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JPH03185309A - レベルセンサ - Google Patents

レベルセンサ

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Publication number
JPH03185309A
JPH03185309A JP32378889A JP32378889A JPH03185309A JP H03185309 A JPH03185309 A JP H03185309A JP 32378889 A JP32378889 A JP 32378889A JP 32378889 A JP32378889 A JP 32378889A JP H03185309 A JPH03185309 A JP H03185309A
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JP
Japan
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light
signal
light beam
control circuit
arithmetic control
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Application number
JP32378889A
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English (en)
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JPH07104161B2 (ja
Inventor
Katsura Yamamoto
桂 山本
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Sumco Techxiv Corp
Original Assignee
Komatsu Electronic Metals Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Komatsu Electronic Metals Co Ltd filed Critical Komatsu Electronic Metals Co Ltd
Priority to JP1323788A priority Critical patent/JPH07104161B2/ja
Publication of JPH03185309A publication Critical patent/JPH03185309A/ja
Publication of JPH07104161B2 publication Critical patent/JPH07104161B2/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、測量における2点間の高低を判別するレベル
センサに係り、特に測定点の一方に設置したレーザ光源
からのレーザ光線を受けて、レーザ光源との高低(レベ
ル)を比較するレベルセンサに関する。
〔従来の技術〕
近年、2点間の水準測量をする場合、測定点の一方にレ
ーザ光源を設置し、他方にレーザ光線を受けて光源に対
する高低を比較するレベルセンサを用いることがある。
従来のこの種のレベルセンサは、第6図に示したように
なっている。
第6図において、レベルセンサ!Oは、1つの面が受光
面12となっていて、この受光面12に縦長にした長方
形の受光部14が設けである。受光面12の前方には、
図示しないレーザ光源が設置してあり、レーザ光16が
矢印18に示したように、水平面内を一定の周期で旋回
している。
また、レベルセンサlOは、受光面12と異なった面に
液晶からなる表示器20が設けられている0表示器20
は、第7図に示したように、レーザ光16が受光部’1
4の上下方向中央より上方を通過したときに、レベルセ
ンサを上方に移動させる指示を表示する上向き矢印22
、レーザ光16が受光部14の上下方向中央を通過した
ことを表示するバー24、レーザ光16が受光部14の
上下方向中央部より下方を通過したときに、レベルセン
サを下方に移動させる指示を表示する下向き矢印26と
