JPH03141670A - gate array - Google Patents
gate arrayInfo
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- JPH03141670A JPH03141670A JP1279160A JP27916089A JPH03141670A JP H03141670 A JPH03141670 A JP H03141670A JP 1279160 A JP1279160 A JP 1279160A JP 27916089 A JP27916089 A JP 27916089A JP H03141670 A JPH03141670 A JP H03141670A
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- Japan
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- gate electrodes
- gate
- basic cell
- fets
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10D—INORGANIC ELECTRIC SEMICONDUCTOR DEVICES
- H10D84/00—Integrated devices formed in or on semiconductor substrates that comprise only semiconducting layers, e.g. on Si wafers or on GaAs-on-Si wafers
- H10D84/90—Masterslice integrated circuits
- H10D84/903—Masterslice integrated circuits comprising field effect technology
- H10D84/907—CMOS gate arrays
Landscapes
- Electrodes Of Semiconductors (AREA)
- Design And Manufacture Of Integrated Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。(57) [Summary] This bulletin contains application data before electronic filing, so abstract data is not recorded.
Description
【発明の詳細な説明】 〔概要〕 ゲートアレイ、特にその基本セルに関し。[Detailed description of the invention] 〔overview〕 Regarding gate arrays, especially their basic cells.
ゲート電極の平行接続及び交差接続を簡潔に配線できる
ような基本セルの構造を提供することを目的とし。The purpose is to provide a basic cell structure that allows simple wiring of parallel connections and cross connections of gate electrodes.
(1)基板上に2個のFETが直列に接続された素子領
域が2個平行に対向して配列されたゲートアレイの基本
セルを有し、該基本セルは両方の素子領域上に共通して
2個のゲート電極が形成され。(1) It has a basic cell of a gate array in which two device regions in which two FETs are connected in series are arranged in parallel on the substrate, and the basic cell is common to both device regions. Then, two gate electrodes are formed.
該2個のゲート電極はそれぞれの中央部から反対方向に
ずれた位置で分割されているように構成する。The two gate electrodes are configured to be divided at positions shifted in opposite directions from their respective centers.
(2)前記2個のゲート電極間に補助配線パターンを設
けるように構成する。(2) An auxiliary wiring pattern is provided between the two gate electrodes.
(3)一基板上に2個のFETが直列に接続された素子
領域が2個平行に対向して配列されたゲートアレイの基
本セルを有し、該基本セルは両方の素子領域上に共通し
て2個のゲート電極が形成され。(3) It has a basic cell of a gate array in which two device regions in which two FETs are connected in series are arranged in parallel on one substrate, and the basic cell is common to both device regions. Two gate electrodes are then formed.
該2個のゲート電極はそれぞれの中央部から同じ方向に
ずれた位置で分割されているように構成する。The two gate electrodes are configured to be divided at positions shifted in the same direction from their respective centers.
(産業上の利用分野〕 本発明はゲートアレイ、特にその基本セルに関する。(Industrial application field) The present invention relates to gate arrays, and in particular to their elementary cells.
ゲートアレイは半導体チップ上にあらかじめトランジス
タを形成しておき2所望の回路に応じて配線パターンを
形成して製造するセミカスタムの半導体集積回路装置で
、システムの多様化にともない広く用いられるようにな
った。A gate array is a semi-custom semiconductor integrated circuit device manufactured by forming transistors on a semiconductor chip in advance and forming a wiring pattern according to the desired circuit, and has become widely used as systems become more diverse. Ta.
ゲートアレイの従来の基本セル構造として、第7図に示
されるパターンが広く用いられていた。As a conventional basic cell structure of a gate array, the pattern shown in FIG. 7 has been widely used.
第7図(1)〜(3)は従来例による基本セル構造のパ
ターンの例を示す平面図である。FIGS. 7(1) to 7(3) are plan views showing examples of patterns of basic cell structures according to conventional examples.
図には、実線で示されるゲート電極1. IA、 IB
2、2A、 2Bと9点線で示される2個のFETが直
列に接続された素子領域3,4により、基板上に2組の
2個直列に接続された FET (QIA、QIB及び
QZA+021)が平行に配列されている。In the figure, gate electrodes 1. IA, IB
Two sets of two FETs (QIA, QIB, and QZA+021) connected in series are formed on the board by the element regions 3 and 4 in which two FETs are connected in series, as shown by 9 dotted lines, 2, 2A, and 2B. arranged in parallel.
