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JPH03283195A - Sample and hold circuit - Google Patents

Sample and hold circuit

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Publication number
JPH03283195A
JPH03283195A JP2084009A JP8400990A JPH03283195A JP H03283195 A JPH03283195 A JP H03283195A JP 2084009 A JP2084009 A JP 2084009A JP 8400990 A JP8400990 A JP 8400990A JP H03283195 A JPH03283195 A JP H03283195A
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JP
Japan
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transistor
circuit
sample
hold
current mirror
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Application number
JP2084009A
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Japanese (ja)
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JP2522083B2 (en
Inventor
Kazuya Sone
曽根 一也
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NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
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Publication of JPH03283195A publication Critical patent/JPH03283195A/en
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Abstract

PURPOSE:To attain a high speed operation by feeding back the output of an emitter follower to the base of a second transistor in a first differential circuit through a first resistance and inputting an input signal through a second resistance. CONSTITUTION:A circuit operates as an inversion amplifier by a pair of differential transistors 1 and 2, a current mirror circuit consisting of transistors 8 and 9, transistors 3, 10, 4 and 7, constant current sources 31, 32 and 33 and resistances 50 and 51 both of which respectively have resistance values Rs and Rf. Namely, the output of the emitter follower is fed back to the base of the second transistor 8 of the first differential circuit 1 through the first resistance 50 and the input signal is inputted through the second resistance 52. Thus, the high speed operation can stably be executed.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明はサンプルホールド回路に係り、特にアナログ信
号の瞬時値を標本化して保持する機能を有し、高速のア
ナログ信号を取り扱い、集積回路化に適したサンプルホ
ールド回路に関する。
[Detailed Description of the Invention] [Industrial Application Field] The present invention relates to a sample and hold circuit, and in particular has a function of sampling and holding the instantaneous value of an analog signal, handles high-speed analog signals, and is suitable for integrated circuits. Regarding sample and hold circuits suitable for.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

従来のこの種のサンプルホールド回路として、第4図に
示すような回路がある。
As a conventional sample-and-hold circuit of this type, there is a circuit as shown in FIG.

第4図において、本考案サンプルホールド回路は、トラ
ンジスタ1乃至8と、ダイオード21乃至24と、定電
流源31乃至34と、入力端子11と、出力端子12と
、制御入力端子13.14とを備えている。
In FIG. 4, the sample and hold circuit of the present invention includes transistors 1 to 8, diodes 21 to 24, constant current sources 31 to 34, input terminal 11, output terminal 12, and control input terminals 13 and 14. We are prepared.

いまサンプルホールド制御入力端子13および14(通
常、入力端子14は入力端子13に対して位相が180
°異なる矩形波の反転入力が入力される)の制御入力信
号(SH,SH)が、それぞれハイレベル状態“H” 
ロウレベル状態“L” (以下、単に“H”および“L
”と示す)にある場合には、差動トランジスタ対4,5
および差動トランジスタ対6,7のうち、トランジスタ
4,7が共に導通状態、トランジスタ5,6は共にしゃ
断状態となり、本回路の状態はサンプルモードとなる。
Sample and hold control input terminals 13 and 14 (normally, input terminal 14 has a phase of 180° with respect to input terminal 13)
°The control input signals (SH, SH) of the inverted inputs of different rectangular waves are each in a high level state “H”.
Low level state “L” (hereinafter simply referred to as “H” and “L”)
”), the differential transistor pair 4, 5
Of the differential transistor pair 6, 7, transistors 4, 7 are both in a conductive state, transistors 5, 6 are both in a cut-off state, and the state of this circuit is in a sample mode.

