JPH0219456A - 乾式有機薄膜製造方法及び装置 - Google Patents
乾式有機薄膜製造方法及び装置Info
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- JPH0219456A JPH0219456A JP16903288A JP16903288A JPH0219456A JP H0219456 A JPH0219456 A JP H0219456A JP 16903288 A JP16903288 A JP 16903288A JP 16903288 A JP16903288 A JP 16903288A JP H0219456 A JPH0219456 A JP H0219456A
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- organic thin
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〈産業上の利用分野〉
本発明は、有機薄膜を真空蒸着法により製造する乾式有
機薄膜製造方法及びそれに用いろ装置に関する。
機薄膜製造方法及びそれに用いろ装置に関する。
〈従来の技術〉
有機薄膜を乾式で製造する手法としては真空蒸着法、プ
ラズマ重合法が一般的である。
ラズマ重合法が一般的である。
プラズマ重合法では基板上に重合した有機薄膜が堆積す
るが、その膜の化学組成は蒸発させた有機化合物がプラ
ズマの作用で分解するため元の有機化合物の化学組成と
は異なる。
るが、その膜の化学組成は蒸発させた有機化合物がプラ
ズマの作用で分解するため元の有機化合物の化学組成と
は異なる。
このため、有機化合物を分解させずに基板上でr4y1
.を形成するには真空蒸着法が用いられている。
.を形成するには真空蒸着法が用いられている。
真空蒸着法で有機薄膜を形成する場合の目的は専ら配向
性の高い有機薄膜を形成するととが対象になってお・す
、精力的な検討が行われている。需着装置においても、
近年、無機物質の分子線エピタキシャル装置を転用して
、高い真空度下で有機薄膜を製造することが行われてい
る。
性の高い有機薄膜を形成するととが対象になってお・す
、精力的な検討が行われている。需着装置においても、
近年、無機物質の分子線エピタキシャル装置を転用して
、高い真空度下で有機薄膜を製造することが行われてい
る。
〈発明が解決しようとする課題〉
しかし、上述したような精力的な研究にもかかわらず、
従来の真空蒸着法による薄膜形成は無機物用の真空蒸着
装置(分子線エピタキシャル装置も含む)をそのまま転
用して行われており、配向性の良い有機薄膜を製造する
には以下のような問題点に対する対策が全(なされてい
ない。
従来の真空蒸着法による薄膜形成は無機物用の真空蒸着
装置(分子線エピタキシャル装置も含む)をそのまま転
用して行われており、配向性の良い有機薄膜を製造する
には以下のような問題点に対する対策が全(なされてい
ない。
■ 有機化合物、とりわけ電子的、光学的機能を持つ有
機化合物では分子内に芳香族基や不飽和基を有するもの
が多いが、これらの化合物は会合状態に成り易く、従っ
て、これらをそのまま蒸着したのでは会合、非会合状態
の有機分子が混合して蒸発し、そのまま基板に到達する
。ある温度で蒸発した分子や原子の速度エネルギー分布
は一般にボルツマン分布に従うと考えられている。
機化合物では分子内に芳香族基や不飽和基を有するもの
が多いが、これらの化合物は会合状態に成り易く、従っ
て、これらをそのまま蒸着したのでは会合、非会合状態
の有機分子が混合して蒸発し、そのまま基板に到達する
。ある温度で蒸発した分子や原子の速度エネルギー分布
は一般にボルツマン分布に従うと考えられている。
このため、分子に会合、非会合状態がある・と分子量が
異なるために各々エネルギー分布の異なる分子の粒子が
基板に到達し、基板に到達したときのエネルギーが異な
るため、分子の基板上での整列配向が擾乱される。
異なるために各々エネルギー分布の異なる分子の粒子が
基板に到達し、基板に到達したときのエネルギーが異な
るため、分子の基板上での整列配向が擾乱される。
■ 基板上に原子を配列させる無機化合物の真空蒸着で
は分子線エピタキシャル法に見られるように、一般に基
板温度を高くして基板上に到達した原子、分子のマイグ
レーシリンエネルギーを適度に与えることで良好な結果
が得られている。しかし、有機化合物では蒸気圧が高く
、分解温度も低いため、基板温度をむやみに上げること
は基板上に到達した分子が再蒸発して基板に付着しない
、あるいは基板上で分解する結果となる。一方、基板温
度を下げた状態ではマイグレーシヨンするだけのエネル
ギーがないため、分子の基板上での整列配向は不完全、
あるいは全く整列配向しないと言う状態になる。
は分子線エピタキシャル法に見られるように、一般に基
板温度を高くして基板上に到達した原子、分子のマイグ
レーシリンエネルギーを適度に与えることで良好な結果
が得られている。しかし、有機化合物では蒸気圧が高く
、分解温度も低いため、基板温度をむやみに上げること
は基板上に到達した分子が再蒸発して基板に付着しない
、あるいは基板上で分解する結果となる。一方、基板温
度を下げた状態ではマイグレーシヨンするだけのエネル
ギーがないため、分子の基板上での整列配向は不完全、
あるいは全く整列配向しないと言う状態になる。
■ 無機化合物の蒸着では、基板に到達した分子や原子
は適当なマイグレーシロンエネルギーで基板上を移動し
、結合部位に到達したところで化学結合を形成して原子
や分子が整列配向する。ところが、有機分子の蒸着では
基板上に堆積する有機分子相互の結合は化学結合のよう
な強固な結合ではなく、それよりもはるかに結合力の弱
いファン・デル・ワールスカで行われる。このなめ、基
板に堆積した有機分子の方向を外部力で揃え、保持しな
ければ、引き続き基板に到達する分子の速度エネルギー
で整列配向が擾乱されろ。
は適当なマイグレーシロンエネルギーで基板上を移動し
、結合部位に到達したところで化学結合を形成して原子
や分子が整列配向する。ところが、有機分子の蒸着では