第7図(1)において、1,2はゲート電極、34は素
子領域である。In FIG. 7(1), 1 and 2 are gate electrodes, and 34 is an element region.
このセルは、ゲート電極1,2はそれぞれ左右のFET
に共通であり、ゲート電極が平行接続されたパターンで
ある。In this cell, gate electrodes 1 and 2 are the left and right FETs, respectively.
This is a pattern in which gate electrodes are connected in parallel.
第7図(2)において、 LA、 IB、 2はゲー
ト電極。In FIG. 7 (2), LA, IB, 2 are gate electrodes.
3.4は素子領域である。3.4 is an element area.
このセルは、ゲート電極IA、 IBは左右のFETご
とに分割され、ゲート電極2は左右のFETに共通であ
る。In this cell, the gate electrodes IA and IB are divided into left and right FETs, and the gate electrode 2 is common to the left and right FETs.
第7図(3)において、 IA、 IB、 2A、 2
Bはゲート電極、3,4は素子領域である。In Figure 7 (3), IA, IB, 2A, 2
B is a gate electrode, and 3 and 4 are element regions.
このセルのゲート電極は4個のFETごとに独立に形成
されている。Gate electrodes of this cell are formed independently for each of the four FETs.
第7図(3)のセルにおいては、第8図の等価回路に示
すゲート電極の交差接続を行う場合は接続が困難であり
、結果としてしばしば基本セル上の配線を複雑化してい
た。In the cell shown in FIG. 7(3), it is difficult to cross-connect the gate electrodes shown in the equivalent circuit shown in FIG. 8, and as a result, the wiring on the basic cell is often complicated.
即ち、交差接続を行う場合、従来はゲート配線を交差さ
せる代わりに第8図のFET QIA 、0.8もしく
は02A+021の内いずれか片側の電源配線を入れ替
えていた。このため配線が非常に複雑化することがあっ
た。That is, when cross-connecting, conventionally, instead of crossing the gate wires, the power supply wires on one side of the FET QIA, 0.8 or 02A+021 in FIG. 8 were replaced. As a result, the wiring may become extremely complicated.
この場合、 セルの配線間隔は数μm程度で。In this case, the cell wiring spacing is approximately several μm.
配線はすべてアルミニウム1層で行われ、配線方向はセ
ル内であるので上下左右方向である。なお。All wiring is done in a single layer of aluminum, and the wiring direction is inside the cell, so it is in the vertical and horizontal directions. In addition.
ゲート電極はポリシリコン膜である。The gate electrode is a polysilicon film.
本発明はゲート電極の平行接続及び交差接続を簡潔に配
線できるような基本セルの構造を提供することを目的と
する。SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide a basic cell structure that allows simple wiring of parallel connections and cross connections of gate electrodes.
(課題を解決するための手段〕
上記課題の解決は、基板上に、2個のFETが直列に接
続された素子領域が2個平行に対向して配列されたゲー
トアレイの基本セルを有し、該基本セルは両方の素子領
域上に共通して2個のゲート電極が形成され、該2個の
ゲート電極はそれぞれの中央部から反対方向にずれた位
置で分割されているゲートアレイ、或いは、前記2個の
ゲート電極間に補助配線パターンを設けたゲートアレイ
或いは、基板上に、2個のFETが直列に接続された素
子領域が2個平行に対向して配列されたゲートアレイの
基本セルを有し、該基本セルは両方の素子領域上に共通
して2個のゲート電極が形成され、該2個のゲート電極
はそれぞれの中央部から同方向にずれた位置で分割され
ているゲートアレイによって達成される。(Means for Solving the Problem) The solution to the above problem is to have a basic cell of a gate array in which two element regions each having two FETs connected in series are arranged in parallel and facing each other on a substrate. , the basic cell is a gate array in which two gate electrodes are formed in common on both element regions, and the two gate electrodes are divided at positions shifted in opposite directions from the center of each, or , the basics of a gate array in which an auxiliary wiring pattern is provided between the two gate electrodes, or a gate array in which two element regions in which two FETs are connected in series are arranged in parallel and facing each other on a substrate. The basic cell has two gate electrodes formed in common on both element regions, and the two gate electrodes are divided at positions shifted in the same direction from the center of each. Achieved by gate array.