即ち、入力端子11から入力されるアナログ入力信号V
lnは、トランジスタ1のベースに印加され、トランジ
スタ1はエミッタフォロワ動作をする。トランジスタ1
のエミッタに接続されたダイオード21,22.23は
、レベルシフト回路として動作し、その電流は定電流源
34により供給される。トランジスタ1のベース・エミ
ッタ間電圧をVBEI、ダイオード21゜22.23の
順方向電圧Vつをすべて等しいと仮定し、トランジスタ
20ベースに印加される電圧は〔V +、、¥sz+ 
+3 Vn〕とナル。定電流源34の電流とトランジス
タ1の動作電流とを加え合わせた電流は、トランジスタ
4を介して、定電流源31の電流となる。エミッタにホ
ールド容量40が接続されエミッタフォロワ動作をする
トランジスタ2は上記〔vlfi−VBE1+3VD〕
の電圧ヲベースに受け容量40を充電する。この時のト
ランジスタ20ベース・エミッタ間電圧をvB8□とお
くと容量40の電位ハ〔V +、、(VBx+ + V
nl2)+3VD〕となり、入力電圧■、に対して電位
がC3VD  (VBEI1 +VBE2))だけ、レ
ベルシフトされて追従する。
That is, the analog input signal V input from the input terminal 11
ln is applied to the base of transistor 1, and transistor 1 operates as an emitter follower. transistor 1
The diodes 21, 22, and 23 connected to the emitters operate as a level shift circuit, and the current is supplied by a constant current source 34. Assuming that the base-emitter voltage of transistor 1 is VBEI and the forward voltages V of diodes 21, 22, and 23 are all equal, the voltage applied to the base of transistor 20 is [V +,,\sz+
+3 Vn] and Naru. A current obtained by adding the current of the constant current source 34 and the operating current of the transistor 1 becomes the current of the constant current source 31 via the transistor 4. The transistor 2 with a hold capacitor 40 connected to its emitter and operating as an emitter follower is shown above [vlfi-VBE1+3VD]
The receiving capacity 40 is charged based on the voltage of . If the voltage between the base and emitter of the transistor 20 at this time is vB8□, the potential of the capacitor 40 becomes [V +, (VBx+ + V
nl2) +3VD], and the potential follows the input voltage (2) by being level-shifted by C3VD (VBEI1 +VBE2)).

さらに、第4図に示すように、トランジスタ2のエミッ
タにベースが接続されたトランジスタ8、および定電流
33とからなるエミッタフォロワ回路を接続し、トラン
ジスタ8のエミッタ、即ち出力端子2より出力信号v0
を取り出すようにした場合には、トランジスタ8のベー
ス・エミッタ間電圧がVBxa’)時、CCV 、 =
 V +−(VBIII + VB+!2 +VBxi
) + 3 Vnlとなる。ここで、トランジスタ1.
2,8、ダイオード21,22,23の各素子の電流密
度が等しくなるよう設定すると、〔Vお、十Vnz2+
Vnxs#3 Vn)とおくことができ、その結果CV
、、均Vゎ〕とすることが可能となる。即ち、サンプル
モードにおいては出力信号V0は入力信号V;。に等し
く追従することになる。
Further, as shown in FIG. 4, an emitter follower circuit consisting of a transistor 8 whose base is connected to the emitter of the transistor 2 and a constant current 33 is connected, and an output signal v0 is output from the emitter of the transistor 8, that is, the output terminal 2.
When the base-emitter voltage of transistor 8 is VBxa'), CCV, =
V + - (VBIII + VB+!2 +VBxi
) + 3 Vnl. Here, transistor 1.
If the current densities of the elements 2, 8 and diodes 21, 22, and 23 are set to be equal, [V, 10Vnz2+
Vnxs#3 Vn), resulting in CV
,, average Vゎ]. That is, in the sample mode, the output signal V0 is the input signal V; will follow equally.

