JPH0384951A - Layout design of integrated circuit - Google Patents
Layout design of integrated circuitInfo
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、集積回路内の複数の信号伝搬経絡における信
号伝搬遅延時間の最大値と最小値との差を所望の値以下
に押えることを可能とする、集積回路のレイアウト設計
方法に関するものである。[Detailed Description of the Invention] [Field of Industrial Application] The present invention aims to suppress the difference between the maximum value and the minimum value of signal propagation delay time in a plurality of signal propagation meridians in an integrated circuit to a desired value or less. The present invention relates to a layout design method for integrated circuits that makes it possible to design the layout of an integrated circuit.
〔従来の技術J
クロック信号によう制御される同期式回路において、ク
ロック信号が各素子のクロック端子に伝搬するまでの遅
延時間のばらつき(以下クロック・スキューと称す)が
回路全体の動作速度に対して上限を定めるため、高速な
動作を要求される回路の設計においては、クロック・ス
キューの低減が必要となる。[Prior art J] In a synchronous circuit controlled by a clock signal, variations in the delay time until the clock signal propagates to the clock terminal of each element (hereinafter referred to as clock skew) affect the operating speed of the entire circuit. Therefore, in designing circuits that require high-speed operation, it is necessary to reduce clock skew.
信号の伝搬遅延時間は、その信号伝搬経路中に含まれる
素子における遅延時間と、素子間の配線における遅延時
間との和となるが、前者が各素子に対して固有の値を持
つのに対して、後者は配線のレイアウトパターンに依存
するため、りμツク・スキューを制限値以下に抑える必
要がある集積回路のレイアウト設計にかいては、遅延時
間のばらつきを考慮しながら、クロック信号線の配線パ
ターンを決定しなければならない。The propagation delay time of a signal is the sum of the delay time in the elements included in the signal propagation path and the delay time in the wiring between the elements, whereas the former has a unique value for each element. The latter depends on the wiring layout pattern, so when designing the layout of an integrated circuit where it is necessary to suppress the risk skew to below a limit value, it is necessary to consider the variation in delay time while designing the clock signal line. The wiring pattern must be determined.
クロック・スキューを制限値以下に抑える必要がある半
導体集積回路のレイアウト設計において、従来は以下の
ような方法が用いられていた。Conventionally, the following methods have been used in layout design of semiconductor integrated circuits where clock skew must be kept below a limit value.
一つの方法は、計算機による自動配置配線結果を人手で
修正する方法である。第4図は、ゲートアレイの配置配
線結果の一部分を示した例である。One method is to manually modify the results of automatic placement and routing by a computer. FIG. 4 is an example showing a portion of the layout and wiring results of the gate array.
クロック信号入力端子9に入力されたクロック信号はI
10バッファ10と何段かのバッファ11を介して分配
され、各ラッチ12のクロック信号入力端子13に供給
される。このとき、クロック信号入力端子9から各ラッ
チに クロック信号入力端子13までの信号伝搬遅延時
間は、各バッファ11での遅延時間と、各素子間の配線
経路パターンから水管る。The clock signal input to the clock signal input terminal 9 is I
The signal is distributed through 10 buffers 10 and several stages of buffers 11, and is supplied to the clock signal input terminal 13 of each latch 12. At this time, the signal propagation delay time from the clock signal input terminal 9 to each latch to the clock signal input terminal 13 is determined from the delay time at each buffer 11 and the wiring route pattern between each element.
もし、各ラッチ12′1でのスキューが許容値を越える
場合には、空き領域を利用して、Aのように素子の位置
を変更することによって配線経絡を変更するか、Bのよ
うに配線経路を直接変更することで、クロック・スキュ
ーが許容値以下になるように、人手修正を行う。If the skew in each latch 12'1 exceeds the allowable value, use the empty area and change the wiring meridian by changing the position of the element as shown in A, or change the wiring as shown in B. By directly changing the route, manual correction is performed so that the clock skew is below the allowable value.
もう一つの方法は、クロック信号線の配線パターンの一
部をあらかじめチップ上に設けて釦く方法である。第5
図はその例を示した図である。半導体基板14上の領域
を4つのブロック15に分割しクロック信号入力端子1
6に供給されたクロック信号が各ブロック15中のクロ
ック信号分配回路17に到達するまでの遅延時間が等し
くなるように、りμツク信号線の配線パターン18を、
あらかじめチップ上に設けておく。このようなチップに
対して、レイアウト設計を行う。その結果、クロック・
スキューは、各ブロック12内でのクロック信号の伝搬
遅延時間のばらつきに等しくなるため、クロック信号線
の配線パターンをあらかじめ設けてかかないでレイアウ
ト設計を行う場合に比べて小さくなる。Another method is to provide a part of the wiring pattern of the clock signal line on the chip in advance and press the button. Fifth
The figure shows an example. The area on the semiconductor substrate 14 is divided into four blocks 15, and the clock signal input terminal 1 is divided into four blocks 15.
