JPH02280413A - 基本論理回路 - Google Patents
基本論理回路Info
- Publication number
- JPH02280413A JPH02280413A JP1102971A JP10297189A JPH02280413A JP H02280413 A JPH02280413 A JP H02280413A JP 1102971 A JP1102971 A JP 1102971A JP 10297189 A JP10297189 A JP 10297189A JP H02280413 A JPH02280413 A JP H02280413A
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- fet
- load
- circuit
- gate
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- Pending
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〈産業上の利用分野〉
本発明は化合物半導体FETを用いた基本論理回路に関
するものであり、特にゲートアレイに用いられるインバ
ータ回路に関するものである。
するものであり、特にゲートアレイに用いられるインバ
ータ回路に関するものである。
〈従来の技術〉
化合物半導体集積回路に応用される基本論理回路として
、電子通信学会研究報告lCD87−a’1r15Qゲ
ートGaAsゲートアレイ」に報告されている。バッフ
1−ドFETロジックC以下BFLと記す。)が知られ
ている。このBFLはGaAsを代表とする化合物半導
体FETにおいて木質的に製造しやすいデプレツ7ヨン
形FETによって構成される。またBFLは動作マージ
ンが大きく、かつ高速でスイッチングするという特徴が
あり、中規模集積回路(MSI)レベルの化合物半導体
集積回路の基本回路として最も早くから検討された回路
のひとつであり、BFLを用いて種々の高速集積回路が
実現されている。
、電子通信学会研究報告lCD87−a’1r15Qゲ
ートGaAsゲートアレイ」に報告されている。バッフ
1−ドFETロジックC以下BFLと記す。)が知られ
ている。このBFLはGaAsを代表とする化合物半導
体FETにおいて木質的に製造しやすいデプレツ7ヨン
形FETによって構成される。またBFLは動作マージ
ンが大きく、かつ高速でスイッチングするという特徴が
あり、中規模集積回路(MSI)レベルの化合物半導体
集積回路の基本回路として最も早くから検討された回路
のひとつであり、BFLを用いて種々の高速集積回路が
実現されている。
第4図に従来例としてBFLを用いたインバータ回路を
示す。負荷F、E T 4とスイッチングFET6によ
って構成されるインバータ部は、スイッチングFET6
のゲー)(IN)に印加される入力信号の反転信号を生
成する。FET?、FET9及びダイオード8によって
構成されるバッファ部はインバータ部の出力信号を増幅
し、次段の回路を駆動する。ダイオード8はインバータ
部の出力信号の直流レベルとバッフ1部の入力信号レベ
ルとを合わせるためのレベルシフトダイオードであり、
この個数はインバータ部を構成するFETのしきい電圧
、電源電圧(Vdd及びVss)などに応じて最適化さ
れる。第4図に示した例のように低消費電力化のため1
つのレベルシフトダイオードで最適化された回路では大
規模集積回路(LSI)レベルでの集積化が可能であり
、ゲートアレイなどへの適用も試みられている。
示す。負荷F、E T 4とスイッチングFET6によ
って構成されるインバータ部は、スイッチングFET6
のゲー)(IN)に印加される入力信号の反転信号を生
成する。FET?、FET9及びダイオード8によって
構成されるバッファ部はインバータ部の出力信号を増幅
し、次段の回路を駆動する。ダイオード8はインバータ
部の出力信号の直流レベルとバッフ1部の入力信号レベ
ルとを合わせるためのレベルシフトダイオードであり、
この個数はインバータ部を構成するFETのしきい電圧
、電源電圧(Vdd及びVss)などに応じて最適化さ
れる。第4図に示した例のように低消費電力化のため1
つのレベルシフトダイオードで最適化された回路では大
規模集積回路(LSI)レベルでの集積化が可能であり
、ゲートアレイなどへの適用も試みられている。
その他、インバータ部がスイッチングFETと負荷素子
であるデプレッション形FETの直列接続によって構成
されるインバータ回路として、スイッチングFETによ
