JPH0267940A - 差圧伝送路 - Google Patents
差圧伝送路Info
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- JPH0267940A JPH0267940A JP63218361A JP21836188A JPH0267940A JP H0267940 A JPH0267940 A JP H0267940A JP 63218361 A JP63218361 A JP 63218361A JP 21836188 A JP21836188 A JP 21836188A JP H0267940 A JPH0267940 A JP H0267940A
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- chambers
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01L—MEASURING FORCE, STRESS, TORQUE, WORK, MECHANICAL POWER, MECHANICAL EFFICIENCY, OR FLUID PRESSURE
- G01L19/00—Details of, or accessories for, apparatus for measuring steady or quasi-steady pressure of a fluent medium insofar as such details or accessories are not special to particular types of pressure gauges
- G01L19/06—Means for preventing overload or deleterious influence of the measured medium on the measuring device or vice versa
- G01L19/0627—Protection against aggressive medium in general
- G01L19/0645—Protection against aggressive medium in general using isolation membranes, specially adapted for protection
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01L—MEASURING FORCE, STRESS, TORQUE, WORK, MECHANICAL POWER, MECHANICAL EFFICIENCY, OR FLUID PRESSURE
- G01L13/00—Devices or apparatus for measuring differences of two or more fluid pressure values
- G01L13/02—Devices or apparatus for measuring differences of two or more fluid pressure values using elastically-deformable members or pistons as sensing elements
- G01L13/025—Devices or apparatus for measuring differences of two or more fluid pressure values using elastically-deformable members or pistons as sensing elements using diaphragms
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01L—MEASURING FORCE, STRESS, TORQUE, WORK, MECHANICAL POWER, MECHANICAL EFFICIENCY, OR FLUID PRESSURE
- G01L19/00—Details of, or accessories for, apparatus for measuring steady or quasi-steady pressure of a fluent medium insofar as such details or accessories are not special to particular types of pressure gauges
- G01L19/0007—Fluidic connecting means
- G01L19/0038—Fluidic connecting means being part of the housing
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measuring Fluid Pressure (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は差圧伝送器に係り、特にオリフィス板等により
前後2点間に発生する圧力差を測定する差圧が急激に大
きく変化した場合でも差圧検出ダイアラフラムの破損を
防止するのに好適な構造の差圧伝送器に関するものであ
る。
前後2点間に発生する圧力差を測定する差圧が急激に大
きく変化した場合でも差圧検出ダイアラフラムの破損を
防止するのに好適な構造の差圧伝送器に関するものであ
る。
この種の従来の差圧伝送器の構成について第4図によっ
て説明する。同図において、高圧側導入口32aを介し
て被測定圧力PHが、同時に低圧側導入口32bを介し
て被測定圧力PLがそれぞれ受圧ダイアフラム12,1
3に導入されると、それぞれの圧力PH、PLは各導通
路16.17を介してセンターダイアフラム4によって
形成される隔離室41.42に加わる。このとき、セン
ターダイアフラム4は圧力の低い側にふくらみ(P +
奮> P Lのときは低圧側にΔVFふくらむ)、この
ふくらみΔVFによって発生する圧力ΔP=Pu−PL
が高、低圧側導圧路51.52を介して半導体圧力セン
サの如き感圧素子6を設けた測定ダイアフラムの表裏に
伝達され、差圧ΔPに相応した電気出力に変換され、そ
の出力が外部に送出される。