The wiring pattern 18 of the micro clock signal line is arranged so that the delay time for the clock signal supplied to the block 6 to reach the clock signal distribution circuit 17 in each block 15 is equal.
Place it on the chip in advance. Layout design is performed for such a chip. As a result, the clock
Since the skew is equal to the variation in the propagation delay time of the clock signal within each block 12, it is smaller than when designing the layout without providing a wiring pattern for the clock signal line in advance.
〔発明が解決しようとする課題1
従来の方法のうち、自動配置配線後に人手で修正を行う
方法では、設計期間や設計コストが増大するという欠点
がある。[Problem to be Solved by the Invention 1] Among the conventional methods, the method of performing manual correction after automatic placement and wiring has the drawback of increasing the design period and design cost.
また、もう一方の、クロック信号線の配線パターンの一
部をあらかじめチップ上に設けてかく方法では、固定パ
ターンが常にチップ上に設けられているため、ラッチの
数が少ない場合などで領域が無駄になるという欠点があ
る。In addition, in the other method, in which a part of the wiring pattern for the clock signal line is provided on the chip in advance, the fixed pattern is always provided on the chip, so area is wasted in cases where there are only a small number of latches. It has the disadvantage of becoming
本発明は上記のような問題点を解消するためになされた
もので、信号の伝搬遅延時間を、定められた制限内に納
めることを可能とし、かつ自動化に適したレイアウト設
計方法を得ることを目的とする。The present invention has been made to solve the above-mentioned problems, and aims to provide a layout design method that makes it possible to keep the signal propagation delay time within predetermined limits and is suitable for automation. purpose.
この発明に係る集積回路のレイアウト設計方法は、複数
の信号伝搬経路から戒り、各々の経路での信号伝搬遅延
時間の最大値と最小値との差が許容範囲内に収まること
を必要とする信号伝搬経路群を一つ以上含む集積回路の
レイアウト設計方法で、予め遅延用マクロセルとして、
大きさ、入出力端子の位置が等しく、遅延時間の異る複
数の、遅延機能を持つマクロセルを用意してかく段階と
、その遅延用マクロセルの一つを、回路の素子間接続情
報中で、上記の信号伝搬経路群に含オれる全での経路の
終端の端子とその直前の端子との接続関係中に挿入する
段階と、その結果、変更された素子間接続情報に従って
レイアウトパターンを生成する段階と、レイアウトパタ
ーンから、各経路での信号伝搬遅延時間を求める段階と
、各々の信号伝搬経路群について、基準となる経路を定
め、群中の他の経路の各々に対して、基準の経路との信
号伝搬遅延時間の差を求め、その差を所望の値以下にす
るための修正値を算出する段階と、レイアウトパターン
中の全ての遅延用マクロセルのパターンを、その遅延用
マクロセルの遅延時間に、その遅延用マクロ七〜が含1
れる経路に対する修正値を加えた遅延時間を持つ他の遅
延用マクロセルのパターンで置き換える段階とから成る
。The integrated circuit layout design method according to the present invention requires that a plurality of signal propagation paths be avoided, and that the difference between the maximum and minimum signal propagation delay times in each path be within an allowable range. A layout design method for an integrated circuit that includes one or more signal propagation paths.
The step of preparing a plurality of macro cells with delay functions that have the same size and input/output terminal positions and different delay times, and one of the delay macro cells is described in the inter-element connection information of the circuit. A step of inserting into the connection relationship between the terminal terminal of all the paths included in the above signal propagation path group and the terminal immediately before it, and as a result, generating a layout pattern according to the changed inter-element connection information. step, determining the signal propagation delay time on each route from the layout pattern, determining a reference route for each signal propagation route group, and determining the reference route for each of the other routes in the group. The step of calculating the difference in signal propagation delay time between the , the delay macros 7 to 1 are included.
and replacing the delay macrocell pattern with another delay macrocell pattern having a delay time including a correction value for the route.