基板上に堆積する有機分子相互の結合は化学結合のよう
な強固な結合ではなく、それよりもはるかに結合力の弱
いファン・デル・ワールスカで行われる。このなめ、基
板に堆積した有機分子の方向を外部力で揃え、保持しな
ければ、引き続き基板に到達する分子の速度エネルギー
で整列配向が擾乱されろ。
■ 化学構造の異なる有機化合物を相互に堆積しようと
する場合には、両物質の薄膜の界面での整列配向状態が
電子的、光学的機能に大きな影響を及ぼすことは言うま
でもないが、有機化合物の蒸着では個々の分子種により
蒸発温度が大きく異なる。このため、基板面に到達する
有機分子粒子の持つ速度エネルギーは分子種により異な
り、そのまま蒸着したのでは同一の条件で基板面に堆積
することができず、異種化合物の堆積に置ける整列配向
状態の制御には大きな困難がある。
する場合には、両物質の薄膜の界面での整列配向状態が
電子的、光学的機能に大きな影響を及ぼすことは言うま
でもないが、有機化合物の蒸着では個々の分子種により
蒸発温度が大きく異なる。このため、基板面に到達する
有機分子粒子の持つ速度エネルギーは分子種により異な
り、そのまま蒸着したのでは同一の条件で基板面に堆積
することができず、異種化合物の堆積に置ける整列配向
状態の制御には大きな困難がある。
以上述べたように、従来においては上記のような配慮が
なされていないため、電子的、光学的機能を発現し得る
有機薄膜を製造しうる方法及び製造装置は皆無であった
。
なされていないため、電子的、光学的機能を発現し得る
有機薄膜を製造しうる方法及び製造装置は皆無であった
。
本発明はこのような事情に鑑み、整列配向した有機化合
物の薄膜を製造する乾式有機薄膜製造方法及び装置を提
供することを目的とする。
物の薄膜を製造する乾式有機薄膜製造方法及び装置を提
供することを目的とする。
く課題を解決するための手段〉
上記目的を達成する第1の発明にかかる乾式有機薄膜製
造方法は、少なくとも一種の蒸着母材である有機化合物
を真空下にて加熱して蒸発し、蒸発した有機化合物分子
粒子を少なくとも一つの基板上に堆積又は積層堆積する
真空蒸着法による乾式有機薄膜製造方法において、蒸発
した有機化合物分子粒子の飛行経路に設けたシャッタ機
構により任意の速度を有する有機化合物分子粒子を選択
して基板上に堆積又は積層堆積することを特徴とする。
造方法は、少なくとも一種の蒸着母材である有機化合物
を真空下にて加熱して蒸発し、蒸発した有機化合物分子
粒子を少なくとも一つの基板上に堆積又は積層堆積する
真空蒸着法による乾式有機薄膜製造方法において、蒸発
した有機化合物分子粒子の飛行経路に設けたシャッタ機
構により任意の速度を有する有機化合物分子粒子を選択
して基板上に堆積又は積層堆積することを特徴とする。
蒸着母材である有機化合物は加熱されるとボルツマン分
布に従う速度分布を持って蒸発するが、蒸発した有機化
合物分子粒子のうち任意の速度を有するものだけシャッ
タ機構を通過し、基板上に堆積する。
布に従う速度分布を持って蒸発するが、蒸発した有機化
合物分子粒子のうち任意の速度を有するものだけシャッ
タ機構を通過し、基板上に堆積する。
また、第2の発明にかかる乾式有機薄膜製造方法は、少
なくとも一種の蒸着母材である有機化合物を真空下にて
加熱して蒸発し、蒸発した有機化合物分子粒子を少なく
とも一つの基板上に堆積又は積層堆積する真空蒸着法に
よる乾式有機薄膜製造方法において、上記基板を超音波
振動させることにより当該基板に到達した有機化合物分
子のマイグレーシロンを行うことを特徴とする。
なくとも一種の蒸着母材である有機化合物を真空下にて
加熱して蒸発し、蒸発した有機化合物分子粒子を少なく
とも一つの基板上に堆積又は積層堆積する真空蒸着法に
よる乾式有機薄膜製造方法において、上記基板を超音波
振動させることにより当該基板に到達した有機化合物分
子のマイグレーシロンを行うことを特徴とする。
かかる方法においては、基板温度を高くできず、当該基
板に到達した有機化合物分子が基板上を移動して整列配
向するために必要なマイグレーシアンエネルギーを十分
与えられない場合にも、超音波振動により有機化合物分
子のマイグレーシンンを行うことができろ。
板に到達した有機化合物分子が基板上を移動して整列配
向するために必要なマイグレーシアンエネルギーを十分
与えられない場合にも、超音波振動により有機化合物分
子のマイグレーシンンを行うことができろ。
すなわち、有機化合物の整列配向が化学結合ではなく、
それよりも結合力の弱いファン・デル・ワールスカで行
われるため、外部から被蒸着基板へ印加されろ超音波エ
ネルギーにより十分なマイグレーシロン効果が得られる
。
それよりも結合力の弱いファン・デル・ワールスカで行
われるため、外部から被蒸着基板へ印加されろ超音波エ
ネルギーにより十分なマイグレーシロン効果が得られる
。
第3の発明は、上記第1又は第2の発明にかかる乾式有
機薄膜製造方法に加えて、上記基板表面に電界を形成す
るとともに当該基板表面に任意の波長、スペクトルを有
する光を照射するにとにより、当該基板に到達した有機
化合物分子を励起することを特徴とする。
機薄膜製造方法に加えて、上記基板表面に電界を形成す
るとともに当該基板表面に任意の波長、スペクトルを有
する光を照射するにとにより、当該基板に到達した有機
化合物分子を励起することを特徴とする。
かかる方法においては、蒸着の際に、電界を形成した基
板面に到達した有機化合物分子に光を照射すると、当該
有機化合物分子は励起され、その前の基底状態よりも大
きな双極子モーメントを持つようになる。このように励
起された有機化合物分子は当該基板表面の電場で一定方
向への整列配向が促進されろ。
板面に到達した有機化合物分子に光を照射すると、当該
有機化合物分子は励起され、その前の基底状態よりも大
きな双極子モーメントを持つようになる。このように励
起された有機化合物分子は当該基板表面の電場で一定方
向への整列配向が促進されろ。
また、基板表面でのマイグレーシアンにおいて有機化合
物分子が移動する際に、一定方向への配列制御が促進さ
れる。なお、かかる作用は、特に光励起状態で大きな双
