JPH03183640A - 抵抗体ペースト及びセラミックス基板 - Google Patents
抵抗体ペースト及びセラミックス基板Info
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- JPH03183640A JPH03183640A JP22796290A JP22796290A JPH03183640A JP H03183640 A JPH03183640 A JP H03183640A JP 22796290 A JP22796290 A JP 22796290A JP 22796290 A JP22796290 A JP 22796290A JP H03183640 A JPH03183640 A JP H03183640A
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Landscapes
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明はセラミックス基板に適した抵抗体ペースト及び
それを用いたセラミックス基板に関するものである。
それを用いたセラミックス基板に関するものである。
[従来の技術]
従来混成集積回路における抵抗はセラミックス基板上又
は内部に銀(Ag)又はAg−パラジウム(Pd)導体
を形成し、その間に抵抗体ペーストを印刷し、空気等の
酸化性雰囲気中で約850〜900℃で焼成し、形成さ
れていた。
は内部に銀(Ag)又はAg−パラジウム(Pd)導体
を形成し、その間に抵抗体ペーストを印刷し、空気等の
酸化性雰囲気中で約850〜900℃で焼成し、形成さ
れていた。
その際に使用されていた抵抗体ペーストは主としてRu
O□とガラスからなっていた。
O□とガラスからなっていた。
しかし最近ではマイグレーション等の信頼性の面からA
g又はAlg−Pd導体に代わり、銅(Cu)導体が使
用されるようになってきている。
g又はAlg−Pd導体に代わり、銅(Cu)導体が使
用されるようになってきている。
しかしCu導体は窒素等の非酸化性雰囲気中で焼成しな
いと酸化されてしまうため、非酸化性雰囲気で還元され
抵抗を形成しないRLI02は使用できない。
いと酸化されてしまうため、非酸化性雰囲気で還元され
抵抗を形成しないRLI02は使用できない。
そこで最近、LaBa粉末とガラス粉末、 5n02ド
一プ品とガラス粉末、珪化物とガラス粉末等が提案され
ている。
一プ品とガラス粉末、珪化物とガラス粉末等が提案され
ている。
しかし上記組み合わせは抵抗値や抵抗値温度いという欠
点がある。
点がある。
[発明の解決しようとする課題]
本発明は、窒素等の非酸化性雰囲気中で焼成が可能で、
抵抗値、抵抗値温度係数(TCR)が安定的に得られる
従来知られていなかった抵抗体ペースト及びセラミック
ス基板を新規に提供することを目的とするものである。
抵抗値、抵抗値温度係数(TCR)が安定的に得られる
従来知られていなかった抵抗体ペースト及びセラミック
ス基板を新規に提供することを目的とするものである。
[課題を解決するための手段]
本発明は、前述の問題点を解決すべくなされたものであ
り、無機成分が重量%表示で実質的に、ガラス粉末30
〜99.5と金属二硼化物粉末0.5〜70かうなり、
該ガラス粉末の組成中にTaxes、 NbzOsのう
ち少なくとも一種以上を含有してなることを特徴とする
抵抗体ペースト等を提供するものである。
り、無機成分が重量%表示で実質的に、ガラス粉末30
〜99.5と金属二硼化物粉末0.5〜70かうなり、
該ガラス粉末の組成中にTaxes、 NbzOsのう
ち少なくとも一種以上を含有してなることを特徴とする
抵抗体ペースト等を提供するものである。