次に、信号SH,SRがそれぞれ、′L”“■”の場合
、トランジスタ4,7が共にしゃ断状態、少うンジスタ
5,6が共に導通状態となり、本回路はホールドモード
となる。即ち、トランジスタ7.2がしゃ断状態となる
ため、容量4oの充電動作は停止され、ベースが容量4
0の接地側でない一端に接続されたトランジスタ3が動
作を開始して、容量40の電位〔V 、、+ Vゎ〕の
値は保持される。この時、定電流源31.32の電流は
、ダイオード24、およびトランジスタ5,6を介して
、定電流源34からと、トランジスタ3゜5.6を介し
て、電源線15より供給される。以上に述べるように、
サンプルモードにおいては、入力信号Vいに出力信号v
0が追従(v、= v +n)し、ホールドモードに応
対が切り換わると、入力信号V1..の瞬時値を保持す
るというサンプルホールド回路の機能が実行される。
Next, when the signals SH and SR are 'L' and '■', both the transistors 4 and 7 are cut off, and the transistors 5 and 6 are both turned on, and the circuit enters the hold mode. That is, Since the transistor 7.2 is cut off, the charging operation of the capacitor 4o is stopped, and the base is connected to the capacitor 4o.
The transistor 3 connected to one end other than the ground side of the capacitor 40 starts operating, and the value of the potential [V, , +Vゎ] of the capacitor 40 is maintained. At this time, the current of the constant current sources 31 and 32 is supplied from the constant current source 34 via the diode 24 and the transistors 5 and 6, and from the power supply line 15 via the transistor 3.5.6. As stated above,
In sample mode, input signal V and output signal v
0 follows (v, = v + n) and the response switches to hold mode, the input signal V1. .. The function of the sample and hold circuit is to hold the instantaneous value of .

〔発明が解決しようとする課題〕[Problem to be solved by the invention]

前述した従来のサンプルホールド回路においては、ホー
ルドモードの際、ホールド容量40に接続されたトラン
ジスタのバイアス電流(ベース電流)IBが原因で、出
力信号V。がIn/Cmなる率で漸時減少傾向を呈する
いわゆるドループ特性を示す。
In the conventional sample-and-hold circuit described above, in the hold mode, the output signal V is caused by the bias current (base current) IB of the transistor connected to the hold capacitor 40. shows a so-called droop characteristic in which the ratio of In/Cm gradually decreases.

これに対して、高速の入力信号を扱う場合には、一般に
素子の動作電流を大きく設定する必要があリ、バイアス
電流も大きくなるため第4図に示すような従来例におい
ては、ドループが大きくなりすぎ、サンプルホールド回
路本来の保持機能を失う。
On the other hand, when handling high-speed input signals, it is generally necessary to set the operating current of the element to a large value, and the bias current also becomes large, so in the conventional example shown in Figure 4, the droop becomes large. If it becomes too much, the sample and hold circuit loses its original holding function.

また、ドループを小さくするため、バイアス電流工3を
小さくする意図で、ホールド容量40に接続されるトラ
ンジスタに接合形電界効果トランジスタあるいは電流増
幅率の大きなトランジスタが用いられることがしばしば
あるが、集積回路化を考慮すると、標準的な集積回路製
造プロセスに加え、前記の特殊なトランジスタを同時に
作り込むためのプロセスを要し、このドループの問題に
対処するためだけの理由で、プロセスが複雑即ち高価な
ものになるという不都合が生ずる。
Furthermore, in order to reduce droop, a junction field effect transistor or a transistor with a large current amplification factor is often used as the transistor connected to the hold capacitor 40 with the intention of reducing the bias current factor 3; In addition to the standard integrated circuit manufacturing process, this requires a process to simultaneously fabricate the specialized transistors mentioned above, making the process complex and expensive just to address this droop problem. The inconvenience of becoming a thing arises.

さらに、容量40に接続されるトランジスタをダーリン
トン接続形式とすることや、バイアス電流補償回路を新
たに設けること等の回路技術を用いる場合や、容量40
の値を大きくした場合のように、複雑かつ高価な集積回
路製造プロセスを必要としない場合を考慮しても、これ
らは本質的に高速化には適当ではなく、サンプルモード
における速い変化の入力信号に回路の応答が追従できな
くなるという問題を生ずる。
Furthermore, there are cases in which circuit techniques such as using a Darlington connection type for the transistor connected to the capacitor 40 or newly providing a bias current compensation circuit, and cases in which the transistor connected to the capacitor 40 is
Although they do not require complex and expensive integrated circuit fabrication processes, such as increasing the value of This results in a problem that the circuit response cannot follow the current.

本発明の目的は、前記欠点が解決され、製造プロセスが
簡単で、サンプル・アンド・ホールドの動作機能が良好
で、高速動作ができるようにしたサンプルホールド回路
を提供することにある。
SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide a sample-and-hold circuit which overcomes the above-mentioned drawbacks, has a simple manufacturing process, has a good sample-and-hold operation function, and is capable of high-speed operation.

