JPH01266513A - アクティブマトリクス基板 - Google Patents
アクティブマトリクス基板Info
- Publication number
- JPH01266513A JPH01266513A JP63095057A JP9505788A JPH01266513A JP H01266513 A JPH01266513 A JP H01266513A JP 63095057 A JP63095057 A JP 63095057A JP 9505788 A JP9505788 A JP 9505788A JP H01266513 A JPH01266513 A JP H01266513A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- source wiring
- insulating layer
- substrate
- shielding film
- film
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Liquid Crystal (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〈産業上の利用分野〉
本発明は、液晶セル内に薄膜トランジスタ(以下TPT
)アレイを形成し、TPTを制御するこ頼性の高いTP
Tの構造に関するものである。
)アレイを形成し、TPTを制御するこ頼性の高いTP
Tの構造に関するものである。
〈従来の技術〉
ア
祇クチイブマトリクス基板におけるTFTアレイは第3
図に等価回路で示す如く、行線R1、R2゜R3・・・
が等間隔でほぼ平行に形成され、この行線R1、R2,
R3・・・とほぼ直交して列線C1、C2、c3・・が
等間隔でほぼ平行に形成される。行線R及び列線Cの各
交差位置にTFTIが形成され、該TFTIはその位置
においてゲートが行線Rに、ソースが列線Cに夫々接続
されてなり、行線R及び列線Cによって形成された領域
には該領域をほぼ埋めるよう絵素電極2が形成され、該
絵素電極2は前記TFTIのドレインに接続される。行
線R1,R2,R3・・・及び列線C1,C2,C3・
・・の各々1つを選択し、これらに電圧を印加すること
により、選択された行線と列線との交差点にあるTFT
Iがオンとなり、該TFT1と接続された絵素が表示さ
れる。このようにして液晶セル内の全ての絵素が選択可
能である。
図に等価回路で示す如く、行線R1、R2゜R3・・・
が等間隔でほぼ平行に形成され、この行線R1、R2,
R3・・・とほぼ直交して列線C1、C2、c3・・が
等間隔でほぼ平行に形成される。行線R及び列線Cの各
交差位置にTFTIが形成され、該TFTIはその位置
においてゲートが行線Rに、ソースが列線Cに夫々接続
されてなり、行線R及び列線Cによって形成された領域
には該領域をほぼ埋めるよう絵素電極2が形成され、該
絵素電極2は前記TFTIのドレインに接続される。行
線R1,R2,R3・・・及び列線C1,C2,C3・
・・の各々1つを選択し、これらに電圧を印加すること
により、選択された行線と列線との交差点にあるTFT
Iがオンとなり、該TFT1と接続された絵素が表示さ
れる。このようにして液晶セル内の全ての絵素が選択可
能である。
上述の如く、スイッチング素子としての役割を果たすT
FTlは一般に第4図(a)及び(b)に示す構造を有
する。第4図(a)は、基板7上に透明導電体薄膜によ
る絵素電極2及びソース電極3が形成され、該絵素電極
2とソース′成極3とに両端を接するアモルファスシリ
コン等の半導体層4が形成され、電極2,3や半導体層
4を形成した基板7上全面に窒化シリコン等のゲート絶
縁膜5が形成され、更に該ゲート絶縁膜5上にゲート電
極6が形成された第1のTPTである。
FTlは一般に第4図(a)及び(b)に示す構造を有
する。第4図(a)は、基板7上に透明導電体薄膜によ
る絵素電極2及びソース電極3が形成され、該絵素電極
2とソース′成極3とに両端を接するアモルファスシリ
コン等の半導体層4が形成され、電極2,3や半導体層
4を形成した基板7上全面に窒化シリコン等のゲート絶
縁膜5が形成され、更に該ゲート絶縁膜5上にゲート電
極6が形成された第1のTPTである。
また第4図(b)では基板7上に遮光用金属層8が形成
され、絶縁膜9が基板7上はぼ全面に被着され、前記絶
縁膜9上に絵素電極2及びソース電極3が形成される。
され、絶縁膜9が基板7上はぼ全面に被着され、前記絶
縁膜9上に絵素電極2及びソース電極3が形成される。
該ソース電極3は前記絶縁膜9に設けられたスルーホー
ルを介して遮光用金属層8と電気的接続される。前記絵
素電極2とソース電極3とに両端を接する半導体層4が
形成され、電極2,3や半導体層4を形成した基板7上
全面にゲート絶縁膜5が形成され、更に該ゲート絶縁膜
5上にゲー)ME電極が形成されて第2のTPTをなす
。
ルを介して遮光用金属層8と電気的接続される。前記絵
素電極2とソース電極3とに両端を接する半導体層4が