極子モーメントを持つ電子供与性置換基と電子受容性置
換基を持つ分子に有効である。
物分子が移動する際に、一定方向への配列制御が促進さ
れる。なお、かかる作用は、特に光励起状態で大きな双
極子モーメントを持つ電子供与性置換基と電子受容性置
換基を持つ分子に有効である。
以下の発明は上記第1〜第3の発明にかかる方法を実施
するための乾式有機薄膜製造装置にかかり、第4の発明
は、真空下にて少なくとも一種の蒸着母材である有機化
合物を加熱する少な(とも一つの加熱機構と、該加熱機
構の加熱により蒸発された有機化合物分子粒子を堆積又
は積層堆積する少なくとも一つの基板を支持する基板支
持機構とを有する真空蒸着法による乾式有機薄膜製造装
置において、同軸上に連結された複数の回転シャッタ又
は軸に対して斜めに傾いた通路を周囲に等間隔に有する
円筒状回転体からなり上記加熱機構の加熱により蒸発さ
れた有機化合物分子粒子のうち所望の飛行速度を有する
有機化合物分子粒子成分のみを通過せしめろ少なくとも
一つのシャッタ機構を具えたことを特徴とする。
するための乾式有機薄膜製造装置にかかり、第4の発明
は、真空下にて少なくとも一種の蒸着母材である有機化
合物を加熱する少な(とも一つの加熱機構と、該加熱機
構の加熱により蒸発された有機化合物分子粒子を堆積又
は積層堆積する少なくとも一つの基板を支持する基板支
持機構とを有する真空蒸着法による乾式有機薄膜製造装
置において、同軸上に連結された複数の回転シャッタ又
は軸に対して斜めに傾いた通路を周囲に等間隔に有する
円筒状回転体からなり上記加熱機構の加熱により蒸発さ
れた有機化合物分子粒子のうち所望の飛行速度を有する
有機化合物分子粒子成分のみを通過せしめろ少なくとも
一つのシャッタ機構を具えたことを特徴とする。
また、第5の発明にかかる乾式有機薄膜製造装置は、真
空下にて少なくとも一種の蒸着母材である有機化合物を
加熱する少なくとも一つの加熱機構と、該加熱機構の加
熱により蒸発された有機化合物分子粒子を堆積又は積層
堆積する少なくとも一つの基板を支持する基板支持機構
とを有する真空蒸着法による乾式有機r4膜製造装置に
おいて、上記基板支持機構に支持されている基板を超音
波振動する超音波印加機構を具えたことを特徴とする。
空下にて少なくとも一種の蒸着母材である有機化合物を
加熱する少なくとも一つの加熱機構と、該加熱機構の加
熱により蒸発された有機化合物分子粒子を堆積又は積層
堆積する少なくとも一つの基板を支持する基板支持機構
とを有する真空蒸着法による乾式有機r4膜製造装置に
おいて、上記基板支持機構に支持されている基板を超音
波振動する超音波印加機構を具えたことを特徴とする。
また、第6の発明にかかる乾式有機薄膜製造装置は、上
記第4の発明にかかる乾式有機#膜製造装置におい゛て
、上記基板支持機構に支持されている基板を超音波振動
する超音波印加機構を具えたことを特徴とする。
記第4の発明にかかる乾式有機#膜製造装置におい゛て
、上記基板支持機構に支持されている基板を超音波振動
する超音波印加機構を具えたことを特徴とする。
さらに、第7の発明にかかる乾式有機薄膜製造装置は、
上記第4.第5又は第6の発明にかかる乾式有機薄膜製
造装置において、上記基板支持機構が当該基板表面に電
界を形成する少なくとも一対の電場を有するものであり
、且つ電界が形成された基板表面に任意の波長、スペク
トルを有する光を照射する光照射機構を具えたことを特
徴とする。
上記第4.第5又は第6の発明にかかる乾式有機薄膜製
造装置において、上記基板支持機構が当該基板表面に電
界を形成する少なくとも一対の電場を有するものであり
、且つ電界が形成された基板表面に任意の波長、スペク
トルを有する光を照射する光照射機構を具えたことを特
徴とする。
く実 施 例〉
以下、実施例により本発明をさらに詳細に説明する。
第1図には第1の実施例にかかる乾式有機薄膜製造装置
の概略を示す。同図に示すように、真空チャンバ10G
は排気口101で図示しない真空排気装置に接続されて
真空条件下に保持されるようになっている。かかる真空
チャンバIOQ内には蒸着母材110を加熱・蒸発させ
る加熱機構120と、蒸発した蒸着母材である有機化合
物分子を堆積させるための基板130を支持する基板支
持機構140とが設けられており、蒸発した有機化合物
分子粒子の飛行経路には、任意の速度分布の粒子のみを
選択的に通過させうるシャッター機構150が設けられ
ている。図中、加熱機構120としては蒸着母材110
を入れる坩堝121と該坩堝121の開口を覆って当該
坩堝121から蒸発する有機化合物分子粒子線の形状を
整形するための所望の開口部122を有する整形板12
3とを図示し、坩堝121を加熱するヒータや坩堝12
1の温度をモニタする熱電対等は省略した。この加熱機
構120は、真空チャンバ100外にある、電力調整話
、調節計等からなる図示しない温度制御装置に接続され
ており、坩堝121の温度を所望の温度に調節できるよ
うになっている。
の概略を示す。同図に示すように、真空チャンバ10G
は排気口101で図示しない真空排気装置に接続されて
真空条件下に保持されるようになっている。かかる真空
チャンバIOQ内には蒸着母材110を加熱・蒸発させ
る加熱機構120と、蒸発した蒸着母材である有機化合
物分子を堆積させるための基板130を支持する基板支
持機構140とが設けられており、蒸発した有機化合物
分子粒子の飛行経路には、任意の速度分布の粒子のみを
選択的に通過させうるシャッター機構150が設けられ
ている。図中、加熱機構120としては蒸着母材110
を入れる坩堝121と該坩堝121の開口を覆って当該
坩堝121から蒸発する有機化合物分子粒子線の形状を
整形するための所望の開口部122を有する整形板12
3とを図示し、坩堝121を加熱するヒータや坩堝12
1の温度をモニタする熱電対等は省略した。この加熱機
構120は、真空チャンバ100外にある、電力調整話
、調節計等からなる図示しない温度制御装置に接続され
ており、坩堝121の温度を所望の温度に調節できるよ
うになっている。
本実施例でシャッタ機構150は、モータ151と、こ
のモータ151の回転軸152に結合された2枚の回転
