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JPH02247830A - サーボループのループゲイン設定方法 - Google Patents

サーボループのループゲイン設定方法

Info

Publication number
JPH02247830A
JPH02247830A JP1069022A JP6902289A JPH02247830A JP H02247830 A JPH02247830 A JP H02247830A JP 1069022 A JP1069022 A JP 1069022A JP 6902289 A JP6902289 A JP 6902289A JP H02247830 A JPH02247830 A JP H02247830A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
loop
gain
loop gain
value
tracking
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP1069022A
Other languages
English (en)
Inventor
Hidehiro Ishii
英宏 石井
Tomoyoshi Takeya
智良 竹谷
Tomoharu Miura
三浦　智治
Tatsuya Fukuda
達也 福田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Pioneer Corp
Original Assignee
Pioneer Electronic Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Pioneer Electronic Corp filed Critical Pioneer Electronic Corp
Priority to JP1069022A priority Critical patent/JPH02247830A/ja
Priority to US07/433,685 priority patent/US5084849A/en
Priority to DE68922718T priority patent/DE68922718T2/de
Priority to EP89120726A priority patent/EP0388519B1/en
Publication of JPH02247830A publication Critical patent/JPH02247830A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
    • G11B7/08—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
    • G11B7/09—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following
    • G11B7/0941—Methods and circuits for servo gain or phase compensation during operation

Landscapes

  • Optical Recording Or Reproduction (AREA)
  • Moving Of The Head For Recording And Reproducing By Optical Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 技術分野 本発明は、フォーカスサーボループ及びトラッキングサ
ーボループの各ループゲインを自動的に設定するループ
ゲイン設定方法に関する。
背景技術 ビデオディスクやディジタルオーディオディスク等の情
報記録ディスク（以下、単にディスクと称する）を演奏
する例えば光学式ディスクプレーヤには、光ビームをデ
ィスクの情報記録面上に収束させて情報読取用光スポッ
トを形成させるためのフォーカスサーボ装置や、情報読
取用光スポットをディスクの記録トラックに正確に追従
させるためのトラッキングサーボ装置が不可欠である。
フォーカスサーボ装置としては、例えば、円筒レンズを
用いて光ビームの光路上の互いに離れた２点のうちの一
方においては光ビームが例えば水平方向に１本の線とし
て集光し、他方においては光ビームが垂直方向に１本の
線として集光するようにすると共に、該２点の中間に４
