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JPH0266449A - 超音波顕微鏡 - Google Patents

超音波顕微鏡

Info

Publication number
JPH0266449A
JPH0266449A JP63216340A JP21634088A JPH0266449A JP H0266449 A JPH0266449 A JP H0266449A JP 63216340 A JP63216340 A JP 63216340A JP 21634088 A JP21634088 A JP 21634088A JP H0266449 A JPH0266449 A JP H0266449A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
sample
axis
acoustic lens
shaft
inclination
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP63216340A
Other languages
English (en)
Inventor
Yasuo Sasaki
靖夫 佐々木
Mitsugi Sakai
酒井 貢
Yasuhiro Omura
大村 泰宏
Koichi Karaki
幸一 唐木
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Olympus Corp
Original Assignee
Olympus Optical Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Olympus Optical Co Ltd filed Critical Olympus Optical Co Ltd
Priority to JP63216340A priority Critical patent/JPH0266449A/ja
Priority to DE3929105A priority patent/DE3929105A1/de
Publication of JPH0266449A publication Critical patent/JPH0266449A/ja
Priority to US07/626,372 priority patent/US5121634A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01HMEASUREMENT OF MECHANICAL VIBRATIONS OR ULTRASONIC, SONIC OR INFRASONIC WAVES
    • G01H3/00Measuring characteristics of vibrations by using a detector in a fluid
    • G01H3/10Amplitude; Power
    • G01H3/12Amplitude; Power by electric means
    • G01H3/125Amplitude; Power by electric means for representing acoustic field distribution
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N29/00Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
    • G01N29/04Analysing solids
    • G01N29/06Visualisation of the interior, e.g. acoustic microscopy
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N29/00Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
    • G01N29/22Details, e.g. general constructional or apparatus details
    • G01N29/26Arrangements for orientation or scanning by relative movement of the head and the sensor
    • G01N29/265Arrangements for orientation or scanning by relative movement of the head and the sensor by moving the sensor relative to a stationary material

