JPH03505302A - 原料のｘ線選別方法及び装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるため要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 原料のＸ線選別方法及び装置 発明の分野 本発明は採鉱技術に関し、より詳しくは、鉱物原料及び二次金属原料等の予濃縮 を行うのに使用できる原料のＸ線選別方法及び装置に関する。

従来技術 従来技術において知られている、鉱物のＸ線選別方法として、（例えばソ連国発 明者証第９５２３８４号（ｓｏ、　Ａ、　９５２３８４）がある。この方法では 、選別すべき原料の塊を、Ｘ線源の前方を連続的に通過させ、固有蛍光Ｘ線及び 原料塊により散乱されるＸｖＡを同時に測定し、各原料塊からの散乱Ｘ線の強さ に対する所望の成分の固有蛍光Ｘ線の強さの比を得て、この比の値を特定の闇値 と比較することにより、この比の値に従って選別作業を実施するようになってい る。このとき、散乱Ｘ線の強さは、このｘ′ｆａのフォトピーク（ｐｈｏｔｏｐ ｅａｋ）に相当するエネルギバンドに記録される。

この方法は、例えば上記ソ連国発明者証に開示の装置により実施され、この装置 は、コリメータ内に置かれたアイソトープと、該アイソトープの両側に配！され る比例カウンタにより形成されたＸ線検出器とを有している。選別すべき原料塊 は、自由落下によりアイソトープ及びカウンタの前方を通過する。

上記方法及び装置に特有の欠点は、原料塊が種々の経路を通過するため、原料塊 の選別を行うための上記機器及びアクチュエータを、原料塊の平均経路から充分 な間隔を隔てて配置し、原料塊が上記機器に触れないようにする必要があること である。このため、アクチュエータの出力をより大きくしなければならず、従っ て、選別方法のコスト効率がかなり低下する。また、二次Ｘ線に対する感度が低 下してしまう。

二次Ｘ線検出特性は、原料塊が自由落下によりアイソトープを通過すること、及 び、原料塊に関して比例カウンタが任意の方向れの面もが比例カウンタに向いて しまうこと）により一層低下する。原料塊がＸ線に曝される時間は非常に短いた め、原料塊がそれらの移動方向に関して任意の方向に向いてしまうと、実際には 閾値以上の有用成分を含有している原料塊であっても、たまたまその幅狭の面が アイソトープに向いてしまった場合には、その原料塊は規格外として判断され、 従って排除されてしまう状況が生じる。このため、選別効率の低下を招いている 。

また、科学情報公報ｒｏｂｏｇｏｓｃｈｅｎｉｅ　ｒｕｄＪ　（１９８５年、Ｎ ｏ、３（１７８）レニングラード）に掲載のＡ、　Ｐ、　Ｃｈｅｒｎｏｖ他著ｒ 　Ｒｕｄｏｓｏｒｔｉｒｏｖｏ−ｃｈｎｙ　　ａｖｔｏｗａｔ　　ｄｌｙａ　　 ｐｏｋｕｓｋｏｖｏｇｏ　　ｏｂｏｇｏｓｃｈｅｎｉａ　　ｓ＋ｉｎｅｒａｌｎ ｏｇｏ　　５凵| ｒｙａＪ（３１〜３３頁）に開示の装置により実施される原料のＸ線選別方法も 知られている。この方法は、選別すべき原料塊を、移送面上で単一層として静止 位置に配置する構成であり、従って、移送面上の原料塊は、移送面で転がったり 跳ねたりすることなく、するとき、原料塊がＸｗＡに曝され、次いで二次Ｘ線が 測定され、この二次Ｘ線の強さに従って標準の原料塊が選択される。

