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JPH03221292A - Method for monitoring surface temperature of material to be heated in reflow furnace - Google Patents

Method for monitoring surface temperature of material to be heated in reflow furnace

Info

Publication number
JPH03221292A
JPH03221292A JP1327290A JP1327290A JPH03221292A JP H03221292 A JPH03221292 A JP H03221292A JP 1327290 A JP1327290 A JP 1327290A JP 1327290 A JP1327290 A JP 1327290A JP H03221292 A JPH03221292 A JP H03221292A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
heated
temperature
surface temperature
radiation thermometer
heating area
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP1327290A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Chiaki Kobayashi
小林 千明
Taro Matsuoka
太郎 松岡
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Furukawa Electric Co Ltd
Original Assignee
Furukawa Electric Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Furukawa Electric Co Ltd filed Critical Furukawa Electric Co Ltd
Priority to JP1327290A priority Critical patent/JPH03221292A/en
Publication of JPH03221292A publication Critical patent/JPH03221292A/en
Pending legal-status Critical Current

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  • Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)

Abstract

PURPOSE:To smoothly carry out the productive control for reflow soldering by measuring the maximum surface temperature of a material to be heated, comparing the value with the average value of output signals of a radiation thermometer to adjust an output and using the radiation thermometer to monitor the surface temperature of an actual product. CONSTITUTION:The material 9 to be heated is carried into a reflow furnace 1. The maximum surface temperature is measured by a thermocouple in the material 9 to be heated in this actual heating area 4 to obtain the average value of the temperature output signal of the radiation thermometer 10. These measured values are compared with the average value and the output of the radiation thermometer 10 is controlled so that the average value of the temperature output signals is equivalent to the measured value of the maximum surface temperature. Thereafter, the surface temperature of the material (product) 9 to be heated carried into this actual heating area 4 is monitored. In this way, the temperature width to be monitored can be set suitably.

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、リフロー炉における被加熱物の表面温度監視
方法に関し、更に詳しくは、本加熱用加熱域において被
加熱物の表面温度を輻射温度計で監視する方法に関する
Detailed Description of the Invention (Industrial Application Field) The present invention relates to a method for monitoring the surface temperature of an object to be heated in a reflow oven, and more specifically, the surface temperature of an object to be heated in a heating area for main heating is determined by adjusting the radiation temperature. Concerning how to monitor with a meter.

(従来の技術) 回路基板に各種の半導体部品を半田付けにより面実装す
る方法として、リフロー炉を用いる方法(リフローソル
ダリング)が知られている。
(Prior Art) A method using a reflow oven (reflow soldering) is known as a method for surface mounting various semiconductor components on a circuit board by soldering.

この方法は、一般に、第2図では略図として不したよう
なリフロー炉を用いて行われている。すなわち、リフロ
ー炉1の中には、赤外線ヒータや遠赤外線ヒータのよう
な面ヒータ2a、2bを上下に対向して設けて成る温度
立ち上げ用加熱域2、面ヒータ3a、3b;面ヒータ3
c、3dをそれぞれ上下に組合わせて成る均熱用加熱域
3、および面ヒータ4a、4bを上下に対向して設けて
成る本加熱用加熱域4がこの順序で配置されている。
This process is generally performed using a reflow oven, such as the one not shown schematically in FIG. That is, in the reflow oven 1, there is a heating area 2 for raising the temperature, which includes surface heaters 2a and 2b such as infrared heaters and far-infrared heaters arranged vertically opposite each other, surface heaters 3a and 3b;
A soaking heating area 3 formed by vertically combining heaters 4c and 3d, and a heating area 4 for main heating comprising surface heaters 4a and 4b vertically opposed to each other are arranged in this order.

各面ヒータの間には、モータ6で駆動する駆動用ローラ
と送りローラフに巻回されて矢印p1方向に走行するコ
ンヘア8か配置され、このコンへア8の上には、所定の
間隔を置いて回路基板のような被加熱物9が載置され、
炉の入口1aから出口1bに向けて所定の速度で搬送さ
れていく。
Between each side heater, a con hair 8 is arranged which is wound around a driving roller driven by a motor 6 and a feed roller rough and runs in the direction of arrow p1. An object to be heated 9 such as a circuit board is placed thereon,
It is transported at a predetermined speed from the inlet 1a of the furnace toward the outlet 1b.

