JPH01283890A - 半導体レーザ装置 - Google Patents
半導体レーザ装置Info
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- JPH01283890A JPH01283890A JP11283588A JP11283588A JPH01283890A JP H01283890 A JPH01283890 A JP H01283890A JP 11283588 A JP11283588 A JP 11283588A JP 11283588 A JP11283588 A JP 11283588A JP H01283890 A JPH01283890 A JP H01283890A
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- 239000012535 impurity Substances 0.000 claims description 4
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 abstract description 37
- 229910000980 Aluminium gallium arsenide Inorganic materials 0.000 abstract description 11
- 229910001218 Gallium arsenide Inorganic materials 0.000 abstract description 8
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 abstract description 4
- 238000005530 etching Methods 0.000 abstract description 4
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- 229910052785 arsenic Inorganic materials 0.000 abstract description 2
- RQNWIZPPADIBDY-UHFFFAOYSA-N arsenic atom Chemical compound [As] RQNWIZPPADIBDY-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 2
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Landscapes
- Semiconductor Lasers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野」
この発明は半導体レーザ装置に関するもので、特に一方
の導電形を有する活性層にもう一方の導電形を有する不
純物を拡散して導電形の反転領域を設け、この領域を発
光領域とする半導体レーザ装置に関する。
の導電形を有する活性層にもう一方の導電形を有する不
純物を拡散して導電形の反転領域を設け、この領域を発
光領域とする半導体レーザ装置に関する。
〔従来の技術J
$3図はElectronics Latters 1
6th 8eptamber1982 Vol、18
No、19に掲載された従来の活性層にシ拡散を施した
いわゆる拡散ストフイプ形半導体レーザ装置の断面臼で
、図において、α)はn形GaA3基板、(2)はn形
Am()aAa下側クフりド層、(3)はn形GaAa
活性層、(4)はコ形AlGaAs上側りフッド層、(
5)はp形AlGaAs7’aツク層、(6)はn形G
aAa:!ンタクト層、(7)はp形2フ拡散層、(8
)はZn拡散されたp形石性領域、(9)はn側電極、
(10)はp@電極である。
6th 8eptamber1982 Vol、18
No、19に掲載された従来の活性層にシ拡散を施した
いわゆる拡散ストフイプ形半導体レーザ装置の断面臼で
、図において、α)はn形GaA3基板、(2)はn形
Am()aAa下側クフりド層、(3)はn形GaAa
活性層、(4)はコ形AlGaAs上側りフッド層、(
5)はp形AlGaAs7’aツク層、(6)はn形G
aAa:!ンタクト層、(7)はp形2フ拡散層、(8
)はZn拡散されたp形石性領域、(9)はn側電極、
(10)はp@電極である。
次に動作原理について説明する。n側電極(lO)に正
、n側電極(9)に負の電圧を印加すると、p*AlG
a Asブロック層(5)の効果によりt流はp形z!
l+拡散層(7)に効率よくしぼシ込まれて流れ、p形
石性領域(8)で発光する。
、n側電極(9)に負の電圧を印加すると、p*AlG
a Asブロック層(5)の効果によりt流はp形z!
