JPH04241B2 - - Google Patents
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Description
【発明の詳細な説明】
(利用分野)
本発明は、擬似太陽光照射装置に関するもので
あり、特に、フイルタの所要枚数を最低限にして
構成の簡略化をはかつた擬似太陽光照射装置に関
するものである。[Detailed Description of the Invention] (Field of Application) The present invention relates to a simulated sunlight irradiation device, and particularly relates to a simulated sunlight irradiation device whose configuration is simplified by minimizing the number of required filters. It is something.
(従来技術)
擬似太陽光照射装置は、良く知られているよう
に自然太陽光のスペクトル分布を高精度に再現す
るための光源装置である。このような擬似太陽光
照射装置は、太陽電池の光電変換特性などの、各
種の太陽エネルギー利用機器の性能測定及び加速
劣化試験のためには無くてはならないものであ
る。(Prior Art) As is well known, a simulated sunlight irradiation device is a light source device for reproducing the spectral distribution of natural sunlight with high precision. Such a simulated sunlight irradiation device is indispensable for performance measurement and accelerated deterioration tests of various solar energy utilization devices, such as the photoelectric conversion characteristics of solar cells.
そして、従来の擬似太陽光照射装置の光源とし
ては、キセノン短アークランプが広く用いられて
いる。もつとも、キセノン短アークランプの発光
は、第1図のスペクトル分布図に示したように、
近赤外部(800〜1000nm)に、尖鋭でかつ複雑
なピーク群を有しているので、これを平均的に補
正して自然太陽光のスペクトル分布に近づけるた
めの多層模干渉フイルタが併用されることが多
い。 A xenon short arc lamp is widely used as a light source for a conventional simulated sunlight irradiation device. However, as shown in the spectral distribution diagram in Figure 1, the light emission from a xenon short arc lamp is
Since it has a group of sharp and complex peaks in the near-infrared region (800 to 1000 nm), a multilayer mock interference filter is used in order to average out these peaks and bring it closer to the spectral distribution of natural sunlight. There are many things.
前述のようにして補正されたキセノン短アーク
ランプによる擬似太陽光照射装置の発光スペクト
ル分布の一例を第2図の実線で示す。なお、同図
中の鎖線は自然太陽光のスペクトル分布(エアマ
スゼロの場合)である。 An example of the emission spectrum distribution of the simulated sunlight irradiation device using the xenon short arc lamp corrected as described above is shown by the solid line in FIG. The dashed line in the figure is the spectral distribution of natural sunlight (in the case of zero air mass).
この図から分るように、従来の擬似太陽光照射
装置においても、そのスペクトル分布は、平均的
には、自然太陽光のそれに可成り近づいており、
実用にも供することができる。 As can be seen from this figure, even in the conventional simulated sunlight irradiation device, the spectral distribution is, on average, quite close to that of natural sunlight.
It can also be used for practical purposes.
しかし、第3図に示すように、紫外領域から近
赤外領域までの広域に亘る分光感度特性を備えた
各種太陽電池の、自然太陽光に対する光電変換特
性を、より高精度に計測するには、キセノンラン
プ単独と多層膜干渉フイルター、すなわちダイク
ロフイルターとの組合せによる、従来の擬似太陽
光照射装置では、なお、不十分である。 However, as shown in Figure 3, in order to more accurately measure the photoelectric conversion characteristics of various solar cells with spectral sensitivity characteristics over a wide range from the ultraviolet region to the near-infrared region, against natural sunlight, However, the conventional simulated sunlight irradiation device using a combination of a xenon lamp alone and a multilayer interference filter, that is, a dichroic filter, is still insufficient.
その理由は、第2図のスペクトル分布から明ら
かなように、750nm〜1000nmの範囲の近赤外部
に、なお相当のピーク群が残つており、これが測
定誤差の原因となるからである。 The reason for this is that, as is clear from the spectral distribution in FIG. 2, a considerable number of peaks still remain in the near-infrared region in the range of 750 nm to 1000 nm, which causes measurement errors.
