JPH02306706A - 弾性表面波発振器 - Google Patents
弾性表面波発振器Info
- Publication number
- JPH02306706A JPH02306706A JP12851589A JP12851589A JPH02306706A JP H02306706 A JPH02306706 A JP H02306706A JP 12851589 A JP12851589 A JP 12851589A JP 12851589 A JP12851589 A JP 12851589A JP H02306706 A JPH02306706 A JP H02306706A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- impedance
- acoustic wave
- surface acoustic
- loop
- test terminals
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Oscillators With Electromechanical Resonators (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、弾性表面波デバイスを用いた弾性表面波発
振器に関する。
振器に関する。
〔従来の技術］
この種の弾性表面波発振器の典型的な従来例を第４図に
示す。
示す。
即ちこの発振器においては、増幅器２と弾性表面波デバ
イス３と移相器４とをループ状に接続して発振ループを
構成している。出力の取り出しには、コンデンサ５や方
向性結合器等が使われる。
イス３と移相器４とをループ状に接続して発振ループを
構成している。出力の取り出しには、コンデンサ５や方
向性結合器等が使われる。
弾性表面波デバイス３としては、例えば２ボート型の弾
性表面波共振器や弾性表面波遅延線が用いられる。
性表面波共振器や弾性表面波遅延線が用いられる。
移相器４は、発振ループの位相を調整して発振条件を成
立させるためのものであるが、例えば可変容量ダイオー
ドを含む電圧制御型にして、これをこの例のように、制
御電圧Ｖｔによって当該発振器の発振周波数を変化させ
る、即ち当該発振器を電圧制御発振器（ＶＣＯ）とする
場合もある。
立させるためのものであるが、例えば可変容量ダイオー
ドを含む電圧制御型にして、これをこの例のように、制
御電圧Ｖｔによって当該発振器の発振周波数を変化させ
る、即ち当該発振器を電圧制御発振器（ＶＣＯ）とする
場合もある。
上記のような従来の弾性表面波発振器においてては、そ
の開ループ特性を調べたい場合は、図中のＡ−Ｃ点の何
れかをカットして、その両端にネットワークアナライザ
等の測定器を接続しなければならない。
の開ループ特性を調べたい場合は、図中のＡ−Ｃ点の何
れかをカットして、その両端にネットワークアナライザ
等の測定器を接続しなければならない。
しかしながら、カットする場所のインピーダンスは一般
的に測定器のインピーダンス（通常は５０Ωまたは７５
Ω）に適合しておらず、そのためミスマツチングの状態
で開ループ特性を評価することになる。
的に測定器のインピーダンス（通常は５０Ωまたは７５
Ω）に適合しておらず、そのためミスマツチングの状態
で開ループ特性を評価することになる。
このミスマツチングの状態では、本来の開ループ特性と
はかけ離れた特性（例えばゲインや位相）を表す可能性
が高く、従って特性を正確に測定することができないと
いう問題がある。
はかけ離れた特性（例えばゲインや位相）を表す可能性
が高く、従って特性を正確に測定することができないと
いう問題がある。
その結果例えば、弾性表面波発振器の量産時に、その製
造途中あるいは製造後に製品の開ループ特性をチェック
する必要がある場合、インピーダンスミスマツチングに
起因する誤った測定データから不良要因の発見等が遅れ
、製品の歩留りを悪化させる場合がある。
造途中あるいは製造後に製品の開ループ特性をチェック
する必要がある場合、インピーダンスミスマツチングに
起因する誤った測定データから不良要因の発見等が遅れ
、製品の歩留りを悪化させる場合がある。
そこでこの発明、間ループ特性をインピーダンスを整合
した状態で正確に測定することができるようにした弾性