本発明によれば、レイアウトパターン生成前に、素子間
接続情報中で遅延用マクロセルを挿入した信号伝搬経路
に対して、レイアウトパターン生e、後に、その遅延用
マクロセルのパターンヲ、予め用意した、同じ大きさで
同じ位置に入出力端子を持つ他の遅延用マクロセルのパ
ターンと置換することにより、信号伝搬遅延時間の変更
を、レイアウトパターンの生成後に、他の信号線のレイ
アウトパターンを変更することなく行える。そのため、
遅延用マクロセルを挿入した信号伝搬経路の遅延時間の
差を調整することも容易である。According to the present invention, before a layout pattern is generated, a layout pattern e is generated for a signal propagation path in which a delay macro cell is inserted in the inter-element connection information, and after that, a pattern of the delay macro cell is created using the same pattern prepared in advance. By replacing the pattern with another delay macro cell pattern that has input/output terminals in the same size and position, the signal propagation delay time can be changed without changing the layout pattern of other signal lines after the layout pattern is generated. I can do it. Therefore,
It is also easy to adjust the difference in delay time of signal propagation paths in which delay macro cells are inserted.
〔実施例J
以下、本発明の一実施例として、クロック・スキューを
一定の制限内に納めることを可能とする、ゲートアレイ
の自動レイアウト設計アルゴリズムについて図面を用い
て説明する。[Embodiment J] Hereinafter, as an embodiment of the present invention, an automatic layout design algorithm for a gate array that makes it possible to keep the clock skew within a certain limit will be described with reference to the drawings.
第1図ら)は、被設計回路の論理図の例の一部でクロッ
ク信号の伝搬経路部分のみを示している。FIGS. 1 and 2) are part of an example of a logic diagram of a circuit to be designed, and only show a clock signal propagation path.
クロック信号はクロック信号入力端子lに入力され、バ
ッファ2を何段か用いて分配され、各ラッチ3のクロッ
ク信号入力端子4に供給されろうこのときの各ラッチま
でのクロック信号の伝搬遅延時間は、バッファでの遅延
時間と配線経路での伝搬遅延時間との和で表わされるが
、各ラッチ3までの配線パターンの違いなどにより、遅
延時間にはばらつきが生じる。The clock signal is input to the clock signal input terminal l, distributed using several stages of buffers 2, and supplied to the clock signal input terminal 4 of each latch 3. At this time, the propagation delay time of the clock signal to each latch is as follows. , is expressed as the sum of the delay time in the buffer and the propagation delay time in the wiring route, but variations occur in the delay time due to differences in the wiring pattern up to each latch 3.
このような回路に対して、第1図(b)のように論理図
を変更し、遅延用素子5を各ラッチ3とその直前のバッ
ファ2との間に挿入する。このような論理図に基づいて
、レイアウトパターンを生成する。For such a circuit, the logic diagram is changed as shown in FIG. 1(b), and a delay element 5 is inserted between each latch 3 and the buffer 2 immediately preceding it. A layout pattern is generated based on such a logical diagram.
遅延用素子としては、第2図(a)〜(ff)に示すよ
うなセルを用意する。これらは、一定の遅延時間を持つ
素子(この場合はOR回路6)を数個直列に並べたもの
であり、大きさ、入力端子7の位置、出力端子8の位置
を等しくしである。但し、論理図上では、遅延用素子は
1種類のみ用意し、そのセルのパターンは第2図伽)を
生成するものとする。As delay elements, cells as shown in FIGS. 2(a) to (ff) are prepared. These circuits are constructed by arranging several elements (OR circuits 6 in this case) having a fixed delay time in series, and have the same size, the position of the input terminal 7, and the position of the output terminal 8. However, in the logic diagram, it is assumed that only one type of delay element is prepared, and the cell pattern shown in FIG. 2 is generated.
全体のレイアウトパターン生成を自動配置配線プログラ
ムにより行った後、クロック信号入力端子1から各ラッ
チ3に至る経路での信号伝搬遅延時間を、レイアウトパ
ターンから算出する。After the entire layout pattern is generated using an automatic placement and wiring program, the signal propagation delay time in the path from the clock signal input terminal 1 to each latch 3 is calculated from the layout pattern.
次に、最もクロック信号の伝搬遅延時間の長い経路の遅
延時間を基準とし、それ以外の経路に含まれる遅延用素
子5の各々に対して、基準の遅延時間と、その経路での
遅延時間との差を求め、それに遅延用素子のパターン(
a)の遅延時間を加えた時間を求める。その時間を越え
ない範囲で最も遅延時間の長いパターンを第2図(a)
〜(f′)より求め、(a)と置換する。Next, using the delay time of the path with the longest propagation delay time of the clock signal as a reference, for each of the delay elements 5 included in the other paths, the reference delay time and the delay time on that path are calculated. Find the difference between them and apply the pattern of the delay element (
Find the time including the delay time in a). Figure 2 (a) shows the pattern with the longest delay time within the range that does not exceed that time.
