JPH04134482A - Prober for display panel - Google Patents
Prober for display panelInfo
- Publication number
- JPH04134482A JPH04134482A JP25871590A JP25871590A JPH04134482A JP H04134482 A JPH04134482 A JP H04134482A JP 25871590 A JP25871590 A JP 25871590A JP 25871590 A JP25871590 A JP 25871590A JP H04134482 A JPH04134482 A JP H04134482A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- probe
- board
- display panel
- electrodes
- tab
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Landscapes
- Liquid Crystal (AREA)
- Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)
Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、表示パネル用プローブに関し、例えば大型
の液晶(以下、隼にLCDという場合がある)表示パネ
ルに用いられるプローブに利用して育効な技術に関する
ものである。Detailed Description of the Invention [Field of Industrial Application] The present invention relates to a probe for a display panel. It is about effective techniques.
液晶表示パネル用プローバとして、例えば特開昭61−
70579号公報がある。このプローバは、表示パネル
の1!置台に対してX軸ステージにより表示パネルのX
軸に沿って平行移動するXプローブへフドと、Y軸ステ
ージにより表示パネルのY軸に沿って平行移動するYプ
ローブヘッドとともに、表示パネルのX軸及びY軸に沿
って平行移動するXYステージにより表示パネルの任意
の位置に接触する第3のプローブヘッドを設けるもので
ある。For example, as a prober for liquid crystal display panels,
There is a publication No. 70579. This prober is one of the display panels! The X-axis of the display panel is
The X-probe head moves in parallel along the axis, the Y-probe head moves in parallel along the Y-axis of the display panel using the Y-axis stage, and the XY stage moves in parallel along the X- and Y-axes of the display panel. A third probe head is provided that contacts any position on the display panel.
上記の表示パネル用プローバでは、アクティブマトリッ
クス方式の液晶表示パネルの場合、各画素毎に対して逐
一チエツクを行うものである。このため、液晶表示パネ
ルの大画面、言い換えるならば、多画素化に伴い試験時
間が膨大になるという問題がある。In the case of an active matrix liquid crystal display panel, the display panel prober described above checks each pixel one by one. For this reason, there is a problem that the test time becomes enormous as the screen of the liquid crystal display panel becomes larger, or in other words, the number of pixels increases.
この発明の目的は、試験時間の大幅短縮化を実現した表
示パネル用プローブを提供することにある。An object of the present invention is to provide a display panel probe that achieves a significant reduction in test time.
この発明の前記ならびにそのほかの目的と新規な特徴は
、本明細書の記述および添付図面から明らかになるであ
ろう。The above and other objects and novel features of the present invention will become apparent from the description of this specification and the accompanying drawings.
本願において開示される発明のうち代表的なものの概要
を簡単に説明すれば、下記の通りである。A brief overview of typical inventions disclosed in this application is as follows.
すなわち、表示パネルの電極と同一ピッチに配列された
複数のプローブを持つプローブアッセンブリを単位とし
て、複数からなるプローブアッセンブリを取付板を介し
て一体的に取り付けて表示パネルの全電極に対して同時
に電気的接触を得るようにするとともに各プローブアッ
センブリはフレキシブル配線基板とそれが挿入されるコ
ネクタとを用いて電気的な信号経路を構成し、個々のプ
ローブアッセンブリに対してはプローブ先端位置を調整
可能にするマニピュレータに固定させる。上記プローブ
アッセンブリを構成するブロックとしてタブ基板を利用
する。In other words, a probe assembly having multiple probes arranged at the same pitch as the electrodes of the display panel is used as a unit, and the probe assembly consisting of multiple probes is integrally attached via a mounting plate to simultaneously apply electricity to all electrodes of the display panel. In addition, each probe assembly forms an electrical signal path using a flexible wiring board and a connector into which it is inserted, and the probe tip position can be adjusted for each probe assembly. Fix it to the manipulator. A tab substrate is used as a block constituting the probe assembly.
上記した手段によれば、表示パネルの大画面化に伴う電
極の増大に対して、比較的少ない数のプローブが取り付
けられたプローブアッセンブリの組み合わせにより対処
できるから、試験時間の短縮化が図られるとともにその
組立や補修等が簡単に行える。According to the above-mentioned means, it is possible to cope with the increase in the number of electrodes due to the enlargement of the screen of the display panel by combining probe assemblies to which a relatively small number of probes are attached, so that the test time can be shortened and Its assembly and repair can be easily performed.
第1図には、この発明に係る表示パネル用プローブの一
実施例の平面図が示されている。FIG. 1 shows a plan view of an embodiment of the display panel probe according to the present invention.
この実施例では、試験時間の短縮化等のために液晶表示
(以下、単にLCDという)パネルの全電極に対して同
時接触を行うようにする。このようにLCDパネルの全
電極に対して同時接触を行うようにする場合、LCDパ
ネルの多数からなる全電極に一対一に対応して設けらる
プローブの数も膨大となり、その取り付は作業が難しく
、かつ、煩わしいものとなる。In this embodiment, all electrodes of a liquid crystal display (hereinafter simply referred to as LCD) panel are contacted simultaneously in order to shorten test time. In this way, when simultaneously contacting all the electrodes on the LCD panel, the number of probes that are provided in one-to-one correspondence with all the electrodes on the LCD panel, which is made up of many, becomes enormous. becomes difficult and troublesome.