分割光検知器を配置し、この４分割光検知器の４出力に
基づいてフォーカスエラー信号を生成するようにしたい
わゆる非点収差法による装置が知られている。
また、トラッキングサーボ装置としては、例えば、情報
読取用メインビーム及びその両側に配置されたトラッキ
ングエラー検出用の２本のサブビームの計３本のビーム
を用意し、これらビームをその先軸を結ぶ線がトラック
接線方向に対して所定のオフセット角を有するように配
置し、ディスクの情報記録面を経た２本のサブビームの
光量の差に基づいてエラー信号を生成するいわゆる３ビ
ーム法による装置が知られている。
ところで、これらサーボ装置では、ディスクの反射率の
ばらつき、ピックアップの経年変化に伴う汚れ等による
パワー変動、或いはピックアップの光検知器の感度のば
らつき等に起因して各サーボ系のループゲインが演奏す
るディスク毎に変動することがある。このループゲイン
の変動はフォーカスエラーやトラッキングエラーに対す
る追従性の低下を来し、安定したサーボ動作が得られな
いことになる。
発明の概要 そこで、ディスク演奏に際して最適なループゲインを自
動的に設定し得るサーボループのループゲイン設定方法
を提供することを目的とする。
本発明によるループゲイン設定方法においては、フォー
カスサーボループ及びトラッキングサーボループの各ル
ープゲインを設定後、これらループゲイン設定値を互い
に比較することによって設定ループゲインの良否を判定
することを特徴としている。
本発明によるループゲイン設定方法においてはさらに、
フォーカスサーボループ及びトラッキングサーボループ
の各ループゲインを設定後、これらループゲイン設定値
の少なくとも一方と読取ＲＦ倍信号エンベロープの振幅
検出値とを比較することによって設定ループゲインの良
否を判定することを特徴としている。
実施例 以下、本発明の実施例を図に基づいて詳細に説明する。
第１図は本発明によるループゲイン設定方法が適用され
るディスクプレーヤの信号処理系の構成を示すブロック
図である。図において、レーザビームを収束せしめるこ
とによって得られる３つのビームスポット、すなわち記
録情報読取用スポットＳ１とこのスポットＳｌのディス
クとの相対的移動に際してそれぞれ先行及び後続する一
対のトラッキングエラー検出用スポットｓ２．ｓ３とが
図示の位置関係をもって、ピックアップ（図示せず）か
らディスクの記録トラックＴに対して照射される。これ
らビームスポットによるディスクからの反射光はピック
アップに内蔵された光電変換素子１〜３に入射し、電気
信号に変換される。なお、ピックアップには、対物レン
ズを含む光学系の他、ディスクの情報記録面に対する対
物レンズの光軸方向の位置制御をなすフォーカスアクチ
ュエータやビームスポットの記録トラックＴに対するデ
ィスク半径方向の位置制御をなすトラッキングアクチュ
エータ等も内蔵されている。このピックアップはディス
ク半径方向において移動自在なキャリッジ（図示せず）
により担持されている。
光電変換素子１は、受光面を４分割する如く配置されか
つ互いに独立した４つの受光エレメントによって構成さ
れている。そして、受光面の中心に関して互いに対向す
るエレメント同士の出力和か差動アンプ４に供給されて
両出力和の差信号が導出され、この差信号がフォーカス
エラー（Ｆ　Ｅ）信号となる。このフォーカスエラー信
号は、対物レンズがその合焦位置に対して上下動するこ
とにより、第２図に示すように、対物レンズのディスク
面からの離間距離に対して合焦位置でゼロクロスするい
わゆる８字カーブ特性を示す。また、上記各出力和が加
算器５に供給されて両出力和の和信号、すなわち各エレ
メントの総和信号が導出され、この総和信号が読取ＲＦ
倍信号なる。
一方、光電変換素子２，３の各出力はアンプ６゜７を経
て差動アンプ８に供給されて両出力の差信号が導出され
、この差信号がトラッキングエラー（ＴＥ）信号となる
。トラッキングサーボループのオーブン状態において、
ビームスポットＳ１が第３図（Ａ）に示すように１の記
録トラックＴ１から隣りの記録トラックＴ２に移動する
とき、トラッキングエラー信号は同図（Ｂ）に示す如く
サイン波状波形となり、そのレベルがビームスポットＳ
Ｉの記録トラックＴからの偏倚量に比例し、またゼロク
ロス点が記録トラックＴ上の中間位置及び各トラック間
の中間位置にそれぞれ対応している。
フォーカスエラー信号及びトラッキングエラー信号は、
Ａ／Ｄ変換のサンプリング周波数以上の不要周波数成分
を減衰させるためのＬＰＦ　（ローパスフィルタ）回路
２４．２５及びＶＣＡ　（電圧制御増幅器）９．１０を
