JPH04123306A - 磁気抵抗効果素子 - Google Patents
磁気抵抗効果素子Info
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- JPH04123306A JPH04123306A JP24234190A JP24234190A JPH04123306A JP H04123306 A JPH04123306 A JP H04123306A JP 24234190 A JP24234190 A JP 24234190A JP 24234190 A JP24234190 A JP 24234190A JP H04123306 A JPH04123306 A JP H04123306A
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- resistance
- magnetoresistive
- layer
- magnetic
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【産業上の利用分野1
本発明は高い磁気抵抗効果を有する多層磁性薄膜に関し
、特に、磁界センサ、および磁気ディスク装置などに用
いる再生用磁気ヘッドに適した磁気抵抗効果素子に関す
る。 [従来の技術] 高密度磁気記録における再生用磁気ヘッドとして、磁気
抵抗効果を用いた磁気ヘッドの研究が進められている。 高性能を有する磁気ヘッドを実用化するためには、高い
磁気抵抗効果を有する磁性薄膜を開発することが望まし
い、最近、フィジカル レビュー レターズ(Phys
ical Reviei+Letters) 、 Vo
l、61. No、21.247:’〜2475ページ
(1988年)に記載のように、抵抗変化率が50%近
くに達するF e / Cr多層膜が報告されている。 【発明が解決しようとする課題] F e / Cr多層膜のような多層構造を有する磁気
抵抗効果素子では、電子が磁性層から他の磁性層に移る
時、すなわち、非磁性中間層を通過する時の電気抵抗が
磁界によって変化する。この時、電流は膜厚方向に流れ
る。しかし、磁性膜の膜厚は数1100n以下であり、
素子′抵抗は低い、従って、抵抗変化率は高くても、抵
抗変化量は小さく、実際の磁界センサ、磁気ヘッドに応
用した時の出力は小さい。 本発明の目的は、上述の多層構造を有する磁気抵抗効果
素子での問題を解消し、高い抵抗変化量を持つ磁気抵抗
効果素子を提供することにある。 【課題を解決するための手段】 本発明者等は、Fe/Cr多層膜を用いた素子強磁性ト
ンネル素子などの多層構造に起因する磁気抵抗効果を持
つ素子について鋭意研究を重ねた結果、これらの素子の
素子抵抗が低く、このため抵抗変化率が高くても、大き
な抵抗変化量が得られないことを明らかにし、本発明を
完成するに至った・ すなわち、F e / Cr多層膜を用いた素子1強磁
性トンネル素子などの多層構造に起因する磁気抵抗効果
を持つ素子において、複数の磁気抵抗効果素子を直列に
連結することにより、素子全体の電気抵抗を高くした。 また、基板から同じ距離にある非磁性層を電子が複数回
通過するような素子構造とした。 r作用】 本発明によれば、F e / Cr多層膜を用いた素子
、強磁性トンネル素子などの多層構造に起因する磁気抵
抗効果を持つ素子において、複数の磁気抵抗効果素子を
直列に連結することにより、素子全体の電気抵抗を高く
シ、大きな抵抗変化量を得るようにすることができる。 また、基板から同じ距離にある非磁性層を電子が複数回
通過するような素子構造にすることにより、素子全体の
膜厚を増加させずに、素子全体の電気抵抗を高くシ、大
きな抵抗変化量を得るようにすることができる。 さらに本発明によれば、素子全体の膜厚を変化させない
ため、磁気ヘッドに用いた時の波長方向の磁界分布に対
する分解能は減少しない。
、特に、磁界センサ、および磁気ディスク装置などに用
いる再生用磁気ヘッドに適した磁気抵抗効果素子に関す
る。 [従来の技術] 高密度磁気記録における再生用磁気ヘッドとして、磁気
抵抗効果を用いた磁気ヘッドの研究が進められている。 高性能を有する磁気ヘッドを実用化するためには、高い
磁気抵抗効果を有する磁性薄膜を開発することが望まし
い、最近、フィジカル レビュー レターズ(Phys
ical Reviei+Letters) 、 Vo
l、61. No、21.247:’〜2475ページ
(1988年)に記載のように、抵抗変化率が50%近
