JPH0335635B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は放射線源、例えばＸ線管によつて放
射された放射線を解析するための装置、更に詳し
くはこの放射線解析を利用して放射線源に加えら
れた電圧の大きさを決定するようにしたその種の
装置に関する。

放射線発生装置、例えば医学診断用Ｘ線装置の
動作時には、放射された粒子（一般に光子）のネ
ルギーレベルが放射線の透過の深さ、放射線にさ
らされた人の危険レベルなどを決定するので、こ
のエネルギーレベルは重要である。放射線源によ
つて放射された放射線のエネルギーレベルは放射
線源に加えられる電圧に一般に直接関係してい
る。それゆえ、放射線源に加えられる電圧の大き
さを調整することによつて、放射される放射線の
エネルギーを調整することが実際上行われてき
た。

Ｘ線源が励振されている期間中に到達したピー
ク電圧によつてＸ線発生装置の電圧設定を指定す
るのが普通である。この電圧は、ピーク・キロボ
ルト電圧又はkVpと呼ばれ、放射線透過写真法に
関する指定事項として広く使用されている。Ｘ線
発生装置用の高電圧制御器はそれゆえ通常kVpを
用いて目盛を施されている。実際に加えられた
kVpとその読みを生じた制御器の設定値とを比較
することによつて高電圧制御器の目盛定めを時折
確認することが望ましい。これを行うためにはも
ちろん実際に加えられたkVpを測定することが必
要である。

これを行う一つの方法は放射線源に現れる電圧
を高電圧プローブで直接測定することである。理
論的には簡単であるけれども、この測定技術はこ
の電圧の大きさ（これは50キロボルトをかなり越
えることがある）のために実際上極めて困難であ
る。別の方法は放射線源から発出する放射線のピ
ークエネルギーの測定によつて印加kVpを間接的
に測定する方法である。

kVpの測定は印加電圧の波形が複雑であるため
に面倒である。理想的には、高電圧供給装置によ
つて放射線源に加えられた電圧は厳密に直流であ
つて、時間的に変化する成分を有しないものであ
ろう。この場合にはkVp及び直流電圧は同じもの
である。しかしながら、通常、放射線源を励振す
るのに使用される高電圧供給装置、大きさ及び周
波数についてかなり多数の種々の時間的に変化す
る成分を有する高電圧の直流電圧を与える。これ
は、例えば、種々の高電圧供給装置において与え
られる変動率の量が異なることがあり、ある高電
圧供給装置が単相電力線からの電力で動作するの
に対し他のものが三相電力線からの電力で動作す
ることがあるなどのためである。これらの場合に
はkVpは変化量だけ直流電圧とは異なることにな
る。測定技術はそれゆえkVpを直流と区別するこ
とができるか又は所与のＸ線装置に対して直流か
らkVpを推定するためのある種の装置を備えなけ
ればならない。

kVpを測定する一つの方法はジヤコブソン
（jacobson）外に与えられた米国特許第4097736
号に記載されている。この特許においては、複数
個の放射線検出器を備えていてそのそれぞれと放
射線源との間に関連の吸収体が配置されている装
置が設けられている。この放射線検出器の出力に
はアナログ・ピーク検出回路が接続されていて、
これが放射線検出器によつて与えられたピーク信
号を検出する。この装置はこの信号ピークを利用
して、kVpを表示する読出しを与える。

第２の方法は「診断用Ｘ線管電圧の実地測定方
法（Ａ Method for Field Measurement of
Diagno−stic Ｘ−Ray Tube Potential）」と題
する論文に記載されているが、この論文は1973年
６月17日から21日まで米国フロリダ州マイアミ・
ビーチで行われた衛生物理学会の第18回年次大会
（The18th annual meeting of the Health
Pnysics Society in Miami Beach、Florida）
において口頭で発表されたものである。この論文
には二つの異なつた厚さの吸収体の背後で測定さ
れた放射線の強さの比に基づいてkVpを決定する
手法が記載されている。この論文は、この比と放
射線源のkVpとの間には直接の相関があることを
教示している。

上記従来例の装置のあるものは、放射線に露出
されたフイルムを現像する必要上測定に長時間を
要していた。また従来装置の殆どは信号処理手段
としてアナログピーク検出器を具備してアナログ
信号処理手段を採用していたので、高電圧供給装
置からの時間的に変化する成分を有する種種の波
形を識別することが困難であり、従つて得られた
信号のピーク電圧を正確に決定することができ
ず、更にはkVpを検出するまでに長時間を要して
いた。