経てＭＰＸ　（マルチプレクサ）１１に供給される。Ｍ
ＰＸＩＩはフォーカスエラー信号及びトラッキングエラ
ー信号を次段のＡ／Ｄ　Ｃディジタル／アナログ）変換
器１２に時分割伝送する。Ａ／Ｄ変換器１２でディジタ
ル化された各エラー信号はディジタルイコライザ（ＥＱ
）１３で周波数特性が補償された後ＰＷＭ（パルス幅変
調）回路１４に供給されてエラー信号の大きさ（レベル
）に応じたパルス幅の駆動信号として先述したフォーカ
スアクチュエータ及びトラッキングアクチュエータに供
給される。また、ＰＷＭ回路１４では、ディジタルＥＱ
１３においてトラッキングエラー信号の低域成分が抜き
出されかつ周波数特性の補償がなされた後の信号レベル
に応じたパルス幅の駆動信号も生成され、この駆動信号
はピックアップを担持したキャリッジの駆動源であるキ
ャリッジモータ（図示せず）に供給される。
以上により、各エラー信号をＡ／Ｄ変換してディジタル
処理するディジタルサーボ系が構成され。
ており、このサーボ系の制御はマイクロコンピュータか
らなるサーボコントローラ１５によって行なわれる。こ
のサーボコントローラ１５は各サーボループのオン（閉
成）・オフ（開放）制御、対物レンズのアップ／ダウン
動作時の駆動信号の生成、ＶＣＡ９．１０のゲイン制御
、ディジタルＥＱ１３のイコライザ特性の制御等を行な
う。
加算器５の出力である読取ＲＦ倍信号ＲＦ再生回路１６
及びＲＦエンベロープ検波回路１７に供給される。演奏
されるディスクが例えばコンパクト・ディスクの場合、
読取ＲＦ倍信号ＥＦＭ（Ｅｌｇｈｔ　ｔｏ　Ｆｏｕｒｔ
ｅｅｎ　Ｍｏｄｕｌａｔｉｏｎ）信号であり、このＥＦ
Ｍ信号はＲＦ再生回路１６においてＥＦＭｌｉ調されか
つエラー訂正された後Ｄ／Ａ　（ディジタル／アナログ
）変換されて左右のオーディオ出力となる。また、ＲＦ
再生回路１６においては、読取ＲＦ倍信号ら抽出された
再生クロックの基準クロックに対する位相差に応じた位
相エラー信号が生成されると共に、ＥＦＭ復調データか
らサブコード情報がデコードされる。位相エラー信号は
サーボコントローラ１５を介してＰＷＭ回路１８に供給
され、エラー信号レベルに応じたパルス幅の駆動信号と
してディスクを回転駆動するスピンドルモータ（図示せ
ず）に供給される。サブコード情報はシステムコントロ
ーラ１９に供給される。
一方、ＲＦエンベロープ検波回路１７で検波されたＲＦ
エンベロープはＡ／Ｄ変換″１２０でディジタル化され
てサーボコントローラ１５に供給される。
システムコントローラ１９はマイクロコンピュータによ
って構成・されており、キーボード２１からのキー操作
指令や、ＲＦ再生回路１６からのサブコード情報等に応
じてサーボコントローラ１５を含むシステム全体の制御
をなすと共に、デイスプレィ２２の表示制御、さらには
ディスクのローディング、アンローディングを行なうロ
ーディング機構２３の駆動制御を行なう。
次に、システムコントローラ１９のプロセッサによって
実行される本発明によるループゲイン設定方法の一実施
例の処理手順について第４図のフローチャートにしたが
って説明する。なお、このループゲイン設定処理は、デ
ィスクのローディング及びクランプが完了し、さらにピ
ックアップを担持したキャリッジが最内周位置に到来し
たことを検知した時点で開始されるものとする。
プロセッサは、図示せぬ検知手段の検知出力によってキ
ャリッジが最内周位置に到来したことを検知すると、先
ずＲＡＭ等の内部メモリの格納データや各種カウンタの
カウント値をリセットする初期化を行ない（ステップＳ
１）、しかる後ピックアップのレーザ光源をオンせしめ
る（ステップ８２）。続いて、フォーカスサーボループ
のループゲインを設定するためのゲイン定数ＧＦをフォ
ーカスエラー信号の振幅の大きさを表わす、例えばｐ　
−ｐｔ！ｉに基づいて選定するフォーカスゲイン定数選
定モードの処理を実行しくステップＳ３）、当該モード
で選定されたゲイン定数を選定フォーカスゲイン定数Ｃ
Ｆとして内部メモリに記憶保持する（ステップＳ４）。
フォーカスゲイン定数選定モードの処理手順に関しては
後述する。フォーカスゲイン定数ＧＦの選定後、トラッ
キングサーボループのループゲインを設定するためのゲ
イン定数ＧＴをトラッキングエラー信号の振幅の大きさ
を表わす例えばｐ−ｐ値に基づいて選定するトラッキン
グゲイン定数選定モードの処理を実行しくステップＳ５
）、当該モードで選定されたゲイン定数を選定トラッキ
ングゲイン定数ＧＴとして内部メモリに記憶保持する（
ステップＳ６）。トラッキングゲイン定数選定モードの
処理手順に関しては後述する。
