JPH04113533A - 光磁気記録媒体 - Google Patents
光磁気記録媒体Info
- Publication number
- JPH04113533A JPH04113533A JP23271390A JP23271390A JPH04113533A JP H04113533 A JPH04113533 A JP H04113533A JP 23271390 A JP23271390 A JP 23271390A JP 23271390 A JP23271390 A JP 23271390A JP H04113533 A JPH04113533 A JP H04113533A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- film
- magneto
- recording medium
- optical recording
- gap
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野コ
本発明は光磁気記録媒体、特には化学的安定性、光透過
性がすぐれており、屈折率が大きく、カー回転角の増大
がはかれ、C/Nもよく、記録密度の向上をはかること
ができる光磁気記録媒体に関するものである。
性がすぐれており、屈折率が大きく、カー回転角の増大
がはかれ、C/Nもよく、記録密度の向上をはかること
ができる光磁気記録媒体に関するものである。
[従来の技術]
近年、情報化社会の進展に伴なって書換可能な光磁気メ
モリが注目を集めており、この光磁気メモリ用磁性膜と
してはTbFeCoなどの希土類元素−遷移金属元素薄
膜が用いられているが、このものは得られるカー回転角
かあまり大きくないためにこれには再生信号のC/Nか
十分でないという欠点かある。
モリが注目を集めており、この光磁気メモリ用磁性膜と
してはTbFeCoなどの希土類元素−遷移金属元素薄
膜が用いられているが、このものは得られるカー回転角
かあまり大きくないためにこれには再生信号のC/Nか
十分でないという欠点かある。
[発明か解決しようとする課題]
そのため、この種の光磁気記録媒体については従来公知
の非晶質磁性体膜の表面にSin、 5iNAi’Nな
どの誘電体膜(@)を形成し、その膜厚をλ/4n(λ
はレーザー波長、nは屈折率)とすることによって見か
けのカー回転角を増大させ、C/Nを大きくする(エン
ハンス効果)ことが行なわれているが、これによる特性
向上はまだ不十分てあり、この誘電体膜についてはさら
に高屈折率で透明性のよいものが求められている。
の非晶質磁性体膜の表面にSin、 5iNAi’Nな
どの誘電体膜(@)を形成し、その膜厚をλ/4n(λ
はレーザー波長、nは屈折率)とすることによって見か
けのカー回転角を増大させ、C/Nを大きくする(エン
ハンス効果)ことが行なわれているが、これによる特性
向上はまだ不十分てあり、この誘電体膜についてはさら
に高屈折率で透明性のよいものが求められている。
また、この光磁気記録媒体については信号処理の高速化
に対する要求が強く、ディスクの記録感度も大きな問題
となフてきており、記録感度を上げるためには誘電体膜
を熱伝導率の低いものとして熱拡散を抑え、レーザーの
熱効率を上げて記録に要するパワーを小さくすることも
行なわれており、これによればビット径を小さくできる
ので記録密度を上げることもてきるが、従来用いられて
いるSiN、 Ai’N、 Sin、 SiCなどの誘
電体膜では熱伝導率を低く抑えることが難しいことから
、新しい誘電体膜の開発が求められている。
に対する要求が強く、ディスクの記録感度も大きな問題
となフてきており、記録感度を上げるためには誘電体膜
を熱伝導率の低いものとして熱拡散を抑え、レーザーの
熱効率を上げて記録に要するパワーを小さくすることも
行なわれており、これによればビット径を小さくできる
ので記録密度を上げることもてきるが、従来用いられて
いるSiN、 Ai’N、 Sin、 SiCなどの誘
電体膜では熱伝導率を低く抑えることが難しいことから
、新しい誘電体膜の開発が求められている。
なお、ここに使用されている非晶質の磁性体膜について
