JPH04184966A - Lead frame of semiconductor device - Google Patents
Lead frame of semiconductor deviceInfo
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- JPH04184966A JPH04184966A JP31503590A JP31503590A JPH04184966A JP H04184966 A JPH04184966 A JP H04184966A JP 31503590 A JP31503590 A JP 31503590A JP 31503590 A JP31503590 A JP 31503590A JP H04184966 A JPH04184966 A JP H04184966A
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- Japan
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- resin
- metal substrate
- lead frame
- hole part
- semiconductor device
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- Encapsulation Of And Coatings For Semiconductor Or Solid State Devices (AREA)
- Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)
Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
[発明の目的]
(産業上の利用分野)
本発明は例えば樹脂成形によって外囲器が形成される半
導体装置のリードフレームに閃する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Object of the Invention] (Industrial Application Field) The present invention applies to lead frames of semiconductor devices whose envelopes are formed by resin molding, for example.
(従来の技術)
従来より知られているように、外囲器を樹脂によって形
成された半導体装置は製造が容易な点から民生用の半導
体装置等として多量に使用されている。(Prior Art) As is conventionally known, semiconductor devices whose envelopes are made of resin are widely used as consumer semiconductor devices because they are easy to manufacture.
このような半導体装置は、外部リードや半導体チップを
配置する開孔部あるいは内部リード等を加工した金属基
板のリードフレーム上に形成されている。Such a semiconductor device is formed on a lead frame of a metal substrate into which external leads, openings for arranging a semiconductor chip, internal leads, etc. have been processed.
そこで従来のリードフレームを使用して形成される半導
体装置の一つに付いて、図面を参照して説明する。
、
第4図は従来の半導体装置の形成途中、樹脂成形後の状
態の成形品を示すもので、第4図(a)は平面図であり
、第4図(b)は側面図である。Therefore, one semiconductor device formed using a conventional lead frame will be described with reference to the drawings.
FIG. 4 shows a molded product after resin molding during the formation of a conventional semiconductor device, with FIG. 4(a) being a plan view and FIG. 4(b) being a side view.
なお、第4図(a)は、第4図(b)におけるA矢方向
視の図面である。In addition, FIG. 4(a) is a drawing seen in the direction of arrow A in FIG. 4(b).
1は金属基板でなるリードフレームであり、このリード
フレーム1には複数の外部リード2と、各外部リード2
に対応して設けられた図示しない内部リード及び半導体
チップを配置する開孔部等が形成されている。3は樹脂
成形によって形成された外囲器であり、この外囲器3の
内部に内部リードに接続された半導体チップが封止され
ている。1 is a lead frame made of a metal substrate, and this lead frame 1 has a plurality of external leads 2 and each external lead 2.
Internal leads (not shown) provided correspondingly to the holes, openings for arranging semiconductor chips, etc. are formed. Reference numeral 3 denotes an envelope formed by resin molding, and a semiconductor chip connected to internal leads is sealed inside the envelope 3.
また、4は外囲器3を成形する際に溶融樹脂の流路とな
ったランチであり、5はランナ4から分岐したゲートで
、ゲート5を通じて外囲器3の成形型に樹脂が導入され
る。さらに、外囲器3の成形型内に導入された樹脂は、
ゲート5に対向する位置に設けられたエアベントを介し
て型内の空気を押出すようにして抜くと共に型内に充填
され、余分となった空気を巻込んだ樹脂が外囲器3の外
に流出するようになっており、6は流出樹脂を示してい
る。Further, 4 is a launch that serves as a flow path for the molten resin when molding the envelope 3, and 5 is a gate branched from the runner 4, through which the resin is introduced into the mold for the envelope 3. Ru. Furthermore, the resin introduced into the mold of the envelope 3 is
The air inside the mold is pushed out through an air vent provided opposite the gate 5, and the resin filled in the mold and containing the excess air is released outside the envelope 3. It is designed to flow out, and 6 indicates the resin flowing out.