シャッタ153.154とからなる。回転シャッタ15
3,154のそれぞれには、図示しないスリットが形成
されており、このスリット同士のずれ、回転シャッタ1
53,154の間隔及び回転速度などを変化させること
により、任意の速度の有機化合物分子粒子のみを通過し
うるような開閉動作が実現される。なお、モータ151
の駆動の制御は、真空チャンバ100外に設置される図
示しない制御装置により行われる。
のモータ151の回転軸152に結合された2枚の回転
シャッタ153.154とからなる。回転シャッタ15
3,154のそれぞれには、図示しないスリットが形成
されており、このスリット同士のずれ、回転シャッタ1
53,154の間隔及び回転速度などを変化させること
により、任意の速度の有機化合物分子粒子のみを通過し
うるような開閉動作が実現される。なお、モータ151
の駆動の制御は、真空チャンバ100外に設置される図
示しない制御装置により行われる。
坩堝121内で加熱されてその加熱温度におけるボルツ
マン分布に従った速度分布を持って蒸発した有機化合物
分子粒子線は、まず、回転する第一の回転シャッタ15
3に到達する。かかる粒子線は第一の回転シャッタ15
3の開閉により開状態のときのみ通過して、飛行粒子が
パルス状に成形される。次いで、このパルス状になった
飛行粒子は一定の距離を置いて設置された回転する第二
の回転シャッタ154に到達することになるが、第一の
回転シャッタ153を通過した飛行粒子は速度分布を有
して速度の速いものから順次到達し、第二のシャッタ1
54が開状態のとき到達した飛行粒子のみが通過して、
基板130に堆積する。すなわち、第二のシャッタ15
4を、所望の速度分布を有する飛行粒子が到達するとき
のみ開状態となるように設定すれば、所望の速度エネル
ギーを有する有機化合物分子のみを基板130上に堆積
することができる。
マン分布に従った速度分布を持って蒸発した有機化合物
分子粒子線は、まず、回転する第一の回転シャッタ15
3に到達する。かかる粒子線は第一の回転シャッタ15
3の開閉により開状態のときのみ通過して、飛行粒子が
パルス状に成形される。次いで、このパルス状になった
飛行粒子は一定の距離を置いて設置された回転する第二
の回転シャッタ154に到達することになるが、第一の
回転シャッタ153を通過した飛行粒子は速度分布を有
して速度の速いものから順次到達し、第二のシャッタ1
54が開状態のとき到達した飛行粒子のみが通過して、
基板130に堆積する。すなわち、第二のシャッタ15
4を、所望の速度分布を有する飛行粒子が到達するとき
のみ開状態となるように設定すれば、所望の速度エネル
ギーを有する有機化合物分子のみを基板130上に堆積
することができる。
かかる第1の実施例の装置は第1の発明を実施するため
の装置の一具体例であり、この装置を用いろことにより
、任意の速度成分を持つ有機化合物分子粒子の蒸着が可
能となり、速度エネルギーの揃った有機化合物分子粒子
を基板上に堆積することができろ。また、例えば、従来
困難であった低温で蒸発する有機化合物分子でも速い速
度をもつ粒子での蒸着や逆に高い温度で蒸発する有機化
合物分子を遅い速度成分のみ取り出して蒸着することも
できる。さらに、分子の会合、非会合状態があろ場合に
は、それぞれ分子量が異なり、その蒸発の速度成分が異
なるので、これらを区別して基板上に堆積することも可
能となる。
の装置の一具体例であり、この装置を用いろことにより
、任意の速度成分を持つ有機化合物分子粒子の蒸着が可
能となり、速度エネルギーの揃った有機化合物分子粒子
を基板上に堆積することができろ。また、例えば、従来
困難であった低温で蒸発する有機化合物分子でも速い速
度をもつ粒子での蒸着や逆に高い温度で蒸発する有機化
合物分子を遅い速度成分のみ取り出して蒸着することも
できる。さらに、分子の会合、非会合状態があろ場合に
は、それぞれ分子量が異なり、その蒸発の速度成分が異
なるので、これらを区別して基板上に堆積することも可
能となる。
なお、本発明に用いる加熱機構は例えば、通常の真空蒸
着に使用される金属ボートや分子線エピタキシャルに使
用されるクメードセンセル等が使用でき、有機化合物を
真空中で加熱蒸発できるものであれば特に限定されない
。
着に使用される金属ボートや分子線エピタキシャルに使
用されるクメードセンセル等が使用でき、有機化合物を
真空中で加熱蒸発できるものであれば特に限定されない
。
第2図には第2の実施例にかかる乾式有機薄膜製造装置
の概略を示す。なお、第1の実施例と同一の部材には同
一符号を付して重複した説明は省略する。
の概略を示す。なお、第1の実施例と同一の部材には同
一符号を付して重複した説明は省略する。
第2図に示すように、真空チャンバ100内には蒸着母
材110A、ll0Bをそれぞれ加熱蒸発させる二組の
加熱機構120と、基板130A、130Bを支持する
基板支持機構240とが設けられており、加熱機構12
0と基板支持機構240との間にはシャッタ機構150
が配設されている。そして本実施例の基板支持機構24
0は、基板130A。
材110A、ll0Bをそれぞれ加熱蒸発させる二組の
加熱機構120と、基板130A、130Bを支持する
基板支持機構240とが設けられており、加熱機構12
0と基板支持機構240との間にはシャッタ機構150
が配設されている。そして本実施例の基板支持機構24
0は、基板130A。
130Bを固着した基板支持台241とこの基板支持台
241を回転自在に支持するモータ242とからなる。
241を回転自在に支持するモータ242とからなる。
なお、モータ242の駆動の制御は、モータ151と同
様に真空チャンバ100外に設置された図示しない制御
装置により行われる。
様に真空チャンバ100外に設置された図示しない制御
装置により行われる。
かかる第2の実施例の装置も第1の発明を実施するため
の一具体例である。本装置によると、蒸着母材110A
、ll0Bから蒸発した有機化合物分子粒子のうち所望
の速度のものだけが回転シャッタ153,154を通過
する。このようにして独立して到達する2種類の飛行有
