JPH02184704A - 測長装置 - Google Patents
測長装置Info
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- JPH02184704A JPH02184704A JP452089A JP452089A JPH02184704A JP H02184704 A JPH02184704 A JP H02184704A JP 452089 A JP452089 A JP 452089A JP 452089 A JP452089 A JP 452089A JP H02184704 A JPH02184704 A JP H02184704A
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- stage
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- position sensor
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Links
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 7
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 7
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 claims description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 abstract description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 3
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 5
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 4
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 2
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 2
- 230000007774 longterm Effects 0.000 description 2
- 238000005299 abrasion Methods 0.000 description 1
- 230000003796 beauty Effects 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 description 1
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、ステージの位置制御に用いる測長装置に関し
、特にXYステージ等の2次元移動体の位置計測装置に
関するものである。
、特にXYステージ等の2次元移動体の位置計測装置に
関するものである。
従来、xYステージの位置制御を行なうための副長装置
としては、ロータリエンコーダやリニアエンコーダが主
として用いられてきた。このうち、リニアエンコーダは
ステージの移動長を直接61できるため、比較的精度の
高い装置に採用されてきた。このリニアエンコーダの構
成を第4図に示す。同図において、リニアエンコーダハ
、リニアスケール401 と位置センサ402 とから
構成される。このリニアスケール401は一定周期で反
射率又は透過率の変化するスケールパターン403が描
かれたガラス又は金属基板により形成されている。この
リニアスケール401に対して位置センサ402内の発
光素子から出た光はIJ Wアメケール401 を透過
又は反射した後、受光素子にょシ検出される。このとき
、リニアスケ−#401が位置センサ402に対してス
ケールパターン4030周期方向の測長方向404に相
対移動すると、受光素子はパターン周期に同期した信号
を出力する。この信号変化をカウントすることにょシ、
リニアスケール401と位置センサ402との間の相対
移動距離が求められる。
としては、ロータリエンコーダやリニアエンコーダが主
として用いられてきた。このうち、リニアエンコーダは
ステージの移動長を直接61できるため、比較的精度の
高い装置に採用されてきた。このリニアエンコーダの構
成を第4図に示す。同図において、リニアエンコーダハ
、リニアスケール401 と位置センサ402 とから
構成される。このリニアスケール401は一定周期で反
射率又は透過率の変化するスケールパターン403が描
かれたガラス又は金属基板により形成されている。この
リニアスケール401に対して位置センサ402内の発
光素子から出た光はIJ Wアメケール401 を透過
又は反射した後、受光素子にょシ検出される。このとき