この従来の装置は、フィードホッパと、僅かに傾斜した振動フィーダ及びベルト コンベアを備えた移送装置と、エアアクチュエータとを有しており、これらの全 てが、原料の移送方向に直列に配置されている。コンベアベルトの上方には、ブ ラシ形コンヘアにより形成されたスタビライザが配置されていて、ベルトに対し て原料塊を保持し、原料塊を安定化するようになっている。原料の移送方向で見 て、このスタビライザより後で、コンベアベルトの下の位置には、Ｘ線源が、コ ンベアベルトの全幅に亘って等間隔に配置されており、これらのＸ線源は、コン ベアベルトの上方に配置されたＸｗＡ検出器と同心状に取り付けられている。こ れらのＸ線検出器は、原料塊のサイズ及びコンベアベルト上での位置を評価する 座標装置としても機能する。また、この選別装置にはコンビ二一夕が設けられて おり、該コンピュータの入力はｘＬｆ＆検出器の出力に接続され、出力はアクチ ュエータに接続されている。

Ｘ線源及びＸ線検出器は、移動する原料の流れの幅方向の個々の走査領域を形成 しており、アクチュエータは、コンベアベルトを離れる位置において前記走査領 域に配置されている。振動フィーダのシュートの底部は加速段の形状を呈してい て、原料塊の移送速度を増大するようになっている。速度の増大に従って原料の 流れの高さが低くなり、フィーダの出口において原料塊は単一層で移動するよう になっている。一方、原料塊はスタビライザのブラシによってベルトの表面に押 し付けられ、これにより、原料塊は、該原料塊が流れに沿って移動するときに原 料塊の一定姿勢が得られる側に原料塊が載るように、ベルト表面上に配置される 。

原料塊がＸ線源を通過すると、原料塊を透過した二次Ｘ線の強さをｘｇ検出器が 検出し、同時に、コンピュータが、原料塊中に含有されている有用成分の量に比 例して検出器のデータを処理し、適当なアクチュエータを作動する情報を出力し て標準の原料塊を選択させるようになっている０作動されるアクチュエータの数 は選択される原料塊のサイズに一致する。

この選別装置では、原料塊がベルトコンベア上で安定した位置に配置されるため 、原料塊は、必ずしもその最大面積の面ではないにせよ、充分に大きな面積をも つ面がＸ５ＩＩ源に向くようにしてベルトコンベア上に配置され、これにより、 上記ソ連国発明者証に開示の方法及び装置に特有の測定誤差をなくすことができ る。

しかしながら、この方法及び装置では、Ｘ線検出器が、゛原料塊を透過したＸ線 （このＸ線と、原料塊中に含有される有用成分の濃度とは殆ど無関係である）を 検出するものであるため、充分に有効な選別を行うことができない。原料中の有 用成分の濃度をより完全に表すことができるのは、固有二次Ｘ線（ｃｈａｒａｃ ｔｅｒｉｓｔｉｃｓｅｃｏｎｄａｒｙ　ｒａｄｉａｔｉｏｎ）である、だからと いって、上記従来の選別装置において、Ｘ線源とＸ線検出器とを原料塊に関して 同一側（すなわち、コンベアベルトの上方）に配置してＸ線を検出してみても所 望の効果は得られない。これは、コンベアベルトによる大きなバンクグラウンド 放射が生じ、測定精度が損なわれるからである。このように、上記従来の選別方 法では、鉱石濃度が低い（１０％以下）原料塊の選別は°不可能であり、鉱石の 準備段階において頁岩（けつがん）と石炭のような対照的な鉱物の選別に用いる ことができるに過ぎない。

従来の上記方法及び装置の別の欠点は、上記ソ連国発明者証に開示の方法と同様 に、原料塊がコンベアベルトを離れるとき、不安定な経路に沿って移動するため 、供給される原料塊から充分な距離を隔ててアクチュエータを配置しなければな らず、このためアクチュエータの出力を充分に大きくしなければならない。

発明の開示 従って本発明の目的は、原料のＸ線選別を行う方法及び装置であって、バンクグ ラウンドノイズ（暗騒音）がない状態で原料塊からの二次Ｘ線を測定でき、同時 に、原料塊が、安定経路に従って、ｘｍｓ、Ｘ線検出器、及び標準原料塊を選択 するアクチュエ−タの前を通過できるようにして、高選別効果が得られかつアク チュエータの作動に要する動力を小さくできる原料のＸ線選別方法及び装置を提 供することにある。