そして半導体装置の製造工程では、第4図に示す形成途
中の半導体装置を次の工程に送り、ランナ4やゲート5
及び外部リード3の切離しあるいはメツキが行われる。In the semiconductor device manufacturing process, the half-formed semiconductor device shown in FIG.
Then, the external leads 3 are separated or plated.
さらに外部リード3が所定形状に曲げ加工等されて半導
体装置が出来上がる。Furthermore, the external leads 3 are bent into a predetermined shape to complete the semiconductor device.
しかしながら、このように構成された従来のものにおい
ては、外囲器3を成形するときの樹脂の種別や型の設計
、製作状況あるいは成形機械、成形条件等によって、エ
アベントを通じて型内の空気が抜ける共にリードフレー
ム1の表面に樹脂が流れ出し、エアベントの形状に樹脂
が固化して残る。この時、流出樹脂6が多い場合には、
リードフレーム1の外縁から流出樹脂6がはみだして樹
脂ばり7を形成してしまうことがある。However, in conventional products configured in this way, the air inside the mold may escape through the air vent depending on the type of resin, design of the mold, manufacturing conditions, molding machine, molding conditions, etc. when molding the envelope 3. In both cases, the resin flows out onto the surface of the lead frame 1, and the resin solidifies and remains in the shape of an air vent. At this time, if there is a large amount of resin 6 flowing out,
The outflowing resin 6 may protrude from the outer edge of the lead frame 1 and form a resin burr 7.
そしてこの流出樹脂6の樹脂ばり7は、リードフレーム
1より外に飛出しているために、樹脂成形工程やそれ以
後の工程でリードフレーム1の外形寸法に規定して形成
された搬送系に乗らなくなってしまったり、他のものに
触れたり、打ち当るなどして脱落してしまい、各工程で
の障害を引起こしたり、製造環境を悪化させてしまう虞
がある。Since the resin burrs 7 of the spilled resin 6 are protruding from the lead frame 1, they cannot be carried on the conveyance system formed according to the external dimensions of the lead frame 1 during the resin molding process or subsequent processes. There is a risk that it may get lost, touch something else, or fall off due to being hit by something else, causing problems in each process and deteriorating the manufacturing environment.
逆に、樹脂ばりが出来ないようにエアベントから流出し
てくる樹脂の量を少なくすると、成形された外囲器3の
樹脂の中に空気を巻込んだ状態となる虞が有り、半導体
装置の特性や性能を安定したちの′にできないなどの問
題が生じる。On the other hand, if the amount of resin flowing out from the air vent is reduced to prevent resin burrs from forming, there is a risk that air will be trapped in the resin of the molded envelope 3, which may cause damage to the semiconductor device. Problems arise, such as the inability to maintain stable characteristics and performance.
また、上記の問題等を考慮して成形し、製造することは
、工程の最初の立ち上げや作成途中での工程の管理など
に多くの労力を要する。Furthermore, molding and manufacturing in consideration of the above-mentioned problems requires a lot of effort in starting up the process for the first time and managing the process during production.
(発明が解決しようとする課題)
上記のような製造環境を悪化させたり、半導体装置の性
能等に問題が生じる虞のある状況に鑑みて本発明はなさ
れたもので、その目的とするところは外縁より外に飛出
す樹脂ばりをなくし、製造環境の悪化を防止し、良好な
性能の半導体装置が得られ、工程の立ち上げや工程の管
理に多くの労力を必要としないようにできる半導体装置
のリードフレームを提供することにある。(Problems to be Solved by the Invention) The present invention has been made in view of the above-mentioned situation where there is a risk of deteriorating the manufacturing environment or causing problems with the performance of semiconductor devices. A semiconductor device that eliminates resin burrs flying out from the outer edge, prevents deterioration of the manufacturing environment, provides semiconductor devices with good performance, and eliminates the need for a lot of effort for process start-up and process management. Our goal is to provide lead frames for
(課題を解決するための手段)
本発明の半導体装置のリードフレームは、金属基板と、
この金属基板に形成された外部リード、内部リード及び
半導体チップの配置部とを有するものにおいて、金属基
板に、貫通して形成した樹脂溜りの空口部を備えている
ことを特徴とするものである。(Means for Solving the Problems) A lead frame of a semiconductor device of the present invention includes a metal substrate,
This device having an external lead, an internal lead, and a semiconductor chip arrangement portion formed on a metal substrate is characterized in that the metal substrate is provided with an opening for a resin reservoir formed through the metal substrate. .
