力される。 An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. In Figure 1, scintillator 1
A large number of PMTs (photomultiplier tubes) 3 are arranged on the back of the scintillator 1 via a light guide 2, and the light emitted from the scintillator 1 due to radiation incidence reaches each PMT 3 through the light guide 2, and the output current of each PMT 3 increases. After being converted into a voltage by each preamplifier 4, it is input to the arithmetic processing unit 5, where it is subjected to normal position calculations and normalization calculations using a resistance matrix, wave height analysis of the energy signal, etc. Luminance signal which is signal Z and pulse height analysis output
UNBLANK is output.
このような通常のアンガーカメラの検出部の構
成においてまず第1段階として、例えば多数の
PMT3の配列中心に位置するPMT3のプリアン
プ4の出力を積分回路6及び増幅回路7を通して
取り出し、マルチチヤンネルアナライザ等を利用
してこの出力波高Vの発光位置依存性の応答を測
定する。すなわち、例えばシンチレータ1の表面
側に点状にコリメートされた線源8を前記中心の
PMT3の中心軸O上からの距離rを変化させて
出力波高Vを求めると、例えば第2図に示すよう
な応答データが得られる。こうして1個のPMT
3についての応答データが得られるが、他の
PMT3の応答データもこれに類似したものであ
ると見なせるので、上記1個のPMT3の応答デ
ータと多数のPMT3の配列に関するデータを用
いてシミユレーシヨン計算することにより各入射
位置に関する演算後の位置X,Yが近似的に求ま
り、この位置と入射位置との差、すなわち歪みベ
クトルが求められる。従つてその逆ベクトルであ
る歪み補正ベクトルが初期値として各演算後の位
置X,Yについて得られる。 In the configuration of the detection section of such a normal underwater camera, the first step is to use, for example, a large number of
The output of the preamplifier 4 of the PMT 3 located at the center of the array of PMTs 3 is taken out through the integrating circuit 6 and the amplifier circuit 7, and the response of the output wave height V depending on the light emission position is measured using a multi-channel analyzer or the like. That is, for example, a point-like collimated radiation source 8 is placed on the surface side of the scintillator 1 at the center.
When the output wave height V is determined by changing the distance r from the central axis O of the PMT 3, response data as shown in FIG. 2, for example, is obtained. Thus one PMT
Response data for 3 is obtained, but other
Since the response data of PMT3 can be considered to be similar to this, the position Y is approximately determined, and the difference between this position and the incident position, that is, the distortion vector, is determined. Therefore, a distortion correction vector, which is the inverse vector thereof, is obtained as an initial value for the positions X and Y after each calculation.
次に第2段階として上記の構成によりフラツド
イメージ(一様照射像)を採取し、そのデータを
図示しないデータ記憶装置に記憶する。その際、
エネルギ信号Zの位置によるばらつきに起因する
感度不均一性の影響を少なくするように波高分析
のためのウインド幅を広くして採取するか、ある
いは計算機により第2の波高分析処理を行なう場
合には各位置に応じてエネルギ信号と第2の波高
分析のウインドレベルの相対関係を補正する等の
工夫をすることが好ましい。記憶されたフラツド
イメージのデータを前記各位置の補正ベクトルの
初期値に応じて補正(または座標変換)を行なう
と、補正ベクトルの初期値が全て正確であれば補
正後の各事象密度は統計誤差程度の範囲で一様に
なるはずである。従つて上記のように最初に求め
た補正ベクトルの初期値を用いて補正したフラツ
ドイメージを求め、その各位置に関する密度勾配
を求め、その密度勾配に応じて対応する補正ベク
トルの修正量を得てこれによつて前記の補正ベク
トルの初期値を修正する。次にこうして修正され
た補正ベクトルを用いて再びフラツドイメージを
補正し、上記と同様の手続きにより再び補正ベク
トルの修正量を得て修正を行なう。このような反
復修正を適当な面積単位に関して適度な収束程度
まで繰り返す。 Next, as a second step, a flat image (uniformly irradiated image) is collected using the above configuration, and the data is stored in a data storage device (not shown). that time,
In order to reduce the influence of sensitivity nonuniformity caused by variations in the energy signal Z depending on the position, the window width for wave height analysis is widened, or when a second wave height analysis process is performed by a computer. It is preferable to take measures such as correcting the relative relationship between the energy signal and the window level of the second wave height analysis depending on each position. When the data of the stored flat image is corrected (or coordinate transformed) according to the initial values of the correction vectors at each position, each event density after correction is statistically It should be uniform within a certain margin of error. Therefore, as described above, a corrected flat image is obtained using the initial value of the correction vector obtained first, the density gradient for each position is obtained, and the correction amount of the corresponding correction vector is obtained according to the density gradient. This corrects the initial value of the correction vector. Next, the flat image is corrected again using the correction vector modified in this way, and the amount of correction of the correction vector is obtained again by the same procedure as described above. Such iterative correction is repeated until a suitable degree of convergence is reached for an appropriate area unit.