この実施例では、LCDパネルの持つ電極に対して比較
的少ない数からなる複数のプローブが固定的に設けられ
るプローブアッセンブリユニ7)を用いる。すなわち、
上記LCDパネルの持つ多数の電極に対して分担させて
上記各10−ブア7センブリユニツトを割り当てるよう
にする。特に制限されないが、この実施例では、LCD
パネルを横方向に走るように配置される走査線に対応し
た電極を3分割して、3つからなるプローブアッセンブ
リユニットを設ける。また、LCDパネルを縦方向に走
るように配置される信号線に対応した電極を4分割して
、4つからなるプローブアッセンブリユニットを設ける
。この場合、LCDパネルの長手方向に配置される4つ
のプローブアッセンブリユニットは、同一の信号線の両
端に対して電気的接触を行うようにするものである。こ
のようにプローブを配置したときには、両端での導通チ
エツクにより、信号線電極の途中断線を簡単に検出する
ことが可能となる。In this embodiment, a probe assembly unit 7) is used in which a plurality of relatively small number of probes are fixedly provided to the electrodes of the LCD panel. That is,
Each of the 10-hole 7 assembly units is assigned to a large number of electrodes of the LCD panel. Although not particularly limited, in this embodiment, the LCD
The electrodes corresponding to the scanning lines arranged to run horizontally across the panel are divided into three parts to provide a three-piece probe assembly unit. Further, the electrodes corresponding to the signal lines arranged to run in the vertical direction of the LCD panel are divided into four parts, and a probe assembly unit consisting of four parts is provided. In this case, the four probe assembly units arranged in the longitudinal direction of the LCD panel are intended to make electrical contact with both ends of the same signal line. When the probes are arranged in this manner, it is possible to easily detect a break in the signal line electrode by checking continuity at both ends.
上記のように同一の信号線の両端にプローブを割り当て
るものの他、LCDパネルの信号線電極を奇数番目と偶
数番目のものに分割し、例えば上側のプローブアッセン
ブリユニットは1つおきに奇数番目の信号線電極に接続
し、下側のプローブアッセンブリユニットは、1つのお
きに偶数番目の信号線電極に接続するようにしてもよい
、この場合は、プローブの数を半分にでき、かつそのピ
ッチを信号線電極のピッチの2倍に大きくすることがで
きる。その反面、上記信号線に画素信号を供給し、画素
の明点検査や暗点検査により間接的に信号線の断線等を
検出する方式を採るものとなる。In addition to assigning probes to both ends of the same signal line as described above, the signal line electrodes of the LCD panel can be divided into odd-numbered and even-numbered ones, and for example, the upper probe assembly unit is assigned every other odd-numbered signal line. The lower probe assembly unit may be connected to every other even-numbered signal line electrode. In this case, the number of probes can be halved, and the pitch can be adjusted to match the signal line electrode. It can be made twice as large as the pitch of the line electrodes. On the other hand, a method is adopted in which a pixel signal is supplied to the signal line and a disconnection of the signal line is indirectly detected through bright spot inspection or dark spot inspection of the pixel.
このことは、LCDパネルの横方向に延長されるよう配
置される走査線電極に対応して、左右に3個ずつ設けら
れるプローブアッセンブリユニットにおいても同様であ
る。This also applies to the probe assembly units, which are provided three on each side, corresponding to the scanning line electrodes arranged to extend in the lateral direction of the LCD panel.
LCDパネルの4つの各辺に対応して設けられる各プロ
ーブアッセンブリユニットは、後述するようにプローブ
の固定端側か接続されるプローブ基板を備え、そのプロ
ーブ基板にはタブ基板が接続される。タブ基板にはドラ
イブICが実装される。このタブ基板の他端側にはフレ
キシブル配線基板が接続される。このフレキシブル配線
基板の他端側は、コネクタ取付基板に設けられたコネク
タに挿入されるようにされる。同図においては、取付板
の下側に位置する各部品を点線で示すものである。ただ
し、コネクタは、この実施例の理解を容易にするため実
線で示すものである。また、取付板の上面側に設けられ
るマニピュレータやLCDパネルの表面に設けられる偏
光板等は省略されている。Each probe assembly unit provided corresponding to each of the four sides of the LCD panel includes a probe board to which the fixed end side of the probe is connected, as will be described later, and a tab board is connected to the probe board. A drive IC is mounted on the tab substrate. A flexible wiring board is connected to the other end of this tab board. The other end side of this flexible wiring board is inserted into a connector provided on a connector mounting board. In the figure, each component located below the mounting plate is indicated by a dotted line. However, the connectors are shown as solid lines to facilitate understanding of this embodiment. Further, a manipulator provided on the upper surface side of the mounting plate, a polarizing plate provided on the surface of the LCD panel, etc. are omitted.
第2図には、プローブアッセンブリユニットの一実施例
の断面図が示されている。FIG. 2 shows a cross-sectional view of one embodiment of the probe assembly unit.
複数の細い線条からなるプローブは、その先端が測定す
べきLCDパネルの電極のピンチに対応して位置合わせ
され、その状態を維持するよう支持体とプローブ押さえ
により挟まれて固定される。The tip of the probe, which is made up of a plurality of thin filaments, is aligned to correspond to the pinch of the electrode of the LCD panel to be measured, and is held between the support and the probe holder to maintain this position.
