JPH03283647A - リードフレームおよびその製造方法 - Google Patents
リードフレームおよびその製造方法Info
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- JPH03283647A JPH03283647A JP8538490A JP8538490A JPH03283647A JP H03283647 A JPH03283647 A JP H03283647A JP 8538490 A JP8538490 A JP 8538490A JP 8538490 A JP8538490 A JP 8538490A JP H03283647 A JPH03283647 A JP H03283647A
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Abstract
め要約のデータは記録されません。
Description
フレームに関する。
ォトエツチング法またはプレス加工のいずれかの方法に
よって、0 、 25 msあるいは0゜15mmの板
厚の金属条材の不要部分を除去することによって形状加
工したのち、所定部分にめっきを行うめっき工程、テー
プを貼着しインナーリード相互間を固定する固定工程等
を経て形成される。
、チップ面積が増大すると共にリードピン数が増加する
ものの、パッケージは従来通りかもしくは小型化の傾向
にある。
加すれば、当然ながらインナーリードの幅および隣接す
るインナーリードとの間隔は狭くなる。このため、強度
の低下によるインナーリードの疫形およびその変形によ
るインナーリード間の短絡等の不良が問題となっている
。
な面からリード間隔りと板厚TはD≧Tの関係を持たせ
るのが望ましいことがで良く知られている。
であり、リード間隔が板厚以下となり、さらにリード幅
も微細なものが要求されるようになってきている。この
ように、板厚以下であるようなリード間隔のプレス打ち
抜きに際しては、押さえ面積が狭くなり、抑圧が低下し
てインナーリードおよびアウターリードに捩じれが働き
、残留応力が滞留する。そしてこの傾向は、D<Tの関
係とリード幅とが狭くなるとともに増大する。
経ると残留応力の影響を受けてリードの変形やより等が
発生し、上述したような強度の低下のみならず、変形が
生じ昌<、短絡等の不良が生じおいという問題があった
。
大およびリード幅が狭くなると、アンダカット現象の影
響が顕著となり、寸法精度および強度の低下が問題とな
る。この現象は、加工深さと共に増大し、腐蝕係数をF
1深さをD1開孔幅をW1加工幅(リード幅)をWとし
たとき、これらの間に次のような関係がある事が知られ
ている。
ましいことがわかる。しかしながら、板厚を小さくした
場合、機械的強度が小さくなり、枠部で支持も困難とな
る。このため工程間および工程中における搬送や位置決
めに際して基準ピンの挿入、抜き出し等で折れや曲がり
等の損傷が生し昌くリードフレームの歩留まりゃ信頼性
を低下させるという問題があった。
るように、インナーリード間をプレス加工した後にコイ
ニングを施して肉薄部を形成し、さらにコイニングによ
って生じた余肉を除去して肉薄のインナーリードを形成
する方法も提案されている。
トの上昇のみならず、コイニングによって生じた残留応
力によるインナーリード先端の変形に起因するリードフ
レームの信頼性及び歩留まり低下並びに残留歪を除去す
るための熱処理を必要とする等の問題がある。
リード先端や゛ト導体素子搭載部には一般的に貴金属を
めっきした構造がとられることが多い。
の変形を生したり、インナーリード先端部の側面にも銀
(Ag)などのめっき金属が付着し、めっき領域とパッ
ケージラインとの距離が短いために、実装後の半導体装
置においてマイグレーションが発生し、隣接するインナ
ーリード間で短絡を起こしたりし、これが信頼性低下の
原因となっていた。
に金などの貴金属めっきを行った後、成形を行うことに
より、インナーリード側面へのめっき金属の付むを防止
すると共に、めっき工程中のインナーリード先端の変形
を防止するという方法も提案されている。
などには、1″−u+ 4NIけ特性をよくするために
、さらに!l’、Il+めっきを行わねばならない。
めっきが行われるため、その位置ずれの確認か困難であ
り、不良品が多量に発生するという危険があった。
孔を設ける方法も提案されているが、パイロット孔形成
のためのスタンピング工程が必要であり、結果的にスタ
ンピングを2回行う必要があり、生産性が悪いという問
題があった。また、めっき部分をスタンピングするため
、傷が付き昌く、歩留まりが悪いと言う問題もあった。
部を設け、この突出部がインナーリード間に嵌挿される
ようにし、インナーリード側面へのめっき液の侵入を防
止する方法も提案されているが、この方法もインナーリ
ードとマスクの突起部が合致しなかった場合、インナー
リードが変形する上、マスクの老朽化が早く、コストが
高いという問題があった。
隔およびリード幅は小さくなる一方であり、加工精度の
向上が大きな問題となっていた。また、インナーリード
先端の側面へのめっき金属の付着が、半導体装置の信頼
性低下の原因となっていた。
る。しかしながら、リードフレーム全体を肉薄にすると
、全体の強度が低下して搬送、取扱いおよび位置決めの
際にリードフレームの変形、損傷が生じ半導体装置の信
頼性および歩留まり低下の原因となっていた。