ここで、炉の入口1aから搬入された被加熱物9は、最
初に通過する温度立ち上げ用加熱域2において、上トの
面ヒータ2a、2bからの輻射熱により、所定の温度に
まで急速に加熱される。しかし、被加熱物9か、例えば
半導体部品を搭載する回路基板の場合、回路基板の板面
内や回路基板と搭載部品の間では互いの熱容量か異なる
ため、温度立ち上げ用加熱域2を通り抜けた直後では、
互いの間に温度差が生している。
Here, the object to be heated 9 carried in from the entrance 1a of the furnace is rapidly heated to a predetermined temperature in the heating area 2 for temperature rise through which it passes first due to radiant heat from the surface heaters 2a and 2b on the upper surface. heated. However, in the case of the heated object 9, for example, a circuit board on which semiconductor components are mounted, the heat capacity is different within the surface of the circuit board or between the circuit board and the mounted components, so the object passes through the heating area 2 for temperature rise. Immediately after
There is a temperature difference between them.

そこで、被加熱物9を均熱用加熱域3に通過させること
によって、被加熱物9における上記温度差を減縮し、被
加熱物を全体として均熱化する。
Therefore, by passing the object to be heated 9 through the soaking heating area 3, the temperature difference in the object to be heated 9 is reduced and the temperature of the object to be heated is uniformed as a whole.

この均熱用加熱域3を通過した被加熱物9は、最後に本
加熱用加熱域4に搬送され、ここで所定の温度に加熱さ
れて、例えば、搭載部品のリート部と回路基板との間に
存在していた半田が再溶融し、搭載部品は回路基板に半
田付けされる。
The object to be heated 9 that has passed through the heating area 3 for soaking is finally transported to the heating area 4 for main heating, where it is heated to a predetermined temperature and, for example, the leat part of the mounted component and the circuit board are heated. The solder that existed between them is remelted and the mounted components are soldered to the circuit board.

したがって、被加熱物9の炉内搬送過程における温度プ
ロファイルは、概ね、第3図のような傾向を示す。この
温度プロファイルにおいて、被加熱物9の温度管理上重
要な問題は、本加熱用加熱域4て測定される被加熱物9
の表面温度Tmである。
Therefore, the temperature profile during the process of transporting the object to be heated 9 in the furnace generally shows a tendency as shown in FIG. 3. In this temperature profile, an important problem in temperature control of the heated object 9 is the heated object 9 measured in the heating area 4 for main heating.
surface temperature Tm.

このTmが半田付は温度よりも低い温度である場合には
、搭載部品の半田付は不良または半田付は不能の事態が
起こり、またTmが過度に高くなると、半田付は不良等
の問題は解哨するが、しかし搭載部品や回路基板の熱損
傷か生しるようになるからである。
If this Tm is lower than the soldering temperature, the soldering of mounted components may be defective or impossible, and if Tm is excessively high, problems such as poor soldering may occur. However, this is because the on-board components and circuit boards may be damaged by heat.

このようなことから、本加熱用加熱域4における被加熱
物9の表面温度の測定が、生産管理上必要になるが、そ
の温度測定のためには、加熱されている被加熱物9の表
面からの輻射を測定して温度に関する出力信号を得、こ
れを温度に換算する輻射温度計か用いられている。
For this reason, it is necessary to measure the surface temperature of the object to be heated 9 in the heating area 4 for main heating for production control purposes. A radiation thermometer is used that measures the radiation from the air to obtain an output signal related to temperature, which is then converted into temperature.

その場合には、第2図で示したように、炉の出口ib付
近の本加熱用加勢域4内に、ff1ll定側先端10a
を被加熱物9に向けて輻射温度計lOかセットされる。
In that case, as shown in FIG.
A radiation thermometer 10 is set so as to face the object 9 to be heated.

そしてこの状態で矢印pIの搬送方向における長さかl
である被加熱物9が搬送されると、第4図で示したよう
に、被加熱物9の表面温度は、輻射jFA度計10によ
り、被加熱物9の下流側端部11から上流側端部12に
かけてスキャンニングされる。
In this state, the length of the arrow pI in the transport direction is l
When the heated object 9 is conveyed, the surface temperature of the heated object 9 is determined by the radiation jFA temperature meter 10 from the downstream end 11 of the heated object 9 to the upstream side, as shown in FIG. The end portion 12 is scanned.