表面波発振器を提供することを主たる目的とする。
した状態で正確に測定することができるようにした弾性
表面波発振器を提供することを主たる目的とする。
上記目的を達成するため、この発明の弾性表面波発振器
は、前記発振ループを分断してその分断個所の両側にテ
スト端子をそれぞれ設け、かつ各テスト端子と発振ルー
プ間にインピーダンス整合回路をそれぞれ設け、そして
両テスト端子間をジャンパーで接続していることを特徴
とする。
は、前記発振ループを分断してその分断個所の両側にテ
スト端子をそれぞれ設け、かつ各テスト端子と発振ルー
プ間にインピーダンス整合回路をそれぞれ設け、そして
両テスト端子間をジャンパーで接続していることを特徴
とする。
通常時は、上記のようにジャンパーを接続しておけば、
発振ループが構成されるので発振が可能である。
発振ループが構成されるので発振が可能である。
開ループを測定する必要がある時は、ジャンパーをはず
してテスト端子に測定器を接続すればよい。その場合、
各インピーダンス整合回路によって各テスト端子でのイ
ンピーダンスを使用する測定器に合わせておくことがで
きるので、それによって開ループ特性をインピーダンス
を整合した状態で正確に測定することができる。
してテスト端子に測定器を接続すればよい。その場合、
各インピーダンス整合回路によって各テスト端子でのイ
ンピーダンスを使用する測定器に合わせておくことがで
きるので、それによって開ループ特性をインピーダンス
を整合した状態で正確に測定することができる。
第１図は、この発明の一実施例に係る弾性表面波発振器
を示すブロック図である。第４図の例と同等部分には同
一符号を付し、以下においては従来例との相違点を主に
説明する。
を示すブロック図である。第４図の例と同等部分には同
一符号を付し、以下においては従来例との相違点を主に
説明する。
この実施例においては、発振ループの一個所（第４図の
Ｂ点に相当する個所）を分断してその分断個所の両側に
テスト端子６ａ、６ｂをそれぞれ設け、かつ各テスト端
子６ａ、６ｂと発振ループ間に、テスト端子６ａ、６ｂ
に接続される測定器のインピーダンスに整合させるため
のインピーダンス整合回路７ａ、７ｂをそれぞれ設け、
そして両テスト端子６ａ、６ｂ間をジャンパー８で接続
している。
Ｂ点に相当する個所）を分断してその分断個所の両側に
テスト端子６ａ、６ｂをそれぞれ設け、かつ各テスト端
子６ａ、６ｂと発振ループ間に、テスト端子６ａ、６ｂ
に接続される測定器のインピーダンスに整合させるため
のインピーダンス整合回路７ａ、７ｂをそれぞれ設け、
そして両テスト端子６ａ、６ｂ間をジャンパー８で接続
している。
各インピーダンス整合回路７ａ、７ｂとしては、例えば
πマツチ回路を使用することができる。これはインピー
ダンスの高い方から低い方への変換、またその逆も可能
なマツチング回路であり、その具体例を第２図に示す。
πマツチ回路を使用することができる。これはインピー
ダンスの高い方から低い方への変換、またその逆も可能
なマツチング回路であり、その具体例を第２図に示す。
この例において、テスト端子６ａ及び６ｂに接続するネ
ットワークアナライザ等の測定器の特性インピーダンス
が例えば５０Ωの場合（７５Ωの場合でも考え方は同じ
である）、移相器４の出力インピーダンスが例えば５０
Ωより高い場合は、インピーダンス整合回路７ａにおい
てＣＩｍ＜ＣｚＡに選定すればインピーダンスは高い方
から低い方に変換されてテスト端子６ａ側におけるイン
ピーダンス整合回路がとれる。また、弾性表面波デバイ
ス３が５０Ωより高いインピーダンスを持つ場合は、イ
ンピーダンス整合回路７ｂにおいてＣＩｍ＜Ｃｚｍに選
定すればテスト端子６ｂ側におけるインピーダンス整合
がとれる。この実施例ではそのようにして、テスト端子
６ａ及び６ｂでのインピーダンスを測定器のインピーダ
ンスと合わせている。
ットワークアナライザ等の測定器の特性インピーダンス
が例えば５０Ωの場合（７５Ωの場合でも考え方は同じ
である）、移相器４の出力インピーダンスが例えば５０
Ωより高い場合は、インピーダンス整合回路７ａにおい
てＣＩｍ＜ＣｚＡに選定すればインピーダンスは高い方
から低い方に変換されてテスト端子６ａ側におけるイン
ピーダンス整合回路がとれる。また、弾性表面波デバイ