からなっている。
(発明が解決しようとする課題〕 しかし、上記した従来のレベルセンサlOは、レーザ光
16が受光部14の上下方向中央を横切ったときだけレ
ベルを求められるようになっており、レーザ光16が受
光部14の上下方向中央を通過するように、レベルの測
定に際して、レベルセンサを上下動させて正しい位置に
合わせの必要があり、作業が煩雑であるばかりでなく、
多くの時間を必要とする。このため、凹凸の多い土地を
造成する場合などにおいては、上地を掘削するときにレ
ベルセンサを頻繁に使用する必要があるところから、レ
ベル測定のために作業工数が多くなるとともに、測定に
多くの時間がかかるため、工事の迅速な進行を阻害する
要因となっている。
本発明は、前記従来技術の欠点を解消するためになされ
たもので、レベル測定の工数の減少が図れ、レベルの測
定を容易に行うことができるレベルセンサを提供するこ
とを目的としている。
〔課題を解決するための手段〕
上記の目的を達成するために、本発明に係るレベルセン
サは、光源からの光線を検知して電気48号を出力する
受光素子列からなる光センサと、この先センサの前記各
受光素子が接続され、各受光素子の検出信号を順次出力
するマルチプレクサと、このマルチプレクサが出力した
信号を一時的に保持する信号保持回路と、前記マルチプ
レクサにチャンネル選択信号を与えるとともに、前記信
号保持回路が保持している信号を読み取り、前記光セン
サ上の前記光線の位置を求める演算制御回路とを有する
ことを特徴としている。
〔作用〕
上記の如く構成した本発明は、光センサが複数の受光素
子からなっているため、光センサにレーザ光などの光線
が入射してくると、光線が当たった受光素子のみが電気
信号を出力する。そして、光センサの各受光素子が接続
しであるマルチプレクサは、演算制御回路からのチャン
ネル選択信号を受けて、各受光素子の検出信号を順次出
力し、信号保持回路に人力する。信号保持回路は、マル
チプレクサから人力してきた信号を、演算制御回路が読
み取るまで保持する。そして、演算制御回路は、信号保
持回路から読み出した各受光素子の検出信号に基づいて
、光線が光センサのどの位置を横切ったかを算出する。
従って、光源とレベルセンサとの高低とその程度を容易
に判断することができ、レベル測定の工数が減少してレ
ベル測定を容易、迅速に行え、土地造成などの工事の促
進を図ることができる。
[実施例] 本発明に係るレベルセンサの好ましい実施例を、添付図
面に従って詳説する。
第1図は、本発明の実施例に係るレベルセンサのブロッ
ク図である。
レベルセンサ30は、光センサ32が詳調を後述するよ
うに、複数の受光素子34によって構成されている。各
受光素子34は、一方の端子が直流電源に接続してあり
、他方の端子が負荷抵抗R1を介して接地しであるとと
もに、直流成分をカットする結合コンデンサCcを介し
てアナログマルチプレクサ(以下、単にマルチプレクサ
と称する)36.〜36、の入力端子に接続してあり、
レーザ光等の光線が入射すると電気信号をマルチプレク
サ36.〜36Mに入力する。
マルチプレクサ36A〜36.は、1つの出力端子Sと
8個または16個の入力端子(チャンネル)を有し、各
入力端子のそれぞれに結合コンデンサCcを介して受光
素子34が接続しである。
そして、各マルチプレクサ36.〜3611の出力端子
Sは、受光素子34が出力する検出信号を増幅する増幅
器38.〜38.の入力端子に接続しである。また、マ
ルチプレクサ36.〜36NLマイクロコンピュータか
らなる演算制御回路42からチャンネル選′択信号を受
けるようになっており、演算制御回路42からのチャン
ネル選択信号によって、各入力端子の出力端子Sへの接
続が順次切り換えられ、各入力端子に接続しである受光
素子34の出力信号を順次増幅器3B、〜38、に入力
する。
増幅器3B、〜3B、の出力側は、例えば単安定マルチ
バイブレータなどからなる信号保持回路40、〜40.
の入力端に接続してあり、マルチプレクサ36.〜36
.が出力した信号を増幅して波形整形し、信号保持回路
404〜40.に入力する。各信号保持回路404〜4
0Mは、増幅器3B、〜38.lから信号が入力してく
ると、予め定められた時間だけその信号を保持し、演算
制御回路42からの続出信号を受けて、保持している信
号を同時に演算制御回路42に出力する。演算制御回路