、リニアスケ−#401が位置センサ402に対してス
ケールパターン4030周期方向の測長方向404に相
対移動すると、受光素子はパターン周期に同期した信号
を出力する。この信号変化をカウントすることにょシ、
リニアスケール401と位置センサ402との間の相対
移動距離が求められる。
次に、リニアエンコーダをxYステージに適用した例を
第5図に示す。本例はYステージの上にXステージを載
せる構成をとっている。同図において、XステージはY
軸ガイドレール501の上に載せられ、モータ502と
ボールネジ503とによりye力方向移動する。Y軸方
向位置の検出は、Xステージに固定されたY動用リニア
スケール504とYステージに固定されたY軸周位置セ
ンサ505とにより行なわれる。同様に載物台506は
Xステージ上のX軸ガイドレール507上に載せられ、
X軸駆動モータ508 とX軸駆動ボールネジ509と
によ、6x軸方向に移動する。X軸方向位置の検出は載
物台506上に固定されたX動用リニアスケール510
とXステージに固定されたX軸周位置センサ511Iと
によシ検出される。
第5図に示す。本例はYステージの上にXステージを載
せる構成をとっている。同図において、XステージはY
軸ガイドレール501の上に載せられ、モータ502と
ボールネジ503とによりye力方向移動する。Y軸方
向位置の検出は、Xステージに固定されたY動用リニア
スケール504とYステージに固定されたY軸周位置セ
ンサ505とにより行なわれる。同様に載物台506は
Xステージ上のX軸ガイドレール507上に載せられ、
X軸駆動モータ508 とX軸駆動ボールネジ509と
によ、6x軸方向に移動する。X軸方向位置の検出は載
物台506上に固定されたX動用リニアスケール510
とXステージに固定されたX軸周位置センサ511Iと
によシ検出される。
〔発明が解決しようとする課題〕
上述した従来のリニアスケールを用いたXYステージで
は、次のようが問題があった。すなわち、その1つはX
Yステージの直交度は、リニアスケール504,509
とは無関係にxyステージ機構の組立精度に依存し
ている点である。すなわち、直交精度を上げようとすれ
ば、精密な直交度測定用の装置および十分な調整時間が
必要となる。また、他の1つはステージの直進性はガイ
ドとその組立精度とに大きく依存している点である。す
なわち、ガイドの非直線性に起因する位置誤差は、リニ
アエンコーダでは検出できない。したがって十分な精度
を得ようとすれば、十分吟味されたガイド部品を用い、
熟練した作業者が組立てる必要があった。さらにエアス
ライダ等の非接触のガイドでないかぎシ、摩耗等による
精度の経年劣化はさけられないという問題があった。
は、次のようが問題があった。すなわち、その1つはX
Yステージの直交度は、リニアスケール504,509
とは無関係にxyステージ機構の組立精度に依存し
ている点である。すなわち、直交精度を上げようとすれ
ば、精密な直交度測定用の装置および十分な調整時間が
必要となる。また、他の1つはステージの直進性はガイ
ドとその組立精度とに大きく依存している点である。す
なわち、ガイドの非直線性に起因する位置誤差は、リニ
アエンコーダでは検出できない。したがって十分な精度
を得ようとすれば、十分吟味されたガイド部品を用い、
熟練した作業者が組立てる必要があった。さらにエアス
ライダ等の非接触のガイドでないかぎシ、摩耗等による
精度の経年劣化はさけられないという問題があった。
〔!1題を解決するための手段〕
本発明による測長装置としてリニアエンコーダを第1図
に示す。同図において、本来の測長方向である移動方向
に対して本発明ではスケール板101上のスケールパタ
ーン102を、測長方向としての移動方向103と直交
する方向、すなわち移動方向104に延長する。とのス
ケール板101の移動方向104の長さは、本発明によ
るスケール板101を用いてXYステージを組んだ場合
の直交する軸の移動距離をカバーできるだけ必要である
。
に示す。同図において、本来の測長方向である移動方向
に対して本発明ではスケール板101上のスケールパタ
ーン102を、測長方向としての移動方向103と直交
する方向、すなわち移動方向104に延長する。とのス
ケール板101の移動方向104の長さは、本発明によ
るスケール板101を用いてXYステージを組んだ場合
の直交する軸の移動距離をカバーできるだけ必要である
。
同図においては、位置センサ10!iが移動方向104
に動く場合、仮にスケールパターン102と完全に平行
でなければ、位置セ/す105かも移動方向103に関
する位置ずれ信号が検出される。この信号を位置決めサ
ーボ信号として利用すれば、移動方向104にXYステ
ージが移動する場合、スケールパターン102に正確に
追従させることができる。このため、本発明によるリニ
アスケール板101 を用いたXYステージでは、スケ
ール板101 の精度により、xyXステージ直交性