ス３が５０Ωより高いインピーダンスを持つ場合は、イ
ンピーダンス整合回路７ｂにおいてＣＩｍ＜Ｃｚｍに選
定すればテスト端子６ｂ側におけるインピーダンス整合
がとれる。この実施例ではそのようにして、テスト端子
６ａ及び６ｂでのインピーダンスを測定器のインピーダ
ンスと合わせている。
このような弾性表面波発振器においては、通常時はジャ
ンパー８をテスト端子６ａ、６ｂ間に接続しておけば、
発振ループが構成されるので発振が可能である。
ンパー８をテスト端子６ａ、６ｂ間に接続しておけば、
発振ループが構成されるので発振が可能である。
開ループ特性を測定する必要がある時は、ジャンパー８
をはずしてテスト端子６ａ、６ｂに所定のインピーダン
スの測定器を接続すればよい、第３図はネットワークア
ナライザ９を接続した例を示す。この場合のチェックポ
イントは例えば、■ゲインが発振希望の周波数で１以上
あるか、■位相が発振希望の周波数で３６０°の整数倍
になっているか、である。
をはずしてテスト端子６ａ、６ｂに所定のインピーダン
スの測定器を接続すればよい、第３図はネットワークア
ナライザ９を接続した例を示す。この場合のチェックポ
イントは例えば、■ゲインが発振希望の周波数で１以上
あるか、■位相が発振希望の周波数で３６０°の整数倍
になっているか、である。
上記のようにすれば、開ループ特性をインピーダンスを
整合した状態で測定することができるので、測定を正確
に行うことができる。
整合した状態で測定することができるので、測定を正確
に行うことができる。
その結果、例えば弾性表面波発振器を量産する場合、■
発振しない、あるいは発振はするが異常な発振をする弾
性表面波発振器の開ループ特性を調べることによって不
良要因を早く見つけることができ早く対応策が打てる、
しかも測定後はジャンパー８を元どおり接続すれば発振
可能になるので言わば非破壊で特性を測定することがで
きる、■製造の中間段階（発振ループ形成後）で特性の
チェックができ、しかもそれを正確に行なえるので、増
幅器２、弾性表面波デバイス３、移相器４等の不良が容
易にわかる（測定データによっては、−目でどのブｏ７
りが異常なのかわかる場合もある）、■開ループ特性の
チェックにより、ループが最適な位相関係（ループ内で
３６０°の整数倍）になるように移相器４内部の調整を
すべてのブロックを考慮して行うことができる、等によ
り、製品の歩留りを向上させることができる。
発振しない、あるいは発振はするが異常な発振をする弾
性表面波発振器の開ループ特性を調べることによって不
良要因を早く見つけることができ早く対応策が打てる、
しかも測定後はジャンパー８を元どおり接続すれば発振
可能になるので言わば非破壊で特性を測定することがで
きる、■製造の中間段階（発振ループ形成後）で特性の
チェックができ、しかもそれを正確に行なえるので、増
幅器２、弾性表面波デバイス３、移相器４等の不良が容
易にわかる（測定データによっては、−目でどのブｏ７
りが異常なのかわかる場合もある）、■開ループ特性の
チェックにより、ループが最適な位相関係（ループ内で
３６０°の整数倍）になるように移相器４内部の調整を
すべてのブロックを考慮して行うことができる、等によ
り、製品の歩留りを向上させることができる。
なお、上記のようなテスト端子６ａ、６ｂやインピーダ
ンス整合回路７ａ、７ｂ等は第１図に示した場所以外に
、第４図のＡ点や０点に相当する場所に設けてもよい。
ンス整合回路７ａ、７ｂ等は第１図に示した場所以外に
、第４図のＡ点や０点に相当する場所に設けてもよい。
以上のようにこの発明の弾性表面波発振器によれば、そ
の開ループ特性をインピーダンスを整合した状態で正確
に測定することができるようになる。
の開ループ特性をインピーダンスを整合した状態で正確
に測定することができるようになる。
その結果例えば、弾性表面波発振器の量産時に、製造後
の製品の調整、修正あるいは製造途中での中間チェック
を容易にかつ正確に行うことができるようになり、これ
によって製品の歩留りを向上させることができる。
の製品の調整、修正あるいは製造途中での中間チェック
を容易にかつ正確に行うことができるようになり、これ
によって製品の歩留りを向上させることができる。
第１図は、この発明の一実施例に係る弾性表面波発振器
を示すブロック図である。第２図は、第１図中のインピ