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Acoustics & Sound (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Radar, Positioning & Navigation (AREA)
  • Remote Sensing (AREA)
  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は超音波顕微鏡に関する。
〔従来の技術〕
超音波顕微鏡において、良好な超音波像を得るためには
、試料の走査面と超音波を投射する音響レンズの焦点面
とをほぼ平行にする必要がある。
これら試料の走査面と音響レンズの焦点面とをほぼ平行
に調整し得るものとして、例えば特開昭62−2490
52号公報には、音響レンズを加振器によって一方向に
振動させると共に、試料をX方向およびY方向の傾き調
整機構を有するゴニオメータ上に載置し、加振器または
ゴニオメータをXY平面内で回動させることにより試料
に対する音響レンズの振動方向を切り換えるようにして
、各方向において試料から超音波の反射強度分布がほぼ
フラットとなるようにゴニオメータの対応する傾き調整
機構を操作して、試料走査面が音響しンズの焦点面とほ
ぼ平行になるように調整し得るようにした超音波顕微鏡
が開示されている。
〔発明が解決しようとする課題〕
しかしながら、上記の特開昭62−249052号公報
に開示された超音波顕微鏡にあっては、X方向およびY
方向の傾き調整機構を有するゴニオメータを用いると共
に、このゴニオメータと音響レンズを振動させる加振器
とをxY平面内で相対的に回動させるようにして試料走
査面の傾きを機械的に調整するようにしているため、装
置の構成が複雑になると共に、調整操作も面倒になると
いう問題がある。また、ゴニオメータやこれと加振器と
をXY平面内で相対的に回動させる機構を要するため、
音響レンズと試料との間に介在させる超音波の伝達媒体
として液体チッソ、液体アルゴン、液体ヘリウム等の低
温液体を用いる場合には、音響レンズやゴニオメータを
断熱容器内に配置する必要があるため調整操作がより面
倒となり、適用が困難になるという問題がある。
この発明は、このような従来の問題点に着目してなされ
たもので、簡単な構成で音響レンズの焦点面に対する試
料走査面の傾きを容易に調整できると共に、低温液体を
用いる場合にも容易に適用できるよう適切に構成した超
音波顕微鏡を提供することを目的とする。
〔課題を解決するための手段および作用〕上記目的を達
成するため、この発明では音響レンズと、この音響レン
ズに対向して試料を支持する試料支持手段と、これら音
響レンズおよび試料支持手段をそれら間の距離が変化す
るZ軸方向に相対的に駆動するZ軸駆動手段と、このZ
軸駆動手段による駆動方向と直交する平面内で前記音響
レンズおよび試料支持手段を互いに直交するX軸および
Y軸方向に相対的に駆動して前記試料を走査するX軸お
よびY軸駆動手段とを具え、前記X軸およびY軸駆動手
段にそれぞれ供給するX軸およびY軸駆動信号に同期し
て、前記試料の走査面における前記X軸およびY軸方向
の傾きに対応するX軸およびY軸傾き補正信号を前記Z
軸駆動手段に供給して前記音響レンズおよび試料支持手
段をZ軸方向に相対的に駆動することにより、前記試料
の走査面における傾きを補正しながら前記試料を走査す
るよう構成する。
〔実施例〕
第1図はこの発明の一実施例を示すものである。
この実施例では、音響レンズ1をX−Yスキャナ2によ
ってその焦点面と平行な面内で互いに直交するX軸方向
およびY軸方向に移動させ、試料3をX軸およびY軸方
向と直交するZ軸方向に延在するシャフト4の下端に装
着して、このシャフト4をZ軸方向に移動させるように
する。X−Yスキャナ2は非磁性体より成るフレーム5
の下端部に支持し、シャフト4はZ軸方向に離間した2
枚の平行な板ばね6および7を介してZ軸方向に変位可
能にフレーム5に支持する。
シャフト4には、その上端にZ軸方向に延在してコイル
8を装着すると共に、中間部に該シャフト4を囲むよう
にコイル9を装着する。また、フレーム5にはコイル8
の周囲を覆うように有底の円筒状のヨークIOを設ける
と共に、コイル9の周囲を覆うようにシャフト4を貫通
させて有底の円筒状のヨーク11を設ける。ヨーク10
には、コイル8を磁束が横切るように、磁石12を介し
て内ヨーク13をコイル8に侵入して設ける。同様に、
ヨーク11にはコイル9を磁束が横切るように、シャフ
ト4を貫通させて磁石14を介して内ヨーク15をコイ
ル9に侵入して設ける。
このようにして、コイル8に電力増幅器16を介してフ
ォーカス駆動信号を供給することにより、シャフト4し
たがって試料3をフォーカス駆動信号に応じてZ軸方向
に変位させると共に、その変位の際にコイル9に生じる
出力を増幅器17を介して電力増幅器16にフィードバ
ックして、試料3をその変位された位置に維持するよう
にする。
第2図は第1図に示すX−Yスキャナ2の一例の構成を
示すものである。音響レンズ1は非磁性体より成る可動
部材20に支持し、この可動部材20を中空のフレキシ
ブルピラー21を介してXおよびY方向に変位可能に支
持台22を介してフレーム5に支持する。可動部材20
には、XおよびY方向において音響レンズ1に関し対象
な位置に、それぞれAl1等の非磁性体より成るボビン
23に被覆銅線を巻装して一対のコイル24(第2図で
はX方向のものを示す)を設ける。また、支持台22に