その結果、輻射志度計lOからは、被加熱物9の端部l
、から端部12に到る表面温度を表示する出力信号か得
られる。すなわち、端部11から端部12までの表面温
度の分布か出力信号として得られる。逆にいえば、輻射
温度計10から得られた出力信号によって、被加熱物の
表面温度の分布を知ることができる。
As a result, from the radiation meter lO, the end l of the object to be heated 9
, an output signal is obtained indicative of the surface temperature at the end 12. That is, the distribution of the surface temperature from the end portion 11 to the end portion 12 can be obtained as an output signal. In other words, the distribution of the surface temperature of the object to be heated can be known from the output signal obtained from the radiation thermometer 10.

このとき、被加熱物9の搬送方向における各点から得ら
れる出力信号は、概ね、第5図で示したような傾向を示
す。第5図から明らかなように、被加熱物の中央部分は
低温になり、端部12+、端部12に近つくほど高温に
なる。
At this time, the output signals obtained from each point in the conveyance direction of the object to be heated 9 generally exhibit a tendency as shown in FIG. As is clear from FIG. 5, the central portion of the object to be heated is at a low temperature, and the closer it gets to the ends 12+ and 12, the higher the temperature becomes.

(発明か解戻しようとする課題) ところで、被加熱物か半導体素子部品を搭載した回路基
板であった場合、前記したように、回路基板それ自体の
板面内、回路基板と搭載部品との間、または搭載部品の
リート部やそれに添着されている半田などではそれぞれ
熱容量が異なっているため、回路基板を均熱用加熱域に
通過せしめたのち、本加熱用加熱域で一様に加熱したと
しても、それぞれの温度に差が生して、回路基板の表面
温度は場所によって異なり一定の温度になるわけではな
い。
(Problem to be solved by the invention) By the way, in the case of a heated object or a circuit board on which semiconductor element parts are mounted, as mentioned above, the inside of the board surface of the circuit board itself, the contact between the circuit board and the mounted parts. Because the heat capacities of the circuit board, the leat part of the mounted component, and the solder attached to it are different, the circuit board is passed through the soaking heating area and then uniformly heated in the main heating heating area. However, there are differences in temperature, and the surface temperature of the circuit board varies depending on the location and is not constant.

また、発熱体はその材質に特有の輻射率を有している。In addition, the heating element has an emissivity specific to its material.

回路基板それ自体の表面、搭載部品の表面、リード部表
面や半田面からの輻射エネルギーはそれらの輻射率の違
いによって同一ではなく、互いに異なった値になってい
る。一般に、リート部表面や半田面からの輻射エネルギ
ーは、前2者の表面からの輻射エネルギーに比へて小さ
い。
The radiant energy from the surface of the circuit board itself, the surface of mounted components, the surface of leads, and the solder surface are not the same but have different values due to differences in their emissivity. Generally, the radiant energy from the leat surface and the solder surface is smaller than the radiant energy from the former two surfaces.

このようなことから、回路基板の表面温度を輻射温度計
てスキャンニンクして得られた第5図のような出力信号
において、端部11から端部12まての出ツノ信号曲線
か示す出力信号値は、スキャンニング線に沿って位置す
る回路基板の表面、搭載部品の表面、またはリード部表
面や半田面のそれぞれか示す表面温度を、上記各表面の
スキャンニンク線に沿う位置に対応して示したものにな
っている。
For this reason, in the output signal shown in Fig. 5 obtained by scanning the surface temperature of the circuit board with a radiation thermometer, the output shows the output horn signal curve from end 11 to end 12. The signal value indicates the surface temperature of the circuit board surface, mounted component surface, lead surface, or solder surface located along the scanning line, and corresponds to the position of each surface along the scanning line. It is shown as follows.

一方、輻射温度計は、一般に、測定対象の発熱体か放出
するその発熱体特有の輻射エネルギーを温度信号である
出力信号として出力する装置である。
On the other hand, a radiation thermometer is generally a device that outputs radiant energy unique to a heating element to be measured, emitted by the heating element, as an output signal that is a temperature signal.

今、発熱体の表面温度をTs、その輻射率をεとすると
、発熱体の表面からの輻射エネルギーEは、E−εTs
’となる。
Now, if the surface temperature of the heating element is Ts and its emissivity is ε, then the radiant energy E from the surface of the heating element is E-εTs
' becomes.