42は、各信号保持回路40A〜40Hから人力してき
た信号に基づき、光線が当たった受光素子34、すなわ
ち光センサ32のどの位置を光線が通過したかを演算し
て求め、演算結果を表示装置60に出力して表示する。
光センサ32は、第2図に示したように、複数の受光素
子34.〜34Hからなっている。各受光素子34A〜
34.lは、例えばそれぞれが長さl、輻b、厚さtの
直方体状に形成され、幅方向が光センサ32の高さ(長
さ)方向となるように、相互に接触させられて一列に配
置される。そして、各受光素子341〜34Nは、長さ
方向の中央部が感光部44となっていて、感光部44の
両端に電極部46.48が形成しである。
受光素子34a〜34Nは、光線を検出することができ
る大きさを有していればよく、長さlが数mm(例えば
5mm)、幅すが1mmのものを使用することができる
。レベルセンサ30の桔度を上げたい場合には、受光素
子34の幅を1mm以下にすることが望ましいが、許容
誤差が数mm程度であれば1mm幅の素子で充分である
。そして、受光素子34は、フォトダイオード、フォト
トランジスタ、フォトダーリントントランジスタ等の光
信号を電気信号に変換するものであって、結晶性である
か非゛結晶性であるかを問わない。
なお、光センサ32の長さhは、数10mm以上が望ま
しく、できれば80mm以上、充分な長さは160mm
以上である。
上記の如く構成した実施例の作用は、次のとおりである
図示しない光源からの光線(レーザ光)は、所定の周期
をもって旋回している。そして、レベルセンサ30は、
電源が投入させると演算制御回路42が作動し、一定の
周期、例えばレーザ光の旋回周期に同期してマルチプレ
クサ36A〜36゜にチャンネル選択信号を送出する。
各マルチプレクサ36^〜36.は、演算制御回路42
から最初のチャンネル選択信号が入力してくると、第1
番目の入力端子と出力端子Sとがオン状態となり、1番
目の入力端子にtt続しである受光素子34の検出信号
を増幅器38a〜38Mに送る。
各増幅器38a〜38.は、マルチプレクサ36A〜3
6.が出力した受光素子34の検出信号を増幅して波形
整形し、光線が当たった受光素子34の出力信号は「H
」 (ハイ)、光線が当たらなかった受光素子34の出
力信号は「L」 (ロウ)として信号保持回路40a〜
40eに送る。
信号保持回路40a〜4ONは、演算制御回路42が増
幅器3B、〜3BMの出力した信号を取り込むことがで
きるように一定時間保持する。この信号保持回路40A
〜40.4による信号の保持は、次の理由による。
光源から出射される光線は所定の周期をもって旋回して
いるため、光線が光センサ32を横切る時間が極めて短
く、ある受光素子34.に光線が入射したとしても、光
線が当たっていない時間の方がはるかに長い、このため
、マルチプレクサ36A〜36.は、受光素子34から
検出信号が到達するまで待っていなければならず、また
演算制御回路42が受光素子34に光線が入射したか否
か(信号保持回路40.〜40.が保持している信号が
rH,か「L」か)を判断するまで信号を保持する必要
があることによる。
すなわち、光線は、一般に0.1秒〜1秒程度の周期で
旋回している。従って、光線の1回の旋回中に光線が光
センサ32を横切る時間は、レベルセンサ30と光源と
の距離が100mであるとすると数p秒である。このた
め、マルチプレクサ36A〜36Hは、選択されたチャ
ンネルに接続しである受光素子34に光線が当たったと
きの受光素子34の検出信号を増幅33Bに人力するた
めに、光線が光センサ32を横切るまで、すなわら0.
1秒〜1秒程度の曲選択されたチャンネルをオンしてお
く必要がある。しかも、増幅器38が増幅する受光素子
34の光線検出信号は数μ秒であり、演算制御回路42
が受光素子34に光線が入射したか否かを判断できる0
、1秒〜1秒程度の間、受光素子34が出力した信号を
保持しておく必要があることによる。
各信号保持回路404〜40Mは、演算制御回路42か
ら続出信号を受けて、保持していた信号を同時に演算制
御回路42に送出する。fA算制御回IPI42は、信
ぢ一保持回路40A〜40.から信号を受は取ると、信
号保持回路40A〜4ONにクリア信号を送って保持し
ている信号をクリアする。そして、演算制御回路42は
、信号保持回路40、〜40.から入力してきた信号の