〔課題を解決するための手段〕[Means to solve the problem]

本発明のサンプルホールド回路の構成は、カレントミラ
ー回路と、ベースが一定電圧にバイアスされコレクタが
前記カレントミラー回路のダイオード形式接続点に接続
された第1のトランジスタとコレクタが前記カレントミ
ラー回路の出力点に接続された第2のトランジスタを有
する第1の差動回路と、ベースが前記カレントミラー回
路の出力点に接続されコレクタが電源に接続されエミッ
タがホールド容量に接続された第3のトランジスタと、
7ノード側が前記第1の差動回路の共通エミッタに接続
されカソード側が前記カレントミラー回路の出力点に接
続された単一若しくは複数のダイオード又はダイオード
接続されたトランジスタからなるダイオード性素子と、
コレクタが前記第1の差動回路の共通エミッタに接続さ
れた第4のトランジスタと、コレクタが前記カレントミ
ラー回路の出力点に接続された第5のトランジスタとを
有する第2の差動回路と、コレクタが前記電源に接続さ
れた第6のトランジスタとコレクタが前記第3のトラン
ジスタのエミッタに接続された第7のトランジスタとを
有する第3の差動回路と、ベースが前記ホールド容量の
電圧を受け動°作するエミッタフォロワとを具備し、前
記エミッタフォロワの圧力を前記第1の差動回路の第2
のトランジスタのベースに、第1の抵抗を介して帰還す
ると共に、第2の抵抗を介して、入力信号を入力するこ
とを特徴とする。
The sample and hold circuit of the present invention includes a current mirror circuit, a first transistor whose base is biased to a constant voltage and whose collector is connected to a diode-type connection point of the current mirror circuit, and whose collector is the output of the current mirror circuit. a first differential circuit having a second transistor connected to a point; and a third transistor having a base connected to the output point of the current mirror circuit, a collector connected to a power supply, and an emitter connected to a hold capacitor. ,
7 a diode element consisting of a single or plural diodes or diode-connected transistors whose node side is connected to the common emitter of the first differential circuit and whose cathode side is connected to the output point of the current mirror circuit;
a second differential circuit having a fourth transistor whose collector is connected to the common emitter of the first differential circuit; and a fifth transistor whose collector is connected to the output point of the current mirror circuit; a third differential circuit having a sixth transistor having a collector connected to the power supply and a seventh transistor having a collector connected to the emitter of the third transistor; and a base receiving the voltage of the hold capacitor. and an operative emitter follower, the pressure of the emitter follower being applied to the second differential circuit of the first differential circuit.
It is characterized in that an input signal is fed back to the base of the transistor via the first resistor and is input via the second resistor.

〔実施例〕〔Example〕

次に、本発明について図面を参照して説明する。 Next, the present invention will be explained with reference to the drawings.

第1図は本発明の第1の実施例のサンプルホールド回路
を示す回路図である。第1図において、本実施例のサン
プルホールド回路は、トランジスタ1乃至10と、ダイ
オード21と、定電流源31゜32.33と、容量40
と、抵抗50.51と、制御入力端子13.14と、入
力端子11と、出力端子12と電源線15.16とを含
み、構成される。
FIG. 1 is a circuit diagram showing a sample and hold circuit according to a first embodiment of the present invention. In FIG. 1, the sample hold circuit of this embodiment includes transistors 1 to 10, a diode 21, a constant current source 31°32.33, and a capacitor 40.
, a resistor 50.51, a control input terminal 13.14, an input terminal 11, an output terminal 12, and a power supply line 15.16.

いま、サンプルホールド制御入力端子13、およびその
反転入力端子14の入力信号SH,SRが、それぞれ“
H”L″の状態即ち本サンプルホールド回路の状態がサ
ンプルモードの場合には、差動トランジスタ対4,5お
よび差動トランジスタ対6,7のうち、トランジスタ4
,7が共に導通状態、トランジスタ5,6が共にしゃ断
状態となる。
Now, the input signals SH and SR of the sample hold control input terminal 13 and its inverted input terminal 14 are "
When the state of H"L", that is, the state of this sample and hold circuit is in sample mode, transistor 4 of differential transistor pair 4, 5 and differential transistor pair 6, 7
, 7 are both in a conductive state, and both transistors 5 and 6 are in a cut-off state.

