JPH03109760A - Semiconductor device - Google Patents
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- JPH03109760A JPH03109760A JP1248540A JP24854089A JPH03109760A JP H03109760 A JPH03109760 A JP H03109760A JP 1248540 A JP1248540 A JP 1248540A JP 24854089 A JP24854089 A JP 24854089A JP H03109760 A JPH03109760 A JP H03109760A
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は半導体装置に関し、特に半導体チップがパッケ
ージに実装された構造を有する半導体装置に関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to a semiconductor device, and particularly to a semiconductor device having a structure in which a semiconductor chip is mounted in a package.
[従来の技術]
半導体チップがパッケージに実装された構造を有する半
導体装置として、デュアル・イン・ライン・パッケージ
、フラットパッケージ、チップキャリア、フィルムキャ
リア等を用いたものが知られている。[Prior Art] As a semiconductor device having a structure in which a semiconductor chip is mounted in a package, devices using a dual-in-line package, a flat package, a chip carrier, a film carrier, etc. are known.
このような半導体装置においては、一般に半導体チップ
をより高密度に実装することが望まれている。そこで、
半導体チップをより高密度に実装するために、1つのパ
ッケージに複数個の半導体チップが平面的に配置されて
実装された構造を有する半導体装置が提案されている。In such semiconductor devices, it is generally desired that semiconductor chips be mounted with higher density. Therefore,
In order to mount semiconductor chips at a higher density, a semiconductor device has been proposed that has a structure in which a plurality of semiconductor chips are arranged and mounted in a planar manner in one package.
該半導体装置によれば、複数個の半導体チップが平面的
に配置されているので、半導体チップを実装する際のイ
ンナリードボンディング(パッケージのインナリードと
半導体チップの外部接続用の電極との電気的な接続)工
程は従来の半導体チップ1個が実装される場合と同様な
ボンディング技術により実施され得、よって製造が容易
であるという利点がある。According to the semiconductor device, since a plurality of semiconductor chips are arranged in a plane, inner lead bonding (electrical connection between the inner lead of the package and the electrode for external connection of the semiconductor chip) is performed when mounting the semiconductor chips. The process (connection) can be carried out using the same bonding technology as in the case of mounting a single conventional semiconductor chip, and therefore has the advantage of being easy to manufacture.
[発明が解決しようとする課題]
しかしながら前述した従来の複数個の半導体チップが実
装された構造を有する半導体装置においては、複数個の
半導体チップが平面的に配置されているが故に、限られ
た底面積を持つパッケージに実装され得る半導体チップ
の合計底面積は限られている。[Problems to be Solved by the Invention] However, in the conventional semiconductor device described above, which has a structure in which a plurality of semiconductor chips are mounted, the plurality of semiconductor chips are arranged in a plane, so that there are limited The total base area of semiconductor chips that can be mounted in a package with a base area is limited.
本発明の目的は、半導体チップのパッケージへの実装密
度が高められており製造が容易である半導体装置を提供
することである。SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide a semiconductor device that has a high packaging density of semiconductor chips in a package and is easy to manufacture.
[課題を解決するための手段]
本発明によれば前記目的は、同一面に形成された複数の
外部接続用の電極を夫々有し該各電極が同一面方向に露
出されるように互いに重畳された複数の半導体チップと
、前記複数の半導体チップが実装されたパッケージとを
有してなることを特徴とする半導体装置によって達成さ
れる。[Means for Solving the Problems] According to the present invention, the object is to provide a plurality of external connection electrodes formed on the same surface, and overlap each other so that the electrodes are exposed in the same surface direction. This is achieved by a semiconductor device comprising a plurality of semiconductor chips and a package in which the plurality of semiconductor chips are mounted.