て説明する。同図において、高圧側導入口32aを介し
て被測定圧力PHが、同時に低圧側導入口32bを介し
て被測定圧力PLがそれぞれ受圧ダイアフラム12,1
3に導入されると、それぞれの圧力PH、PLは各導通
路16.17を介してセンターダイアフラム4によって
形成される隔離室41.42に加わる。このとき、セン
ターダイアフラム4は圧力の低い側にふくらみ(P +
奮> P Lのときは低圧側にΔVFふくらむ)、この
ふくらみΔVFによって発生する圧力ΔP=Pu−PL
が高、低圧側導圧路51.52を介して半導体圧力セン
サの如き感圧素子6を設けた測定ダイアフラムの表裏に
伝達され、差圧ΔPに相応した電気出力に変換され、そ
の出力が外部に送出される。
次に、圧力PH、PLの差ΔPが大きくなると、センタ
ーダイアフラム4はさらに低圧側にふくらみ、このふく
らみにより感圧素子6の出力も増大する。次いで、圧力
PH、PLの差ΔPがさらに大きくなると、受圧ダイア
フラム12は、本体部材1の波形部分121に着座する
。このため、体積移動量ΔVFはある程度差圧ΔPが大
きくなると、ΔVF→ΔVF、maxなる一定値で停止
し、感圧素子6の出力も同時にある飽和出力状態となる
。
ーダイアフラム4はさらに低圧側にふくらみ、このふく
らみにより感圧素子6の出力も増大する。次いで、圧力
PH、PLの差ΔPがさらに大きくなると、受圧ダイア
フラム12は、本体部材1の波形部分121に着座する
。このため、体積移動量ΔVFはある程度差圧ΔPが大
きくなると、ΔVF→ΔVF、maxなる一定値で停止
し、感圧素子6の出力も同時にある飽和出力状態となる
。
これは一般には、差圧伝送路においては、感圧素子6に
は測定範囲を越える過大圧力差が印加される場合がある
ため、この場合でも測定ダイアフラムを破損させないよ
うにする保護機構と呼ばれているものであり、構成上必
須の条件である。
は測定範囲を越える過大圧力差が印加される場合がある
ため、この場合でも測定ダイアフラムを破損させないよ
うにする保護機構と呼ばれているものであり、構成上必
須の条件である。
上記の原理を数式ならびに第5図にて説明する。
差圧をΔP=Pu−PLとし、センターダイアフラム4
の圧力体積定数をΦC1受圧ダイアプラム12.13の
圧力体積定数をΦsh、ΦSJ移動体積量を移動体重量
と、 ΔP=PH−PL=(Φc+2Φs) ・ ΔV・ (
1)ここに、Φsh=Φst=ΦSとする。
の圧力体積定数をΦC1受圧ダイアプラム12.13の
圧力体積定数をΦsh、ΦSJ移動体積量を移動体重量
と、 ΔP=PH−PL=(Φc+2Φs) ・ ΔV・ (
1)ここに、Φsh=Φst=ΦSとする。
となる。(1)式において、ΔVはO≦ΔV、≦ΔVF
、□8であり、ΔVsは測定範囲内の移動液量、ΔV
F * a (l Xは最大移動液量(過負荷保護時)
である。この入力とΔVとΔEの出力関係は、それぞれ
第5図(a)、(b)に示しである。
、□8であり、ΔVsは測定範囲内の移動液量、ΔV
F * a (l Xは最大移動液量(過負荷保護時)
である。この入力とΔVとΔEの出力関係は、それぞれ
第5図(a)、(b)に示しである。
ところで、上記の動作は、被測定圧力P)I、 PLが
静的に負荷された場合であるが、実際のプラントにおい
ては、Pu r PLが急激に変化あるいは印加される
場合があり、このときでも感圧素子6を設けた測定ダイ
アフラムには許容値以上の差圧がかからないように保護
する機構を有する必要がある。例えば、差圧測定中にプ
ラントの何らかの条件によって遮断弁を動作させ、急激
に測定流量を止めると、この測定ラインには急激な圧力
上昇が発生(一般にはウォータハンマ、スチームハンマ
と呼ばれる衝撃圧)シ、その圧力が差圧伝送器に加わり
、しいては感圧素子6を設けた測定ダイアフラムを破損
に至らしめる。このように、圧力PH、PLが急激に上
昇あるいは変化した場合には、前述の過負荷保護機能は
動作しなくなるので、測定ダイアフラムを破損に至らし
める。
静的に負荷された場合であるが、実際のプラントにおい
ては、Pu r PLが急激に変化あるいは印加される
場合があり、このときでも感圧素子6を設けた測定ダイ
アフラムには許容値以上の差圧がかからないように保護
する機構を有する必要がある。例えば、差圧測定中にプ
ラントの何らかの条件によって遮断弁を動作させ、急激
に測定流量を止めると、この測定ラインには急激な圧力
上昇が発生(一般にはウォータハンマ、スチームハンマ
と呼ばれる衝撃圧)シ、その圧力が差圧伝送器に加わり
、しいては感圧素子6を設けた測定ダイアフラムを破損
に至らしめる。このように、圧力PH、PLが急激に上
昇あるいは変化した場合には、前述の過負荷保護機能は
動作しなくなるので、測定ダイアフラムを破損に至らし
める。
この大きな理由として、差圧伝送器内の感圧素子6に至
るまでの封入液22の惧性及び抵抗、受圧ダイアフラム
12,13、センターダイアフラム4(71慣a、l:
f’ ネ定数、隔殖室41 、42.alII定室7定
電72の体積などを含めた流体−ばねマス系の非定常応
答特性が考慮されていないため、高圧側、低圧側測定室
に至る圧力伝達特性が異なり、この圧力伝達特性差から
生じる過大差圧が感圧素子6を設けた狽1定ダイアフラ
ムに印加されることが上げられる。第6図にその応答特
性例を示す。
るまでの封入液22の惧性及び抵抗、受圧ダイアフラム
12,13、センターダイアフラム4(71慣a、l:
f’ ネ定数、隔殖室41 、42.alII定室7定
電72の体積などを含めた流体−ばねマス系の非定常応
答特性が考慮されていないため、高圧側、低圧側測定室
に至る圧力伝達特性が異なり、この圧力伝達特性差から
生じる過大差圧が感圧素子6を設けた狽1定ダイアフラ
ムに印加されることが上げられる。第6図にその応答特
性例を示す。
第6図(a)は通常の過負荷機能が動作した場合の応答
波形例を示したものであり、入力ΔPに対してほぼ一時
遅れの応答特性(定常応答)を示し、ΔEで飽和する。
波形例を示したものであり、入力ΔPに対してほぼ一時
遅れの応答特性(定常応答)を示し、ΔEで飽和する。
ところが、第6図(b)に示すように、入力ΔPが急激
に上昇(衝撃圧)すると、応答の初期の部分に高周波成
分を有する複雑な応答波形(非定常応答)を呈する。こ
の高周波の応満波形において±ΔEが測定ダイアフラム