は各コイル24に対応して口字状または口字状のヨーク
25を設け、このヨーク25にコイル24を介して対向
してそれぞれ2個の永久磁石26a、 26b;27a
、 27bを、コイル2・1の駆動方向両側部分におい
て互いに逆方向の磁束が通過するように固着する。
このようにして、この実施例ではコイル24に所要の電
流を流すことにより、その電流と、永久磁石26a、 
26b、 27a、 27bによる磁束との電磁作用に
よって、可動部材20を介して音響レンズ1をXおよび
Y方向に2次元的に駆動して、音響レンズ1がら投射さ
れる超音波ビームにより試料3を2次元走査するように
する。なお、音響レンズ1に接続される同軸ケーブル2
8はフレキシブルピラー21内を通して信号処理回路に
接続する。
第3図はこの実施例の駆動回路の一例の構成を示すもの
である。正磁波発生器30の出力は、スイッチ31を介
しでXスキャン幅選択用減衰器32に供給すると共に、
X軸傾き調整用減衰器33に供給し、Xスキャン幅選択
用減衰器32の出力を電力増幅器34を経てX軸駆動用
のコイル24に、X軸傾き調整用減衰器33の出力を位
相調整器35を介して加算器36にそれぞれ供給する。
また、鋸歯状波発生器37の出力は、スイッチ38を介
してXスキャン幅選択用減衰器39に供給すると共に、
Y軸傾き調整用減衰器40に供給し、Xスキャン幅選択
用減衰器39の出力を電力増幅器41を経てY@駆動用
のコイル24に、Y軸傾き調整用減衰器40の出力を加
算器36にそれぞれ供給する。加算器36には、更に可
変電圧源42から試料走査面の任意の位置を音響レンズ
の焦点面に位置させるフォーカスオフセット信号を供給
し、この加算器36の出力をフォーカス駆動信号として
電力増幅器16を経てコイル8に供給してシャフト4を
Z軸方向に変位させるようにする。
以下、この実施例の動作を説明する。
第4図は音響レンズ1の焦点面に対して試料3の走査面
が傾いている場合の音響レンズ1と試料3との位置関係
を示すものである。ここで、音響レンズ1のX軸方向の
走査範囲をx=×1〜x=×2とし、その間のX−X。
の位置において音響レンズlの焦点が試料表面に位置す
るものとする。また、このX=×oの位置における試料
表面の高さをZ軸方向の原点Z=zoとしくしたがって
、音響レンズ1の焦点面はz−Zoで表されるX−Y平
面と平行な面となる)、X= X、、X2における試料
表面の高さをそれぞれZ=z、、Z2 とする。
一方、試料の任意の点において、試料3と音響レンズ1
との距離を変化させると、第5図に示すような試料の材
質に依存するいわゆるv(2,曲線が得られる。ここで
、横軸はZ軸方向における試料3および音響レンズ1の
相対位置を示し、Z=Zoは音響レンズ1の焦点が試料
表面に位置する位置を、正方向は試料および音響レンズ
が相対的に遠ざかる方向の位置を、負方向は近づく方向
の位置をそれぞれ示す。また、縦軸は試料で反射された
超音波の出力電圧の例えば実効値Vを示し、Z=Zoに
おいて最大となる。したがって、第4図における音響レ
ンズ1の位置X ” X 1. Xo、 X2に対応す
る出力は、第5図においてV (z +) r V (
zO) + V (22)のようになる。
ここで、第4図に示すように傾いた試料3について、音
響レンズlをX軸方向に走査してその出力電圧を表示器
に表示すると第6図に示すようになる。すなわち×1≦
X≦Xoの範囲では、音響レンズ1の焦点面と試料表面
との間の距離ZはZ =z。
からZ=Zoへと増加するため、第5図から明らかなよ
うに、その出力電圧は破線で示すようにυ(2I、から
V(zO)へと単調に増加することになる。
なお、実際には試料表面の凹凸等の影響で、出力電圧は
破線をベースラインにしてゆらぐ実線で示すような曲線
となる。同様に、xo ≦X≦×2の範囲ではベースラ
インは単調減少の曲線となる。
このように、音響レンズ1の焦点面に対して試料表面が
傾いている場合において、音響レンズ1をX−Y走査面
内で一方向に走査すると、その出力電圧のベースライン
は試料表面の傾きに応じて傾くことになる。
そこで、この例では第3図において、先ずスイッチ31
をオン、スイッチ38をオフとして音響レンズlをX軸
方向に、シャフト4したがって試料3をX軸方向にそれ
ぞれ振動させながら超音波の送受波を行い、この状態で
音響レンズ1のX軸方向のスキャン幅が所望の幅となる
ように、Xスキャン幅選択用減衰器32においてX軸駆
動用コイル24に供給する第7図Aに示す正弦波発生器
30の出力の振幅を調整すると共に、試料反射波の出力
電圧をモニタしながらそのベースラインが一定となるよ
うに、X軸傾き調整用減衰器33および位相調整器35
においてZ軸駆動用のコイル8に供給する正弦波発生器
30の出力の振幅および位相をそれぞれ調整する。
次に、スイッチ31をオフ、スイッチ38をオンとして
音響レンズ1をY軸方向に、試料3をX軸方向にそれぞ
れ振動させながら超音波の送受波を行い、この状態で音
響レンズ1のY軸方向のスキャン幅が所望の幅となるよ
、うに、Yスキャン幅選択用減衰器39においてY軸駆
動用のコイル24に供給する第71已に示す鋸歯状波発
生器37の出力の振幅を調整すると共に、試料反射波の
出力電圧をモニタしながらそのベースラインが一定とな
るように、X軸傾き調整用減衰器40においてZ軸駆動
用のコイル8に供給する鋸歯状発生器37の出力の振幅
を調整する。
以上のようにして、X及びY軸方向における試料3の傾
き補正信号を得るように調整した後は、スイッチ31お
よび38を共にオンとして試料3の超音波像を得る。