前述のようなピーク群を減少させて、スペクト
ル分布を自然太陽光のそれにより一層近づけ、ス
ペクトル精度を向上させるための手段として、紫
外領域および可視領域で比較的連続的なスペクト
ル分布を有するキセノン短アークランプの発光
と、近赤外領域で連続的なスペクトル分布を有す
る白熱(タングステン)フイラメントランプの発
光とを組合せて、重畳または混合する事が提案さ
れている。 As a means to reduce the aforementioned peak groups, bring the spectral distribution closer to that of natural sunlight, and improve spectral accuracy, we have used xenon short films with a relatively continuous spectral distribution in the UV and visible regions. It has been proposed to combine, superimpose, or mix the light emission of an arc lamp and the light emission of an incandescent (tungsten) filament lamp, which has a continuous spectral distribution in the near-infrared region.
この場合の合成スペクトル分布の一例を第4図
に示す。同図において、曲線L1は、キセノン短
アークランプ11の発光のうち、近赤外より長波
長側の成分を除去したスペクトル分布特性曲線で
あり、曲線L2は、白熱フイラメントランプの発
光のうちの可視光および紫外成分を除去したスペ
クトル分布特性曲線である。 An example of the composite spectral distribution in this case is shown in FIG. In the same figure, curve L1 is a spectral distribution characteristic curve obtained by removing components on the longer wavelength side than near infrared light from the light emitted by the xenon short arc lamp 11, and curve L2 is the visible light emitted from the incandescent filament lamp. This is a spectral distribution characteristic curve with light and ultraviolet components removed.
また、曲線L3は、前記曲線L1とL2を重畳
または混合した場合の、綜合スペクトル分布特性
曲線である。なお、実線曲線L4は、第2図と同
様の自然太陽光のスペクトル分布特性を比較のた
めに示したものである。 Further, a curve L3 is a combined spectral distribution characteristic curve obtained by superimposing or mixing the curves L1 and L2. Note that the solid line curve L4 shows the same spectral distribution characteristics of natural sunlight as in FIG. 2 for comparison.
この図から、近赤外成分より長波長側の成分を
除去したキセノン短アークランプの発光と、可視
光および紫外成分を除去した白熱フイラメントラ
ンプの発光とを重畳および混合すれば、自然太陽
光のスペクトル分布に良く近似したスペクトル分
布が得られ、従来の装置において測定誤差の原因
となつていた近赤外領域での不規則なピーク群を
減少させ得ることがわかる。 From this figure, we can see that by superimposing and mixing the light emitted by a xenon short arc lamp, which removes components on the longer wavelength side than near-infrared components, and the light emitted by an incandescent filament lamp, which removes visible and ultraviolet components, it is possible to generate natural sunlight. It can be seen that a spectral distribution that closely approximates the spectral distribution can be obtained, and that irregular peak groups in the near-infrared region, which cause measurement errors in conventional devices, can be reduced.
このようなスペクトル分布を有する擬似太陽光
照射装置の具体的構成として、普通に考えられる
のは、近赤外より長波長側の光を除去するフイル
タをキセノン短アークランプに組合せた第一の光
源装置と、可視および紫外領域の光を除去するフ
イルタを白熱フイラメントランプに組合せた第二
の光源装置とを準備し、これら2つの光源装置か
ら放射される光をそれぞれ単一の積分光学系に指
向させて重畳、混合することである。 The specific configuration of a simulated sunlight irradiation device with such a spectral distribution is usually considered to be a first light source that combines a xenon short arc lamp with a filter that removes light with wavelengths longer than near-infrared. A second light source device that combines an incandescent filament lamp with a filter that removes light in the visible and ultraviolet regions is prepared, and the light emitted from these two light source devices is directed to a single integrating optical system. It is to superimpose and mix.
しかし、このような構成では、つぎのような欠
点が予想される。 However, such a configuration is expected to have the following drawbacks.