フォーカスゲイン定数ＧＦ及びトラッキングゲイン定数
ＧＴを選定したら、選定したゲイン定数Ｇ　Ｆ　ａ　Ｇ
　Ｔに基づいて各ループゲインを設定する前に、これら
選定ゲイン定数ＣＦ、ＧＴの良否の判定を行なう。この
選定ゲイン定数Ｃ；Ｆ、ＧＴの良否の判定は、同一ディ
スク内であれば、得られるフォーカスエラー信号及びト
ラッキングエラー信号の各振幅の大きさに相関があるこ
とに鑑みなされるものであり、理論的には、同一ディス
クではフォーカスゲイン定数ＣＦ及びトラッキングゲイ
ン定数Ｇ、とじて一定数値、例えばほぼ同一数値が選定
されることを前提とし、以下にその処理手順を説明する
。なお、トラッキングエラー信号はディスクの偏芯によ
り周波数成分が高くなりＬＰＦ回路回路２遇 けることから、選定されたフォーカスゲイン定数ＧＦに
比してトラッキングゲイン定数ＧＴの信頼性が低いこと
が経験的に知られているため、本例においては、フォー
カスゲイン定数ＧＦを基準としてトラッキングゲイン定
数ＧＴの良否の判定を行なうこととする。
フォーカスゲイン定数ＧＦ及びトラッキングゲイン定数
ＧＴの選定後、両ゲイン定数ＧＦ．ＧＴに基づいてＧＦ
　／ＧＴなる演算を行ない（ステップＳ７）、続いてこ
の比ＧＦ／ＧＴが所定範囲内（ＧＨ≧ＧＦ／ＧＴ≧ＧＬ
）にあるか否かを判断する（ステップＳ８）。上述した
如く、両ゲイン定数ＧＦ、ＧＴとしてほぼ同一数値が選
定されることから、その比ＣＦ／ＧＴはほぼ１となる訳
であり、上記所定範囲としては、１例として、ＧＨ−１
，３，ＧＬ　−０，７が設定される。そして、ＧＨ≧Ｇ
ｔ：　／ＧＴ≧ＧＬであれば、選定された両ゲイン定数
ｃＦ、ｃ丁が適正値であると判断し、これらゲイン定数
ＧＦ、Ｇ、に対応したループゲインとなるようにＶＣＡ
９，１０のゲインを設定する（ステップＳ９）。
一方、ステップＳ８において、ＣＦ／ＧＴが所定範囲外
（ＣＦ／ＧＴ＞ＧＨ又はＧＬ＞ＧＦ／ＧＴ）であると判
定した場合には、選定されたフォーカスゲイン定数ＧＦ
の値の方に異常がある可能性もあり得るが、先の理由に
よってトラッキングゲイン定数ＧＴの値の方が異常であ
ると見なす。
そして、異常判定回数をカウントするカウンタのカウン
ト値Ｘをインクリメントしくステップ５１０）、そのカ
ウント値Ｘが所定値Ｘｏ　　（例えば、２）以上である
か否かを判断する（ステップ５１１）。Ｘ＜Ｘ、であれ
ば、ステップＳ５に戻ってトラッキングゲイン定数ＧＴ
の再選定を行なう。
Ｘ≧ＸＯであれば、選定されたトラッキングゲイン定数
ＧＴの値が例えば２回以上異常であると判定したことに
なるので、トラッキングゲイン定数ＧＴとして初期設定
値ＧＴＯを設定しくステップ５１２）、Ｌかる後ステッ
プＳ９に移行して各ループゲインを設定する。以上によ
り、フォーカスサーボ及びトラッキングサーボの各ルー
プゲイン設定のための一連の処理を終了する。
このように、選定されたフォーカスゲイン定数ＧＦ及び
トラッキングゲイン定数ＧＴを互いに比較し、その比較
結果が否なる場合には、トラッキングゲイン定数ＧＴを
再選定、又はトラッキングゲイン定数ＧＴとして初期設
定値を設定することにより、ディスクの偏芯等の影響に
よってトラッキングエラー信号の振幅の大きさが変動す
るような場合であっても、トラッキングゲイン定数ＧＴ
の再選定が行なわれたり、或いは初期設定値が設定され
たりするため、ディスクの偏芯等の影響を受けることな
く演奏するディスク毎に最適なループゲインを設定でき
ることになる。
なお、上記実施例では、選定されたフォーカスゲイン定
数ＧＦ及びトラッキングゲイン定数ＧＴを互いに比較し
てその比較結果が否なる場合には、トラッキングゲイン
定数Ｇ、のみを再選定するとしたが、フォーカスゲイン
定数ＣＦ及びトラッキングゲイン定数０丁の双方を再選
定するようにしても良（、また選定されたフォーカスゲ
イン定数ＣＦに比してトラッキングゲイン定数ＧＴの方
が信頼性が高い場合には、フォーカスゲイン定数ＧＦの
みを再選定するようにしても良い。
次に、先述したフォーカスゲイン定数選定モードの処理
手順の一例について第５図のタイミングチャートを参照
しつつ第６図のフローチャートにしたがって説明する。
なお、本処理はループオーブン状態で実行されるものと
する。
プロセッサは先ず、スピンドルモータを正転駆動すべく
サーボコントローラ１５を制御してＰＷＭ回路１８から
波高値Ｈの正転駆動パルスをキックパルスとして発生さ
せる（ステップ５２１）。
そして、所定時間Ｗ（例えば、１００　ｍ５ｅｃ）経過
した後（ステップ５２２）、正転駆動パルスの発生を停