プローブ押さえは、特に制限されないが、熱硬化性を持
つ接着剤等により構成される。特に制限されないが、半
導体ウェハ用の固定プローブボードと同様な位置合わせ
技術を用いて上記プローブの先端を揃えておき、その状
態で支持体とプローブ押さえにより複数のプローブを固
定する。このように形成された複数のプローブは、その
先端が正しく位置合わせされた関係で固定される。The probe holder is made of, but not limited to, a thermosetting adhesive or the like. Although not particularly limited, the tips of the probes are aligned using a positioning technique similar to that used for fixed probe boards for semiconductor wafers, and in this state, the plurality of probes are fixed using a support and a probe holder. The plurality of probes thus formed are fixed with their tips in properly aligned relationship.
このように複数のプローブを固定する支持体は、プロー
ブ取付体に接着される。プローブ取付体は、特に制限さ
れないが、表面が酸化処理されることにより、電気絶縁
性を持つようにされたアルミユニラムから構成される。The support for fixing the plurality of probes in this manner is adhered to the probe mounting body. Although not particularly limited, the probe mounting body is made of aluminum uniram whose surface is oxidized to have electrical insulation properties.
このプローブ取付体には、プリント配線基板等からなる
プローブ基板が設けれら、その配線にプローブの固定端
側か接続される。This probe mounting body is provided with a probe board made of a printed wiring board or the like, and the fixed end side of the probe is connected to the wiring.
このようなプローブ基板には、タブ(TAB;Tape
Automated Bonding)が接続され、
そこにはドライブ用ICが実装される。上記プローブ基
板とタブ(又はタブ基板)との接続部Aは、特に制限さ
れないが、熱圧着技術を用いて行われる。そして、タブ
の他端側にはフレキシブル配線基板の接続端に接続され
る。このタブとフレキシブル配線基板との接続部Bは、
ハンダ付けにより行われる。フレシキブル配線基板は、
その他端側か延びてコネクタに挿入されることによって
電気的な接続が行われる。Such a probe board has a tab (TAB).
Automated Bonding) is connected,
A drive IC is mounted there. The connection part A between the probe board and the tab (or tab board) is formed using a thermocompression bonding technique, although it is not particularly limited. The other end of the tab is connected to the connection end of the flexible wiring board. The connection part B between this tab and the flexible wiring board is
This is done by soldering. Flexible wiring board is
An electrical connection is made by extending the other end and inserting it into the connector.
このコネクタは、コネクタ取付基板に取り付られる。前
記のようにLCDパネルの信号線に対して4つのプロー
ブアッセンブリユニットを設ける場合には、4つのプロ
ーブアッセンブリユニットに対応した4つのコネクタが
共通のコネクタ取付基板に取り付けられる。This connector is attached to a connector mounting board. When four probe assembly units are provided for the signal line of the LCD panel as described above, four connectors corresponding to the four probe assembly units are attached to a common connector mounting board.
上記コネクタ取付基板の上面側には、各プローブアッセ
ンブリユニットに対応して設けられるアッセンブリ取付
板が設けられる。このアッセンブリ取付板は、上記コネ
クタ取付基板側と各プローブ取付体とを一時的に結合さ
せるために用いられる0例えば、上記コネクタ取付基板
により4個のプローブ取付付体が上記アッセンブリ取付
板を介して一体的に構成される。このとき、コネクタ取
付基板とアッセンブリ取付板とは、取付ネジにより固定
され、アッセンブリ取付板とプローブ取付体とは、プロ
ーブ群取付ネジにより仮止される。An assembly mounting plate provided corresponding to each probe assembly unit is provided on the upper surface side of the connector mounting board. This assembly mounting plate is used to temporarily connect the connector mounting board side and each probe mounting body. For example, the connector mounting board allows four probe mounting bodies to be connected via the assembly mounting plate. Constructed in one piece. At this time, the connector mounting board and the assembly mounting plate are fixed by the mounting screws, and the assembly mounting plate and the probe mounting body are temporarily fixed by the probe group mounting screws.
例えば、適当な位置合わせ治具を用い、4個からなるプ
ローブ取付体のプローブの先端が、LCDパネルの信号
線電極に合もようし、上記プローブ群取付ネジにより仮
止する。For example, using an appropriate positioning jig, the tips of the probes of the four probe attachment bodies are aligned with the signal line electrodes of the LCD panel, and temporarily fixed using the probe group attachment screws.
第3図には、上記プローブアッセンブリユニットが取付
板に取り付けられた状態の一実施例の断面図が示されて
いる。FIG. 3 shows a sectional view of an embodiment in which the probe assembly unit is attached to a mounting plate.