この場合、本回路は、差動トランジスタ対1゜2と、ト
ランジスタ8,9からなるカレントミラー回路と、トラ
ンジスタ3,10,4.7と、定電流源31,32.3
3と、抵抗値R= 、 Rrを各々有する抵抗50.5
1とにより、反転増幅器として動作する。入力信号Vl
nと出力信号■。とCRt−R1:l]と仮定すれば(
: V 、 = V l fi)とtx F)、利得〔
−1〕の反転増幅器として動作する。
In this case, this circuit includes a differential transistor pair 1.2, a current mirror circuit consisting of transistors 8 and 9, transistors 3, 10, 4.7, and constant current sources 31, 32.3.
3, and a resistor 50.5 having resistance values R= and Rr, respectively.
1, it operates as an inverting amplifier. Input signal Vl
n and output signal■. and CRt-R1:l], then (
: V, = V l fi) and tx F), gain [
-1] operates as an inverting amplifier.

信号SH,SHが、それぞれ“L″  “H”の場合、
即ちトランジスタ4,7が共にしゃ断状態、トランジス
タ5,6が共に導通状態になると、本回路はホールドモ
ードとなる。サンプルモードにおいてはエミッタフォロ
ワ動作をし、容量40の充放電を行なっていたトランジ
スタ3が、ダイオード21の導通によりしゃ断状態とな
り、充放電動作を停止し、容量40の電位の瞬時値が保
持される。この時、トランジスタ3をしゃ断状態にする
ための条件は、トランジスタ1,3.10のベース・エ
ミッタ間電圧をそれぞれ、Vsz+ y Vszz 。
When the signals SH and SH are "L" and "H" respectively,
That is, when transistors 4 and 7 are both cut off and transistors 5 and 6 are both turned on, the circuit enters the hold mode. In the sample mode, the transistor 3, which operates as an emitter follower and charges and discharges the capacitor 40, becomes cut off due to conduction of the diode 21, stops charging and discharging, and the instantaneous value of the potential of the capacitor 40 is held. . At this time, the condition for turning off transistor 3 is that the voltage between the base and emitter of transistors 1, 3, and 10 is Vsz+y Vszz, respectively.

Vゎ、。とし、ダイオード21の順方向電圧を■。V. and the forward voltage of diode 21 is ■.

と仮定すると、(V。+V1v+o+Vi+ms=  
Vl、+VBEIO+VBE3>Vl、  VBP!l
  VD〕となる。従って、(Vi+g++VBx3+
Vnx+o+Vn>2 ・Vl、) であれば良い。例
えば、〔vl、、=2[■]〕の時には、前記不等式は
向きが逆になるが、この場合には、ダイオード21を必
要なだけ、複数個接続すれば良い。
Assuming that (V.+V1v+o+Vi+ms=
Vl, +VBEIO+VBE3>Vl, VBP! l
VD]. Therefore, (Vi+g++VBx3+
It is sufficient if Vnx+o+Vn>2・Vl,). For example, when [vl, , = 2 [■]], the direction of the inequality is reversed, but in this case, it is sufficient to connect as many diodes 21 as necessary.

ホールドモードにおいて、導通状態にあるトランジスタ
5,6の動作電流は、トランジスタ5に関してはトラン
ジスタ8の電流がダイオード21を介して、およびトラ
ンジスタ9の電流がその動作電流となり、またトランジ
スタ6に関しては電源線15より供給される。
In the hold mode, the operating currents of the transistors 5 and 6 in the conductive state are such that for transistor 5, the current of transistor 8 passes through the diode 21, and that of transistor 9 passes through the diode 21, and for transistor 6, the current flows through the power supply line. 15.

なお、以上の説明においてCRt = R、:]と仮定
したが、当然のことながら[Rf # R= )として
サンプルモードにおける利得が〔−1〕以外で使用する
ことも考えられる。
In the above description, it is assumed that CRt = R, :], but it is of course possible to use [Rf #R= ) with a gain other than [-1] in the sample mode.