l+拡散層(7)に効率よくしぼシ込まれて流れ、p形
石性領域(8)で発光する。
よく知られているように、p形層とn形層についてはそ
れらの不純物両度をI X 10”個/−以上に選ぶと
p形層の屈折率はn形層の屈折率よ)も大きくすること
ができる( H,C、Caeey、IrとV 、B 。
れらの不純物両度をI X 10”個/−以上に選ぶと
p形層の屈折率はn形層の屈折率よ)も大きくすること
ができる( H,C、Caeey、IrとV 、B 。
Paoish著11eterostructure L
a5ers 、 pa、rt A 、44ベージ、アカ
デミツク・プレス社)。このp形層とn形層の屈折率の
関係によって活性層の平行方向に屈折率差による光導波
路をつくることができ、光は効率よくp形石性領域(8
)に閉じ込めることができる。その結果、低しきい値電
流で発振させることができるとともに安定な検基本モー
ドを得ることができる。
a5ers 、 pa、rt A 、44ベージ、アカ
デミツク・プレス社)。このp形層とn形層の屈折率の
関係によって活性層の平行方向に屈折率差による光導波
路をつくることができ、光は効率よくp形石性領域(8
)に閉じ込めることができる。その結果、低しきい値電
流で発振させることができるとともに安定な検基本モー
ドを得ることができる。
〔発明が解決しようとする課題」
従来の拡散ストライプレーザではp形石性領域幅Wはp
型拡散層(7)の拡散深さdによって制御されるもので
ある。今、拡散深さをd −d+Δdとばらつきjdの
範囲に制御した場合、活性領域幅はおよそw = w
+ 2Δdと拡散深さのばらつきjdの2倍のばらつき
となるため、活性領域幅Wの制御が極めて(ト)難にな
る課題があった。即ち、良好なレーザ特性を得るのに必
要な活性領域幅は2〜3μm程度のものであるが、この
時拡散法さのばらつきはおよそ0.5μ口と極めて狭い
範囲に抑え込まなければならない困難さがあった。
型拡散層(7)の拡散深さdによって制御されるもので
ある。今、拡散深さをd −d+Δdとばらつきjdの
範囲に制御した場合、活性領域幅はおよそw = w
+ 2Δdと拡散深さのばらつきjdの2倍のばらつき
となるため、活性領域幅Wの制御が極めて(ト)難にな
る課題があった。即ち、良好なレーザ特性を得るのに必
要な活性領域幅は2〜3μm程度のものであるが、この
時拡散法さのばらつきはおよそ0.5μ口と極めて狭い
範囲に抑え込まなければならない困難さがあった。
この発明は上記の課題を解消するためになされたもので
、拡散深さdによらずに活性層幅Wを決定することがで
きる拡散ストライブ形レーザを提供することを目的とす
る。
、拡散深さdによらずに活性層幅Wを決定することがで
きる拡散ストライブ形レーザを提供することを目的とす
る。
〔課題を解決するための手段j
この発明は活性層を凸形状として活性領域を凸部に設け
ることによυ、活性領域幅は凸部幅によシ決定されるよ
うにしたものである。
ることによυ、活性領域幅は凸部幅によシ決定されるよ
うにしたものである。
[作用J
この発明では活性領域は勿論拡散層によシ導電形が影響
されるものであるが、活性領域幅はあらかじめ凸部幅に
よって決定されているので拡散深さには依存しない。
されるものであるが、活性領域幅はあらかじめ凸部幅に
よって決定されているので拡散深さには依存しない。
〔実施例j
以下、この発明を一実施例を図によシ説明する。
第1図はこの発明による拡散ヌトフイプ形半導体レーザ
ー装置の断面図、第2図はこの発明による拡散ストライ
プ形レーザの製作工程を示した断面図である。図におい
て、(11ンは〕形AIGaAa拡散調節層、(12)
は5iaN4膜、(13)は拡散用開口窓テする。なお
、図中、前記従来のものと同一符号は同一ま九は相幽部
分を示す。
ー装置の断面図、第2図はこの発明による拡散ストライ
プ形レーザの製作工程を示した断面図である。図におい
て、(11ンは〕形AIGaAa拡散調節層、(12)
は5iaN4膜、(13)は拡散用開口窓テする。なお
、図中、前記従来のものと同一符号は同一ま九は相幽部
分を示す。
第1図のようにこの発明のものでは活性領域幅Wは凸部
IN Kよって決定されてお)、拡散深さKは依存する
ことはない。また、活性領域(8)は活性層(3)の2
つの屈曲部・Kよシ限定されているため、活性層(3)
の折れ曲がシによシ得られる実効的な屈折率差によシ効
率よく光を閉じ込めることができる。
IN Kよって決定されてお)、拡散深さKは依存する
ことはない。また、活性領域(8)は活性層(3)の2
つの屈曲部・Kよシ限定されているため、活性層(3)
の折れ曲がシによシ得られる実効的な屈折率差によシ効
率よく光を閉じ込めることができる。
従って83図のような従来の拡散ストライプ形レーザに