上記のように仮止されたプローブアッセンブリユニット
は、ネジAにより取付板に取り付けられる。そして、取
付板の上面側に固定的に搭載されたマニピュレータのア
ームが取付板の開口部を通して下側に延び、プローブ取
付体のネジ穴とネジBにより固定される。この後、アー
ムに設けられた貫通穴を通して上記仮止されたプローブ
群取付ネジが取り除かれる。このため、プローブ取付体
は、アッセンブリ取付板から解放され、マニピュレータ
のアームの動きに従い、x、y、z及びθ方向の微調整
される。これは、上記コネクタ取付基板により各辺に対
応したプローブ群のプローブ先端は、上記のように位置
合わせされているが、それを1つの取付体に共通に取り
付けたときの相互の位置ずれを上記マニピュレータの調
整により補正するものである。このプローブ先端の補正
は、第1図に示すように、LCDパネルの各電極に各プ
ローブアッセンブリユニットとプローブ先端が合うよう
、各プローブアンセンブリユニット毎に行うものである
。このとき、取付板に対してネジAにより固定的にアッ
センブリ取付板、コネクタ取付基板が取り付けられいる
が、コネクタとプローブ取付体とはフレキシブル配線基
板により接読されいる。これにより、上記プローブ取付
体はマニピュレータのアームの動きに応じて固定的に取
り付けられるコネクタ取付基板とは無関係に自由に位置
調整される。The probe assembly unit temporarily fixed as described above is attached to the mounting plate with screws A. The arm of the manipulator fixedly mounted on the upper surface of the mounting plate extends downward through the opening of the mounting plate, and is fixed by the screw hole and screw B of the probe mounting body. Thereafter, the temporarily fixed probe group mounting screw is removed through the through hole provided in the arm. The probe mounting body is thus released from the assembly mounting plate and finely adjusted in the x, y, z and θ directions according to the movement of the manipulator arm. The probe tips of the probe groups corresponding to each side of the connector mounting board are aligned as described above, but when they are commonly attached to one mounting body, the mutual positional deviation is calculated as shown above. This is corrected by adjusting the manipulator. This probe tip correction is performed for each probe assembly unit so that each probe assembly unit and the probe tip are aligned with each electrode of the LCD panel, as shown in FIG. At this time, the assembly mounting plate and the connector mounting board are fixedly attached to the mounting plate with screws A, but the connector and the probe mounting body are read directly by the flexible wiring board. Thereby, the probe mounting body can be freely adjusted in position in accordance with the movement of the arm of the manipulator, regardless of the connector mounting board to which it is fixedly mounted.
なお、上記のように4個からなるコネクタ取付基板を1
つの取付板に取り付けるとき、専用の調整治具を用いて
全ピンのプローブの先端が基準面に合うように予め調整
することにより、取付板に取り付けてからマニピュレー
タによる調整を大幅に省略化することができる。In addition, as mentioned above, one connector mounting board consists of four pieces.
When mounting on one mounting plate, by adjusting the tips of the probes of all pins in advance using a special adjustment jig so that they match the reference surface, the adjustment using a manipulator after mounting on the mounting plate can be greatly omitted. I can do it.
第4図には、上記プローブ取付体の一実施例の斜視図が
示されている。FIG. 4 shows a perspective view of one embodiment of the probe mounting body.
第2図及び第3図では省略されいるが、プローブは支持
体とプローブ押さえにより挟まれて固定支持される。そ
して、その固定端はプローブ基板の配!!Aにハンダ等
により接続され、この配線にはタブの対応する配線が熱
圧着(A)により接続される。そして、その他端側には
フレキシブル配線基板の対応する配線がハンダ(B)に
より接続される。Although not shown in FIGS. 2 and 3, the probe is fixedly supported by being sandwiched between the support and the probe holder. And the fixed end is where the probe board is placed! ! A is connected to the wire by soldering or the like, and a wire corresponding to the tab is connected to this wire by thermocompression bonding (A). Corresponding wiring of the flexible wiring board is connected to the other end by solder (B).
プローブ取付体の上面側における段差が設けられること
により高くされた先端部に設けられた2つのネジ穴は、
上記マニピュレータのアームと結合させるときに用いら
れるものであり、上記段差により低くされ、アッセンブ
リ取付板に対応した部分に設けられる1つのネジ穴は、
アッセンブリ取付板に対して仮止に用いられるプローブ
群取付ネジに用いられる。The two screw holes provided at the tip of the probe mount, which has been made higher by providing a step on the upper surface side, are
It is used when connecting to the arm of the manipulator, and one screw hole is lowered by the step and is provided in a part corresponding to the assembly mounting plate.
Used for probe group mounting screws used for temporary fixing to the assembly mounting plate.
上記の実施例のようにフレキシブル配線基板とコネクタ
とを用いた場合には、その脱着により簡単に個々のプロ
ーブアンセンブリを取り外すことができる。これにより
、特定のプローブアッセンブリのプローブが折れたり、
曲がった場合等のように、その交換が必要な場合には上
記ネジBを緩めて取付板からプローブ取付体を外すとと
もに、コネクタからフレキシブル配′a基板を取り外せ
ばよい、そして、新しいプローブアッセンブリを上記の
ときと逆に簡単に取り付けることができる。When a flexible wiring board and a connector are used as in the above embodiment, individual probe assemblies can be easily removed by attaching and detaching them. This may cause the probes on certain probe assemblies to break or
If it needs to be replaced, such as when it is bent, all you have to do is loosen the screw B mentioned above and remove the probe mounting body from the mounting plate, as well as remove the flexible printed circuit board a from the connector, and then install a new probe assembly. It can be easily installed in the reverse order as above.
第5図には、プローブアッセンブリユニットの他の一実
施例の断面図が示されている。FIG. 5 shows a sectional view of another embodiment of the probe assembly unit.