以下、本発明の詳細な説明する。
本発明の抵抗体ペーストは単層又は多層セラミックス基
板に使用するのに適したものであり、焼成後の固化した
アルミナ基板等のセラミックス基板、あるいはセラミッ
クス基板用のグリーンシート上に印刷等の方法により形
成した後、窒素雰囲気中等の非酸化性雰囲気中で焼成さ
れるものである。尚%は特に記載しない限り、重量%を
意味する。
板に使用するのに適したものであり、焼成後の固化した
アルミナ基板等のセラミックス基板、あるいはセラミッ
クス基板用のグリーンシート上に印刷等の方法により形
成した後、窒素雰囲気中等の非酸化性雰囲気中で焼成さ
れるものである。尚%は特に記載しない限り、重量%を
意味する。
本発明の抵抗体ペーストは無機成分が実質的に
ガラス粉末 30〜99.5%
導電物質粉末 0.5〜70%
かうなり、以下順次これらについて説明する。
ガラス粉末は、低温度(例えば900℃以下)で充分に
流動性を有し、焼成時に上記導電物質粉末を覆って充分
に濡らし、かつ焼結するSiO□−8203系ガラスの
ものが好ましい。
流動性を有し、焼成時に上記導電物質粉末を覆って充分
に濡らし、かつ焼結するSiO□−8203系ガラスの
ものが好ましい。
かかるガラス粉末の含有量が30%より少ないと導電物
質粉末を充分に濡らすことができないため、焼結層に空
孔が多くなり、本発明の抵抗体ペーストを焼成すること
によって得られる抵抗体の強度が弱くなり、又抵抗値の
安定性が低下するので好ましくなく、99.5%を越え
ると、導電物質粉末間の接着が少なくなり、上記抵抗値
が大きくなりすぎ適当でない。
質粉末を充分に濡らすことができないため、焼結層に空
孔が多くなり、本発明の抵抗体ペーストを焼成すること
によって得られる抵抗体の強度が弱くなり、又抵抗値の
安定性が低下するので好ましくなく、99.5%を越え
ると、導電物質粉末間の接着が少なくなり、上記抵抗値
が大きくなりすぎ適当でない。
本発明にかかるガラス粉末は上記範囲中40〜98%の
範囲が望ましい。
範囲が望ましい。
一方導電物質粉末としては、窒素雰囲気中の焼成で安定
でかつ良好な電気伝導性を有する必要がある。又、良好
な分散性を得るため均一な微粉末となり、しかも900
℃で自己焼結しないためには高融点である必要がある。
でかつ良好な電気伝導性を有する必要がある。又、良好
な分散性を得るため均一な微粉末となり、しかも900
℃で自己焼結しないためには高融点である必要がある。
金属二硼化物はこのような特性に優れており導電性材料
として望ましい。中でも特に望ましいのはIV a族、
A1及びNbの二硼化物で、最も望ましくはZrBzで
ある。
として望ましい。中でも特に望ましいのはIV a族、
A1及びNbの二硼化物で、最も望ましくはZrBzで
ある。
本発明にかかるガラスの粒度は、小さすぎると上記抵抗
値が大きくなりすぎ好ましくなく、大きすぎると、ガラ
スを充分に濡らすことができず、焼結層に空孔が多くな
り好ましくない。
値が大きくなりすぎ好ましくなく、大きすぎると、ガラ
スを充分に濡らすことができず、焼結層に空孔が多くな
り好ましくない。
平均粒径は0.5〜6μmが必要な範囲であり、望まし
い範囲は1〜5μmである。
い範囲は1〜5μmである。
一方、本発明にかかる導電物質粉末の粒度は小さすぎる
と抵抗値が大きくなり過ぎ好ましくなく、大きすぎると
セラミックス基板上で不均一になり、抵抗値のバラツキ
が大きくなるので好ましくない。平均粒径は0.01〜
5μmの範囲が必要な範囲であり、望ましい範囲は0.
05〜3μmである。
と抵抗値が大きくなり過ぎ好ましくなく、大きすぎると
セラミックス基板上で不均一になり、抵抗値のバラツキ
が大きくなるので好ましくない。平均粒径は0.01〜
5μmの範囲が必要な範囲であり、望ましい範囲は0.