本発明の目的は、これらの問題を解決してkVp
を正確にかつ直ちに検出できるようにするととも
に、高電圧発生装置のローデイング、電撃の危険
性を避ける事ができて使用が簡単な放射線エネル
ギー測定装置を提供することである。

本発明の測定装置は、放射線のピークエネルギ
ーを測定するために、第１及び第２のアナログ信
号を発生する第１及び第２の放射線検出手段、放
射線源と第１及び第２の放射線検出手段の間に配
置された第１及び第２の放射線検出手段、検出さ
れた第１及び第２のアナログ信号をデジタル化す
る第10及び第２のデジタル化手段、デジタル化さ
れた信号を記憶するデジタル記憶手段、及び記憶
されたデジタル信号をデジタル的に処理してピー
クエネルギーレベルを決定する処理手段、を設け
てこれにより放射線源に供給されたkVpを間接的
に高速かつ正確に測定できるようにしたものであ
る。なお、本発明の測定装置は、デジタル記憶手
段を設けているので、該手段に記憶された信号を
用いれば放射線エネルギー及び供給電圧のその他
の特性の解析を行う事も容易にできる。

この発明によれば、放射線エネルギーの出力が
時間とともに変化する放射線源によつて放射され
ている放射線のピークエネルギーを測定するため
の装置が設けられる。この装置には放射線源によ
つて放射された放射線の経路に配置されるように
構成された少なくとも二つの放射線検出器があつ
て、この各検出器はそれぞれ放射線の強さに対し
て既知の関係で変化する値を有するアナログ信号
を与える。各検出器には放射線吸収体が関係して
おり、この吸収体は対応する検出器と放射線源と
の間に配置されるよう構成されていて源から放射
された放射線の一部分を吸収する。各吸収体は異
なつた放射線吸収値を有しており、それぞれの場
合において、吸収体によつて吸収された放射線の
一部分は放射線のエネルギーとともに変化する。
二つの放射線検出器によつて与えられる第１及び
第２のアナログ信号に応答して対応する第１及び
第２のデイジタル信号を与える装置が設けられて
おり、この場合このデイジタル信号はそれぞれ、
アナログ信号の対応するものを表しかつこれとと
もに変化するデイジタル値を有している。規則的
な時間間隔で発生する各デイジタル信号のデイジ
タル値を記憶するためにデイジタル記憶装置が設
けられている。最後に、記憶されたデイジタル値
を処理して放射線源から放射された放射線のエネ
ルギーレベルを決定するために処理装置が設けら
れている。

この発明の別の態様によれば、出力放射線エネ
ルギーが時間とともに変化する放射線源によつて
放射された放射線を解析するための装置が与えら
れる、解析されるべき放射線によつて照射される
ように構成された放射線吸収体装置が設けられて
おり、これには異なつた吸収値を有する第１及び
第２の吸収体装置が含まれている。更に、第１及
び第２の放射線検出装置が設けられていて、それ
ぞれ第１及び第２の吸収体装置を透過した放射線
の一部分が検出され、かつそれぞれ検出された放
射線部分の時間的変化に従つて変化する値を有す
る対応する第１及び第２の電気信号が与えられ
る。この装置には更に、第１及び第２の電気信号
に応答して、これの比に従つて変化し、それゆえ
に時間的に変化する放射線エネルギーに従つて変
化する比信号を導き出し、この比信号を処理して
放射線源により放射された放射線を解析するよう
にする装置が含まれている。

この発明の前述及びその他の目的及び利点は添
付の図面に関連して行われる次の詳細な説明から
一層容易に明らかになるであろう。

この発明の説明を続ける前に、この発明による
装置の動作に関係のある原理のいくつかを復習す
ることがまず有益であろう。第１図についての次
の極めて簡単な論述から一層容易に理解されるよ
うに、二つの異なつた厚さの吸収体を通過する放
射線の強さの比は一般に吸収体を照射する放射線
のエネルギー、従つて放射線源に加えられた電圧
を直接表示している。