この実施例のプローブは、前記のような細い線条かなら
るプローブに代えて、タブ基板をプローブとして用いる
ようにするものである。すなわち、ダフ基板はポリイミ
ドフィルムのような適度の硬さと柔軟性を持つフィルム
ベースの表面(同図の下面側)に、写真技術を利用して
表示パネルの電極に対応したピッチの配線を形成し、そ
れをプローブとして用いる。このようなタブ基板はもと
もとLCDパネルの各電極との接続に用いられるもので
あるから、その表示装置に用いられるものを流用するこ
とができる0表示パネルは多数からなる電極を持つため
、上記複数のプローブが写真印刷されたタブ基板が上記
1つのアラセラプリユニットに対応するよう用いられる
。ただし、タブ基板のみでは良好で安定した接触圧が得
られないから、プローブ取付体の先端部下側とタブ基板
の先端側上面との間に断面が7字状にされた板バネが挿
入される。この実施例では、タブ基板の配線をそのまま
プローブとして用いるものであるため、そこにドライブ
用ICか実装される。そして、その接続端側にはフレキ
シブル配線基板が接続されて、その他端側か前記同様に
コネクタに挿入されて電気的な接続を得るものである。In the probe of this embodiment, a tab substrate is used as the probe instead of the thin wire probe as described above. In other words, the duff board uses photographic technology to form wiring at a pitch that corresponds to the display panel's electrodes on the surface of a film base (lower side in the figure) that has moderate hardness and flexibility, such as polyimide film. , and use it as a probe. Since such a tab substrate is originally used for connection with each electrode of an LCD panel, it is possible to reuse the one used for the display device.Since the display panel has a large number of electrodes, the above-mentioned plurality of electrodes can be used. A tab substrate on which probes are photo-printed is used to correspond to the one ARA therapy unit. However, since good and stable contact pressure cannot be obtained with just the tab board, a leaf spring with a figure-7 cross section is inserted between the bottom of the tip of the probe mount and the top surface of the tab board on the tip side. . In this embodiment, since the wiring on the tab board is used as it is as a probe, a drive IC is mounted thereon. A flexible wiring board is connected to the connecting end, and the other end is inserted into a connector in the same manner as described above to obtain an electrical connection.
他の構成は、前記第2図に示した実施例と同様であるの
でその詳細な説明を省略する。そして、第6図に示すよ
うに、上記のプローブアッセンブリユニットは前記の実
施例と同様に取付板に取り付けられるものである。The other configurations are the same as those of the embodiment shown in FIG. 2, so detailed explanation thereof will be omitted. As shown in FIG. 6, the probe assembly unit described above is attached to a mounting plate in the same manner as in the previous embodiment.
なお、上記プローブとしての配線を液晶パネル等の表示
パネルの電極表面に所望の接触圧を持って接触させるた
めに、7字状の板バネの間にシリコンゴム等のような弾
性体を挿入するものであってもよい、上記プローブとし
ての配線はドライブ用ICにより形成された駆動信号が
伝えられる。In addition, in order to bring the wiring serving as the probe into contact with the electrode surface of a display panel such as a liquid crystal panel with the desired contact pressure, an elastic material such as silicone rubber is inserted between the figure-7 leaf springs. A drive signal formed by a drive IC is transmitted to the wiring as the probe.
このようにプローブとしての配線がそのまま延びてドラ
イブ用ICに接続されるので、試験用の回路が簡単に構
成でき、実際の駆動状態と同様に液晶表示パネルの駆動
を行うことができる。Since the wiring as a probe is extended as it is and connected to the drive IC in this way, a test circuit can be easily constructed and the liquid crystal display panel can be driven in the same manner as in the actual driving state.
前記実施例のような細い線条のプローブは鋭利な尖端を
持ち、タブのポリイミドフィルムやそれに設けられた板
バネ及び弾性体とに≦リタプの先端部が適度の硬さと柔
軟性を持つため、その接触状態において上記尖端や配線
が液晶パネルの電極表面を擦りながら接触を行う。これ
により、被測定部のI To (Indium Tin
0xide) tE極をスクラッチし、表面酸化膜を
破壊して接触を行うものとなり良好な電気的接触が可能
となる。The thin wire probe as in the above embodiment has a sharp tip, and the tip of the retap has appropriate hardness and flexibility due to the polyimide film of the tab and the leaf spring and elastic body provided thereon. In this contact state, the tips and wiring contact the liquid crystal panel while rubbing the electrode surface. As a result, I To (Indium Tin) of the part to be measured
(Oxide) The tE electrode is scratched, the surface oxide film is destroyed, and contact is made, allowing good electrical contact.
上記表示用プローブを用いた液晶パネルの試験の概略は
、次の通りである。The outline of the test of the liquid crystal panel using the above-mentioned display probe is as follows.
液晶パネルが単純マトリックス構成である場合、表示パ
ネルの横方向と縦方向に走査線と信号線が配置される。When a liquid crystal panel has a simple matrix configuration, scanning lines and signal lines are arranged in the horizontal and vertical directions of the display panel.
この場合、上記信号線と走査線の両端に上記プローブを
押し当てて、その断線チエツクを行う、この後、必要に
応じて駆動信号を供給して全点灯試験と全非点灯試験等
のような液晶の表示試験を行う。In this case, the probe is pressed against both ends of the signal line and the scanning line to check for disconnection. After this, drive signals are supplied as necessary to perform all lighting tests, all non-lighting tests, etc. Perform a liquid crystal display test.
液晶表示パネルがアクティブマトリックス構成である場
合、上記のような信号線と走査線の断線チエツクの他に
、各画素毎に設けられるTPT トランジスタのオン、
オフ試験を行うことが必要である。このため、最低でも
全点灯状態や全非点灯状態の確認を通して上記TPT)
ランジスタのオン状態/オフ状態のチエツクを行うこと
が必要とされる。この場合、この実施例のように、表示
パネルの全電極に対して同時接触を行うものであるため
、実際の可動状態と同じ条件での試験が可能になる。If the liquid crystal display panel has an active matrix configuration, in addition to checking for disconnections in the signal lines and scanning lines as described above, turning on the TPT transistor provided for each pixel,
It is necessary to conduct an off test. Therefore, at least check that all lights are on and all lights are off (TPT above).
It is necessary to check the on/off state of the transistor. In this case, as in this embodiment, all the electrodes of the display panel are brought into contact at the same time, so that the test can be performed under the same conditions as the actual movable state.
