JPH0325405Y2 - - Google Patents
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- JPH0325405Y2 JPH0325405Y2 JP95089U JP95089U JPH0325405Y2 JP H0325405 Y2 JPH0325405 Y2 JP H0325405Y2 JP 95089 U JP95089 U JP 95089U JP 95089 U JP95089 U JP 95089U JP H0325405 Y2 JPH0325405 Y2 JP H0325405Y2
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Description
【考案の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この考案は、半導体、セラミツク、ガラス等の
薄板状基板(以下、「ウエハ」という)を複数枚
収納容器(以下、「カセツト」という)に収容し
て、カセツトに収容したままの状態でウエハに対
し各種の表面処理を施すウエハの表面処理装置に
おいて、搬送専用カセツトに収容された表面処理
前のウエハを処理専用カセツトに移し替え、また
処理専用カセツトに収容された表面処理済みのウ
エハを搬送専用カセツトに移し替えるためのウエ
ハの移し替え装置に関するものである。[Detailed explanation of the invention] [Industrial field of application] This invention is a method for storing multiple thin substrates (hereinafter referred to as "wafers") of semiconductors, ceramics, glass, etc. in a storage container (hereinafter referred to as "cassette"). In a wafer surface processing device that performs various surface treatments on wafers while they are housed in a cassette, the wafers that have not yet been surface-treated in a cassette for transport are transferred to a cassette for processing, and then processed. This invention relates to a wafer transfer device for transferring surface-treated wafers housed in a dedicated cassette to a transport cassette.
例えば、半導体素子は、半導体ウエハに対し金
属蒸着、フオトレジスト塗布、パターン焼付け、
現像、エツチング、洗浄、剥膜、不純物拡散等と
いつた多数の表面処理を施して製造される。そし
て、処理工程の種類により、ウエハを1枚ずつ処
理する場合と、多数枚のウエハをカセツトに収容
したままの状態で同時に処理する場合とがある。
For example, semiconductor devices are manufactured by metal vapor deposition, photoresist coating, pattern baking, etc. on semiconductor wafers.
It is manufactured by performing a number of surface treatments such as development, etching, cleaning, peeling, impurity diffusion, etc. Depending on the type of processing process, there are cases in which wafers are processed one by one, and cases in which a large number of wafers are processed simultaneously while being accommodated in a cassette.
多数枚のウエハをカセツトに収容したままの状
態でウエハの表面処理を行なう場合においては、
処理工程によつて、処理に先立ちウエハを搬送専
用カセツトから処理専用カセツトに移し替え、ま
た処理終了後に処理済みのウエハを処理専用カセ
ツトから搬送専用カセツトに移し替える必要のあ
る場合がある。例えば、処理専用カセツトとして
熱処理装置では石英製カセツトを、また薬液内浸
漬処理装置ではフツ素樹脂製カセツトをそれぞれ
使用し、それらの処理専用カセツトと搬送専用の
ポリプロピレン製カセツトとの間でウエハの移し
替えが行なわれる。 When performing surface treatment on wafers with a large number of wafers stored in a cassette,
Depending on the processing step, it may be necessary to transfer wafers from a transport cassette to a processing cassette prior to processing, and to transfer processed wafers from the processing cassette to a transport cassette after processing. For example, heat treatment equipment uses quartz cassettes, while chemical immersion processing equipment uses fluororesin cassettes, and wafers are transferred between these processing cassettes and polypropylene cassettes used for transport. A change will be made.
これらの技術に関して、従来、例えば雑誌
「Semiconductor World」,1985年11月号の75ペ
ージには、拡散システムにおけるウエハの出入口
とストツカーとを連結し、搬送用カセツトと石英
ボード間でのウエハの移し替えを行ない、ウエハ
を支持した石英ボードを拡散炉へ搬出入するフロ
ーが開示されている。 Regarding these technologies, for example, on page 75 of the November 1985 issue of the magazine "Semiconductor World", there is a paper that connects the wafer entrance/exit in the diffusion system to the stocker and transfers the wafer between the transport cassette and the quartz board. A flow is disclosed in which a quartz board supporting a wafer is transported into and out of a diffusion furnace.
また、ウエハの移し替え装置として、例えば特
公昭56−44566号公報(発明の名称「物体整列装
置」)には、第1及び第2カセツトを載置し、各
所定位置にそれぞれ貫通孔が形成されたテーブル
と、カセツト内に収容されていたウエハを保持し
た状態で前記貫通孔を通して垂直方向に上下動す
る上下移動手段と、この上下移動手段によつてカ
セツトの上方に移動させられたウエハを一括して
挟持し整列させる整列手段と、この整列手段と前
記テーブルとを相対移動させる駆動手段とから構
成れた装置が開示されている。 In addition, as a wafer transfer device, for example, Japanese Patent Publication No. 56-44566 (invention name: ``Object Alignment Device'') has a system in which first and second cassettes are mounted, and through holes are formed at respective predetermined positions. a vertically moving table that moves up and down in the vertical direction through the through hole while holding the wafers housed in the cassette; An apparatus is disclosed that includes an aligning means for collectively clamping and aligning, and a driving means for relatively moving the aligning means and the table.
さらにまた、特公昭61−45381号公報(発明の
名称「半導体ウエーハの移替え装置」)には、第
1及び第2カセツトの各載置位置にカセツト内の
ウエハを一括保持して上昇する上下動手段をそれ
ぞれ設け、一方の上下動手段によつてその一方の
カセツトの上方に移動させられたウエハを一括し
て挟持する挟持手段、及びこの挟持手段を他方の
カセツトの上方へ180゜回動させてウエハを他方の
上下動手段に移す回動手段を設けた装置が開示さ
れている。 Furthermore, Japanese Patent Publication No. 61-45381 (title of the invention ``Semiconductor wafer transfer device'') discloses a device that holds the wafers in the cassettes at the respective loading positions of the first and second cassettes and moves them up and down. A holding means for collectively holding the wafers moved above one cassette by one vertical movement means, and a holding means for rotating the holding means 180° above the other cassette. An apparatus is disclosed in which a rotating means is provided for moving the wafer to the other vertically moving means.
上記したように、半導体装置の製造工程は各種
の表面処理工程よりなり、そのうち、多数枚のウ
エハをカセツトに収容したままの状態でウエハの
表面処理を行なう場合に、処理工程によつては、
カセツトの耐食性や防塵等の問題から、処理工程
ごとに専用のカセツトを使用している。そして、
各表面処理装置においては、上記したような移し
替え装置を用いて搬送専用のカセツトと処理専用
のカセツトとの間でウエハの移し替えが行なわれ
ている。
As mentioned above, the manufacturing process of semiconductor devices consists of various surface treatment steps. Among these, when performing surface treatment on wafers while a large number of wafers are still housed in a cassette, depending on the processing step,
Due to problems such as corrosion resistance and dustproofing of the cassettes, dedicated cassettes are used for each processing process. and,
In each surface treatment apparatus, wafers are transferred between a cassette exclusively for transport and a cassette exclusively for processing using the above-mentioned transfer device.