本発明の上記目的は、選別すべき原料の塊を移送面上で単一層に拡散する工程と 、原料塊のサイズ及び単一層の幅方向に沿う原料塊の位置を決定する工程と、原 料塊をＸ線に曝す工程と、各原料塊から二次Ｘ線を測定する工程と、この測定結 果に基づいて標準原料片を選択する工程とを有している原料のＸ線選別方法にお いて、本発明によれば、原料塊が前記移送面を離れた後に、原料塊の移動方向に 対する位置を一定に維持して原料塊を支持しない状態で単一層をなして移動させ 、原料塊のサイズ及び単一層の幅方向に沿う位置を決定し、原料塊をＸ線に曝し 、二次Ｘ線を測定し、かつ標準原料塊を選択する工程を、原料塊が前記支持され ない状態で移動する間に行うことを特徴とする原料のＸ線選別方法を提供するこ とにより解決される。

また、本発明の上記目的は、フィードホッパと、選別すべき原料の塊を単一層に 拡散するための僅かに傾斜した振動フィーダを備えた移送装置と、該移送装置の 上方に配置されていて原料塊を安定化させるスタビライザと、原料塊のサイズ及 び単一層の幅方向に沿う原料塊の位置を決定する座標装置と、Ｘ線源と、Ｘ線検 出器と、標準原料塊を選択するアクチュエータと、コンピュータとを有しており 、該コンピュータの入力が前記座標装置及び前記Ｘ線検出器の出力に接続されて おりかつ出力が前記アクチュエータに接続されている原料のＸ線選別装夏におい て、本発明によれば、前記移送装置が更に、前記僅かに傾斜した振動フィーダの 後で下向き流れを形成するように該振動フィーダに連結された急勾配の振動フィ ーダを備えており、該振動フィーダが別のスタビライザを備えており、該スタビ ライザが、前記僅かに傾斜した振動フィーダと前記急勾配の振動フィーダとの連 結部分の上方に位置していて、前記急勾配の振動フィーダへの移行箇所において 生じ易い原料塊の回転を抑制し、前記座標装置、前記Ｘ線源、前記Ｘ線検出器及 び前記アクチュエータの全てが、前記急勾配の振動フィーダの後で下向き流れ方 向に配置されていることを特徴とする原料のＸｗＡ選別装置によっても解決され る。

本発明の上記構成による方法及び装置は、原料が支持されていない状態で移動す る間に、バンクグラウンドノイズ（暗騒音）が存在しないようにして、上記ソ連 国発明者証の方法と同様に、原料塊中の有用成分についての二次固有ｘｖＡ及び 原料塊から散乱されたＸ線の両方を検出することにより選別効率を向上させるこ とができる。しかしながら、上記ソ連国発明者証の方法とは異なり、本発明の方 法では、原料塊の移動方向に対する位置を安定して維持しつつ（すなわち、安定 した経路に沿って回転したり移動しないようにして）、原料塊を支持しない状態 で移動させるように構成されている０本発明の装置における原料塊のこの支持さ れない移動は、急勾配の振動フィーダ及び第２スタビライザにより行われる。原 料塊は、これらがＸ線源、Ｘ線検出器、座標装置及びアクチュエータを通過する ときに安定した経路に従って移動するため、これらの機器を、分析すべき原料塊 に近接して配置することが可能になり、従って、二次ｘｖＡの検出感度を向上で きると共にアクチュエータの出力（動力）を小さくすることができる。

