[go: up one dir, main page]

JPH03116487A - メモリー回路 - Google Patents

メモリー回路

Info

Publication number
JPH03116487A
JPH03116487A JP1253142A JP25314289A JPH03116487A JP H03116487 A JPH03116487 A JP H03116487A JP 1253142 A JP1253142 A JP 1253142A JP 25314289 A JP25314289 A JP 25314289A JP H03116487 A JPH03116487 A JP H03116487A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
read
bit line
address
storage element
transistor
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP1253142A
Other languages
English (en)
Inventor
Koichi Kikuchi
菊地 興一
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP1253142A priority Critical patent/JPH03116487A/ja
Publication of JPH03116487A publication Critical patent/JPH03116487A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Static Random-Access Memory (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野コ 本発明は書き込みと読み出しとが同時にできる2ボー)
RAMメモリー回路に関する。
[従来の技術] 従来、この種のメモリー回路は、読み出しアドレスが多
数ビット同時にアクセスされた場合(以下、マルチアド
レスと呼ぶ)、読み出しデータが出力される読み出しビ
ット線を介してマルチアドレスされた記憶素子との間で
ワイヤードオアをとる形式となっていた。
従来例を第3図を用いて説明する。通常はトランジスタ
2. 3. .4のうち1つだけ導通状態となる。例え
ば、記憶素子5がアクセスされたとすると、トランジス
タ2が導通状態となり、書き込みデータが書き込みビッ
ト線lからトランジスタ2を介して記憶素子6に書き込
まれる。二〇誉き込みと同時に、トランジスタ14.1
5.16のうち1つだけが導通状態となる0例えば、記
憶素子6がアクセスされたとすると、トランジスタ15
が導通状態となり、読み出しデータは記憶素子6からト
ランジスタ15を介して読み出しビット線17へ読み出
される。
以上の動作により書き込みおよび読み出しが同時に実行
されるのを2ボ一トRAMと称している。
ここでトランジスタ14,15,16のゲート人力とな
る読み出しアドレス発生回路(図示せず)の構成によっ
ては読み出しアドレスとして記憶素子5. 6. 7の
2つ以上アクセス(マルチアドレス)する場合がある。
この場合、トランジスタ14.15,16の内の2つ以
上が導通ずる。これがマルチアドレス状態である。例え
ば、トランジスタ14.15が導通状態とすると、イン
バータ8.10の出力どうしがトランジスタ14.15
を介してワイヤードオアされる。インバータ8゜10の
出力が各々高レベルと低レベルとすると、インバータ8
.トランジスタ14.トランジスタ15およびインバー
タ10という経路で電流が流れる。この為、インバータ
8の出力電位が低下し、このとき、インバータ9のスレ
ッショルド電位以下となると、記憶素子5に記憶された
データは反転してしまう。また、インバータ10の出力
に関しても出力電位が上昇し、インバータ11のスレッ
ショルド電位以上となると、記憶素子6に記憶されたデ
ータは反転してしまう。
[発明が解決しようとする課題] 上述した従来のメモリー回路は、読み出しアドレスのマ
ルチアドレス状態で記憶されたデータが反転して記憶デ
ータの破壊が生じ、メモリー動作をしなくなるという欠
点がある。
本発明は上従来の事情に鑑みなされたもので、マルチア
ドレス状態における記憶データの破壊を防止したメモリ
ー回路を提供することを目的とする。
[発明の従来技術に対する相違点コ 上述した従来のメモリー回路に対して、本発明はゲート
回路を備えることにより、読み出しアドレスのマルチア
ドレス発生時に記憶素子に蓄えられたデータが破壊され
ないという相違点を有する。
[課題を解決するための手段] 本発明のメモリー回路は、書込ビット線と、読出ビット
線と、複数の記憶素子とを備え、各記憶素子と書込ビッ
ト線との間に書込アドレス信号により導通して書込ビッ
ト線からのデータを記憶素子に書き込む第1のトランジ
スタを介装し、各記憶素子と読出ビット線との間に読出
アドレス信号により導通して記憶素子から読出ビット線
へデータを読み出す第2のトランジスタを介装したメモ
リー回路において、記憶素子と第2のトランジスタとの
間に記憶素子から読出ビット線へのデータ読み出しを許
容するゲート回路を介装したことを特徴とする。
[実施例コ 次に本発明について図面を用いて説明する。
第1図は本発明の第1の実施例を示す。本実施例のメモ
リー回路は、書き込みビット線1、書き込みアドレスに
応じて導通となるトランジスタ2゜3.4、記憶素子5
. 6. 7. 8 (各々2つづつのインバータ8,
9、インバータ10.II、  インバータ12.13
の帰還回路から構成されている)、インバータであるゲ
ート回路1B、19゜20、読み出しアドレスに応じて
導通となるトランジスタ14. 15. 16、読み出
しビット線17から構成されている。
上記構成のメモリー回路によれば、読み出しアドレスが
マルチアドレスとなった時、例えばトランジスタ14.
15が導通となった場合でもインバータ8,10の出力
はインバータ18,19を介することになるので出力値
の反転が生じない。
第2図は本発明の第2の実施例を示す。第2図において
、1から17までは第1の実施例と同じであり、21,
22.23はANDであるゲート回路である。本実施例
の動作は第1の実施例と同じであり、AND回路21,
22.23を用いたことによりマルチアドレスとなった
ときインバータ8,10.12の出力とトランジスタ1
4,15.16とのワイヤードオアが生じてその間で電
流が流れるのを防止することができ、インバータ8.1
0.12の出力値の反転を防止することができる。
[発明の効果] 以上説明したように、本発明は読み出しアドレスがマル
チアドレスになっても記憶素子に書き込まれたデータが
破壊されないという効果があり、更にこれによって、読
み出しアドレス発生回路の設計が簡単になる効果がある
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の第1の実施例を示す回路図、第2図は
本発明の第2の実施例を示す回路図、第3図は従来例を
示す回路図である。 1・・・・・・・・・・・書き込みビット線、2、 3
. 4・・・・・・トランジスタ(第1のトランジスタ
)、 5、 6. 7・・・・・・・記憶素子、8゜ 9゜ 0゜ 1゜ 2゜ インバータ回路、 14゜ 5゜ トランジスタ (第2のトランジスタ)、 7 ・読み出しビット線、 18゜ 9゜ 20゜ 21゜ 22゜ 23 ψ ・ゲート回路。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1.  書込ビット線と、読出ビット線と、複数の記憶素子と
    を備え、各記憶素子と書込ビット線との間に書込アドレ
    ス信号により導通して書込ビット線からのデータを記憶
    素子に書き込む第1のトランジスタを介装し、各記憶素
    子と読出ビット線との間に読出アドレス信号により導通
    して記憶素子から読出ビット線へデータを読み出す第2
    のトランジスタを介装したメモリー回路において、記憶
    素子と第2のトランジスタとの間に記憶素子から読出ビ
    ット線へのデータ読み出しを許容するゲート回路を介装
    したことを特徴とするメモリー回路。
JP1253142A 1989-09-28 1989-09-28 メモリー回路 Pending JPH03116487A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1253142A JPH03116487A (ja) 1989-09-28 1989-09-28 メモリー回路