この輻射エネルギーを輻射温度計で受けて、Jなる出力
信号が得られたとすると、輻射温度計では、にJ=E−
εTs’の関係が成立している。ここで、には、発熱体
からの輻射エネルギーを輻射温度計の出力信号に変換す
るための変換係数であり、上式から明らかなように、ε
とTsの関数である。
If this radiant energy is received by a radiant thermometer and an output signal J is obtained, the radiant thermometer will produce J=E−
The relationship εTs' holds true. Here, is the conversion coefficient for converting the radiant energy from the heating element into the output signal of the radiation thermometer, and as is clear from the above equation, ε
and Ts.

したがって、発熱体の表面温度を輻射温度計で測定する
場合には、発熱体の表面温度を何らかの手段で予め実測
しておき、そのときに輻射濃度計が示す出力信号からこ
のホ11定系に特有のに/ε値を決めて出力調整を行な
う。そして、それ以後は、この設定された出力調整の下
で、輻射温度計を作動せしめればよい。
Therefore, when measuring the surface temperature of a heating element with a radiation thermometer, the surface temperature of the heating element is actually measured in advance by some means, and then the output signal shown by the radiation densitometer is used to calculate the The output is adjusted by determining a specific value of /ε. After that, the radiation thermometer may be operated under the set output adjustment.

以上のことを前提にして、実際のリフロー炉による回路
基板の表面塩度の輻射温度計による測定を考えた場合、
次のような問題がある。
Based on the above, when considering the measurement of the surface salinity of a circuit board using a radiation thermometer in an actual reflow oven,
There are the following problems.

すなわち、回路基板のロフトを代えると、それに応して
、基板の種類、搭載部品の種類や配置関係等か変化する
ことに基づく問題である。
That is, this problem is based on the fact that when the loft of the circuit board is changed, the type of board, the type of mounted components, the arrangement relationship, etc. change accordingly.

例えば、n番目のロフトでは適正に各回路基板の表面塩
度が測定されていても、そのときの輻射温度計の出力調
整は、次のn+1番目の口・ソトでは正確な温度を示す
ための適正な出力調整にはなり得ないということが起こ
る。
For example, even if the surface salinity of each circuit board is measured properly at the n-th loft, the output adjustment of the radiation thermometer at that time may be difficult to indicate the accurate temperature at the next (n+1)-th loft. It happens that proper output adjustment cannot be achieved.

また、同一ロット内における温度測定においても、前記
したように、回路基板の表面、搭載部品の表面、リート
部表面や半田面の温度が異なっているため、どの個所の
温度を監視して半田付は温度を管理するのかという問題
もある。
In addition, even when measuring temperatures within the same lot, as mentioned above, the temperature of the surface of the circuit board, the surface of the mounted components, the surface of the reed part, and the solder surface are different. There is also the question of whether temperature can be controlled.

本発明は、輻射温度計で回路基板の表面塩度を監視する
ときにおける上記したような問題を解決して、熱電対で
実測した被加熱物の表面温度と輻射温度計の出力信号と
を比較して輻射温度計の出力調整を行なって較正し、つ
いて、実際の製品を搬送してその表面温度を輻射温度計
で監視する・リフロー炉における被加熱物の表面温度監
視方法の提供を目的とする。
The present invention solves the above-mentioned problems when monitoring the surface salinity of a circuit board with a radiation thermometer, and compares the surface temperature of the heated object actually measured with a thermocouple and the output signal of the radiation thermometer. The purpose of this project is to provide a method for monitoring the surface temperature of objects to be heated in a reflow oven. do.

