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JPH0354290B2 - - Google Patents

Info

Publication number
JPH0354290B2
JPH0354290B2 JP58079812A JP7981283A JPH0354290B2 JP H0354290 B2 JPH0354290 B2 JP H0354290B2 JP 58079812 A JP58079812 A JP 58079812A JP 7981283 A JP7981283 A JP 7981283A JP H0354290 B2 JPH0354290 B2 JP H0354290B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
polarization
optical fiber
maintaining optical
light
plate
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP58079812A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS59204738A (ja
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority to JP7981283A priority Critical patent/JPS59204738A/ja
Publication of JPS59204738A publication Critical patent/JPS59204738A/ja
Publication of JPH0354290B2 publication Critical patent/JPH0354290B2/ja
Granted legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01MTESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M11/00Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
    • G01M11/30Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
    • G01M11/33Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter being disposed at one fibre or waveguide end-face, and a light receiver at the other end-face

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
  • Light Guides In General And Applications Therefor (AREA)
  • Optical Couplings Of Light Guides (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は光通信等に用いられる偏波面保存光フ
アイバの消光比測定系に係り、特に、偏波面保存
光フアイバ偏光軸への光入射方法に関するもので
ある。
第1図は偏波面保存光フアイバの従来の消光比
測定系の系統図である。光源1から出射した光は
偏光板2a及びλ/2板3通過した後レンズ4aで
集光して偏波面保存光フアイバ5へ入射させる。
この偏波面保存光フアイバから出射した光はレン
ズ4bで略平行光束とされ偏光板2bを通り光電
式の検知器6で検出される。
消光比を測定するには、まづ、偏光板2aと
λ/2板3の回転角を調節して検出電力が最小にな
つた時、λ/2板3は固定し偏光板2bを回転させ
て信号電力の最大値dBmax.と最小値dBmin.を検
出器で読み、その差を求める。このように偏波面
保存光フアイバ5を静止させた状態では、光源1
の光のコヒーレンズ長と偏波面保存光フアイバ5
の結合長との関係で、固有偏光軸に光が入射して
いなくとも検出電力が最小になつたり、或いは検
出電力が時間的に変動することがあり、偏波面保
存光フアイバの偏光軸に偏光を合致させて入射さ
せるのが極めて困難であるという問題点をもつて
いた。
本発明は上記従来技術の欠点を解消し、短時間
で正確に偏光軸に偏光を入射させて消光比を測定
することができる偏波面保存光フアイバ偏光軸へ
の光入射方法を提供することを目的とし、その特
徴とするところは、偏波面保存光フアイバの一部
に状態の変化を与えるじよう乱部を設けて偏波面
保存光フアイバの一部にじよう乱を与えつつλ/2
板を回転させて光電検知器の検出電力が最小とな
る様に固定したのち、第2の偏光板を回転させて
検出電力の最大・最小値が最大となる如く設定す
ることにある。
第2図は本発明の一実施例である偏波面保存光
フアイバの消光比測定系の系統図で、第1図と同
じ部分には同一符号を付してある。この場合は偏
波面保存光フアイバ5の一部に振動印加部7を設
けている。消光比の測定は前記と同様に、偏光板
2aとλ/2板3との回転角を調節して検出電力が
最小となるようにしてλ/2板3を固定する。次に
偏光板2bを回転させて検出電力の最大値
dBmax.と最小値dBmin.を検出器6で読み、その
差によつて消光比を求める。
ここで検出電力が最小になる様にλ/2板を回転