の耐圧値以上になると、測定ダイアフラムが破損する。
に上昇(衝撃圧)すると、応答の初期の部分に高周波成
分を有する複雑な応答波形(非定常応答)を呈する。こ
の高周波の応満波形において±ΔEが測定ダイアフラム
の耐圧値以上になると、測定ダイアフラムが破損する。
なお、これに関連する公知例として特開昭60−734
26、60−73427.60−237337.60−
238732号公報がある。
26、60−73427.60−237337.60−
238732号公報がある。
上記従来技術は、被測定圧力PH、PLが静的に変化し
た場合の過負荷保護機構のみ配慮されており、PHIP
Lのいずれか一方の急激な上昇または変化した場合の感
圧素子を設けた測定ダイアフラムの破損防止については
配慮されていないため、測定ダイアプラムが破損するこ
とがあるという問題があった。
た場合の過負荷保護機構のみ配慮されており、PHIP
Lのいずれか一方の急激な上昇または変化した場合の感
圧素子を設けた測定ダイアフラムの破損防止については
配慮されていないため、測定ダイアプラムが破損するこ
とがあるという問題があった。
本発明の目的は、上記欠点に鑑みてなされたもので、被
測定圧力の急激な上昇または変化に対して感圧素子を設
けた測定ダイアフラムの破損を防止し、信頼性、耐久性
を向上することができる差圧伝送器を提供することにあ
る。
測定圧力の急激な上昇または変化に対して感圧素子を設
けた測定ダイアフラムの破損を防止し、信頼性、耐久性
を向上することができる差圧伝送器を提供することにあ
る。
上記目的は、1つの導通路と隔離室と導圧路と測定室と
より構成された第1管路系と、他の1つの導通路と隔離
室と導圧路と測定室とより構成された第2管路系にそれ
ぞれの管路系の形状と体積より決定される管路定数と固
有振動数を設定し、上記第1管路系の隔離室と測定室の
管路定数と上記第2管路系の隔離室と81す定常の管路
定数とをそれぞれの形状と体積により変化させることに
より上記第1管路系の管路定数と上記第2管路系の管路
定数を同一化して圧力伝達特性をそろえ、上記第1.第
2管路系の各導通路と各隔離室の管路抵抗を一ヒ記各隔
離室と各測定室より形成される管路定数より少なくとも
同等以上に構成して達成するようにした。
より構成された第1管路系と、他の1つの導通路と隔離
室と導圧路と測定室とより構成された第2管路系にそれ
ぞれの管路系の形状と体積より決定される管路定数と固
有振動数を設定し、上記第1管路系の隔離室と測定室の
管路定数と上記第2管路系の隔離室と81す定常の管路
定数とをそれぞれの形状と体積により変化させることに
より上記第1管路系の管路定数と上記第2管路系の管路
定数を同一化して圧力伝達特性をそろえ、上記第1.第
2管路系の各導通路と各隔離室の管路抵抗を一ヒ記各隔
離室と各測定室より形成される管路定数より少なくとも
同等以上に構成して達成するようにした。
各受圧ダイアフラム部分に形成される受圧室からそれて
高、低圧側隔離室に至る各導通路の管路抵抗削減は、セ
ンターダイアフラムの応答特性をよくする。それによっ
て各隔離室内には過渡な圧力発生を起こさないようにす
る。さらに、高、低圧側隔離室から高、低圧側測定室に
至る各導圧路の管路定数を一致させることは、各隔離室
からの圧力伝達特性を合致させることができるので、各
測定室に至る時間1位相、振幅の差異を生じないように
できる。それによって、各測定室内には、過渡な過大圧
力が発生することがなく、測定ダイアフラムを破損する
ことがない。
高、低圧側隔離室に至る各導通路の管路抵抗削減は、セ
ンターダイアフラムの応答特性をよくする。それによっ
て各隔離室内には過渡な圧力発生を起こさないようにす
る。さらに、高、低圧側隔離室から高、低圧側測定室に
至る各導圧路の管路定数を一致させることは、各隔離室
からの圧力伝達特性を合致させることができるので、各
測定室に至る時間1位相、振幅の差異を生じないように
できる。それによって、各測定室内には、過渡な過大圧
力が発生することがなく、測定ダイアフラムを破損する
ことがない。
以下本発明の一実施例を第1図〜第3図を用いて詳細に
説明する。
説明する。
第1図は本発明の差圧伝送器の一実施例を示す縦断面図
である。第1図において、1は両側面部を波形形状に形
成しである本体部材で、この本体部材1の両側面部には
可撓性に富んだ高圧側受圧ダイアフラム12と低圧側受
圧ダイアフラム13の周囲が密着固定されている。本体
部材1の波形形状部(受圧ダイアフラム12,13がそ
れぞれ密着するように受圧ダイアフラム12,13の波
形形状と同一の波形形状に形成しである)と各受圧ダイ
アフラム12,13間にはそれぞれ高圧側受圧室14.
低圧側受圧室15が形成されている。
である。第1図において、1は両側面部を波形形状に形
成しである本体部材で、この本体部材1の両側面部には
可撓性に富んだ高圧側受圧ダイアフラム12と低圧側受
圧ダイアフラム13の周囲が密着固定されている。本体
部材1の波形形状部(受圧ダイアフラム12,13がそ
れぞれ密着するように受圧ダイアフラム12,13の波
形形状と同一の波形形状に形成しである)と各受圧ダイ
アフラム12,13間にはそれぞれ高圧側受圧室14.
低圧側受圧室15が形成されている。
本体部材1には、高圧側導通路16ならびに低圧側導通
路17が設けてあり、それらの延長上はセンターダイア
フラム4によって区分された高圧側隔離室41と低圧側
隔離室42とにそれぞれ連通しである。さらに、センタ
ーダイアフラム4を挾んだ2つの隔離室41.42は、
感圧素子6を設けた測定ダイアフラムによって区分され
た高圧側測定室71と低圧側測定室72とにそれぞれ連
通させるために本体部材1内に設けた高圧側導圧路51
と低圧側導圧路52を有する。感圧素子6は、例えば、
測定室71と72との差圧を電気信号に変換する半導体
圧力センサであり、この出力信号はハーメチックシール
ピン8を介して外部に取り出すようにしである。
路17が設けてあり、それらの延長上はセンターダイア
フラム4によって区分された高圧側隔離室41と低圧側
隔離室42とにそれぞれ連通しである。さらに、センタ
ーダイアフラム4を挾んだ2つの隔離室41.42は、
感圧素子6を設けた測定ダイアフラムによって区分され
た高圧側測定室71と低圧側測定室72とにそれぞれ連
通させるために本体部材1内に設けた高圧側導圧路51
と低圧側導圧路52を有する。感圧素子6は、例えば、