ところが、従来は、各表面処理装置に移し替え
機構が1つ設けられているだけであつた。このた
め、例えばウエハの洗浄工程においては、洗浄を
終えたウエハを処理専用カセツトから搬送専用カ
セツトに移し替える際に、先に搬送専用カセツト
から処理専用カセツトに移し替えた際に未洗浄の
ウエハと接触した部分に洗浄済みのウエハが触れ
ることになる。この結果、未洗浄のウエハに付着
していた塵埃が前記移し替え時に装置の一部に転
移して付着していたりすると、折角洗浄されて清
浄にされたウエハにその塵埃が再付着することに
なり、洗浄処理の効果を低下させるという問題点
があつた。 However, conventionally, each surface treatment apparatus was provided with only one transfer mechanism. For this reason, for example, in a wafer cleaning process, when transferred wafers that have been cleaned from a processing cassette to a transport cassette, they may be transferred from the transport cassette to the processing cassette in the same way as uncleaned wafers. The cleaned wafer will come into contact with the contact area. As a result, if dust attached to an uncleaned wafer is transferred and attached to a part of the equipment during the transfer, that dust may re-adhere to the wafer that has been cleaned and cleaned. Therefore, there was a problem that the effectiveness of the cleaning treatment was reduced.
この考案は、上記問題点を解決するためになさ
れたものであつて、複数枚のウエハをカセツトに
収容したままの状態でウエハに対し各種の表面処
理を施す表面処理装置において、搬送専用カセツ
トと処理専用カセツトとの間におけるウエハの移
し替え時に、処理前のウエハが接触した部分に処
理済みのウエハが触れたりすることのないウエハ
の移し替え装置を提供することを技術的課題とす
る。 This idea was made to solve the above problem, and is used in surface processing equipment that performs various surface treatments on wafers while the wafers are still housed in the cassette. To provide a wafer transfer device which prevents a processed wafer from touching a part of the unprocessed wafer that is in contact with the wafer when transferring the wafer to a processing-dedicated cassette.
この考案は、上記課を達成するための手段とし
て、ウエハの移し替え装置を以下のように構成し
た。すなわち、この考案に係るウエハの移し替え
装置は、下底部が開口しかつ内側面に複数枚のウ
エハを整列させて収容するための収容溝が所定ピ
ツチで形成された搬送専用カセツトを載置する載
置部を有し、その載置部に貫通穴が形成された少
なくとも1台の搬送専用カセツト用テーブルと、
同じく下底部が開口しかつ内側面に複数枚のウエ
ハを整列させて収容するための収容溝が前記搬送
専用カセツトの収容溝と同一ピツチで形成された
処理専用カセツトを載置する載置部を有し、その
載置部に貫通穴が形成された少なくとも1台の処
理専用カセツト用テーブルと、前記各テーブルに
形成された貫通穴より小さい外形を有しかつ上面
に、ウエハの端部が挿入されそのウエハを保持す
るための保持溝が前記各カセツトに形成された収
容溝と同一ピツチで形成された昇降板と、この昇
降板を前記各テーブルの貫通穴及び前記各カセツ
トの下底部開口を貫通して昇降させる昇降手段
と、前記昇降板の直上位置に平行に配設され、対
向側面の少なくとも一方に前記各カセツトに形成
された収容溝と同一ピツチのウエハ挾持溝が形成
されて、拡狭自在に支持され、前記昇降手段によ
つて前記昇降板を上昇させることにより前記各カ
セツト内から昇降板の上面に移載された複数枚の
ウエハを挾持する一対の挾持腕と、これら一対の
挾持腕の対向側面の間隔を変化させる拡狭手段
と、前記各テーブルと前記昇降板及び挾持腕とを
水平方向に相対移動させる水平移動手段とを備え
てなり、ウエハの表面処理装置に併設されるウエ
ハの移し替え装置において、前記処理専用カセツ
ト用テーブルを前記ウエハ表面処理装置に連接
し、前記昇降板及び挾持腕を、表面処理前のウエ
ハ専用(以下、「処理前専用」という)及び表面
処理済みのウエハ専用(以下、「処理済み専用」
という)にそれぞれ一対併設するとともに、前記
搬送専用カセツト用テーブルを表面処理済みのウ
エハ専用の昇降板及び挾持腕に対しその直上及び
直下位置まで水平方向に相対移動可能とし、かつ
前記処理専用カセツト用テーブルを表面処理前の
ウエハ専用の昇降板及び挾持腕に対しその直上及
び直下位置まで水平方向に相対移動可能としたこ
とを特徴として構成されている。
In this invention, as a means for achieving the above-mentioned task, a wafer transfer device is configured as follows. That is, the wafer transfer device according to this invention is equipped with a transport-only cassette which is open at the bottom and has accommodation grooves formed at a predetermined pitch on the inner surface for accommodating a plurality of wafers in alignment. at least one cassette table for transport only, which has a placing part and has a through hole formed in the placing part;
Similarly, the lower bottom part is open and the storage grooves for accommodating a plurality of wafers in alignment on the inner surface are formed at the same pitch as the storage grooves of the transport cassette. at least one processing-dedicated cassette table having a through hole formed in its mounting portion; and a table having an outer diameter smaller than the through hole formed in each of the tables, and having an upper surface into which the end of the wafer is inserted. and an elevating plate in which holding grooves for holding the wafers are formed at the same pitch as the accommodation grooves formed in each of the cassettes, and this elevating plate is connected to the through holes of each of the tables and the lower bottom opening of each of the cassettes. An elevating means for penetrating and elevating the cassette, and a wafer holding groove disposed in parallel directly above the elevating plate and having the same pitch as the receiving groove formed in each of the cassettes on at least one of the opposing side surfaces. a pair of holding arms that are narrowly supported and that hold a plurality of wafers that are transferred from inside each of the cassettes to the upper surface of the lifting plate by raising the lifting plate by the lifting means; The apparatus is provided with a wafer surface processing apparatus, and includes a widening means for changing the interval between opposing side surfaces of the clamping arms, and a horizontal movement means for horizontally moving the respective tables, the elevating plate, and the clamping arms relative to each other in the horizontal direction. In the wafer transfer device, the processing-dedicated cassette table is connected to the wafer surface processing device, and the elevating plate and the clamping arms are used exclusively for wafers before surface processing (hereinafter referred to as "pre-processing only") and for surface processing. Only for processed wafers (hereinafter referred to as “processed only”)
A pair of cassettes for processing wafers are provided, and the table for the cassettes for processing is horizontally movable relative to the elevating plate and the clamping arm for surface-treated wafers to positions directly above and directly below them. The table is characterized in that it can be moved in the horizontal direction relative to the elevating plate and the clamping arm for wafers before surface treatment to positions directly above and directly below them.