機化合物分子粒子の飛行経路に、基板130A、130
Bが交互に移動するように基板支持台241を回転する
と、基板130A、130Bそれぞれに、2種類の有機
化合物を積層することができる。この際、回転シャッタ
153,154を回転駆動するモータ151の回転速度
を変調するにとにより、各蒸着母材110A、ll0B
からの蒸発分子を、それぞれ異なる速度成分で通過さぜ
ることもでざる。
の一具体例である。本装置によると、蒸着母材110A
、ll0Bから蒸発した有機化合物分子粒子のうち所望
の速度のものだけが回転シャッタ153,154を通過
する。このようにして独立して到達する2種類の飛行有
機化合物分子粒子の飛行経路に、基板130A、130
Bが交互に移動するように基板支持台241を回転する
と、基板130A、130Bそれぞれに、2種類の有機
化合物を積層することができる。この際、回転シャッタ
153,154を回転駆動するモータ151の回転速度
を変調するにとにより、各蒸着母材110A、ll0B
からの蒸発分子を、それぞれ異なる速度成分で通過さぜ
ることもでざる。
かかる第2の実施例の装置により、複数の有機化合物を
積層堆積する場会に各化合物間で蒸発1度が異なり、従
って基板に到達する各化合物の速度エネルギーが不揃い
で制御困難であったと言う従来の問題を解決することが
できる。すなわち、独立した蒸発源である加熱機構12
0からの蒸発分子を単一のシャッター機構150により
各有機化合物分子粒子の速度エネルギーを揃える、ある
いは各々について最適な速度エネルギーを選択して基板
130A、130Bに堆積することが可能である。また
、各々の化合物について会合、非会合状態を分離区別し
て基板130A。
積層堆積する場会に各化合物間で蒸発1度が異なり、従
って基板に到達する各化合物の速度エネルギーが不揃い
で制御困難であったと言う従来の問題を解決することが
できる。すなわち、独立した蒸発源である加熱機構12
0からの蒸発分子を単一のシャッター機構150により
各有機化合物分子粒子の速度エネルギーを揃える、ある
いは各々について最適な速度エネルギーを選択して基板
130A、130Bに堆積することが可能である。また
、各々の化合物について会合、非会合状態を分離区別し
て基板130A。
130Bに堆積できることも第1の実施例と同様である
。
。
第3図には、第3の実施例にかかる乾式有機;導膜製造
装置の概略を示す。なお、上述した実施例と同一の部材
には同一符号を付して′m複した説明は省略する。
装置の概略を示す。なお、上述した実施例と同一の部材
には同一符号を付して′m複した説明は省略する。
第3図に示すように、本実施例は、蒸着母材110A、
ll0Bからの蒸発分子の飛行経路にそれぞれ独立しt
コシャッタ機構150A。
ll0Bからの蒸発分子の飛行経路にそれぞれ独立しt
コシャッタ機構150A。
150Bを配設した点が第2の実施例と異なり、2組の
加熱機構120と基板支持機構240は第2の実施例と
同様である。また、シャッタ機構150A、150Bの
構成も第2の実施例のシャッタ機構150と同様である
ので説明は省略する。
加熱機構120と基板支持機構240は第2の実施例と
同様である。また、シャッタ機構150A、150Bの
構成も第2の実施例のシャッタ機構150と同様である
ので説明は省略する。
かかる第2の実施例の装置においては、蒸a母材110
A、ll0Bそれぞれに対応する独立したシャッタ機構
150A、 150Bを設けているので、第2の実施
例のようにモータ151に特にその回転を変調する機構
を設けなくてもそれぞれのシャッタ機構150A。
A、ll0Bそれぞれに対応する独立したシャッタ機構
150A、 150Bを設けているので、第2の実施
例のようにモータ151に特にその回転を変調する機構
を設けなくてもそれぞれのシャッタ機構150A。
150Bのモータ151の回転を独立して制御するにと
により、g着母材110A、 ll0B各々について
最適な速度エネルギを選択して基板130A、130B
に堆積することが可能となる。
により、g着母材110A、 ll0B各々について
最適な速度エネルギを選択して基板130A、130B
に堆積することが可能となる。
第4図及び第5図には第4の実施例にかかる乾式有機薄
M製造装置の概略を示す。なお、上述した実施例と同一
部材には同一符号を付し−CH復する説明は省略する。
M製造装置の概略を示す。なお、上述した実施例と同一
部材には同一符号を付し−CH復する説明は省略する。
第4図に示すように、真空チャンバ100内には蒸着母
材110を加熱・蒸発する加熱機H4220と、蒸発分
子を堆積させるための基板130を支持する基板支持機
構140とが配設されている。加熱機構220としては
蒸着母材110を入れる坩堝221のみを示し、坩堝2
21を加熱するヒータや坩堝221の温度をモニタする
熱電対等の表示は省略した。
材110を加熱・蒸発する加熱機H4220と、蒸発分
子を堆積させるための基板130を支持する基板支持機
構140とが配設されている。加熱機構220としては
蒸着母材110を入れる坩堝221のみを示し、坩堝2
21を加熱するヒータや坩堝221の温度をモニタする
熱電対等の表示は省略した。
また、基板130を支持する基板支持機構140には第
5図に示すように超音波印加機構が組み込まれている。
5図に示すように超音波印加機構が組み込まれている。
同図に示すように、基板130内には超音波振動子16
1が組込まれており、かかる基板130は基板支持機構
140に組込まれた基板ホルダ162に支持されている
。そして、超音波振動子161からのリード線163は
基板ホルダ162内の端子164に接線され、さらに基
板ホルダ162と基板支持機構140との接点165を
介して超音波導入用端子166に接続されている。この
超音波導入用端子166はケーブル167を介して真空
チャンバ100外の超音波素子駆動装置168に接続さ
れている。
1が組込まれており、かかる基板130は基板支持機構
140に組込まれた基板ホルダ162に支持されている
。そして、超音波振動子161からのリード線163は
基板ホルダ162内の端子164に接線され、さらに基