[作用]
本発明の半導体装置によれば、重畳された複数の半導体
チップがパッケージに実装されているが故に、限られた
底面積を持つ該パッケージに実装され得る半導体チップ
の合計底面積を、従来の複数個の半導体チップが実装さ
れた半導体装置の場合と比べて、少なくとも約2倍に増
加し得る。夫々の半導体チップにおいて同一面に形成さ
れた複数の外部接続用の電極が同一面方向に露出される
ように複数の半導体チップが互いに重畳されているが故
に、本発明の半導体装置の製造におけるインナリードボ
ンディング工程は、同一面方向からのワイヤボンディン
グ技術またはワイヤレスボンディング技術によりパッケ
ージのインナリードと外部接続用の電極とを接続するこ
とにより容易に実施され得る。その結果、本発明の半導
体装置は半導体チップのパッケージへの実装密度が高め
られ得且つ製造が容易となり得る。[Operation] According to the semiconductor device of the present invention, since a plurality of stacked semiconductor chips are mounted in a package, the total base area of the semiconductor chips that can be mounted in the package having a limited base area can be reduced by This can be at least twice as large as in the case of a conventional semiconductor device in which a plurality of semiconductor chips are mounted. Since a plurality of semiconductor chips are stacked on top of each other so that a plurality of external connection electrodes formed on the same surface of each semiconductor chip are exposed in the same surface direction, the inner layer in manufacturing the semiconductor device of the present invention is The lead bonding process can be easily performed by connecting the inner leads of the package and the electrodes for external connection using a wire bonding technique or a wireless bonding technique from the same plane. As a result, in the semiconductor device of the present invention, the packaging density of semiconductor chips in a package can be increased, and manufacturing can be facilitated.
次に示す本発明の実施例から、本発明のこのような作用
がより明らかにされ、更に本発明の他の作用が明らかに
されよう。These effects of the present invention will become clearer from the following examples of the present invention, and other effects of the present invention will become clearer.
[実施例コ 本発明の実施例を図面に基づいて説明する。[Example code] Embodiments of the present invention will be described based on the drawings.
本発明の一実施例である半導体装置1が、第1図に平面
透視図及び第2図に第1図のI−I’断面図として示さ
れている。パッケージ本体2はモールド成型された樹脂
からなる。即ち半導体装置1は樹脂モールドタイプのデ
ュアル・イン・ライン型パッケージで構成されている。A semiconductor device 1, which is an embodiment of the present invention, is shown in FIG. 1 as a plan perspective view and FIG. 2 as a sectional view taken along line II' in FIG. The package body 2 is made of molded resin. That is, the semiconductor device 1 is comprised of a dual-in-line package of resin mold type.
金属からなるダイパッド3の上面に半導体チップ4の下
面が接着剤によりグイボンドされている。The lower surface of a semiconductor chip 4 is firmly bonded to the upper surface of a die pad 3 made of metal using an adhesive.
接着剤としては、銀またはエポキシ等からなる接着剤が
好ましい。チップ4の全ての外部接続用の電極5は同一
面としての上面に形成され同一面方向としての上側に向
けて露出されており且つX方向に沿ってチップ4の上面
の両縁部に配置されている。電極5はワイヤ6により金
属からなるインナリード7に接続されている。As the adhesive, an adhesive made of silver, epoxy, or the like is preferable. All the electrodes 5 for external connection of the chip 4 are formed on the same upper surface, are exposed toward the upper side of the same surface, and are arranged on both edges of the upper surface of the chip 4 along the X direction. ing. The electrode 5 is connected by a wire 6 to an inner lead 7 made of metal.
ダイパッド3の下面に半導体チップ8の上面が耐熱性の
絶縁膜12によりグイボンドされている。The upper surface of the semiconductor chip 8 is firmly bonded to the lower surface of the die pad 3 with a heat-resistant insulating film 12 .
第1図の平面図から分かるようにチップ4よりもチップ
8はX方向に長く、チップ8はX方向の両端部において
第1図でダイパッド3及びチップ4により隠れることな
く上側から見えるような平面形状を有している。チップ
8の全ての外部接続用の電極9は、該両端部において同
一面としての上面に形成され且つY方向に沿って配置さ
れている。As can be seen from the plan view of FIG. 1, the chip 8 is longer than the chip 4 in the X direction, and the chip 8 has a plane at both ends in the X direction that can be seen from above without being hidden by the die pad 3 and the chip 4 in FIG. It has a shape. All of the external connection electrodes 9 of the chip 8 are formed on the same upper surface at both ends and are arranged along the Y direction.