ってエンハンスメント形FETt用いることによって、
レベルシフト回路を省略したダイレクトカップルドFE
Tロジック(DCFL)やダイオードロジックを用いた
ショットキーダイオードFETロジック(SDFL)な
どの回路も化合物半導体集積回路において実用化されて
いる。
であるデプレッション形FETの直列接続によって構成
されるインバータ回路として、スイッチングFETによ
ってエンハンスメント形FETt用いることによって、
レベルシフト回路を省略したダイレクトカップルドFE
Tロジック(DCFL)やダイオードロジックを用いた
ショットキーダイオードFETロジック(SDFL)な
どの回路も化合物半導体集積回路において実用化されて
いる。
〈発明が解決しようとする課題〉
一般に高速で動作させる回路は消費電力が大きく、高速
動作が要求されない回路では消費電力が小さくて済むの
で、目的の回路に要求される動作スピードに応じて各回
路の電力最適設計を行う必要がある。通常、各機能回路
は、その消費電力に応じて回路を構成する素子サイズを
調節することによ−て最適化される。従−て使用目的や
用途が初めから明確な集積回路を構成する場合には、各
回路の機能ごとにあらかじめ最適化を行って素子サイズ
を決めておくことができる。ところが、ゲートアレイの
ように回路を構成する素子を初めから組み込んでおいて
、配線によって目的の回路機能を実現させるような集積
回路の場合には、各機能回路ごとの最適化は望めないた
めに、消費電力の冗長性の高い回路で集積回路全体を構
成するかあるいは素子サイズが異な−た低消費電力用の
セルを部分的に組み込んでおく必要があった。このこと
は回路設計の自由度を制限し、セルの使用率を低下させ
ることになっていた。
動作が要求されない回路では消費電力が小さくて済むの
で、目的の回路に要求される動作スピードに応じて各回
路の電力最適設計を行う必要がある。通常、各機能回路
は、その消費電力に応じて回路を構成する素子サイズを
調節することによ−て最適化される。従−て使用目的や
用途が初めから明確な集積回路を構成する場合には、各
回路の機能ごとにあらかじめ最適化を行って素子サイズ
を決めておくことができる。ところが、ゲートアレイの
ように回路を構成する素子を初めから組み込んでおいて
、配線によって目的の回路機能を実現させるような集積
回路の場合には、各機能回路ごとの最適化は望めないた
めに、消費電力の冗長性の高い回路で集積回路全体を構
成するかあるいは素子サイズが異な−た低消費電力用の
セルを部分的に組み込んでおく必要があった。このこと
は回路設計の自由度を制限し、セルの使用率を低下させ
ることになっていた。
本発明は上記の問題点に鑑みてなされたもので低消費電
力型の基本論理回路、特にゲートアレイに好適に用いら
れる低消費電力型のインバータ回路を提供することによ
って、集積回路設計の自由度を向上し、セルの使用率の
向上を目的としたものである。
力型の基本論理回路、特にゲートアレイに好適に用いら
れる低消費電力型のインバータ回路を提供することによ
って、集積回路設計の自由度を向上し、セルの使用率の
向上を目的としたものである。
〈課題を解決するための手段〉
上記の目的を達成するため本発明による基本論理回路は
、スイッチングFETと、デプレッション形FETを用
いた負荷FETと、負荷電流制限用素子とを備え、前記
負荷FETのゲートとソースとの間に前記負荷電流制限
用素子を接続し、前記ゲートに前記スイッチングFET
を接続し、前記ソースを出力端子とすることを特徴とす
るものである。
、スイッチングFETと、デプレッション形FETを用
いた負荷FETと、負荷電流制限用素子とを備え、前記
負荷FETのゲートとソースとの間に前記負荷電流制限
用素子を接続し、前記ゲートに前記スイッチングFET
を接続し、前記ソースを出力端子とすることを特徴とす
るものである。
〈作 用〉
例えばインバータ回路においては、スイッチングFET
が低抵抗(ON状態)のとき高電位から低電位に電流が
流れる。このとき、本発明に係る基本論理回路において
は、負荷電流制限用素子による電圧降下のためて、負荷
素子として用いられているデプレノンヨン形FETのゲ
ート電位が引き下げられる。このために、当該負荷FE
Tが高抵抗状態とな−て消費電力が小さくなる。
が低抵抗(ON状態)のとき高電位から低電位に電流が
流れる。このとき、本発明に係る基本論理回路において
は、負荷電流制限用素子による電圧降下のためて、負荷
素子として用いられているデプレノンヨン形FETのゲ
ート電位が引き下げられる。このために、当該負荷FE
Tが高抵抗状態とな−て消費電力が小さくなる。