測定室71と72との差圧を電気信号に変換する半導体
圧力センサであり、この出力信号はハーメチックシール
ピン8を介して外部に取り出すようにしである。
このような構成において、各受圧室14,15、各導通
路16.17、各隔離室41,42、各導圧路51,5
2、各測定室71.72にはそれぞれ封入液22として
、例えば、シリコンオイルが封入口18.19より注入
され、シールピン20゜21によって外気と封止されて
いる。
路16.17、各隔離室41,42、各導圧路51,5
2、各測定室71.72にはそれぞれ封入液22として
、例えば、シリコンオイルが封入口18.19より注入
され、シールピン20゜21によって外気と封止されて
いる。
前述の各隔離室41,42、各測定室71゜72、各導
通路16,17、各導圧路51,52を構成する際に、
特に導通路16.17と導圧路51.52には、管路系
の液体抵抗及び管路定数の選定により管路系の形状なら
びに各室41゜42.71,72の容積及びセンターダ
イアフラム4のばね定数が選定され、急激な被測定圧力
PH、PLの変化及び印加(衝撃圧)があった場合にも
感圧素子6を設けた測定ダイアフラムを破損させないよ
うにしである。以下、その原理と具体例について説明す
る。
通路16,17、各導圧路51,52を構成する際に、
特に導通路16.17と導圧路51.52には、管路系
の液体抵抗及び管路定数の選定により管路系の形状なら
びに各室41゜42.71,72の容積及びセンターダ
イアフラム4のばね定数が選定され、急激な被測定圧力
PH、PLの変化及び印加(衝撃圧)があった場合にも
感圧素子6を設けた測定ダイアフラムを破損させないよ
うにしである。以下、その原理と具体例について説明す
る。
第1図に示す差圧伝送器の構造をモデル化すると、第2
図の流体−ばね・マス系の連成系として表現できる。こ
こで、センターダイアフラム4と感圧素子6を含む測定
ダイアフラムは、それぞれ質[1mcHms、ばね常数
kc 、 ks 、表面積Ac 、Axとしたばね・マ
ス系とする。高、低圧側導通路16.17はそれぞれ内
径dh、d、 。
図の流体−ばね・マス系の連成系として表現できる。こ
こで、センターダイアフラム4と感圧素子6を含む測定
ダイアフラムは、それぞれ質[1mcHms、ばね常数
kc 、 ks 、表面積Ac 、Axとしたばね・マ
ス系とする。高、低圧側導通路16.17はそれぞれ内
径dh、d、 。
長さQh 、Q怠、断面積Alt p Amの管路で形
成される流体抵抗Rh 、 Ra 、流体の慣性抵抗L
h 。
成される流体抵抗Rh 、 Ra 、流体の慣性抵抗L
h 。
L、とする。高、低圧側導圧路51,52は、上述の導
通路16.17と同様に、内径dsh、d!1ffi、
長さQShHI23ffi、断面積A 4B hHA
s aの管路で形成される流体抵抗Rs h HRs
t、流体の慣性抵抗L 5 ++ ILs露とする。高
、低圧側隔離室41.42の体積をそれぞれV c h
、 V c 處とし、高、低圧側測定室71.72の
体積をそれぞれVsh、 Vshとする。
通路16.17と同様に、内径dsh、d!1ffi、
長さQShHI23ffi、断面積A 4B hHA
s aの管路で形成される流体抵抗Rs h HRs
t、流体の慣性抵抗L 5 ++ ILs露とする。高
、低圧側隔離室41.42の体積をそれぞれV c h
、 V c 處とし、高、低圧側測定室71.72の
体積をそれぞれVsh、 Vshとする。
内部に封入されている封入液22の密度をρ、体積弾性
率をK、粘度をμとする。かかる物理定数を有する流体
−ばね・マス系の連成系において、高圧側の受圧ダイア
フラム12あるいは低圧側の受圧ダイアフラム13ある
いは両方の受圧ダイアフラム12,13に同時に急激な
圧力変化(li#t’圧)が印加されたとき、感圧素子
6を有する測定ダイアフラムの両側の高、低圧側測定室
71゜72に発生する圧力の差である差圧を調べてみる
。
率をK、粘度をμとする。かかる物理定数を有する流体
−ばね・マス系の連成系において、高圧側の受圧ダイア
フラム12あるいは低圧側の受圧ダイアフラム13ある
いは両方の受圧ダイアフラム12,13に同時に急激な
圧力変化(li#t’圧)が印加されたとき、感圧素子
6を有する測定ダイアフラムの両側の高、低圧側測定室
71゜72に発生する圧力の差である差圧を調べてみる
。
いま、受圧ダイアフラム12または13に被測定圧力P
HまたはPLがステップ状に印加されたとする。このと
き、受圧ダイアフラム12は低圧側または高圧側に移動
し、導通路16に所定の流量Qを排出する。この所定の
流量Qは隔離室41に吸収され、同時に隔離室42にも
排出され、さらに導通路17に排出される。一方、隔離
室41゜42の圧力は、上記流量Qの排出量によって決
定される。これらの圧力は、一般には導通路16または
17の液体抵抗R1流体の慣性抵抗しによって決定され
、仮にRh 、Lh <RA 、Lmのとき、隔離室4
1.42の圧力はその初期段階で同じ値を呈する時間が
長くなる。一方、これらの隔離室41.42に発生した
流量と圧力は、高、低圧側導圧路51.52を介して高
、低圧側測定室71゜72に伝達される。この伝達は導
通路16.17の挙動と同様に各導圧路51.52の流
体抵抗Rs、流体の慣性抵抗Lsと測定室71.72の
体積Vxによって決まる。仮にRsh、 Lsh< R
s* TLstのとき(測定室71.72の体積V s
h 、 V s *は同じ)、高圧側導圧路51の方
が隔離室41の圧力を早く伝達することになる。
HまたはPLがステップ状に印加されたとする。このと
き、受圧ダイアフラム12は低圧側または高圧側に移動
し、導通路16に所定の流量Qを排出する。この所定の
流量Qは隔離室41に吸収され、同時に隔離室42にも
排出され、さらに導通路17に排出される。一方、隔離
室41゜42の圧力は、上記流量Qの排出量によって決
定される。これらの圧力は、一般には導通路16または
17の液体抵抗R1流体の慣性抵抗しによって決定され
、仮にRh 、Lh <RA 、Lmのとき、隔離室4
1.42の圧力はその初期段階で同じ値を呈する時間が
長くなる。一方、これらの隔離室41.42に発生した
流量と圧力は、高、低圧側導圧路51.52を介して高
、低圧側測定室71゜72に伝達される。この伝達は導