くに達するF e / Cr多層膜が報告されている。 【発明が解決しようとする課題] F e / Cr多層膜のような多層構造を有する磁気
抵抗効果素子では、電子が磁性層から他の磁性層に移る
時、すなわち、非磁性中間層を通過する時の電気抵抗が
磁界によって変化する。この時、電流は膜厚方向に流れ
る。しかし、磁性膜の膜厚は数1100n以下であり、
素子′抵抗は低い、従って、抵抗変化率は高くても、抵
抗変化量は小さく、実際の磁界センサ、磁気ヘッドに応
用した時の出力は小さい。 本発明の目的は、上述の多層構造を有する磁気抵抗効果
素子での問題を解消し、高い抵抗変化量を持つ磁気抵抗
効果素子を提供することにある。 【課題を解決するための手段】 本発明者等は、Fe/Cr多層膜を用いた素子強磁性ト
ンネル素子などの多層構造に起因する磁気抵抗効果を持
つ素子について鋭意研究を重ねた結果、これらの素子の
素子抵抗が低く、このため抵抗変化率が高くても、大き
な抵抗変化量が得られないことを明らかにし、本発明を
完成するに至った・ すなわち、F e / Cr多層膜を用いた素子1強磁
性トンネル素子などの多層構造に起因する磁気抵抗効果
を持つ素子において、複数の磁気抵抗効果素子を直列に
連結することにより、素子全体の電気抵抗を高くした。 また、基板から同じ距離にある非磁性層を電子が複数回
通過するような素子構造とした。 r作用】 本発明によれば、F e / Cr多層膜を用いた素子
、強磁性トンネル素子などの多層構造に起因する磁気抵
抗効果を持つ素子において、複数の磁気抵抗効果素子を
直列に連結することにより、素子全体の電気抵抗を高く
シ、大きな抵抗変化量を得るようにすることができる。 また、基板から同じ距離にある非磁性層を電子が複数回
通過するような素子構造にすることにより、素子全体の
膜厚を増加させずに、素子全体の電気抵抗を高くシ、大
きな抵抗変化量を得るようにすることができる。 さらに本発明によれば、素子全体の膜厚を変化させない
ため、磁気ヘッドに用いた時の波長方向の磁界分布に対
する分解能は減少しない。
【実施例1
以下に本発明の詳細な説明する。
[実施例1]
本発明の磁気抵抗効果素子の作製方法を以下の述べる。
第1図(a)のようにガラス基板(図示路)上に、幅1
0μm、厚さ1100nのCu膜11を形成し、第1図
(b)のように、その中央部を、イオンミリング法で加
工し、溝を形成し、電極12、電極13、電極14およ
び電極15を形成する。溝の幅は2μmである。その溝
をレジスト等の絶縁体で埋めた後、第1図(c)のよう
に、2pmX10pmX高さ300nmのレジスト16
をフォトリソグラフィによって形成する0次に、第1図
(d)のように、イオンビームスパッタリング法によっ
て、膜厚3nmのFe層17、膜厚lnmのCr層18
を交互に積層した多層磁性膜を形成し、さらに、素子全
体の上面の平坦化および多層磁性膜の加工した。 なお、上記イオンビームスパッタリングは以下の条件で
行った。 イオンガス・・・Ar 装置内Arガス圧力・・・2.5×1O−1Pa蒸着用
イオンガン加速電圧・・・400V蒸着用イオンガンイ
オン電流・・・60mAターゲット基板間距離・・・1
27mmF e / Cr多層磁性膜の全体の膜厚は約
2o。 nmとなるようにした。また、F e / Cr多層磁
性膜の幅は、それぞれ、4μm、長さは、10μmであ
る。さらに、その上に、第1図(e)のように、Cuか
らなる膜厚500nmの導電層19を形成し、レジスト
16で絶縁されている多層磁性膜を電気的につなげ、磁
気抵抗効果素子2oを完成させた。 また、比較例として、第2図に示すような磁気抵抗効果
素子も形成した。この磁気抵抗効果素子の作製法は、以
下のとおりである。これは、幅10μm、厚さ1100
nのCuからなる下部電極21の上に、膜厚3nmのF
e層22、膜厚1nmのCr層23を交互に積層し、1
0μmX10μmX200nmの多層磁性膜を形成した
。さらに、幅10μm、厚さ1100nのCuからなる
上部電極24を形成し、磁気抵抗効果素子25を完成さ
せた。 本発明の磁気抵抗効果素子20および比較例の磁気抵抗
効果素子25の素子抵抗を測定した。測定には、それぞ
れ、電極12、電極13.電極14、電極15および下
部電極21.上部電極24を電圧、電流端子とし、4端
子法で測定した。その結果、従来の比較例の磁気抵抗効
果素子25の素子抵抗は、2.0XIO−’Ωであり、
本発明の磁気抵抗効果素子20の素子抵抗は、3.5X
1o−2Ωであった。 また1本発明の磁気抵抗効果素子20および比較例の磁