板ホルダ162と基板支持機構140との接点165を
介して超音波導入用端子166に接続されている。この
超音波導入用端子166はケーブル167を介して真空
チャンバ100外の超音波素子駆動装置168に接続さ
れている。
このような超音波印加機構により、基板130に超音波
を印加することができ、これにより基板130に到達し
た有機化合物分子に十分なマイグレーシリンエネルキー
ヲ与、(ろことができる。
を印加することができ、これにより基板130に到達し
た有機化合物分子に十分なマイグレーシリンエネルキー
ヲ与、(ろことができる。
超音波の印加は、このように基板に直接行う他、基板固
定する試料台に印加して間接的に基板を振動させても良
いが、発明者らが行った結果によれば基板に直接印加す
るものでより好適な結果が得られた。超音波の印加方法
や周波数は、用いる基板の材質や大きさ、蒸着する材料
によって異なるために特に限定されないが、通常の超音
波印加に使用される方法、市販の超音波振動子、駆動*
aは特別な改良なく使用可能であった。即ち、超音波振
動子としては例えば、圧電作用による水晶、硫酸リチウ
ム、ポリビニリデンフロライド等、電工作用によるニオ
ブ酸リチウム、チタン酸バリウムとジルコン酸鉛の固溶
体(PZT)等、磁歪作用のあるフェライト等を用いた
ものが挙げられる。超音波周波数は典型的には数十是〜
数百肚の間で適宜選択すれば良い。
定する試料台に印加して間接的に基板を振動させても良
いが、発明者らが行った結果によれば基板に直接印加す
るものでより好適な結果が得られた。超音波の印加方法
や周波数は、用いる基板の材質や大きさ、蒸着する材料
によって異なるために特に限定されないが、通常の超音
波印加に使用される方法、市販の超音波振動子、駆動*
aは特別な改良なく使用可能であった。即ち、超音波振
動子としては例えば、圧電作用による水晶、硫酸リチウ
ム、ポリビニリデンフロライド等、電工作用によるニオ
ブ酸リチウム、チタン酸バリウムとジルコン酸鉛の固溶
体(PZT)等、磁歪作用のあるフェライト等を用いた
ものが挙げられる。超音波周波数は典型的には数十是〜
数百肚の間で適宜選択すれば良い。
第4の実施例に示した超音波印加機構は上述した第1〜
第3の実施例の装置(装置例1〜3とする)に組込むこ
とが可能である(装置例5〜7とする)。この場合、第
2及び第3の実施例の装置では基板支持機構240の支
持台241が回転するので、第5図に示す超音波導入用
端子166に相当するものを回転接点とする必要がある
。
第3の実施例の装置(装置例1〜3とする)に組込むこ
とが可能である(装置例5〜7とする)。この場合、第
2及び第3の実施例の装置では基板支持機構240の支
持台241が回転するので、第5図に示す超音波導入用
端子166に相当するものを回転接点とする必要がある
。
さらに、以上説明した各装置(装置例1〜7)には基板
表面に光照射と電場の印加とを同時に行う機構をそれぞ
れ組み込むことができ、これにより基板表面での一定方
向への配列制御が促進される。この際、基板に照射され
る光の波長は蒸着する分子が光吸収する波長から選ばれ
、単色光でも広いスペクトルを持った光でも良い。光源
としては、例えば各種レーザーや水銀灯、キセノン灯が
挙げられろ。基板表面に加えろ電界の程度は蒸着する材
料により異なるが、通常は数mm間隔の電極で数kVか
ら数十kV程度が好適である。
表面に光照射と電場の印加とを同時に行う機構をそれぞ
れ組み込むことができ、これにより基板表面での一定方
向への配列制御が促進される。この際、基板に照射され
る光の波長は蒸着する分子が光吸収する波長から選ばれ
、単色光でも広いスペクトルを持った光でも良い。光源
としては、例えば各種レーザーや水銀灯、キセノン灯が
挙げられろ。基板表面に加えろ電界の程度は蒸着する材
料により異なるが、通常は数mm間隔の電極で数kVか
ら数十kV程度が好適である。
このように、上述した各装置に組み込むことができ、基
板表面に光照射と電場の印加とを同時に行う装置の一例
を第6図に示す。同図に示すように、基板支持機構14
0には基板130を支持する基板ホルダ171が組込ま
れており、基板130表面には一対の電場形成用電極1
72が配設されている。この電場形成用電極172から
のリード5173は基板ホルダ171内の端子174に
接続され、さらに基板ホルダ171と基板支持機構14
0との接点175を介して高電圧導入端子176に接続
されている。さらに、この高電圧導入端子176はケー
ブルを介して真空チャンバ外に置かれる図示しない高電
圧印加装置に接続されている。また、光照射は光照射窓
177を介して基板130の裏面側から行うように構成
されている。
板表面に光照射と電場の印加とを同時に行う装置の一例
を第6図に示す。同図に示すように、基板支持機構14
0には基板130を支持する基板ホルダ171が組込ま
れており、基板130表面には一対の電場形成用電極1
72が配設されている。この電場形成用電極172から
のリード5173は基板ホルダ171内の端子174に
接続され、さらに基板ホルダ171と基板支持機構14
0との接点175を介して高電圧導入端子176に接続
されている。さらに、この高電圧導入端子176はケー
ブルを介して真空チャンバ外に置かれる図示しない高電
圧印加装置に接続されている。また、光照射は光照射窓
177を介して基板130の裏面側から行うように構成
されている。
かかる機構は上述した容袋′a(装置例1〜7)に組み
込むことが可能である(装置例8〜14とする)が、例
えば第2図、第3図に示す装置例2,3のように基板支
持機構が回転部分を含む場合には、高電圧導入端子17
6を回転接点とし、また、加熱機構が複数のものについ
ては各々独立して光照射ができるようにした。
込むことが可能である(装置例8〜14とする)が、例
えば第2図、第3図に示す装置例2,3のように基板支
持機構が回転部分を含む場合には、高電圧導入端子17
6を回転接点とし、また、加熱機構が複数のものについ
ては各々独立して光照射ができるようにした。
さらに、上述した各装置におけるシャッタ機構150.