通路16.17の挙動と同様に各導圧路51.52の流
体抵抗Rs、流体の慣性抵抗Lsと測定室71.72の
体積Vxによって決まる。仮にRsh、 Lsh< R
s* TLstのとき(測定室71.72の体積V s
h 、 V s *は同じ)、高圧側導圧路51の方
が隔離室41の圧力を早く伝達することになる。
このように、各測定室71.72の圧力は、すべての構
成要素のパラメータに左右されるので、簡単には算出で
きないため、各要素間で入力−出力関係を求めた伝達関
係を求め、これらの個々の伝達関数を組み上げる方法に
より求める。かかる方法により第2図をブロック線図化
すると第3図のように表現できる。
成要素のパラメータに左右されるので、簡単には算出で
きないため、各要素間で入力−出力関係を求めた伝達関
係を求め、これらの個々の伝達関数を組み上げる方法に
より求める。かかる方法により第2図をブロック線図化
すると第3図のように表現できる。
第3図を作成するに当り、構成上または機能上感圧素子
6を有する測定ダイアフラムとセンターダイアフラム4
の質量、ばね定数1表面積の大小関係は、m(>ms、
ks>key Ac>Asとなるため、測定ダイアプラ
ムは剛性として扱った。このため、第2図のモデルは、
比較的簡単なブロック線図で表現でき、−次遅れ要素が
2つと二次遅れ要素が3つと積分要素が2つで表わされ
る。第3図中、Th 、T*は各導通路16.17の時
定数であり、Kh 、Ktのそのゲインであり、二二に
、ν;動粘性係数 で与えられ、 Kh’ I Km’は封入液22の圧縮
率(1/K)と隔離室41,42の体積V c h e
V c aとセンターダイアフラム4の表面積Acで
決まるゲインであり。
6を有する測定ダイアフラムとセンターダイアフラム4
の質量、ばね定数1表面積の大小関係は、m(>ms、
ks>key Ac>Asとなるため、測定ダイアプラ
ムは剛性として扱った。このため、第2図のモデルは、
比較的簡単なブロック線図で表現でき、−次遅れ要素が
2つと二次遅れ要素が3つと積分要素が2つで表わされ
る。第3図中、Th 、T*は各導通路16.17の時
定数であり、Kh 、Ktのそのゲインであり、二二に
、ν;動粘性係数 で与えられ、 Kh’ I Km’は封入液22の圧縮
率(1/K)と隔離室41,42の体積V c h e
V c aとセンターダイアフラム4の表面積Acで
決まるゲインであり。
で与えられ、ωngKcはセンターダイアフラム4の固
有振動数とゲインであり、 で与えられ、Ksh、ωnh$ Sh + Ksm+
ω、。
有振動数とゲインであり、 で与えられ、Ksh、ωnh$ Sh + Ksm+
ω、。
ξ、は各導圧管51,52と各測定室71.72の体積
V s h 、 V s 處で決定される管路伝達定数
であり。
V s h 、 V s 處で決定される管路伝達定数
であり。
Ksh=に−Ash/ρ・Qsh−■!、h ・・
・(5)Ks糞2 K ’ Ass/ ρ ”
Q st ・ Vst ・”(6)
ωnh= KAsh//)’12sh−Vih
・・・(7)ωna” KAia/ ρ・Q st
’ Vst ・”(8)ξ1=16シ/ ct
h2・ □ ・・・(9)ω nh ξ愈=16シ/d鷹2・ □ ・・・(
10)ω n農 で与えられる。
・(5)Ks糞2 K ’ Ass/ ρ ”
Q st ・ Vst ・”(6)
ωnh= KAsh//)’12sh−Vih
・・・(7)ωna” KAia/ ρ・Q st
’ Vst ・”(8)ξ1=16シ/ ct
h2・ □ ・・・(9)ω nh ξ愈=16シ/d鷹2・ □ ・・・(
10)ω n農 で与えられる。
かかるブロック線図において、被測定圧力PH。
またはPLあるいはPH、PLが同時に急激に印加また
は変化した場合の各測定室71.72間の圧力差ΔPが
第5図(b)のように高周波成分を含まない応答波形に
する条件を見い出いことにより問題を解決することがで
きる。解決策としては、第3図のブロック線図において
、各要素の物理パラメータを変化させて、その要素毎の
最適値を求めればよい。要素毎の最適値を大形計算機に
より各種パラメータを変化させ、その応答を検討するこ
とにより決定することは容易であるが、設計上の指針と
はなかなかなり難い。このため、第3図のブロック線図
をもとに、簡易的、かつ、高精度の問題解決のアプロー
チを検討した。
は変化した場合の各測定室71.72間の圧力差ΔPが
第5図(b)のように高周波成分を含まない応答波形に
する条件を見い出いことにより問題を解決することがで
きる。解決策としては、第3図のブロック線図において
、各要素の物理パラメータを変化させて、その要素毎の
最適値を求めればよい。要素毎の最適値を大形計算機に
より各種パラメータを変化させ、その応答を検討するこ
とにより決定することは容易であるが、設計上の指針と
はなかなかなり難い。このため、第3図のブロック線図
をもとに、簡易的、かつ、高精度の問題解決のアプロー
チを検討した。
第2図、第3図のモデル及びブロック線図において、非
定常の応答特性を決定するには、まず、第1のセンター
ダイアフラム4によって形成される各隔離室41.42
の圧力挙動を明確にすることである。この圧力挙動は、
高圧側及び低圧側隔離室41.42に至る各導通路16
.17の流体抵抗R1流体の慣性抵抗りと体積により決
定される。これは、高圧側または低圧側のいずれか一方
からあるいは同時に両側の受圧室14.15から流入す
る封入液22をいかに作用側の反対側に早く流出させる
かであり、この流れをよくすることは、センターダイア
フラム4の動きを早く正常動作に至らしめ、各隔離室4
1.42に過渡な圧力発生を起こさないことを意味する
。
定常の応答特性を決定するには、まず、第1のセンター
ダイアフラム4によって形成される各隔離室41.42
の圧力挙動を明確にすることである。この圧力挙動は、
高圧側及び低圧側隔離室41.42に至る各導通路16
.17の流体抵抗R1流体の慣性抵抗りと体積により決
定される。これは、高圧側または低圧側のいずれか一方
からあるいは同時に両側の受圧室14.15から流入す
る封入液22をいかに作用側の反対側に早く流出させる
かであり、この流れをよくすることは、センターダイア
フラム4の動きを早く正常動作に至らしめ、各隔離室4
1.42に過渡な圧力発生を起こさないことを意味する
。
従って、第1には各導通路16,17と各隔離室41.