止させるべくサーボコントローラ１５を制御する（ステ
ップ８２３）。この正転駆動パルスのパルス幅Ｗ及び波
高値Ｈによってスピンドルモータの回転数が決まり、そ
のパルス幅Ｗ及び波高値Ｈはスピンドルモータが暫時し
かもプレイ時の定速回転数よりも非常に低い低速にて回
転するように設定される。
続いて、対物レンズをダウンさせるべくサーボコントロ
ーラ１５を制御して負の駆動電圧（ＦＤ）を発生させ（
ステップ５２４）、この駆動電圧の絶対値（ＩＦＤＩ）
がフォーカス駆動電圧の下限値（Ｕ　Ｌ）以上になるま
で（ステップ５２５）、対物レンズをダウン駆動する。
Ｉ　ＦＤ　Ｉ≧ＵＬとなったら、タイマーカウンタをス
タートさせる（ステップ５２６）。このタイマーカウン
タのカウント動作は内部基準クロックに同期して行なわ
れる。タイマーカウンタのカウント値に基づいてＩＦＤ
Ｉ≧ＵＬとなった時点から所定時間Ｔ（例えば、５０１
ｓｅｃ）が経過したことを検出したら（ステップ５２７
）、内部カウンタ１のカウント値Ｎをインクリメントし
くステップ８２８）、同時に対物レンズをアップさせる
べくサーボコントローラ１５を制御して漸次増大する傾
斜状の駆動電圧（ＦＤ）を発生させる（ステップ５２９
）。
なお、カウント値Ｎは８字カーブのｐ−ｐ値を取り込ん
だ回数を表わす。
続いて、Ａ／Ｄ変換器１２の出力として得られるエラー
データを取り込んでその絶対値（ｌ　ＦＥ　Ｉ）がスレ
ッショールドレベルＴＨ以上になったか否かを判断する
（ステップ５３０）。
ＦＥＩ≧ＴＨであれば、ノイズではなくフォーカスエラ
ーであると判断し、対物レンズの合焦位置の前後ではフ
ォーカスエラーは８字カーブ特性を示すことから、取り
込んだエラーデータに基づいてその正負の波高値の差、
すなわちｐ−ｐ値を算出する（ステップ５３１）。この
８字カーブのｐ−ｐ値の算出は、例えば、Ａ／Ｄ変換の
際のサンプリングタイミング毎に取り込むエラーデータ
の今回値を前回値と比較し、正の波高値の場合には今回
値が前回値以下となったときの前回値を、負の波高値の
場合には今回値が前回値以上となったときの前回値をそ
れぞれ各波高値とし、その差を求めることによって行な
われる。
このようにして算出したｐ−ｐ値の今回値を前回値と比
較しくステップ５３２）、今回値が前回値よりも大なる
場合には今回値を前回値としてメモリに記憶する（ステ
ップ５３３）。今回値が前回値以下の場合には前回値を
そのまま保持する。
これにより、メモリには最終的に取り込んだｐ−ｐ値の
うちの最大値が保持されることになる。続いて、内部カ
ウンタＩのカウント値Ｎ及び内部カウンタ■のカウント
値Ｍをそれぞれインクリメントする（ステップＳ３４．
３３５）。なお、カウント値Ｍは、対物レンズのアップ
／ダウン回数を表わす。そして、所定時間ｔ（例えば、
５１ｓｅｃ）が経過した後（ステップ５３６）、内部カ
ウンタ■のカウント値Ｍが所定値Ｍｏ（例えば、４）以
上か否か、すなわち対物レンズのアップ／ダウン動作が
ＭＱ回以上行なわれたか否かを判断する（ステップ５３
７）。
ＭＵＭ、であれば、Ｍが奇数であるか否かを判断しくス
テップ５３８）、Ｍが０若しくは偶数であれば、ステッ
プＳ２９に戻ってレンズ駆動方向を反転し上述の動作を
繰り返す。Ｍが奇数であれば、レンズ駆動方向を反転し
対物レンズをダウンさせるべくサーボコントローラ１５
を制御して漸次減少する傾斜状の駆動電圧（ＦＤ）を発
生させ（ステップ５３９）、Ｌ、かる後ステップＳ３０
に戻って上述の動作を繰り返す。
ステップＳ３０において、ＩＦＥＩ＜ＴＨと判定した場
合には、内部カウンタ■のカウント値ＭがＯ若しくは偶
数であるか否かを判断する（ステップ５４０）。Ｍが０
若しくは偶数と判定した場合には、駆動電圧ＦＤがその
上限［ＵＨ以上になったか否かを判断しくステップ５４
１）　、ＦＤ≧Ｕ）ｆであれば、内部カウンタ■のカウ
ントｒ１Ｍをインクリメントしくステップ５４２）、Ｌ
かる後ステップＳ３７に移行する。ＦＤ＜ＵＨであれば
、ステップＳ２９に戻って上述の動作を繰り返す。
一方、ステップＳ４０において、Ｍが奇数と判定した場
合には、駆動電圧ＦＤがその下限値ＵＬ以下になったか
否かを判断しくステップ８４３）、ＩＦＤＩ≦ＵＬであ
ればステップＳ４２に移行し、ＦＤ　ｌ　＞ＵＬであれ
ばステップＳ３９に移行する。
ステップＳ３７において、Ｍ≧Ｍ□と判定した場合には
、内部カウンタＩのカウント値Ｎが“１″′であるか否
かを判断しくステップ５４４）　、Ｎ−１であれば、対
物レンズのアップ／ダウン動作をＭ、回繰り返してもル
ープゲインの設定の基阜となる８字カーブのｐ−ｐ値を