(1) キセノン短アークランプおよび白熱フイラメ
ントランプの灯数と同数のフイルタ(例えば、
ダイクロイツクフイルタ)を必要とするので、
装置が大型化し、保守も面倒となるばかりでな
く、さらにコスト高となる。(1) The same number of filters as the number of xenon short arc lamps and incandescent filament lamps (e.g.
Dichkreuzk filter) is required.
Not only does the device become larger and maintenance becomes more troublesome, but the cost also increases.
(2) 複数の個々のフイルタの間で、それぞれのフ
イルタ特性の等しいものを製造することは極め
て困難であり、綜合スペクトル分布特性の均一
性や再現性が不十分である。(2) It is extremely difficult to manufacture a plurality of individual filters with the same filter characteristics, and the uniformity and reproducibility of the overall spectral distribution characteristics are insufficient.
(3) 集光効率を高めるためには、大型の集光鏡ま
たは集光レンズを必要とし、かつ大寸法のフイ
ルタを必要とするが、大型の多層膜干渉フイル
タでは、その中央部と周辺部とのフイルタ特性
を等しくすることは極めて難かしく、所望する
通りの総合スペクトル分布を得ることが困難で
ある。(3) In order to increase light collection efficiency, a large condensing mirror or condensing lens is required, as well as a large-sized filter. It is extremely difficult to equalize the filter characteristics of the two, and it is difficult to obtain the desired overall spectral distribution.
(目的)
本発明は、前述の欠点を除去するためになされ
たものであり、その目的は綜合スペクトル分布特
性の均一性や再現性も実用上十分に高く、しかも
比較的小型で安価な擬似太陽光照射装置を提供す
ることにある。(Purpose) The present invention was made in order to eliminate the above-mentioned drawbacks, and its purpose is to create a pseudo-solar system that has sufficiently high uniformity and reproducibility of integrated spectral distribution characteristics for practical use, and that is relatively small and inexpensive. An object of the present invention is to provide a light irradiation device.
(概要)
前記の目的を達成するために、本発明は、キセ
ノン短アークランプの発光スペクトルから近赤外
成分を除去し、かつ白熱フイラメントランプの発
光スペクトルから近赤外成分を抽出する単一のフ
イルタ手段を設け、近赤外成分を除去されたキセ
ノン短アークランプからの発光、および白熱フイ
ラメントランプからの発光のうち、前記フイルタ
手段によつて抽出された近赤外成分を、単一の積
分光学系に共軸的に入射させるように構成した点
に特徴がある。(Summary) To achieve the above objects, the present invention provides a single method for removing the near-infrared component from the emission spectrum of a xenon short arc lamp and extracting the near-infrared component from the emission spectrum of an incandescent filament lamp. A filter means is provided, and the near-infrared component extracted by the filter means of the light emission from the xenon short arc lamp from which the near-infrared component has been removed and the light emission from the incandescent filament lamp is integrated into a single integral. It is distinctive in that it is configured so that it enters the optical system coaxially.
(実施例)
以下に、図面を参照して、本発明を詳細に説明
する。(Example) The present invention will be described in detail below with reference to the drawings.
第5図は本発明の一実施例の概略構成を示す側
面図である。 FIG. 5 is a side view showing a schematic configuration of an embodiment of the present invention.
キセノン短アークランプ11は集光鏡15を有
しており、キセノン短アークランプ11の光軸上
に積分光学系14が配置される。 The xenon short arc lamp 11 has a condenser mirror 15, and an integrating optical system 14 is arranged on the optical axis of the xenon short arc lamp 11.
キセノン短アークランプ11と積分光学系14
との間には、前記光軸と交さ(なるべくは、45°
の角度で)するように、コールドフイルタ13が
配置される、前記コールドフイルタ13は赤外線
を反射し、可視光および紫外線を透過するもので
ある。 Xenon short arc lamp 11 and integrating optical system 14
intersects the optical axis (preferably at 45°).