(作用)
上記のように構成された半導体装置のリードフレームは
、樹脂溜りの空口部を備え−ているために、樹脂成形の
時に成形型がらエアベントを通じて流出してくる樹脂は
、空口部に貯溜して固化し、外縁から外に飛出す樹脂ば
りがなくなり、製造環境が悪化することや工程の立ち上
げや管理に多くの労力を必要とすることがなくなり、良
好な半導体装置を作り出すことができる。(Function) Since the lead frame of the semiconductor device configured as described above is provided with an opening for a resin reservoir, the resin flowing out from the mold through the air vent during resin molding is stored in the opening. This eliminates resin burrs that fly out from the outer edge, eliminates the deterioration of the manufacturing environment, and eliminates the need for a lot of effort to start up and manage the process, making it possible to produce high-quality semiconductor devices. .
(実施例)
以下、本発明の実施例を第1図乃至第3図を参照して説
明する。(Example) Hereinafter, an example of the present invention will be described with reference to FIGS. 1 to 3.
先ず、第1の実施例を第1図及び第2図により説明する
。First, a first embodiment will be explained with reference to FIGS. 1 and 2.
第1図は本実施例の平面図であり、第2図は本実施例に
係わる半導体装置の形成途中、樹脂成形後の状態の成形
品を示すもので、第2図Ca)は平面図であり、第2図
(b)は側面図である。なお、第2図(a)は、第2図
(b)におけるB矢方向視の図面である。Fig. 1 is a plan view of this example, Fig. 2 shows a molded product after resin molding during the formation of a semiconductor device according to this example, and Fig. 2 Ca) is a plan view. 2(b) is a side view. Note that FIG. 2(a) is a drawing viewed in the direction of arrow B in FIG. 2(b).
図において、10はリードフレームであり、これは、例
えばFe−Ni合金あるいはりん青銅などでなる金属基
板11に構成される。この金属基板11には複数の半導
体装置に対応したパターンがプレス加工やホトエツチン
グ加工などで形成されている。なお、図は一つの半導体
装置に対応するバタ−ンを示している。金属基板11に
形成されたパターンのうち、12は複数設けられた外部
リードであり、これらの外部リード12は狭幅部によっ
て各外部リード12間が連結され、また金属基板11に
接続された状態になっている。In the figure, 10 is a lead frame, which is constructed on a metal substrate 11 made of, for example, Fe--Ni alloy or phosphor bronze. Patterns corresponding to a plurality of semiconductor devices are formed on this metal substrate 11 by pressing, photo-etching, or the like. Note that the figure shows a pattern corresponding to one semiconductor device. Among the patterns formed on the metal substrate 11, 12 are a plurality of external leads provided, and these external leads 12 are connected to each other by a narrow portion, and are connected to the metal substrate 11. It has become.
また、各外部リード12の片端部にはそれぞれに対応し
て、各離間して複数設けられた内部リード13の片端部
が連続するようにして形成されており、またこれらの内
部り一自3の他端部によって、半導体チップ14が配置
される配置部となる開孔部15が形成されている。なお
、開孔部15に配置された半導体チップ14の端子と所
定の内部リード13の他端部とは、リード線によって接
続される。Furthermore, one end of each of the internal leads 13 provided at a distance is formed so as to be continuous with one end of each external lead 12. The other end portion forms an opening 15 that serves as a placement portion where the semiconductor chip 14 is placed. Note that the terminal of the semiconductor chip 14 disposed in the opening 15 and the other end of a predetermined internal lead 13 are connected by a lead wire.