第１図においては放射線源Ｓ（これは、例えば
Ｘ線管でよい）が図示されており、これは高電圧
供給装置HVによつて電力を供給されている。放
射線源Ｓは強さI₀の放射線ビームを放射する。吸
収体Ａは放射線ビームの経路に配置されており、
厚さａを有している。吸収体Ａの風下側における
ビームの強さをI₁とすれば、 I₁＝I₀e^-ua (1) ただし、I₀、I₁、及びａは前述のように定着さ
れたものであり、又ｕは吸収体Ａのエネルギー依
存吸収関数である。

今度は吸収体Ａを厚さｂの第２の吸収体で置き
換えると、その吸収体の向こう側における放射線
の強さはもちろん別の値I₂となる。すなわち、 I₂＝I₀e^-ub (2) ここで式(1)を式(2)で割ると、 I₁／I₂＝e^-u(a-b) (3) 二つの吸収体の厚さの差（ａ−ｂ）は一定であ
るので、I₁対I₂の比は吸収体Ａ構成している特定
の物質の吸収関数ｕの値にのみ依存する。しかし
ながら、この吸収関数の値は入射放射線のエネル
ギーにのみ、従つて放射線源に加えられた電圧に
機能上依存するものと考えてよい。それゆえ、I₁
対I₂の比（以下、ｒと呼ぶ）は、放射線源に加え
らてた電圧を表示するものであつて、これに直接
相関させることができる。

これはもちろん関連のプロセスの著しく簡単に
した論じ方であり、主として吸収関数とビームの
強さ及びエネルギーとの間の関係が十分には定義
されていないために、すべての情況下でのシステ
ム動作を完全に正確に反映しているものではな
い。しかしながら、吸収関数の値が関心のあるエ
ネルギー範囲において急速に変化する吸収体を使
用すれば、これらの複雑な事項は大部分無視する
ことができる。

この一般的な原理こそは、第２図の放射線エネ
ルギー測定装置に利用されているものである。

次の説明はＸ線の解析及びそれの関連の源に大
いに関係するであろうが、しかし、その測定装置
は多くの異なつた形式の電離線の解析にも使用す
ることができる。

第２図においては放射線源ＳがＸ線管XSとし
て図示されており、これの両端には高電圧供給装
置HVによつて高電圧信号が加えられている。Ｘ
線管XSはＸ線のビームI₀を放射する。このビー
ムの経路には二つの異なつた厚さａ及びｂを有す
る吸収体Ａが装入されている。吸収体Ａの二つの
厚さａ及びｂを透過した放射線の強さはそれぞれ
検出器１０及び１２によつて検出される。これら
の検出器はそれぞれヨウ化セシウムのシンチレー
シヨン結晶がホトダイオードに光学的に結合され
ている形式のものであることが望ましいであろう
が、その他の形式の検出器ももちろん使用するこ
とができると思われる。これらの検出器はこれに
入射する放射線の強さに直接関係した値のアナロ
グ出力信号を与える。従つて、それらの値を測定
してこれの比を求めることによつて、高電圧供給
装置HVによつてＸ線管XSに加えられた電圧に
直接相関させることができる比ｒを導き出すこと
ができる。更に、検出器出力に応答する装置がそ
れによつて与えられるピーク信号に応答する場合
には、これらのピーク値の比はkVp、すなわちＸ
線管XSに加えられたピーク電圧に対応する。前
に述べたように、このkVp値は広く使用されてお
り、関心の高いものである。

この発明の第２図の構成例においては、二つの
検出器の出力はデイジタル化されてデイジタル信
号の流れを形成し、その値がデイジタル記憶装置
に記憶され、そしてこの記憶された値が処理装置
によつて処理されてそのピーク値の比が決定され
かつこの比からＸ線源XSに加えられたkVpが決
定されるようになる。それゆえ第２図の装置には
検出器装置の出力をデイジタル化するための回路
１６、及びこのデイジタル値を記憶しかつ処理す
るためのマイクロコンピユータ１８がある。

回路１６の目的は検出器１０及び１２のアナロ
グ出力を周期的に標本化してデイジタル化するこ
とであり、この目的のために、アナログ・デイジ
タル変換器２６が設けられている。二つの検出器
１０及び１２の出力は交互にアナログ・デイジタ
ル変換器２６に供給されてこれによつてデイジタ
ル化される。検出器１０及び１２の出力は標本化
保持回路２８及び３０並びに伝送ゲート３２及び
３４に接続されている。標本化・保持回路２８及
び３０はそれぞれの関連の検出器の出力を標本化
してこの標本化された値を一定レベルに維持する
が、その間変換器２６はそのレベルを対応するデ
イジタル信号に変換中である。他方、伝送ゲート
はこれらの標本化されて保持された信号を一時に
一つの変換器２６に通すために設けられている。