は、希土類金属が極めて酸化され易いもので、このもの
は高温高湿下で簡単にその磁気特性が劣化してしまうた
めに、上記の誘電体膜を形成し、これに保護膜としての
役割を担わせるということも提案されているが、SiN
、 Aj+Nなどの窒化物は樹脂基板などに成膜する際
にクランクが生し易く、機械的強度が問題があるという
不利があり、SiOなどの酸化物は機械的強度の面では
窒化物よりすぐれているものの、これには膜中の過剰な
酸素が磁性体膜中で希土類と反応して磁性膜の性能を劣
化させるという欠点がある。
は、希土類金属が極めて酸化され易いもので、このもの
は高温高湿下で簡単にその磁気特性が劣化してしまうた
めに、上記の誘電体膜を形成し、これに保護膜としての
役割を担わせるということも提案されているが、SiN
、 Aj+Nなどの窒化物は樹脂基板などに成膜する際
にクランクが生し易く、機械的強度が問題があるという
不利があり、SiOなどの酸化物は機械的強度の面では
窒化物よりすぐれているものの、これには膜中の過剰な
酸素が磁性体膜中で希土類と反応して磁性膜の性能を劣
化させるという欠点がある。
[課題を解決するための手段]
本発明はこのような課題を解決することのできる光磁気
記録媒体に関するもので、これは光の入射側に置かれる
透明基板上に、誘電体膜、磁性膜、反射膜を設けてなる
光磁気記録媒体において、誘電体膜がGaP、 ArA
sまたは八j)Pあるし)はHを含むGaP、 AlA
sまたはApPからなる半導体材料で構成されてなるこ
とを特徴とするものである。
記録媒体に関するもので、これは光の入射側に置かれる
透明基板上に、誘電体膜、磁性膜、反射膜を設けてなる
光磁気記録媒体において、誘電体膜がGaP、 ArA
sまたは八j)Pあるし)はHを含むGaP、 AlA
sまたはApPからなる半導体材料で構成されてなるこ
とを特徴とするものである。
すなわち、本発明者らは化学的安定性、光透過性がすぐ
れていて、屈折率が大きく、カー回転角の増大がはかれ
、C/Nもよく、記録密度も向上した光磁気記録媒体を
開発すべく種々検討した結果、基体上に設けられる誘電
体膜をGaP、 AlAsまたはAFPからなる半導体
材料あるいはHを含むGaP、 AlAsまたはAlP
からなる半導体材料で構成すると、1)従来の保護膜に
くらべて剥離し難く、機械的強度、耐久性にすぐれてお
り、記録膜を保護する効果が大きくなる、2) GaP
、 AjAsまたはAlP 、あるいはHを含むGa
P、 AlAsまたはAlPからなる膜は従来用いられ
ているSin、 SiN+AJNにくらべて高い屈折率
を有しているので、大きなエンハンス効果を与えるし、
また光透過性もすぐれていて、特に可視〜赤外領域で極
めて高い透過性を有しているので、C/Nの大きな光磁
気記録媒体を得ることができることを見出すと共に、こ
のものはカー回転力を大きくすることができ、記録密度
も向上させることができることを確認し、ここに使用す
るGaP、 AlAsまたはAj’P 、あるいはHを
含むGaP、 +Ij!AsまたはApPからなる膜の
形成方法などについての研究を進めて本発明を完成させ
た。
れていて、屈折率が大きく、カー回転角の増大がはかれ
、C/Nもよく、記録密度も向上した光磁気記録媒体を
開発すべく種々検討した結果、基体上に設けられる誘電
体膜をGaP、 AlAsまたはAFPからなる半導体
材料あるいはHを含むGaP、 AlAsまたはAlP
からなる半導体材料で構成すると、1)従来の保護膜に
くらべて剥離し難く、機械的強度、耐久性にすぐれてお
り、記録膜を保護する効果が大きくなる、2) GaP
、 AjAsまたはAlP 、あるいはHを含むGa
P、 AlAsまたはAlPからなる膜は従来用いられ
ているSin、 SiN+AJNにくらべて高い屈折率
を有しているので、大きなエンハンス効果を与えるし、
また光透過性もすぐれていて、特に可視〜赤外領域で極
めて高い透過性を有しているので、C/Nの大きな光磁
気記録媒体を得ることができることを見出すと共に、こ
のものはカー回転力を大きくすることができ、記録密度
も向上させることができることを確認し、ここに使用す