また、16は金属基板11の内部に、片側の外縁に沿っ
て貫通開孔した樹脂溜りを形成する空口部で、外部リー
ド12等のパターンと共に同時加工によって形成されて
いる。なお、17は搬送用あるいは工程作業時の位置決
め用等に用いられるスプロケットホールである。Reference numeral 16 designates an opening in the interior of the metal substrate 11 for forming a resin reservoir with a through hole along the outer edge of one side, and is formed by simultaneous processing with the pattern of the external lead 12 and the like. Note that 17 is a sprocket hole used for transportation or positioning during process work.
さらに、18は、例えばエポキシ樹脂あるいはシリコン
樹脂でなる外囲器であり、この外囲器18によって内部
リード13及びこれらに接続された半導体チップ14が
樹脂封止される。Furthermore, 18 is an envelope made of, for example, epoxy resin or silicone resin, and the internal leads 13 and the semiconductor chip 14 connected thereto are sealed with the resin.
そしてまた、半導体装置を作成するにあたっては、リー
ドフレーム10の開孔部15に配置された半導体チップ
14の端子と所定の内部リード13の他端部とをリード
線によって接続し、これを樹脂成形機の外囲器18の成
形型に固定して成形する。19は樹脂成形する際に溶融
した樹脂の流路となったランチであり、20はランナ1
9から分岐したゲートであって、ゲート20を通じて外
囲器18の成形型に樹脂が導入される。Furthermore, in producing the semiconductor device, the terminals of the semiconductor chip 14 placed in the openings 15 of the lead frame 10 and the other ends of the predetermined internal leads 13 are connected by lead wires, and this is molded with resin. It is fixed to the mold of the envelope 18 of the machine and molded. 19 is a launch that serves as a flow path for molten resin during resin molding, and 20 is a runner 1.
Resin is introduced into the mold of the envelope 18 through the gate 20, which is a gate branched from the gate 9.
また、成形型には、ゲート20がリードフレームlOの
空口部16に半導体チップ14の配置部を挾み対向する
側の位置に設けられており、空口部1Bの側にエアベン
トが設けられている。そのためゲート20を通じて成形
型に溶融した樹脂が導入されると、成形型内に導入され
た樹脂は、エアベントを介して型内の空気を押出すよう
にして抜くと共に型内に充填され、余分となった空気を
巻込んだ樹脂がエアベントを介して外囲器18の外に流
出する。21はエアベントから流出した流出樹脂を示し
ており、流出樹脂21が多い場合には先端部22は空口
部lB内に溜るようになる。そして成形型内への樹脂の
導入が完了した後、樹脂が冷却固化するのを待って成形
品を型から外す。このようにして形成されたものでは流
出樹脂21が樹脂溜りを形成する空ロ部16内に溜り、
リードフレームlOの外縁から外に飛び出した樹脂ばり
を形成することがない。Further, in the mold, a gate 20 is provided at a position opposite to the cavity 16 of the lead frame 10 with the semiconductor chip 14 disposed therebetween, and an air vent is provided on the cavity 1B side. . Therefore, when molten resin is introduced into the mold through the gate 20, the resin introduced into the mold is removed by pushing out the air in the mold through the air vent, and is also filled into the mold, and the excess is removed. The resin entrained in the air flows out of the envelope 18 through the air vent. Reference numeral 21 indicates outflowing resin flowing out from the air vent, and when there is a large amount of outflowing resin 21, the tip 22 will accumulate in the cavity 1B. After the introduction of the resin into the mold is completed, the molded product is removed from the mold after waiting for the resin to cool and solidify. In the case formed in this way, the outflowing resin 21 accumulates in the hollow part 16 forming a resin reservoir,
No resin burrs are formed protruding from the outer edge of the lead frame IO.