標本化・保持回路及び伝送ゲートの動作は、出
力端子に16kHzの方形波信号を与えるクロツク発
生回路３６によつて制御される。分周回路３８は
このクロツク信号を２分の１に分周して、その出
力端子に8kHzの方形波信号を与える。この8kHz
信号は二つの標本化・保持回路２８及び３０の制
御入力に直接供給される。

図示した構成例においては、標本化・保持回路
２８及び３０は8kHzクロツク信号の名前縁でト
リガされてそれらの対応する検出器出力を標本化
して保持する。すなわち、クロツクの名前縁で、
標本化・保持回路２８及び３０はそれぞれ、対応
する検出器の出力を標本化し、この標本化された
アナログ信号をそれの出力に転送して、次のクロ
ツク前縁が現れるまでその検出をその値に保持す
る。従つて、二つの検出器１０及び１２の出力は
二つの標本化・保持回路２８及び３０によつて同
時に標本化される。

伝送ゲート３２及び３４は、その制御入力に加
えられた論理信号が低い論理レベルにあるときに
は常に「開いて」おりかつ又この制御信号が高い
論理レベルを有するときには常に「閉じて」いる
ような普通の固体素子アナログスイツチであるこ
とが望ましいであろう。8kHzクロツク信号は伝
送ゲート３２に直接加えられており、従つて標本
化・保持回路２８の出力はクロツク信号が高論理
レベルにある期間中変換器２６の入力に接続され
る。これに反して、伝送ゲート３４には論理否定
回路４０を介して8kHzクロツク信号が加えられ
ている。標本化・保持回路３０の出力はそれゆえ
8kHzクロツク信号が低論理レベルにある期間中
変換器２６の入力に接続される。このために、標
本化・保持回路２８及び３０の出力は交互にクロ
ツク半サイクル時に変換器２６の入力に接続され
る。

アナログ・デイジタル変換器２６は、伝送ゲー
ト及び標本化・保持回路のスイツチングと関係し
た過渡現象が安定してしまうようにクロツクサイ
クル中点においてトリガされてそのときその入力
にある信号をデイジタル値に変換する。この「変
換」信号はクロツク３６の出力に与えられた16k
Hzクロツクを微分パルス形成回路４２によつて微
分しかつ形成することによつて得られる。回路４
２は16kHzクロツク信号の後縁に応答して短いパ
ルスを発生し、このパルスが変換器２６のトリガ
すなわち「変換」入力に加えられる。この変換パ
ルスを受けると、アナログ・デイジタル変換器は
そのときの入力に現れるアナログ値を対応するデ
イジタルワードに変換する。このデイタルワード
はそこでその出力に現れる。このようにして、ア
ナログデイジタル変換器２６はその出力に一連の
デイジタルワードを与えるが、これらのワードは
交互に検出器１０及び１２の出力の値を表してい
る。

変換器２６の出力は入力ポート４４を介してマ
イクロコンピユータ１８と接続される。この入力
ポートはシステム母線４６と連絡しており、この
母線には通常のようにアドレス母線、データ母線
及び制御母線が含まれている。このシステム母線
は、マイクロプロセツサ４８、記憶装置５０、及
びキーボード・表示装置・インターフエース回路
５２を含むマイクロコンピユータ１８の種々の素
子を相互に接続している。

マイクロプロセツサ４８は読取り専用記憶装置
（ROM）として知られている記憶装置５０の固
定部分内に記憶されたプログラムの制御の下で動
作する。一般に、マイクロコンピユータ１８の機
能は変換器２６によつて与えられたデイジタル値
を記憶装置５０のランダムアクセス部分
（RAM）に記憶し、次に記憶されたデータを処
理してkVp及びその他の事項を決定することであ
る。