レベルr HJ、「L」を調べ、その結果を図示しない
メモリに受光素子と対応させて格納する。
また、演算制御回路42は、信号保持回路40A〜40
Mにクリア信号を送ると同時に、マルチプレクサ3(I
A〜36エにチャンネル選択信号を送り、各マルチプレ
クサ36A〜36.の1番目の入力端子と出力端子Sと
をオフするとともに、2番目の入力端子と出力端子Sと
をオンし、2番目の入力端子に接続しである受光素子3
4の検出信号を増幅器38.〜38.lに入力させる。
以下、同様にしてマルチプレクサ36.〜367の最後
の入力端子に接続した受光素子34の出力信号の状態を
読み込んだ後、光線が光センサ32に当たったか否か、
光センサ32の光線が通過した位置、光線の光径、光線
が通過した位置の光センサ32の中央からの距離等を求
め、表示装置60に出力して表示する。
このように、実施例のレベルセンサ30は、光センサ3
2上の光線が通過した位置を求めて表示装置60に表示
するため、光線が当たった光センサ32の位置を直ちに
読み取ることができ、レベル測定の工数を削減でき、測
定を容易、迅速に行える。この結果、土地造成などの工
事の工数を減少でき、工事の促進を図ることができる。
しかも、光線の通過位置が光センサ32の上下方向中央
からどれだけ離れているかを即座番こ知ることができる
ばかりでなく・、光センサ32の任意の受光素子34を
5t1!点とした光線の通過位置をも求めることができ
る。また、光線が当たった受光素子34の数から、光線
の直径を知ることができ、光線の大きさが正常の範囲に
あるか否かの判断をすることができる。そして、光線が
屋上段または最下段の受光素子34に当たったか否かに
よって、光線が光センサ32から食み出しているか否か
の判断をすることができる。
く具体的実施例〉 第3図は、本発明に係るレベルセンサの具体例を示した
ものである。
第3図において、光センサ32は、受光素子34がフォ
トダイオードDからなっている。フォトダイオードDは
、第4図に示したように、1つのチップ50に10個形
威しである。光センサ32は、このチップ50を一列に
16個配置し、160個のフォトダイオードD1〜D0
゜によって構威しである。
各チップ50は、N形単結晶シリコン基板52にP形と
してボロンを拡散し、PN接合からなる10個のフォト
ダイオードD + ”−D +eが等間隔に形威しであ
る。そして、チップ50は、幅が4mm、1番目のフォ
トダイオードD、の中心から10番目のフォトダイオー
ドD、。の中心までの距離が10mmの大きさとなって
いる。
光センサ32を構成しているフォトダイオードD1〜D
1、は、カソード側が電源V、に接続され、アノード側
が負荷抵抗1’?t+〜Rt+i。を介して接地しであ
るとともに、結合コンデンサCCI〜C1,。を介して
マルチプレクサ36.〜361.の入力端子11N〜B
’I Nに接続されていて、例えば3vの逆バイアス電
圧が印加されている。
マルチプレクサ361〜36□。は、入力端子が8個の
8チヤンネルであって、出力端子OUTが各マルチプレ
クサ36t〜36.。に対応して設けた増幅器381〜
38!。の入力に接続しである。
また、マルチプレクサ36.〜36□。は、レベルコン
バータA、B、C,Eがマイクロコンピュータからなる
?* IX ill il1回IPI42に接続してあ
り、演算制御回路42からチャンネル選択信号と、すべ
てのチャンネルをオフするインヒビット信号を受けるよ
うになっている。
各増幅器381〜38.。は、増幅器381を例に示し
たように、PNP型トランジスタTR,のベースが、直
流分をカットする結合コンデンサC1を介してマルチプ
レクサに接続される。また、トランジスタT I? +
のベースは、抵抗R,、Rを介して回路電源VCCに接
続しであるとともに、抵抗Rz、Rqを介して接地しで
ある。なお、抵抗R,には、コンデンサC2が並列に接
続しである。また、トランジスタTR,は、ベースの入
力がl OmV以下の場合、オンの状態となるように抵
抗R+ 、Rz 、Rs 、R9が調整しである。
トランジスタTR,のエミッタは、電源VCCに接続し
てあり、コレクタは抵抗R4を介して接地しであるとと
もに、直流分をカットする結合コンデンサC1を介して
NPN型トランジスタTR。
のベースに接続してあり、コレクタに生じた出力信号を