〈実施例〉
第1図は本発明の基本論理回路の構成図である。
高電位Vddと低電位VSSO間にデプレッション形F
ETを用いた負荷FETIとスイッチングFET3が負
荷電流制限用素子2を介して接続されている。この負荷
電流制限用素子2は負荷FET1のゲートとソースの間
に接続されており、スイッチングFET8のゲートを入
力端子(IN)として、負荷FETIのソースを出力端
子(OUT)として用いる。負荷電流制限用素子2とし
ては抵抗器、ゲートとソース間を短絡したデプレッショ
ン形FET、ゲートとドレイン間を短絡したデプレッシ
ョン形FETあるいはダイオード等を用いることができ
る。
ETを用いた負荷FETIとスイッチングFET3が負
荷電流制限用素子2を介して接続されている。この負荷
電流制限用素子2は負荷FET1のゲートとソースの間
に接続されており、スイッチングFET8のゲートを入
力端子(IN)として、負荷FETIのソースを出力端
子(OUT)として用いる。負荷電流制限用素子2とし
ては抵抗器、ゲートとソース間を短絡したデプレッショ
ン形FET、ゲートとドレイン間を短絡したデプレッシ
ョン形FETあるいはダイオード等を用いることができ
る。
入力端子(IN)に論理レベルの低レベルが入力されて
いるときはスイッチングFET8は高抵抗になっており
負荷電流制限用素子2を通じて低電位Vssに流れる電
流はほぼゼロとな1ている。
いるときはスイッチングFET8は高抵抗になっており
負荷電流制限用素子2を通じて低電位Vssに流れる電
流はほぼゼロとな1ている。
従−て負荷電流制限用素子2による電圧降下はほぼゼロ
であり、このとき消費される電流は、ゲートとソース間
とを短絡したデプレッション形FETを負荷素子とする
従来回路と同程度となる。
であり、このとき消費される電流は、ゲートとソース間
とを短絡したデプレッション形FETを負荷素子とする
従来回路と同程度となる。
入力端子INに論理レベルの高レベルが入力されている
ときは、スイッチングFET8が低抵抗となるため、高
電位Vddから低電位Vssに電流が流れる。従来回路
や場合も1本発明による回路の場合も静的な電力はほと
んどこのときに消費されるのであるが、本発明による回
路の場合には負荷電流制限用素子2による電圧降下が負
荷FET1のゲート電位を引き下げるため、当該負荷F
ET1は高抵抗となり回路の消費電流が小さくなる。
ときは、スイッチングFET8が低抵抗となるため、高
電位Vddから低電位Vssに電流が流れる。従来回路
や場合も1本発明による回路の場合も静的な電力はほと
んどこのときに消費されるのであるが、本発明による回
路の場合には負荷電流制限用素子2による電圧降下が負
荷FET1のゲート電位を引き下げるため、当該負荷F
ET1は高抵抗となり回路の消費電流が小さくなる。
本発明の基本論理回路において負荷電流制限用素子とし
て2にΩの抵抗を用いたものを、BFLに適用した例を
第2図に示す。本実施例では、レベルシフトダイオード
の数を1として最適化したため、スイッチングFET6
と負荷FET4のしきい電圧はそれぞれ−0,2v及び
−0,5vとなっている。また電源電圧ばVdd=OV
、Vss=−1,5V、 Vpd −−2Vテある。コ
ノ回路ODC伝達特性とインバータ部の消費電流を第3
図に示す。図中81がインバータ部の消費電流を、また
32がDC伝達特性を示している。インバータ部の電流
は入力電圧が論理しきい値以下ではほとんど流れていな
いが、これを超えると流れ始めることが解る。
て2にΩの抵抗を用いたものを、BFLに適用した例を
第2図に示す。本実施例では、レベルシフトダイオード
の数を1として最適化したため、スイッチングFET6
と負荷FET4のしきい電圧はそれぞれ−0,2v及び
−0,5vとなっている。また電源電圧ばVdd=OV
、Vss=−1,5V、 Vpd −−2Vテある。コ
ノ回路ODC伝達特性とインバータ部の消費電流を第3
図に示す。図中81がインバータ部の消費電流を、また
32がDC伝達特性を示している。インバータ部の電流
は入力電圧が論理しきい値以下ではほとんど流れていな
いが、これを超えると流れ始めることが解る。
比較のために第4図に示した従来例のBFL回路の特性
を第5図に示す。図中51がインバータ部の消費電流廉
また52がDC伝達特性である。
を第5図に示す。図中51がインバータ部の消費電流廉
また52がDC伝達特性である。
なお1回路を構成する負荷電流制限用素子5以外の素子
定数及び電源電圧は、第2図に示す本発明の回路と同一
としである。第3図と第5図のインバータ部の消費電流