また、上記構成のウエハの移し替え装置におい
て、搬送専用カセツト用テーブルと処理専用カセ
ツト用テーブルとをそれぞれ別体として設ける代
わりに、搬送専用カセツトを載置する少なくとも
1つの搬送専用カセツト用載置部と、処理専用カ
セツトを載置する少なくとも1つの処理専用カセ
ツト用載置部とを有し、その各載置部にそれぞれ
貫通穴が形成されたテーブルを1台だけ設ける構
成とすることができる。 Further, in the wafer transfer apparatus having the above configuration, instead of providing the transport-only cassette table and the processing-only cassette table as separate bodies, at least one transport-only cassette mounting section on which the transport-only cassette is placed is provided. and at least one processing-dedicated cassette placement section on which a processing-dedicated cassette is placed, and only one table having a through hole formed in each of the placement sections can be provided.
上記構成のウエハの移し替え装置においては、
表面処理前のウエハを収容した搬送専用カセツト
がテーブルの載置部に載置されると、水平移動手
段によつてテーブルと処理前専用の昇降板及び挾
持腕とを水平方向に相対移動させることにより、
処理前専用昇降板の直上位置に搬送専用カセツト
を配置した後、昇降手段により処理前専用の昇降
板が、テーブル下方の待機位置からテーブルの貫
通穴及び搬送専用カセツトの下底部開口を貫通し
て一対の挾持腕の配設位置まで上昇する。この際
に、複数枚のウエハは、搬送専用カセツト内から
処理前専用昇降板の上面に移載される。次に、拡
狭手段によつて処理前専用の一対の挾持腕の対向
側面の間隔が狭められることにより、昇降板の上
面に移載されたウエハがそれら一対の挾持腕によ
つて挾持される。昇降板を元のテーブル下方位置
へ下降させた後、水平移動手段によつてテーブル
と処理前専用の昇降板及び挾持腕とを水平方向に
相対移動させることにより、処理前専用挾持腕の
直下位置に、テーブルの載置部に載置された空の
処理専用カセツトが配置される。続いて、処理前
専用昇降板が再びテーブル下方の待機位置からテ
ーブルの貫通穴及び処理専用カセツトの下底部開
口を貫通して上昇し、昇降板の上面の保持溝にウ
エハの下端部が挿入されると、処理前専用挾持腕
が拡がつて、昇降板上にウエハが保持される。そ
して、昇降板が下降し、元のテーブル下方位置へ
戻る過程で、昇降板の上面から処理専用カセツト
内へウエハが移載されて、搬送専用カセツトから
処理専用カセツトへの処理前のウエハの移し替え
が終了する。
In the wafer transfer device with the above configuration,
When the transport cassette containing the wafers before surface treatment is placed on the table placement section, the table, the pre-processing lifting plate and the clamping arm are moved relative to each other in the horizontal direction by the horizontal moving means. According to
After placing the transport cassette directly above the pre-processing elevating plate, the elevating means moves the pre-processing elevating plate from the standby position below the table through the through-hole of the table and the bottom opening of the transport cassette. It rises to the position where the pair of clamping arms are installed. At this time, the plurality of wafers are transferred from the transport cassette to the upper surface of the pre-processing lifting plate. Next, the gap between the opposing sides of the pair of pre-processing clamping arms is narrowed by the narrowing means, so that the wafer transferred to the upper surface of the elevator plate is clamped by the pair of clamping arms. . After lowering the elevating plate to its original position below the table, the table, the pre-processing elevating plate, and the clamping arm are moved relative to each other in the horizontal direction using the horizontal moving means, so that the position directly below the pre-processing clamping arm is moved. An empty processing-dedicated cassette placed on the placing portion of the table is placed in the table. Subsequently, the pre-processing lifting plate rises again from the standby position below the table through the through hole of the table and the bottom opening of the processing cassette, and the lower end of the wafer is inserted into the holding groove on the upper surface of the lifting plate. Then, the pre-processing holding arms are expanded and the wafer is held on the elevating plate. Then, as the elevating plate descends and returns to its original position below the table, the wafer is transferred from the top surface of the elevating plate into the processing cassette, and the unprocessed wafer is transferred from the transport cassette to the processing cassette. The change is completed.
一方、表面処理装置において、処理専用カセツ
ト内に収容された状態でウエハに所要の表面処理
が施された後、表面処理済みのウエハを収容した
処理専用カセツトがテーブルの載置部に載置され
ると、上記したのと同様の工程で、処理済み専用
の昇降板と処理済み専用の挾持腕とが用いられる
ことにより、処理専用カセツトから搬送専用カセ
ツトへの処理済みのウエハの移し替えが行なわれ
る。 On the other hand, in the surface processing equipment, after the wafer is housed in a processing cassette and subjected to the required surface treatment, the processing cassette containing the surface-treated wafer is placed on the table. Then, in the same process as described above, the processed wafers are transferred from the processing cassette to the transport cassette by using a lifting plate exclusively for processed wafers and a holding arm exclusively for processed wafers. It can be done.
そして、上述したように、このウエハの移し替
え装置においては、搬送専用カセツトから処理専
用カセツトへの処理前のウエハの移し替えと、処
理専用カセツトから搬送専用カセツトへの処理済
みのウエハの移し替えとは、各々別の専用の昇降
板及び挾持腕を使用してそれぞれ行なわれるの
で、搬送専用カセツトと処理専用カセツトとの間
におけるウエハの移し替え時に、処理前のウエハ
が接触した部分に処理済みのウエハが触れたりす
るようなことは全くなく、処理前のウエハに付着
していた塵埃が処理済みのウエハに付着するよう
な機会は皆無になる。 As mentioned above, this wafer transfer device is capable of transferring unprocessed wafers from a transport cassette to a processing cassette, and transferring processed wafers from a processing cassette to a transport cassette. This is done using separate dedicated lifting plates and clamping arms, so when wafers are transferred between the transport cassette and the processing cassette, there is no possibility that the unprocessed wafer will touch the area where the wafer has been processed. There is no possibility that the other wafers will come into contact with each other, and there is no chance that dust attached to the unprocessed wafer will adhere to the processed wafer.
以下、この考案の好適な実施例について図面を
参照しながら説明する。
Hereinafter, preferred embodiments of this invention will be described with reference to the drawings.
第1−1図〜第1−4図は、この考案の1実施
例に係るウエハの移し替え装置によりウエハの移
し替え作業を行なつている様子を各工程ごとに示
す模式正面図である。 1-1 to 1-4 are schematic front views showing each step of the wafer transfer operation performed by the wafer transfer apparatus according to one embodiment of the present invention.