〔作用〕
本発明は、基本セルの2本のゲート電極をそれぞれの中
心部からずれた位置で分割することにより、更にゲート
電極間に補助配線パターンを設けて、第2.4.6図に
示すように迂回配線を可能な限り回避して、従来例より
簡潔な配線でゲート電極の平行接続及び交差接続を可能
としたものである。[Function] The present invention divides the two gate electrodes of the basic cell at positions offset from their respective centers, and further provides an auxiliary wiring pattern between the gate electrodes, as shown in FIG. 2.4.6. As shown, detour wiring is avoided as much as possible, and gate electrodes can be connected in parallel and cross-connected with simpler wiring than the conventional example.
第1図は第1発明の一実施例による基本セル構造のパタ
ーンを示す平面図である。FIG. 1 is a plan view showing a pattern of a basic cell structure according to an embodiment of the first invention.
従来例の第7図(3)と同様に、実線で示されるゲート
電極1八、 1B、 2A、 2Bと1点線で示される
2個のPETが直列に接続された素子領域3,4とによ
り、基板上に2組の2個直列に接続されたFET(hヶ
+QI11及びQza、Qzm)が平行に対向して配列
されている。Similar to the conventional example shown in FIG. 7(3), gate electrodes 18, 1B, 2A, 2B shown by solid lines and element regions 3, 4 in which two PETs are connected in series, shown by dotted lines, are used. On the substrate, two sets of FETs (h+QI11 and Qza, Qzm) connected in series are arranged in parallel and facing each other.
この場合、セルのゲート電極は4個のFETごとに独立
に形成されている。In this case, cell gate electrodes are formed independently for each of the four FETs.
従来例の第7図(3)と相違する点はゲート電極IA。The difference from the conventional example shown in FIG. 7(3) is the gate electrode IA.
IBの分割位置5と、ゲート電極2A、 2Bの分割位
置6とがそれぞれの中央部より反対方向にずれている点
である。The dividing position 5 of IB and the dividing position 6 of gate electrodes 2A and 2B are shifted in opposite directions from their respective centers.
第2図(1)、 (2)は第1発明の実施例の基本セル
の接続例を示す平面図である。FIGS. 2(1) and 2(2) are plan views showing an example of connection of basic cells in the embodiment of the first invention.
第2図(1)はゲート電極の平行接続、第2図(2)は
交差接続の配線を示す。FIG. 2(1) shows parallel connection of gate electrodes, and FIG. 2(2) shows cross-connection wiring.
図のように、平行接続は従来と同様に可能であり、交差
接続は従来に比し簡潔化される。As shown, parallel connections are possible as before, and cross-connections are simpler than before.
第3図は第2発明の一実施例による基本セル構造のパタ
ーンを示す平面図である。FIG. 3 is a plan view showing a pattern of a basic cell structure according to an embodiment of the second invention.
第1図と同様に、実線で示されるゲート電極IA。Similarly to FIG. 1, the gate electrode IA is indicated by a solid line.
18、2A、 2Bと2点線で示される2個のFETが
直列に接続された素子領域3,4により、基板上に2組
の2個直列に接続された PET (QIA、QlB及
び028,0□8)が平行に対向して配列されている。Two sets of two PETs (QIA, QlB and 028,0 □8) are arranged in parallel and facing each other.
第1図と相違する点はゲート電極IA、 IBとゲート
電極2A、 2Bの中間位置に補助配線パターン7が形
成されている点である。The difference from FIG. 1 is that an auxiliary wiring pattern 7 is formed at an intermediate position between gate electrodes IA, IB and gate electrodes 2A, 2B.
第4図(1)、 (2)は第2発明の実施例の基本セル
の接続例を示す平面図である。FIGS. 4(1) and 4(2) are plan views showing an example of connection of basic cells in the embodiment of the second invention.
第4図(1)はゲート電極の平行接続、第4図(2)は
交差接続の配線を示す。FIG. 4(1) shows parallel connection of gate electrodes, and FIG. 4(2) shows cross-connection wiring.