42で構成される管路系において、その流体抵抗が極力
小さいことが望ましい。しかしながら、一般には、静的
な過負荷保護機能時に受圧ダイアフラム12,13の強
度がある所定の圧力値しかないため、各導通路16,1
7は、所定の流体抵抗を有する形状に設置する必要があ
り、上述の流体抵抗を極力小さくすることには限度があ
るが1次に述べる範囲にあるならば、実用上問題ない。
42で構成される管路系において、その流体抵抗が極力
小さいことが望ましい。しかしながら、一般には、静的
な過負荷保護機能時に受圧ダイアフラム12,13の強
度がある所定の圧力値しかないため、各導通路16,1
7は、所定の流体抵抗を有する形状に設置する必要があ
り、上述の流体抵抗を極力小さくすることには限度があ
るが1次に述べる範囲にあるならば、実用上問題ない。
すなわち、各隔離室41.42に過渡的な圧力が発生し
ても、その圧力を減衰させるだけの液体抵抗値を隔離室
41.42から測定室71゜72に至る導圧路51,5
2内に具備させることにより達成できる。前述の各パラ
メータの物理定数よりその条件は、 72の圧力をそれぞれP14″′、PL″′とすると、
第3図のブロック線図より、 ここに、i=に、 I2 ・・(12) となる。各条件を満足する各導通路16.17を構成す
れば、前述のように各隔離室41.42内の過渡圧力を
測定室71.72に伝達するのを減衰させることができ
る。さらに、各隔離室41゜42内に過渡的圧力が発生
しても、その圧力差を各測定室71.72内に差圧とし
て伝達しないようにすれば、その効果はさらに大きくな
る。以下、その手法について説明する。
ても、その圧力を減衰させるだけの液体抵抗値を隔離室
41.42から測定室71゜72に至る導圧路51,5
2内に具備させることにより達成できる。前述の各パラ
メータの物理定数よりその条件は、 72の圧力をそれぞれP14″′、PL″′とすると、
第3図のブロック線図より、 ここに、i=に、 I2 ・・(12) となる。各条件を満足する各導通路16.17を構成す
れば、前述のように各隔離室41.42内の過渡圧力を
測定室71.72に伝達するのを減衰させることができ
る。さらに、各隔離室41゜42内に過渡的圧力が発生
しても、その圧力差を各測定室71.72内に差圧とし
て伝達しないようにすれば、その効果はさらに大きくな
る。以下、その手法について説明する。
高圧側、低圧側隔離室41.42に過渡的圧力PH’
t PL’ が発生したとする。これらの圧力pH1,
pムlは高圧側導圧路51.低圧側導圧路52を介して
高圧側測定室71.低圧側測定室72に伝達される。こ
のとき、各測定室71゜となる。上述の関係式において
、各隔離室41゜42の圧力をp H/ == p シ
′(本条件は最悪値となる)とすると(本条件は過渡圧
力の最大値となる)、測定室71.72間にはPM’
PL“差圧が発生することになる。この差圧が感圧素
子6を有する測定ダイアフラムの耐圧値以上になると、
測定ダイアプラムが破損する。従って、破損を防止する
には、上述の関係式において、その固有振動数とゲイン
を全く同一に形成すれば、見掛上の差圧は発生しないこ
とがわかる。すなわち、上述の関係式より各導圧路51
,52の形状と各測定室71゜72の体積より決定され
る管路定数(上述の伝達関係)を同一化する。具体的に
は各管路系の固有振動数とゲインを同一化すればよい。
t PL’ が発生したとする。これらの圧力pH1,
pムlは高圧側導圧路51.低圧側導圧路52を介して
高圧側測定室71.低圧側測定室72に伝達される。こ
のとき、各測定室71゜となる。上述の関係式において
、各隔離室41゜42の圧力をp H/ == p シ
′(本条件は最悪値となる)とすると(本条件は過渡圧
力の最大値となる)、測定室71.72間にはPM’
PL“差圧が発生することになる。この差圧が感圧素
子6を有する測定ダイアフラムの耐圧値以上になると、
測定ダイアプラムが破損する。従って、破損を防止する
には、上述の関係式において、その固有振動数とゲイン
を全く同一に形成すれば、見掛上の差圧は発生しないこ
とがわかる。すなわち、上述の関係式より各導圧路51
,52の形状と各測定室71゜72の体積より決定され
る管路定数(上述の伝達関係)を同一化する。具体的に
は各管路系の固有振動数とゲインを同一化すればよい。
この条件式%式%(15)
であり、このとき、(5)〜(To)式の関係より、と
なる。
なる。
各条件式を満足するように各管路系の形状と体積を決定
することにより、各隔離室41.42に発生した圧力は
感圧素子6を有する測定ダイアフラム上では全く同一の
ため、過大差圧を発生することがないので、破損するこ
とは全くない。
することにより、各隔離室41.42に発生した圧力は
感圧素子6を有する測定ダイアフラム上では全く同一の
ため、過大差圧を発生することがないので、破損するこ
とは全くない。
かかる手法により構成した差圧伝送器の具体例を第1図
により説明する。第1図において、感圧素子6を有する
測定ダイアフラムはその構成上。
により説明する。第1図において、感圧素子6を有する
測定ダイアフラムはその構成上。
高圧側、低圧側測定室71.72の体積が異なり、各導
圧路51,52の形状(径、長さ)が異なる。
圧路51,52の形状(径、長さ)が異なる。
このとき、各導通路16.1?、各導圧路51゜52に
は管路抵抗、定数が前述の原理にもとづいて設定される
。いま、高圧側導圧路51と高圧側測定室71と低圧側
導圧路52の長さと低圧側測定室72の体積が決ってお
り、このとき、低圧側導圧路52の径と各導通路16.
17の最小径を決定する。
は管路抵抗、定数が前述の原理にもとづいて設定される
。いま、高圧側導圧路51と高圧側測定室71と低圧側
導圧路52の長さと低圧側測定室72の体積が決ってお
り、このとき、低圧側導圧路52の径と各導通路16.