The cold filter 13 is arranged so as to reflect infrared rays and transmit visible light and ultraviolet rays.
白熱フイラメントランプ12も集光鏡16を有
している。白熱フイラメントランプ12よりの発
光は、コールドフイルタ13の積分光学系14側
の面に投射され、そこで反射された近赤外成分の
光は、集光鏡15から出てコールドフイルタ13
を透過した、キセノン短アークランプ11からの
可視、紫外成分の光と共に、積分光学系14に向
つて、共軸的に指向される。 The incandescent filament lamp 12 also has a condenser mirror 16. The light emitted from the incandescent filament lamp 12 is projected onto the surface of the cold filter 13 on the integrating optical system 14 side, and the near-infrared component light reflected there exits from the condenser mirror 15 and passes through the cold filter 13.
The visible and ultraviolet components of the light from the xenon short arc lamp 11 are coaxially directed toward the integrating optical system 14.
コールドフイルタ13および積分光学系14に
よつて重畳、混合された光は、被照射サンプル1
7上に均等に分散される。吸熱器20は、コール
ドフイルタ13によつて反射されたキセノン短ア
ークランプからの赤外および近赤外成分光を吸収
する働きをする。 The light superimposed and mixed by the cold filter 13 and the integrating optical system 14 is applied to the irradiated sample 1.
Evenly distributed over 7. The heat absorber 20 functions to absorb infrared and near-infrared component light from the xenon short arc lamp reflected by the cold filter 13.
なお、この実施例によれば、単一のコールドフ
イルタ13によつて、キセノン短アークランプ1
1の発光からの赤外、近赤外成分の除去、および
白熱フイラメントランプ12の発光からの近赤外
成分の抽出を行なうことができるので、構成を簡
略、小型化し、またコストを引き下げることがで
きることは明らかである。 According to this embodiment, the xenon short arc lamp 1 is controlled by the single cold filter 13.
Since the infrared and near-infrared components can be removed from the light emitted by the incandescent filament lamp 12, and the near-infrared component can be extracted from the light emitted by the incandescent filament lamp 12, the configuration can be simplified and miniaturized, and the cost can be reduced. It is clear that it can be done.
また、この実施例では、2つの光源の発光のう
ちから、1つのフイルタによつて長波長側成分お
よび短波長側成分の抽出および加算を行なつてい
るので、コールドフイルタ13のフイルタ特性が
多少変動しても、最終的に得られる出力光のスペ
クトル分布はあまり変動しないという利点があ
る。このため、コールドフイルタ13のフイルタ
特性に対する許容誤差が大となり、製造コストも
下げることができる。 Furthermore, in this embodiment, one filter extracts and adds the long wavelength side component and the short wavelength side component from the light emitted from the two light sources, so the filter characteristics of the cold filter 13 are slightly different. Even if there is a change, the spectral distribution of the output light that is finally obtained does not change much, which is an advantage. Therefore, the tolerance for the filter characteristics of the cold filter 13 is increased, and manufacturing costs can also be reduced.
第6図は本発明の他の実施令の概略構成を示す
側面図である。この図において、第5図と同一の
符号は、同一または同等部分をあらわしている。 FIG. 6 is a side view showing a schematic configuration of another implementation instruction of the present invention. In this figure, the same reference numerals as in FIG. 5 represent the same or equivalent parts.
第5図との対比から容易に理解されるように、
この実施例は、第5図に示した構成において、キ
セノン短アークランプ11と白熱フイラメントラ
ンプ12の配置を入れ換え、かつコールドフイル
タ13を赤外透過型コールドミラー19で置換し
たものに相当する。赤外透過型コールドミラー1
9は赤外線を透過し、可視光および紫外線を反射
するものである。 As can be easily understood from the comparison with Figure 5,
This embodiment corresponds to the configuration shown in FIG. 5 in which the xenon short arc lamp 11 and the incandescent filament lamp 12 are exchanged, and the cold filter 13 is replaced with an infrared-transmissive cold mirror 19. Infrared transmission cold mirror 1
9 transmits infrared rays and reflects visible light and ultraviolet rays.