したがって、樹脂成形工程やそれ以後の工程でも、金属
基板11の外形寸法に規定して形成された搬送系に同等
支承なく乗せることができ、他のものに触れたり、打ち
当るなどして樹脂ばりが脱落して各工程での障害を引起
こしたり、製造環境を悪化させてしまうという虞がない
。Therefore, even in the resin molding process and subsequent processes, the metal substrate 11 can be placed on a conveyance system formed according to the external dimensions without equal support, and resin burrs can be avoided by touching or hitting other objects. There is no risk of the particles falling off and causing trouble in each process or deteriorating the manufacturing environment.
また、樹脂ばりが出来ないようにエアベントから流出し
てくる樹脂の量を少なくする必要がないため、外囲器1
8の樹脂の中に空気を巻込んだ状態となることもなく、
半導体装置の特性や性能を良好なものとすることができ
る。In addition, since there is no need to reduce the amount of resin flowing out from the air vent to prevent resin burrs, the envelope 1
No air is trapped in the resin in step 8,
The characteristics and performance of the semiconductor device can be improved.
さらに、成形工程での最初の微妙な成形条件の設定や立
ち上げ、あるいは作成途中での工程の管理などに対する
労力を低減することができる。Furthermore, it is possible to reduce the labor involved in setting delicate molding conditions at the beginning of the molding process, starting up, or managing the process during production.
次に、第2の実施例を第3図により説明する。Next, a second embodiment will be explained with reference to FIG.
第3図は本実施例に係わる半導体装置の形成途中、樹脂
成形後の状態の成形品を示す平面図である。FIG. 3 is a plan view showing the molded product after resin molding during the formation of the semiconductor device according to this embodiment.
図において、24は第1の実施例と同様材料の金属基板
25でなるリードフレームであり、金属基板25には複
数の半導体装置に対応したパターンが形成され、図のパ
ターンは一つの半導体装置に対応するパターンの部分を
示している。金属基板25に形成されたパターンのうち
、26は複数設けられた外部リードであり、これらの外
部リード2Bは狭幅部によって各外部リード2B間が連
結され、また金属基板25に接続された状態になってい
る。In the figure, 24 is a lead frame made of a metal substrate 25 made of the same material as in the first embodiment, and patterns corresponding to a plurality of semiconductor devices are formed on the metal substrate 25, and the pattern in the figure is for one semiconductor device. The corresponding part of the pattern is shown. Among the patterns formed on the metal substrate 25, 26 is a plurality of external leads provided, and these external leads 2B are connected to each other by a narrow portion, and are connected to the metal substrate 25. It has become.
また、各外部リード2Bの片端部にはそれぞれに対応し
て内部リード27の片端部が連続するようにして形成さ
れている。またこれらの内部リード27の他端部によっ
て形成される開孔部29に光半導体の半導体チップ28
を配置し、半導体チップ28の端子と所定の内部リード
27の他端部とがリード線によって接続される。Furthermore, one end of an internal lead 27 is formed to be continuous with one end of each external lead 2B. Further, a semiconductor chip 28 of an optical semiconductor is placed in an opening 29 formed by the other end of these internal leads 27.
are arranged, and the terminals of the semiconductor chip 28 and the other ends of the predetermined internal leads 27 are connected by lead wires.
また、30は金属基板25の片側の外縁31を切り欠い
て設けた樹脂溜りを形成する穿口部で、外部リード26
等のパターンと共に同時加工によって形成されている。Further, reference numeral 30 denotes a perforation part that forms a resin reservoir by cutting out the outer edge 31 of one side of the metal substrate 25, and a perforation part 30 that forms a resin reservoir.
It is formed by simultaneous processing with other patterns.
なお、32は搬送用あるいは工程作業時の位置決め用等
に用いられるスプロケットホールである。Note that 32 is a sprocket hole used for transportation or positioning during process work.