１回も取り込めなかったことになるから、ゲイン設定す
ることなく上述した一連の処理を終了する。この場合に
は、例えば、再度上述した処理を繰り返す。Ｎ４１であ
れば、ステップ３３Ｂで最終的にメモリに保持されたｐ
−ｐ値の最大値に基づいてフォーカスサ−ボルーブのル
ープゲイン定数ＧＦを選定しくステップ５４５）、続い
て対物レンズをアップさせるべくサーボコントローラ１
５を制御して漸次増大する傾斜状の駆動電圧（ＦＤ）を
発生させ（ステップ５４６）　、Ｌ、かる後サーボルー
プをクローズ状態としくステップ５４７）、以上により
、ループゲイン定数ＣＦの選定のための一連の処理を終
了する。
なお、上述したフォーカスゲイン定数選定モードの処理
手順は一例に過ぎず、これに限定されるものではない。
続いて、先述したトラッキングゲイン定数選定モードの
処理手順の一例について第８図のフローチャートにした
がって説明する。なお、本処理は例えばスピンドルサー
ボの立上げの際にディスクの回転数が所定回転数（コン
パクトディスクの場合、例えば１００　［ｒ、ｐＪ、］
程度）に達した時点からループオーブン状態で実行され
るものとする。
また、ループオーブン状態では、トラッキングエラー信
号は第７図に示す如く変化する。
プロセッサは先ず初期設定により、内部レジスタに格納
される検出ピーク値Ｘ　ＰＰ＋　　Ｘ　ＰＮ及びＡ／Ｄ
変換のサンプリング周期に同期してカウントアツプする
タイマーカウンタのカウント値Ｔをそれぞれリセットし
くステップ５５１）、Ｌかる後トラッキングエラーデー
タＸを取り込む（ステップ５５２）。このエラーデータ
Ｘの取込みは上記サンプリング周期に同期して行なわれ
る。
続いて、エラーデータＸが正か否かを判断しくステップ
５５３）　、ｘ＞Ｑの場合には、エラーデータＸが前回
までの検出ピーク値ＸＰＰよりも大か否かを判断する（
ステップ５５４）。ｘ　＞　ｘ　ｐｐなる場合には、今
回取り込んだエラーデータＸを検出ピーク値ｘｐｐとし
て格納しくステップ５５５）、しかる後ステップ３５６
に移行する。Ｘ≦ＸＰＰなる場合には、直接ステップＳ
５６に移行する。ステップＳ５６においては、タイマー
カウンタのカウント値Ｔに基づいてエラーデータＸを取
り込む時間Ｔｏの管理を行ない、取込み時間Ｔｏとして
は、例えば、スピンドルサーボの立上げの際にディスク
の回転数が所定回転数に達した時点からディスクの少な
くとも１回転に要する時間が設定される。取込み時間Ｔ
ｏが経過していなければ、ステップＳ５２に戻って上述
の処理を繰り返す。
一方、ステップＳ５３でＸ≦０と判定した場合には、エ
ラーデータＸが前回までの検出ピーク値ＸＰＮ以下か否
かを判断する（ステップ５５７）。
Ｘ≦ＸＰＮなる場合には、今回取り込んだエラーデータ
Ｘを検出ピーク値ＸＰＮとして格納しくステップ８５８
）、Ｌかる後ステップＳ５６に移行する。
Ｘ＞ＸＰＮなる場合には、直接ステップＳ５６に移行す
る。そして、ステップＳ５６でエラーデータＸの取込み
時間Ｔｏが経過したと判定したら、その時点における検
出ピーク値ＸＰＰ＋　　ｘＰＮが正、負の最大ピーク値
ｐｐ＊　　ｐＮとなるため、これらピーク値ｐｐ＋　　
ｐＮに基づいて（ｐｐ　　９Ｎ）なる式からｐ−ｐ値を
算出しくステップ５５９）、続いてこのｐ　−ｐｍに対
応するゲイン定数ＧＴを選定しくステップ５６０）、Ｌ
かる後サーボループをクローズ状態としくステップ５６
１）、以上により、ループゲイン定数Ｇ工の選定のため
の一連の処理を終了する。
なお、上述したトラッキングゲイン定数選定モードの処
理手順は一例に過ぎず、これに限定されるものではなく
、例えば、ディスクを１００［ｒ、ｐ、ａ同程度の低回
転数で回転駆動しかつ情報読取用スポットをディスク半
径方向に移動させつつこのとき得られるトラッキングエ
ラーデータをサンプル値として取り込むようにすること
も可能である。
第９図は、システムコントローラ１９のプロセッサによ
って実行される本発明によるループゲイン設定方法の他
の実施例の処理手順を示すフローチャートであり、第４
図のフローチャートに示した先の実施例におけるゲイン
定数良否判定の処理部分（ステップ８７〜５１２）に対
応している。
プロセッサは先ず、Ａ／Ｄ変換器２０からＲＦエンベロ
ープデータを取り込んでＲＦエンベロープのｐ−ｐ値を
算出する（ステップ５７１）。このＲＦエンベロープの
ｐ−ｐ値の算出は、例えば、Ａ／Ｄ変換の際のサンプリ
ングタイミング毎に取り込むエラーデータの今回値を前
回値と比較し、上側の波高値の場合には今回値が前回値
以下となったときの前回値を、下側の波高値の場合には
今回値が前回値以上となったときの前回値をそれぞれ各