図のように平行接続は従来と同様に可能であり交差接続
は補助配線パターン7を介して第2図に比し一層簡潔化
される。As shown in the figure, parallel connections are possible in the same manner as before, and cross connections are made simpler than in FIG. 2 through the auxiliary wiring pattern 7.
第5図は第3発明の一実施例による基本セル構造のパタ
ーンを示す平面図である。FIG. 5 is a plan view showing a pattern of a basic cell structure according to an embodiment of the third invention.
従来例の第7図(3)と同様に、実線で示されるゲート
電極l^、 IB、 2A、 2Bと5点線で示される
2個のFETが直列に接続された素子領域3.4とによ
り、基板上に2組の2個直列に接続されたFET(Q
IA、 Q + m及びQ09口2.)が平行に対向し
て配列されている。Similar to the conventional example shown in FIG. 7(3), the gate electrodes l^, IB, 2A, 2B shown by solid lines and the element region 3.4 in which two FETs are connected in series, shown by 5-dot lines, , two sets of two FETs (Q
IA, Q + m and Q09 mouth 2. ) are arranged parallel to each other.
この場合、セルのゲート電極は4個のFETごとに独立
に形成されている。In this case, cell gate electrodes are formed independently for each of the four FETs.
従来例の第7図(3)及び第1発明の第1図と相違する
点はゲート電極IA、 IBの分割位置5と、ゲート電
i2A、 2Bの分割位置6とがそれぞれの中央部より
同じ方向にずれている点である。The difference from FIG. 7 (3) of the conventional example and FIG. 1 of the first invention is that the dividing position 5 of the gate electrodes IA and IB and the dividing position 6 of the gate electrodes i2A and 2B are the same from the center of each. This is a point that is deviated in the direction.
第6図(1)、 (2)は第3発明の実施例の基本セル
の接続例を示す平面図である。FIGS. 6(1) and 6(2) are plan views showing an example of connection of basic cells in the embodiment of the third invention.
第6図(1)はゲート電極の平行接続、第6図(2)は
交差接続の配線を示す。FIG. 6(1) shows parallel connection of gate electrodes, and FIG. 6(2) shows cross-connection wiring.
図のように、平行接続は従来と同様に可能であり、交差
接続は従来に比し簡潔化される。As shown, parallel connections are possible as before, and cross-connections are simpler than before.
このように、いずれの実施例においても配線パターンが
簡潔になる。In this way, the wiring pattern becomes simple in any of the embodiments.
以上説明したように本発明によれば、ゲート電極の平行
接続及び交差接続が簡潔に配線できるような基本セルの
パターンが得られ、配線パターンを簡潔化することがで
きる。As described above, according to the present invention, it is possible to obtain a basic cell pattern in which parallel connections and cross connections of gate electrodes can be easily wired, and the wiring pattern can be simplified.
第1図は第1発明の一実施例による基本セル構造のパタ
ーンを示す平面図。
第2図(1)、 (2)は第1発明の実施例の基本セル
の接続例を示す平面図。
第3図は第2発明の一実施例による基本セル構造のパタ
ーンを示す平面図。
第4図(1)、 (2)は第2発明の実施例の基本セル
の接続例を示す平面図。
第5図は第3発明の一実施例による基本セル構造のパタ
ーンを示す平面図。
第6図(1)、 (2)は第3発明の実施例の基本セル
の接続例を示す平面図。
第7図(1)〜(3)は従来例による基本セル構造のパ
ターンの例を示す平面図。
第8図は交差接続した基本セルの等価回路である。
図において。
1、 IA、 IB、 2.2A、 2Bはゲート電
極。
3.4は2個のFETが直列に接続された素子領域。
5.6はゲート電極の分割位置。
7は補助配線パターン。
QIAIQII+及び0□4,0□3はFET図面の浄
書
A
第1発1の1妄芳名川
′f;2 口
第1発日月の寞方臼イ列
第1図
;町2発日月の冥方ぢσ11
第3図
2A
図面の浄↑
第2発叶/f)で杆、1すjl
B
第3発明の実施例
第5図
手続補正書□
l。
事件の表示
ゲ
ト
ア
レ
イ
住所
神奈川県用崎市中原区上小田中1015番地名称(52
2)富士通株式会社
4、代理人
住所
神奈川県用崎市中原区上小田中1015番地5、
補正命令の日付
平成
2年
2月27日
(発送臼)FIG. 1 is a plan view showing a pattern of a basic cell structure according to an embodiment of the first invention. FIGS. 2(1) and 2(2) are plan views showing connection examples of basic cells in the embodiment of the first invention. FIG. 3 is a plan view showing a pattern of a basic cell structure according to an embodiment of the second invention. FIGS. 4(1) and 4(2) are plan views showing connection examples of basic cells in the embodiment of the second invention. FIG. 5 is a plan view showing a pattern of a basic cell structure according to an embodiment of the third invention. FIGS. 6(1) and 6(2) are plan views showing connection examples of basic cells in the embodiment of the third invention. FIGS. 7(1) to 7(3) are plan views showing examples of patterns of basic cell structures according to the prior art. FIG. 8 is an equivalent circuit of cross-connected basic cells. In fig. 1. IA, IB, 2.2A, 2B are gate electrodes. 