、直進性が決まり、機構に依存する誤差は大幅に低減さ
れる。
に動く場合、仮にスケールパターン102と完全に平行
でなければ、位置セ/す105かも移動方向103に関
する位置ずれ信号が検出される。この信号を位置決めサ
ーボ信号として利用すれば、移動方向104にXYステ
ージが移動する場合、スケールパターン102に正確に
追従させることができる。このため、本発明によるリニ
アスケール板101 を用いたXYステージでは、スケ
ール板101 の精度により、xyXステージ直交性
、直進性が決まり、機構に依存する誤差は大幅に低減さ
れる。
次に本発明による測長装置の一実施例としてリニアエン
コーダをxYステージに適用する場合の構成を図に従っ
て説明する。
コーダをxYステージに適用する場合の構成を図に従っ
て説明する。
(実施例1)
第2図(a) 、 (b)は本発明に係わるリニアスケ
ールを一基板の表裏面に構成した場合の上方から見た平
面図、側面から見た平面図を示したものである。
ールを一基板の表裏面に構成した場合の上方から見た平
面図、側面から見た平面図を示したものである。
同図において、スケール板2010表裏面には、反射率
を周期的に変化させたスケールパターン202.203
が描かれておシ、これらの表裏面のスケールパターン2
02,203は互いに正確に直交させて形成されている
。本実施例のスケール板201は反射型のスケールとし
て使われる。したがってスケール板201 の作り方と
しては、金属板に高反射率の金属を格子状に蒸着してス
ケールパターンを形成しこの金属板を2枚表裏にはυ合
わせる方法などがある。また、このスケール板201
の上下面に対向して配設されるY軸位置センサ204
およびX軸位置センサ205には、発光素子と受光素子
とがそれぞれ組込まれており、スケール板201 の表
面からの反射光変化により、移動距離を求めることがで
きる。
を周期的に変化させたスケールパターン202.203
が描かれておシ、これらの表裏面のスケールパターン2
02,203は互いに正確に直交させて形成されている
。本実施例のスケール板201は反射型のスケールとし
て使われる。したがってスケール板201 の作り方と
しては、金属板に高反射率の金属を格子状に蒸着してス
ケールパターンを形成しこの金属板を2枚表裏にはυ合
わせる方法などがある。また、このスケール板201
の上下面に対向して配設されるY軸位置センサ204
およびX軸位置センサ205には、発光素子と受光素子
とがそれぞれ組込まれており、スケール板201 の表
面からの反射光変化により、移動距離を求めることがで
きる。
本実施例のリニアエンコーダをxYステージに組込む場
合2つの方法がある。その1つはスケール板201 を
2次元に移動させ、Y軸位置センサ204、X軸位置セ
ンサ205 を固定しておく方法で、他の1つは第5図
に示すようにY軸ステージの上にX軸ステージが載る構
成のxYステージの場合、Y軸位置センサ204はX軸
ステージに固定し、X軸位置センサ205は載物台50
6 に固定する。XYステージとしてモノリシックIC
用レーザトリマのビームポジショナを考えた場合、XY
ステージ可動範囲は20X20mnz位置分解能l−i
0.1μm程度と力る。したがって、この場合の本発
明によるスケール板201は40 X 40mm程度の
スケール長さを持ち、描かれるパターンの周期は数μm
程度にして1周期内の位置検出は、受光信号強度の分割
により位置分解能0.1μmまで求めればよい。
合2つの方法がある。その1つはスケール板201 を
2次元に移動させ、Y軸位置センサ204、X軸位置セ
ンサ205 を固定しておく方法で、他の1つは第5図
に示すようにY軸ステージの上にX軸ステージが載る構
成のxYステージの場合、Y軸位置センサ204はX軸
ステージに固定し、X軸位置センサ205は載物台50
6 に固定する。XYステージとしてモノリシックIC
用レーザトリマのビームポジショナを考えた場合、XY
ステージ可動範囲は20X20mnz位置分解能l−i
0.1μm程度と力る。したがって、この場合の本発
明によるスケール板201は40 X 40mm程度の
スケール長さを持ち、描かれるパターンの周期は数μm
程度にして1周期内の位置検出は、受光信号強度の分割
により位置分解能0.1μmまで求めればよい。
このよう々構成において、xYステージがY軸移動方向
206に移動する時にX軸位置センサ205の信号によ
り位置決めサーボを用いれば刈′ステージはスケール板
201の裏面に描かれたパターン203に正[K沿って
Y軸移動方向208に移動する。また、逆のX軸移動方
向20Fの場合も同様である。したがってスケール板2
01 を採用した場合、xYステージの機構的表要素に
全く影響を受けずにスケール板201の製作精度のみで
全体の位置決め精度が決まるので、XYステージの組立
調整が簡単となシ、機構の摩耗劣化による長期的な精度
低下もなく壜って均質なxYステージを量産できるよう
