[go: up one dir, main page]

JPH0274845A - 粒子測定装置 - Google Patents

粒子測定装置

Info

Publication number
JPH0274845A
JPH0274845A JP63226001A JP22600188A JPH0274845A JP H0274845 A JPH0274845 A JP H0274845A JP 63226001 A JP63226001 A JP 63226001A JP 22600188 A JP22600188 A JP 22600188A JP H0274845 A JPH0274845 A JP H0274845A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
wavelength
laser light
particles
sample
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP63226001A
Other languages
English (en)
Inventor
Yuji Ito
勇二 伊藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Canon Inc filed Critical Canon Inc
Priority to JP63226001A priority Critical patent/JPH0274845A/ja
Priority to US07/402,358 priority patent/US4999513A/en
Priority to DE3930027A priority patent/DE3930027C2/de
Priority to FR8911791A priority patent/FR2636429B1/fr
Publication of JPH0274845A publication Critical patent/JPH0274845A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は検体粒子に対して光を照射し、検体粒子による
透過光や散乱光あるいは蛍光等の光を測光することによ
り粒子測定を行なう粒子測定装置に関する。
[従来の技術] 従来の粒子測定装置、例えばフローサイトメータでは、
1個ずつ高速で流れる生体細胞等の検体粒子に1方向か
ら光を照射し、それによって発生する散乱光や蛍光を測
光することにより、検体粒子の粒子径や性質に関する情
報が得られ、多数の細胞についてのこれらの情報から検
体粒子を計量的に解析していた。また最近では抗体で感
作したラテックス粒子に被検試料を加え、抗原抗体反応
によってラテックス粒子の凝集が起こり、このラテック
ス凝集体の大きさをフローサイトメータを使って検出す
ることにより、被検試料中の特定抗原を判別する使い方
もなされてきた。
またフローサイトメータとは別に、検体粒子の画像情報
による粒子測定は、光学顕微鏡や電子顕微鏡等の装置を
用いて行なうことが一般になされている。特に最近は静
止した細胞を微小レーザスポットで2次元的に走査する
ことにより、コントラストの高い細胞の内部構造を反映
する画像を得る装置も用いられるようになってきた。
本願出願人は先に出願した、特願昭63−100572
にて前記フローサイトメータと走査型顕微鏡の両者の機
能を兼ね備えた粒子測定装置を提案した。
[発明が解決しようとしている問題点]しかしながら、
従来のフローサイトメータや特願昭63−100572
の装置では、各々の検体粒子について1方自から光を照
射するため、1方向からの情報しか取り出すことかでき
ず、検体粒子の立体的な把握ができなかった。
本発明は各々の検体粒子について複数方向からの情報が
得られ、精度の高い解析が可能な粒子測定装置の提供を
目的とする。
[問題点を解決するための手段] 上述した問題点を解決するため、被検部を通過する検体
粒子に対して光を照射し被検部からの光を測光すること