第6図の構成によつて、第5図の実施例と全く
同様の動作および効果が達成されることは明らか
であろう。 It will be clear that the configuration of FIG. 6 achieves exactly the same operation and effect as the embodiment of FIG. 5.
なお、前述のいずれの実施例においても集光鏡
16として、赤外線を一部透過し、これによつて
赤外領域のスペクトル分布を修正するための多層
膜干渉フイルタなどを用い、また集光鏡15の分
光反射特性を適当に選定すれば被照射サンプル1
7上で得られる出力光の綜合スペクトル分布特性
を、より一層自然太陽光のそれに近づけることが
できる。 In any of the embodiments described above, a multilayer interference filter or the like is used as the condenser mirror 16 to partially transmit infrared rays and thereby modify the spectral distribution in the infrared region. By appropriately selecting the spectral reflection characteristics of 15, the irradiated sample 1
The integrated spectral distribution characteristics of the output light obtained on 7 can be brought closer to those of natural sunlight.
(効果)
以上の説明から明らかなように、本発明によれ
ば、つぎのような効果が達成される。(Effects) As is clear from the above description, according to the present invention, the following effects are achieved.
(1) 必要なフイルタの個数を半減することができ
るので、装置を小型にし、コストを低減するこ
とができる。(1) Since the number of necessary filters can be halved, the device can be made smaller and costs can be reduced.
(2) 単一の共用フイルタによつて、キセノン短ア
ークランプの発光からの近赤外成分の除去と、
白熱フイラメントランプ12の発光からの近赤
外成分の抽出とを同時に行うようにしている。
したがつて、複数のフイルタによつてキセノン
短アークランプの発光からの近赤外成分の除去
と、白熱フイラメントランプの発光からの近赤
外成分の抽出とをそれぞれ別個に行うのに比
べ、フイルタ特性の許容精度が低くても十分な
効果が得られる。(2) removal of the near-infrared component from the emission of a xenon short arc lamp by a single shared filter;
Near-infrared components are extracted from the light emitted from the incandescent filament lamp 12 at the same time.
Therefore, compared to using multiple filters to remove the near-infrared component from the light emission of a xenon short arc lamp and to extract the near-infrared component from the light emission of an incandescent filament lamp, the filter Sufficient effects can be obtained even if the permissible accuracy of the characteristics is low.
すなわち、複数のフイルタによつて上記近赤外
成分の除去および抽出を別個に行う場合は、各フ
イルタによる除去および抽出領域の境界が正確に
一致するようにしなければならない。そうしない
と、近赤外成分が除去されたキセノン短アークラ
ンプの光および白熱フイラメントランプの光から
抽出された近赤外成分の光を合成したときに、ス
ペクトル分布を精度良く自然太陽光のそれに合致
させられなくなる。 That is, when the near-infrared components are removed and extracted separately using a plurality of filters, it is necessary to ensure that the boundaries of the removal and extraction regions by each filter coincide precisely. Otherwise, when combining the light of the xenon short arc lamp with the near-infrared component removed and the light of the near-infrared component extracted from the light of the incandescent filament lamp, the spectral distribution will accurately match that of natural sunlight. It becomes impossible to match.
これに対して単一のフイルタによつて上記近赤
外成分の除去および抽出を行うようにした場合
は、単一のフイルタであるため前記近赤外成分の
除去および抽出領域の境界を容易に一致させるこ
とができる。 On the other hand, if a single filter is used to remove and extract the near-infrared component, the near-infrared component can be removed and the boundaries of the extraction region can be easily marked. Can be matched.