150A、150Bは例えば第7図に示すような、軸に
対して斜めに傾いた通路を周囲に等間隔に有する円筒状
回転体に置き換えることが可能である。すなわち、この
回転体250は回転軸251を有する円筒体252の局
面に軸に対して斜めに傾いたフィン253が等間隔に配
設されたものであり、各フィン253の間が有機化合物
分子が通過する通$254となっている。このような回
転体250においては、回転数、フィン253の傾き及
びフィン253同士の間隔を変化させることにより、任
意の速度成分を有する有機化合物分子のみを通過させろ
ように設定することができる。
150A、150Bは例えば第7図に示すような、軸に
対して斜めに傾いた通路を周囲に等間隔に有する円筒状
回転体に置き換えることが可能である。すなわち、この
回転体250は回転軸251を有する円筒体252の局
面に軸に対して斜めに傾いたフィン253が等間隔に配
設されたものであり、各フィン253の間が有機化合物
分子が通過する通$254となっている。このような回
転体250においては、回転数、フィン253の傾き及
びフィン253同士の間隔を変化させることにより、任
意の速度成分を有する有機化合物分子のみを通過させろ
ように設定することができる。
(試験例1〜3)(比較例1)
蒸着母材にフタロシアニンを用いて、装置例1の装置(
試験例1)、装置例4の装置(試験例2)、装置例5の
装置(試験例3)で蒸着した。蒸着速度は毎秒5 nm
として1声厚に基板上に堆積した。
試験例1)、装置例4の装置(試験例2)、装置例5の
装置(試験例3)で蒸着した。蒸着速度は毎秒5 nm
として1声厚に基板上に堆積した。
シャッター機構としては、19cm径のベリリウム銅合
金の円盤からなる回転シャッタを2枚を1cm間隔で設
置した。円盤に開けたスリットは中心から9cmの部分
で211IIllの開口とし、これと相似になるように
半径方向に1 am長とした。回転速度は? 000
rpmである。
金の円盤からなる回転シャッタを2枚を1cm間隔で設
置した。円盤に開けたスリットは中心から9cmの部分
で211IIllの開口とし、これと相似になるように
半径方向に1 am長とした。回転速度は? 000
rpmである。
また、加熱機構の整形板は1cm四方の開口とした。超
音波の印加は、超音波振動子にニオブ酸リチウムを用い
てこれを基板側面に張り付け、8肚で振動させた。なお
、基板には石英ガラスを用いた。
音波の印加は、超音波振動子にニオブ酸リチウムを用い
てこれを基板側面に張り付け、8肚で振動させた。なお
、基板には石英ガラスを用いた。
各蒸11膜について整列配向の程度を比較した。なお、
整列配向の程度は、傷光顛徴鏡の消光比で評価した。
整列配向の程度は、傷光顛徴鏡の消光比で評価した。
比較のため、装置例4の装置で超音波の印加しない場合
で行った(比較例1)。
で行った(比較例1)。
これらの結果を第1表にまとめて示す。本発明の装置を
用いた場合には高い消光比が得られ、整列配向の度合が
良いことがわかる。
用いた場合には高い消光比が得られ、整列配向の度合が
良いことがわかる。
第 1 表
試 験 例 2 82:1試
験 例 3 134: 1(試験例
4〜6)(比較例2) 蒸着母材に2−メチルニトロアニリンを用いて、装置例
8の装置(試験例4)、装置例11の装置(試験例5)
、装置例12の装置(試験例6)で蒸着した。蒸着速度
は毎秒5鴎として1声厚に基板上に堆積した。
験 例 3 134: 1(試験例
4〜6)(比較例2) 蒸着母材に2−メチルニトロアニリンを用いて、装置例
8の装置(試験例4)、装置例11の装置(試験例5)
、装置例12の装置(試験例6)で蒸着した。蒸着速度
は毎秒5鴎として1声厚に基板上に堆積した。
シャッター機構及び超音波の印加は、上述した試験例1
〜3と同様とした。
〜3と同様とした。
電界の印加は1対の電極を5間間隔で基板表面に取り付
けることにより行い、10kVの電圧を印加した。また
光照射にはキセノン灯を用いた。なお、基板にはラビン
グ処理をしたネサコート石英ガラスを用いた。
けることにより行い、10kVの電圧を印加した。また
光照射にはキセノン灯を用いた。なお、基板にはラビン
グ処理をしたネサコート石英ガラスを用いた。
各蒸着膜の整列配向の程度を同様に調べた。
なお、比較のため、装置例11の装置で超音波、電場の
印加しない蒸着を行った(比較例2)。
印加しない蒸着を行った(比較例2)。
これらの結果を第2表にまとめて示す。本発明の装置を
用いた場合には高い消光比が得られ、整列配向の度合が
良いことがわかる。
用いた場合には高い消光比が得られ、整列配向の度合が
良いことがわかる。
第 2
表
消光比
試 験 例 4 32:1試
験 例 5 57:1試験例6
98:1 比 較 例 2 整列配向なしく試験例7〜1
4)(比較例3) si母材に銅フタロシアニンとアントラセンの2[1の
−W機化合物の積層膜を作るため、装置例2の装W(実
施例7)、装置例3の装置(実施例8)、装置例6の装
置(実施例9)、装置例7の装M(*施例10)、装置
例9の装置(実施例11)、装置例10の装置(実施例
12)、装置例13の装置(実施例13)、装置例14
の装置(実施例14)で蒸着した。
験 例 5 57:1試験例6
98:1 比 較 例 2 整列配向なしく試験例7〜1
4)(比較例3) si母材に銅フタロシアニンとアントラセンの2[1の
−W機化合物の積層膜を作るため、装置例2の装W(実
施例7)、装置例3の装置(実施例8)、装置例6の装
置(実施例9)、装置例7の装M(*施例10)、装置
例9の装置(実施例11)、装置例10の装置(実施例
12)、装置例13の装置(実施例13)、装置例14
の装置(実施例14)で蒸着した。
蒸着速度は毎秒2cmとして50rua間隔でSOO隨
厚に基板上に堆積した。
厚に基板上に堆積した。
シャッター機構、超音波の印加、電界の印加及び光照射
は試験例4〜6と同様とした。
は試験例4〜6と同様とした。
になお、基板には石英ガラスを用いた。
このように得られた各積層膜はオージェ電子分光法で深
さ方向の組成を分析した。
さ方向の組成を分析した。
比較のため、装置例2の装置でシャッター機構を除いた
もので蒸着を行った(比較例3)。
もので蒸着を行った(比較例3)。
第3表の結果は、深さ方向の銅原子の存在を測定してこ
れから界面での2種の有機化合物の混合の程度、すなわ
ち2種の有機化合物が所期の目的通り積層されているか
を銅フタロシアニンのみの層の厚みから評価したもので
ある。比較例では銅原子の存在の周期は見られろものの
膜方向全ての層に銅原子がamされたのに対し、本発明
の装置を用いることにより層構造を持つ有機薄膜の得ら
れる乙と第 3 表 試験例7 42 試験例8 39 試験例9 33 試験例10 35 試験例11 40 試験例12 45 試験例13 36 試験例14 38 比較例30 〈発明の効果〉 以上説明したように、本発明によると、有機化合物の乾
式4%形成において整列配向したあるいは明瞭な層構造
を有するR膜を得ることができろ。
れから界面での2種の有機化合物の混合の程度、すなわ
ち2種の有機化合物が所期の目的通り積層されているか
を銅フタロシアニンのみの層の厚みから評価したもので
ある。比較例では銅原子の存在の周期は見られろものの
膜方向全ての層に銅原子がamされたのに対し、本発明
の装置を用いることにより層構造を持つ有機薄膜の得ら
れる乙と第 3 表 試験例7 42 試験例8 39 試験例9 33 試験例10 35 試験例11 40 試験例12 45 試験例13 36 試験例14 38 比較例30 〈発明の効果〉 以上説明したように、本発明によると、有機化合物の乾
式4%形成において整列配向したあるいは明瞭な層構造