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1253142A JPH03116487A (ja) 1989-09-28 1989-09-28 メモリー回路

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH03116487A true JPH03116487A (ja) 1991-05-17

Family

ID=17247099

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP1253142A Pending JPH03116487A (ja) 1989-09-28 1989-09-28 メモリー回路

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH03116487A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH052888A (ja) * 1991-06-27 1993-01-08 Kawasaki Steel Corp ゲートアレイ用メモリセル回路

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH052888A (ja) * 1991-06-27 1993-01-08 Kawasaki Steel Corp ゲートアレイ用メモリセル回路

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4748594A (en) Integrated circuit device having a memory and majority logic
EP0307912B1 (en) Programmable logic device
US5122987A (en) Semiconductor memory device with individually addressable space cells capable of driving a data bus
US4112506A (en) Random access memory using complementary field effect devices
US5436865A (en) Output circuit for semiconductor memory device realizing extended data output upon inactivation of CAS signal
EP0095179B1 (en) Static memory circuit
US4103823A (en) Parity checking scheme for detecting word line failure in multiple byte arrays
US6249468B1 (en) Semiconductor memory device with switching element for isolating bit lines during testing
KR880000960A (ko) 반도체 메모리
US5841957A (en) Programmable I/O remapper for partially defective memory devices
US4754434A (en) Switching plane redundancy
US4875189A (en) Random access memory device with nibble mode operation
JPH03116487A (ja) メモリー回路
US3936810A (en) Sense line balancing circuit
US5134384A (en) Data coincidence detecting circuit
JPS6325748A (ja) 電子回路の制御方法およびこの制御方法を実施するための回路
JPH05325598A (ja) 半導体記憶装置
KR20000071496A (ko) 반도체 메모리
JP2792256B2 (ja) 半導体メモリ
JPS62236054A (ja) 半導体記憶装置
JP2658267B2 (ja) 半導体メモリの冗長回路
KR100247906B1 (ko) 반도체 메모리 장치의 데이타 처리방법 및 장치
JPH0564361B2 (ja)
JPS60103599A (ja) 半導体記憶装置
JPH0335752B2 (ja)