17の最小径を決定する。
高圧側導圧路51の内径dsh=3++v+、長さQs
h=501.低圧側導圧路52の内径dSS、長さQ
s鷺=20mm、高圧側測定室71の体fl!V s
h =lcc、低圧側測定室72の体積Vst=0.1
cc、高・低圧側導通路16.17の半径dh、da(
ただし、Vch=Vc*)のとき、低圧側導圧路52の
内径は、 =1.5(mm) となり、高・低圧側導通路16.17の最小内径は、 一’−d b≧0.8 (mm) d配≧0.6(am) ただし、封入液22の物理常数をに=5000kgf/
cm2. ν= 0 、3cm2/s、 μ=2 、9
X 10””kgf−s /cm”とした。
h=501.低圧側導圧路52の内径dSS、長さQ
s鷺=20mm、高圧側測定室71の体fl!V s
h =lcc、低圧側測定室72の体積Vst=0.1
cc、高・低圧側導通路16.17の半径dh、da(
ただし、Vch=Vc*)のとき、低圧側導圧路52の
内径は、 =1.5(mm) となり、高・低圧側導通路16.17の最小内径は、 一’−d b≧0.8 (mm) d配≧0.6(am) ただし、封入液22の物理常数をに=5000kgf/
cm2. ν= 0 、3cm2/s、 μ=2 、9
X 10””kgf−s /cm”とした。
となる。
これらの形状を満足するものは、高圧側、低圧側測定室
71.72に至る管路系の圧力伝達特性が同一に設定さ
れているため、第6図(b)のような非定常の応答とは
ならない。すなわち、例えば、高圧側に急激な圧力変化
(f!’r’lk波)が発生すると、その圧力は受圧室
14.導通路16.隔離室41.導圧路51.測定室7
1の封入液22を介して感圧素子6を有する測定ダイア
フラムの高圧側に加えられる。一方、隔離室41の圧力
は、同時に低圧側の隔離室42に発生し、その圧力が導
圧路52.測定室72の封入液22を介して感圧素子6
を有する測定ダイアフラムの低圧側に加えられる。この
とき、前述のように、各導圧路51.52、各隔離室4
1,42、各導通路16゜17、各測定室71.72の
形状1体積が異なると、それらの管路抵抗または管路常
数が異なり、感圧素子6を有する測定ダイアフラムの高
圧側。
71.72に至る管路系の圧力伝達特性が同一に設定さ
れているため、第6図(b)のような非定常の応答とは
ならない。すなわち、例えば、高圧側に急激な圧力変化
(f!’r’lk波)が発生すると、その圧力は受圧室
14.導通路16.隔離室41.導圧路51.測定室7
1の封入液22を介して感圧素子6を有する測定ダイア
フラムの高圧側に加えられる。一方、隔離室41の圧力
は、同時に低圧側の隔離室42に発生し、その圧力が導
圧路52.測定室72の封入液22を介して感圧素子6
を有する測定ダイアフラムの低圧側に加えられる。この
とき、前述のように、各導圧路51.52、各隔離室4
1,42、各導通路16゜17、各測定室71.72の
形状1体積が異なると、それらの管路抵抗または管路常
数が異なり、感圧素子6を有する測定ダイアフラムの高
圧側。
低圧側に振幅9位相の異なる圧力が発生し、その圧力差
が測定ダイアフラムの耐圧値以上になると、測定ダイア
フラムは破損する。ところが、本発明の実施例では、各
導圧路51 p 52に各測定室71.72の体積に応
じて管路常数が同一の形状を与えている。さらに、各隔
離室41.42に発生する圧力を極力減衰できる各導通
路16,17の形状をも与えている。従って、感圧素子
6を有する測定ダイアフラムまでの高圧側、低圧側の圧
力伝達速度及び振幅を同一に設定でき、かつ、過渡圧力
を極力減衰できるため、測定ダイアフラムの高圧側と低
圧側に過渡圧力を同時に加えることができるとともに、
その絶対値を小さく押えることができ、測定ダイアフラ
ムには過大な圧力差がかかることは発生しなく、破損を
防止できる。
が測定ダイアフラムの耐圧値以上になると、測定ダイア
フラムは破損する。ところが、本発明の実施例では、各
導圧路51 p 52に各測定室71.72の体積に応
じて管路常数が同一の形状を与えている。さらに、各隔
離室41.42に発生する圧力を極力減衰できる各導通
路16,17の形状をも与えている。従って、感圧素子
6を有する測定ダイアフラムまでの高圧側、低圧側の圧
力伝達速度及び振幅を同一に設定でき、かつ、過渡圧力
を極力減衰できるため、測定ダイアフラムの高圧側と低
圧側に過渡圧力を同時に加えることができるとともに、
その絶対値を小さく押えることができ、測定ダイアフラ
ムには過大な圧力差がかかることは発生しなく、破損を
防止できる。
一方、前述の急激な圧力(衝撃波圧力)が低圧側あるい
は高圧側または高圧側、低圧側同時に加えられても、測
定ダイアフラムの高圧側、低圧側に同時に、かつ、減衰
させて加えられるため、il+!1定ダイアラダイアフ
ラムることはない。
は高圧側または高圧側、低圧側同時に加えられても、測
定ダイアフラムの高圧側、低圧側に同時に、かつ、減衰
させて加えられるため、il+!1定ダイアラダイアフ
ラムることはない。
なお、本実施例では、低圧側導圧路52の形状を−様な
短管形状として例示しであるが、高圧側導圧路51と同
形状(同径)のものでも、低圧側導圧路51に原理式に
基づく所定の絞りを具備させてもその効果は変らない。
短管形状として例示しであるが、高圧側導圧路51と同
形状(同径)のものでも、低圧側導圧路51に原理式に
基づく所定の絞りを具備させてもその効果は変らない。
また、本実施例では。
高圧側の管路抵抗、定数より低圧側の導圧路52または
導通路17を決定しているが、逆に低圧側の管路抵抗、
定数より原理式に基づいて高圧側の管路抵抗、定数を決
定してもその効果は全く変らない。
導通路17を決定しているが、逆に低圧側の管路抵抗、
定数より原理式に基づいて高圧側の管路抵抗、定数を決
定してもその効果は全く変らない。
以上説明したように、本発明によれば、急激な圧力上昇
あるいは変化が生じても、感圧素子を有する測定ダイア
フラムの両面にそのWI撃圧を位相差なしで同時に伝達
でき、かつ、その圧力を減衰させて伝達できるので、測
定ダイアフラムを破損させることがなく、このため、差
圧伝送器の耐久性の向上、保守性の向上に多大の効果が
あり、さらに、高圧側、低圧側に同期的な圧力変動があ
る差圧測定時にもその脈動差圧を位相なしで同時に伝達
できるので、差圧測定に誤差が発生することがなく、差
圧伝送器の測定精度を向上できるという効果がある。
あるいは変化が生じても、感圧素子を有する測定ダイア
フラムの両面にそのWI撃圧を位相差なしで同時に伝達
でき、かつ、その圧力を減衰させて伝達できるので、測
定ダイアフラムを破損させることがなく、このため、差
圧伝送器の耐久性の向上、保守性の向上に多大の効果が
あり、さらに、高圧側、低圧側に同期的な圧力変動があ