により検体粒子の測定を行なう粒子測定装置において、
第1の方向から第1の波長O光を被検部に照射する第1
の光照射手段と、前記第1の方向とは異なる第2の方向
から第2の波長の光を被検部に照射する第2の光照射手
段と、被検部からの前記第1、第2の波長の光をそれぞ
れ測光する測光手段を備える。
[実施例] 以下、本発明の粒子測定装置の実施例を図面を用いて詳
細に説明する。
第1図は本発明の実施例の構成図であり、1は波長λ1
のレーザ光を発するレーザ光源、3はシリンドリカルレ
ンズ等から成る結像光学系であり、第1の光照射手段を
形成している。レーザ光源1から発射された波長λ1の
レーザ光は、結像光学系3にて透明ガラスのフローセル
4内の流通部2に結像される。この時、結像光学系3に
よって被検部に結像されるビームスポットの形状は、検
体粒子の流れに対して横長の楕円形状である。
これは被検部での検体粒子の流れ位置が紙面の上下また
は左右方向に若干ずれたとしても、検体粒子に対してほ
ぼ均一の強度で光照射を行なうことができるようにする
ためである。
また、第2光照射手段として、前記レーザ光源1からの
レーザ光の光路及び検体粒子の流れ方向と直交する方向
からは、レーザ光源11によって先の波長λ1とは異な
る波長λ2のレーザ光が発射される。このレーザ光は上
記第1の光照射手段と同様に結像レンズ系13により、
フローセル中の被検部に対して、第1の光照射手段とは
直交する方向から結像される。
フローセル4内の流通部2には、例えば血球細胞やラテ
ックス凝集体等の検体粒子がシースフロ一方式によって
紙面垂直方向に1個あるいは1塊ずつ順次流され、波長
λ1のレーザ光及び波長λ2のレーザ光が結像されるフ
ローセル4内の被検部を順次通過する。ここで被検部に
検体粒子5が無い時は、レーザ光源1からのレーザ光は
フローセル4を直進してストッパ6によって遮断され、
同様にレーザ光源11からのレーザ光はストッパ14に
よって遮断される。ところが被検部に検体粒子がさしか
かり、検体粒子にレーザ光が照射されると、検体粒子に
よって光散乱が起こり、波長λ1及びλ2の散乱光が発
生する。レーザ光源1及び11の光路直進方向には、そ
れぞれ集光レンズ7及び15が配置され、所定角度の散
乱光が集光される。ここでレンズ7で集光された散乱光
は、バリアフィルタ8によって波長λ1の光のみが選択
的に透過される。すなわち第1の光照射手段によって照
射されて発生した散乱光のみが選択される。バリアフィ
ルタ8を透過した波長λ1の光は絞り9を通過して、光
検出器10にて光強度が検出される。
また、レンズ15で集光された散乱光は、バリアフィル
タ16によって波長λ2の光のみが選択される。すなわ
ち、第2の光照射手段による散乱光のみが選択され、絞
り17、光検出器18によって波長λ2の光強度が検出
される。光検出器10及び18の出力は記憶手段19に
接続され、それぞれの検出データが別々に記憶される。
こうして1個の検体粒子につき異なる角度からの測定デ
ータが得られ、この記憶手段19の内容を基に演算手段
20にて粒子測定の演算がなされる。
[他の実施例コ 次に検体粒子を複数方向から光走査することにより、よ
り詳細な粒子情報が得られる、本発明の別の実施例を説
明する。第2図は本発明の別の実施例の構成図、第3図
はレーザビーム照射方向から見たフローセル部の側面図
であり、第1図と同一の符号は同一の部材を表わす。
検体粒子を光照射する第1の光照射手段として波長λ1
の波長のレーザ光を発するレーザ光源21から発射され
たレーザ光は、光路中に設けられた光偏向器22によっ
て、検体粒子の流れと直交する平面内で高速に偏向走査
される。なおレーザ光源1からの直進方向にはストッパ
23が設けられ、0次光がカットされる。光偏向器22
で偏向されたレーザ光は、対物レンズ24にてフローセ
ル4内の流通部2の被検部にテレセントリックに結像さ
れる。ここで結像スポットのサイズは検体粒子のサイズ
よりも小さいものとする。
また、前記走査光の照射方向及び検体粒子の通過方向に
直交する方向からは、第2の光照射手段として、前記レ