このようにすれば、Z軸駆動用コイル8には、第7図C
に示すようにフォーカスオフセット信号、X軸およびX
軸傾き補正信号が重畳されたフォーカス駆動信号が供給
されるので、試料3はその走査面における傾きを補正す
るようにX軸方向に変位しながらX軸およびY軸方向に
2次元走査されることになる。したがって、画質の良好
な超音波像を得ることができる。
なお、この発明は上述した実施例にのみ限定されるもの
ではなく、幾多の変形または変更が可能である。例えば
、X軸およびX軸傾き調整用減衰器33および40によ
るX軸およびY軸方向の傾き調整あるいはX軸傾き調整
用減衰器40によるY軸方向の傾き調整は、音響レンズ
1により試料をX軸およびY軸方向に走査して超音波像
を観察しながら行うこともできるし、これらの調整を試
料反射波の出力電圧に基づいて自動的に行うよう構成す
ることもできる。また、音響レンズ1を固定して試料3
をX、 YおよびX軸方向に変位させたり、試料3を固
定して音響レンズ1をX、 YおよびX軸方向に変位さ
せたり、あるいは試料3をXおよびY軸方向に、音響レ
ンズ1をX軸方向に変位させるよう構成することもでき
る。更に、音響レンズ1と試料3との間に介在させる超
音波伝達媒体として低温液体を用いる場合にも、第1図
に示す部分全体を低温液体中に浸漬することができるの
で容易に適用することができる。
〔発明の効果〕
以上述べたように、この発明によれば音響レンズと試料
を支持する試料支持手段とをX軸方向に相対的に駆動す
るZ軸駆動手段を設け、このZ軸駆動手段にX軸および
Y軸駆動信号に同期して、X軸およびY軸方向の傾きに
対応するX軸およびX軸傾き補正信号を供給して、音響
レンズおよび試料支持手段をX軸方向に相対的に駆動す
ることにより、試料の走査面における傾きを補正しなが
ら試料を走査するようにしたので、ゴニメータ等を用い
て傾きを機械的に調整する場合に比べ、調整を容易にで
きると共に構成も簡単にでき、しかも低温液体を用いる
場合にも容易に適用できる。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の一実施例を示す図、第2図は第1図
に示すX−Yスキャナの一例の構成を示す図、 第3図は駆動回路の一例の構成を示す図、第4図、第5
図、第6図および第7図A−Cは第1図に示す実施例の
動作を説明するための図である。 1・・・音響レンズ    2・・・X−Yスキャナ3
・・・試料       4・・・シャフト5・・フレ
ーム     6,7・・・仮ばね8.9・・・コイル
    1011−・・ヨーク12、14・・・磁石 
    13.15・・・内ヨーク16・・・電力増幅
器    17・・・増幅器20・・・可動部材   
  21・・・フレキシブルピラー22・・・支持台 
     23・・・ボビン24・・・コイル    
  25・・・ヨーク26a、 26b、 27a、 
27b −・・永久磁石28・・同軸ケーブル   3
0・・・正弦波発生器31.38・・・スイッチ 32・・Xスキャン幅選択用減衰器 33・・・X軸傾き調整用減衰器 34・・・電力増幅器    35・・・位相調整器3
6・・・加算器      37・・・鋸歯状波発生器
39・・・Yスキャン幅選択用減衰器 40・・・Y軸傾き調整用減衰器 41・・・電力増幅器    42・・・可変電圧源第
1図 第3図 第4図 第5図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、音響レンズと、この音響レンズに対向して試料を支
    持する試料支持手段と、これら音響レンズおよび試料支
    持手段をそれら間の距離が変化するZ軸方向に相対的に
    駆動するZ軸駆動手段と、このZ軸駆動手段による駆動
    方向と直交する平面内で前記音響レンズおよび試料支持
    手段を互いに直交するX軸およびY軸方向に相対的に駆
    動して前記試料を走査するX軸およびY軸駆動手段とを
    具え、 前記X軸およびY軸駆動手段にそれぞれ供給するX軸お
    よびY軸駆動信号に同期して、前記試料の走査面におけ
    る前記X軸およびY軸方向の傾きに対応するX軸および
    Y軸傾き補正信号を前記Z軸駆動手段に供給して前記音
    響レンズおよび試料支持手段をZ軸方向に相対的に駆動
    することにより、前記試料の走査面における傾きを補正
    しながら前記試料を走査するよう構成したことを特徴と
    する超音波顕微鏡。
JP63216340A 1988-09-01 1988-09-01 超音波顕微鏡 Pending JPH0266449A (ja)

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JP63216340A JPH0266449A (ja) 1988-09-01 1988-09-01 超音波顕微鏡
DE3929105A DE3929105A1 (de) 1988-09-01 1989-09-01 Ultraschallmikroskop
US07/626,372 US5121634A (en) 1988-09-01 1990-12-05 Ultrasonic microscope

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JP63216340A JPH0266449A (ja) 1988-09-01 1988-09-01 超音波顕微鏡

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