上記実施例から得られる作用効果は、下記の通りである
。すなわち、
(1) 表示パネルの電極と同一ピンチに配列された
細い線条又はタブ基板を利用した複数のプローブを持つ
プローブアンセンブリを単位として、複数からなるプロ
ーブアッセンブリを取付板を介して一体的に取り付けて
表示パネルの全電極に対して同時に電気的接触を得るよ
うにするとともに、上記I々のプローブアッセンブリの
プローブ先端位置を調整可能にするマニピュレータを設
けることにより、表示パネルの大画面化に伴う電極の増
大に対しで、比較的少ない数のプローブが取り付けられ
たプローブアッセンブリの租み合わせにより対処できる
から、その組立が簡単に行えるという効果が得られる。The effects obtained from the above examples are as follows. That is, (1) A probe assembly consisting of a plurality of probes using a thin wire or tab substrate arranged in the same pinch as the electrodes of a display panel is used as a unit, and a plurality of probe assemblies are integrated via a mounting plate. By installing a manipulator that allows simultaneous electrical contact with all the electrodes of the display panel and adjusting the position of the probe tip of each of the above probe assemblies, it is possible to increase the screen size of the display panel. The accompanying increase in the number of electrodes can be dealt with by assembling probe assemblies to which a relatively small number of probes are attached, resulting in the advantage that assembly can be performed easily.
(2)細い線条やタブ基板を利用した配線を用いて一定
の圧力を持って電気的接触を得るようにするものである
ため、LCDパネルの電極と接触するときプローブの持
つバネ性によって電極表面を水平方向に滑るように作用
して電極表面の酸化膜やゴミを除去するので、良好な電
気的接触を得ることができるという効果が得られる。(2) Since electrical contact is achieved with a certain pressure using wiring using thin wires or tab substrates, the springiness of the probe causes the electrode to come into contact with the electrodes of the LCD panel. Since the electrode slides horizontally on the surface to remove oxide films and dust on the electrode surface, it is possible to obtain good electrical contact.
(3)上記(1)により、LCDパネルの全電極に同時
接触が可能になるから、試験時間の短縮化を可能になる
という効果が得られる。(3) According to the above (1), all the electrodes of the LCD panel can be contacted at the same time, which has the effect of shortening the test time.
(4)個々のプローブアッセンブリユニットは、フレキ
シブル配線基板とコネクタとを用いて接続するものであ
るので、脱着が容易となり一部のプローブアッセンブリ
ユニットの交換を容易に行うことができる。これにより
、1つのプローブが折れ曲がる等の不具合のために全部
を廃棄してしまう等のムダを省くとともに1、その咋業
が簡単に行えるという効果が得られる。(4) Since the individual probe assembly units are connected using flexible wiring boards and connectors, they can be easily attached and detached, and some probe assembly units can be easily replaced. This eliminates the waste of discarding all the probes due to defects such as bending of one probe, and also has the effect of making the work easier.
C51上記(1)により、電極のピンチが同じでサイズ
が異なるLCDパネルに対して、共通のプローブアッセ
ンブリユニットを用いることができる。これにより、L
CDパネル用プローブに汎用性を持たせることができる
とう効果が得られる。C51 According to (1) above, a common probe assembly unit can be used for LCD panels with the same electrode pinch but different sizes. As a result, L
The effect is that the CD panel probe can be made versatile.
(6) タブ基板にドライブICを搭載するものであ
るため、テスター側との間のケーブルを少なくすること
ができ、1つのテスターにより多数のLCDパネルを並
列的に試験することが簡単になるという効果が得られる
。(6) Since the drive IC is mounted on the tab board, the number of cables between the tester and the tester can be reduced, making it easy to test many LCD panels in parallel with one tester. Effects can be obtained.
以上本発明者によりなされた発明を実施例に基づき具体
的に説明したが、本願発明は前記実施例に限定されるも
のではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可能
であることはいうまでもない0例えば、プローブアッセ
ンブリユニットの数は、検査を行うべきLCDパネルの
大きさに対応して区々となるものである。例えば、ラッ
プトツブ型マイクロコンピュータ用のLCDパネルでは
、縦横の比がカラーテレビジョンのように3対4にされ
るものではなく、10対4のように任意に設定される。Although the invention made by the present inventor has been specifically explained above based on Examples, it goes without saying that the present invention is not limited to the above-mentioned Examples, and can be modified in various ways without departing from the gist thereof. For example, the number of probe assembly units varies depending on the size of the LCD panel to be tested. For example, in an LCD panel for a laptop microcomputer, the aspect ratio is not set to 3:4 as in a color television, but is arbitrarily set to 10:4.
それ故、プローブアッセンブリユニットの数も信号線に
対応して10個設け、走査線に対応して4個設ける等の
ように種々の実施形態を採ることができる。LCDパネ
ルの全電極に対応して上記プローブアッセンブリユニッ
トを複数個一体的に取り付けるための各部材の構成は、
種々の実施形態を採ることができる0例えば、コネクタ
取付基板とアッセンブリ取付板とを一体的に構成するち
のであってもよい。Therefore, various embodiments can be adopted, such as providing ten probe assembly units corresponding to the signal lines and four probe assembly units corresponding to the scanning lines. The structure of each member for integrally attaching a plurality of the probe assembly units corresponding to all electrodes of the LCD panel is as follows:
Various embodiments may be adopted; for example, the connector mounting board and the assembly mounting plate may be integrally constructed.