図面の簡単な説明 以下、添付図面に関連して本発明の好ましい実施例を詳細に説明する。

第１図は、本発明による原料のＸ線選別装置の概略構成図であ第２ａ図〜第２０ は、第１図の装置の急勾配の振動フィーダを下降する原料塊を示す図面である。

発明を実施するための最良の形態 本発明による原料のＸ線選別方法は次の通りである。特定のサイズ範囲をもつ選 別すべき原料塊は、僅かに傾斜した移送面上に供給される。原料塊は、振動供給 により移送面上で単一層に拡散され、かつ流れ幅の方向に互いに分離される。移 送面上で原料塊が更に移動すると、各原料塊は安定化される。すなわち、原料塊 は、少なくとも３つの点上に載る成る１つの面上に支持されるため、転がること なく移動され、原料塊のこの面の位置が変わらないように維持される。この面は 、原料塊の全ての面のうちの必ずしも最大面積をもつ面ではなく、原料塊が転が ることなく一定姿勢で移動できるのに充分な大きさの表面積をもつ任意の支持面 である。岩石片を得るのに用いられる生産技術例えば、爆破又は破砕により、全 ての原料塊にはこのような面が確実に存在する。爆破及び破砕の両場合において 、岩石の大きな塊は、最も弱い線の方向すなわちマイクロクランク又は最大圧縮 力が生じる方向に沿って破砕される。このため、原料塊は、球形ではなく、クサ ビ状、板状、棒状又は不規則な相対等角多面体になり、これが岩石塊の特徴であ る。　　　　　　　　　　　　　　　′次に、原料塊は、僅かな傾斜の移送面か ら急勾配の移送面に移動される。ここで、原料塊には加速度が付与されて、先行 の原料塊から特定の各原料塊が分離される。原料塊が加速されるときに原料塊に 生じるトルクすなわち回転力（この回転力は、原料塊が急勾配の経路に移送され て滑り摩擦を受けることにより生じる）は、この回転力を打ち消す機械的手段及 び滑り機構に代えて振動供給機構を用いて急斜面上で原料塊を移動させることに よってなくすことができる。

急勾配の移送面を離れるとき、原料塊は、原料塊の経路を、原料塊の流れの幅方 向の位置と同様に変化しないように保ちながら、移送方向に関して原料塊の位置 を変化させることなくすなわち回転させることなく、全く支持されない状態で、 単一層をなして移動する。今ここで、急勾配の移送面の延長部に対面する原料塊 の面は、原料塊が移送面上で安定していたときの原料塊の支持面と同じ支持面で ある。

原料塊が支持されない状態で移動するとき、単一層の幅を横切る各原料塊のサイ ズが評価され、各原料塊がＸ線に曝される。次に、原料塊中の有用成分の二次固 有Ｘ線が測定され、この測定値に従って標準片が選択される。原料塊の経路が安 定しているため、原料塊から適当に取り出したエレメントに関して測定及び原料 塊の選択作業を行うことができる。また、原料塊が支持されていない状態で移動 する間に、原料塊からの二次Ｘ線の測定を行うため、バックグラウンドノイズを 低減させることができる。

第１図に示すように、本発明による原料のＸ線選別装置は、貯蔵タンク及び排出 手段（図示せず）を備えたフィードホッパ１と、３つの振動フィーダ２．３．４ からなる移送装置と、スタビライザ５．６と、移動流の幅方向に沿って原料塊の サイズ及び位置を評価するための座標装置ｊ　（ｃｏｏｒｄｉｎａｔｅ　５ｙｓ ｔｅ＋＊）　７と、Ｘ￥ａ源８と、Ｘ線検出器９と、圧力作動形弁のようなアク チュエータ１０と、選別された塊片を収容する収集タンク１１．１２と、コンピ ュータ１３とを有している。後述のように、座標装置７、ＸｗＡ源８、Ｘ線検出 器９及びコンピュータ１３は良く知られた装置であり、従って、これらをより詳 細に図示することは省略する。

振動フィーダ２．３は僅かに（頃斜した支持面を有しており、一方、振動フィー ダ４は急勾配の支持面を有している。また、振動フィーダ４は、振動フィーダ３ ０表面に連続する湾曲部分１４を備えている。