気抵抗効果素子25の印加磁界による抵抗変化量を測定
した。測定は、室温で行った。測定結果を第3図に示す
。同図に示すように1本発明の磁気抵抗効果素子20の
抵抗変化量31は、比較例の磁気抵抗効果素子25の抵
抗変化量32の約5倍である。 以上、述べたように、F e / Cr多層膜を用いた
素子において、基板から同じ距離にある非磁性層を電子
が複数回通過するような素子構造にすることにより、素
子全体の膜厚を増加させずに、素子全体の電気抵抗を高
くし、大きな抵抗変化量を得るようにすることができる
。素子全体の膜厚を変化させないため、磁気ヘッドに用
いた時の波長方向の磁界分布に対する分解能は減少しな
い。 [実施例2] 実施例1と同様の素子形状で、強磁性トンネル効果を用
いた磁気抵抗効果素子を作製した。素子の構造を第4図
に示す、磁性層としては、膜厚1100nのFe−1,
7at%Ru合金層45および膜厚1100nのFe−
2,Oat%C合金層44を用いた。また、非磁性層4
6は、膜厚10nmのAl2O,である。電極41、導
電層47にはCuを用いた。絶縁体としては、レジスト
42、レジスト43を用いた。 ヘルムホルツコイルを用いて、磁気抵抗効果素子に磁界
を印加し、電気抵抗の変化を調べた。磁界の強さによっ
て、素子の電気抵抗が変化した。 電気抵抗の変化する原因は以下のように考えられる。 磁化曲線の測定より、Fe−1,7at%Ru合金層の
保磁力は250e、Fe−2,Oat%C合金層の保磁
力は80eであることがわかった。 磁界の大きさを変化させた場合、80eのところで、F
e−2,Oat%C合金層の磁化の向きは変化するが、
Fe−1,7at%Ru合金層の磁化の向きは変化しな
い。250e以上の磁界を印加した時に、Fe−1,7
at%Ru合金層の磁化の向きは変化する。従って、±
8〜250eの磁界では、Fe−2,Oat%C合金層
の磁化の向きとFe−1,7at%Ru合金層の磁化の
向きは、互いに1反平行である。また、この磁界の範囲
以外では、磁化の向きは平行である。Al□o□層をト
ンネル電流がながれる場合、上記磁性層の磁化の向きが
、互いに、反平行である時より、磁化の向きが平行であ
る時の方が、コンダクタンスは高い。このため、磁界の
大きさによって、素子の電気抵抗が変化するものと考え
られる。 また、電子がA1□O1層を一回しか通らない構造の磁
気抵抗効果素子の電気抵抗変化を測定したところ、本発
明の磁気抵抗効果素子の抵抗変化量の1/2の変化量を
示した。以上述べたように、基板から同じ距離にある非
磁性層を電子が複数回通過するような素子構造にするこ
とにより、素子全体の膜厚を増加させずに、素子全体の
電気抵抗を高くシ、大きな抵抗変化量を得るようにする
ことができる。素子全体の膜厚を変化させないため、磁
気ヘッドに用いた時の波長方向の磁界分布に対する分解
能は減少しない。 [実施例3] 強磁性トンネル効果を用いた磁気抵抗効果素子を作製し
た。素子の断面構造を第5図に示す、基板51としては
、コーニング社製ホトセラム基板を用いた。絶縁体52
としては、樹脂を用いた。 導電層53、導電層54には、Cuを用いた。磁性層と
しては、膜厚1100nのFe−2,Oat%C合金層
55および膜厚1100nのFe−1,7at%Ru合
金層56を用いた。また、非磁性層は膜厚10nmのA
1□01層57である。 第5図に示すように、本実施例の磁気抵抗効果素子は、
複数の強磁性トンネル素子が直列に連結している。この
ため、素子全体の電気抵抗は大きくなるが、抵抗変化量
は大きくなり、高感度の磁界センサとなる。 強磁性トンネル素子の直列連結は、どのような形状で行
われても良いが、素子が大きくなると、磁界分布に対す
る分解能が減少し、磁気ヘッドには向かなくなる。しか
し、磁界分布に対する分解能を要求しない磁界センサに
は、本実施例のような多数の強磁性トンネル素子が直列
に連結した磁気抵抗効果素子が好ましい。 【発明の効果】 以上詳細に説明したごとく、F e / Cr多層膜を
用いた素子、強磁性トンネル素子などの多層構造に起因
する磁気抵抗効果を持つ素子において、複数の磁気抵抗
効果素子を直列に連結することにより、素子全体の電気
抵抗を高くし、大きな抵抗変化量を得るようにすること
ができる。また、基板から同じ距離にある非磁性層を電
子が複数回通過するような素子構造にすることにより、
素子全体の膜厚を増加させずに、素子全体の電気抵抗を
高くし、大きな抵抗変化量を得るようにすることができ
る。素子全体の膜厚を変化させないため、磁気ヘッドに