05〜3μmである。
本発明にかかるガラスバインダーの役割として導電粉末
を良好に濡らしかつ基板(アルミナ等)との密着に優れ
ている必要がある。又窒素焼成による還元等の変化が起
こりにくい等の理由により、硼珪酸系のものが望ましく
、以下のものが特に望ましい。
を良好に濡らしかつ基板(アルミナ等)との密着に優れ
ている必要がある。又窒素焼成による還元等の変化が起
こりにくい等の理由により、硼珪酸系のものが望ましく
、以下のものが特に望ましい。
本発明にかかるガラス粉末は、無機成分が実質的に
Si0□ 7〜60%
A1□0,0〜30%
MgO+CaO+SrO+BaO10〜60%(MgO
,0〜40. C:aOO〜40. Sr00〜60゜
Ba00〜60) LiJ+Na2O+に20+C5z0 0〜10%pb
o o〜10%Zn0
0〜20%Zr0t+Ti0i
Q〜io%8203
5〜40%Tax(ls+Nt)2
0s O,1〜60%Ta1ls
O〜60%NbzOs
0〜50%かうなり、順次こ
れらについて説明する。
,0〜40. C:aOO〜40. Sr00〜60゜
Ba00〜60) LiJ+Na2O+に20+C5z0 0〜10%pb
o o〜10%Zn0
0〜20%Zr0t+Ti0i
Q〜io%8203
5〜40%Tax(ls+Nt)2
0s O,1〜60%Ta1ls
O〜60%NbzOs
0〜50%かうなり、順次こ
れらについて説明する。
かかる組成において、SiO□はガラスのネットワーク
フォーマ−であり、7%より少ないと、軟化点が低くな
りすぎ耐熱性が低下し、再焼成時に変形を生じ易くなる
ので好ましくない。
フォーマ−であり、7%より少ないと、軟化点が低くな
りすぎ耐熱性が低下し、再焼成時に変形を生じ易くなる
ので好ましくない。
一方、SiO□が60%より多いと、軟化点が高くなり
過ぎ、焼成時にガラスの流動が悪くなり、導電物質粉末
を覆って濡らすことができず、焼結層の空孔が多くなり
すぎ、抵抗の安定性が悪くなるので適当でない。望まし
くは、10〜45%の範囲である。
過ぎ、焼成時にガラスの流動が悪くなり、導電物質粉末
を覆って濡らすことができず、焼結層の空孔が多くなり
すぎ、抵抗の安定性が悪くなるので適当でない。望まし
くは、10〜45%の範囲である。
A1.Osは必須ではないが、含有することにより、耐
湿性の向上に効果がある。30%を超えるとガラスの軟
化温度が高くなり、焼結性が悪くなり適当でない。望ま
しくは18%以下である。
湿性の向上に効果がある。30%を超えるとガラスの軟
化温度が高くなり、焼結性が悪くなり適当でない。望ま
しくは18%以下である。
MgO+CaO+SrO+BaOはガラス粉末製造時の
溶解性を向上さすため及び熱膨張係数を調整する働きが
ある。10%より少ないと上記の溶解性が充分に向上し
ないと共にガラス製造時に失透を生じやすく、60%を
超えると熱膨張係数が大きくなりすぎ、いずれも適当で
ない。望ましくは、15〜55%の範囲である。
溶解性を向上さすため及び熱膨張係数を調整する働きが
ある。10%より少ないと上記の溶解性が充分に向上し
ないと共にガラス製造時に失透を生じやすく、60%を
超えると熱膨張係数が大きくなりすぎ、いずれも適当で
ない。望ましくは、15〜55%の範囲である。
また、上記MgO+CaO+SrO+BaOの内のMg
O。
O。
CaOはそれぞれ40%以上であると、熱膨張係数が大
きくなりすぎ、不適当である。望ましい範囲は0〜35
%である。上記MgO+CaO+SrO+BaOの内の
SrOは60%以上であると熱膨張係数が大きくなりす
ぎ、不適当である。望ましい範囲は0〜55%である。
きくなりすぎ、不適当である。望ましい範囲は0〜35
%である。上記MgO+CaO+SrO+BaOの内の
SrOは60%以上であると熱膨張係数が大きくなりす
ぎ、不適当である。望ましい範囲は0〜55%である。
LizO+Na2O+KzO+C5tOは必須ではない