~ (f') and replace it with (a).
以上の処理により、クロック・スキューは各遅延用素子
パターンの遅延時間の差以下にかさえることができる。Through the above processing, the clock skew can be reduced to less than the difference in delay time of each delay element pattern.
処理全体のフローチャートを第3図に示す。A flowchart of the entire process is shown in FIG.
なお、遅延用素子としては、一定の遅延時間を持つ素子
を直列に並べたものでなくても、異なる遅延時間を有し
、大きさ、入出力端子の位置が同一であればよいので、
論理が同一で、駆動能力など、信号伝搬遅延時間を左右
する特性が異なる素子を用いる方法もある。例えば図2
(b)と同様に。Note that the delay element does not have to be a series of elements with a fixed delay time, but it is sufficient as long as they have different delay times and have the same size and input/output terminal positions.
There is also a method of using elements that have the same logic but different characteristics, such as driving ability, that affect signal propagation delay time. For example, Figure 2
Similar to (b).
R素子を用いる場合でも、oR素子をWII或する各々
のトランジスタを、ソース、ゲート、ドレインの各々の
端子どうしを接続した複数のトランジスタにすることに
より負荷の駆動能力を変えることができる。並列接続す
るトランジスタ数の違うセルを複数用意することで、同
じ一段の。R素子でも遅延時間の異るセルができるので
、遅延用素子として使用できる。Even when an R element is used, the load driving ability can be changed by making the oR element WII or each transistor a plurality of transistors whose source, gate, and drain terminals are connected to each other. By preparing multiple cells with different numbers of transistors connected in parallel, the same single stage. The R element can also be used as a delay element because cells with different delay times can be formed.
以上に示したように、この発明によれば、信号の伝搬遅
延時間のばらつきを一定の制限以下にかさえることを必
要とする集積回路のレイアウト設計が、素子間接続情報
の変更と、レイアウトパターンからの遅延時間の算出と
、セルのレイアウトパターンの置換の処理を、従来のレ
イアウト設計の処理に付加するだけで実現できる。その
ため設計期間、コストを増大させることなく、自動レイ
アウト設計にも適用可能である。As described above, according to the present invention, the layout design of an integrated circuit that requires the variation in signal propagation delay time to be kept below a certain limit can be achieved by changing the connection information between elements and by changing the layout pattern. This can be achieved by simply adding the processes of calculating the delay time from and replacing the cell layout pattern to the conventional layout design process. Therefore, it can be applied to automatic layout design without increasing the design period or cost.
第1図は、この発明の一実施例を示す論理図、第2図は
遅延用素子の内部回路の例を模式的に示した図、第3図
は、ゲートアレイの自動レイアウト設計のフローチーヤ
ード、第4図は従来の方法の一つである、人手による配
置配線結果修正方法を説明するための図であう、第5図
は、従来の方法のもう1つの方法である、クロック信号
線の配線パターンの一部を、予めチップ上に設けてかぐ
方法にかいて用いられる、配線パターンの一例を示した
図である。
図中、1はクロック信号入力端子、2はバッファ、3は
ラッチ、4はラッチのクロック端子、5は遅延用素子、
6は遅延用素子を構成する。R回路、7は遅延用素子の
入力端子、8は遅延用素子の出力端子、9はクロック信
号入力端子、lOはI10バッファ、11はバッファ、
12はラッチ、13はラッチのクロック端子、14は半
導体集積回路の基板、15は分割された配置配線領域の
ブロック、16はクロック入力端子、17はクロック信
号分配回路、18は予め設けられたクロック信号線の配
線パターンである。
なか、各図中同一符号は同−又は相当部分を示す。FIG. 1 is a logic diagram showing an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a diagram schematically showing an example of an internal circuit of a delay element, and FIG. 3 is a flowchart for automatic layout design of a gate array. Figure 4 is a diagram for explaining a method for manually correcting the placement and wiring results, which is one of the conventional methods. FIG. 2 is a diagram showing an example of a wiring pattern used in a method of writing a part of the wiring pattern on a chip in advance. In the figure, 1 is a clock signal input terminal, 2 is a buffer, 3 is a latch, 4 is a latch clock terminal, 5 is a delay element,
6 constitutes a delay element. R circuit, 7 is the input terminal of the delay element, 8 is the output terminal of the delay element, 9 is the clock signal input terminal, IO is the I10 buffer, 11 is the buffer,
12 is a latch, 13 is a clock terminal of the latch, 14 is a substrate of a semiconductor integrated circuit, 15 is a block of divided placement and wiring area, 16 is a clock input terminal, 17 is a clock signal distribution circuit, and 18 is a clock provided in advance. This is the wiring pattern of the signal line. In each figure, the same reference numerals indicate the same or corresponding parts.