るGaP、 AlAsまたはAj’P 、あるいはHを
含むGaP、 +Ij!AsまたはApPからなる膜の
形成方法などについての研究を進めて本発明を完成させ
た。
以下にこれをさらに詳述する。
[作用]
本発明の光磁気記録媒体は透明基板上に誘電体膜、磁性
膜、反射膜を設けてなる光磁気記録媒体における誘電体
膜をGaP 、AlAsまたはAi+P 、あるいはH
を含むGaP、 A11AsまたはAI!Pからなる半
導体材料で構成したものである。
膜、反射膜を設けてなる光磁気記録媒体における誘電体
膜をGaP 、AlAsまたはAi+P 、あるいはH
を含むGaP、 A11AsまたはAI!Pからなる半
導体材料で構成したものである。
この光磁気記録媒体の構成は公知のものであり、これは
例えば第1図に示したように、トラッキング用ガイドグ
ループが形成されたガラス、石英ガラス、ポリカーボネ
ート樹脂、ポリメチルメタクリレート樹脂などからなる
透明基板Iの上に誘電体膜2、磁性@3、誘電体膜2と
同質の誘電体膜4および反射膜5を順次積層されたもの
であり、これは第2図に示したように透明基板7の上に
誘電体膜8、磁性@9、誘電体膜10を順次積層した3
層構造のものであってもよく、またさらに透明基板上に
磁性膜、上記誘電体膜、反射膜を順次形成する3層構造
としてもよい。これらにおいてはこの透明基板1.7の
光の入射側から光611が入射すると光6は反射膜5で
反射され、第2図のものでは入射光11は磁性膜9で反
射される。
例えば第1図に示したように、トラッキング用ガイドグ
ループが形成されたガラス、石英ガラス、ポリカーボネ
ート樹脂、ポリメチルメタクリレート樹脂などからなる
透明基板Iの上に誘電体膜2、磁性@3、誘電体膜2と
同質の誘電体膜4および反射膜5を順次積層されたもの
であり、これは第2図に示したように透明基板7の上に
誘電体膜8、磁性@9、誘電体膜10を順次積層した3
層構造のものであってもよく、またさらに透明基板上に
磁性膜、上記誘電体膜、反射膜を順次形成する3層構造
としてもよい。これらにおいてはこの透明基板1.7の
光の入射側から光611が入射すると光6は反射膜5で
反射され、第2図のものでは入射光11は磁性膜9で反
射される。
本発明の光磁気記録媒体ではこの誘電体膜2゜8および
/または4.lOがGaP、 AA’AsまたはALP
、あるいはHを含んたGaP、 Ai’AsまたはAJ
Pらかなる半導体材料で構成されるのであるが、この誘
電体膜の形成はスパッタリング法で行えばよく、このG
aP、 AJ+As、 AIPまたHを含むGaP、
Aj)As、 Aj!Pにおける成分のモル比はGa:
P、 Ai’: As、 A!二Pが(30: 70
) + (70: 30)のものとすることがよい
。また、これらのGaP、 AlAs、 Aj)Pまた
Hを含むGaP ARAs Aj’Pからなる誘電
体膜はその屈折率が1.75未満では媒体表面での光の
多重反射によるθ、の見かけ上の増大(エンハンス効果
)か期待できず、逆に2.50より大きくしようとする
と透過率および膜質が低下し、機械的強度や耐久性に悪
影響が及ぼされるので、屈折率(n)が1875〜2.
50のものとすることが望ましいか、そのためには成膜
条件により各元素の組成比を調節して屈折率がこの範囲
となるようにすれはよい。
/または4.lOがGaP、 AA’AsまたはALP
、あるいはHを含んたGaP、 Ai’AsまたはAJ
Pらかなる半導体材料で構成されるのであるが、この誘
電体膜の形成はスパッタリング法で行えばよく、このG
aP、 AJ+As、 AIPまたHを含むGaP、
Aj)As、 Aj!Pにおける成分のモル比はGa:
P、 Ai’: As、 A!二Pが(30: 70
) + (70: 30)のものとすることがよい
。また、これらのGaP、 AlAs、 Aj)Pまた
Hを含むGaP ARAs Aj’Pからなる誘電
体膜はその屈折率が1.75未満では媒体表面での光の
多重反射によるθ、の見かけ上の増大(エンハンス効果
)か期待できず、逆に2.50より大きくしようとする
と透過率および膜質が低下し、機械的強度や耐久性に悪
影響が及ぼされるので、屈折率(n)が1875〜2.