レームの所tの強度を維持し、製造が容品で高精度でか
つ信頼性の高いリードフレームを提供することを目的と
する。
ンナーリードがサイドバーよりも肉薄となるように構成
している。
サイドバーよりも肉薄となるように構成している。
域等は肉薄とし、加工精度を良好とする一方、支持強度
の必要なサイドバー領域等は肉厚としているため、高精
度でかつ強度の高いリードフレームを得ることが可能と
なる。
選択的にレジストパターンを形成し、このレジストパタ
ーンから露呈する領域を所定の厚さとなるまでエツチン
グ除去し肉薄部を形・成したのち、この肉薄部内に少な
くともインナーリード部が形成されるように、インナー
リード、アウターリードなどの形状加工を行うようにし
ている。
形成したのち、形状加工を行うようにしているため、外
枠は、肉厚で強固である一方、1法帖度の厳しいインナ
ーリード部等の領域は肉薄部からの加工であり、エツチ
ングによる加工の場合も、プレス加工による打ち抜きの
場合も高精度の微細パターンの形成が可能となる。
グ加工を用いる。
なっているため、アンダーカットが少なく高精度のパタ
ーン形成が可能となる。
ードフレームのパターンを有スるレジストパターンを形
成し、裏面には肉薄部形成領域に開口を有するレジスト
パターンを形成しておき、この状態で両面からエツチン
グを行うようにする。
め、肉薄部の形成と形状加工とが同時に極めて高精度に
行われ得る。
件式を満たすように、出発材料が肉薄となっているため
、捩じれなどの加工応力の少ないリードフレームを得る
ことができ、従って、後続工程における加熱工程を経て
も変形の少ないリードフレームを得ることが可能となる
。
部を互いに連結する連結片を残して形状加工を行った後
、この連結片を除去し、個々のインナーリードに分割す
るようにしている。
の切除に先立ち、インナーリード相互間の位置を絶縁性
部材を用いて固定する固定工程を含むようにしている。
性を高めることが可能となる。
連結片の切除に先立ち、インナーリード先端部にめっき
を行うようにしている。
工程に先立ち、素子搭載領域をはじめインナーリード先
端部に相当する領域にめっきを行うようにしている。こ
れにより、インナーリード側部へのめっき金属の付着を
防止することができるため、インナーリード間隔の減少
やエレクトロマイグレーシランを防止することが可能と
なる。
を有するように加工するのが望ましい。
に形成し、またダムバー、アウターリードをも含むよう
に形成しても良い。
びアウターリード形成領域にPdまたはPd−Niめっ
きを施し、プレス加工によって形状加工をおこなうよう
にすれば、プレス加工のみで完成し、従来のようにめっ
きを行う必要がないため、インナーリード側面へのめつ
き金属の付着もなく、まためっき工程中のインナーリー
ド先端の変形を防止することができる。
に説明する。
フレームは、第1図(a)に平面図、第1図(b)にそ
のA−A断面図、第2図に斜視図を示す如く、パッケー
ジラインPよりも内側を、サボ−1−バー17およびダ
イパッド11を除いて、サイドバーなどの外側領域の肉
厚の1/2程度としたことを特徴とするものである。
12が放射状に配列されたパッケージラインPの内側
領域Q1と、ダムバー13、アウターリード14、サイ
ドパー15.16などの形成された外側領域Q2とから
構成されている。ここでザボートバ−17およびダイパ
ッド11は支持を強固にするために肉厚となるように形
成されている。18はポリイミドテープである。
。
て帯条材料Mのインナーリード12形成領域を除く領域
をレジストパターンRで被覆する。
きだし装置21、間欠送り装置22、巻き取り装置23
を用いてレジストパターン形成装@24内を走行せしめ
ることによって形成する。
ーンRをマスクとし、約1/2の深さまでエツチングし
、肉薄領域R1を形成する。ここでも第4図(b)に示
すようにレジストパターンの形成された帯条材料Mを巻
きだし装置21および巻き取り装置23を用いてエツチ
ング装置25内を走行せしめることによってエツチング
が連続的に施されるようになっている。
、第3図(C)に示すように、リードフレーム111位
の4隅から所望の形状のインナーリード(先端面を除く
)12、ダムバー13、アラターリ−F’ 14の一部
なとの抜き型を具備した金型に装着し、プレス加工を行
なうことにより、第1の打ち抜き領域A1を形成し、イ
ンナーリードの先端面を残してインナーリード部11を
パターニングする。
打ち抜き領域A1に並ぶ次の領域のインナーリード(先
端面を除く)12、ダムバー13、アウターリード14
の一部などの抜き型を具帽した金型に装着し、プレス加
工を行なうことにより、第1の打ち抜き領域A1を形成
し、インナーリードの先端にタイバーTを残してインナ
ーリード部1をバターニングする。
lの打ち抜き領域A1を形成し、インナーリードの先端
にタイバーTを残してインナーリ一ド部12のバターニ
ングを完了する。
テープ18を貼着し、めっき工程を経て3図(「)に示
すように、前記工程で残されたインナーリード端部の第
2の打ち抜き領域A2(キャビティ領域)を打ち抜き、
タイ/(−Tを切除しダイパッド11とインナーリード
先端とを分離し、リードフレームの形状加工が終了する
。
のためのプレス工程の出発材料が肉薄となっているため
、捩じれなどの加工応力の少ないリードフレームを得る
ことができ、従って、後続工程における加熱工程を経て
も変形の少ないリードフレームを得ることが可能となる