波高値とし、その差を求めることによって行なわれる。
そして、算出したＲＦエンベロープのｐ−ｐｌＲＦｐｐ
とその基準レベルＲＦＯとからＲＦＯ／ＲＦＰＰなる演
算式に基づいて判定基準定数Ｒを算出する（ステップ５
７２）。
続いて、第４図のステップＳ３及びステップＳ５で選定
されたフォーカスゲイン定数ＣＦ及びトラッキングゲイ
ン定数ＧＴと、ＲＦエンベロープ基準レしルＲＦ、に基
づいて設定された基準ゲイン定数ＧＦ　Ｏｒ　ｃｖ　Ｏ
とから、ＧＦＯ／ＧＦ及びＧＴＯ／Ｃ；Ｔなる演算式に
基づいてフォーカスゲイン定数ＣＦ及びトラッキングゲ
イン定数Ｇｙの各判定定数ＦＧ及びＴＧをそれぞれ算出
する（ステップ５７３）。そして、異常判定回数をカウ
ントするカウンタのカウント値Ｘをインクリメントしく
ステップ５７４）、そのカウント値Ｘが所定値Ｘｏ　　
（例えば、２）以上であるか否かを判断する（ステップ
５７５）。
ｘ＜ｘｇであれば、フォーカス判定定数ＦＧと判定基準
定数Ｒとの比（ＦＧ／Ｒ）が所定範囲内（Ｇ＋≧ＦＧ／
Ｒ≧ＧＬ）にあるか否かを判断する（ステップ５７６）
。そして、ＦＧ／Ｒが所定範囲外（ＦＧ／Ｒ＞Ｇ）−１
又はＧＬ　＞ＦＧ／Ｒ）であると判定した場合には、第
４図のステップＳ３で選定されたフォーカスゲイン定数
ＧＦの値が異常であると判断してフォーカスゲイン定数
ＣＦの再選定を行なう（ステップ５７７）。このステッ
プの処理は第４図のステップＳ３の処理と同じである。
ＧＨ≧Ｆに／Ｒ≧Ｇしの場合には、正常判定回数をカウ
ントするカウンタのカウント値Ｙをインクリメントする
（ステップ５７８）。
続いて、トラッキング判定定数ＴＧと判定基準定数Ｒと
の比（ＴＧ／Ｒ）が所定範囲内（ＧＨ≧ＴＧ／Ｒ≧ＧＬ
）にあるか否かを判断する（ステップ５７９）。そして
、ＴＧ／Ｒが所定範囲外（ＴＧ／Ｒ＞Ｇ１．４又はＧＬ
＞ＴＧ／Ｒ）である判定した場合には、第４図のステッ
プＳ５で選定されたトラッキングゲイン定数ＧＴの値が
異常であると判断してトラッキングゲイン定数６丁の再
選定を行ない（ステップ５８０）、Ｌかる後ステップ３
７３に戻って上述の処理を繰り返す。トラッキングゲイ
ン定数ＧＴの再選定の処理は第４図のステップＳ５の処
理と同じである。ＧＨ≧ＴＧ／Ｒ≧ＧＬの場合には、正
常判定回数カウンタのカウント値Ｙをインクリメントし
くステップ５８１）、そのカウント値Ｙが所定値Ｙｏ（
例えば、２）以上であるか否かを判断する（ステップ５
８２）。Ｙ≧ＹＯであれば、第４図のステップＳ３及び
ステップＳ５で選定されたフォーカスゲイン定数ＧＦ及
びトラッキングゲイン定数ＧＴが共に正常であったとし
てゲイン定数良否判定の処理を終了する。ｙ＜ｙ、）で
あれば、選定されたフォーカスゲイン定数ＣＦ及びトラ
ッキングゲイン定数Ｇ、の少なくとも一方が異常である
としてステップＳ７３に戻って上述の処理を繰り返す。
一方、ステップＳ７５において、Ｘ≧Ｘ、であると判定
した場合には、選定されたフォーカスゲイン定数ＣＦ又
はトラッキングゲイン定数ＧＴの値が例えば２回以上異
常であると判定したことになるので、いずれの定数が異
常であったか否かを判定するために、先ずＧＨ≧ＦＧ／
Ｒ≧ＧＬであるか否かを判断する（ステップ５８３）。
ＦＣ／Ｒ＞ＧＨ又はＧＬ　＞ＦＧ／Ｒであれば、フォー
カスゲイン定数ＣＦが異常であった訳であるから、フォ
ーカスゲイン定数ＣＦとして基準ゲイン定数（初期設定
値）ＧＦＱを設定する（ステップ５８４）。ＧＨ≧ＦＧ
／Ｒ≧ＧＬの場合又はステップＳ８４を経た後は、ＧＨ
≧ＴＧ／Ｒ≧ＧＬであるか否かを判断する（ステップ５
８５）。ＴＧ／Ｒ＞ＧＨ又はＧＬ　＞ＴＧ／Ｒであれば
、トラッキングゲイン定数ＧＴが異常であった訳である
から、トラッキングゲイン定数ＧＴとして基準ゲイン定
数（初期設定値）ＧＴＯを設定する（ステップ８８６）
。以上により、ゲイン定数良否判定の一連の処理を終了
する。
このように、ＲＦエンベロープの振幅の大きさを表わす
ｐ−ｐ値と選定されたフォーカスゲイン定数ＣＦ及びト
ラッキングゲイン定数ＧＴとを比較し、その比較結果が
否なる場合には、各ゲイン定数ＧＴ、ＧＴを再選定、又
は各ゲイン定数ＧＴ。
ＧＴとして初期設定値を設定することにより、ＲＦエン
ベロープのｐ−ｐ値から演奏するディスクの特性を把握
できるため、ディスクの特性等の影響を受けることなく
演奏するディスク毎に最適なループゲインを設定できる
ことになる。
発明の詳細 な説明したように、本発明によるループゲイン設定方法
によれば、フォーカスサーボループ及びトラッキングサ
ーボループの各ループゲインを設定後、これらループゲ