50のものとすることが望ましいか、そのためには成膜
条件により各元素の組成比を調節して屈折率がこの範囲
となるようにすれはよい。
なお、スパッタリング法によるこの誘電体膜の形成は、
具体的にはGaPについてはGaPまたはGaをターゲ
ットとしてアルゴンガス雰囲気、PH3ガス雰囲気、ま
たはアルゴン−PH3ガスあるいはアルゴン−PH3−
82などの混合ガス雰囲気でのスパッタリング法によれ
ばよいし、AlAsについては/u!AsまたはAJを
ターゲットとしてアルゴンガス雰囲気またはARH3ガ
ス雰囲気、あるいはアルゴン−AsH3、アルゴン−A
s)13−82などの混合ガス雰囲気でスパッタリング
すればよく、さらにAlPにつし1てはARをターゲッ
トとしてアルゴンガス雰囲気また&tPH3ガス雰囲気
、あるいはアルゴン−PH3ガス、アルゴン−PH3−
)12などの混合ガス雰囲気でスノ<ツタ1ノングすれ
ばよい。
具体的にはGaPについてはGaPまたはGaをターゲ
ットとしてアルゴンガス雰囲気、PH3ガス雰囲気、ま
たはアルゴン−PH3ガスあるいはアルゴン−PH3−
82などの混合ガス雰囲気でのスパッタリング法によれ
ばよいし、AlAsについては/u!AsまたはAJを
ターゲットとしてアルゴンガス雰囲気またはARH3ガ
ス雰囲気、あるいはアルゴン−AsH3、アルゴン−A
s)13−82などの混合ガス雰囲気でスパッタリング
すればよく、さらにAlPにつし1てはARをターゲッ
トとしてアルゴンガス雰囲気また&tPH3ガス雰囲気
、あるいはアルゴン−PH3ガス、アルゴン−PH3−
)12などの混合ガス雰囲気でスノ<ツタ1ノングすれ
ばよい。
なお、本発明の光磁気記録媒体は基体上に成膜されたこ
の誘電体膜の上に磁性膜と反射膜を形成するのであるが
、これらはいずれも公知のものでよく、この磁性膜は希
土類元素−遷移金属元素膜からなるもの、したがってT
b、 ay、 Gd、 Ndなどの希土類元素とFe、
Co、 Niなどの遷移金属元素からなる、例えばT
bFe、 TbFeCo、 GdTbFe、 GdDy
FeCoなどからなる非晶質金属膜を第1図の構造のも
のでは200〜500人、第2図の構造のものでは80
0〜1.000人程度の厚さでスパッタリング法で形成
すればよく、この反射層はAj!、 (:u、 Au、
Agなどの金属膜を厚さ200〜1,000人程度で
設けれ&fよい。
の誘電体膜の上に磁性膜と反射膜を形成するのであるが
、これらはいずれも公知のものでよく、この磁性膜は希
土類元素−遷移金属元素膜からなるもの、したがってT
b、 ay、 Gd、 Ndなどの希土類元素とFe、
Co、 Niなどの遷移金属元素からなる、例えばT
bFe、 TbFeCo、 GdTbFe、 GdDy
FeCoなどからなる非晶質金属膜を第1図の構造のも
のでは200〜500人、第2図の構造のものでは80
0〜1.000人程度の厚さでスパッタリング法で形成
すればよく、この反射層はAj!、 (:u、 Au、
Agなどの金属膜を厚さ200〜1,000人程度で
設けれ&fよい。
[実施例]
つぎに本発明の実施例、比較例をあげる。
実施例1〜2、比較例1
基板としてのガラス板上に、ターゲットとしてのGaP
単結晶を載置し、アルゴンガス雰囲気においてガス圧1
0m トール、高周波出力100Wの電源を用いるスパ
ッタリングでガラス板上にGaとPとのモル比組成が1
=1で膜の屈折率が2.50、透過率が85%であるG
aPからなる誘電体膜を厚さ1.100人に成膜したの
ち、この上にアルゴンガス圧7mトール、高周波出力2
00Wという条件でのスパッタリング法で厚さ200人
のTbFe磁性膜と厚さ300人のGaP @および厚
さ500人のアルミニウム反射膜を順次形成して光磁気
記録媒体I(実施例1)を作ると共に、このアルゴンガ
ス雰囲気をアルゴンガス80%、水素ガス20%の混合
ガス雰囲気としたほかは上記と同様に処理してガラス基
板上に誘電体膜として屈折率が2.00、透過率が90
%である厚さ1,100人のGaP:H膜を形成させ、
ついでこの上に上記と同じ方法でTbFe磁性膜、Ga
P:H誘電体膜、へρ反射膜を設けて光磁気記録媒体I
I (実施例2)を作った。なお、この冬服における各
元素の組成分析はRBS、 HFS、オージェ分析を用
いて行ったものである。
単結晶を載置し、アルゴンガス雰囲気においてガス圧1