このように、フイルタの特性が多少ずれていて
も最終的に得られる出力光のスペクトル分布は変
動しないので、綜合スペクトル分布特性の均一性
や再現性が改善される。 In this way, even if the characteristics of the filter are slightly different, the spectral distribution of the output light that is finally obtained does not change, so the uniformity and reproducibility of the combined spectral distribution characteristics are improved.
第1図はキセノン短アークランプの発光のスペ
クトル分布を示す図、第2図は修正したキセノン
短アークランプのスペクトル分布を自然太陽光の
それと比較して示す図、第3図は各種太陽電池の
スペクトル感度特性を示す図、第4図はキセノン
短アークランプと白熱フイラメントランプとを重
畳して得られる合成光および自然太陽光のスペク
トル分布特性を示す図、第5図および第6図は、
それぞれ本発明の実施例を示す概略側面図であ
る。
11……キセノン短アークランプ、12……白
熱フイラメントランプ、13……赤外線反射型コ
ールドフイルタ、14……積分光学系、15……
集光鏡、17……被照射サンプル、19……赤外
線透過型コールドミラー、20……吸熱器。
Figure 1 shows the spectral distribution of light emitted by a xenon short arc lamp, Figure 2 shows a comparison of the spectral distribution of a modified xenon short arc lamp with that of natural sunlight, and Figure 3 shows the spectral distribution of various types of solar cells. Figure 4 is a diagram showing the spectral sensitivity characteristics, Figure 4 is a diagram showing the spectral distribution characteristics of synthetic light and natural sunlight obtained by superimposing a xenon short arc lamp and an incandescent filament lamp, Figures 5 and 6 are:
FIG. 3 is a schematic side view showing an embodiment of the present invention. 11...xenon short arc lamp, 12...incandescent filament lamp, 13...infrared reflective cold filter, 14...integrating optical system, 15...
Concentrating mirror, 17...Irradiated sample, 19...Infrared transmission cold mirror, 20... Heat absorber.
Claims (1)
フイラメントランプからの光を積分光学系を通過
させ、それによつて混合された光を被照射サンプ
ル上に均等に分散照射させる疑似太陽光照射装置
において、 前記キセノン短アークランプの発光スペクトル
から近赤外成分を除去し、かつ前記白熱フイラメ
ントランプの発光スペクトルから近赤外成分を抽
出する単一の多層膜干渉フイルタ手段を具備し、 前記積分光学系は、前記フイルタ手段で近赤外
成分を除去されたキセノン短アークランプからの
光、および白熱フイラメントランプからの光のう
ち前記フイルタ手段によつて抽出された近赤外成
分の光を入射される単一の積分光学系であること
を特徴とする疑似太陽光照射装置。 2 前記フイルタ手段は、積分光学系の光軸に対
して傾斜配置され、かつ近赤外成分の光を反射す
るコールドフイルターであり、前記積分光学系の
光軸上で、コールドフイルターの背後にキセノン
短アークランプが配置され、コールドフイルター
の前面に白熱フイラメントランプが配置されたこ
とを特徴とする前記特許請求の範囲第1項記載の
疑似太陽光照射装置。 3 前記フイルタ手段は、積分光学系の光軸に対
して傾斜配置され、かつ近赤外成分の光を透過さ
せる赤外線透過型コールドミラーであり、前記積
分光学系の光軸上で、赤外線透過型コールドミラ
ーの背後に白熱フイラメントランプが配置され、
前記コールドミラーの前面にキセノン短アークラ
ンプが配置されたことを特徴とする前記特許請求
の範囲第1項記載の疑似太陽光照射装置。 4 白熱フイラメントランプから前記フイルタ手
段に至る光路の途中に、白熱フイラメントランプ
の発光スペクトルのうち、赤外成分を弱めてその
色温度を上昇させる赤外部スペクトル補正手段を
設けたことを特徴とする前記特許請求の範囲第1
項ないし第3項のいずれかに記載の疑似太陽光照
射装置。 5 赤外部スペクトル補正手段は、赤外線の一部
を部分透過する多層膜反射面であることを特徴と
する前記特許請求の範囲第4項記載の疑似太陽光
照射装置。[Claims] 1. A pseudo sunlight system in which light from a xenon short arc lamp and light from an incandescent filament lamp pass through an integrating optical system, thereby uniformly distributing and irradiating the mixed light onto the irradiated sample. The irradiation device comprises a single multilayer interference filter means for removing near-infrared components from the emission spectrum of the xenon short arc lamp and extracting near-infrared components from the emission spectrum of the incandescent filament lamp, The integrating optical system extracts the light from the xenon short arc lamp from which the near-infrared component has been removed by the filter means, and the light of the near-infrared component extracted by the filter means from among the light from the incandescent filament lamp. A pseudo sunlight irradiation device characterized by a single integrating optical system that receives sunlight. 