さらに、33は第1の実施例と同様に樹脂で形成された
外囲器であり、この外囲器33には受光部のカバー34
が設けられると共に、外囲器33によって内部リード2
7及びこれらに接続された半導体チップ28が樹脂封止
される。Further, 33 is an envelope made of resin as in the first embodiment, and this envelope 33 includes a cover 34 for the light receiving section.
is provided, and the inner lead 2 is connected by the envelope 33.
7 and the semiconductor chip 28 connected thereto are sealed with resin.
そしてまた、半導体装置を作成するにあたっては、半導
体チップ28を内部リード27に接続したリードフレー
ム24を樹脂成形機の成形型に固定して成形する。Furthermore, in producing a semiconductor device, the lead frame 24, in which the semiconductor chip 28 is connected to the internal leads 27, is fixed to a mold of a resin molding machine and molded.
また、成形型には穿口部30の側にエアベント力(、設
けられ、半導体チップ28の配置部を挟み穿口部30に
対向する側にゲート20が設けられている。そのためゲ
ート20を通じて成形型に溶融した樹脂が導入されると
、成形型内に導入された樹脂は、エアベントを介して型
内の空気を押出すようにして抜くと共に型内に充填され
、余分となった空気を巻込んだ樹脂がエアベントを介し
て外囲器33の外に流出する。21はエアベントから流
出した流出樹脂を示しており、流出材、脂21が多い場
合には先端部22は穿口部30内に溜るようになる。そ
して成形型内への樹脂の導入が完了した後、樹脂が冷却
固化するのを待って成形品を型から外す。このようにし
て形成されたものでは流出樹脂21が樹脂溜りを形成す
る穿口部30内に溜り、リードフレーム25の外縁31
から外に飛び出し、樹脂ばりを形成することがない。Furthermore, the mold is provided with an air vent force on the side of the perforation 30, and a gate 20 is provided on the side facing the perforation 30 with the semiconductor chip 28 disposed therebetween. When molten resin is introduced into the mold, the air inside the mold is pushed out through the air vent, and the resin is filled into the mold, and the excess air is rolled up. The poured resin flows out of the envelope 33 through the air vent. 21 indicates the resin flowing out from the air vent, and if there is a large amount of flowing material or fat 21, the tip 22 will flow out of the perforation 30. After the introduction of the resin into the mold is completed, the molded product is removed from the mold after the resin is cooled and solidified. The outer edge 31 of the lead frame 25 accumulates within the perforation 30 forming a reservoir.
There is no chance of resin burrs popping out from the surface and forming resin burrs.
上記したように、本実施例においても予め穿口部30の
大きさを適宜設定しておくことにより、リードフレーム
25の外縁31から外に飛び出す虞がなく、第1の実施
例と同様な効果を得ることができる。As described above, in this embodiment, by setting the size of the perforated portion 30 appropriately in advance, there is no risk of it protruding from the outer edge 31 of the lead frame 25, and the same effect as in the first embodiment can be achieved. can be obtained.
尚、本発明は上記しかつ図面に示す実施例にのみに限定
されるものではなく、要旨を逸脱しない範囲内で適宜変
更して実施し得るものである。It should be noted that the present invention is not limited to the embodiments described above and shown in the drawings, but can be implemented with appropriate modifications within the scope of the invention.
[発明の効果]
以上の説明から明らかなように、本発明は外部リード及
び内部リード等のパターンと共に、樹脂溜りの穿口部を
設ける構成としたことにより、次のような効果が得られ
る。即ち、外縁より外に飛出す樹脂ばりがなくなり、脱
落した樹脂ぼりによって引起こされる障害がなくなり、
製造環境の悪化を防止しでき、また良好な性能の半導体
装置が得られ、さらに工程の立ち上げや工程の管理に多
くの労力を必要としなくなる等の効果を奏する。[Effects of the Invention] As is clear from the above description, the present invention provides the following effects by providing patterns for the external leads, internal leads, etc., as well as the perforations for the resin reservoir. In other words, there are no resin burrs flying out from the outer edge, and there are no problems caused by fallen resin burrs.