Ｘ線管XSのkVp出力を決定したい場合には、
操作員がキーボード５２上の適当なボタンを押す
ことによつてマイクロコンピユータ１８を始動さ
せると、マイクロプロセツサ４８が走査を開始す
る。このようにして始動した後、マイクロプロセ
ツサはデイジタル化回路１６によつて与えられる
べき「開始」信号を持つことになる。この「開
始」信号は、Ｘ線管が励振されたときを決定する
ために標本化・保持回路３０の出力を監視してい
る比較器５４が得られる。更に明確には、比較器
５４は、標本化・保持回路３０の出力を、＋Ｖ電
力供給装置の両端に直列に接続された抵抗５８及
び６０からなる分圧器によつて与えられる固定基
準電圧と比較する。この比較器は標本化・保持回
路３０の出力がこの基準電圧を越えるとその出力
に低論理レベルを与える。比較器５４の出力はマ
イクロプロセツサ４８の「割込み」入力に接続さ
れている。

マイクロプロセツサ４８はこの低い「割込み」
信号に応答してデータの収集を開始する。その後
アナログ・デイジタル変換器２６が（やはりマイ
クロプロセツサ４８の割込み入力に接続されてい
るEOC制御線６２上に低論理レベル信号を与え
ることによつて）アナログ値のデイジタル値への
変換の完了したことをマイクロプロセツサ４８に
知らせるたびごとに、マイクロプロセツサは変換
器２６の出力を読み取つてそのデイジタルワード
を記憶装置５０のRAM部分にロードする。これ
を行うために、マイクロプロセツサ４８は入力ポ
ート４４を使用可能にしてこれにより変換器２６
の出力をシステム母線４６に接続する。マイクロ
プロセツサは次に変換器２６の出力を読み取つて
これを記憶装置５０のランダムアクセス記憶装置
（RAM）内の記憶位置内に記憶する。変換器２
６の順次の出力は記憶装置５０内の順次の記憶位
置に記憶される。データの収集はこのようにし
て、指定された数のデータ点が収集されたこと
（すなち、指定された数のデイジタル値が記憶装
置に記憶されたこと）をマイクロプロセツサ４８
が決定するまで続けられる。

収集されたデータは第４図に例示されたものの
ような形態を有するであろう。第４図において波
形D₁は検出器１０の出力を表し、又波形D₂は検
出器１２の出力を表す（これは拡大されて、すな
わち４倍にされて示されている）。これらの波形
から明らかなように、収集されたデイジタルデー
タは対応するアナログ信号を有効に変換するのに
必要な時間量よりはるかに短い期間において収集
された多数のデータ点を実質上表示している。こ
れらのデイジタル信号はそれゆえ完全にアナログ
検出器出力信号の特徴を表している。

データ収集ルーチンを完了した後、マイクロプ
ロセツサはデータの解析を続ける。マイクロプロ
セツサはまずデータの走査して、波形D₁のデー
タ点のそれぞれを波形D₂の対応するデータ点で
除算する。これによつて得られた一連の比の値は
記憶装置のRAM部分の別々の順次のブロツク内
に記憶される。これらの値によつて表された波形
「ｒ」は第４図に表示されている。マイクロプロ
セツサは次に比のデータ点を走査して最大値を測
定する。前に述べたように、この最大の比の値は
高電圧供給装置HVによつてＸ線管XSに加えら
れたkVp直接相関し得るものである。実際第４図
の波形ｒは放射線エネルギーの波形、従つて高電
圧供給装置HVによつてＸ線管XSに加えられた
電圧の波形とすばらしく一致する。

実際の最大比値は一般に、記憶された比値の最
初のピークにおいて発生するものである。これは
明らかに高電圧供給装置が最初にオンになつたと
きに瞬時的に定常状態の動作電圧を「行き過ぎ
る」傾向があることに起因する。この「行過ぎ」
ピークは定常状態のkVpを正確に表していないの
で、マイクロプロセツサ４８は記憶されたｒ値に
おける最初のいくつかのピークを無視するように
プログラムされている。実際、マイクロプロセツ
サは、特定のピーク（例えば、記憶されたｒ値に
おける第３ピーク）の値を測定してそのピーク値
（又は任意の一群の選択されたピーク値）をkVp
決定のために利用するようにプログラムすればよ
い。

この最大比値は、やはり記憶装置５０内に記憶
された探索表を用いて対応するkVp値と相関させ
ることができる。この探索表はkVp値が知られて
いる校正された放射線源の出力を監視するために
第２図の装置を利用して経験的に導き出されてい
るものである。所望ならば、この探索表には比較
的少数のkVp値及びその関連のｒ値を含ませて、
探索表のデータ点間を自動的に補間するようにマ
イクロプロセツサをプログラムしてもよい。