まず、このウエハの移し替え装置の構成につい
て説明する。この装置には、搬送専用カセツト1
0を載置する載置部を有し、平面形状が矩形状の
搬送専用カセツト用テーブル14、及び処理専用
カセツト12を載置する載置部を有し、同じく平
面形状が矩形状の処理専用カセツト用テーブル1
6が設けられている。搬送専用カセツト10は、
その下底部に開口18が形成され、長手側(紙面
に直交する方向)の内側面に複数枚のウエハWを
整列させて収容するための収容溝20が所定ピツ
チで形成されている。また、処理専用カセツト1
2も、その下底部に開口22が形成されており、
長手側内側面に、搬送専用カセツト10の収容溝
20と同一ピツチの収容溝24が形成されてい
る。そして、搬送専用カセツト用テーブル14及
び処理専用カセツト用テーブル16には、カセツ
ト10,12を載置する各載置部に矩形状の貫通
穴26,28がそれぞれ形成されている。 First, the configuration of this wafer transfer device will be explained. This device has one transport cassette.
0, and has a table 14 for transport-only cassettes with a rectangular planar shape, and a processing-dedicated cassette 12, which also has a rectangular planar shape. Cassette table 1
6 is provided. The transport cassette 10 is
An opening 18 is formed at the lower bottom, and accommodation grooves 20 for accommodating a plurality of wafers W in alignment are formed at a predetermined pitch on the inner surface on the longitudinal side (direction perpendicular to the paper). In addition, processing cassette 1
2 also has an opening 22 formed at its lower bottom,
Accommodating grooves 24 having the same pitch as the accommodating grooves 20 of the transport cassette 10 are formed on the longitudinal inner surface. Rectangular through-holes 26 and 28 are formed in the transport-only cassette table 14 and the processing-only cassette table 16, respectively, in the mounting portions on which the cassettes 10 and 12 are placed.
また、この装置の所定位置には、平面形状が矩
形状で、テーブル14,16に形成された貫通穴
26,28より小さい外形を有する処理前専用昇
降板30及び処理済み専用昇降板32がそれぞれ
昇降自在に配設されており、さらにその各昇降板
30,32を昇降させる昇降手段(図示せず)が
それぞれ設けられている。昇降板30,32の上
面には、ウエハの下端部が挿入されそのウエハを
保持するための保持溝34,36が、上記した各
カセツト10,12に形成された収容溝20,2
4と同一ピツチで形成されている。これら昇降板
30,32は、各昇降手段を駆動させることによ
り、各テーブル14,16の貫通穴26,28及
び各カセツト10,12の下底部開口18,22
を貫通して昇降することができるようになつてい
る。 In addition, at predetermined positions of this device, there are a pre-processing lifting plate 30 and a processed lifting plate 32, each having a rectangular planar shape and a smaller outer diameter than the through holes 26 and 28 formed in the tables 14 and 16. It is disposed so as to be able to rise and fall freely, and is further provided with elevating means (not shown) for elevating and lowering each of the elevating plates 30 and 32. Holding grooves 34 and 36 into which the lower end portions of wafers are inserted and holding the wafers are formed on the upper surfaces of the lifting plates 30 and 32, respectively.
It is formed with the same pitch as 4. These elevating plates 30, 32 can be moved through the through holes 26, 28 of each table 14, 16 and the lower bottom openings 18, 22 of each cassette 10, 12 by driving each elevating means.
It is now possible to go up and down by penetrating it.
さらに、各昇降板30,32の直上位置には、
処理前専用の一対の挾持腕38,38及び処理済
み専用の一対の挾持腕40,40がそれぞれ同一
水平面内において平行に配設されている。各挾持
腕38,38,40,40には、互いに対向する
側面に各カセツト10,12に形成された収容溝
20,24と同一ピツチのウエハ挾持溝42,4
2,44,44がそれぞれ形成されている。尚、
ウエハ挾持溝は、対向する一対の挾持腕のいずれ
か一方の側面だけに形成するようにしてもよい。
これら各一対の挾持腕38,38,40,40
は、各支持部(図示せず)にそれぞれ拡狭自在に
支持されている。そして、各支持部に設けられた
拡狭手段を駆動させることにより、各一対の挾持
腕38,38,40,40の各対向側面の間隔を
変化させることができ、その間隔を狭めることに
より、昇降手段によつて上昇させられた昇降板3
0,32の上面に保持されたウエハを挾持して、
昇降板30,32からウエハを受け取ることがで
きるようになつている。尚、昇降板30,32の
昇降動作、及び挾持腕38,40の拡狭動作は、
いずれも同時に行なわせることもできる。 Furthermore, at the position directly above each elevating plate 30, 32,
A pair of clamping arms 38, 38 for exclusive use before processing and a pair of clamping arms 40, 40 for exclusive use after processing are respectively disposed in parallel in the same horizontal plane. Each of the clamping arms 38, 38, 40, 40 has wafer clamping grooves 42, 4, which have the same pitch as the housing grooves 20, 24 formed in each cassette 10, 12, on the side surfaces facing each other.
2, 44, and 44 are formed, respectively. still,
The wafer holding groove may be formed only on one side of the pair of opposing holding arms.
These pairs of clamping arms 38, 38, 40, 40
are supported by respective support portions (not shown) so as to be expandable and narrowable. By driving the widening means provided on each support part, the distance between the opposing sides of each pair of clamping arms 38, 38, 40, 40 can be changed, and by narrowing the distance, Elevating plate 3 raised by elevating means
Holding the wafer held on the top surface of 0.32,
Wafers can be received from the lifting plates 30 and 32. Incidentally, the elevating and lowering operations of the elevating plates 30 and 32 and the expanding and narrowing operations of the clamping arms 38 and 40 are as follows.
Both can be performed at the same time.
そして、搬送専用カセツト用テーブル14は、
搬送専用カセツト10の搬出入位置と処理前専用
の昇降板30及び挾持腕38,38の配設位置と
の間を、また処理専用カセツト用テーブル16
は、処理専用カセツト12の搬出入位置と処理済
み専用の昇降板32及び挾持腕40,40の配設
位置との間を、それぞれ水平方向に往復移動自在
にされており、その各水平移動手段(図示せず)
がそれぞれ設けられている。 The cassette table 14 exclusively for transport is
Between the loading/unloading position of the transport cassette 10 and the position of the pre-processing elevating plate 30 and the clamping arms 38, 38, the processing cassette table 16
are capable of reciprocating horizontally between the loading/unloading position of the processing cassette 12 and the position of the processing-dedicated elevating plate 32 and the clamping arms 40, 40, and the respective horizontal movement means (not shown)
are provided for each.
次に、上記構成のウエハの移し替え装置による
ウエハの移し替え作業について説明する。 Next, a wafer transfer operation using the wafer transfer apparatus having the above configuration will be described.