従って、電極9は、ダイパッド3及びチップ4により覆
われることなく同一面方向としての上側に向けて露出さ
れており、ワイヤ10によりインナリード7に接続され
ている。絶縁膜12としては、ポリイミド等からなる5
0μmから100μmの厚みを持った膜が好ましい。絶
縁膜12を設けることによりチップ4及び8の接着面に
存在し得る微小なキズを介しての電気的ショートを未然
に防ぐことができる。Therefore, the electrode 9 is not covered by the die pad 3 and the chip 4 and is exposed upward in the same plane direction, and is connected to the inner lead 7 by the wire 10. The insulating film 12 is made of polyimide or the like.
A film having a thickness of 0 μm to 100 μm is preferred. By providing the insulating film 12, it is possible to prevent electrical short circuits caused by minute scratches that may exist on the bonding surfaces of the chips 4 and 8.
ダイパッド3、インナリード7、チップ4及び8、ワイ
ヤ6及び10、並びに絶縁膜12は、パッケージ本体2
内に樹脂封止されている。インナリード7と一体的構造
の金属からなるアウタリード11はパッケージ本体2の
外側に突出しており、半導体装置1が取り付けられる図
示しない基板等に設けられた配線に半田付は技術又は熱
圧着技術等により電気的に接続される。尚、ダイパッド
3は接地用のアウタリード11に接続されていても良く
、又は接続されていなくても良い。The die pad 3, inner leads 7, chips 4 and 8, wires 6 and 10, and insulating film 12 are connected to the package body 2.
The inside is sealed with resin. The outer lead 11 made of metal and integral with the inner lead 7 protrudes outside the package body 2, and is soldered to wiring provided on a substrate (not shown) to which the semiconductor device 1 is attached by a technique or a thermocompression bonding technique. electrically connected. Note that the die pad 3 may or may not be connected to the outer lead 11 for grounding.
本実施例の半導体装置1の製造方法について以下に説明
する。A method for manufacturing the semiconductor device 1 of this embodiment will be described below.
まず、グイパッド3、インナリード7、アウタリード1
1及び外側フレーム部分を含む一体的構造の金属からな
るリードフレームが用意される。First, Gui Pad 3, Inner Lead 7, Outer Lead 1
A monolithic metal lead frame is provided that includes a lead frame 1 and an outer frame portion.
次に、ダイパッド3の上面に半導体チップ4が接着剤に
よりグイボンドされ、グイパッド3の下面に半導体チッ
プ8が絶縁膜12によりグイボンドされる。Next, the semiconductor chip 4 is firmly bonded to the upper surface of the die pad 3 with an adhesive, and the semiconductor chip 8 is firmly bonded to the lower surface of the die pad 3 using an insulating film 12.
次に、専用のワイヤボンディング接続用装置において、
インナリード7の接続されるべき側の反対の側である下
側からリードフレーム及びチップ8が押さえられた状態
とされる。電極5は周知のワイヤボンディング技術によ
り上側からワイヤ6によりインナリード7に接続される
。一方、電極9は、チップ8の両端部において上側に向
けて配置されており、平面図上でダイパッド3及びチッ
プ4により覆われることなく露出しているが故に、該接
続用装置により電極5の場合と同様に容易にして上側か
らワイヤ18によりインナリード7に接続される。Next, in a dedicated wire bonding connection device,
The lead frame and chip 8 are held down from the lower side, which is the side opposite to the side to which the inner leads 7 are to be connected. The electrode 5 is connected to the inner lead 7 from above by a wire 6 using a well-known wire bonding technique. On the other hand, the electrodes 9 are arranged facing upward at both ends of the chip 8, and are exposed without being covered by the die pad 3 and the chip 4 in the plan view. It is easily connected to the inner lead 7 by the wire 18 from above in the same manner as in the above case.