トランジスタTRよのベースに人力する。
トランジスタTR,のベースは、抵抗R2を介して電源
VCCに接続しであるとともに、抵抗R6、R1、抵抗
R1に並列接続したバイパスコンデンサC1を介して接
地しである。バイパスコンデンサC4は、トランジスタ
TR,のベースに人力してくる信号の交流ノイズ成分を
除去する。また、トランジスタTRtのコレクタは、抵
抗R1を介して電源VCCに接続しであるとともに、N
PN型トランジスタTR,のベースに接続してあり、ト
ランジスタTR,の出力信号をトランジスタTR3のベ
ースに人力する。そして、トランジスタ′rR2のエミ
ッタは′、抵抗R9を介して接地しである。ただし、抵
抗Re、Rwは、Rs ) R*となるように抵抗値が
選択される。
トランジスタTR,は、コレクタが増幅器38の出力端
子となっていて、抵抗R111を介して電源vecに接
続しであるとともに、信号保持回路40の入力端子Aに
接続してあり、コレクタに現れた出力信号を信号保持回
路40に人力できるようになっている。また、トランジ
スタTR,のエコツタは、接地しである。
信号保持回路40.〜402.は、単安定マルチバイブ
レークからなり、各信号保持回路40.〜40t、が出
力するパルス幅を調節するためのタイミング抵抗R□〜
R1,とタイミングコンデンサC?I〜cyzeとが外
付けしである。また、信号保持回路40.〜407.の
出力端子Qは、演算制御回路42の入力端子INI〜l
N2Oに接続してあり、信号保持回路404〜40.I
が保持している信号を演算制御回路42に人力できるよ
うにしである。そして、演算制御回路42の出力側には
、例えば液晶素子からなる表示装置60が接続しである
レベルセンサ30の電源がオンされると、演算制御回路
42はマルチプレクサ361〜36t・の端子A、B、
Cにチャンネル選択信号を送出し、各マルチプレクサ3
61〜36.。の1番目の入力端子11Nを出力端子O
UTに接続する。これにより、各入力端子11Nに接続
しであるフォトダイオードD1、D9、Dll、−−−
−−D +s 3の検出信号が結合コンデンサCCI、
CC4、CC1?、−・・・・・CC153を介してマ
ルチプレクサ361〜36□。
に入力し、マルチプレクサ36.〜36.。から増幅器
38.〜38.。に出力される。
増幅器38.〜38.。は、マルチプレクサ361〜3
6□。から信号が入力してこない場合(フォトダイオー
ドDに光線が当たっていない場合)、r HJを出力し
ている。
すなわち、マルチプレクサ36.〜36.。から4g号
が入ってこない場合、増幅器38.〜38.。
のトランジスタTR,は、ベース電流がR,、R9を通
って流れるため、ベース電圧が低く、オンの状態にある
。また、トランジスタTR,は、トランジスタTR−が
オンしているために、トランジスタTR,の出力がベー
スに人力してオンの状態にあって、コレクタからエミッ
タに電流が流れる。トランジスタTR1のコレクタ抵抗
R1とエミッタ抵抗R9とは、前記したようにR1)R
の関係にあるため、抵抗R8による電圧降下によってコ
レクタ電圧が低下する。このため、トランジスタT R
、は、ベース電圧が低くなってオフの状態にある。従っ
て、増幅器38.〜38□。の出力であるトランジスタ
”rR、のコレクタ電圧は電源電圧■。となり、信号保
持回路401〜40□。
の入力端子Aには、rH,が人力する。そして、信号保
持回路40A〜40、は、「LJを出力する。
フォトダイオードDに光線が当たった場合、この光線が
当たったフォトダイオードDに対応したイδ号保持回路
40+〜40□。の出力が所定時間r HJに保持され
る。
すなわち、フォトダイオードDは、逆バイアスの電圧が
印加されていて、光線が当たると光電流が流れ、最低1
0mV以上の電圧が粘合コンデンサCt、マルチプレク
サ36を介して増幅器38に人力するようになっている
。この入力信号は、結合コンデンサC1を介してトラン
ジスタTR。
のベースに印加され、トランジスタTR,のベース電圧
を上昇させる。このため、トランジスタTR1はオフの
方向に向かい、トランジスタTR。
のエミッタに流れるit流が減少する。従って、トラン
ジスタTR,の工57タ抵抗R4による電圧降下が小さ
くなってエミッタ電圧が低下し、この電圧の低下が結合
コンデンサC8を介してトランジスタT R、のヘース
