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JPH03119812A - 電流検出回路 - Google Patents

電流検出回路

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Publication number
JPH03119812A
JPH03119812A JP1255274A JP25527489A JPH03119812A JP H03119812 A JPH03119812 A JP H03119812A JP 1255274 A JP1255274 A JP 1255274A JP 25527489 A JP25527489 A JP 25527489A JP H03119812 A JPH03119812 A JP H03119812A
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JP
Japan
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transistor
current
collector
detection
circuit
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Application number
JP1255274A
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English (en)
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JPH0666600B2 (ja
Inventor
Yasuo Mizuide
水出 靖雄
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
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Priority to PCT/JP1990/001253 priority patent/WO1993017492A1/ja
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Publication of JPH03119812A publication Critical patent/JPH03119812A/ja
Publication of JPH0666600B2 publication Critical patent/JPH0666600B2/ja
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    • GPHYSICS
    • G05CONTROLLING; REGULATING
    • G05FSYSTEMS FOR REGULATING ELECTRIC OR MAGNETIC VARIABLES
    • G05F3/00Non-retroactive systems for regulating electric variables by using an uncontrolled element, or an uncontrolled combination of elements, such element or such combination having self-regulating properties
    • G05F3/02Regulating voltage or current
    • G05F3/08Regulating voltage or current wherein the variable is DC
    • G05F3/10Regulating voltage or current wherein the variable is DC using uncontrolled devices with non-linear characteristics
    • G05F3/16Regulating voltage or current wherein the variable is DC using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices
    • G05F3/20Regulating voltage or current wherein the variable is DC using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices using diode- transistor combinations
    • G05F3/22Regulating voltage or current wherein the variable is DC using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices using diode- transistor combinations wherein the transistors are of the bipolar type only
    • GPHYSICS
    • G05CONTROLLING; REGULATING
    • G05FSYSTEMS FOR REGULATING ELECTRIC OR MAGNETIC VARIABLES
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    • G05F3/26Current mirrors
    • G05F3/265Current mirrors using bipolar transistors only