前段の処理装置からカセツト搬送手段により、
第1−1図Aに示すように、ウエハWを収容した
搬送専用カセツト10が搬入され、搬送専用カセ
ツト用テーブル14の載置部に置かれると、搬送
専用カセツト10を載置した状態のテーブル14
が水平移動手段によつて水平方向に移動させられ
る。この際、処理専用カセツト用テーブル16上
には、空の処理専用カセツト12が載置されてい
る。そして、同図Bに示すように、テーブル14
が処理前専用の昇降板30の直上でかつ挾持腕3
8,38の直下位置に停止すると、昇降手段によ
つて処理前専用昇降板30が上昇させられ、テー
ブル14の貫通穴26及びカセツト10の下底部
開口18を貫通し、カセツト10の内方を通過す
る間にカセツト10内に収容されていた複数枚の
ウエハWをカセツト10の収容溝20から浮かせ
て昇降板30の保持溝34に保持し、同図Cに示
すように、ウエハWを保持した昇降板30は、処
理前専用挾持腕38,38の高さ位置において停
止する。昇降板30が停止すると、拡狭手段を駆
動させて、一対の挾持腕38,38の対向側面の
間隔を狭めることにより、第1−2図Dに示すよ
うに、昇降板30の上面に保持されているウエハ
Wを挾持腕38,38のウエハ挾持溝42,42
によつて挾持する。ウエハWが挾持腕38,38
によつて確実に挾持されると、それまでウエハW
を保持していた昇降板30が下降し、同図Eに示
すように、昇降板30が元の待機位置に復帰する
と、空の搬送専用カセツト10を載置したテーブ
ル14が元の搬出入位置の方向へ移動する。 The cassette is transported from the processing device in the previous stage by the cassette transport means.
As shown in FIG. 1-1A, when the transport cassette 10 containing the wafers W is carried in and placed on the mounting portion of the transport cassette table 14, the table with the transport cassette 10 placed thereon is placed on the table 14. 14
is moved in the horizontal direction by the horizontal moving means. At this time, an empty processing cassette 12 is placed on the processing cassette table 16. Then, as shown in FIG.
is directly above the elevating plate 30 dedicated to pre-processing and the clamping arm 3
8, 38, the pre-processing elevating plate 30 is raised by the elevating means, passes through the through hole 26 of the table 14 and the bottom opening 18 of the cassette 10, and extends inside the cassette 10. During the passage, the plurality of wafers W stored in the cassette 10 are lifted out of the storage groove 20 of the cassette 10 and held in the holding groove 34 of the elevating plate 30, and the wafers W are held as shown in FIG. The lifting plate 30 stops at the height position of the pre-processing exclusive clamping arms 38, 38. When the elevating plate 30 stops, the widening means is driven to narrow the distance between the opposing sides of the pair of clamping arms 38, 38, so that the elevating plate 30 is held on the upper surface as shown in FIG. 1-2D. The wafer holding grooves 42, 42 of the holding arms 38, 38
to hold it in place. The wafer W is held by the clamping arms 38, 38
Once the wafer is securely held by the
When the lifting plate 30 holding the cassette 10 is lowered and returned to its original standby position as shown in FIG. Move in the direction of.
搬送専用カセツト用テーブル14の移動ととも
に、空の処理専用カセツト12を載置した処理専
用カセツト用テーブル16も水平移動手段によつ
て水平方向に移動させられ、同図Fに示すよう
に、搬送専用カセツト用テーブル14と入れ替わ
つて処理専用カセツト用テーブル16が処理前専
用の昇降板30の直上位置に配置される。処理専
用カセツト用テーブル16が昇降板30の直上位
置に停止すると、昇降手段によつて昇降板30が
再び上昇させられ、テーブル16の貫通穴28及
びカセツト12の下底部開口22を貫通して、第
1−3図Gに示すように、挾持腕38,38によ
つて挾持されているウエハWの下端部を保持溝3
4内に挿入させて昇降板30の上面でウエハWを
保持する。ウエハWが昇降板30によつて確実に
保持されると、一対の保持腕38,38の間隔が
拡がり、同図Hに示すように、ウエハWは挾持腕
38,38による挾持状態を解かれ、続いて、ウ
エハWを保持した昇降板30が下降する。そし
て、昇降板30が処理専用カセツト12の内方を
通過する間に、同図Iに示すように、昇降板30
から処理専用カセツト12の収容溝24へウエハ
Wが移し替えられ、昇降板30は、カセツト12
の下底部開口22及びテーブル16の貫通穴28
を貫通して、元の待機位置へ移動する。昇降板3
0がテーブル16下方の元の待機位置に戻ると、
複数枚のウエハWを収容した処理専用カセツト1
2を載置したテーブル16は、処理専用カセツト
12の搬出入位置の方へ移動して、第1−4図J
に示すように、ウエハWを収容した処理専用カセ
ツト12が搬出入位置に置かれる。そして、ウエ
ハWを収容した処理専用カセツト12は、図示し
ないカセツト移送手段によつて表面処理装置へ送
られ、処理専用カセツト12に収容されたままの
状態でウエハWに所要の表面処理が施される。 Along with the movement of the transport-only cassette table 14, the processing-only cassette table 16 on which the empty processing-only cassettes 12 are placed is also moved in the horizontal direction by the horizontal movement means, and as shown in FIG. In place of the cassette table 14, a processing-only cassette table 16 is placed directly above the pre-processing lifting plate 30. When the processing cassette table 16 stops at a position directly above the elevating plate 30, the elevating plate 30 is raised again by the elevating means and passes through the through hole 28 of the table 16 and the bottom opening 22 of the cassette 12. As shown in FIG. 1-3G, the lower end of the wafer W held by the holding arms 38,
4 and hold the wafer W on the upper surface of the elevating plate 30. When the wafer W is securely held by the lifting plate 30, the distance between the pair of holding arms 38, 38 widens, and the wafer W is released from being held by the holding arms 38, 38, as shown in FIG. , Subsequently, the elevating plate 30 holding the wafer W is lowered. Then, while the elevating plate 30 passes inside the processing cassette 12, as shown in FIG.
The wafer W is transferred from the storage groove 24 of the processing cassette 12 to the storage groove 24 of the processing cassette 12, and the elevating plate 30
Lower bottom opening 22 and through hole 28 of table 16
, and moves to the original standby position. Elevating plate 3
When 0 returns to its original standby position below the table 16,
Processing cassette 1 containing multiple wafers W
1-4.
As shown in FIG. 2, a processing cassette 12 containing wafers W is placed at a loading/unloading position. Then, the processing cassette 12 containing the wafers W is sent to the surface treatment apparatus by a cassette transfer means (not shown), and the wafers W are subjected to the required surface treatment while being accommodated in the processing cassette 12. Ru.
次に、第2−1図〜第2−4図は、表面処理装
置によつて所要の表面処理が施され、処理専用カ
セツト12に収容された表面処理済みのウエハ
W′を、処理専用カセツト12から搬送専用カセ
ツト10に移し替えるための作業工程を示す模式
正面図である。 Next, FIGS. 2-1 to 2-4 show surface-treated wafers that have been subjected to necessary surface treatment by a surface treatment apparatus and housed in a processing-dedicated cassette 12.