を有するR膜を得ることができろ。
第1図〜第7図は本発明にかかり、第1図〜第4図は第
1〜第4の実施例の乾式有機薄膜製造装置の概略図、第
5図は超音波印加機構を示す概略図、第6図は電場印加
及び光照射を行うための装置例を示す概略図、第7図は
シャッタ機構となる回転円筒体を示す斜視図である。 図 面 中、 100は真空チャンバ、 110、ll0A、ll0Bは蒸着は材、120.12
0A、120B、220は加熱機構、 130.130A、130Bは基板、 140.240は基板支持機構、 150.150A、150Bはシャッタ機構、 153.154は回転シャッタ、 161は超音波振動子、 168は超音波素子駆動装置、 172は電場形成用′aA極、 177ば光照射窓、 250は回転体、 252は円筒体、 253はフィン、 254は通路である。 第 図 特 許 出 願 人 日本電信電話株式会社 代・ 理 人
1〜第4の実施例の乾式有機薄膜製造装置の概略図、第
5図は超音波印加機構を示す概略図、第6図は電場印加
及び光照射を行うための装置例を示す概略図、第7図は
シャッタ機構となる回転円筒体を示す斜視図である。 図 面 中、 100は真空チャンバ、 110、ll0A、ll0Bは蒸着は材、120.12
0A、120B、220は加熱機構、 130.130A、130Bは基板、 140.240は基板支持機構、 150.150A、150Bはシャッタ機構、 153.154は回転シャッタ、 161は超音波振動子、 168は超音波素子駆動装置、 172は電場形成用′aA極、 177ば光照射窓、 250は回転体、 252は円筒体、 253はフィン、 254は通路である。 第 図 特 許 出 願 人 日本電信電話株式会社 代・ 理 人
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1)少なくとも一種の蒸着母材である有機化合物を真空
下にて加熱して蒸発し、蒸発した有機化合物分子粒子を
少なくとも一つの基板上に堆積又は積層堆積する真空蒸
着法による乾式有機薄膜製造方法において、蒸発した有
機化合物分子粒子の飛行経路に設けたシャッタ機構によ
り任意の速度を有する有機化合物分子粒子を選択して基
板上に堆積又は積層堆積することを特徴とする乾式有機
薄膜製造方法。 2)少なくとも一種の蒸着母材である有機化合物を真空
下にて加熱して蒸発し、蒸発した有機化合物分子粒子を
少なくとも一つの基板上に堆積又は積層堆積する真空蒸
着法による乾式有機薄膜製造方法において、上記基板を
超音波振動させることにより当該基板に到達した有機化
合物分子のマイグレーションを行うことを特徴とする乾
式有機薄膜製造方法。3)請求項1又は2記載の乾式有
機薄膜製造方法において、上記基板表面に電界を形成す
るとともに当該基板表面に任意の波長、スペクトルを有
する光を照射するにとにより、当該基板に到達した有機
化合物分子を励起することを特徴とする乾式有機薄膜製
造方法。 4)真空下にて少なくとも一種の蒸着母材である有機化
合物を加熱する少なくとも一つの加熱機構と、該加熱機
構の加熱により蒸発された有機化合物分子粒子を堆積又
は積層堆積する少なくとも一つの基板を支持する基板支
持機構とを有する真空蒸着法による乾式有機薄膜製造装
置において、同軸上に連結された複数の回転シャッタ又
は軸に対して斜めに傾いた通路を周囲に等間隔に有する
円筒状回転体からなり上記加熱機構の加熱により蒸発さ
れた有機化合物分子粒子のうち所望の飛行速度を有する
有機化合物分子粒子成分のみを通過せしめる少なくとも
一つのシャッタ機構を具えたことを特徴とする乾式有機
薄膜製造装置。 5)真空下にて少なくとも一種の蒸着母材である有機化
合物を加熱する少なくとも一つの加熱機構と、該加熱機
構の加熱により蒸発された有機化合物分子粒子を堆積又
は積層堆積する少なくとも一つの基板を支持する基板支
持機構とを有する真空蒸着法による乾式有機薄膜製造装
置において、上記基板支持機構に支持されている基板を
超音波振動する超音波印加機構を具えたことを特徴とす
る乾式有機薄膜製造装置。 6)請求項4記載の乾式有機薄膜製造装置において、上
記基板支持機構に支持されている基板を超音波振動する
超音波印加機構を具えたことを特徴とする乾式有機薄膜
製造装置。7)請求項4、5又は6記載の乾式有機薄膜
製造装置において、上記基板支持機構が当該基板表面に
電界を形成する少なくとも一対の電極を有するものであ
り、且つ電界が形成された基板表面に任意の波長、スペ
クトルを有する光を照射する光照射機構を具えたことを
特徴とする乾式有機薄膜製造装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP16903288A JPH0219456A (ja) | 1988-07-08 | 1988-07-08 | 乾式有機薄膜製造方法及び装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP16903288A JPH0219456A (ja) | 1988-07-08 | 1988-07-08 | 乾式有機薄膜製造方法及び装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0219456A true JPH0219456A (ja) | 1990-01-23 |
Family
ID=15879056
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP16903288A Pending JPH0219456A (ja) | 1988-07-08 | 1988-07-08 | 乾式有機薄膜製造方法及び装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0219456A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5801673A (en) * | 1993-08-30 | 1998-09-01 | Sharp Kabushiki Kaisha | Liquid crystal display device and method for driving the same |
JPH11140633A (ja) * | 1997-11-06 | 1999-05-25 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 薄膜堆積装置と堆積方法 |
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1988
- 1988-07-08 JP JP16903288A patent/JPH0219456A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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US5801673A (en) * | 1993-08-30 | 1998-09-01 | Sharp Kabushiki Kaisha | Liquid crystal display device and method for driving the same |
JPH11140633A (ja) * | 1997-11-06 | 1999-05-25 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 薄膜堆積装置と堆積方法 |
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