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の目的] (産業上の利用分野) この発明はバイポーラ型集積回路に内蔵され、内部で得
られた信号を集積回路の外部に出力する際に過大な電流
が流れることを防止するために使用される電流検出回路
に関する。
(従来の技術) バイポーラ型集積回路に内蔵される出力回路では、出力
端子を介して過剰な電流が流れると、出力トランジスタ
が破壊に至ることがある。このような、出力トランジス
タの過剰電流による破壊を防止するため、電流検出回路
により出力端子に流れる電流の値を検出し、この電流値
が所定値を越えたときに出力回路の動作を停止させるよ
うにしている。
第4図は従来の電流検出回路の概略的な構成を示す回路
図である。図示のように電流iが流れる経路には電流検
出用の抵抗41が挿入されている。
そして、この抵抗41の両端間の降下電圧がnpnトラ
ンジスタ42のベース・エミッタ間電圧VBEを越える
と、このトランジスタ42がオンし、所定電流が流れた
ことを検出する信号がこのトランジスタ42のコレクタ
に得られる。
(発明が解決しようとする課題) ところで、上記従来の電流検出回路では、電流検出用の
抵抗における降下電圧と検出用のトランジスタのベース
争エミッタ間電圧VB+!との大小関係に応じて検出出
力を得るようにしている。ここで、トランジスタのベー
ス・エミッタ間電圧VBEは約017Vであるため、例
えばIAの電流を検出するためには0,7Ωの低い抵抗
が必要になる。
一方、電流検出用の抵抗における電圧損失及び電力損失
も大きなものとなる。例えばIAの電流を検出するため
にはこの抵抗のみで電圧損失が0.7Vとなり、電力損
失は0,7Wにもなる。
このため、電流検出用の抵抗を集積回路内に構成する場
合には拡散抵抗を使用する必要がある。しかし、拡散抵
抗で0.7Ω程度の低い抵抗を実現することは困難であ
り、このような抵抗は外付は抵抗にする必要がある。こ
の結果、部品点数が増加し、価格が高価となる欠点があ
る。
さらに従来では、検出電流の値がトランジスタのベース
・エミッタ間電圧VBgと、電流検出用の抵抗の値によ
って決定されるため、電圧VBEの温度依存性により、
検出電流値が不安定になる。例えば、温度が100℃上
昇すると、ベース・エミッタ間電圧■B8が0.7Vか
ら0,5V程度に低下し、検出電圧は28%も減少し、
これに伴って検出電流も減少する。
この発明は上記のような事情を考慮してなされたもので
あり、その目的は、集積回路内に実現でき、電圧損失及
び電力損失も少なく、かつ検出電流の温度依存性の少な
い電流検出回路を提供することにある。
[発明の構成] (課題を解決するための手段) この発明の電流検出回路は、エミッタが共通接続された
第1極性の第1、第2のトランジスタからなり、入出力
間の電流比がM:1(Mは1以上の数)に設定されたカ
レントミラー回路と、上記カレントミラー回路の入力側
トランジスタである上記第1のトランジスタのコレクタ
にコレクタ及びベースが接続された第2極性の第3のト
ランジスタと、上記カレントミラー回路の出力側トラン
ジスタである上記第2のトランジスタのコレクタにコレ
クタが、上記第3のトランジスタのベースにベースがそ
れぞれ接続され、エミッタ面積が上記第3のトランジス
タのN倍(Nは1以上の数)に設定された第2極性の第
4のトランジスタと、上記第3及び第4のトランジスタ
のエミッタ相互間に接続された電流検出用の抵抗素子と
、上記第2及び第4のトランジスタの共通コレクタにベ
ースが接続された検出信号出力用の第5のトランジスタ
とを具備したことを特徴とする。
(作用) この発明の電流検出回路では、カレントミラー回路によ
って所定の電流が一定の比率で分流され、第3のトラン
ジスタ及び第4のトランジスタに入力する。そして、こ
の第3及び第4のトランジスタのエミッタ相互間に接続
された電流検出用の抵抗素子に電流が流れ、第4のトラ
ンジスタのエミッタ電位が上昇し、カレントミラー回路
の電流比に一致した電流が第3及び第4のトランジスタ
に流れる始める時点で第5のトランジスタがオンし、検
出出力が得られる。
(実施例) 以下、図面を参照してこの発明を実施例により説明する
第1図はこの発明に係る電流検出回路の第1の実施例に
よる構成を示す回路図である。例えば−端が電源電圧に
接続された抵抗等で構成されている電流l!i、llの
他端には、2個のpnp型のトランジスタ12. Hの
各エミッタが接続されている。上記2個のpnp型のト
ランジスタ12.13はベースが共通に接続されており
、かつトランジスタ12のベース・コレクタ間が接続さ
れており、両トランジスタ1213はカレントミラー回
路14を構成している。そして、このカレントミラー回
路14のトランジスタ12のエミッタ面積は、トランジ
スタ13のM倍(Mは1以上の数)にされており、この
カレントミラー回路14の入出力電流比はM:1に設定
されている。
上記トランジスタ12のコレクタにはnpn型のトラン
ジスタ15のコレクタ及びベースが接続されている。ま
た、上記トランジスタ13のコレクタにはnpn型のト
ランジスタ16のコレクタが接続されている。このトラ
ンジスタ16のベースは上記トランジスタ15のベース
に接続されている。上記トランジスタ1Gのエミッタ面
積は、トランジスタ15のN倍(Nは1以上の数)にさ
れている。そして、上記両トランジスタ15.18のエ
ミッタ相互間には電流検出用の抵抗17が挿入されてい
る。また、上記両トランジスタH,1Bの共通コレクタ
には検出信号出力用のnpn型のトランジスタ18のベ
ースが接続されている。また、このトランジスタ18の
エミッタは上記トランジスタ15のエミッタに接続され
ており、コレクタは例えば、図示しない負荷回路を介し
て電源電圧に接続されている。なお、この実施例回路に
おいて、上記MSNの値はいずれか一方が「1」にされ
ている場合も含むものである。
次に上記のような構成の回路の動作を説明する。
カレントミラー回路14では入出力電流比がM:1に設
定されているため、一方のトランジスタ13に「1」の
電流が流れる時、他方のトランジスタ12にはrMJの
電流が流れる。さらに、トランジスタ15.18はベー
スが共通接続され、トランジスタ15のベース争コレ・
フタ間が接続されているので、この両トランジスタ15
. 18は仮にそのエミッタ電位が等しい場合にはカレ
ントミラー回路として動作する。従って、トランジスタ
15.16のエミッタ電位が等しい場合、トランジスタ
15に「1」の電流が流れる時、トランジスタ1Bには
トランジスタ15のN倍のエミッタ電流を流すことがで
き、トランジスタ13に対してはM−N倍の電流を流す
ことができる。この結果、抵抗17に電流が流れていず
、トランジスタ15. ieのエミッタ電位が等しい場
合、トランジスタ13に流れるコレクタ電流の全てがト
ランジスタIGに流れる。従って、トランジスタ18は
オフ状態となり、トランジスタ18のコレクタ信号であ
る検出信号は“1“レベルとなる。