振動フィーダ３と組み合わされたスタビライザ５は、原料塊を安定化さセる機能 を有している。このスタビライザ５は、静止した弾性ブラシにより形成されてい て、振動フィーダ３の上方に配置されている。スタビライザ６はブラシコンベア の形態に構成されている。このスタビライザ６は、振動フィーダ４の湾曲部分１ ４の上方に配置されていて、選別すべき原料塊が振動フィーダ３から振動フィー ダ４に移行するときに、原料塊のトルクすなわち回転を打ち消す機能を有してい る。スタビライザ５．６と、これらのスタビライザ５．６が関連する振動フィー ダ３．４とは、互いに間隔を隔てて配置しておき、原料塊を実質的に制動するこ となくして、振動フィーダ３．４の表面に対して原料塊を押し付けることができ るようにしなければならない。

急勾配の振動フィーダ４の下流側には、座標装Ｗ７、Ｘ線源８、Ｘ線検出器９及 びアクチェエータ１０が続いている。座標装置７は、移動する原料塊を横切るよ うに配置された光源と、原料塊の移動経路に関して反対側において、前記光源と 整合して配置された光電検出器とを備えている。このような装置の一例として、 地下ステーションに設置した試験ポスト及びコンベア上を移動する物体を計数す る装置等を設け、物体が光源の前を通過するときに、当該物体の影を検出するよ うに構成することができる。Ｘ”１ｒｌＡＢＢとしては、Ｘ線管又は放射性核種 を用いることができ、ｘｗＡ検出器９としては、比例シンチレーシヨン又は半導 体カウンタを用いることができる。Ｘ線源８、Ｘ線検出器９、圧力作動形弁（ア クチュエータ）１０及び座標装置７の構成部品は、原料塊の流れの幅方向に均一 に分散して配置する。

コンピュータ１３の入力は、座標装置７の出力及びＸｗＡ検出器９の出力に接続 されており、コンピュータ１３の出力は、圧力作動形弁１０に接続されている。

コンピュータ１３は、パルス波高分析器、オンラインプロセッサ、及び該オンラ インプロセッサを座標装置７の光電検出器及びアクチュエータ１０に接続する制 御装置とを有している。これらの装置は一般に使用されており、例えばソ連国発 明者証９１５５５８号及び第６４６７３７号に開示されている。

本発明の装置は、次のように作動する。

特定のサイズ範囲内の原料を、フィードホッパ１から僅かに傾斜した第１振動フ イーダ２に供給し、次いで、この第１振動フイーダ２よりも大きな移送速度を与 える僅かに傾斜した第２振動フイーダ３に供給する。これにより、原料塊が単一 層に拡散される。

また、スタビライザ５と組み合わされた振動フィーダ３によって原料塊が一定姿 勢にあるか否かをチェックする。この目的のため、振動フィーダ３０表面上には 、選別すべきクラスの平均塊サイズの０．１０〜０．２に等しい高さをもつ段が 設けられている。これらの段を通るとき、原料塊が傾けられ、その重心が、原料 塊の支持面の支点に関して変位する。原料塊が引っ繰り返らない場合には、原料 塊が載っている面が、前進すべき原料塊に対して充分な安定性を与えている。原 料塊の位置が安定していない場合には、原料塊は、振動フィーダ３の表面上に設 けられた次の股上で引っ繰り返り、別の面の上に載った状態になる。原料塊が「 安定」した面上に載るまで、このことが続けられる。振動フィーダ３の支持面上 には、段板外の手段、例えば、横方向ローラ、リブ等の原料塊安定化手段を用い ることができる。振動フィーダ３の振動数を調節し、かつスタビライザ５のブラ シの弾性力を調節（すなわち、フィーダ３の上方でのブラシの上下移動）するこ とにより、振動フィーダ３の出口において原料塊が転がらないようにする状態を 得ることができる。

また、振動フィーダ３は、該フィーダ３の表面が下流方向に向かって拡がってい ること及び該フィーダ３の表面上に拡散ガイドが設けられていることにより、原 料の流れの幅方向に沿って原料塊を互いに分離できるようになっている。

更に前進すると、原料塊は急勾配の振動フィーダ４に到達し、スタビライザ６の ブラシの下に運ばれる。スタビライザ６のブラシコンベアの速度は、振動フィー ダ３の振動送り速度に等しい。