させてこれを固定する際にに偏波面保存光フアイ
バの任意の一部分を、例えばモータやスピーカ等
で任意の振動を与えて置く。一方、偏波面保存光
フアイバ5に振動等の外部じよう乱を与えた場合
は、固有の偏光軸に合致した偏光が偏波面保存光
フアイバに入射しているときは、上記振動によつ
て乱されることなく伝送光の偏光方向も変化しな
いという性質をもつている。したがつて、被検偏
波面保存光フアイバ5に振動を与え乍ら検出電力
が最小になる様にλ/2板を回転させてこれを固定
するときは、最適の光入射方法となつている。
このように偏波面保存光フアイバの一部分に簡
単な手段で任意の振動を与えるだけで固有の偏光
軸に好適な状態で光を入射させることが可能とな
つたことは、消光比の測定を容易にして能率化さ
れることを示している。即ち、この方法は動的な
消光比測定系といえる。
本実施例の光入射方法は、偏波保存光フアイバ
の一部を振動させ乍ら第1の偏光板とλ/2板の回
転角度を調整して光電検知器での検知電力を最小
の状態とし、その後第2の偏光板を回転させて最
大・最小の検知電力の差が最大となるように設定
することにより、容易に、かつ、正確な消光比が
求められるという効果をもつている。
上記実施例は偏波面保存光フアイバに振動を与
えて測定しているが、振動の代りに適当な物理的
な外部じよう乱、例えば、偏波面保存光フアイバ
の一部分に伸びを与えるようにしてもよい。但
し、この伸びは時間的にランダムとなる様にしな
ければならない。なお、この伸びはドライヤー等
によつて温風を局部的に吹きつけて温度変化を与
えることで生じさせるようにしてもよい。
本発明の偏波面保存光フアイバ偏光軸への光入
射方法は、短時間で容易に固有偏光軸に合致させ
て偏光を入射することができ、従来の測定系に僅
かにじよう乱部を付加するだけで容易に可能とな
り、消光比を正確に測定できるという効果が得ら
れる。
【図面の簡単な説明】
第1図は偏波面保存光フアイバの従来の消光比
測定系の系統図、第2図は本発明の一実施例であ
る偏波面保存光フアイバの消光比測定系の系統図
である。 1…光源、2…偏光板、3…λ/2板、4…レン
ズ、5…偏波面保存光フアイバ、6…検知器、7
…振動印加部。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 光源より出射した光を第1の偏光板とλ/2板
    を通過させた後に集光して偏波面保存光フアイバ
    に入射させ、この偏波面保存光フアイバよりの出
    射光を集光し第2の偏光板を通過させて光電検知
    器で検知するごとく構成した上記偏波面保存光フ
    アイバの消光比測定系において、上記偏波面保存
    光フアイバの一部に状態の変化を与えるじよう乱
    部を設けて偏波面保存光フアイバの一部にじよう
    乱を与えつつ上記λ/2板を回転させて上記光電検
    出器の検出電力が最小となる様に固定したのち、
    上記第2の偏光板を回転させて上記検出電力の最
    大・最小値が最大となる如く設定することを特徴
    とする偏波面保存光フアイバ偏光軸への光入射方
    法。 2 上記じよう乱部が、振動印加部である特許請
    求の範囲第1項記載の偏波面保存光フアイバ偏光
    軸への光入射方法。
JP7981283A 1983-05-07 1983-05-07 偏波面保存光フアイバ偏光軸への光入射方法 Granted JPS59204738A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP7981283A JPS59204738A (ja) 1983-05-07 1983-05-07 偏波面保存光フアイバ偏光軸への光入射方法

Applications Claiming Priority (1)

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JP7981283A JPS59204738A (ja) 1983-05-07 1983-05-07 偏波面保存光フアイバ偏光軸への光入射方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS59204738A JPS59204738A (ja) 1984-11-20
JPH0354290B2 true JPH0354290B2 (ja) 1991-08-19

Family

ID=13700616

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP7981283A Granted JPS59204738A (ja) 1983-05-07 1983-05-07 偏波面保存光フアイバ偏光軸への光入射方法

Country Status (1)

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JP (1) JPS59204738A (ja)

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI749789B (zh) * 2020-09-28 2021-12-11 東建安股份有限公司 口罩製造機

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JPS59204738A (ja) 1984-11-20

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