3.4 is an element area where two FETs are connected in series. 5.6 is the dividing position of the gate electrode. 7 is the auxiliary wiring pattern. QIAIQII+ and 0□4,0□3 are engravings of FET drawings. Dark side σ11 Figure 3 2A Drawing ↑ 2nd release/f) and 1st jl B Third embodiment of the invention Figure 5 Procedural amendment □ l. Display of incident Getarray Address 1015 Kamiodanaka, Nakahara-ku, Yozaki City, Kanagawa Prefecture Name (52
2) Fujitsu Ltd. 4, Agent address: 1015-5 Kamiodanaka, Nakahara-ku, Yozaki-shi, Kanagawa Prefecture; Date of amendment order: February 27, 1990 (Shipping mortar)
Claims (3)
領域が2個平行に対向して配列されたゲートアレイの基
本セルを有し。 該基本セルは両方の素子領域上に共通して2個のゲート
電極が形成され、該2個のゲート電極はそれぞれの中央
部から反対方向にずれた位置で分割されていることを特
徴とするゲートアレイ。(1) On a substrate, there is a basic cell of a gate array in which two element regions each having two FETs connected in series are arranged in parallel and facing each other. The basic cell is characterized in that two gate electrodes are formed in common on both element regions, and the two gate electrodes are divided at positions shifted in opposite directions from the center of each. gate array.
けたことを特徴する請求項1記載のゲートアレイ。(2) The gate array according to claim 1, further comprising an auxiliary wiring pattern provided between the two gate electrodes.
領域が2個平行に対向して配列されたゲートアレイの基
本セルを有し、 該基本セルは両方の素子領域上に共通して2個のゲート
電極が形成され、該2個のゲート電極はそれぞれの中央
部から同方向にずれた位置で分割されていることを特徴
とするゲートアレイ。(3) On the substrate, there is a basic cell of a gate array in which two element regions in which two FETs are connected in series are arranged in parallel and facing each other, and the basic cell is common to both element regions. 1. A gate array characterized in that two gate electrodes are formed, and the two gate electrodes are divided at positions shifted in the same direction from their respective centers.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1279160A JPH03141670A (en) | 1989-10-26 | 1989-10-26 | gate array |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1279160A JPH03141670A (en) | 1989-10-26 | 1989-10-26 | gate array |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03141670A true JPH03141670A (en) | 1991-06-17 |
Family
ID=17607285
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1279160A Pending JPH03141670A (en) | 1989-10-26 | 1989-10-26 | gate array |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH03141670A (en) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5814844A (en) * | 1995-09-28 | 1998-09-29 | Nippondenso Co., Ltd. | Gate array having highly flexible interconnection structure |
US6800883B2 (en) | 2000-09-21 | 2004-10-05 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | CMOS basic cell and method for fabricating semiconductor integrated circuit using the same |
-
1989
- 1989-10-26 JP JP1279160A patent/JPH03141670A/en active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5814844A (en) * | 1995-09-28 | 1998-09-29 | Nippondenso Co., Ltd. | Gate array having highly flexible interconnection structure |
US6800883B2 (en) | 2000-09-21 | 2004-10-05 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | CMOS basic cell and method for fabricating semiconductor integrated circuit using the same |
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