第1図の第1の実施例では、ホールド容量40の漏れ電
流は無視し得るものとして、トランジスタ8の電流増幅
率をhyxとおくと、ドループレイ来例においては、ト
ランジスタ3,8の電流増幅/C8〕となるため、各定
電流源31,32.33の値を、仮にCI I = I
 2 = I + 3. I l = 2・I4]と設
定すると、〔dV−−5・−E−!−/ CH:lとな
dt       hpx る。第1図の実施例のドループレイトはプレイドを従来
例の215と大幅に低減することが可能となる。ここで
容量40の容量値をCT1とする。
In the first embodiment shown in FIG. 1, assuming that the leakage current of the hold capacitor 40 is negligible, and assuming that the current amplification factor of the transistor 8 is hyx, in the droop play example, the current amplification factor of the transistors 3 and 8 is C8], so let's assume that the values of each constant current source 31, 32.33 are CI I = I
2 = I + 3. I l = 2・I4], then [dV--5・-E-! -/CH:l becomes dthpx. The droop plate of the embodiment shown in FIG. 1 can significantly reduce the droop plate compared to 215 of the conventional example. Here, the capacitance value of the capacitor 40 is assumed to be CT1.

第2図は本発明の第2の実施例のサンプルホールド回路
の回路図である。第2図において、本実施例のサンプル
ホールド回路は、第1図の回路に、抵抗52.53が追
加された回路となっている。
FIG. 2 is a circuit diagram of a sample and hold circuit according to a second embodiment of the present invention. In FIG. 2, the sample and hold circuit of this embodiment is a circuit in which resistors 52 and 53 are added to the circuit of FIG. 1.

その他の部分は第1図と同様である。本実施例では電源
線15の電位降下の影響で、差動トランジスタ対1,2
の平衡がくずれるのを防ぐため、抵抗52.53を付加
したものである。
Other parts are the same as in FIG. In this embodiment, due to the influence of the potential drop of the power supply line 15, the differential transistor pair 1, 2
In order to prevent the balance from being upset, resistors 52 and 53 are added.

第3図は本発明の第3の実施例のサンプルホールド回路
を示す回路図である。第3図において、本実施例のサン
プルホールド回路は、第2図のトランジスタ8のベース
・コレクタ間を解決し、トランジスタ8のベースをエミ
ッタに、トランジスタ8のコレクタをベースに各々接続
したトランジスタ60を追加する。その他の回路部分は
、第2図と同様である。
FIG. 3 is a circuit diagram showing a sample and hold circuit according to a third embodiment of the present invention. In FIG. 3, the sample-and-hold circuit of this embodiment solves the problem between the base and collector of transistor 8 in FIG. to add. Other circuit parts are the same as in FIG. 2.

本実施例では、差動トランジスタ対1,2の平衡状態を
良くするため、トランジスタQ21を付加している。
In this embodiment, a transistor Q21 is added to improve the balanced state of the differential transistor pair 1 and 2.