用いた時の波長方向の磁界分布に対する分解能は減少し
ない。
0μm、厚さ1100nのCu膜11を形成し、第1図
(b)のように、その中央部を、イオンミリング法で加
工し、溝を形成し、電極12、電極13、電極14およ
び電極15を形成する。溝の幅は2μmである。その溝
をレジスト等の絶縁体で埋めた後、第1図(c)のよう
に、2pmX10pmX高さ300nmのレジスト16
をフォトリソグラフィによって形成する0次に、第1図
(d)のように、イオンビームスパッタリング法によっ
て、膜厚3nmのFe層17、膜厚lnmのCr層18
を交互に積層した多層磁性膜を形成し、さらに、素子全
体の上面の平坦化および多層磁性膜の加工した。 なお、上記イオンビームスパッタリングは以下の条件で
行った。 イオンガス・・・Ar 装置内Arガス圧力・・・2.5×1O−1Pa蒸着用
イオンガン加速電圧・・・400V蒸着用イオンガンイ
オン電流・・・60mAターゲット基板間距離・・・1
27mmF e / Cr多層磁性膜の全体の膜厚は約
2o。 nmとなるようにした。また、F e / Cr多層磁
性膜の幅は、それぞれ、4μm、長さは、10μmであ
る。さらに、その上に、第1図(e)のように、Cuか
らなる膜厚500nmの導電層19を形成し、レジスト
16で絶縁されている多層磁性膜を電気的につなげ、磁
気抵抗効果素子2oを完成させた。 また、比較例として、第2図に示すような磁気抵抗効果
素子も形成した。この磁気抵抗効果素子の作製法は、以
下のとおりである。これは、幅10μm、厚さ1100
nのCuからなる下部電極21の上に、膜厚3nmのF
e層22、膜厚1nmのCr層23を交互に積層し、1
0μmX10μmX200nmの多層磁性膜を形成した
。さらに、幅10μm、厚さ1100nのCuからなる
上部電極24を形成し、磁気抵抗効果素子25を完成さ
せた。 本発明の磁気抵抗効果素子20および比較例の磁気抵抗
効果素子25の素子抵抗を測定した。測定には、それぞ
れ、電極12、電極13.電極14、電極15および下
部電極21.上部電極24を電圧、電流端子とし、4端
子法で測定した。その結果、従来の比較例の磁気抵抗効
果素子25の素子抵抗は、2.0XIO−’Ωであり、
本発明の磁気抵抗効果素子20の素子抵抗は、3.5X
1o−2Ωであった。 また1本発明の磁気抵抗効果素子20および比較例の磁
気抵抗効果素子25の印加磁界による抵抗変化量を測定
した。測定は、室温で行った。測定結果を第3図に示す
。同図に示すように1本発明の磁気抵抗効果素子20の
抵抗変化量31は、比較例の磁気抵抗効果素子25の抵
抗変化量32の約5倍である。 以上、述べたように、F e / Cr多層膜を用いた
素子において、基板から同じ距離にある非磁性層を電子
が複数回通過するような素子構造にすることにより、素
子全体の膜厚を増加させずに、素子全体の電気抵抗を高
くし、大きな抵抗変化量を得るようにすることができる
。素子全体の膜厚を変化させないため、磁気ヘッドに用
いた時の波長方向の磁界分布に対する分解能は減少しな
い。 [実施例2] 実施例1と同様の素子形状で、強磁性トンネル効果を用
いた磁気抵抗効果素子を作製した。素子の構造を第4図
に示す、磁性層としては、膜厚1100nのFe−1,
7at%Ru合金層45および膜厚1100nのFe−
2,Oat%C合金層44を用いた。また、非磁性層4
6は、膜厚10nmのAl2O,である。電極41、導
電層47にはCuを用いた。絶縁体としては、レジスト
42、レジスト43を用いた。 ヘルムホルツコイルを用いて、磁気抵抗効果素子に磁界
を印加し、電気抵抗の変化を調べた。磁界の強さによっ
て、素子の電気抵抗が変化した。 電気抵抗の変化する原因は以下のように考えられる。 磁化曲線の測定より、Fe−1,7at%Ru合金層の
保磁力は250e、Fe−2,Oat%C合金層の保磁
力は80eであることがわかった。 磁界の大きさを変化させた場合、80eのところで、F
e−2,Oat%C合金層の磁化の向きは変化するが、
Fe−1,7at%Ru合金層の磁化の向きは変化しな
い。250e以上の磁界を印加した時に、Fe−1,7
at%Ru合金層の磁化の向きは変化する。従って、±
8〜250eの磁界では、Fe−2,Oat%C合金層
の磁化の向きとFe−1,7at%Ru合金層の磁化の
向きは、互いに1反平行である。また、この磁界の範囲
以外では、磁化の向きは平行である。Al□o□層をト
ンネル電流がながれる場合、上記磁性層の磁化の向きが
、互いに、反平行である時より、磁化の向きが平行であ