FIG. 3 is a schematic front view showing a work process for transferring W' from the processing cassette 12 to the transport cassette 10.
この移し替え作業も、第1−1図〜第1−4図
について説明したのと同様の各工程を経ることに
よつて行なわれるが、搬送専用カセツト10から
処理専用カセツト12への移し替えが、上記した
ように処理前専用昇降板30及び処理前専用挾持
腕38,38だけを用いて行なわれたのに対し、
この処理専用カセツト12から搬送専用カセツト
10への移し替えは、処理済み専用昇降板32及
び処理済み専用挾持腕40,40だけを用いて行
なわれる。従つて、処理専用カセツト12から搬
送専用カセツト10へのウエハの移し替え時に、
処理済みのウエハW′が、処理前のウエハWが接
触した部分に触れるようなことはない。 This transfer work is also carried out through the same steps as explained in FIGS. 1-1 to 1-4, but the transfer from the transport cassette 10 to the processing cassette 12 is , as described above, was carried out using only the pre-processing lifting plate 30 and the pre-processing holding arms 38, 38.
This transfer from the processing-only cassette 12 to the transport-only cassette 10 is carried out using only the processing-specific elevating plate 32 and the processing-specific clamping arms 40, 40. Therefore, when transferring wafers from the processing cassette 12 to the transport cassette 10,
The processed wafer W' does not come into contact with the portion of the unprocessed wafer W that was in contact with it.
第3図に示したウエハの移し替え装置は、第1
図及び第2図に示すように搬送専用カセツト用テ
ーブル14と処理専用カセツト用テーブル16と
をそれぞれ別体として設ける構成に代えて、1台
の共通のテーブル46を往復移動自在に配設し、
そのテーブル46に、搬送専用カセツト10を載
置する搬送専用カセツト用載置部と、処理専用カ
セツト12を載置する処理専用カセツト用載置部
とを設け、その各載置部にそれぞれ貫通穴48,
50を形成したものである。それ以外の構成は、
第1−1図〜第1−4図に示した上記装置と変わ
らない。 The wafer transfer device shown in FIG.
As shown in FIGS. 1 and 2, instead of the configuration in which the transport-only cassette table 14 and the processing-only cassette table 16 are provided separately, one common table 46 is provided so as to be movable back and forth,
The table 46 is provided with a transport-only cassette mounting section on which the transport-only cassette 10 is placed, and a processing-only cassette mounting section on which the processing-only cassette 12 is placed, and each of the mounting sections has a through hole. 48,
50 was formed. Other configurations are
This is the same as the above-mentioned device shown in FIGS. 1-1 to 1-4.
第4図は、この考案に係るウエハの移し替え装
置を浸漬型の表面処理装置に装着した具体例を示
す全体斜視図である。同図において、第1−1図
〜第1−4図と同一の符号を付したものは、同一
の作用をなす同一部材を示す。尚、この実施例に
示すウエハの移し替え装置52は、2台の搬送専
用カセツト用テーブル54,56と、2台の処理
専用カセツト用テーブル58,60とを備えてい
る。同図において、62は、ウエハの移し替え装
置52の上方に設けられたカセツト収納棚であ
り、このカセツト収納棚62は、その内部が複数
区画に分けられており、1側面が開口してカセツ
ト10,12の出入口となつている。このカセツ
ト収納棚62には、処理の進行状況等に応じて搬
送専用カセツト10又は処理専用カセツト12が
一時保管され、ウエハ移し替え装置52との間で
カセツトの授受が行なわれる。64は、一端部に
おいてウエハ移し替え装置52に連接し、複数の
表面処理槽66を備えた浸漬型表面処理部であ
る。この表面処理部64の一側に沿つて、表面処
理部64の他端部とウエハ移し替え装置52との
間を連絡するカセツト搬送装置68が設けられて
いる。また、70は、カセツト移し替え装置52
とカセツト収納棚62とにおいてカセツト10,
12を移送するカセツト移送装置、72は、表面
処理部64においてローダ74から各処理槽66
を経てアンローダ76まで処理専用カセツト12
を移送するカセツト移送装置、78は、カセツト
搬送装置68の端部位置から表面処理部64のロ
ーダ74へ処理専用カセツト12を移送するカセ
ツト移送装置である。 FIG. 4 is an overall perspective view showing a specific example in which the wafer transfer device according to the invention is attached to an immersion type surface treatment device. In this figure, the same reference numerals as in FIGS. 1-1 to 1-4 indicate the same members that have the same functions. The wafer transfer apparatus 52 shown in this embodiment includes two transport-only cassette tables 54 and 56 and two processing-only cassette tables 58 and 60. In the figure, reference numeral 62 denotes a cassette storage shelf provided above the wafer transfer device 52. The inside of the cassette storage shelf 62 is divided into a plurality of compartments, and one side is open so that cassettes can be stored. 10 and 12 are used as entrances and exits. The cassette storage shelf 62 temporarily stores transport-only cassettes 10 or processing-only cassettes 12 depending on the progress of processing, etc., and transfers the cassettes to and from the wafer transfer device 52. Reference numeral 64 denotes an immersion type surface treatment section that is connected to the wafer transfer device 52 at one end and includes a plurality of surface treatment baths 66 . A cassette transport device 68 is provided along one side of the surface treatment section 64 to communicate between the other end of the surface treatment section 64 and the wafer transfer device 52. Further, 70 indicates the cassette transfer device 52.
and the cassette storage shelf 62, the cassette 10,
A cassette transfer device 72 transports the cassettes 12 from the loader 74 to each processing tank 66 in the surface processing section 64.
through the processing cassette 12 to the unloader 76.
A cassette transfer device 78 is a cassette transfer device that transfers the processing-dedicated cassette 12 from the end position of the cassette transfer device 68 to the loader 74 of the surface treatment section 64.
この考案に係るウエハの移し替え装置は上記し
たような構成を有しているが、この考案の範囲
は、上記説明並びに図面の内容によつて限定され
るものではなく、要旨を逸脱しない範囲で種々の
変形例を包含し得る。例えば、上記実施例では、
カセツトを載置するテーブルを水平方向に移動さ
せるようにしているが、テーブルを固定し、昇降
板及び挾持腕を一緒に水平方向に移動させるよう
にしてもよい。また、第3図に示した実施例にお
いて、カセツトを載置する載置部をテーブルに、
例えば4個所設けて貫通穴を4個形成するように
してもよい。さらに、このウエハの移し替え装置
は、浸漬型表面処理装置に限らず、熱処理等、各
種のウエハの表面処理装置に適用することができ
るのは言うまでもない。 Although the wafer transfer device according to this invention has the above-mentioned configuration, the scope of this invention is not limited by the contents of the above explanation and drawings, and may be modified within the scope of the gist. Various modifications may be included. For example, in the above example,
Although the table on which the cassette is placed is moved in the horizontal direction, it is also possible to fix the table and move the lifting plate and the clamping arms together in the horizontal direction. In addition, in the embodiment shown in FIG.