ーザ光源21の波長λ、とは異なる波長λ2のレーザ光
を発するレーザ光源31、光偏向器32、対物レンズ3
4、及びストッパ33が前記第1の照射手段と同様に配
置され、被検部を第1の照射手段とは直交方向から走査
する。
ここで光偏向器22と32は制御回路39によって同一
スピードで偏向走査するように制御される。
流通部2には生体細胞等の検体粒子5がシースフロ一方
式で第1図の紙面垂直方向、すなわち第2図の上下方向
に1個ずつ順々に流される。この時、レーザの走査スピ
ードは検体粒子の漬れ速さよりも十分大きく設定される
。よって第3図のようにレーザスポット50が高速に走
査される被検部に検体粒子がさしかかると、検体粒子が
横方向に走査されることになる。この時、レーザ走査の
光学系はテレセントリックであるため、検体粒子に対し
てどのスキャン位置でも同一の方向より照射ビームが入
射し均一の走査が行なわれる。検体粒子5に第1の光照
射手段によって波長λ1のレーザ光が走査され、検体粒
子5を透過、及び検体粒子5によって散乱した光は、フ
ローセル4を挟んで対向する位置に設けられた集光レン
ズ25にて集光される。集光された光は波長λ1の光の
みを通過させるフィルタ40で波長選択され、光偏向器
22と共役な位置に配置される絞り26にて透過光のみ
が選択され、波長λ1の透過光強度が光検出器27にて
検出される。なお、透過光ではなく検体粒子による散乱
光を検出したい場合には、絞り26の代りに絞り26の
開口と同一面積のストッパを設けることにより、透過光
をカットし散乱光を検出することができる。
またフローセル4を挟んで第2の光照射手段に対向する
位置には、集光レンズ35が配置され、被検部からの透
過光及び散乱光が集光され、波長λ2のみを通過させる
フィルタ41で波長選択され、絞り36、光検出器37
にて波長λ2の透過光強度が検出される。散乱光を検出
する場合は上記と同様である。前記光検出器27及び3
7の出力はそれぞれメモリ38に接続され、時系列的に
別々にメモリ上に蓄えられる。
以上のように、レーザ光が複数方向から交互に高速に走
査されている流通部2の被検部に検体粒子5が通過する
と、粒子の通過速度に対して走査速度が十分大きく設定
されているため、検体粒子は被検部通過の際に各方向か
ら複数回走査され、検体粒子に対して複数方向から実質
上2次元的な走査が行なわれることになる。
こうして検体粒子が被検部を通過するごどにメモリ38
上には複数方向から見た検体粒子の形態等を表わす情報
のデータが、多数の検体粒子に関して蓄えられる。こう
して得られたデータに画像処理等の処理を施したり、ヒ
ストグラムやサイトダラムに表わしたりて、さまざまな
粒子解析が可能であることは一般に良く知られている。
この解析は演算回路42にてなされ、解析結果はCRT
上に表示したり、プリントアウト等の方法によ)て出力
される。
なお、以上説明してきた実施例では、レーザ照射光の光
軸前方に配される光検出手段により前方散乱光又は透過
光を検出したが、他方の光検出手段により同時に側方散
乱光を検出することも可能である。
また上述の実施例では、検体粒子を2方向から光照射し
て、2方向からの情報を得たが、これには限定されず、
3方向以上の複数方向から光照射することにより、より
詳細な解析を行なうことも可能である。
[発明の効果] 以上本発明によれば、多数の検体粒子について各々複数
方向からの情報を得ることかでき、より精度の高い解析
が可能な粒子測定装置を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の実施例の構成図、 第2図は別の実施例の構成図、 第3図は別の実施例におけるフローセル部の側面図、 であり、図中の主な記号は、 1.21・・・・波長λ1のレーザ光源、11.32・
・・・波長λ2のレーザ光源、8.40・・・・波長λ
1の光を透過させるバリアフィルタ、 16.41・・・・波長λ2の光を透過させるバリアフ
ィルタ、 6.14.23.33・・・・ストッパ、19.38・
・・・記憶手段、 20.42・・・・演算手段、 22.32・・・・光偏向器、