る時の方が、コンダクタンスは高い。このため、磁界の
大きさによって、素子の電気抵抗が変化するものと考え
られる。 また、電子がA1□O1層を一回しか通らない構造の磁
気抵抗効果素子の電気抵抗変化を測定したところ、本発
明の磁気抵抗効果素子の抵抗変化量の1/2の変化量を
示した。以上述べたように、基板から同じ距離にある非
磁性層を電子が複数回通過するような素子構造にするこ
とにより、素子全体の膜厚を増加させずに、素子全体の
電気抵抗を高くシ、大きな抵抗変化量を得るようにする
ことができる。素子全体の膜厚を変化させないため、磁
気ヘッドに用いた時の波長方向の磁界分布に対する分解
能は減少しない。 [実施例3] 強磁性トンネル効果を用いた磁気抵抗効果素子を作製し
た。素子の断面構造を第5図に示す、基板51としては
、コーニング社製ホトセラム基板を用いた。絶縁体52
としては、樹脂を用いた。 導電層53、導電層54には、Cuを用いた。磁性層と
しては、膜厚1100nのFe−2,Oat%C合金層
55および膜厚1100nのFe−1,7at%Ru合
金層56を用いた。また、非磁性層は膜厚10nmのA
1□01層57である。 第5図に示すように、本実施例の磁気抵抗効果素子は、
複数の強磁性トンネル素子が直列に連結している。この
ため、素子全体の電気抵抗は大きくなるが、抵抗変化量
は大きくなり、高感度の磁界センサとなる。 強磁性トンネル素子の直列連結は、どのような形状で行
われても良いが、素子が大きくなると、磁界分布に対す
る分解能が減少し、磁気ヘッドには向かなくなる。しか
し、磁界分布に対する分解能を要求しない磁界センサに
は、本実施例のような多数の強磁性トンネル素子が直列
に連結した磁気抵抗効果素子が好ましい。 【発明の効果】 以上詳細に説明したごとく、F e / Cr多層膜を
用いた素子、強磁性トンネル素子などの多層構造に起因
する磁気抵抗効果を持つ素子において、複数の磁気抵抗
効果素子を直列に連結することにより、素子全体の電気
抵抗を高くし、大きな抵抗変化量を得るようにすること
ができる。また、基板から同じ距離にある非磁性層を電
子が複数回通過するような素子構造にすることにより、
素子全体の膜厚を増加させずに、素子全体の電気抵抗を
高くし、大きな抵抗変化量を得るようにすることができ
る。素子全体の膜厚を変化させないため、磁気ヘッドに
用いた時の波長方向の磁界分布に対する分解能は減少し
ない。
第1図は本発明のF e / Cr多層膜を用いた磁気
抵抗効果素子の作製工程を示す斜視図5第2図は比較例
とした従来のF e / Cr多層膜を用いた磁気抵抗
効果素子の構造を示す斜視図、第3図は本発明および比
較例の磁気抵抗効果素子の磁界による抵抗変化を示すグ
ラフ、第4図は本発明の強磁性トンネル素子を用いた磁
気抵抗効果素子の構造を示す斜視図、第5図は本発明の
強磁性トンネル素子を用いた磁気抵抗効果素子の構造を
示す断面図である。 符号の説明 1l−Cu膜、12.13.14.15−・・電極16
・・・レジスト、17・・Fe層、18・Cr層19・
・・導電層、20・・・磁気抵抗効果素子21・・・下
部電極、22・・・Fe層、23・・・Cr層24・・
・上部電極、25・・・磁気抵抗効果素子31・・・磁
気抵抗効果素子2oの抵抗変化量32・・・磁気抵抗効
果素子25の抵抗変化量41・・・電極、42.43・
・レジスト44=Fe−2,Oat%C合金層 45−Fe−1,7at%Ru合金層 46・・・非磁性層、47・・・導電層51・・・基板
、52・・・絶縁体、53.54・・・導電層55=F
e−2,Oa t%C合金層 56=Fe−1,7at%Ru合金層 (C) /1 cb
抵抗効果素子の作製工程を示す斜視図5第2図は比較例
とした従来のF e / Cr多層膜を用いた磁気抵抗
効果素子の構造を示す斜視図、第3図は本発明および比
較例の磁気抵抗効果素子の磁界による抵抗変化を示すグ
ラフ、第4図は本発明の強磁性トンネル素子を用いた磁
気抵抗効果素子の構造を示す斜視図、第5図は本発明の
強磁性トンネル素子を用いた磁気抵抗効果素子の構造を
示す断面図である。 符号の説明 1l−Cu膜、12.13.14.15−・・電極16
・・・レジスト、17・・Fe層、18・Cr層19・
・・導電層、20・・・磁気抵抗効果素子21・・・下
部電極、22・・・Fe層、23・・・Cr層24・・
・上部電極、25・・・磁気抵抗効果素子31・・・磁
気抵抗効果素子2oの抵抗変化量32・・・磁気抵抗効
果素子25の抵抗変化量41・・・電極、42.43・