が、ガラスの溶解性の向上を図ることができ、又抵抗値
を高くする作用がある。10%を超えると、熱膨張係数
が大きくなりすぎ、基板とのマツチングが悪くなり、焼
成後厚膜にクラックが入る可能性が大となり、適当でな
い。望ましくは8%以下である。
が、ガラスの溶解性の向上を図ることができ、又抵抗値
を高くする作用がある。10%を超えると、熱膨張係数
が大きくなりすぎ、基板とのマツチングが悪くなり、焼
成後厚膜にクラックが入る可能性が大となり、適当でな
い。望ましくは8%以下である。
PbOは必須ではないが、ガラスのフラックス成分とし
ての効果があり、又抵抗値を高くする作用がある。10
%を超えると抵抗値が不安定になるため適当でない。望
ましくは5%以下である。
ての効果があり、又抵抗値を高くする作用がある。10
%を超えると抵抗値が不安定になるため適当でない。望
ましくは5%以下である。
ZnOは必須ではないが、ガラスの溶解性の改善のため
に20%まで含有させることが可能であり、15%以下
が望ましい範囲である。
に20%まで含有させることが可能であり、15%以下
が望ましい範囲である。
ZrO□+TiO□は必須ではないが、添加することに
より、抵抗体の耐湿信頼性を向上さすことができる。添
加量は10%が可能であるが、望ましくは7%以下であ
る。
より、抵抗体の耐湿信頼性を向上さすことができる。添
加量は10%が可能であるが、望ましくは7%以下であ
る。
B20.はフラックス成分として用いるが、5%より少
ないと軟化点が高くなり、焼結不足となり、焼結層に空
孔が多くなりすぎる。また40%を超えるとガラスの耐
水性が低下し適当でない。望ましくは7〜38%の範囲
である。
ないと軟化点が高くなり、焼結不足となり、焼結層に空
孔が多くなりすぎる。また40%を超えるとガラスの耐
水性が低下し適当でない。望ましくは7〜38%の範囲
である。
Tag’s、 NbzOsは、抵抗値と抵抗値温度係数
(TCR)の調整のために使用する。T a z Os
+NbzOsを導入することにより、より抵抗値の低
いものが可能となり、また高抵抗値でのTCRを正の方
向に動かし、さらに高抵抗値での抵抗値バラツキを小さ
くする効果がある。その量は、目標抵抗値に合致するよ
うに決める。
(TCR)の調整のために使用する。T a z Os
+NbzOsを導入することにより、より抵抗値の低
いものが可能となり、また高抵抗値でのTCRを正の方
向に動かし、さらに高抵抗値での抵抗値バラツキを小さ
くする効果がある。その量は、目標抵抗値に合致するよ
うに決める。
但し、Tag’sは60%、NbzOsは50%、Ta
zOs+Nb、0.は60%を超えるとガラス化が困難
となり、T’a 20 s + N b t Osは0
.1%以下であると効果が少ない。Tag’sの望まし
い範囲は0〜50%、NbzOsの望ましい範囲は0〜
45%、TazOs+NbJsの望ましい範囲は1〜5
0%である。
zOs+Nb、0.は60%を超えるとガラス化が困難
となり、T’a 20 s + N b t Osは0
.1%以下であると効果が少ない。Tag’sの望まし
い範囲は0〜50%、NbzOsの望ましい範囲は0〜
45%、TazOs+NbJsの望ましい範囲は1〜5
0%である。
以上記載したガラス粉末の組成の望ましい範囲について
まとめると以下の通りとなる。
まとめると以下の通りとなる。
SiO□ lO〜45%A1□030〜
18% MgO+CaO+SrO+BaOL5〜55%(MgO
,0〜35. CaOO〜35. Sr00〜55゜B
a00〜55) Li2O+Na2O+に20+C5zOO〜 8%pb
o o〜 5%Zn
O(1〜15% ZrO2+Ti0z o〜 7%
8203 7〜38%Ta2
15+Nb2o5 1〜50%Ta205
O〜50%Nb、05
0〜45%本発明の抵抗体
ペーストの組成物は、各粉末が上記割合に混合されてい
るものであり、以下本発明の抵抗体ペーストの作製方法