を示すalと51を比較すると、インバータ部が低レベ
ルを出力している期間の消費電流が約半分程度に減少し
ていることが解る。また両者のDC伝達特性32と52
を比較すると論理レベルにはほとんど差がなく、本発明
の回路と従来回路とが混在可能であることが解る。
定数及び電源電圧は、第2図に示す本発明の回路と同一
としである。第3図と第5図のインバータ部の消費電流
を示すalと51を比較すると、インバータ部が低レベ
ルを出力している期間の消費電流が約半分程度に減少し
ていることが解る。また両者のDC伝達特性32と52
を比較すると論理レベルにはほとんど差がなく、本発明
の回路と従来回路とが混在可能であることが解る。
この実施例では負荷電流制限用素子として抵抗を用いた
場合を示したがその他、ゲート、ソースを短絡したデプ
レッション形FETやゲート、ドレインを短絡したデプ
レッション形FETあるい處 はダイオードなどの素子る用いた場合も同様の動部 果が繰待できる。
場合を示したがその他、ゲート、ソースを短絡したデプ
レッション形FETやゲート、ドレインを短絡したデプ
レッション形FETあるい處 はダイオードなどの素子る用いた場合も同様の動部 果が繰待できる。
〈発明の効果〉
以上説明したように本発明によれば、スイッチングFE
TがON状態のとき負荷電流制限用素子による電圧降下
のために負荷FETのゲート電位が引き下げられて高抵
抗状態になるために消費電流が小さくなるので、低消費
電力型の基本論理回路を構成することができる。また、
素子サイズなどの素子パラメータを一切変えることなく
、負荷電流制限用素子を追加するだけで基本論理回路の
消費電力を低減できるので、回路設計の自由度が上がり
、セルの使用率も向上する。
TがON状態のとき負荷電流制限用素子による電圧降下
のために負荷FETのゲート電位が引き下げられて高抵
抗状態になるために消費電流が小さくなるので、低消費
電力型の基本論理回路を構成することができる。また、
素子サイズなどの素子パラメータを一切変えることなく
、負荷電流制限用素子を追加するだけで基本論理回路の
消費電力を低減できるので、回路設計の自由度が上がり
、セルの使用率も向上する。
第1図は本発明の基本論理回路の回路図、第2図は本発
明の一実施例の回路図、第8図は本発明の実施例の特性
図、第4図は従来例の回路図、第5図は従来例の特性図
である。 1.4・・・負荷FET、2・・・負荷電流制限用素子
、8.6・・・スイ・ノチングFET、5・・・抵抗、
7.9・・・パリ77FET、8・・・レベルシフト
ダイオード、81・・・インバータ部消費電流、32・
・・DC伝み特性。 代理人 弁理士 杉 山 毅 至(他1名)dd 一/、(5’ 一/、4 Vjn (V) 適3図 dd dd Pd 第4 図
明の一実施例の回路図、第8図は本発明の実施例の特性
図、第4図は従来例の回路図、第5図は従来例の特性図
である。 1.4・・・負荷FET、2・・・負荷電流制限用素子
、8.6・・・スイ・ノチングFET、5・・・抵抗、
7.9・・・パリ77FET、8・・・レベルシフト
ダイオード、81・・・インバータ部消費電流、32・
・・DC伝み特性。 代理人 弁理士 杉 山 毅 至(他1名)dd 一/、(5’ 一/、4 Vjn (V) 適3図 dd dd Pd 第4 図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、スイッチングFETと、 デプレッション形FETを用いた負荷FETと、 負荷電流制限用素子とを備え、 前記負荷FETのゲートとソースとの間に前記負荷電流
制限用素子を接続し、 前記ゲートに前記スイッチングFETを接続し、前記ソ
ースを出力端子とすることを特徴とする基本論理回路。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1102971A JPH02280413A (ja) | 1989-04-20 | 1989-04-20 | 基本論理回路 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1102971A JPH02280413A (ja) | 1989-04-20 | 1989-04-20 | 基本論理回路 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02280413A true JPH02280413A (ja) | 1990-11-16 |
Family
ID=14341644