ーダンス整合回路の具体例を示す回路図である。第３図
は、第１図の弾性表面波発振器にネットワークアナライ
ザを接続して開ループ特性を測定をする状態を示す図で
ある。第４図は、従来の弾性表面波発振器の一例を示す
ブロック図である。 ２・・・増幅器、３・・・弾性表面波デバイス、４、・
・移相器、６ａ、６ｂ・・・テスト端子、７ａ。 ７ｂ・・・インピーダンス整合回路、８０１．ジャンパ
ー。
を示すブロック図である。第２図は、第１図中のインピ
ーダンス整合回路の具体例を示す回路図である。第３図
は、第１図の弾性表面波発振器にネットワークアナライ
ザを接続して開ループ特性を測定をする状態を示す図で
ある。第４図は、従来の弾性表面波発振器の一例を示す
ブロック図である。 ２・・・増幅器、３・・・弾性表面波デバイス、４、・
・移相器、６ａ、６ｂ・・・テスト端子、７ａ。 ７ｂ・・・インピーダンス整合回路、８０１．ジャンパ
ー。
Claims (1)
- （１）少なくとも増幅器と弾性表面波デバイスと移相器
とをループ状態に接続して発振ループを構成した弾性表
面波発振器において、前記発振ループを分断してその分
断個所の両側にテスト端子をそれぞれ設け、かつ各テス
ト端子と発振ループ間にインピーダンス整合回路をそれ
ぞれ設け、そして両テスト端子間をジャンパーで接続し
ていることを特徴とする弾性表面波発振器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12851589A JPH02306706A (ja) | 1989-05-22 | 1989-05-22 | 弾性表面波発振器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12851589A JPH02306706A (ja) | 1989-05-22 | 1989-05-22 | 弾性表面波発振器 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02306706A true JPH02306706A (ja) | 1990-12-20 |
Family
ID=14986649
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12851589A Pending JPH02306706A (ja) | 1989-05-22 | 1989-05-22 | 弾性表面波発振器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02306706A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2005043150A1 (ja) * | 2003-10-31 | 2005-05-12 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | 弾性表面波センサー内蔵発振回路及びバイオセンサー装置 |
-
1989
- 1989-05-22 JP JP12851589A patent/JPH02306706A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2005043150A1 (ja) * | 2003-10-31 | 2005-05-12 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | 弾性表面波センサー内蔵発振回路及びバイオセンサー装置 |
| KR100706520B1 (ko) * | 2003-10-31 | 2007-04-13 | 가부시키가이샤 무라타 세이사쿠쇼 | 탄성 표면파 센서 내장 발진회로 및 바이오센서 장치 |
| US7394180B2 (en) | 2003-10-31 | 2008-07-01 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Oscillator circuit including surface acoustic wave sensor and biosensor apparatus |
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