しかしながら、現在望ましいのは、その代りに
数学的関係式（例えば、一般化された双曲線のよ
うな）を記憶装置内に記憶して、その関係式を選
択してｒ値を対応するkVp値に数学的に関係させ
るようにし、その結果単にそのｒ値を関係式に入
れることによつて対応するkVp値を決定すること
ができるようにすることである。この関係式の係
数は一般化された関係式の係数を、やはり前述の
ようにして校正済み放射線源から得られた経験的
なデータと合わせることによつて決定されたもの
である。

この係数はもちろん使用されている吸収体の厚
さ及び材質に依存する。異なつた情況下では異な
つた吸収体対を使用して広範囲のＸ線エネルギー
レベルについて装置を使用することができるよう
にすることが一般に望ましいであろう。異なつた
組の吸収体はそれぞれ特有の関連した組の係数を
もつているので、どの組の係数が使用されている
かについてマイクロプロセツサに知らせるために
ある種の装置を設けなければならない。

これは、使用中の吸収体対を識別するコードを
操作員がキーボード５２により入力するか、又は
吸収体対自体を符号化しておいて吸収体対が装置
に設置されるとどの吸収体対が設置されたかを識
別するコードをマイクロコンピユータ１８に自動
的に入力するようにすることによつて行うことが
できる。このいずれの場合においても、マイクロ
プロセツサはコードを利用して関係の係数を探
し、この係数、ｒ値及び記憶された関数関係式に
基づいてkVp値を計算することになる。これによ
つて得られたkVp値は回路５２に出力されて操作
員に表示されることになる。

記憶装置５０内に記憶されたｒ波形は高電圧供
給装置HVによつてＸ線管XSに加えられた電圧
と対応するので、マイクロプロセツサは又単にこ
のｒ波形又は検出器出力波形を解析することによ
つて高電圧供給装置の特性解析を与えることがで
きる。例えば、マイクロプロセツサは既知の期間
内に発生するピークの数を数えて、Ｘ線管XSに
高電圧信号を発生させている電力線の相の数を表
示することができる。同様にマイクロプロセツサ
はこのｒ波形のピークと谷との差を測定してこれ
をキロボルト電圧の読みと相関させることによつ
てこの電圧信号における「リプル」の大きさを測
定することができる。

このような特性診断の外に、記憶装置内の波形
の記憶を用いて、マイクロプロセツサはkVp以外
の放射線の特性、例えば平均放射強さなどを測定
することができる。更に、これらの測定機能の二
つ以上を行うために操作員がＸ線装置で複数回
「撮影」（露出）を行うことは必要でなく、同じ記
憶データを異なつた測定機能のすべてに使用する
ことができる。