とそれを使用した厚膜回路の製造の一例について説明す
る。
18% MgO+CaO+SrO+BaOL5〜55%(MgO
,0〜35. CaOO〜35. Sr00〜55゜B
a00〜55) Li2O+Na2O+に20+C5zOO〜 8%pb
o o〜 5%Zn
O(1〜15% ZrO2+Ti0z o〜 7%
8203 7〜38%Ta2
15+Nb2o5 1〜50%Ta205
O〜50%Nb、05
0〜45%本発明の抵抗体
ペーストの組成物は、各粉末が上記割合に混合されてい
るものであり、以下本発明の抵抗体ペーストの作製方法
とそれを使用した厚膜回路の製造の一例について説明す
る。
上記本発明の抵抗体ペーストの組成物に有機バインダー
、溶剤からなる有機ビヒクルを添加し、混練し、ペース
ト状とする。この有機バインダーとしては、エチルセル
ロース、アクリル樹脂、エチレン−酢酸ビニル共重合樹
脂、ポリα−メチルスチレン樹脂、溶剤としては、α−
テルピネオール;ブチルカルピトールアセテート;ブチ
ルカルピトール、 2,2.4−)−リメチルベンクン
ジオール−1,3,−モノイソブチレート;ジエチレン
グリコールジ−n−ブチルエーテル等が通常使用できる
。さらに分散剤として界面活性剤を添加してもよい。
、溶剤からなる有機ビヒクルを添加し、混練し、ペース
ト状とする。この有機バインダーとしては、エチルセル
ロース、アクリル樹脂、エチレン−酢酸ビニル共重合樹
脂、ポリα−メチルスチレン樹脂、溶剤としては、α−
テルピネオール;ブチルカルピトールアセテート;ブチ
ルカルピトール、 2,2.4−)−リメチルベンクン
ジオール−1,3,−モノイソブチレート;ジエチレン
グリコールジ−n−ブチルエーテル等が通常使用できる
。さらに分散剤として界面活性剤を添加してもよい。
次いで焼成後の固化したアルミナ基板、又はガラスセラ
ミックス基板等のセラミックス基板上に導体を作成する
ために、Cuペーストを所定の回路に印刷、乾燥後、酸
素濃度20ppm以下の窒素雰囲気中で800〜100
0℃、5〜30分程度で焼成する。この焼成条件の望ま
しい範囲は880〜920°C,7〜15分である。次
いで抵抗を設けるべき所定の箇所に上記本発明の抵抗体
ペーストを印刷した後乾燥させ、上記窒素雰囲気中。
ミックス基板等のセラミックス基板上に導体を作成する
ために、Cuペーストを所定の回路に印刷、乾燥後、酸
素濃度20ppm以下の窒素雰囲気中で800〜100
0℃、5〜30分程度で焼成する。この焼成条件の望ま
しい範囲は880〜920°C,7〜15分である。次
いで抵抗を設けるべき所定の箇所に上記本発明の抵抗体
ペーストを印刷した後乾燥させ、上記窒素雰囲気中。
800〜1000℃、5〜30分で焼成する。この焼成
条件の望ましい範囲は880〜920℃、7〜15分で
ある。
条件の望ましい範囲は880〜920℃、7〜15分で
ある。
多層セラミックス基板−括焼成の場合は、上記Cuペー
ストと本発明の抵抗体ペーストを印刷したセラミックス
基板用等のセラミックスのグリーンシートを熱圧着後積
層し、上記窒素雰囲気中で800〜1000℃、数分〜
数時間で一括焼威し、多層基板を作成する。
ストと本発明の抵抗体ペーストを印刷したセラミックス
基板用等のセラミックスのグリーンシートを熱圧着後積
層し、上記窒素雰囲気中で800〜1000℃、数分〜
数時間で一括焼威し、多層基板を作成する。
尚本発明の抵抗体ペーストには、着色の°ために金属酸
化物、耐熱性無機顔料等の着色顔料を0〜5%添加する
ことができる。
化物、耐熱性無機顔料等の着色顔料を0〜5%添加する
ことができる。
また、ガラス製造時、清澄剤、溶融促進剤として硝酸塩
、亜ヒ酸、硫酸塩、フッ化物、塩化物等を0〜5%添加
することができる。
、亜ヒ酸、硫酸塩、フッ化物、塩化物等を0〜5%添加
することができる。
[実施例]
本発明にかかるガラス粉末の各原料を酸化物換算で表−
1に示す割合で調合し、これを白金ルツボに入れ、13