(課題を解決するための手段) 上記した目的を達成するために、本発明においては、被
加熱物の搬送方向に沿って、温度立ち上げ用加熱域、均
熱用加熱域および本加熱用加熱域がこの順序で配置され
ているリフロー炉の前記本加熱用加熱域に輻射温度計を
設置して、前記輻射温度計で前記被加熱物の表面温度を
監視する方法であって、 (A)最初に、被加熱物に熱電対を取りつけた状態で前
記被加熱物を前記リフロー炉内に搬送して、前記本加熱
用加熱域における前記被加熱物の表面温度を前記熱電対
および前記輻射温度計で測定し、前記熱電対からは前記
被加熱物の最高表面温度を実測し、また前記輻射温度計
からは温度出力信号の平均値を求め、(B)前記熱電対
による最高表面温度の実測値と前記輻射温度計から求め
た温度出力信号の平均値とを比較して、前記温度出力信
号の平均値か前記最高表面温度の実測値に相当するよう
に、前記輻射温度計の出力調整を行ない、(C)それ以
後は、前記出力調整か行われた前記輻射温度計で、本加
熱用加熱域に搬送されてくる被加熱物の表面温度を監視
する ことを特徴とするリフロー炉における被加熱物の表面君
度監視方法が提供される。
(Means for Solving the Problem) In order to achieve the above-mentioned object, in the present invention, a heating area for temperature start-up, a heating area for soaking, and a heating area for main heating are provided along the conveyance direction of the object to be heated. A radiation thermometer is installed in the main heating heating zone of a reflow oven in which zones are arranged in this order, and the surface temperature of the object to be heated is monitored with the radiation thermometer, the method comprising: (A) First, the object to be heated is transported into the reflow oven with a thermocouple attached to the object, and the surface temperature of the object in the heating area for main heating is determined by the thermocouple and the radiation temperature. (B) actual measurement of the maximum surface temperature by the thermocouple; and the average value of the temperature output signal obtained from the radiation thermometer, and adjust the output of the radiation thermometer so that the average value of the temperature output signal corresponds to the actual measured value of the maximum surface temperature. (C) After that, the radiation thermometer whose output has been adjusted is used to monitor the surface temperature of the object to be heated, which is being transported to the heating area for main heating. A method for monitoring the surface density of a heated object is provided.

(作用) 本発明方法においては、リフロー炉にまず最初に、搭載
部品を実装した被加熱物に熱電対を取付け、この熱電対
て被加熱物の最高表面温度が実測され、同時に、輻射温
度計で被加熱物の表面温度か測定される。
(Function) In the method of the present invention, a thermocouple is first attached to the object to be heated on which mounted components are mounted in a reflow oven, and the maximum surface temperature of the object to be heated is actually measured by this thermocouple. The surface temperature of the heated object is measured.

輻射温度計から得られた出力信号は、概ね、第5図で示
したような傾向を示すものであるが、その積算量を基に
して全体の平均値を求める。
The output signal obtained from the radiation thermometer generally shows a tendency as shown in FIG. 5, and the overall average value is determined based on the integrated amount.

そして、この出力信号の平均値か前記した実測値である
最高表面温度を示すものと仮定して、輻射温度計に関し
て輻射温度計のに/εに相当する出力調整か行なわれる
Then, assuming that the average value of this output signal indicates the maximum surface temperature which is the above-mentioned actually measured value, an output adjustment corresponding to /ε of the radiation thermometer is performed with respect to the radiation thermometer.

このような調整か行なわれたのちに、熱電対を取付けず
に搭載部品が実装されている被加熱物(製品)を炉内に
搬送し、その表面温度を調整ずみの輻射温度計で測定す
る。
After these adjustments have been made, the heated object (product) on which the mounted components are mounted without a thermocouple attached is transported into the furnace, and its surface temperature is measured with the adjusted radiation thermometer. .

このときに得られる出力信号は、前記した平均値、すな
わち実測の最高表面温度を基準とするものになっている
The output signal obtained at this time is based on the above-mentioned average value, that is, the actually measured maximum surface temperature.

前記した平均値に許容上限と許容下限を設定しておき、
実際の製品からの出力信号が上記限界値を超えた場合に
は、コンベア速度、面ヒータの温度、ヒータの表面状態
などのリフロー条件に異常が発生したことになるので、
そのことを運転者にブザー等で知らせるようにすること
により、本加熱用加熱域における被加熱物の表面温度を
監視することができるようになる。
Set an upper limit and a lower limit for the above average value,
If the output signal from the actual product exceeds the above limit value, it means that an abnormality has occurred in the reflow conditions such as conveyor speed, surface heater temperature, and heater surface condition.
By notifying the driver of this using a buzzer or the like, it becomes possible to monitor the surface temperature of the object to be heated in the heating area for main heating.

(実施例) 第2図で示したように、本加熱用加熱域4に輻射温度計
lOをセットする。この輻射温度計の上方を、第4図で
示したように被加熱物9か搬送され、その表面温度が監
視される。
(Example) As shown in FIG. 2, a radiation thermometer IO is set in the heating area 4 for main heating. A heated object 9 is conveyed above this radiation thermometer as shown in FIG. 4, and its surface temperature is monitored.