なお、実際には、上記のように補正ベクトルで
補正したフラツドイメージを求めたのち密度を求
める代りに、各マトリクス要素面積内の補正前の
フラツドイメージの計数値をそのマトリクスを囲
む四辺形の各頂点の補正ベクトルによつて構成さ
れる面積、すなわち補正後のマトリクス要素の面
積で除算することにより補正後の各位置の密度を
求めることができる。 In fact, instead of calculating the density after calculating the flat image corrected by the correction vector as described above, the count value of the uncorrected flat image within the area of each matrix element is calculated as a rectangle surrounding the matrix. The density of each position after correction can be obtained by dividing by the area formed by the correction vector of each vertex of , that is, the area of the matrix element after correction.
前記の第1及び第2段階によつて得られた補正
ベクトルは各座標位置に関して記憶され、例えば
第3図に示すようにして空間歪みの補正が行なわ
れる。第3図において各シンチレーシヨン事象毎
に得られるX,Y(第1図参照)がサンプルホー
ルド回路91,92を通してAD変換器101,
102にそれぞれ入力され、得られた各デイジタ
ル位置信号を用いて補正係数メモリ11のアドレ
スを指定する。この補正係数メモリ11には前記
の補正ベクトルが各座標位置に関するアドレスに
ついてそれぞれ記憶されており、上記のようにア
ドレス指定されることにより対応する補正ベクト
ルが読み出される。読み出された各補正ベクトル
はDA変換器121,122に入力され、アナロ
グ補正量ΔX,ΔYが得られる。この補正量ΔX,
ΔYは加算回路131,132においてサンプル
ホールド回路91,92の出力Xa,Yaとそれぞ
れ加算され、補正された位置信号Xc,Ycが得ら
れる。輝度信号UNBLANKは一方でサンプルホ
ールド回路91,92の信号取り込み及び保持の
タイミング信号として与えられ、他方ではアンブ
ランクコントロール回路14に入力され、AD変
換器101,102の変換開始信号及び補正後の
位置信号Xc,Ycに対応してタイミングを合わせ
た輝度信号UNBLANKCを発生させる。 The correction vectors obtained in the first and second steps are stored for each coordinate position, and the spatial distortion is corrected, for example, as shown in FIG. In FIG. 3, X and Y (see FIG. 1) obtained for each scintillation event are passed through sample and hold circuits 91 and 92 to an AD converter 101,
The address of the correction coefficient memory 11 is specified using each of the obtained digital position signals. In this correction coefficient memory 11, the above-mentioned correction vectors are stored for each address related to each coordinate position, and the corresponding correction vector is read out by specifying the address as described above. Each read correction vector is input to DA converters 121 and 122, and analog correction amounts ΔX and ΔY are obtained. This correction amount ΔX,
ΔY is added to the outputs Xa and Ya of the sample and hold circuits 91 and 92 in addition circuits 131 and 132, respectively, to obtain corrected position signals Xc and Yc. The luminance signal UNBLANK is given on the one hand as a timing signal for signal acquisition and holding of the sample and hold circuits 91 and 92, and on the other hand is input to the unblank control circuit 14, and is used as a conversion start signal and a corrected position of the AD converters 101 and 102. Generates a luminance signal UNBLANKC with timing matched to signals Xc and Yc.
なお、上記の実施例では中心に配列された
PMTの応答データを用いたが、他の位置に配列
されたPMTの応答データや、あるいは例えば中
心部のPMT及び周辺部のPMT等の複数のPMT
の応答データを組み合わすことも可能である。ま
た、シンチレーシヨンカメラ以外の同一の光学系
を持つ装置を用いて応答データを測定してもよ
い。更に上記第3図で示した構成で補正するだけ
でなく、例えば補間により更に補正ベクトルの精
度を高めたり、乱数データを加えることにより局
所的に不均一性が発生することを防えだりして補
正することも可能である。また補正量を位置信号
にアナログ加算する代りにデジタル加算すること
も可能である。 In addition, in the above example, the
Although we used response data of PMTs, we also used response data of PMTs arranged at other positions, or multiple PMTs such as a central PMT and a peripheral PMT.
It is also possible to combine response data. Furthermore, response data may be measured using a device other than a scintillation camera that has the same optical system. Furthermore, in addition to correcting with the configuration shown in Figure 3 above, for example, the accuracy of the correction vector can be further increased through interpolation, and local non-uniformity can be prevented by adding random number data. Correction is also possible. Further, instead of adding the correction amount to the position signal in analog form, it is also possible to add it digitally.