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1102971A Pending JPH02280413A (ja) | 1989-04-20 | 1989-04-20 | 基本論理回路 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH02280413A (ja) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5656956A (en) * | 1995-03-28 | 1997-08-12 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Logic gate circuit and digital integrated circuit |
WO2010149629A1 (en) * | 2009-06-22 | 2010-12-29 | Epcos Ag | Low-current input buffer |
JP2012085061A (ja) * | 2010-10-08 | 2012-04-26 | Sony Corp | レベル変換回路および表示装置、並びに電子機器 |
JP2012530442A (ja) * | 2009-06-17 | 2012-11-29 | エプコス アーゲー | 低電流論理ゲート回路 |
JP2012530441A (ja) * | 2009-06-17 | 2012-11-29 | エプコス アーゲー | 低電流インバータ回路 |
JP2013511868A (ja) * | 2009-11-24 | 2013-04-04 | エプコス アクチエンゲゼルシャフト | 低電流の論理およびドライバ回路 |
-
1989
- 1989-04-20 JP JP1102971A patent/JPH02280413A/ja active Pending
Cited By (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5656956A (en) * | 1995-03-28 | 1997-08-12 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Logic gate circuit and digital integrated circuit |
JP2012530442A (ja) * | 2009-06-17 | 2012-11-29 | エプコス アーゲー | 低電流論理ゲート回路 |
JP2012530441A (ja) * | 2009-06-17 | 2012-11-29 | エプコス アーゲー | 低電流インバータ回路 |
US8610464B2 (en) | 2009-06-17 | 2013-12-17 | Epcos Ag | Low-current inverter circuit |
US8653854B2 (en) | 2009-06-17 | 2014-02-18 | Epcos Ag | Low-current logic-gate circuit |
WO2010149629A1 (en) * | 2009-06-22 | 2010-12-29 | Epcos Ag | Low-current input buffer |
EP2270946A1 (en) * | 2009-06-22 | 2011-01-05 | Epcos AG | Low-current input buffer |
JP2012531158A (ja) * | 2009-06-22 | 2012-12-06 | エプコス アーゲー | 低電流入力バッファ |
US8436663B2 (en) | 2009-06-22 | 2013-05-07 | Epcos Ag | Low-current input buffer |
JP2013511868A (ja) * | 2009-11-24 | 2013-04-04 | エプコス アクチエンゲゼルシャフト | 低電流の論理およびドライバ回路 |
US8686752B2 (en) | 2009-11-24 | 2014-04-01 | Epcos Ag | Low-current logic plus driver circuit |
JP2012085061A (ja) * | 2010-10-08 | 2012-04-26 | Sony Corp | レベル変換回路および表示装置、並びに電子機器 |
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