次に、以上のように組み立てられたダイパッド3、イン
ナリード7、チップ4及び8、ワイヤ6及び10.並び
に絶縁膜12は、モールド装置にセットされて樹脂が充
填され、加熱処理等により該樹脂が硬化させられてパッ
ケージ本体2内に封止される。Next, the die pad 3, inner leads 7, chips 4 and 8, wires 6 and 10 . Further, the insulating film 12 is set in a molding device and filled with resin, and the resin is cured by heat treatment or the like and sealed within the package body 2.
次に、リードフレームの外側フレーム部分の切断及びア
ウタリードllの折り曲げが行われて半導体装置1が得
られる。Next, the outer frame portion of the lead frame is cut and the outer lead 11 is bent to obtain the semiconductor device 1.
本実施例においては、チップ4及び8が互いに同種の素
子であっても良く、又は、異種の素子であっても良い。In this embodiment, the chips 4 and 8 may be the same type of elements or may be different types of elements.
チップ4及び8が共に記憶素子であれば、従来の方式と
比べてパッケージ本体2の底面積当たりの記憶量を約2
倍にすることができる。If the chips 4 and 8 are both memory elements, the amount of memory per bottom area of the package body 2 can be reduced by about 2 compared to the conventional method.
Can be doubled.
特に、チップ4がCCD等の固体撮像素子であり、チッ
プ8が撮像信号処理用ICであり、パッケージ本体2が
透明な樹脂から構成されており、パッケージ本体2内に
おいてチップ4とチップ8とを結ぶ適当なインナリード
7の配線パターン又は/及びインナリード7間のワイヤ
による配線が設けられていれば、半導体装置1は撮像機
能と信号処理機能とを同時に備えた装置となり得る。こ
の場合には、該固体撮像素子と信号処理用ICとの間に
存在する配線の長さが非常に短くて済むため、特に信号
処理にかかる時間を減少し得るという利点がある。更に
この場合には、ダイパッド3に信号処理用ICの遮光板
としての機能を持たせることができるので半導体装置1
の構造上有利である。このように本実施例において、異
種の素子であるチップ4及び8の組み合わせを工夫する
ことにより、チップ4及び8が同種の素子である場合に
は得られない効果が得られる。In particular, the chip 4 is a solid-state imaging device such as a CCD, the chip 8 is an IC for processing an imaging signal, the package body 2 is made of transparent resin, and the chips 4 and 8 are separated within the package body 2. If a suitable wiring pattern of the inner leads 7 and/or wire wiring between the inner leads 7 is provided, the semiconductor device 1 can be a device having an imaging function and a signal processing function at the same time. In this case, the length of the wiring between the solid-state image pickup device and the signal processing IC can be very short, so there is an advantage that the time required for signal processing can be particularly reduced. Furthermore, in this case, since the die pad 3 can have a function as a light shielding plate for the signal processing IC, the semiconductor device 1
It is advantageous in terms of its structure. In this way, in this embodiment, by devising a combination of the chips 4 and 8, which are different types of elements, effects that cannot be obtained when the chips 4 and 8 are the same type of elements can be obtained.
以上の実施例においては、電極5及び9はワイヤボンデ
ィング技術によりインナリード7に接続されているが、
インナリード7上又は電極5及び9上にタブ又はバンプ
等が設けられて、熱圧着又は半田付は等を用いたワイヤ
レスボンディング技術により電極5及び9がインナリー
ド7に接続されてもよい。また、このようにワイヤレス
ボンディング技術による接続を利用すれば、第1図の平
面図において特に下側のチップ8の電極9が上側のチッ
プ4により隠れている場合でも、チップ8よりも平面形
状が小さいダイパッド3を使ってダイパッド3の厚みに
よりチップ4とチップ8との間に隙間が形成され且つ電
極9がチップ8の上面の端部において該隙間に露出する
ように構成すれば、該隙間にインナリード7の先端部を
挿入することにより電極9とインナリード7とを接続す
ることが可能となるという利点がある。In the above embodiment, the electrodes 5 and 9 are connected to the inner lead 7 by wire bonding technology.