必要としていたp形石性領域(8)とp形活性層(3〕
とのp形、n形不純物濃度の制約はこの発明では必要な
くなp、レーザを製作する上でもまた設計する上でも極
めて有利になっている。
必要としていたp形石性領域(8)とp形活性層(3〕
とのp形、n形不純物濃度の制約はこの発明では必要な
くなp、レーザを製作する上でもまた設計する上でも極
めて有利になっている。
第2図は第1図で示し九この発明の一実施例の半導体レ
ーザ装置の各製造工程を示す断面図である。
ーザ装置の各製造工程を示す断面図である。
第2図(a)のようにまず、n形Ga As基板α】に
凸状加工を写真製版とエツチングによシ施す。次に、第
2図(b)のように有機金属等を用いた結晶成長により
、C形AlGa As下側クラッド層(2)、rJ形G
aAs活性/# (3)、n形AlGa As下側クラ
ッド層(4)、D形AlGa Asブロック層(5)、
p形Ga Asコンタクト層(6)、n形AlGa A
s拡散調節層(11)を連続的に成長する。次に、第2
図(c)のようにn形AlGaAs拡散調節m (11
)上に拡散マスクのためのSi3N4膜(12)を設け
た後写真製版及びエラをングによfi 5i14膜(1
2)、n形AlGaAs拡敢調節層(11)を(多核い
て拡散開口窓(13)を設ける。
凸状加工を写真製版とエツチングによシ施す。次に、第
2図(b)のように有機金属等を用いた結晶成長により
、C形AlGa As下側クラッド層(2)、rJ形G
aAs活性/# (3)、n形AlGa As下側クラ
ッド層(4)、D形AlGa Asブロック層(5)、
p形Ga Asコンタクト層(6)、n形AlGa A
s拡散調節層(11)を連続的に成長する。次に、第2
図(c)のようにn形AlGaAs拡散調節m (11
)上に拡散マスクのためのSi3N4膜(12)を設け
た後写真製版及びエラをングによfi 5i14膜(1
2)、n形AlGaAs拡敢調節層(11)を(多核い
て拡散開口窓(13)を設ける。
次に第2図(d)のように石英管内に密封された砒素雰
囲気化でZコを拡散てZo拡散層(7)を設けた後、s
isN4m (12)を除去し、D[C極(9)、p側
電極(10)を形成して半導体レーザ装置を完成させる
。
囲気化でZコを拡散てZo拡散層(7)を設けた後、s
isN4m (12)を除去し、D[C極(9)、p側
電極(10)を形成して半導体レーザ装置を完成させる
。
83図の従来の拡散ストライプ形レーザの場合、活性領
域幅Wを2〜3μmの微小な範囲で制御するには拡散開
口窓幅1をWと同等かそれ以下の大きさ、即ちl≦Wと
する必要があり、活性領域Ml wを制御するには拡散
深さdばかシでなく拡散関口窓幅1をも精度よく制御す
る必要がめった。しかし、この発明ではあらかじめ活性
領域幅Wは凸部幅によって決まっておシ、拡散は凸部活
性層(8)に到達すればよい。拡散開口窓幅1は活性領
域@Wに対して11mwとすることができるので、1の
精度は必要とせず拡散開口窓形成が極めて容易となる。
域幅Wを2〜3μmの微小な範囲で制御するには拡散開
口窓幅1をWと同等かそれ以下の大きさ、即ちl≦Wと
する必要があり、活性領域Ml wを制御するには拡散
深さdばかシでなく拡散関口窓幅1をも精度よく制御す
る必要がめった。しかし、この発明ではあらかじめ活性
領域幅Wは凸部幅によって決まっておシ、拡散は凸部活
性層(8)に到達すればよい。拡散開口窓幅1は活性領
域@Wに対して11mwとすることができるので、1の
精度は必要とせず拡散開口窓形成が極めて容易となる。
1mwによシ拡散開ロ窓幅1は比較的大きくとれるため
、拡散! (7)のフロントを平坦にすることができる
ので、従来のもののように拡散フロントが丸くなる場合
ぽ比べてこの発明では拡散深さの制#が向上する。
、拡散! (7)のフロントを平坦にすることができる
ので、従来のもののように拡散フロントが丸くなる場合
ぽ比べてこの発明では拡散深さの制#が向上する。
この発明の実施例としてAIGaAa系の半導体レーザ
装置をめげて説明したが他の材、料例えば工nP等の材
料を使った半導体レーザ装置にも有効であることはイう
1でもない。
装置をめげて説明したが他の材、料例えば工nP等の材
料を使った半導体レーザ装置にも有効であることはイう
1でもない。
〔発明の効果j
このようにこの発明によれば活性層を凸形に屈曲させる
ことによシ拡散に依存せずあらかじめ活性領域幅を決め
ることができるとともに、拡散フロントを平坦化するこ
とができるため拡散深さの制御が容易となシ安定なレー
ザ特性を再現性よく得ることができる。
ことによシ拡散に依存せずあらかじめ活性領域幅を決め
ることができるとともに、拡散フロントを平坦化するこ
とができるため拡散深さの制御が容易となシ安定なレー
ザ特性を再現性よく得ることができる。