まず、回路基板の表面、搭載部品の表面、およびリート
部表面や半田面に熱電対を取付けた状態で長さlの回路
基板を炉内に点す。そして、本加熱用加熱域4において
、熱電対で、回路基板の最高表面温度(Tmax )を
実測する。
First, a circuit board having a length l is placed in a furnace with thermocouples attached to the surface of the circuit board, the surface of the mounted components, the surface of the leat part, and the solder surface. Then, in the heating area 4 for main heating, the maximum surface temperature (Tmax) of the circuit board is actually measured using a thermocouple.

方、輻射温度計10で回路基板の表面温度をスキャンニ
ングする。その結果、例えば、第1図で示すような出力
信号が得られる。そして、この出力信号の平均値(J)
を求める。
Meanwhile, the radiation thermometer 10 scans the surface temperature of the circuit board. As a result, for example, an output signal as shown in FIG. 1 is obtained. Then, the average value (J) of this output signal
seek.

この丁は前記した1”maxに相当すると仮定して、輻
射温度計10の出力を調整する。この出力調整により、
測定対象の回路基板の表面温度かT maxであるとき
には、輻射温度計10の出力信号かjを示すことになる
Assuming that this temperature corresponds to the above-mentioned 1" max, the output of the radiation thermometer 10 is adjusted. With this output adjustment,
When the surface temperature of the circuit board to be measured is Tmax, the output signal of the radiation thermometer 10 indicates j.

搭載部品または回路基板の都損傷l晶度かTmax+Δ
T、半田の溶融温度かTmax−ΔT′であり、輪重、
士温度計10の上記各温度に対応する出力信号か、それ
ぞれ了+ΔJ、J−ΔJ°であるとした場合に、輻身を
温度計10の出力信号か上記各位を逸脱すると警報を発
するように輻射温度計lOを警報系に接続する。
Damage to mounted components or circuit board Tmax + Δ
T is the melting temperature of solder or Tmax-ΔT', and the wheel load is
If the output signals of the thermometer 10 corresponding to the above-mentioned temperatures are +ΔJ and J-ΔJ°, respectively, an alarm will be issued if the output signal of the thermometer 10 deviates from each of the above values. Connect the radiation thermometer lO to the alarm system.

この状態で、搭載部品を実装した回路基板を炉内に滝し
その表面温度が監視される。
In this state, the circuit board with mounted components is placed inside the furnace and its surface temperature is monitored.

輻射温度計10から得られる出力信−号、Jか第1図に
おけるJ+ΔJ、 J−ΔJ°の間の値である場合には
、回路基板の表面温度はTmax+ΔTとTmax−Δ
T′の間にあることになり、適正な加熱状態になってい
る。
If the output signal obtained from the radiation thermometer 10 has a value between J and J+ΔJ and J−ΔJ° in FIG.
It is between T' and is in an appropriate heating state.

しかし、出力信号Jが、J+ΔJ  、J−ΔJ′から
外れて得られるときには、回路基板の表面温度かT m
aw+ΔT、 Tmax−ΔT°の範囲から外れた状態
になっている。この状態は、前記したリフロー条件に異
変か起こっているからである。このことは、警報系から
の警告によって炉の運転者に知らされるので、運転者は
リフロー条件の点検をしてその異変を元に戻せばよい。
However, when the output signal J is obtained outside of J + ΔJ and J - ΔJ', the surface temperature of the circuit board or T m
It is out of the range of aw + ΔT and Tmax - ΔT°. This state is due to an abnormality occurring in the reflow conditions described above. This is notified to the furnace operator by a warning from the alarm system, so the operator can check the reflow conditions and correct the abnormality.