イン設定値を互いに比較することによって設定ループゲ
インの良否を判定することにより、ディスクの特性等の
影響を受けて不適正なループゲインを設定するようなこ
とを未然に防止できるため、ディスク演奏に際して最適
なループゲインを設定できることになる。
また、各ループゲイン設定値の少なくとも一方とＲＦエ
ンベロープの振幅検出値とを比較することによって設定
ループゲインの良否を判定することにより、ＲＦエンベ
ロープの振幅検出値から演奏するディスクの特性を把握
できるため、より最適なループゲインを設定できること
になる。
【図面の簡単な説明】
第１図は本発明によるループゲイン設定方法が適用され
るディスクプレーヤの信号処理系の構成を示すブロック
図、第２図は対物レンズのディスク面からの離間距離に
対するフォーカスエラー信号の波形変化を示す波形図、
第３図は記録トラックに対する情報読取用スポットの移
動位置とトラッキングエラー信号の関係を示す図、第４
図は本発明によるループゲイン設定方法の一実施例の処
理手順を示すフローチャート、第５図はフォーカスゲイ
ン定数選定モードにおける処理動作を説明するためのタ
イムチャート、第６図はフォーカスゲイン定数選定モー
ドにおける処理手順を示すフローチャート、第７図はル
ープオーブン状態において得られトラッキングエラー信
号の波形図、第８図はトラッキングゲイン定数選定モー
ドにおける処理手順を示すフローチャート、第９図は本
発明によるループゲイン設定方法の他の実施例の処理手
順にを示すフローチャートである。 主要部分の符号の説明 １〜３・・・・・・光電変換素子 ９．１０・・・・・・電圧制御増幅器 １３・・・・・・ディジタルイコライザ１４．１８・・
・・・・パルス幅変調回路１５・・・・・・サーボコン
トローラ １７・・・・・・ＲＦエンベロープ検波回路１９・・・
・・・システムコントローラ地２図 尾３ＶＪ 出願人　　　パイオニア株式会社

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. （１）フォーカスサーボループ及びトラッキングサーボ
    ループの各ループゲインを自動的に設定するサーボルー
    プのループゲイン設定方法であつて、フォーカスサーボ
    ループのループゲインを設定する第１行程と、 トラッキングサーボループのループゲインを設定する第
    ２行程と、 前記第１及び第２行程で設定された各ループゲイン設定
    値を互いに比較することによって設定ループゲインの良
    否を判定する第３行程とからなることを特徴とするサー
    ボループのループゲイン設定方法。
  2. （２）前記第３行程の判定結果が否の場合には、前記第
    １及び第２行程の少なくとも一方で設定されたループゲ
    インを再設定することを特徴とする請求項１記載のサー
    ボループのループゲイン設定方法。
  3. （３）前記第３行程の判定結果が否の場合には、前記第
    １及び第２行程の少なくとも一方で設定されたループゲ
    インとして初期設定値を設定することを特徴とする請求
    項１記載のサーボループのループゲイン設定方法。
  4. （４）フォーカスサーボループ及びトラッキングサーボ
    ループの各ループゲインを自動的に設定するサーボルー
    プのループゲイン設定方法であって、フォーカスサーボ
    ループのループゲインを設定する第１行程と、 トラッキングサーボループのループゲインを設定する第
    ２行程と、 情報記録ディスクからの読取ＲＦ信号のエンベロープの
    振幅の大きさを検出する第３行程と、前記第１及び第２
    行程の少なくとも一方で設定されたループゲイン設定値
    と前記第３行程で検出された検出値とを比較することに
    よって設定ループゲインの良否を判定する第４行程とか
    らなることを特徴とするサーボループのループゲイン設
    定方法。
  5. （５）前記第４行程の判定結果が否の場合には、前記第
    １及び第２行程の少なくとも一方で設定されたループゲ
    インを再設定することを特徴とする請求項４記載のサー
    ボループのループゲイン設定方法。
  6. （６）前記第４行程の判定結果が否の場合には、前記第
    １及び第２行程の少なくとも一方で設定されたループゲ
    インとして初期設定値を設定することを特徴とする請求
    項４記載のサーボループのループゲイン設定方法。
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