また、プローブとしタブ基板を用いる場合、表示パネル
の電極との間で程度の接触圧を持たせるための手段とし
て:よ前記実施例のような板バネやジ、Tコンゴムのよ
うな弾性体を利用するもの他種々の実M!!例形態を採
ることができる。この場合、マニピュレータに針圧調整
機構を新たに設けて接触圧力を調整するまうにするもの
であってもまい。In addition, when a tab substrate is used as a probe, as a means to maintain a certain degree of contact pressure with the electrodes of the display panel, use an elastic body such as a plate spring or a T-con rubber as in the above embodiment. Various other things to use! ! It can take the form of an example. In this case, the manipulator may be newly provided with a stylus pressure adjustment mechanism to adjust the contact pressure.
タブ基板を構成するフIルムー、−スは、前記実施例の
ようなポリイミドフィルムの他、同様な機能を持つもの
であれば何であってもよい。このフィルムベースが適度
のハネ性を持つならば、上記板バネや弾性体を省略する
ことも可能である。The film constituting the tab substrate may be any film other than the polyimide film used in the above embodiments as long as it has a similar function. If this film base has appropriate springiness, it is also possible to omit the above-mentioned leaf spring or elastic body.
被測定物である液晶パネルは、完成された表示パネルの
他、信号線電極や走査線電極及びTPTや画素電極が形
成された半完成状態のガラス基板であってもよい。The liquid crystal panel to be measured may be a completed display panel or a semi-finished glass substrate on which signal line electrodes, scanning line electrodes, TPT, and pixel electrodes are formed.
この発明に係る表示パネル用プローブは、前記液晶パネ
ル等のガラス基板の他、各種表示パネルに広く利用する
ことができる。The display panel probe according to the present invention can be widely used in various display panels in addition to glass substrates such as the liquid crystal panel described above.
本願において開示される発明のうち代表的なものによっ
て得られる効果を簡単に説明すれば、下記の通りである
。すなわち、表示パネルの電極と同一ピコ・チに配列さ
れた細い線条又はタブ基板を利用した複数のプローブを
持つプローブアッセンブリを単位として、複数からなる
ブローブアッセンブリを取付板を介して一体的に取り付
けて表示パネルの全電極に対しで同時に電気的接触を得
るようにするとともに、上記側々のブローブアフセップ
リのプローブ先端位置を調整可能にするマニピユレータ
を設けることにより、表示パネルの大画面化に伴う電橋
の増大に対しで、比較的少ない数のプローブが取り付け
ろれたプローブアッセンブリの組み合わせにより対処で
きるから、その組立が簡単に行える。A brief explanation of the effects obtained by typical inventions disclosed in this application is as follows. In other words, a probe assembly consisting of a plurality of probes is integrally attached via a mounting plate, with a probe assembly having a plurality of probes using thin wires or tab substrates arranged in the same pico-chi as the electrodes of the display panel as a unit. By providing a manipulator that can simultaneously obtain electrical contact with all electrodes of the display panel and adjusting the position of the probe tips of the side probe apertures, the screen of the display panel can be enlarged. The accompanying increase in the number of electric bridges can be dealt with by combining probe assemblies to which a relatively small number of probes can be attached, so that assembly can be easily performed.
第1図は、この発明に係る表示パネル用プローブの一実
施例を示す平面図、
第2図は、プローブアッセンブリユニ・ノドの一実施例
を示す断面図、
第3図は、上記プローブアンセンブリユニットが取付板
に取り付けられた状態の一実施例を示す断面図、
第4図は、上記プローブ取付体の一実施例を示す斜視図
、
第5図は、この発明に係るプローブアッセンブリユニ7
F’の他の一実施例を示す断面図、第6図は、上記池の
一実施例のプローブアッセンブリユニットが取付板に取
り付けられた状態の一実施例を示す断面図である。FIG. 1 is a plan view showing an embodiment of the display panel probe according to the present invention, FIG. 2 is a cross-sectional view showing an embodiment of the probe assembly uni-nod, and FIG. A sectional view showing an embodiment of the unit attached to the mounting plate; FIG. 4 is a perspective view showing an embodiment of the probe mounting body; FIG. 5 is a probe assembly unit 7 according to the present invention.
FIG. 6 is a sectional view showing another embodiment of F', in which the probe assembly unit of one embodiment of the pond is attached to a mounting plate.