Tabs, bumps, etc. may be provided on the inner lead 7 or on the electrodes 5 and 9, and the electrodes 5 and 9 may be connected to the inner lead 7 by a wireless bonding technique using thermocompression bonding, soldering, or the like. Furthermore, if the connection by wireless bonding technology is used in this way, even if the electrodes 9 of the lower chip 8 are hidden by the upper chip 4 in the plan view of FIG. If a small die pad 3 is used and configured so that a gap is formed between the chips 4 and 8 due to the thickness of the die pad 3, and the electrode 9 is exposed to the gap at the end of the upper surface of the chip 8, the gap can be filled. There is an advantage that the electrode 9 and the inner lead 7 can be connected by inserting the tip of the inner lead 7.
以上の実施例においては、電極5はX方向に沿ってチッ
プ4の縁部に配置されており且つ電極9はY方向に沿っ
てチップ8の端部に配置されているが、電極9がX方向
に沿ってチップ8の縁部に配置されており且つ電極5が
Y方向に沿ってチップ4の端部に配置されていても良い
。又、電極5の一部がX方向に沿ってチップ4の縁部に
配置されており、電極5の他の一部がY方向に沿ってチ
ップ4の端部に配置されていても良い。更に、電極5及
び9の両方がX方向に沿ってチップ4及び8の縁部1曇
配置されていても良く、又、電極5及び9の両方がY方
向に沿ってチップ4及び8の端部に配置されていても良
い。一つの端部または一つの縁部を電極5及び電極9が
共有する場合には、特にワイヤ6とワイヤ10とを交互
に配列するように構成しても良く、又は、適当な長さの
一つの領域を電極5に割り当てると共に適当な長さの他
の領域を電極9に割り当てても良い。いずれの実施例の
場合においても製造工程において容易に電極9とインナ
リード7とを接続するためには電極9が第1図の平面図
において見えるようなチップ4及び8並びにグイパッド
3の平面形状の組み合わせを選択することが好ましい。In the above embodiment, the electrode 5 is arranged at the edge of the chip 4 along the X direction, and the electrode 9 is arranged at the end of the chip 8 along the Y direction. The electrodes 5 may be arranged at the edges of the chip 8 along the Y direction, and the electrodes 5 may be arranged at the ends of the chip 4 along the Y direction. Further, a part of the electrode 5 may be arranged at the edge of the chip 4 along the X direction, and another part of the electrode 5 may be arranged at the end of the chip 4 along the Y direction. Furthermore, both electrodes 5 and 9 may be located along the edges of chips 4 and 8 along the X direction, and both electrodes 5 and 9 may be located along the edges of chips 4 and 8 along the Y direction. It may be placed in the section. If one end or one edge is shared by the electrodes 5 and 9, the wires 6 and 10 may be arranged in an alternating manner, or may be arranged in a suitable length. One area may be allocated to the electrode 5, and another area of an appropriate length may be allocated to the electrode 9. In any of the embodiments, in order to easily connect the electrode 9 and the inner lead 7 during the manufacturing process, the planar shape of the chips 4 and 8 and the guide pad 3 is such that the electrode 9 can be seen in the plan view of FIG. Preferably, a combination is selected.
さらに、ワイヤ6とワイヤ10とが交差せずに接続し得
るように電極5及び9並びにインナリード7の配置を選
択することが好ましい。Furthermore, it is preferable to select the arrangement of the electrodes 5 and 9 and the inner lead 7 so that the wires 6 and 10 can be connected without crossing each other.