。
状加工し、連結片の切除に先立ち、インナーリード相互
間の位置をポリイミドーブを用いて固定する固定工程を
含むようにしているため、リード間隔を良好に維持し、
ボンディング性を高めることが可能となる。
き後、めっきを行うようにしたが、肉薄部形成のための
エツチング工程後、インナーリード間領域の打ち抜き]
二程に先立ち、素子搭載領域をはしめインナーリード先
端線に相当する領域にめっきを行うようにしてもよく、
このようにすることによって、インナーリード側部全体
にわたるめっき金属の付着を防止することができるため
、11法精度の低下、エレクトロマイグレーシジン(銀
の場合)の防止することが完全なものとなる。
びアウターリード形成領域にPdまたはPd−Niめっ
きを施し、プレス加工によって形状加工をおこなうよう
にすれば、プレス加工のみで完成し、従来のようにめっ
きを行う必要がないため、インナーリード側面へのめっ
き金属の付着もなく、まためっき工程中のインナーリー
ド先端の変形を防止することもできる。
加工を行う方法について説明したが、本発明の第2の実
施例として、肉薄部の形成後、エツチングにより形状加
工を行う方法について説明する。
たく同様にして形成するが、ここではアウターリード部
まで肉薄となるように形成している。
されるリードフレームは、第5図(a)に平面図、第5
図(b)にそのA−A断面図、第6図に斜視図を示す如
く、サポートパー17およびグイバッド11形成領域Q
2を除く他の領域Q1を肉厚の1/2程度としたことを
特徴とするものである。
。
、フォトリソ法を用いて帯条材料Mのインナーリード1
2形成領域、アウターリード形成領域14などを除く領
域をレジストパターンRで被■する。
ーンRをマスクとし、約1/2の深さまでエツチングし
、肉薄領域A1を形成する。ここでも第4図(b)に示
すようにレジストパターンの形成された帯条材料Mを巻
きだし装置21および巻き取り装置23を用いてエツチ
ング装置25内を走行せしめることによってエツチング
が連続的に施されるようになっている。
体にインナーリード固定用のポリイミドテープ28を貼
着したのち、フォトリソ法により、レジストパターンを
形成し、これをマスクとして第7図(C)に示すように
、所望の形状のインナーリード12、ダムバー13、ア
ウターリード14などを有するパターンを形成する。
)および第6図に示したリードフレームが完成する(第
5図および第6図ではポリイミドテープ28は省略した
)。
グにより形状加工がなされるため、アンダーカットが少
なく高精度のパターン形成が可能となる。
んどなく高精度のパターン形成が可能とうなる。
ディング、樹脂封止などの工程を経て半導体素子として
完成されるが、極めて信頼性の高いものとなっている。
表面および裏面にパラジウムめっきを施すようにしても
よい。これにより、側面へのめっきもれもなく良好なめ
っき領域を形成することができまた、スタンピング後に
めっきを行う必要がないため、めっき装置への搬送中に
インナーリード先端の変形を生じたりすることもなく信
頼性の高いリードフレームを得ることができる。また、
パラジウムめっきの存在により半田付着性が極めて良好
である上、インナーリード先端部側面はめっき金属の付
着しない状態で、得ることができ、11法精度を良好に
維持することができる。まためっき層に銀を用いた場合
に起こりやすいマイグレーションの発生もこのようにす
ることによって防11できる。
リイミド樹脂を貼着したが、一部でもよく、また、他の
固定手段を用いても良いことはいうまでもない。
状加工を別々に行う方法について説明したが、肉薄部の
形成と形状加工を同時に行うようにしてもよいことはい
うまでもない。次に実施例3としてこの例について説明
する。
り形状加工を行う方法について説明したが、本発明の第
3の実施例として、肉薄部の形成と形状加工とを同時に
行う方法について説明する。
されるリードフレームは、第8図に平面図、第9図にそ
のA−A断面図を示す如く、インナーリード部を両面エ
ツチングにより肉薄としたことを特徴とするものである
。
。
いて帯条材料M裏面のインナーリード12形成領域を除
く領域をレジストパターンR1で被塑すると共に、帯条
材料M表面に所望の形状のインナーリード12、ダムバ
ー13、アウターリード14などを有するレジストパタ
ーンR2を形成する。
・パターンR1,R2をマスクとしてエツチング液に浸
漬し、両面からエツチングし、所望の形状の肉薄のイン
ナーリード12、ダムバー13、肉厚のアウターリード
14などを有するパターンを形成する。ここでも第4図
(b)に示したようにレジストパターンの形成された帯
条材料Mを巻きたし装置21および巻き取り装FI12
3を用いてエツチング装置25内を走行せしめることに
よってエツチングが連続的に施されるようになっている
。
したリードフレームが完成する。
グが進行し肉薄部の形成と形状加工とがエツチングによ
り同時に行われるため、アンダーカットが少なく高精度
のパターン形成が可能となる。
応力がほとんどなく高精度のパターン形成が可能とみな
る。
ディング、樹脂封止などの工程を経て半導体素子として
完成されるが、極めて信頼性の高いものとなっている。
れば、外枠は、肉厚で強固である一方、寸法精度の厳し
いインナーリード部等の領域は肉薄部の加工であり、エ
ツチングによる加工の場合も、プレス加工による打ち抜
きの場合も高精度で信頼性の高い微細パターンの形成が