50〜1500℃で2〜3時間撹拌しつつ加熱撹拌した
。次いでこれを水砕又はフレーク状とし、更に粉砕装置
により平均粒径0.5〜6μmになるように粉砕し、ガ
ラス粉末を製造した。次いで導電物質として表1に示す
ZrBz、TiB2.AlB2. NbB2を平均粒径
0. O1〜5 lLmになるように調整した。次いで
これらのガラスで混合し、本発明の抵抗体ペーストにか
かる組成物を得た。
1に示す割合で調合し、これを白金ルツボに入れ、13
50〜1500℃で2〜3時間撹拌しつつ加熱撹拌した
。次いでこれを水砕又はフレーク状とし、更に粉砕装置
により平均粒径0.5〜6μmになるように粉砕し、ガ
ラス粉末を製造した。次いで導電物質として表1に示す
ZrBz、TiB2.AlB2. NbB2を平均粒径
0. O1〜5 lLmになるように調整した。次いで
これらのガラスで混合し、本発明の抵抗体ペーストにか
かる組成物を得た。
次いでこれらに有機バインダーとしてエチルセルロース
、溶剤としてα−テルピネオールからなる有機ビヒクル
を添加し、混練し、粘度が30X 10’ cpsのペ
ーストを作成した。次いで固化したアルミナ基板上に本
発明にかかる抵抗の電極としてCuペーストを所定の回
路にスクリーン印刷、乾燥し、酸素濃度20ppm以下
の窒素雰囲気中900℃、10分で焼成した。
、溶剤としてα−テルピネオールからなる有機ビヒクル
を添加し、混練し、粘度が30X 10’ cpsのペ
ーストを作成した。次いで固化したアルミナ基板上に本
発明にかかる抵抗の電極としてCuペーストを所定の回
路にスクリーン印刷、乾燥し、酸素濃度20ppm以下
の窒素雰囲気中900℃、10分で焼成した。
次いで抵抗所定箇所に上記抵抗体ペーストを200メツ
シユスクリーンでスクリーン印刷、乾燥し、酸素濃度2
0ppm以下の窒素雰囲気中で900℃10分で焼成し
た。焼成膜厚は約15μmであった。
シユスクリーンでスクリーン印刷、乾燥し、酸素濃度2
0ppm以下の窒素雰囲気中で900℃10分で焼成し
た。焼成膜厚は約15μmであった。
このようにしてセラミック基板上に回路を作成した。こ
の回路について、抵抗値、抵抗温度係数(TCR)、高
温放置による抵抗値ドリフトを測定した。これらの結果
を表−1に記載しん 主 + J、+ 7+叩r
+1.\ン島しスl−eφ閲叫)呼ぶ\講\又抵抗体ペ
ーストは抵抗特性に優れ、厚膜回路用抵抗体ペーストと
して十分使用できる特性を有することが詔められる。
の回路について、抵抗値、抵抗温度係数(TCR)、高
温放置による抵抗値ドリフトを測定した。これらの結果
を表−1に記載しん 主 + J、+ 7+叩r
+1.\ン島しスl−eφ閲叫)呼ぶ\講\又抵抗体ペ
ーストは抵抗特性に優れ、厚膜回路用抵抗体ペーストと
して十分使用できる特性を有することが詔められる。
比較例として本発明にかかる抵抗体ペースト以外のもの
についても同様の評価を行ったので表−1に記載した。
についても同様の評価を行ったので表−1に記載した。
なお各特性の測定方法は次の通りである。
l)抵抗値
1mm口抵抗パターンにてデジタルマルチメーターで測
定 2)CV(抵抗値バラツキ) 抵抗値測定結果のσ/平均値 3)抵抗値温度係数(TCP) 25°C,−55°C,+125°Cの抵抗値(R25
R−,5,R,□5)を恒温槽中で抵抗計により測定し
、次の式により算出した。
定 2)CV(抵抗値バラツキ) 抵抗値測定結果のσ/平均値 3)抵抗値温度係数(TCP) 25°C,−55°C,+125°Cの抵抗値(R25
R−,5,R,□5)を恒温槽中で抵抗計により測定し
、次の式により算出した。
4)
高温放置による抵抗値ド
ノフ
ト
50
℃の恒温槽中で
100時間放置し、
次の
式により算出した。
上式において
R+ooゎ=
100時間後の抵抗値
R8
=抵抗の初期値
[発明の効果]
本発明の抵抗体ペーストは、窒素雰囲気等の非酸化性雰