(発明の効果) 以上の説明で明らかなように、木兄1男においては、リ
フローソルダリンクを行なう際に、まず最初に搭載部品
を実装した回路基板につき、その最高表面温度を実測し
、その値を輻射温度計からの出力信号の平均値と比較し
て輻射温度計の出力調整を行ない、その調整された輻射
温度計を用いて以後は実際の製品につきその表面温度を
監視するので、その温度監視幅を適宜に設定することに
より、リフローソルダリングの生産管理を円滑に行なう
ことかできる。
(Effects of the invention) As is clear from the above explanation, when performing reflow solder linking, Kazuo Kinoe first measures the maximum surface temperature of the circuit board on which the mounted components are mounted, and The value is compared with the average value of the output signal from the radiation thermometer to adjust the output of the radiation thermometer, and the adjusted radiation thermometer is then used to monitor the surface temperature of the actual product. By appropriately setting the temperature monitoring width, reflow soldering production management can be performed smoothly.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は本発明方法による輻射温度計からの出力信号の
回路基板の長さ方向におけるプロファイル、第2図は輻
射温度計を備えたリフロー炉の概略図、第3図はリフロ
ー炉内における被加熱物の温度プロファイル、第4図は
輻射温度計で被加熱物の表面温度を測定している状態を
示す概略図、第5図は被加熱物の長さ方向における輻射
温度計の出力信号のプロファイルである。 l・リフロー炉、la・・・入口、lb・・・出口、2
・温度立ち上げ用加熱域、3・・・均熱用加熱域、4・
本加熱用加熱域、2a、  2b、  3a、  3b
、 3c。 3d、4a、4b・−・面ヒータ、5・・・モータ、6
駆動用ローラ、7・・・送りローラ、8・・・コンヘア
、9・・・被加熱物(回路基板)、10・・・輻射温度
計、10a・・・輻射温度計の測定側先端、l・・・回
路基板(被加熱物)の搬送方向における長さ、11・・
・下流側端部、12・・・上流側端部、J・・・出力信
号の平均値。
Fig. 1 shows the profile of the output signal from the radiation thermometer according to the method of the present invention in the length direction of the circuit board, Fig. 2 is a schematic diagram of a reflow oven equipped with the radiation thermometer, and Fig. 3 shows the output signal in the reflow oven. Temperature profile of the heated object, Figure 4 is a schematic diagram showing the state in which the surface temperature of the heated object is measured with a radiation thermometer, and Figure 5 shows the output signal of the radiation thermometer in the length direction of the heated object. It is a profile. l・Reflow oven, la...inlet, lb...outlet, 2
・Heating area for temperature startup, 3... Heating area for soaking, 4.
Heating area for main heating, 2a, 2b, 3a, 3b
, 3c. 3d, 4a, 4b --- Surface heater, 5... Motor, 6
Drive roller, 7... Feed roller, 8... Conhair, 9... Heated object (circuit board), 10... Radiation thermometer, 10a... Measurement side tip of radiation thermometer, l ...Length of the circuit board (object to be heated) in the transport direction, 11...
- Downstream end, 12... Upstream end, J... Average value of the output signal.

Claims (1)

【特許請求の範囲】  被加熱物の搬送方向に沿って、温度立ち上げ用加熱域
、均熱用加熱域および本加熱用加熱域がこの順序で配置
されているリフロー炉の前記本加熱用加熱域に輻射温度
計を設置して、前記輻射温度計で前記被加熱物の表面温
度を監視する方法であって、 (A) 最初に、被加熱物に熱電対を取りつけた状態で
前記被加熱物を前記リフロー炉内に搬送して、前記本加
熱用加熱域における前記被加熱物の表面温度を前記熱電
対および前記輻射温度計で測定し、前記熱電対からは前
記被加熱物の最高表面温度を実測し、また前記輻射温度
計からは温度出力信号の平均値を求め、 (B) 前記熱電対による最高表面温度の実測値と前記
輻射温度計から求めた温度出力信号の平均値とを比較し
て、前記温度出力信号の平均値が前記最高表面温度の実
測値に相当するように、前記輻射温度計の出力調整を行
ない、 (C) それ以後は、前記出力調整が行われた前記輻射
温度計で、本加熱用加熱域に搬送されてくる被加熱物の
表面温度を監視する ことを特徴とするリフロー炉における被加熱物の表面温
度監視方法。
[Claims] The main heating of the reflow oven, in which a heating area for temperature rise, a heating area for soaking, and a heating area for main heating are arranged in this order along the conveyance direction of the object to be heated. A method for monitoring the surface temperature of the object to be heated using the radiation thermometer by installing a radiation thermometer in The object is transported into the reflow oven, and the surface temperature of the object to be heated in the heating area for main heating is measured by the thermocouple and the radiation thermometer, and the temperature of the surface of the object to be heated is measured from the thermocouple. (B) calculate the actual value of the maximum surface temperature measured by the thermocouple and the average value of the temperature output signal obtained from the radiation thermometer; By comparison, the output of the radiation thermometer is adjusted so that the average value of the temperature output signal corresponds to the actual measured value of the maximum surface temperature; A method for monitoring the surface temperature of an object to be heated in a reflow oven, the method comprising monitoring the surface temperature of an object to be heated that is transported to a heating area for main heating using a radiation thermometer.
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