次に上記抵抗17に図示の方向で電流iが流れ始めたと
する。上記電流1が流れることにより、トランジスタ1
5に対してトランジスタ16のエミッタ電位が上昇する
。トランジスタ1Bのエミッタ電位が上昇することによ
り、このトランジスタ16に流れるコレクタ電流が減少
する。そして、上記電流iの値が増加し、トランジスタ
1Bに流れ得るコレクタ電流の値が、トランジスタ13
のコレクタ電流の値よりも小さくなると、トランジスタ
18にベース電流が流れ初め、このトランジスタ18は
オフからオンに動作が切り替わる。このとき、トランジ
スタ18のコレクタ信号である検出信号は“O”レベル
に反転し、電流検出用の抵抗17に所定の電流が流れた
ことを検知することができる。
ところで、上記実施例回路において、トランジスタ18
がオフからオンに切り替わる際に電流検出用の抵抗17
の両端間に発生する降下電圧、すなわち抵抗17におけ
る検出電圧V dctは次式で与えられる。
T VdeL  =−りn  M −N         
−=  (1)ここで、Kはケルビン定数、Tは絶対温
度、qは電子電荷である。
上記(1)式で与えられる検出電圧V deLは、トラ
ンジスタIBにおいて、「1」のエミッタ電流とrM−
NJのエミッタ電流とがそれぞれ流れるときのベース・
エミッタ間電圧VB):の差、ΔV、。
に相当している。
従って、電流検出レベルi detは、抵抗17の値を
rとすると次式で与えられる。
ここで、M−Nの値が4になるように設定されていれば
、上記(1)式の検出電圧V detは36mVになる
。そして、この実施例回路でIAの電流を検出するため
には、上記抵抗17の値は36mΩに設定すればよく、
このときの抵抗17における電力損失は36mWになる
。このように電圧損失及び電力損失の小さな抵抗は集積
回路内でアルミパターンを用いて容易に構成することが
できる。
例えば、IAの電流を検出するには20mΩ口のアルミ
パターンを使用し、パターンの幅をW1パターンの長さ
をLとしたときにL/Wの比を1.8にすることにより
抵抗を実現できる。また、この場合の電力損失も36m
Wと極めて少ない。
さらにアルミパターンによって構成された抵抗17の電
気抵抗の温度係数は約+3000ppmであり、上記(
1)式に示すように絶対温度に比例する検出電圧とほぼ
打ち消し合い、安定な温度特性を得ることができる。
第2図はこの発明の第2の実施例による構成を示す回路
図である。この実施例回路は、上記第1図に示す第1の
実施例回路内の対応するトランジスタに対し反対極性の
トランジスタをそれぞれ用いて構成するようにしたもの
である。従って、第1図回路中のトランジスタと対応す
るものにはその符号の末尾に「′」を付してその説明は
省略する。
第3図はこの発明の応用例の構成を示すパターン平面図
である。図において、31は集積回路内の信号出力端子
であり、32はこの端子31から出力すべき信号を発生
する出力回路内の出力トランジスタである。そして、上
記端子31と出力トランジスタ32との間は、アルミパ
ターンで構成された配線33によって接続されている。
そして、上記各実施例回路の電流検出用の抵抗17はこ
の配線33の一部を利用して構成されている。例えば、
20mΩ口のアルミパターンを用いて上記配線33を構
成し、上記抵抗17の値を36mΩとする場合には、こ
のアルミパターンの幅Wに対して1.8倍の長さを持つ
パターン長しの両端からこのアルミパターンよりも幅及
び長さが十分に小さい配線を導き、前記両トランジスタ
15.16(もしくは15’  1B’ただしトランジ
スタ15.18のみ図示)の各エミッタに接続すること
により、抵抗17が構成される。
[発明の効果] 以上説明したようにこの発明によれば、集積回路内に実
現でき、電圧損失及び電力損失も少なく、かつ検出電流
の温度依存性の少ない電流検出回路を提供することがで
きる。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の第1の実施例による構成を示す回路
図、第2図はこの発明の第2の実施例による構成を示す
回路図、第3図はこの発明の応用例の構成を示すパター
ン平面図、第4図は従来の電流検出回路の概略的な構成
を示す回路図である。 11・・・電流源、12.13・・・pnp型のトラン
ジスタ、14・・・カレントミラー回路、15.18・
・・npn型のトランジスタ、17・・・電流検出用の
抵抗17.18・・・検出信号出力用のnpn型のトラ
ンジスタ。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)エミッタが共通接続された第1極性の第1、第2
    のトランジスタからなり、入出力間の電流比がM:1(
    Mは1以上の数)に設定されたカレントミラー回路と、 上記カレントミラー回路の入力側トランジスタである上
    記第1のトランジスタのコレクタにコレクタ及びベース
    が接続された第2極性の第3のトランジスタと、 上記カレントミラー回路の出力側トランジスタである上
    記第2のトランジスタのコレクタにコレクタが、上記第
    3のトランジスタのベースにベースがそれぞれ接続され
    、エミッタ面積が上記第3のトランジスタのN倍(Nは
    1以上の数)に設定された第2極性の第4のトランジス
    タと、 上記第3及び第4のトランジスタのエミッタ相互間に接
    続された電流検出用の抵抗素子と、上記第2及び第4の
    トランジスタの共通コレクタにベースが接続された検出
    信号出力用の第5のトランジスタと を具備したことを特徴とする電流検出回路。
  2. (2)前記カレントミラー回路における比の値M、前記
    第3及び第4のトランジスタのエミッタ面積比の値Nの
    いずれか一方が1に設定されてなることを特徴とする請
    求項1記載の電流検出回路。
JP1255274A 1989-10-02 1989-10-02 電流検出回路 Expired - Lifetime JPH0666600B2 (ja)

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JP1255274A JPH0666600B2 (ja) 1989-10-02 1989-10-02 電流検出回路
PCT/JP1990/001253 WO1993017492A1 (en) 1989-10-02 1990-09-28 Current detecting circuit
US07/689,744 US5175489A (en) 1989-10-02 1990-09-28 Current-detecting circuit

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JPH0666600B2 JPH0666600B2 (ja) 1994-08-24

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