以上の実施例においては、電極5及び9は全てチップ4
及び8の上面にのみ形成されており同一の方向(上側)
を向いている。このため、一方の側(上側)からのみイ
ンナリードボンディングすれば良く、従ってインナリー
ドボンディングの途中でリードフレームを裏返す等の必
要がなく、且つ接続箇所に触れることなく接続されるべ
き側の反対の側(下側)からリードフレーム及びチップ
8を押さえるのは容易であるので、製造工程および製造
コストの面からして実践的であり、大変有利である。し
かしながら、電極5及び9の全てが同一の方向を向いて
いる必要はなく、電極5及び9の一部がチップ4及び8
の上面に形成されて上側を向いており、電極5及び9の
他の一部がチップ4及び8の下面に形成されて下側を向
いていても良い。この場合は、一方の側で既に接続され
た接続箇所を避けつつ該一方の側からパッケージ及び半
導体チップを押さえるように構成された特殊の治具を用
いて該一方の側の接続箇所を破損しないように押さえた
状態で他方の側からワイヤボンディング技術又はワイヤ
レスボンディング技術等により接続を行うことができる
。In the above embodiment, the electrodes 5 and 9 are all on the tip 4.
and 8 are formed only on the top surface and in the same direction (upper side)
facing. Therefore, it is only necessary to perform inner lead bonding from one side (the upper side), and there is no need to turn over the lead frame during inner lead bonding. Since it is easy to hold down the lead frame and chip 8 from the side (lower side), it is practical and very advantageous in terms of manufacturing process and manufacturing cost. However, it is not necessary that all of the electrodes 5 and 9 face the same direction, and some of the electrodes 5 and 9
The other portions of the electrodes 5 and 9 may be formed on the lower surfaces of the chips 4 and 8 and face downward. In this case, avoid damaging the connection points on one side by using a special jig configured to hold the package and semiconductor chip from one side while avoiding the connection points that have already been connected on the other side. Connection can be made from the other side using wire bonding technology, wireless bonding technology, or the like while the device is pressed in this manner.
以上の実施例においては、パッケージ本体2内には2つ
のチップ4及び8が実装されているが、3つ或いはそれ
以上の個数の半導体チップが絶縁膜等を介して重ねられ
てパッケージ本体2内に実装されていても良い。この場
合にも、夫々の半導体チップにおける同一面に形成され
た複数の外部接続用の電極が同一面方向に露出されるよ
うに複数の半導体チップが互いに重畳されているので該
電極とインナリードとの接続は前述の半導体装置1の場
合とほぼ同様に容易に実施し得る。尚、この場合には、
下に重ねられた半導体チップはどX方向又は/及びY方
向の長さを長くすることにより夫々のチップの電極が上
から見えるように構成すれば該電極とインナリードとの
接続は容易となる。又、多数の同形状の半導体チップを
X方向又は/及びY方向に少しづつずらせることにより
夫々のチップの電極が上から見えるように構成しても該
電極とインナリードとの接続は容易となる。In the above embodiment, two chips 4 and 8 are mounted inside the package body 2, but three or more semiconductor chips are stacked on top of each other with an insulating film or the like interposed therebetween. It may be implemented in In this case as well, since the plurality of semiconductor chips are overlapped with each other so that the plurality of external connection electrodes formed on the same surface of each semiconductor chip are exposed in the same surface direction, the electrodes and the inner leads are The connection can be easily performed in substantially the same manner as in the case of the semiconductor device 1 described above. In this case,
If the semiconductor chips stacked below are configured to have longer lengths in the X direction and/or Y direction so that the electrodes of each chip can be seen from above, it will be easier to connect the electrodes to the inner leads. . Furthermore, even if a large number of semiconductor chips having the same shape are slightly shifted in the X direction and/or Y direction so that the electrodes of each chip can be seen from above, the electrodes and the inner leads can be easily connected. Become.