Claims (1)
おける信号伝搬遅延時間のうち、最大値と最小値との差
が、所望の値以下に納まることを必要とする信号伝搬経
路群を一以上含む集積回路のレイアウト設計において、 遅延用素子としての機能を有し、大きさ、入出力端子の
位置が等しく、遅延時間が各々異る複数の遅延用マクロ
セルを予め用意する段階と、該集積回路の素子間接続情
報中で該信号伝搬経路の全ての要素に対して、その経路
の終点に相当する端子と、それに接続する経路中の他の
端子との接続関係を切り離して、その間に該遅延用マク
ロセルを挿入して素子間接続情報を変更する段階と、 変更後の素子間接続情報に基づいて、レイアウトパター
ン情報を生成する段階と、 生成されたレイアウトパターン情報より、該信号伝搬経
路群中の各信号伝搬経路における信号伝搬遅延時間を算
出する段階と、 各々の該信号伝搬経路群に対して、群中の一つの信号伝
搬経路を基準とし、群中の他の信号伝搬経路の各々につ
いて、基準の信号伝搬経路との信号伝搬遅延時間の差を
計算し、その差を所望の値以下にするための修正値を算
出する段階と、レイアウトパターン情報中の遅延用マク
ロセルの各々に対して、その遅延用マクロセルの遅延時
間と、前段階で算出した、その遅延用マクロセルが含ま
れる信号伝搬経路に対する信号伝搬遅延時間の修正値と
の和に相当する遅延時間を持つ他の遅延用マクロセルと
の交換を行い、レイアウトパターン情報を変更する段階
とを備えた集積回路のレイアウト設計方法。[Claims] A signal that includes a plurality of signal propagation paths as elements and requires that the difference between the maximum value and the minimum value of the signal propagation delay time in each signal propagation path be within a desired value. In the layout design of an integrated circuit that includes one or more propagation path groups, prepare in advance a plurality of delay macro cells that function as delay elements, have the same size and input/output terminal positions, and each have different delay times. For all elements of the signal propagation path in the stage and inter-element connection information of the integrated circuit, disconnect the connection relationship between the terminal corresponding to the end point of the path and other terminals in the path connected to it. and changing inter-element connection information by inserting the delay macrocell in between; generating layout pattern information based on the changed inter-element connection information; and from the generated layout pattern information, calculating a signal propagation delay time in each signal propagation path in the group of signal propagation paths; For each signal propagation path, the difference in signal propagation delay time from the reference signal propagation path is calculated, and a correction value is calculated to make the difference less than a desired value. Each macro cell has a delay time corresponding to the sum of the delay time of the delay macro cell and the correction value of the signal propagation delay time for the signal propagation path that includes the delay macro cell calculated in the previous step. A method for designing a layout of an integrated circuit, comprising the steps of exchanging with another delay macrocell and changing layout pattern information.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1222225A JPH0384951A (en) | 1989-08-29 | 1989-08-29 | Layout design of integrated circuit |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1222225A JPH0384951A (en) | 1989-08-29 | 1989-08-29 | Layout design of integrated circuit |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0384951A true JPH0384951A (en) | 1991-04-10 |
Family
ID=16779080
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1222225A Pending JPH0384951A (en) | 1989-08-29 | 1989-08-29 | Layout design of integrated circuit |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0384951A (en) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH06215071A (en) * | 1993-01-14 | 1994-08-05 | Nec Corp | Clock wiring design device |
DE19749599C2 (en) * | 1997-03-03 | 2001-08-09 | Mitsubishi Electric Corp | Clock driver circuit and semiconductor integrated circuit device with macro cell layout areas |
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US7857574B2 (en) | 2006-10-23 | 2010-12-28 | Seiko Epson Corporation | Media processor |
JP2012195751A (en) * | 2011-03-16 | 2012-10-11 | Seiko Epson Corp | Semiconductor integrated circuit |
-
1989
- 1989-08-29 JP JP1222225A patent/JPH0384951A/en active Pending
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