囲気中で焼成が可能で、安定した信頼性の高い抵抗をセ
ラミックス基板上に形成可能であり、特に高温放置によ
る抵抗値ドリフト特性に優れているという効果も認めら
れる。
囲気中で焼成が可能で、安定した信頼性の高い抵抗をセ
ラミックス基板上に形成可能であり、特に高温放置によ
る抵抗値ドリフト特性に優れているという効果も認めら
れる。
Claims (3)
- (1)無機成分が重量%表示で実質的に、ガラス粉末3
0〜99.5と金属二硼化物粉末0.5〜70かうなり
、該ガラス粉末の組成中にTa_2O_5,Nb_2O
_5のうち少なくとも一種以上を含有してなることを特
徴とする抵抗体ペースト。 - (2)前記金属二硼化物はZrB_2である特許請求の
範囲第1項記載の抵抗体ペースト。 - (3)第1項記載の抵抗体ペーストを使用して焼成され
たセラミックス基板。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1-228225 | 1989-09-05 | ||
JP22822589 | 1989-09-05 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03183640A true JPH03183640A (ja) | 1991-08-09 |
Family
ID=16873135
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP22796290A Pending JPH03183640A (ja) | 1989-09-05 | 1990-08-31 | 抵抗体ペースト及びセラミックス基板 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH03183640A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN103626397A (zh) * | 2013-12-17 | 2014-03-12 | 佛山市中国科学院上海硅酸盐研究所陶瓷研发中心 | 一种导电玻璃及其制造方法 |
WO2014175013A1 (ja) * | 2013-04-25 | 2014-10-30 | 株式会社村田製作所 | 導電性ペーストおよび積層セラミック電子部品 |
JP2017048061A (ja) * | 2015-08-31 | 2017-03-09 | 日本電気硝子株式会社 | ガラスペースト組成物及び被膜形成ガラス部材の製造方法 |
-
1990
- 1990-08-31 JP JP22796290A patent/JPH03183640A/ja active Pending
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2014175013A1 (ja) * | 2013-04-25 | 2014-10-30 | 株式会社村田製作所 | 導電性ペーストおよび積層セラミック電子部品 |
JP5950033B2 (ja) * | 2013-04-25 | 2016-07-13 | 株式会社村田製作所 | 導電性ペーストおよび積層セラミック電子部品 |
JPWO2014175013A1 (ja) * | 2013-04-25 | 2017-02-23 | 株式会社村田製作所 | 導電性ペーストおよび積層セラミック電子部品 |
CN103626397A (zh) * | 2013-12-17 | 2014-03-12 | 佛山市中国科学院上海硅酸盐研究所陶瓷研发中心 | 一种导电玻璃及其制造方法 |
JP2017048061A (ja) * | 2015-08-31 | 2017-03-09 | 日本電気硝子株式会社 | ガラスペースト組成物及び被膜形成ガラス部材の製造方法 |
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