また、スタビライザ６のブラシコンベアの回転方向は、移送されている原料塊に 面しているブラシコンベアの下走行部が、原料塊と同じ方向に移動するように定 める。スタビライザ６のブラシは、振動フィーダ３．４の隣接部分において両フ ィーダの表面に対して原料塊を押し付け、原料塊を大幅に減速させることなく引 き込むようになっている。このとき、原料塊が急な傾斜面に運ばれることにより 生じるトルクすなわち回転が抑制され、原料塊は、振動フィーダ３上に載ってい た原料塊の面と同じ面上に載った状態で、振動フィーダ４により運ばれる。急勾 配の振動フィーダ４上で加速され１．原料塊は、これらの後に続く原料塊から分 離され、単一層内での一片ずつの測定が可能になる。

次に、原料塊が振動フィーダ４に沿って移動するとき、この移動方向に対する原 料塊の安定位置について説明する。原料塊が振動送りによって傾斜面を下降する とき、原料塊は、傾斜面に沿って滑るというよりむしろ傾斜面上で「ステンブコ して揺動する。

すなわち、原料塊は、フィーダ４の傾斜面が原料塊に対して反対方向に移動する ときに、傾斜面と接触するに過ぎない。原料塊が振動フィーダ４の表面と接触す る時点で、原料塊の支持面全体がフィーダ４の表面と接触する場合は、原料塊は 、その重心Ｃに作用する力によって押し出される（第２ａ図）。この場合、原料 塊には回転力が作用しない。

もしも、他の何らかの理由によって、原料塊が振動フィーダ４の表面に衝突する 時点で、原料塊の支持面の前方の点ｒＡＪが、場合（第２ｂ図）には、原料塊は 、その供給方向とは反対方向のトルクすなわち回転力ｒｍＪを受ける。一方、上 記と同じ場合に、振動フィーダ４０表面に最も近接するのが、原料塊の支持面の 後方の点ｒＢＪである場合（第２ｃ図）には、回転力ｒｍＪは原料塊の供給方向 と同じ方向になる。フィーダ４の振幅が０．５〜１．０−一、振動数が１００〜 ４００Ｈｚであるため、原料塊は、振動期間中に数度以上回転する時間がない、 また、次の衝突時に振動フィーダ４から押されるのは、原料塊の同じ支持面の反 対側の点である。このため、原料塊は、急勾配の表面上で「ステップ」して揺動 し、徐々に安定化される。また、直線経路からの変位が１蒙−以上になることは なく、従って、経路は安定化されていて、充分実用に供し得る精度を有している と考えられる。

原料塊が急勾配の振動フィーダ４を離れると、支持されていない単一層をなして 移動し、自由落下加速度を受ける。原料塊がそれまでに支持されていた支持面の 、安定経路からの変位が数ミリメータ以上になることはなく、原料塊のサイズに 比べ無視できるものである。従って、この経路は安定していると考えることがで きる。

原料塊が支持されていない状態で移動することにより、座標装置７は各原料塊の サイズ（より詳しくは、光電検出器、Ｘ線源８及びＸ線検出器９により「認識」 された各原料塊の突出領域）を決定する１次に、原料塊はＸ線源８からのＸ線に 曝され、同時に、Ｘ線検出器９は、各原料塊からの二次Ｘ線、すなわち、所望の 成分についでの固有スペクトル及び原料塊による放射の連続（ポリエネルギ）ス ペクトルを検出する。原料塊中に含有される有用成分の量に比例するＸ線検出器 ９の信号は、座標装置７からの信号と一緒にコンピュータ１３に入力される。コ ンピュータ１３は、これらの信号を処理して、単一層の幅を横切る標準（規格） に対する各原料塊の適合性（ｃｏｎｆｏｒｍａｎｃｅ）を決定し、圧力作動形弁 ｌＯを作動させる命令を発する。単一層の幅方向に沿って配置される圧力作動形 弁１０の位置は標準片の位置と同じであり、単一の原料塊を選択すべく作動され る圧力作動形弁１０の数は、座標装置７により検出された原料塊のサイズと一致 する。この結果、標準の原料塊は収集タンク１２に指向され、規格外の原料塊は 収集タンク１１に指向される。