Claims (1)
プローブを持つプローブアッセンブリと、上記複数のプ
ローブの固定端が接続された配線を持つプローブ基板と
、このプローブ基板の配線に一端が接続され、駆動用の
半導体集積回路装置が搭載されたタブ基板と、このタブ
基板に一端が接続されたフレキシブル配線基板と、この
フレキシブル配線基板の他端が挿入されるコネクタと、
複数からなる上記コネクタが取付られるコネクタ基板と
、上記複数からなるプローブアッセンブリ及びコネタク
基板とが一体的に取り付けられ表示パネルの電極に対し
て同時に電気的接触を得るようにする取付板と、この取
付板に設けられ、上記個々のプローブアッセッブリのプ
ローブ先端位置を調整可能にするマニピュレータとを備
えてなることを特徴とする表示パネル用プローブ。 2、表示パネルの1つの辺に対応した1ないし複数から
なるプローブアッセンブリユニットは、それぞれのプロ
ーブの先端が位置合わせされた状態で上記アッセンブリ
取付板によりコネクタ取付基板とプローブ取付体とが一
時的に一体的に結合されるものであり、この状態で表示
パネルの全電極に対応した複数からなるプローブアッセ
ンブリが上記取付板に一体的に取り付けられ、上記個々
のプローブ取付体が対応するマニピュレータのアームに
取り付けられた後にプローブ取付体とアッセンブリ取付
板とを一時的な結合が解除されるものであることを特徴
とする特許請求の範囲第1項記載の表示パネル用プロー
ブ。 3、上記プローブ基板とタブ基板との接続は熱圧着によ
り行い、タブ基板とフレキシブル配線基板との接続はハ
ンダ付けにより行うものであることを特徴とする特許請
求の範囲第1又は第2項記載の表示パネル用プローブ。 4、上記プローブアッセンブリを構成するプローブは測
定すべき電極のピッチに合わせて形成された配線を持つ
タブ基板を利用するものであることを特徴とする特許請
求の範囲第1又は第2項記載の表示パネル用プローブ。 5、上記プローブとして用いられるタブ基板には、上記
表示パネルを駆動するドライブ用ICが実装されるもの
であり、そこから上記フレキシブル配線基板を介してコ
ネタクに接続されるものであることを特徴とする特許請
求の範囲第4項記載の表示パネル用プローブ。[Claims] 1. A probe assembly having a plurality of probes arranged at the same pitch as the electrodes of a display panel, a probe board having wiring to which fixed ends of the plurality of probes are connected, and a probe board of this probe board. A tab board with one end connected to the wiring and on which a driving semiconductor integrated circuit device is mounted, a flexible wiring board with one end connected to the tab board, and a connector into which the other end of the flexible wiring board is inserted.
A mounting plate on which a connector board to which a plurality of said connectors are mounted, and a probe assembly and a connector board made of said plurality are integrally mounted so as to simultaneously obtain electrical contact with electrodes of a display panel, and said mounting plate. A display panel probe comprising: a manipulator provided on a plate and capable of adjusting the position of a probe tip of each of the probe assemblies. 2. In the probe assembly unit consisting of one or more probe assembly units corresponding to one side of the display panel, the connector mounting board and the probe mounting body are temporarily attached by the assembly mounting plate with the tips of each probe aligned. In this state, a plurality of probe assemblies corresponding to all electrodes of the display panel are integrally attached to the mounting plate, and each probe mounting body is attached to the corresponding arm of the manipulator. 2. The display panel probe according to claim 1, wherein the probe mounting body and the assembly mounting plate are temporarily disconnected from each other after being attached. 3. The probe board and the tab board are connected by thermocompression bonding, and the tab board and the flexible wiring board are connected by soldering, as set forth in claim 1 or 2. Probe for display panel. 4. The probe constituting the probe assembly utilizes a tab substrate having wiring formed to match the pitch of the electrodes to be measured. Probe for display panel. 5. A drive IC for driving the display panel is mounted on the tab board used as the probe, and is connected to the connector via the flexible wiring board. A display panel probe according to claim 4.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP02258715A JP3138273B2 (en) | 1990-09-27 | 1990-09-27 | Display panel probe |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP02258715A JP3138273B2 (en) | 1990-09-27 | 1990-09-27 | Display panel probe |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04134482A true JPH04134482A (en) | 1992-05-08 |
JP3138273B2 JP3138273B2 (en) | 2001-02-26 |
Family
ID=17324090
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP02258715A Expired - Fee Related JP3138273B2 (en) | 1990-09-27 | 1990-09-27 | Display panel probe |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3138273B2 (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6137300A (en) * | 1997-08-22 | 2000-10-24 | Nec Corporation | Test probe device for a display panel and test probe positioning method |
-
1990
- 1990-09-27 JP JP02258715A patent/JP3138273B2/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6137300A (en) * | 1997-08-22 | 2000-10-24 | Nec Corporation | Test probe device for a display panel and test probe positioning method |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP3138273B2 (en) | 2001-02-26 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US6150833A (en) | LCD panel power-up test fixture and method of using | |
KR101281980B1 (en) | Auto probe device and using the inspecting method forLCD panel using the same | |
KR20080070133A (en) | Probe and probe block for display panel inspection using the same | |
JPH04184264A (en) | Prober for display panel | |
JPH03218472A (en) | Display panel probe and its assembly method | |
JPH10185956A (en) | Probe unit | |
JP3138273B2 (en) | Display panel probe | |
KR20070102784A (en) | Probe unit | |
JP3069360B2 (en) | Display panel probe | |
US7068337B2 (en) | Apparatus for inspecting liquid crystal panel | |
JPH04297876A (en) | Prober for display panel | |
JPH08304846A (en) | Liquid crystal display device inspection device | |
JP3538696B2 (en) | Method of assembling probe device | |
KR100966285B1 (en) | Probe unit block and manufacturing method thereof | |
KR200458562Y1 (en) | LCD Pannel Test Probe apparatus having Film Sheet type - Probe | |
KR100670557B1 (en) | Probe assembly | |
KR101289939B1 (en) | Connector of line film and test apparatus of liquid crystal display using the same | |
KR20060023250A (en) | L. city. D probe system probe block | |
JPH08110363A (en) | Inspection device of flat panel | |
KR100979382B1 (en) | Jig and voltage application method using the same | |
KR101964884B1 (en) | Autoprobe unit and autoprobe apparatus using the same | |
JPH09152471A (en) | Inspection apparatus for liquid crystal display body | |
JP4585344B2 (en) | Circuit board inspection apparatus and circuit board inspection method | |
JP2003066067A (en) | Probe unit, inspection device, method of inspecting electro-optical panel substrate, and method of manufacturing electro-optical device | |
JPH0495929A (en) | Test equipment and test method using active probes |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |