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JPH04123391A - Output buffer circuit for gate array - Google Patents

Output buffer circuit for gate array

Info

Publication number
JPH04123391A
JPH04123391A JP2243236A JP24323690A JPH04123391A JP H04123391 A JPH04123391 A JP H04123391A JP 2243236 A JP2243236 A JP 2243236A JP 24323690 A JP24323690 A JP 24323690A JP H04123391 A JPH04123391 A JP H04123391A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
gate array
signal
output
power supply
memory
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2243236A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Hiroshi Tanuma
田沼 博志
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP2243236A priority Critical patent/JPH04123391A/en
Publication of JPH04123391A publication Critical patent/JPH04123391A/en
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

PURPOSE:To independently generate a memory backup control signal without depending upon a gate array by providing the output buffer circuit with a means for forming an output signal with a previously determined logical level in response to an external power supply disconnection detecting signal indicating the disconnection of a power supply to a gate array circuit. CONSTITUTION:In the case of a memory backup mode in which a signal BCIN is a low level, a signal BCOUT outputs a VDD2 (high level) as a backup control signal, and in a normal operation mode, outputs a logical signal for memory access to an SRAM chip 12 in the gate array circuit. Namely when a system side power supply VDD1 is dropped and disconnected, an SRAM chip backup mode is set up, and when the VDD 1 is increased, a memory accessible mode to the SRAM chip 12 can be set up. In a memory backup mode, an SRAM chip memory backup control signal can be formed.

Description

【発明の詳細な説明】 技術分野 本発明はゲートアレイ用出力バッフ7回路に関し、特に
SRAMチップのバックアップに用いて好適なゲートア
レイ用出力バッファ回路に関するものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION Technical Field The present invention relates to a gate array output buffer 7 circuit, and more particularly to a gate array output buffer circuit suitable for use in backing up an SRAM chip.

従来技術 従来のゲートアレイ集積回路装置では、単一の動作電源
を使用するのが一般的である。そのために以下の如き欠
点を有する。
Prior Art Conventional gate array integrated circuit devices typically use a single operating power supply. Therefore, it has the following drawbacks.

例えば、ゲートアレイ集積回路チップとバックアップが
必要なSRAM等のメモリチップとを用いた論理回路シ
ステムにおいて、通常動作時にはゲートアレイ集積回路
チップから出力されるメモリアクセス信号によりSRA
Mチップをアクセスし、メモリバックアップモード時に
はSRAMチップを予め定められたロジックレベル(ハ
イレベル)信号でバックアップコントロールする場合が
ある。
For example, in a logic circuit system using a gate array integrated circuit chip and a memory chip such as SRAM that requires backup, during normal operation, the SRA is activated by a memory access signal output from the gate array integrated circuit chip.
The M chip may be accessed, and the SRAM chip may be backed up and controlled using a predetermined logic level (high level) signal when in memory backup mode.

この様なメモリバックアップモード時において、ゲート
アレイ集積回路チップからのバックアップコントロール
信号をハイレベルに固定するために、当該ゲートアレイ
集積回路チップの単一電源をオンとしておく必要がある
In such a memory backup mode, in order to fix the backup control signal from the gate array integrated circuit chip at a high level, it is necessary to keep the single power supply of the gate array integrated circuit chip on.

メモリバックアップモード時には、ゲートアレイ集積回
路は動作させる必要がないにもかかわらず、メモリバッ
クアップのためのハイレベルのコントロール信号を発生
しておくために、ゲートアレイ集積回路チップの電源を
オンとして、ゲートアレイ全体を動作状態にしておく必
要があり、電力消費の点で無駄となる欠点がある。
In memory backup mode, even though the gate array integrated circuit does not need to operate, the power to the gate array integrated circuit chip is turned on to generate a high-level control signal for memory backup. The disadvantage is that the entire array must be kept active, which is wasteful in terms of power consumption.

また、通常動作時の電源とバックアップ用電源とは、ダ
イオードやトランジスタを用いたスイッチ回路で切換え
るようになっているために、ダイオードやトランジスタ
の電圧降下分だけゲートアレイの電源の電圧降下を招き
、ゲートアレイの動作マージンが低下するという欠点も
ある。
In addition, since the power supply during normal operation and the backup power supply are switched by a switch circuit using diodes and transistors, the voltage drop of the gate array power supply is caused by the voltage drop of the diode and transistor. Another drawback is that the operating margin of the gate array is reduced.

そこで、メモリバックアップコントロールのためのロジ
ック回路だけをゲートアレイ集積回路チップの外部に別
に設けることが考えられる。しかしながら、この場合に
は、特別なロジックICが必要となり、ICの占有スペ
ースの増加や価格のアップを招来するという欠点を有し
ている。
Therefore, it is conceivable to separately provide only a logic circuit for memory backup control outside the gate array integrated circuit chip. However, in this case, a special logic IC is required, which has the drawback of increasing the space occupied by the IC and increasing the price.

発明の目的 本発明の目的は、SRAMに対するメモリバックアップ
モード時に、ゲートアレイに頼ることなく単独でメモリ
バックアップ用コントロール信号を発生することが可能
なゲートアレイ用出力バッファ回路を提供することであ
る。
OBJECTS OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide an output buffer circuit for a gate array that can independently generate a memory backup control signal without relying on the gate array during a memory backup mode for an SRAM.

発明の構成 本発明によるゲートアレイ用出力バッフ7回路は、ゲー
トアレイ回路の出力を入力としこの出力に応じた論理出
力信号を外部へ導出するゲートアレイ用出力バッフ7回
路であって、前記ゲートアレイ回路の電源の断を示す外
部からの電源断検出信号に応答して、予め定められた論
理レベルの出力信号を生成する手段を有することを特徴
としている。
Structure of the Invention The gate array output buffer 7 circuit according to the present invention is a gate array output buffer 7 circuit that receives the output of the gate array circuit as an input and outputs a logical output signal according to the output to the outside. It is characterized by having means for generating an output signal of a predetermined logic level in response to a power-off detection signal from the outside indicating that the power to the circuit is turned off.

実施例 以下、図面を参照しつつ本発明の実施例を詳細に説明す
る。
Embodiments Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.

先ず、第2図を参照すると、本発明の実施例を適用して
SRAMのバックアップコントロールを実現した回路例
が示されている。
First, referring to FIG. 2, there is shown an example of a circuit that implements backup control of an SRAM by applying an embodiment of the present invention.

V DDIはゲートアレイ集積回路チップ10の通常電
源であり、V DD2はSRAMチップ12のバックア
ップ用電源であり、VDDはシステム全体の電源を示す
V DDI is the normal power supply for the gate array integrated circuit chip 10, V DD2 is the backup power supply for the SRAM chip 12, and VDD represents the power supply for the entire system.

電源監視ICチップ13には、システム電源VDDとバ
ッテリ14の電圧とが印加され、システム電源VDD 
(−VDDI )の電圧がバッテリ14の電圧よりも高
ければ、電源監視ICチップ13はVDDIをV DD
2に出力し、電源V DDIが断となってバッテリ電圧
よりも低くなれば、バッテリ電圧をV DD2として出
力するようになっている。
The system power supply VDD and the voltage of the battery 14 are applied to the power supply monitoring IC chip 13, and the system power supply VDD
(-VDDI) is higher than the voltage of the battery 14, the power supply monitoring IC chip 13 changes VDDI to VDD.
If the power supply V DDI is cut off and becomes lower than the battery voltage, the battery voltage is output as V DD2.

また、電源監視ICチップ13は電源V DDIが規定
値以下になると、ローレベルの信号(BCIN)を生成
し、規定値以上であればハイレベルの信号を生成する。
Further, the power supply monitoring IC chip 13 generates a low level signal (BCIN) when the power supply V DDI becomes below a specified value, and generates a high level signal when it exceeds the specified value.

SRAMチップ12はC8(チップセレクト)コントロ
ールによりバックアップモードの切換えが行われるもの
であり、バックアップモード時には/Xイレベルの信号
が印加され、メモリアクセス時にはハイレベルでアクセ
ス可能となるものである。この信号がゲートアレイ集積
回路チップ10からBCOUTとして供給され、先の電
源監視ICチップ13の電源監視結果を示す信号がBC
!Nとして集積回路チップ10へ供給される。
The backup mode of the SRAM chip 12 is switched by a C8 (chip select) control. In the backup mode, a signal of /X low level is applied, and during memory access, it can be accessed at a high level. This signal is supplied as BCOUT from the gate array integrated circuit chip 10, and the signal indicating the power monitoring result of the power monitoring IC chip 13 is supplied as BCOUT.
! N to the integrated circuit chip 10.

第3図は第2図の回路の具体的動作タイムチャートであ
る。V DDIはOvから5■まで変化し、V DD2
はVDDIがバッテリ電圧(図では3V)より低いと、
バッテリ電圧であり、高いとVDDIの電圧である。
FIG. 3 is a specific operation time chart of the circuit shown in FIG. 2. V DDI changes from Ov to 5■, V DD2
If VDDI is lower than the battery voltage (3V in the figure),
It is the battery voltage, and when it is high, it is the voltage of VDDI.

信号BclNl;LVDDI 75<4.5 V以上に
なると、VDDIがそのまま用いられて/1イレベルの
信号となり通常動作モードを示し、4.5v以下ではロ
ーレベル(Ov)の信号となり、メモリバックアップモ
ードを示す。
Signal BclNl; When LVDDI 75<4.5 V or more, VDDI is used as is and becomes a /1 high level signal, indicating normal operation mode; below 4.5 V, it becomes a low level (Ov) signal, indicating memory backup mode. show.

信号BCOUTは信号BCINがローレベルのメモリノ
くツクアップモード時にはVDD2  (’\イレベル
)を出力し、バックアップコントロール信号となり、4
.5v以上の通常動作モード時にはゲートアレイ回路の
SRAMチップ12に対するメモリアクセスのための論
理信号を出力する。
The signal BCOUT outputs VDD2 ('\I level) when the signal BCIN is in the low level memory pick-up mode, and becomes a backup control signal.
.. In the normal operation mode of 5V or more, a logic signal for memory access to the SRAM chip 12 of the gate array circuit is output.

すなわち、システム側電源VDDIが低下して断となる
と、SRAMチップのバックアップモードとなり、V 
DDIが上昇し74.5 V以上になると、SRAMチ
ップのメモリアクセス可能モードとなるのである。
In other words, when the system side power supply VDDI decreases and is cut off, the SRAM chip enters the backup mode and the VDDI
When DDI rises to 74.5 V or higher, the SRAM chip enters memory access mode.

以上のことから、ゲートアレイ集積回路チ・ツブ10の
SRAMチップ12に関連する10バ・ソファの実施例
回路が第1図に示す様に得られる。
From the above, an exemplary circuit of a 10 bus sofa associated with the SRAM chip 12 of the gate array integrated circuit chip 10 is obtained as shown in FIG.

このバッファ11は2人カッアゲート2と、このゲート
出力を入力とするインバータ(MOS )ランジスタ3
とドレイン抵抗4とからなる)と、ノアゲート55の1
入力をプルダウンするプルダウン抵抗1とを含んでいる
This buffer 11 has two gates 2 and an inverter (MOS) transistor 3 whose input is the output of this gate.
1 of the NOR gate 55) and a drain resistor 4)
It includes a pull-down resistor 1 that pulls down the input.

ゲートアレイ部からのSRAMアクセス信号はノアゲー
ト2のプルダウン入力端子へ印加され、信号BCINは
インバータ5を介してノアゲート2の他入力端子へ印加
される。これ等バッファ11及びインバータ5は電源V
 DD2により動作するものである。
The SRAM access signal from the gate array section is applied to the pull-down input terminal of the NOR gate 2, and the signal BCIN is applied to the other input terminal of the NOR gate 2 via the inverter 5. These buffer 11 and inverter 5 are connected to the power supply V
It is operated by DD2.

通常のメモリアクセスモード時には、信号BC!Nはハ
イレベルにあるから、ノアゲート2の1入力はインバー
タ5により常にローレベルに固定される。よって、ゲー
トアレイ部からのメモリアクセス信号INはノアゲート
2及びトランジスタ3によりそのまま信号BCOUTと
して出力される。
In normal memory access mode, signal BC! Since N is at high level, one input of NOR gate 2 is always fixed at low level by inverter 5. Therefore, the memory access signal IN from the gate array section is output as is as the signal BCOUT by the NOR gate 2 and transistor 3.

メモリバックアップモード時には、VDDIは断となり
ローレベルにあり、ゲートアレイ部からの出力はフロー
ティングとなるが、プルダウン抵抗1によりノアゲート
2の1入力はローレベルに固定される。このとき、信号
BCINはローレベルであるから、−インバータ5の出
力はノ1イレベル(V DD2)になり、よって、ノア
ゲート2及びトランジスタ3によりこのハイレベルの信
号がそのまま信号BCOUTとして出力され、メモリバ
ックアップ可能となる。
In the memory backup mode, VDDI is disconnected and at a low level, and the output from the gate array section becomes floating, but one input of the NOR gate 2 is fixed at a low level by the pull-down resistor 1. At this time, since the signal BCIN is at a low level, the output of the -inverter 5 becomes a level of 1 (V DD2). Therefore, this high level signal is directly output as a signal BCOUT by the NOR gate 2 and transistor 3, and the memory Backup is possible.

発明の効果 以上述べた如< 、SRAMチップに関連するゲートア
レイのIOバッファセルの動作電源をゲートアレイの動
作電源とは別のものを使用することができるので、メモ
リバックアップモード時に、当該IOバッファセルによ
ってSRAMチップのメモリバ・ツクアップコントロー
ル信号を生成することが可能となり、よってSRAMの
バックアップ論理ゲートを特別にゲートアレイ外部に設
ける必要がなくなり、外部回路用ICの削減及び価格の
低下、更には低消費電力を達成することが可能となると
いう効果がある。
Effects of the Invention As described above, since the operating power supply of the IO buffer cell of the gate array related to the SRAM chip can be different from the operating power supply of the gate array, the IO buffer cell can be operated in the memory backup mode. The cell makes it possible to generate a memory backup control signal for the SRAM chip, which eliminates the need to specifically provide a backup logic gate for the SRAM outside the gate array, reducing the number of external circuit ICs and lowering the price. This has the effect of making it possible to achieve low power consumption.

また、システム電源が断となったときに、IOバッファ
セルの出力により、他のシステムのICチップの電源を
も強制的に断とするためのコントロール(シャットダウ
ンコントロール)にも用いることができる。
Further, when the system power is turned off, the output of the IO buffer cell can be used for control (shutdown control) for forcibly turning off the power of IC chips of other systems.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明の実施例の回路図、第2図は第1図の回
路が適用されるSRAMのメモリバックアップコントロ
ールシステムのブロック図、第3v!Jは第2図のブロ
ックの動作を示すタイムチャートである。 主要部分の符号の説明 1・・・・・・プルダウン抵抗 2・・・・・・ノアゲート     12・・・・・・
SRAM3・・・・・・MOSトランジスタ 10・・・・・・ゲートアレイ集積回路チップ11・・
・・・・IOバッファセル 13・・・・・・電源監視ICチップ 14・・・・・・バッテリ
Fig. 1 is a circuit diagram of an embodiment of the present invention, Fig. 2 is a block diagram of an SRAM memory backup control system to which the circuit of Fig. 1 is applied, and Fig. 3v! J is a time chart showing the operation of the blocks in FIG. 2. Explanation of symbols of main parts 1...Pull-down resistor 2...Nor gate 12...
SRAM3...MOS transistor 10...Gate array integrated circuit chip 11...
... IO buffer cell 13 ... Power monitoring IC chip 14 ... Battery

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)ゲートアレイ回路の出力を入力としこの出力に応
じた論理出力信号を外部へ導出するゲートアレイ用出力
バッファ回路であって、前記ゲートアレイ回路の電源の
断を示す外部からの電源断検出信号に応答して、予め定
められた論理レベルの出力信号を生成する手段を有する
ことを特徴とするゲートアレイ用出力バッファ回路。
(1) An output buffer circuit for a gate array which inputs the output of a gate array circuit and derives a logical output signal according to the output to the outside, and detects a power outage from the outside indicating a power outage of the gate array circuit. 1. An output buffer circuit for a gate array, comprising means for generating an output signal of a predetermined logic level in response to a signal.
(2)前記ゲートアレイ回路の出力が供給された第1の
入力端子と、前記電源断検出信号が供給された第2の入
力端子と、前記ゲートアレイ回路の電源断時に、前記第
1の入力端子を所定論理レベルに引込む手段とを有し、
前記ゲートアレイ回路の電源断時に、前記予め定められ
た論理レベルの出力信号を生成する手段は前記所定論理
レベルと前記電源断検出信号の論理レベルとを入力とす
ることを特徴とする請求項1記載のゲートアレイ用出力
バッファ回路。
(2) a first input terminal to which the output of the gate array circuit is supplied; a second input terminal to which the power-off detection signal is supplied; means for pulling the terminal to a predetermined logic level;
2. The means for generating the output signal at a predetermined logic level when the gate array circuit is powered off receives the predetermined logic level and the logic level of the power-off detection signal as inputs. Output buffer circuit for gate array described.
(3)前記引込む手段は前記第1の入力端子に接続され
たプルダウン抵抗からなり、前記予め定められた論理レ
ベルの出力信号を生成する手段は、前記第1及び第2の
入力端子を2入力とするノアゲートと、前記ノアゲート
の出力を反転するインバータとからなることを特徴とす
る請求項1または2記載のゲートアレイ用出力バッファ
回路。
(3) The pulling means includes a pull-down resistor connected to the first input terminal, and the means for generating an output signal of a predetermined logic level connects the first and second input terminals to two input terminals. 3. The gate array output buffer circuit according to claim 1, comprising a NOR gate and an inverter for inverting the output of the NOR gate.
JP2243236A 1990-09-13 1990-09-13 Output buffer circuit for gate array Pending JPH04123391A (en)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111049513A (en) * 2019-11-29 2020-04-21 北京时代民芯科技有限公司 Rail-to-rail bus holding circuit with cold backup function

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CN111049513A (en) * 2019-11-29 2020-04-21 北京时代民芯科技有限公司 Rail-to-rail bus holding circuit with cold backup function
CN111049513B (en) * 2019-11-29 2023-08-08 北京时代民芯科技有限公司 Rail-to-rail bus holding circuit with cold backup function

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