可能となる。
レームを示す図、第3図(a)乃至第3図(「)す は
同リードフレームの製造工程を示す図、第4図(a)お
よび第4図(b)はそれぞれリードフレームの製造装置
を示す図、第5図および第6図は本発明の第2の実施例
のリードフレームを示す図、第7図(a)乃至第7図(
e)は同リードフレームの製造工程を示す断面図、第8
図および第9図は本発明の第3の実施例のリードフレー
ムを示す図、第10図(a)および第10図(I))は
同リードフレームの製造工程を示す断面図である。 11・・・ダイパッド、12・・・インナーリード、1
3・・・ダムバー 14・・・アウターリード、15.
16・・・勺イドパー 17・・・サポートパー 18
.28・・・ポリイミドテープ、T・・・タイバー、M
・・・帯条材料521・・・巻きだし装置、22・・・
間欠送り装置、23・・巻き取り装置、24・・・レジ
ストパターン形成装置、25・・・エツチング装置、R
,R1,R2・・・レジストパターン。 第 1図 第 図 (その1) 第 3 図 (その2) 2 第3図侍の3) 4
Claims (2)
- (1)半導体素子搭載部を囲むように配設された複数の
インナーリードと、 前記インナーリードにそれぞれ連設された アウターリードと、 前記アウターリードを側縁から支持するサ イドバーとを含むリードフレームにおいて、少なくとも
前記インナーリードがサイドバ ーよりも肉薄となるように構成されていることを特徴と
するリードフレーム。 - (2)前記インナーリードおよびアウターリードが、サ
イドバーよりも肉薄となるように構成されていることを
特徴とする請求項(1)記載のリードフレーム。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2085384A JP2524645B2 (ja) | 1990-03-30 | 1990-03-30 | リ―ドフレ―ムおよびその製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2085384A JP2524645B2 (ja) | 1990-03-30 | 1990-03-30 | リ―ドフレ―ムおよびその製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03283647A true JPH03283647A (ja) | 1991-12-13 |
JP2524645B2 JP2524645B2 (ja) | 1996-08-14 |
Family
ID=13857246
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2085384A Expired - Lifetime JP2524645B2 (ja) | 1990-03-30 | 1990-03-30 | リ―ドフレ―ムおよびその製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2524645B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2016025244A (ja) * | 2014-07-22 | 2016-02-08 | Shマテリアル株式会社 | リードフレーム及びその製造方法 |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4564875B2 (ja) * | 2005-04-05 | 2010-10-20 | 大阪瓦斯株式会社 | 活管分岐用継手 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63137464A (ja) * | 1986-11-28 | 1988-06-09 | Nec Corp | 半導体装置用リ−ドフレ−ム |
JPH01187845A (ja) * | 1988-01-21 | 1989-07-27 | Nec Corp | 半導体装置 |
-
1990
- 1990-03-30 JP JP2085384A patent/JP2524645B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (2)
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---|---|---|---|---|
JPS63137464A (ja) * | 1986-11-28 | 1988-06-09 | Nec Corp | 半導体装置用リ−ドフレ−ム |
JPH01187845A (ja) * | 1988-01-21 | 1989-07-27 | Nec Corp | 半導体装置 |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP2016025244A (ja) * | 2014-07-22 | 2016-02-08 | Shマテリアル株式会社 | リードフレーム及びその製造方法 |
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JP2524645B2 (ja) | 1996-08-14 |
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