以上本発明の第1.第2.第3の実施例によれば、動作
電流を差動スイッチにより制御する形式の回路を用いて
サンプルモード、ホールドモードの切り換えを行ない、
ホールドモードにおける一方の差動トランジスタ対の動
作電流を、カレントミラー回路の入力電流をダイオード
スイッチを介して、およびカレントミラー回路の出力電
流とにより供給し、また他方の差動トランジスタ対の動
作電流は直接電源線から供給することにより、ホールド
容量充電用トランジスタをしゃ断して、バイアス電流に
起因するドループを無くする構成を採っている。
Above is the first aspect of the present invention. Second. According to the third embodiment, switching between the sample mode and the hold mode is performed using a circuit in which the operating current is controlled by a differential switch,
The operating current of one differential transistor pair in the hold mode is supplied by the input current of the current mirror circuit through the diode switch and the output current of the current mirror circuit, and the operating current of the other differential transistor pair is By supplying power directly from the power supply line, the hold capacitor charging transistor is cut off and droop caused by bias current is eliminated.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上説明したように、本発明によれば、特に集積回路化
を考慮した場合、標本化時の追従速度を損わずに、かつ
接合形電界効果トランジスタ等の特殊な素子を同時に作
り込むための複雑即ち高価な集積回路製造プロセスを要
することがなく、標準的な製造プロセスにより、その保
持特性を従来の回路に比較して2倍以上向上させること
が可能となる効果がある。
As explained above, according to the present invention, especially when considering integrated circuits, it is possible to simultaneously fabricate special elements such as junction field effect transistors without impairing tracking speed during sampling. There is no need for a complicated or expensive integrated circuit manufacturing process, and the retention characteristic can be improved by more than twice that of conventional circuits using a standard manufacturing process.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は本発明の第1の実施例のサンプルホールド回路
を示す回路図、第2図、第3図はそれぞれ本発明の第2
.第3の実施例のサンプルホールド回路を示す回路図、
第4図は従来例のサンプルホールド回路を示す回路図で
ある。 11・・・・・・入力端子、12・・・・・・出力端子
、13゜14・・・・・・制御入力端子、15.16・
・・・・・電源線、1乃至10.60・・・・・・トラ
ンジスタ、21゜22.23.24・・・・・・ダイオ
ード、40・・・・・・ホールド容量、50,51,5
2.53・・・・・・抵抗、31.32,33.34・
・・・・・定電流源。
FIG. 1 is a circuit diagram showing a sample hold circuit according to a first embodiment of the present invention, and FIGS.
.. A circuit diagram showing a sample hold circuit of a third embodiment,
FIG. 4 is a circuit diagram showing a conventional sample and hold circuit. 11...Input terminal, 12...Output terminal, 13°14...Control input terminal, 15.16.
...Power supply line, 1 to 10.60...Transistor, 21゜22.23.24...Diode, 40...Hold capacitance, 50,51, 5
2.53... Resistance, 31.32, 33.34.
... Constant current source.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] カレントミラー回路と、ベースが一定電圧にバイアスさ
れコレクタが前記カレントミラー回路のダイオード形式
接続点に接続された第1のトランジスタとコレクタが前
記カレントミラー回路の出力点に接続された第2のトラ
ンジスタとを有する第1の差動回路と、ベースが前記カ
レントミラー回路の出力点に接続されたコレクタが電源
に接続されエミッタがホールド容量に接続された第3の
トランジスタと、アノード側が前記第1の差動回路の共
通エミッタに接続されカソード側が前記カレントミラー
回路の出力点に接続された単一若しくは複数のダイオー
ド又はダイオード接続されたトランジスタからなるダイ
オード性素子と、コレクタが前記第1の差動回路の共通
エミッタに接続された第4のトランジスタと、コレクタ
が前記カレントミラー回路の出力点に接続された第5の
トランジスタとを有する第2の差動回路と、コレクタが
前記電源に接続された第6のトランジスタとコレクタが
前記第3のトランジスタのエミッタに接続された第7の
トランジスタとを有する第3の差動回路と、ベースが前
記ホールド容量の電圧を受け動作するエミッタフォロワ
とを具備し、前記エミッタフォロワの出力が前記第1の
差動回路の第2のトランジスタのベースに、第1の抵抗
を介して、帰還されると共に、第2の抵抗を介して、入
力信号が入力されることを特徴とするサンプルホールド
回路。
a current mirror circuit; a first transistor whose base is biased to a constant voltage and whose collector is connected to a diode-type connection point of the current mirror circuit; and a second transistor whose collector is connected to an output point of the current mirror circuit; a first differential circuit having a base connected to the output point of the current mirror circuit, a third transistor having a collector connected to a power supply and an emitter connected to a hold capacitor, and a third transistor having an anode side connected to the first differential circuit; a diode element consisting of a single or a plurality of diodes or diode-connected transistors connected to a common emitter of the first differential circuit and whose cathode side is connected to the output point of the current mirror circuit; a second differential circuit having a fourth transistor connected to a common emitter, a fifth transistor having a collector connected to the output point of the current mirror circuit, and a sixth transistor having a collector connected to the power source. and a seventh transistor having a collector connected to the emitter of the third transistor, and an emitter follower whose base receives the voltage of the hold capacitor and operates, The output of the emitter follower is fed back to the base of the second transistor of the first differential circuit via the first resistor, and the input signal is input via the second resistor. Features a sample and hold circuit.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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EP0691656A1 (en) * 1994-07-08 1996-01-10 Nec Corporation Sample hold circuit

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