For example, four through holes may be provided at four locations. Furthermore, it goes without saying that this wafer transfer apparatus is applicable not only to the immersion type surface treatment apparatus but also to various types of wafer surface treatment apparatuses such as heat treatment.
この考案は以上説明したように構成されかつ作
用するので、複数枚のウエハをカセツトに収容し
たままの状態でウエハに対し各種の表面処理を施
す表面処理装置において、この考案に係る装置を
使用してウエハの移し替えを行なうときは、搬送
専用カセツトと処理専用カセツトとの間における
ウエハの移し替え時に、処理前のウエハが接触し
た部分に処理済みのウエハが触れる機会は全く無
いため、処理前のウエハに付着していた塵埃が装
置の一部を媒介として処理済みのウエハに再付着
するということがなくなり、また、人手を全く介
さずにウエハの移し替え作業が行なわれるため、
人が当該作業に関与することに伴う発塵による処
理済みウエハへのパーテイクル付着等といつた問
題が起こらず、表面処理済みのウエハの品質低下
を防ぐことができ、半導体デバイス等の品質向上
に大いに寄与し得る。さらに、この考案の装置
は、ウエハの移し替え機構を単に2台連設したと
いつた構成のものではないので、装置全体が小型
化され、クリーンルーム内等での設置スペースを
小さくすることができるとともに、ウエハの移し
替え作業を効率良く行なうことができる。
Since this device is constructed and operates as described above, the device according to this device can be used in a surface processing apparatus that performs various surface treatments on wafers while a plurality of wafers are housed in a cassette. When transferring wafers between a transport cassette and a processing cassette, there is no chance that a processed wafer will touch the part of the wafer that was in contact with the wafer before processing. This eliminates the possibility of dust attached to wafers being reattached to processed wafers through parts of the equipment, and wafer transfer work is performed without any human intervention.
Problems such as adhesion of particles to processed wafers due to dust generated when people are involved in the work do not occur, and it is possible to prevent quality deterioration of surface-treated wafers and improve the quality of semiconductor devices, etc. It can contribute greatly. Furthermore, since the device of this invention does not simply have two wafer transfer mechanisms installed in series, the entire device can be miniaturized and the installation space in a clean room etc. can be reduced. At the same time, the wafer transfer work can be performed efficiently.
第1−1図〜第1−4図及び第2−1図〜第2
−4図はそれぞれ、この考案の第1の構成に係る
ウエハの移し替え装置によりウエハの移し替え作
業を行なつている様子を各工程ごとに示す模式正
面図、第3図は、この考案の別の構成例を示すウ
エハの移し替え装置の模式正面図、第4図は、こ
の考案に係るウエハの移し替え装置を浸漬型の表
面処理装置に装着した具体例を示す全体斜視図で
ある。
10……搬送専用カセツト、12……処理専用
カセツト、14……搬送専用カセツト用テーブ
ル、16……処理専用カセツト用テーブル、1
8,22……下底部開口、20,24……収容
溝、26,28……貫通穴、30……処理前専用
昇降板、32……処理済み専用昇降板、34,3
6……保持溝、38……処理前専用保持腕、40
……処理済み専用保持腕、42,44……ウエハ
挾持溝、46……共通テーブル、48,50……
貫通穴、52……ウエハの移し替え装置、54,
56……搬送専用カセツト用テーブル、58,6
0……処理専用カセツト用テーブル、W……表面
処理前のウエハ、W′……表面処理済みのウエハ。
Figures 1-1 to 1-4 and Figures 2-1 to 2
Figure 4 is a schematic front view showing each step of the wafer transfer operation performed by the wafer transfer apparatus according to the first configuration of this invention, and Figure 3 is a schematic front view showing each step of the wafer transfer operation using the wafer transfer apparatus according to the first configuration of this invention. FIG. 4 is a schematic front view of a wafer transfer device showing another configuration example, and is an overall perspective view showing a specific example in which the wafer transfer device according to the invention is attached to an immersion type surface treatment device. 10...Cassette exclusively for transport, 12...Cassette exclusively for processing, 14...Table for cassette exclusively for transport, 16...Table for cassette exclusively for processing, 1
8, 22... Lower bottom opening, 20, 24... Accommodation groove, 26, 28... Through hole, 30... Elevating plate exclusively for before treatment, 32... Elevating plate exclusively for treated, 34, 3
6... Holding groove, 38... Holding arm exclusively for pre-processing, 40
...Processed dedicated holding arm, 42, 44...Wafer holding groove, 46...Common table, 48, 50...
Through hole, 52... Wafer transfer device, 54,
56...Transportation cassette table, 58,6
0...Table for processing cassette, W...Wafer before surface treatment, W'...Wafer with surface treatment.
Claims (1)
を整列させて収容するための収容溝が所定ピツ
チで形成された搬送専用カセツトを載置する載
置部を有し、その載置部に貫通穴が形成された
少なくとも1台の搬送専用カセツト用テーブル
と、同じく下底部が開口しかつ内側面に複数枚
のウエハを整列させて収容するための収容溝が
前記搬送専用カセツトの収容溝と同一ピツチで
形成された処理専用カセツトを載置する載置部
を有し、その載置部に貫通穴が形成された少な
くとも1台の処理専用カセツト用テーブルと、
前記各テーブルに形成された貫通穴より小さい
外形を有しかつ上面に、ウエハの下端部が挿入
されそのウエハを保持するための保持溝が前記
各カセツトに形成された収容溝と同一ピツチで
形成された昇降板と、この昇降板を前記各テー
ブルの貫通穴及び前記各カセツトの下底部開口
を貫通して昇降させる昇降手段と、前記昇降板
の直上位置に平行に配設され、対向側面の少な
くとも一方に前記各カセツトに形成された収容
溝と同一ピツチのウエハ挾持溝が形成されて、
拡狭自在に支持され、前記昇降手段によつて前
記昇降板を上昇させることにより前記各カセツ
ト内から昇降板の上面に移載された複数枚のウ
エハを挾持する一対の挾持腕と、これら一対の
挾持腕の対向側面の間隔を変化させる拡狭手段
と、前記各テーブルと前記昇降板及び挾持腕と
を水平方向に相対移動させる水平移動手段とを
備えてなり、ウエハの表面処理装置に併設され
るウエハの移し替え装置において、前記処理専
用カセツト用テーブルを前記ウエハ表面処理装
置に連接し、前記昇降板及び挾持腕を、表面処
理前のウエハ専用及び表面処理済みのウエハ専
用にそれぞれ一対併設するとともに、前記搬送
専用カセツト用テーブルを表面処理済みのウエ
ハ専用の昇降板及び挾持腕に対しその直上及び
直下位置まで水平方向に相対移動可能とし、か
つ前記処理専用カセツト用テーブルを表面処理
前のウエハ専用の昇降板及び挾持腕に対しその
直上及び直下位置まで水平方向に相対移動可能
としたことを特徴とするウエハの移し替え装
置。 2 下底部が開口しかつ内側面に複数枚のウエハ
を整列させて収容するための収容溝が所定ピツ
チで形成された搬送専用カセツトを載置する少
なくとも1つの搬送専用カセツト用載置部、及
び同じく下底部が開口しかつ内側面に複数枚の
ウエハを整列させて収容するための収容溝が前
記搬送専用カセツトの収容溝と同一ピツチで形
成された処理専用カセツトを載置する少なくと
も1つの処理専用カセツト用載置部を有し、そ
の各載置部にそれぞれ貫通穴が形成されたテー
ブルと、前記テーブルに形成された各貫通穴よ
り小さい外形を有しかつ上面に、ウエハの下端
部が挿入されそのウエハを保持するための保持
溝が前記各カセツトに形成された収容溝と同一
ピツチで形成された昇降板と、この昇降板を前
記テーブルの各貫通穴及び前記各カセツトの下
底部開口を貫通して昇降させる昇降手段と、前
記昇降板の直上位置に平行に配設され、対向側
面の少なくとも一方に前記各カセツトに形成さ
れた収容溝と同一ピツチのウエハ挾持溝が形成
されて、拡狭自在に支持され、前記昇降手段に
よつて前記昇降板を上昇させることにより前記
各カセツト内から昇降板の上面に移載された複
数枚のウエハを挾持する一対の挾持腕と、これ
ら一対の挾持腕の対向側面の間隔を変化させる
拡狭手段と、前記テーブルと前記昇降板及び挾
持腕とを水平方向に相対移動させる水平移動手
段とを備えてなり、ウエハの表面処理装置に併
設されるウエハの移し替え装置において、前記
テーブルを前記ウエハ表面処理装置に連接し、
前記昇降板及び挾持腕を、表面処理前のウエハ
専用及び表面処理済みのウエハ専用にそれぞれ
一対併設するとともに、前記テーブルを前記昇
降板及び挾持腕に対し、テーブルの前記搬送専
用カセツト用載置部が表面処理済みのウエハ専
用の昇降板及び挾持腕の直上及び直下位置ま
で、テーブルの前記処理専用カセツト用載置部
が表面処理前のウエハ専用の昇降板及び挾持腕
の直上及び直下位置まで、水平方向に相対移動
可能としたことを特徴とするウエハの移し替え