になる。
206に移動する時にX軸位置センサ205の信号によ
り位置決めサーボを用いれば刈′ステージはスケール板
201の裏面に描かれたパターン203に正[K沿って
Y軸移動方向208に移動する。また、逆のX軸移動方
向20Fの場合も同様である。したがってスケール板2
01 を採用した場合、xYステージの機構的表要素に
全く影響を受けずにスケール板201の製作精度のみで
全体の位置決め精度が決まるので、XYステージの組立
調整が簡単となシ、機構の摩耗劣化による長期的な精度
低下もなく壜って均質なxYステージを量産できるよう
になる。
(実施例2)
第3図は本発明による測長装置としてリニアスケールの
他の実施例を示す平面図である。同図においては、スケ
ール板301 の同一面内KXXススケールパターン0
2とYllhll−ルパターン303 とが互いに直交
して描かれている。したがってY軸位置センサ304
およびX軸位置センサ305 には発光素子と受光素子
とが同一面側にくる反射型センサの他に発光素子と受光
素子との間にスケール板301 が入る透過型センサも
利用可能でちる。したがってスケール板301 は、実
施例1の場合のような金属板以外にガラス基板にスケー
ルパターンを蒸着して製作することもできる。
他の実施例を示す平面図である。同図においては、スケ
ール板301 の同一面内KXXススケールパターン0
2とYllhll−ルパターン303 とが互いに直交
して描かれている。したがってY軸位置センサ304
およびX軸位置センサ305 には発光素子と受光素子
とが同一面側にくる反射型センサの他に発光素子と受光
素子との間にスケール板301 が入る透過型センサも
利用可能でちる。したがってスケール板301 は、実
施例1の場合のような金属板以外にガラス基板にスケー
ルパターンを蒸着して製作することもできる。
なお、306はY軸移動方向、307 tiX軸移動方
向である。
向である。
このような構成によると、反射型センサを使う構成とし
た場合、X軸位置セ/す305 およびX軸位置センサ
304がスケール板301 に対して同一面側にくるた
め、実施例1に比べてXYエステ−機構にリニアスケー
ルを取付けやすくなる。
た場合、X軸位置セ/す305 およびX軸位置センサ
304がスケール板301 に対して同一面側にくるた
め、実施例1に比べてXYエステ−機構にリニアスケー
ルを取付けやすくなる。
以上説明したように本発明では、スケールパターンを測
長方向に対して直角方向に延長したので、当該スケール
の測長しようとする軸と直交する軸方向の移動に対して
当該スケールパターンを直交性および直進性の基準とす
ることが可能となる。
長方向に対して直角方向に延長したので、当該スケール
の測長しようとする軸と直交する軸方向の移動に対して
当該スケールパターンを直交性および直進性の基準とす
ることが可能となる。
したがって従来、2組のリニアエンコーダを各軸に取付
けて位置決めを行なっているxYステージ等で問題であ
った直交性および直進性がXYエステ−機構の部品およ
び組立精度に依存し、リニアエンコーダでは補正できな
い点や長期使用後の機構部摩耗等による精度劣化および
組立に熟練と工数とが必要である点などが全面的に解消
される。
けて位置決めを行なっているxYステージ等で問題であ
った直交性および直進性がXYエステ−機構の部品およ
び組立精度に依存し、リニアエンコーダでは補正できな
い点や長期使用後の機構部摩耗等による精度劣化および
組立に熟練と工数とが必要である点などが全面的に解消
される。
これは本発明によるリニアエンコーダを備えft)CY
ステージではステージの直進性、直交度を含む精度はリ
ニアスケール板の製作精度だけで決まるためで、機構部
の組立精度および経時変化には依存しないからである。
ステージではステージの直進性、直交度を含む精度はリ
ニアスケール板の製作精度だけで決まるためで、機構部
の組立精度および経時変化には依存しないからである。
第1図は本発明による測長装置の基本構成を説明するリ
ニアエンコーダの平面図、第2図(a) 、 (b)は
本発明による測長装置の一実施例を説明するリニアエン
コーダの上方から見た平面図、側面から見た平面図、第
3図は本発明による測長装置の他の実施例を説明するリ
ニアエンコーダの上方から見た平面図、第4図は従来の
リニアエンコーダの構成を示す平面図、1IS5図は従
来のリニアエンコーダを用いたXYステージの構成を示
す平面図である。 101−−・・スケール板、102・・・−スケ−ルパ
ターン、103−・−・移動方向(測長方向)、104
ψ・・・移動方向、105・・・−位置センサ、20
1−@・噛スケール板、2021203 ・−拳・ス
ケールパターン、204・・−・Y軸位置センサ、2Q
S−・・・X軸位置センサ、206 ・拳・・Y軸移動
方向、207・・−・X軸移動方向、301 ・・・・
スケール板、302゜303 ・−・φスケールパタ