本発明によれば、原料塊の移動方向に対してそれらの経路及び位置を安定化でき るため、Ｘ線源８、Ｘ線検出器９及び圧力作動形弁１０を、実用上可能な限り原 料塊に近接して配置することが可能になる。このため、測定感度を増大でき、従 って、有用成分含有量が０．５％以下の原料をも選別することができ、かつ圧力 作動形弁ｌＯの作動に要する電力消費量を低減させることができる。

弁の領域において原料塊の運動が安定していない従来公知の方法では、圧力作動 形弁と原料塊との間隔を少なくとも５〜８ｃｍ設ける必要があるが、本発明の方 法によれば、この間隔を１〜２ｃｍにすればよい。従って、本発明の方法におい ては、圧力作動形弁の空気消費量も従来の場合に比べ、１５〜２５％低減させる ことができる。なぜならば、エアジェツトの衝撃力は、弁と原料塊との間の距離 の２乗に反比例するからである。

産業上の利用可能性 本発明は、原子番号が２０以下の有用成分を含有してしする１５〜２００１のサ イズ範囲内の原料の予濃縮及び選別に使用できるように設計されている。本発明 は、従って、本発明の方法におし）ては、選鉱所、石炭濃縮ライン及び二次金属 原料を加工する製造装置に使用することができる。

Ｅ　ｚ 国際調査報告

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. １．選別すべき原料の塊を移送面上で単一層に拡散する工程と、原料塊のサイズ 及び単一層の幅方向に沿う原料塊の位置を評価する工程と、原料塊をＸ線に曝す 工程と、各原料塊から二次Ｘ線を測定する工程と、この測定結果に従って標準原 料塊を選択する工程とを有している原料のＸ線選別方法において、原料塊が前記 移送面を離れた後に、原料塊の移動方向に対する位置を一定に維持して原料塊を 支持しない状態で単一層をなして移動させ、原料塊のサイズ及び単一層の幅方向 に沿う位置を評価し、原料塊をＸ線に曝し、二次Ｘ線を測定し、かつ標準原料塊 を選択する工程を、原料塊が前記支持されない状態で移動する間に行うことを特 徴とする原料のＸ線選別方法。
2. ２．フィードホッパ（１）と、選別すべき原料の塊を単一層に拡散するための僅 かに傾斜した振動フィーダ（３）を備えた移送装置と、該移送装置の上方に配置 されていて原料塊を安定化させるスタビライザ（５）と、原料塊のサイズ及び単 一層の幅方向に沿う原料塊の位置を評価する座標装置（７）と、Ｘ線源（８）と 、Ｘ線検出器（９）と、標準原料塊を選択するアクチュエータ（１０）と、コン ピュータ（１３）とを有しており、該コンピュータ（１３）の入力が前記座標装 置（７）及び前記Ｘ線検出器（９）の出力に接続されておりかつ出力が前記アク チェエータ（１０）に接続されている原料のＸ線選別装置において、前記移送装 置が更に、前記僅かに傾斜した振動フィーダ（３）の後で下向き流れを形成する ように該振動フィーダ（３）に連結された急勾配の振動フィーダ（４）を備えて おり、該振動フィーダ（４）が別のスタビライザ（６）を備えており、該スタビ ライザ（６）が、前記僅かに傾斜した振動フィーダ（３）と前記急勾配の振動フ ィーダ（４）との連結部分（１４）の上方に位置していて、前記急勾配の振動フ ィーダ（４）への移行箇所において生じ易い原料塊の回転を抑制し、前記座標装 置（７）、前記Ｘ線源（８）、前記Ｘ線検出器（９）及び前記アクチュエータ（ １０）の全てが、前記急勾配の振動フィーダ（４）の後で下向き流れ方向に配置 されていることを特徴とする原料のＸ線選別装置。