0m トール、高周波出力100Wの電源を用いるスパ
ッタリングでガラス板上にGaとPとのモル比組成が1
=1で膜の屈折率が2.50、透過率が85%であるG
aPからなる誘電体膜を厚さ1.100人に成膜したの
ち、この上にアルゴンガス圧7mトール、高周波出力2
00Wという条件でのスパッタリング法で厚さ200人
のTbFe磁性膜と厚さ300人のGaP @および厚
さ500人のアルミニウム反射膜を順次形成して光磁気
記録媒体I(実施例1)を作ると共に、このアルゴンガ
ス雰囲気をアルゴンガス80%、水素ガス20%の混合
ガス雰囲気としたほかは上記と同様に処理してガラス基
板上に誘電体膜として屈折率が2.00、透過率が90
%である厚さ1,100人のGaP:H膜を形成させ、
ついでこの上に上記と同じ方法でTbFe磁性膜、Ga
P:H誘電体膜、へρ反射膜を設けて光磁気記録媒体I
I (実施例2)を作った。なお、この冬服における各
元素の組成分析はRBS、 HFS、オージェ分析を用
いて行ったものである。
また、比較のためにガラス基板上に従来法にしたがって
誘電体膜としての屈折率が1.92、透過率が80%で
ある厚さ1,100人のSiN膜を形成し、アルゴンガ
ス圧10mトール、高周波出力200Wという条件での
スパッタリング法で厚さ200人のTbFe磁性膜と厚
さ500人のアルミニウム反射膜を形成させて光磁気記
録媒体m (比較例)を作った。
誘電体膜としての屈折率が1.92、透過率が80%で
ある厚さ1,100人のSiN膜を形成し、アルゴンガ
ス圧10mトール、高周波出力200Wという条件での
スパッタリング法で厚さ200人のTbFe磁性膜と厚
さ500人のアルミニウム反射膜を形成させて光磁気記
録媒体m (比較例)を作った。
ついで、このようにして得た光磁気記録媒体1−III
についてその媒体の最適記録パワー CZN値を測定し
たところ、第1表に示したとおりの結果が得られ、さら
にこれらの85℃、85%RHにおける耐久性をしらへ
たところ、第3図に示したような結果が得られ、本発明
のものは比較例のものにくらへて耐久性のすぐれたもの
であることが確認された。
についてその媒体の最適記録パワー CZN値を測定し
たところ、第1表に示したとおりの結果が得られ、さら
にこれらの85℃、85%RHにおける耐久性をしらへ
たところ、第3図に示したような結果が得られ、本発明
のものは比較例のものにくらへて耐久性のすぐれたもの
であることが確認された。
第 1
表
実施例3
ポリカーボネート基板上に実施例1と同じ方法でGaP
膜を厚さ 1,100人に形成し、この上に実施例1と
同じ方法で厚さ200人のTbFeの磁性膜と厚さ 3
00人のGaP膜および厚さ 500人のアルミニウム
反射膜を順次形成して光磁気記録媒体を作ったところ、
このものは最適記録パワーが5.5m1ltで、カー回
転角は0.75度、C/Nは52dBという結果を示し
た。
膜を厚さ 1,100人に形成し、この上に実施例1と
同じ方法で厚さ200人のTbFeの磁性膜と厚さ 3
00人のGaP膜および厚さ 500人のアルミニウム
反射膜を順次形成して光磁気記録媒体を作ったところ、
このものは最適記録パワーが5.5m1ltで、カー回
転角は0.75度、C/Nは52dBという結果を示し
た。
[発明の効果コ
本発明は光磁気記録媒体に関するもので、これは前記し
たように基板に誘電体膜、磁性膜、反射膜を設けた光磁
気記録媒体において、この誘電体膜をGap、 AlA
sあるいはAj)P 、またはHを含むGaP、 Al
AsあるいはAJPからなる半導体材料で構成してなる
ものであり、これによればこの誘電体膜が屈折率1.7
5〜2.50のものとなるので大きなエンハンス効果を
もつものとなり、カー回転角の増大がはかれるし、これ
はまた光透過性がすぐれているのてC/Nが増大される
ほか、これはまた機械的強度、耐久性がすぐれたものと
なるという有利性が与えられる。
たように基板に誘電体膜、磁性膜、反射膜を設けた光磁
気記録媒体において、この誘電体膜をGap、 AlA
sあるいはAj)P 、またはHを含むGaP、 Al
AsあるいはAJPからなる半導体材料で構成してなる
ものであり、これによればこの誘電体膜が屈折率1.7
5〜2.50のものとなるので大きなエンハンス効果を
もつものとなり、カー回転角の増大がはかれるし、これ