ーン、3041I争・・Y軸位置センサ、305−・・
・X軸位置センサ、306 ・・・・Y軸移動方向、3
01 ・・・・X軸移動方向。
ニアエンコーダの平面図、第2図(a) 、 (b)は
本発明による測長装置の一実施例を説明するリニアエン
コーダの上方から見た平面図、側面から見た平面図、第
3図は本発明による測長装置の他の実施例を説明するリ
ニアエンコーダの上方から見た平面図、第4図は従来の
リニアエンコーダの構成を示す平面図、1IS5図は従
来のリニアエンコーダを用いたXYステージの構成を示
す平面図である。 101−−・・スケール板、102・・・−スケ−ルパ
ターン、103−・−・移動方向(測長方向)、104
ψ・・・移動方向、105・・・−位置センサ、20
1−@・噛スケール板、2021203 ・−拳・ス
ケールパターン、204・・−・Y軸位置センサ、2Q
S−・・・X軸位置センサ、206 ・拳・・Y軸移動
方向、207・・−・X軸移動方向、301 ・・・・
スケール板、302゜303 ・−・φスケールパタ
ーン、3041I争・・Y軸位置センサ、305−・・
・X軸位置センサ、306 ・・・・Y軸移動方向、3
01 ・・・・X軸移動方向。
Claims (1)
- 反射率または透過率の変化するスケールパターンが一定
の周期で描かれたスケール基板と、前記スケール基板に
光を当てる発光素子と前記スケールパターンに対して反
射または透過した光を検出する受光素子とを有する位置
センサとを備え、前記受光素子の出力信号の変化からス
ケール基板と位置センサとの間の相対移動距離を求める
測長装置において、前記スケール基板のスケールパター
ンを測長方向と直交する方向に所定の長さ延長したこと
を特徴とする測長装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP452089A JPH02184704A (ja) | 1989-01-11 | 1989-01-11 | 測長装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP452089A JPH02184704A (ja) | 1989-01-11 | 1989-01-11 | 測長装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02184704A true JPH02184704A (ja) | 1990-07-19 |
Family
ID=11586328
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP452089A Pending JPH02184704A (ja) | 1989-01-11 | 1989-01-11 | 測長装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH02184704A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009156862A (ja) * | 2007-11-01 | 2009-07-16 | Asml Netherlands Bv | 位置測定システムおよびリソグラフィ装置 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS643511A (en) * | 1987-06-04 | 1989-01-09 | Kulicke & Soffa Ind Inc | Interactive multi-axis encoder positioning apparatus |
-
1989
- 1989-01-11 JP JP452089A patent/JPH02184704A/ja active Pending
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS643511A (en) * | 1987-06-04 | 1989-01-09 | Kulicke & Soffa Ind Inc | Interactive multi-axis encoder positioning apparatus |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009156862A (ja) * | 2007-11-01 | 2009-07-16 | Asml Netherlands Bv | 位置測定システムおよびリソグラフィ装置 |
US8319940B2 (en) | 2007-11-01 | 2012-11-27 | Asml Netherlands B.V. | Position measurement system and lithographic apparatus |
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