・レジスト44=Fe−2,Oat%C合金層 45−Fe−1,7at%Ru合金層 46・・・非磁性層、47・・・導電層51・・・基板
、52・・・絶縁体、53.54・・・導電層55=F
e−2,Oa t%C合金層 56=Fe−1,7at%Ru合金層 (C) /1 cb
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、多層構造に起因する磁気抵抗効果を有する磁気抵抗
効果素子において、複数の磁気抵抗効果素子が直列に連
結していることを特徴とする磁気抵抗効果素子。 2、多層構造に起因する磁気抵抗効果を有する磁気抵抗
効果素子において、基板から同じ距離にある非磁性層を
電子が複数回通過することを特徴とする磁気抵抗効果素
子。
Priority Applications (10)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP24234190A JPH04123306A (ja) | 1990-09-14 | 1990-09-14 | 磁気抵抗効果素子 |
US07/710,775 US5390061A (en) | 1990-06-08 | 1991-06-05 | Multilayer magnetoresistance effect-type magnetic head |
US08/328,090 US5726837A (en) | 1990-06-08 | 1994-10-24 | Multilayer magnetoresistance effect-type magnetic head |
US08/626,333 US6011674A (en) | 1990-06-08 | 1996-04-02 | Magnetoresistance effect multilayer film with ferromagnetic film sublayers of different ferromagnetic material compositions |
US09/468,309 US6278593B1 (en) | 1990-06-08 | 1999-12-21 | Magnetoresistance effect elements and magnetic heads using the tunneling magnetoresistive effect |
US09/931,897 US6483677B2 (en) | 1990-06-08 | 2001-08-20 | Magnetic disk apparatus including magnetic head having multilayered reproducing element using tunneling effect |
US10/270,120 US6687099B2 (en) | 1990-06-08 | 2002-10-15 | Magnetic head with conductors formed on endlayers of a multilayer film having magnetic layer coercive force difference |
US10/700,500 US7054120B2 (en) | 1990-06-08 | 2003-11-05 | Magnetic apparatus with perpendicular recording medium and head having multilayered reproducing element using tunneling effect |
US11/371,244 US7159303B2 (en) | 1990-06-08 | 2006-03-09 | Method for manufacturing magnetic head device |
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Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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-
1990
- 1990-09-14 JP JP24234190A patent/JPH04123306A/ja active Pending
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