に伝達され、トランジスタT Rtのベース電圧を低下
させてトランジスタTR2をオフにする。トランジスタ
T Rxがオフになると、トランジスタTRff1のコ
レクタ電圧が上昇する。このコレクタには、トランジス
タTR3のヘースが直結しであるため、トランジスタ1
” R1のコレクタ電圧が上昇すると、トランジスタT
R1は直ちにオンして飽和状態となる。従って、トラン
ジスタTRIは、コレクタ電圧がほぼ接地電圧になり、
信号保持回路40.〜40.。の端子Aに人力している
増幅器381〜38t、の出力がr H、から「L」に
変化する。
信号保持回路40.〜40.。の人力が「L」に変化す
ると、信号保持回路40.〜40ffi。にトリガがか
かり、信号保持回路406〜40Mの出力がr II 
Jとなって、このr H、がタイ逅ング抵抗RTとタイ
ミングコンデンサCtとの積に依存した所定時間保持さ
れる。このrH,を保持する時間は、光線の旋回周期よ
り長くすることが望ましく、例えば光線の旋回周期が0
.2秒のとき、保持時間を1秒にする。
lti?! $制御回路42は、信号保持回路40□〜
402゜に読出信号を与え、各信号保持回路40.〜4
0、。が出力する信号を読み取って「■1」であるか「
L」であるかを判断し、その結果をフォトダイオードD
1、D9、Do、””−”’ D Is 3と対応させ
てメモリに格納する。そして、演算制御回路42は、デ
ータの格納が終了すると、次の信号との混信を防ぐため
、各信号保持回路40+〜40、。の端子Eにクリア信
号を人力し、信号保持回路40、〜40.。が保持して
いる信号をクリアするとともに、マルチプレクサ36.
〜36□。にチャンネル選択信号を送出して11Nの端
子をオフし、21Nの端子をオンする。このチャンネル
選択信号の送出周期は、光線の旋回周期と同期している
マルチプレクサ36.〜36□。のチャンネルが11N
から21Nに切り換えられると、フォトダイオードDz
、D+。、D4、−−m−・I)+saの出力信号が結
合コンデンサCCX、cc+e、c+s−・−Cl54
とマルチプレクサ361〜36!、とを介して増幅53
8.〜381.に入力する。
演算制御回路42は、以下同様にして各マルチプレクサ
361〜36!。の8IN端子のすべてに接続したフォ
トダイオードの出力信号を調べてメモリに記憶し、光セ
ンサ32上の光線が通過した位置等を演算する。
本実施例のように、8ビツトのマルチプレクサ36、〜
36□。を1用いた場合、フォトダイオードD I−D
 L6 #のすべての出力信号を演算制御回路42に取
り込むには、光線の旋回周期の8倍の時間を必要とし、
例えば光線の旋回周期が0.2秒であるとき、演算制j
n[1lilB42がフォトダイオードD、〜D4゜の
出力を取り込むのに1.6秒かかることになる。
光線は、一般に直径が5〜40mmの範囲にある。従っ
て、光線が光センサ32を横切ると、複数のフォトダイ
オードが光線を受け、演算制御回路42のメモリには、
光線の当たったフォトダイオードDの検出信号がrH,
として、光線の当たらなかったフォトダイオードDの検
出信号が「LJとして格納されている。そこで、演算制
御回路42は、メモリに格納しであるデータから光線が
当たった最上段と最下段のフォトダイオードの位置を求
め、その中央値を演算して光線の光センサ32を通過し
た位置として表示装置60に出力し、表示するとともに
、光線の通過位置が光センサ32の中心からどの程度ず
れているかを表示する。
また、演算制御回路42は、光線が当たったフォトダイ
オードの数を求め、その数が40以上であるとき、また
は5以下であるとき、その旨を表示装置60に表示し、
光源に異常がある可能性を知らせる。さらに、演算制御
回路42は、犬センサ32に光線が当たらなかった場合
、その旨を表示する。そして、演算制御回路42は、最
上段のフォトダイオードD1または最下段のフォトダイ
オードD l611に光線が当たった場合、光線が光セ
ンサ32から食み出している可能性があるため、表示装
置60に「測定不可Jを表示するとともに、最上段のフ
ォトダイオードD、に光線が当たったとき、レヘルセン
サ30を上昇させるように指示する表示をし、最下段の
フォトダイオードD1.。
に光線が当たったとき、レベルセンサ30を下げるよう
に指示する表示、をする。
次の表は、上記の実施例による測定結果をスケールによ