はまた光透過性がすぐれているのてC/Nが増大される
ほか、これはまた機械的強度、耐久性がすぐれたものと
なるという有利性が与えられる。
第1図、第2図は光磁気記録媒体の構成図、第3図は実
施例、比較例における光磁気記録媒体の85℃、85%
RHにおける耐久性試験結果グラフを示したものである
。 図中の符号: 1.7・・・透明基板 2.4,8.10・・・誘電体膜(層)3.9・・・磁
性膜 5・・・反射膜
施例、比較例における光磁気記録媒体の85℃、85%
RHにおける耐久性試験結果グラフを示したものである
。 図中の符号: 1.7・・・透明基板 2.4,8.10・・・誘電体膜(層)3.9・・・磁
性膜 5・・・反射膜
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、光の入射側に置かれる透明基板上に、誘電体膜、磁
性膜、反射膜を設けて成る光磁気記録媒体において、誘
電体膜がGaP、AlAsまたはAlPあるいはHを含
むGaP、AlAsまたはAlPからなる半導体材料で
構成されてなることを特徴とする光磁気記録媒体。 2、GaP、AlAsまたはAlPの成分比Ga:P、
Al:AsまたはAl:Pが(30:70):(70:
30)である請求項1に記載した光磁気記録媒体。 3、GaP、AlAsまたはAlP膜の屈折率(n)が
1.75〜2.50である請求項1に記載した光磁気記
録媒体。 4、GaP、AlAsまたはAlP膜がスパッタリング
法で形成されてなるものである請求項1に記載した光磁
気記録媒体。 5、GaP、AlAsまたはAlP膜がGaP、AlA
sあるいはAlPをターゲットとする、アルゴンガス雰
囲気中でのスパッタリング法によって形成されてなるも
のである請求項1または4に記載した光磁気記録媒体。 6、スパッタリング法がAsH_3、Ar−AsH_3
、Ar−AsH_3−H_2などの混合ガス中で行なわ
れる請求項4または5に記載した光磁気記録媒体。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP23271390A JPH04113533A (ja) | 1990-09-03 | 1990-09-03 | 光磁気記録媒体 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP23271390A JPH04113533A (ja) | 1990-09-03 | 1990-09-03 | 光磁気記録媒体 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04113533A true JPH04113533A (ja) | 1992-04-15 |
Family
ID=16943618
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP23271390A Pending JPH04113533A (ja) | 1990-09-03 | 1990-09-03 | 光磁気記録媒体 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH04113533A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE10026485A1 (de) * | 2000-05-29 | 2001-12-13 | Udo Heinrich Grabowy | System mit einem Trägersubstrat mit einer Ti/P- bzw. AI/P-Beschichtung |
-
1990
- 1990-09-03 JP JP23271390A patent/JPH04113533A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE10026485A1 (de) * | 2000-05-29 | 2001-12-13 | Udo Heinrich Grabowy | System mit einem Trägersubstrat mit einer Ti/P- bzw. AI/P-Beschichtung |
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