以上の実施例においては、半導体装置1の実装形態は樹
脂モールドタイプのデユアルーイン・ライン型パッケー
ジであるが、これらは、積層セラミックタイプ又はガラ
スセラミックタイプのデュアル番イン・ライン型パッケ
ージであっても良く、若しくはフラットパッケージ、ピ
ングリッドアレ、チップキャリア、又はテープキャリア
であっても良い。In the above embodiments, the semiconductor device 1 is mounted in a dual-in-line package of resin mold type, but it may also be a dual-in-line package of laminated ceramic type or glass ceramic type. , or a flat package, pin grid array, chip carrier, or tape carrier.
[発明の効果コ
本発明の半導体装置によれば、重畳された複数の半導体
チップがパッケージに実装されているが故に、限られた
底面積を持つ該パッケージに実装され得る半導体チップ
の合計底面積を増加し得る。[Effects of the Invention] According to the semiconductor device of the present invention, since a plurality of stacked semiconductor chips are mounted in a package, the total base area of the semiconductor chips that can be mounted in the package having a limited base area is reduced. can be increased.
夫々の半導体チップにおいて同一面に形成された複数の
外部接続用の電極が同一面方向に露出されるように複数
の半導体チップが互いに重畳されているが故に、本発明
の半導体装置の製造におけるインナリードボンディング
工程は容易に実施され得る。その結果、本発明によれば
、半導体チップのパッケージへの実装密度が高められ且
つ製造が容易である半導体装置を提供することができる
。Since a plurality of semiconductor chips are stacked on top of each other so that a plurality of external connection electrodes formed on the same surface of each semiconductor chip are exposed in the same surface direction, the inner layer in manufacturing the semiconductor device of the present invention is The lead bonding process can be easily performed. As a result, according to the present invention, it is possible to provide a semiconductor device in which the packaging density of semiconductor chips in a package is increased and which is easy to manufacture.
第1図は本発明の一実施例を示す平面透視図、第2図は
第1図のI−1’ 断面図である。
1・・・・・・半導体装置、2・・・・・・パッケージ
本体、3・・・・・・グイパッド、4.8・・・・・・
半導体チップ、5、9・・・・・・電極、
6.
10・・・・・・ワイヤ、
7・・・・・・インナリ
ド、
11・・・・・・アウタ
リ
ド、
12・・・・・・絶縁膜。FIG. 1 is a plan perspective view showing one embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a sectional view taken along line I-1' in FIG. 1...Semiconductor device, 2...Package body, 3...Guipad, 4.8...
Semiconductor chip, 5, 9...electrode, 6. 10...Wire, 7...Innalide, 11...Autaride, 12...Insulating film.
Claims (1)
該各電極が同一面方向に露出されるように互いに重畳さ
れた複数の半導体チップと、前記複数の半導体チップが
実装されたパッケージとを有してなることを特徴とする
半導体装置。A plurality of semiconductor chips each having a plurality of external connection electrodes formed on the same surface and stacked on top of each other so that the respective electrodes are exposed in the same surface direction, and a package in which the plurality of semiconductor chips are mounted. A semiconductor device comprising:
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1248540A JPH03109760A (en) | 1989-09-25 | 1989-09-25 | Semiconductor device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1248540A JPH03109760A (en) | 1989-09-25 | 1989-09-25 | Semiconductor device |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03109760A true JPH03109760A (en) | 1991-05-09 |
Family
ID=17179704
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1248540A Pending JPH03109760A (en) | 1989-09-25 | 1989-09-25 | Semiconductor device |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH03109760A (en) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5347429A (en) * | 1990-11-14 | 1994-09-13 | Hitachi, Ltd. | Plastic-molded-type semiconductor device |
US5479051A (en) * | 1992-10-09 | 1995-12-26 | Fujitsu Limited | Semiconductor device having a plurality of semiconductor chips |
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US6906424B2 (en) * | 2002-08-02 | 2005-06-14 | Micron Technology, Inc. | Semiconductor package and method producing same |
US7023079B2 (en) * | 2001-03-01 | 2006-04-04 | Advanced Semiconductor Engineering, Inc. | Stacked semiconductor chip package |
-
1989
- 1989-09-25 JP JP1248540A patent/JPH03109760A/en active Pending
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