2. The filter means is a cold filter that is arranged obliquely with respect to the optical axis of the integrating optical system and reflects near-infrared component light, and xenon is placed behind the cold filter on the optical axis of the integrating optical system. The simulated sunlight irradiation device according to claim 1, characterized in that a short arc lamp is arranged and an incandescent filament lamp is arranged in front of the cold filter. 3. The filter means is an infrared transmitting type cold mirror that is disposed obliquely with respect to the optical axis of the integrating optical system and transmits near-infrared component light; An incandescent filament lamp is placed behind the cold mirror,
The pseudo sunlight irradiation device according to claim 1, further comprising a xenon short arc lamp disposed in front of the cold mirror. 4. The above-mentioned device is characterized in that an infrared spectrum correction means is provided in the middle of the optical path from the incandescent filament lamp to the filter means, for weakening the infrared component of the emission spectrum of the incandescent filament lamp to increase its color temperature. Claim 1
The pseudo sunlight irradiation device according to any one of Items 1 to 3. 5. The pseudo sunlight irradiation device according to claim 4, wherein the infrared spectrum correction means is a multilayer reflective surface that partially transmits infrared rays.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58091489A JPS59218407A (en) | 1983-05-26 | 1983-05-26 | Irradiating device of artificial solar ray |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58091489A JPS59218407A (en) | 1983-05-26 | 1983-05-26 | Irradiating device of artificial solar ray |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS59218407A JPS59218407A (en) | 1984-12-08 |
JPH04241B2 true JPH04241B2 (en) | 1992-01-06 |
Family
ID=14027824
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP58091489A Granted JPS59218407A (en) | 1983-05-26 | 1983-05-26 | Irradiating device of artificial solar ray |
Country Status (1)
Country | Link |
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JP (1) | JPS59218407A (en) |
Families Citing this family (5)
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JPH0435795Y2 (en) * | 1987-04-02 | 1992-08-25 | ||
JPH0194241A (en) * | 1987-10-06 | 1989-04-12 | Idemitsu Kosan Co Ltd | Photo-deterioration accelerating test apparatus |
JPH02189805A (en) * | 1989-01-17 | 1990-07-25 | Ushio Inc | Microwave excitation type electrodeless light emitting device |
EP1400799A4 (en) * | 2001-06-29 | 2011-10-26 | Nagano Science Equipment Mfg Co Ltd | Light stability testing device |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JPS5151953A (en) * | 1974-11-01 | 1976-05-07 | Fuji Photo Film Co Ltd | Johono goseikirokuhoho |
JPS5311024A (en) * | 1976-07-19 | 1978-02-01 | Fuji Photo Optical Co Ltd | Light source device of color printer |
JPS57204424A (en) * | 1981-06-11 | 1982-12-15 | Hakko:Kk | Artificial light source device |
-
1983
- 1983-05-26 JP JP58091489A patent/JPS59218407A/en active Granted
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JPS57204424A (en) * | 1981-06-11 | 1982-12-15 | Hakko:Kk | Artificial light source device |
Also Published As
Publication number | Publication date |
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JPS59218407A (en) | 1984-12-08 |
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