以上、実施例について説明したように、本発明
によれば空間歪みを補正することができ、従つて
これに伴つて生じる感度不均一性を改善すること
ができる。特に同一光学系のシンチレーシヨンカ
メラを多数製造する場合に1台目についてのみ第
1段階により補正ベクトルの初期値を求め、2台
目以降は補正ベクトルの初期値を1台目と共通し
て第2段階の反復修正の作業についてのみ行なえ
ばよいので、補正のための作業をより簡単化する
ことができる。従つて、従来のように各シンチレ
ーシヨンカメラ毎に直交平行線パターンや多数の
小孔の配列パターンを用いて各位置の空間歪みを
測定する必要がない。 As described above with respect to the embodiments, according to the present invention, spatial distortion can be corrected, and therefore sensitivity non-uniformity that occurs due to this can be improved. In particular, when manufacturing a large number of scintillation cameras with the same optical system, the initial value of the correction vector is determined only for the first camera in the first step, and the initial value of the correction vector for the second and subsequent cameras is determined in the same step as for the first camera. Since it is only necessary to carry out the two-step iterative correction work, the correction work can be further simplified. Therefore, it is not necessary to measure the spatial distortion at each position using an orthogonal parallel line pattern or an arrangement pattern of a large number of small holes for each scintillation camera as in the conventional method.
第1図及び第3図は本発明の一実施例の補正方
法を説明するためのブロツク図、第2図はPMT
出力の発光位置依存性の応答データを表わすグラ
フである。
1……シンチレータ、2……ライトガイド、3
……PMT、4……プリアンプ、5……演算処理
部、6……積分回路、7……増幅回路、8……線
源、91,92……サンプルホールド回路、10
1,102……AD変換器、11……補正係数メ
モリ、121,122……DA変換器、131,
132……加算回路、14……アンブランクコン
トロール回路。
Figures 1 and 3 are block diagrams for explaining a correction method according to an embodiment of the present invention, and Figure 2 is a PMT.
7 is a graph showing response data of light emission position dependence of output. 1...Scintillator, 2...Light guide, 3
... PMT, 4 ... Preamplifier, 5 ... Arithmetic processing section, 6 ... Integrating circuit, 7 ... Amplifying circuit, 8 ... Radiation source, 91, 92 ... Sample hold circuit, 10
1,102...AD converter, 11...Correction coefficient memory, 121,122...DA converter, 131,
132...addition circuit, 14...unblank control circuit.
Claims (1)
変換器の出力の発光位置依存性の応答データを測
定し、前記応答データと光電変換器の配列に関す
るデータを用いてシミユレーシヨン計算によつて
各座標位置における空間歪みを求め、この歪みを
補正するように各位置の補正ベクトルの初期値を
決定する第1段階と、フラツドイメージを採取し
前記補正ベクトルの初期値による空間歪み補正後
の各位置における密度勾配のデータから前記補正
ベクトルを反復修正する第2段階とにより得た補
正ベクトルを各座標位置に関して記憶し、各シン
チレーシヨン事象毎に得られる位置信号を前記対
応する座標位置の補正ベクトルで補正するように
したシンチレーシヨンカメラの空間歪み補正方
法。1 Measure the response data of the emission position dependence of the output of a specific photoelectric converter in a scintillation camera, and calculate the spatial distortion at each coordinate position by simulation calculation using the response data and data regarding the array of photoelectric converters. The first step is to determine the initial value of the correction vector at each position so as to correct this distortion, and the data of the density gradient at each position after collecting a flat image and correcting the spatial distortion using the initial value of the correction vector. and a second step of iteratively correcting the correction vector from Spatial distortion correction method for scintillation cameras.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7062882A JPS58187884A (en) | 1982-04-27 | 1982-04-27 | Correction of spatial distortion for scintillation camera |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7062882A JPS58187884A (en) | 1982-04-27 | 1982-04-27 | Correction of spatial distortion for scintillation camera |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS58187884A JPS58187884A (en) | 1983-11-02 |
JPH0424673B2 true JPH0424673B2 (en) | 1992-04-27 |
Family
ID=13437079
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP7062882A Granted JPS58187884A (en) | 1982-04-27 | 1982-04-27 | Correction of spatial distortion for scintillation camera |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS58187884A (en) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8866094B2 (en) | 2010-12-09 | 2014-10-21 | Rigaku Corporation | Radiation detector |
-
1982
- 1982-04-27 JP JP7062882A patent/JPS58187884A/en active Granted
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS58187884A (en) | 1983-11-02 |
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