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、被検部を通過する検体粒子に対して光を照射し被検
    部からの光を測光することにより検体粒子の測定を行な
    う粒子測定装置において、第1の方向から第1の波長の
    光を被検部に照射する第1の光照射手段と、前記第1の
    方向とは異なる第2の方向から第2の波長の光を被検部
    に照射する第2の光照射手段と、被検部からの前記第1
    、第2の波長の光をそれぞれ測光する測光手段を備える
    ことを特徴とする粒子測定装置。 2、前記光照射手段は光偏向器を含む光学系で光ビーム
    を偏向して被検部を検体粒子の通過方向と交差する方向
    に走査する請求項1記載の粒子測定装置。
JP63226001A 1988-09-09 1988-09-09 粒子測定装置 Pending JPH0274845A (ja)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63226001A JPH0274845A (ja) 1988-09-09 1988-09-09 粒子測定装置
US07/402,358 US4999513A (en) 1988-09-09 1989-09-05 Particle measuring apparatus
DE3930027A DE3930027C2 (de) 1988-09-09 1989-09-08 Teilchenmeßgerät
FR8911791A FR2636429B1 (fr) 1988-09-09 1989-09-08 Appareil de mesure de particules

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63226001A JPH0274845A (ja) 1988-09-09 1988-09-09 粒子測定装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH0274845A true JPH0274845A (ja) 1990-03-14

Family

ID=16838236

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP63226001A Pending JPH0274845A (ja) 1988-09-09 1988-09-09 粒子測定装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0274845A (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0498145A (ja) * 1990-08-16 1992-03-30 Sigma Tec:Kk 流体中の微粒子計数装置
JP2009516840A (ja) * 2005-11-23 2009-04-23 ビーエーエスエフ ソシエタス・ヨーロピア 個々の3次元粒子形状の自動測定のための装置及び方法
KR20220067511A (ko) 2020-11-17 2022-05-24 오츠카 일렉트로닉스 가부시키가이샤 광산란 측정 장치 및 측정 지그

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5084285A (ja) * 1973-11-26 1975-07-08
JPS60237345A (ja) * 1984-05-01 1985-11-26 オーソ・ダイアグノステイツク・システムズ・インコーポレイテツド 粒子の分析方法および装置
JPS62293143A (ja) * 1986-06-12 1987-12-19 Rion Co Ltd 微粒子測定装置

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5084285A (ja) * 1973-11-26 1975-07-08
JPS60237345A (ja) * 1984-05-01 1985-11-26 オーソ・ダイアグノステイツク・システムズ・インコーポレイテツド 粒子の分析方法および装置
JPS62293143A (ja) * 1986-06-12 1987-12-19 Rion Co Ltd 微粒子測定装置

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0498145A (ja) * 1990-08-16 1992-03-30 Sigma Tec:Kk 流体中の微粒子計数装置
JP2009516840A (ja) * 2005-11-23 2009-04-23 ビーエーエスエフ ソシエタス・ヨーロピア 個々の3次元粒子形状の自動測定のための装置及び方法
KR20220067511A (ko) 2020-11-17 2022-05-24 오츠카 일렉트로닉스 가부시키가이샤 광산란 측정 장치 및 측정 지그
EP4001891A1 (en) 2020-11-17 2022-05-25 Otsuka Electronics Co., Ltd. Light scattering measuring apparatus and measuring jig
US12174103B2 (en) 2020-11-17 2024-12-24 Otsuka Electronics Co., Ltd. Light scattering measuring apparatus and measuring jig

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3145487B2 (ja) 粒子分析装置
US5644388A (en) Imaging flow cytometer nearly simultaneously capturing a plurality of images
US4999513A (en) Particle measuring apparatus
JP3187129B2 (ja) 粒子分析装置
JP3299817B2 (ja) イメージングフローサイトメータ
JPH06186155A (ja) 粒子分析装置
JPH06186156A (ja) 粒子分析装置
JPS61153546A (ja) 粒子解析装置
JP3102925B2 (ja) 粒子分析装置
JPH02105041A (ja) 粒子測定装置
JP3771417B2 (ja) 微粒子測定方法およびその装置
JPH0224535A (ja) 粒子解析装置
JPH01270644A (ja) 粒子解析装置
JPH0274845A (ja) 粒子測定装置
JPS6151569A (ja) 細胞識別装置
JPS6244650A (ja) 粒子解析装置
JPH03154850A (ja) 検体検査装置
JP2001272355A (ja) 異物検査装置
JPH0274846A (ja) 粒子測定装置
JPH0277636A (ja) 粒子測定装置
JPS61213652A (ja) 光散乱画像情報解析装置
JP2720069B2 (ja) 流動細胞分析装置
JPH03150444A (ja) 検体検査装置
JP2981696B2 (ja) 検体の3次元情報計測方法および装置
JP3340808B2 (ja) 眼科測定装置の校正器