る測定結果と比較したものである。
(以下余白) なお、□は、測定不可を表示する。
このように、実施例のレヘルセンサによる測定は、誤差
が±1mm以内であり、充分に実用に供することができ
る。
なお、第5図に示したように、受光素子34a〜34N
の出力信号を、結合コンデンサC0を介して増幅器38
A〜388に直接人力して増幅し、増幅器3B、〜3B
Nの出力を信号保持回路401〜40.で所定時間保持
するようにし、この信号保持回路40a〜40.lの出
力をマルチプレクサ(ディジタルマルチプレクサを含む
)62^〜62.4を介して演算制御回路42に人力す
るようにするこができる。しかし、この場合には、各受
光素子34A〜34Nに対応して増幅器38、信号保持
回路40等を設ける必要があり、回路が複雑となるばか
りでなく、不経済となる。
なお、前記実施例においては、光源とレベルセンサ30
とがほぼ同し高さ(レヘル)にある場合の測定について
説明したが、光源の光線の出射角度を調節できるように
すると、光源とレベルセンサ30とが異なった高さの場
合の測定にも適用することができる。
〔発明の効果J 以上に説明したように、本発明によれば、光センサを受
光素子列によって構成するとともに、受光素子の検出信
号を信号保持回路によって一時保持させ、この信号保持
回路の出力信号を演算制御回路に入力して光線を受けた
受光素子の位置を求めるようにしているため、光源に対
するレベルを容易に求めることができ、土地の造成等の
工事を迅速に進めることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の実施例に係るレベルセンサのブロック
図、第2図は光センサの詳細説明図、第3図は本発明の
具体例を示す回路図、第4図は第3図の光センサの説明
図、第5図は複数の受光素子を用いた光センサによるレ
ヘルセンサの他の構成例のブロック図、第6図は従来の
レヘルセンサの説明図、第7図は従来のレベルセンサの
表示器の説明図である。 30−−−レヘルセンサ、32−光センサ、3、’!−
−−受光素子、36A、36.1 −−−アナログマル
チプレクサ、38A、38m−増幅器、4oa 、40
. −−信号保持回路、42− 演算制御回路、6〇 
−表示装置。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)光源からの光線を検知して電気信号を出力する受
    光素子列からなった光センサと、この光センサの前記各
    受光素子が接続され、各受光素子の検出信号を順次出力
    するマルチプレクサと、このマルチプレクサが出力した
    信号を一時的に保持する信号保持回路と、前記マルチプ
    レクサにチャンネル選択信号を与えるとともに、前記信
    号保持回路が保持している信号を読み取り、前記光セン
    サ上の前記光線の位置を求める演算制御回路とを有する
    ことを特徴とするレベルセンサ。
JP1323788A 1989-12-15 1989-12-15 レベルセンサ Expired - Lifetime JPH07104161B2 (ja)

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006170990A (ja) * 2004-12-10 2006-06-29 Hilti Ag アクティブ型受光器

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5019469A (ja) * 1973-06-18 1975-02-28
JPS5584514U (ja) * 1978-12-07 1980-06-11

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5019469A (ja) * 1973-06-18 1975-02-28
JPS5584514U (ja) * 1978-12-07 1980-06-11

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006170990A (ja) * 2004-12-10 2006-06-29 Hilti Ag アクティブ型受光器

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