第1区はこの発明の一実施例による拡散ストライブ形半
導体レーザ装置の断面図、第2図はこの発明の半導体レ
ーザ装置の製造工程を示す断面図、第3図は従来の拡散
ストライブ形半導体レーザ装置の断面図である。 図において、(1)はn形GaAs基板、(2)はn形
AlGaへ日下側りフッド層、(3)は口形GaAs活
性層、(4)はロ形AlGaAs上側りツツド層、(5
)はp形AIG!LA3ブロック層、(6)は口形Ga
Asコンタクト層、(7)はp形Z口拡散層、(8)
はp形石性′@域、(9)はコm電極、(10ンはp側
1を極、(11)は口形AlGa舶拡散調節層、(12
)はSi3N4 g、(13)は拡散用関口窓である。 なお、図中、同一符号は同一、又は相当部分を71く丁
0 代 理 人 大 岩 増 造築1図 1 : nx3qaaJk
9:nmすCatと1 ; r21f多Mqtbへ
sTmす7う7ト’4 10:pイ1.11et
−I/3:nボ’1qaAs訪f”t4 t
7 : n形1d;!QaASM、散gliFI 仲居
4: n分多RQaAsLイ巨り7ラーtト8
12 :Si3N4’!1%5:PカシAIIQaJ
、5フb゛・フ層 ′3: 土rt−k
r閘UE。 A :ne(IaA5.17 シソ2ト層7:P形Zn
刻l δ:P拐台1領販 第2図
導体レーザ装置の断面図、第2図はこの発明の半導体レ
ーザ装置の製造工程を示す断面図、第3図は従来の拡散
ストライブ形半導体レーザ装置の断面図である。 図において、(1)はn形GaAs基板、(2)はn形
AlGaへ日下側りフッド層、(3)は口形GaAs活
性層、(4)はロ形AlGaAs上側りツツド層、(5
)はp形AIG!LA3ブロック層、(6)は口形Ga
Asコンタクト層、(7)はp形Z口拡散層、(8)
はp形石性′@域、(9)はコm電極、(10ンはp側
1を極、(11)は口形AlGa舶拡散調節層、(12
)はSi3N4 g、(13)は拡散用関口窓である。 なお、図中、同一符号は同一、又は相当部分を71く丁
0 代 理 人 大 岩 増 造築1図 1 : nx3qaaJk
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12 :Si3N4’!1%5:PカシAIIQaJ
、5フb゛・フ層 ′3: 土rt−k
r閘UE。 A :ne(IaA5.17 シソ2ト層7:P形Zn
刻l δ:P拐台1領販 第2図
Claims (1)
- 凸状に屈曲した活性層の凸部に不純物拡散を施して導電
形を反転させて活性領域としたことを特徴とする半導体
レーザ装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11283588A JPH01283890A (ja) | 1988-05-10 | 1988-05-10 | 半導体レーザ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11283588A JPH01283890A (ja) | 1988-05-10 | 1988-05-10 | 半導体レーザ装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01283890A true JPH01283890A (ja) | 1989-11-15 |
Family
ID=14596723
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP11283588A Pending JPH01283890A (ja) | 1988-05-10 | 1988-05-10 | 半導体レーザ装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH01283890A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5335241A (en) * | 1990-08-30 | 1994-08-02 | Sharp Kabushiki Kaisha | Buried stripe type semiconductor laser device |
-
1988
- 1988-05-10 JP JP11283588A patent/JPH01283890A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5335241A (en) * | 1990-08-30 | 1994-08-02 | Sharp Kabushiki Kaisha | Buried stripe type semiconductor laser device |
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