It is possible to prevent deterioration of the manufacturing environment, to obtain a semiconductor device with good performance, and to eliminate the need for much labor for starting up the process and managing the process.
第1図は本発明の第1の実施例を示す平面図、第2図(
a)は第1の実施例に係わる半導体装置の形成途中の成
形品を示す平面図、第2図(b)は第2図(a)の成形
品の側面図、第3図はff1i2の実施例に係わる半導
体装置の形成途中の成形品を示す平面図、第4図(a)
は従来例に係わる半導体装置の形成途中の成形品を示す
平面図、第4図(b)は第4図(a)の成形品の側面図
である。
lO・・・リードフレーム、 11・・・金属基板、1
2・・・外部リード、 13・・・内部リード、
14・・・半導体チップ、 15・・・開孔部(配置
部)、16・・・穿口部。
代理人 弁理士 大 胡 典 夫
第3図
第4図FIG. 1 is a plan view showing a first embodiment of the present invention, and FIG.
a) is a plan view showing a molded product in the middle of forming a semiconductor device according to the first embodiment, FIG. 2(b) is a side view of the molded product in FIG. 2(a), and FIG. 3 is a diagram showing the implementation of ff1i2. A plan view showing a molded product in the middle of forming a semiconductor device according to an example, FIG. 4(a)
4(b) is a plan view showing a molded product in the process of forming a semiconductor device according to a conventional example, and FIG. 4(b) is a side view of the molded product shown in FIG. 4(a). lO...Lead frame, 11...Metal substrate, 1
2...External lead, 13...Internal lead,
14... Semiconductor chip, 15... Opening part (placement part), 16... Perforation part. Agent: Patent Attorney Norio Ogo Figure 3 Figure 4
Claims (1)
部リード及び半導体チップの配置部とを有するものにお
いて、前記金属基板に、貫通して形成した樹脂溜りの空
口部を備えていることを特徴とする半導体装置のリード
フレーム。A device having a metal substrate and a portion for arranging external leads, internal leads and a semiconductor chip formed on the metal substrate, characterized in that the metal substrate is provided with a cavity portion for a resin reservoir formed through the metal substrate. Lead frames for semiconductor devices.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP31503590A JPH04184966A (en) | 1990-11-20 | 1990-11-20 | Lead frame of semiconductor device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP31503590A JPH04184966A (en) | 1990-11-20 | 1990-11-20 | Lead frame of semiconductor device |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04184966A true JPH04184966A (en) | 1992-07-01 |
Family
ID=18060642
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP31503590A Pending JPH04184966A (en) | 1990-11-20 | 1990-11-20 | Lead frame of semiconductor device |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH04184966A (en) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5293065A (en) * | 1992-08-27 | 1994-03-08 | Texas Instruments, Incorporated | Lead frame having an outlet with a larger cross sectional area than the inlet |
JP2012216657A (en) * | 2011-03-31 | 2012-11-08 | Sanken Electric Co Ltd | Resin molding frame and optical semiconductor device |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6059759A (en) * | 1983-09-13 | 1985-04-06 | Toshiba Corp | Lead frame |
JPS63228655A (en) * | 1987-03-17 | 1988-09-22 | Mitsubishi Electric Corp | Lead frame for semiconductor device |
-
1990
- 1990-11-20 JP JP31503590A patent/JPH04184966A/en active Pending
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6059759A (en) * | 1983-09-13 | 1985-04-06 | Toshiba Corp | Lead frame |
JPS63228655A (en) * | 1987-03-17 | 1988-09-22 | Mitsubishi Electric Corp | Lead frame for semiconductor device |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5293065A (en) * | 1992-08-27 | 1994-03-08 | Texas Instruments, Incorporated | Lead frame having an outlet with a larger cross sectional area than the inlet |
JP2012216657A (en) * | 2011-03-31 | 2012-11-08 | Sanken Electric Co Ltd | Resin molding frame and optical semiconductor device |
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