る差圧測定時にもその脈動差圧を位相なしで同時に伝達
できるので、差圧測定に誤差が発生することがなく、差
圧伝送器の測定精度を向上できるという効果がある。
第1図は本発明の差圧伝送器の一実施例を示す縦断面図
、第2図は差圧伝送器の応答特性を求めるためのモデル
図、第3図はそのブロック線図、第4図は従来の差圧伝
送器の構造を模式的に示した縦断面図、第5図は過負荷
保護機能の説明線図、第6図は差圧伝送器の応答例を示
す線図である。 1・・・本体部材、4・・・センターダイアフラム、6
・・・感圧素子、12.13・・・受圧ダイアツクA、
、14゜15・・・受圧室、16.17・・・導通路、
22・・・封入液、41.42・・・隔離室、51.5
2・・・導圧路。 71.72・・・測定室。 地 四 14゛−シTi1l疋I 第2図 馬 区 (αン (b〕
、第2図は差圧伝送器の応答特性を求めるためのモデル
図、第3図はそのブロック線図、第4図は従来の差圧伝
送器の構造を模式的に示した縦断面図、第5図は過負荷
保護機能の説明線図、第6図は差圧伝送器の応答例を示
す線図である。 1・・・本体部材、4・・・センターダイアフラム、6
・・・感圧素子、12.13・・・受圧ダイアツクA、
、14゜15・・・受圧室、16.17・・・導通路、
22・・・封入液、41.42・・・隔離室、51.5
2・・・導圧路。 71.72・・・測定室。 地 四 14゛−シTi1l疋I 第2図 馬 区 (αン (b〕
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、本体の両側にそれぞれ周囲を固定された受圧ダイア
フラムと、該各受圧ダイアフラム間を2つの隔離室に分
割するように配設されたセンターダイアフラムと、該セ
ンターダイアフラムにより形成される前記2つの隔離室
と前記各受圧ダイアフラムにより形成される受圧室とを
連通する2つの導通路と、前記2つの隔離室の圧力差を
電気信号に変換する微小変位形の測定ダイアフラムに固
定された差圧検出素子とを有し、前記測定ダイアフラム
によつて仕切られた2つの測定室と前記2つの隔離室と
をそれぞれ連通する2つの導圧路と、前記それぞれの受
圧室、隔離室、導通路、導圧路、測定室内に充填された
封入液とを具備する差圧伝送器において、前記1つの導
通路と隔離室と導圧路と測定室とより構成された第1管
路系と、前記他の1つの導通路と隔離室と導圧路と測定
室とより構成された第2管路系にそれぞれの管路系の形
状と体積より決定される管路定数と固有振動数を設定し
、前記第1管路系の隔離室と測定室の管路定数と前記第
2管路系の隔離室と測定室の管路定数とをそれぞれその
形状と体積により変化させることにより前記第1管路系
の管路定数と前記第2管路系の管路定数を同一化して圧
力伝達特性をそろえ、前記第1、第2管路系の各導通路
と各隔離室の管路抵抗を前記各隔離室と各測定室より形
成される管路定数より少なくとも同等以上に構成したこ
とを特徴とする差圧伝送器。 2、前記各隔離室と各測定室の管路定数と前記各導通路
と各隔離室の管路抵抗をそれぞれの形状、体積に応じて
、 ([第1の測定室の体積]/[第2の測定室の体積])
=([第1の導圧路径]/[第2の導圧路径])^2×
([第2の導圧路長さ]/[第1の導圧路長さ])各導
通路径 ≧15×^4√{([封入液の粘度]/[封入液の体積
弾性率])×封入液粘度}×√{[各導圧路長さ×各測
定室体積]/[(各導圧路径)^2]}で決定づける特
許請求の範囲第1項記載の差圧伝送器。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63218361A JPH0652213B2 (ja) | 1988-09-02 | 1988-09-02 | 差圧伝送路 |
DE3928426A DE3928426A1 (de) | 1988-09-02 | 1989-08-28 | Differenzdruckmesswertgeber |
US07/399,916 US4995266A (en) | 1988-09-02 | 1989-08-29 | Differential pressure transmitter |
CN89106651A CN1015132B (zh) | 1988-09-02 | 1989-08-31 | 差压传感器 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63218361A JPH0652213B2 (ja) | 1988-09-02 | 1988-09-02 | 差圧伝送路 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0267940A true JPH0267940A (ja) | 1990-03-07 |
JPH0652213B2 JPH0652213B2 (ja) | 1994-07-06 |
Family
ID=16718682
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63218361A Expired - Lifetime JPH0652213B2 (ja) | 1988-09-02 | 1988-09-02 | 差圧伝送路 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4995266A (ja) |
JP (1) | JPH0652213B2 (ja) |
CN (1) | CN1015132B (ja) |
DE (1) | DE3928426A1 (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0469536A (ja) * | 1990-07-10 | 1992-03-04 | Yokogawa Electric Corp | 差圧測定装置 |
US5428251A (en) * | 1991-04-05 | 1995-06-27 | Yamaha Corporation | Multi-layer wiring structure having continuous grain boundaries |
JP2003254847A (ja) * | 2002-03-05 | 2003-09-10 | Nagano Keiki Co Ltd | 差圧検出器、その差圧検出器を備えた流量計および液面計 |
Families Citing this family (20)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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