装置。[Claims for Utility Model Registration] 1. A loading section for placing a transport cassette, which has an opening at the bottom and has housing grooves formed at a predetermined pitch on the inner surface for accommodating a plurality of wafers in alignment. At least one cassette table for transfer only, which has a through hole formed in its mounting part, and a storage groove that is also open at the lower bottom and for accommodating a plurality of wafers in alignment on the inner surface. at least one processing-only cassette table having a placing part for placing the processing-only cassette formed with the same pitch as the accommodation groove of the transport-only cassette, and having a through hole formed in the placing part;
A holding groove having an outer diameter smaller than the through hole formed in each of the tables, and a holding groove for inserting a lower end of a wafer and holding the wafer is formed on the upper surface at the same pitch as the receiving groove formed in each of the cassettes. an elevating plate, an elevating means for elevating and lowering the elevating plate by passing through the through hole of each table and the bottom opening of each cassette; Wafer holding grooves having the same pitch as the accommodation grooves formed in each of the cassettes are formed on at least one of the cassettes,
a pair of holding arms that are supported in a manner that can be expanded and narrowed, and that hold a plurality of wafers that are transferred from inside each of the cassettes to the upper surface of the lifting plate by raising the lifting plate by the lifting means; a widening means for changing the distance between the opposing sides of the clamping arms; and a horizontal movement means for moving the respective tables, the elevating plate and the clamping arms relative to each other in the horizontal direction; In the wafer transfer device, the processing-dedicated cassette table is connected to the wafer surface treatment device, and a pair of the lifting plates and clamping arms are provided, one for each wafer before surface treatment and one for wafers that have been surface-treated. At the same time, the table for the cassette exclusively for transport is horizontally movable relative to the elevating plate and the clamping arm exclusively for surface-treated wafers to positions directly above and directly below the wafer, and the table for the cassette exclusively for processing is arranged to A wafer transfer device characterized by being able to move horizontally relative to a wafer-dedicated elevating plate and a clamping arm to positions directly above and directly below them. 2. At least one transport cassette mounting section for mounting a transport cassette which has an open lower bottom and has storage grooves formed at a predetermined pitch on the inner surface for accommodating a plurality of wafers in alignment; At least one process in which a processing-dedicated cassette is placed, which is also open at the lower bottom and has storage grooves on the inner surface formed at the same pitch as the storage grooves of the transport-dedicated cassette. A table having a dedicated cassette placement part, each of which has a through hole formed therein, and a table having an outer diameter smaller than each of the through holes formed in the table, and having a lower end of the wafer on the top surface. an elevating plate in which holding grooves for holding the inserted wafers are formed at the same pitch as the accommodation grooves formed in each of the cassettes; an elevating means for elevating and lowering the cassette through the cassette, and a wafer holding groove disposed in parallel directly above the elevating plate and having the same pitch as the receiving groove formed in each of the cassettes on at least one of the opposing side surfaces; a pair of holding arms that are supported in a manner that can be expanded and narrowed, and that hold a plurality of wafers that are transferred from inside each of the cassettes to the upper surface of the lifting plate by raising the lifting plate by the lifting means; and a horizontal moving means for moving the table, the elevating plate and the clamping arm relative to each other in the horizontal direction, and the apparatus is installed in a wafer surface processing apparatus. In the wafer transfer apparatus, the table is connected to the wafer surface treatment apparatus,
A pair of the elevating plate and a pair of clamping arms are provided for exclusive use of wafers before surface treatment and a pair of wafers that have been surface treated, and the table is connected to the lifting plate and the clamping arm by a loading portion of the table for carrying the cassette. to a position directly above and directly below the lifting plate and clamping arm dedicated to wafers that have undergone surface treatment, and the mounting portion of the processing cassette of the table to a position directly above and directly below the lifting plate and clamping arm dedicated to wafers that have not yet been surface treated. A wafer transfer device characterized by being capable of relative movement in the horizontal direction.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP95089U JPH0325405Y2 (en) | 1989-01-09 | 1989-01-09 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP95089U JPH0325405Y2 (en) | 1989-01-09 | 1989-01-09 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01121931U JPH01121931U (en) | 1989-08-18 |
JPH0325405Y2 true JPH0325405Y2 (en) | 1991-06-03 |
Family
ID=31200415
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP95089U Expired JPH0325405Y2 (en) | 1989-01-09 | 1989-01-09 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0325405Y2 (en) |
-
1989
- 1989-01-09 JP JP95089U patent/JPH0325405Y2/ja not_active Expired
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH01121931U (en) | 1989-08-18 |
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