このように、二つの検出器１０及び１２の出力
デイジタル化して記憶することによつて装置の診
断及び測定能力が広範囲に適用されるようにな
る。

これまでの発明を望ましい構成例について説明
してきたけれども、特許請求の範囲において規定
されたところのこの発明の精神及び範囲から逸脱
することなく構成部分の種々の再配置及び改変を
行うことができることは察知されるであろう。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの発明の原理を理解するのに有効な
源及び吸収体の概略的説明図である。第２図はこ
の発明の教示による放射線エネルギー測定装置の
概略的構成図である。第３図は第２図の装置の動
作を理解するのに有効なタイミング図である。第
４図は第２図の装置によつて得られたデータのグ
ラフ表示である。 これらの図面において、XSはＸ線管（放射線
源）、Ａは吸収体、１０及び１２は検出器、１６
はデイジタル化回路、１８はマイクロコンピユー
タ、４８はマイクロプロセツサ、５０は記憶装置
を示す。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １ 出力放射線エネルギーが時間とともに周期的
   に変化する放射線源によつて放射される放射線の
   ピークエネルギーを決定するための放射線エネル
   ギー測定装置において、 前記放射線によつて放射される放射線の経路に
   配置され、前記放射線の強度に対して既知の関係
   で変化する値を有する第１及び第２のアナログ信
   号をそれぞれ生じる少なくとも第１及び第２の放
   射線検出手段、 それぞれが前記放射線の対応する部分を吸収す
   るための放射線吸収手段であつて、該吸収手段の
   それぞれは前記放射線源と前記第１及び第２の検
   出手段の対応するものとの間に配置され、前記吸
   収される放射線部分は放射線のエネルギーに応じ
   て変化し、かつ該吸収手段はそれぞれ異なる放射
   線吸収値を有している少なくとも第１及び第２の
   放射線吸収手段、 前記第１及び第２のアナログ信号に応答して、
   放射線レベルが実質的に変化するのに必要とされ
   る時間よりも短い規則的な時間間隔で前記信号を
   サンプリングしかつデジタル化し、それにより前
   記第１及び第２のアナログ信号の一方の対応する
   ものを表すとともに該アナログ信号に応じて変化
   するデジタル値を有する第１及び第２のデジタル
   信号を発生する第１及び第２のデジタル化手段、 前記放射エネルギーの複数の周期に渡つて得ら
   れた前記デジタル信号のデジタル値を記憶するた
   めのデジタル記憶手段、及び 前記記憶されたデジタル値をデジタル的に処理
   して前記放射線のピークエネルギーレベルを決定
   する処理手段、 とを具備していることを特徴とする放射線エネル
   ギー測定装置。 ２ 前記記憶されたデジタル値を処理する処理手
   段は、前記第１のデジタル信号のそれぞれを前記
   第２のデジタル信号の対応するもので除算して前
   記出力放射線エネルギーの前記時間変化を表示し
   かつこの時間変化とともに変化する値を有する比
   デジタル信号を発生する除算手段、及び該比デジ
   タル信号を解析して前記出力放射線エネルギーを
   決定する解析手段とから構成されることを特徴と
   する特許請求の範囲第１項記載の装置。 ３ 前記放射線源は、高電圧電気信号が供給され
   るＸ線管で構成され、該高電圧電気信号のkVpが
   前記放射線エネルギーのピークを決定しており、
   かつ前記比デジタル信号を解析する解析手段は前
   記比デジタル信号からkVpを決定する手段で構成
   されている事を特徴とする特許請求の範囲第２項
   記載の装置。 ４ 前記処理手段は、プログラム式コンピユータ
   手段で構成されており、該コンピユータ手段は除
   算のための前記除算手段としてかつ解析のための
   前記解析手段として機能するようにプログラムさ
   れていることを特徴とする特許請求の範囲第２項
   記載の装置。 ５ 前記放射線源は、高電圧電気信号が供給され
   るＸ線管で構成され、該高電圧電気信号の大きさ
   は前記出力放射線のエネルギーに直接関連してお
   り、前記比デジタル信号を解析する前記解析手段
   は前記比デジタル信号の対応する特性を解析する
   ことによつて前記高電圧電気信号の特性を解析す
   る手段で構成されていることを特徴とする特許請
   求の範囲第２項記載の装置。 ６ 出力放射線エネルギーが時間とともに周期的
   に変化する放射線源によつて放射される放射線の
   ピークエネルギーを決定するための放射線エネル
   ギー測定装置において、 前記放射線によつて放射される放射線の経路に
   配置され、前記放射線の強度に対して既知の関係
   で変化する値を有する第１及び第２のアナログ信
   号をそれぞれ生じる少なくとも第１及び第２の放
   射線検出手段、 それぞれが前記放射線の対応する部分を吸収す
   るための放射線吸収手段であつて、該吸収手段の
   それぞれは前記放射線源と前記第１及び第２の検
   出手段の対応するものとの間に配置され、前記吸
   収される放射線部分は放射線のエネルギーに応じ
   て変化し、かつ該吸収手段はそれぞれ異なる放射
   線吸収値を有している少なくとも第１及び第２の
   放射線吸収手段、 前記第１及び第２のアナログ信号に応答して、
   放射線レベルが実質的に変化するのに必要とされ
   る時間よりも短い規則的な時間間隔で前記信号を
   サンプリングしかつデジタル化し、それにより前
   記第１及び第２のアナログ信号の一方の対応する
   ものを表すとともに該アナログ信号に応じて変化
   するデジタル値を有する第１及び第２のデジタル
   信号を発生する第１及び第２のデジタル化手段、 前記デジタル信号のそれぞれデジタル値を記憶
   するためのデジタル記憶手段、及び 前記記憶されたデジタル値を処理し、２つのデ
   ジタル信号の比の値の最初に現れるピークの後に
   生じるピーク値の比の値を発生する処理手段、 とを具備していることを特徴とする放射線エネル
   ギー測定装置。