形成され、電極2,3や半導体層4を形成した基板7上
全面にゲート絶縁膜5が形成され、更に該ゲート絶縁膜
5上にゲー)ME電極が形成されて第2のTPTをなす
。
〈発明が解決しようとする課題〉
上記従来第1のTPTでは、ソース配線が透明導電体薄
膜のみから構成されているため、何らかの原因で断線が
発生すると直ちに線状欠陥につながるという問題やソー
ス配線が比較的高抵抗であって信号入力時に信号のロス
が多くなりTPTの駆動が安定しないという問題点があ
る。
膜のみから構成されているため、何らかの原因で断線が
発生すると直ちに線状欠陥につながるという問題やソー
ス配線が比較的高抵抗であって信号入力時に信号のロス
が多くなりTPTの駆動が安定しないという問題点があ
る。
また、上記第2のTPTではソース配線が2層構造であ
るため、上記第1のTPTに比べて欠陥が発生し難くな
るが、表示の高精細化に伴って配線を微細化すると、全
ての配線を無欠陥で作成することはかなり困難となり、
実用に供しないという問題がある。
るため、上記第1のTPTに比べて欠陥が発生し難くな
るが、表示の高精細化に伴って配線を微細化すると、全
ての配線を無欠陥で作成することはかなり困難となり、
実用に供しないという問題がある。
〈課題を解決するための手段〉
本発明は上述する問題点を解決するためになされたもの
で、透明絶縁基板と、該基板上に形成され、第1の不透
明金属からなる遮光膜と、少なくとも該遮光膜を覆うよ
う基板上に形成された第1の絶縁層と、該絶縁層上に互
いに離間して形成され、透明導電体薄膜からなるソース
電極及びドレイン電極と、該両電極に両端を接して形成
された半導体層と、少なくとも前記両電極及び半導体層
を覆う第2の絶縁層と、該第2の絶縁層上に設けられ、
第2の不透明金属を含むゲート電極と、を備えた薄膜ト
ランジスタがマトリクス状に配列さ了 れたaクチイブマトリクス基板において、前記第1の絶
縁層、ソース電極、及び第2の絶縁層を順次選択的に除
去して、前記遮光膜に達するよう形成されたスルーホー
ルと、該スルーホール底面の遮光膜から第2の絶縁膜上
に達し、前記遮光膜及びソース電極と電気的に接続され
、不透明金属を含む導体と、を有してなるアクティブマ
トリクス基板を提供するものである。
で、透明絶縁基板と、該基板上に形成され、第1の不透
明金属からなる遮光膜と、少なくとも該遮光膜を覆うよ
う基板上に形成された第1の絶縁層と、該絶縁層上に互
いに離間して形成され、透明導電体薄膜からなるソース
電極及びドレイン電極と、該両電極に両端を接して形成
された半導体層と、少なくとも前記両電極及び半導体層
を覆う第2の絶縁層と、該第2の絶縁層上に設けられ、
第2の不透明金属を含むゲート電極と、を備えた薄膜ト
ランジスタがマトリクス状に配列さ了 れたaクチイブマトリクス基板において、前記第1の絶
縁層、ソース電極、及び第2の絶縁層を順次選択的に除
去して、前記遮光膜に達するよう形成されたスルーホー
ルと、該スルーホール底面の遮光膜から第2の絶縁膜上
に達し、前記遮光膜及びソース電極と電気的に接続され
、不透明金属を含む導体と、を有してなるアクティブマ
トリクス基板を提供するものである。
く作用〉
上述の如く、ソース配線を透明導電体薄膜及び2つの不
透明金属層の三層構造とすることにより、ソース配線の
冗長がなされるため、例え断線が発生しても直ちに欠陥
に結びつくことがなくなり、線幅の細かいソース配線で
あっても高い歩留りにて製造することが可能となる。ま
た、不透明金属層と透明導体薄膜とが電気的に接続され
てソース配線をなすため、ソース配線の抵抗が小さくな
り、信号入力時の信号のロスが軽減される。
透明金属層の三層構造とすることにより、ソース配線の
冗長がなされるため、例え断線が発生しても直ちに欠陥
に結びつくことがなくなり、線幅の細かいソース配線で
あっても高い歩留りにて製造することが可能となる。ま
た、不透明金属層と透明導体薄膜とが電気的に接続され
てソース配線をなすため、ソース配線の抵抗が小さくな
り、信号入力時の信号のロスが軽減される。
〈実施例〉
以下、本発明の一実施例を図面を参照しながら説明する
が、本発明はこれに限定されるものではない。
が、本発明はこれに限定されるものではない。
第1図は本発明の一実施例を示す平面図であり、第2図
(a)〜(e)は第1図A−A’断面の製造工程を示す
要部断面図、第2図(f)〜(j)は第1図B−B’断
面の製造工程を示す要部断面図である。先ず、第2図(
a)、第2図(f)の如く、ガラス等の透明絶縁基板7
上全面にTa、Mo等の第1不透明金属を蒸着し、ホト
リソグラフィ技術を用いてパターニングして第1ソース
配線を兼ねる遮光用金属8を形成する。
(a)〜(e)は第1図A−A’断面の製造工程を示す
要部断面図、第2図(f)〜(j)は第1図B−B’断
面の製造工程を示す要部断面図である。先ず、第2図(
a)、第2図(f)の如く、ガラス等の透明絶縁基板7
上全面にTa、Mo等の第1不透明金属を蒸着し、ホト
リソグラフィ技術を用いてパターニングして第1ソース
配線を兼ねる遮光用金属8を形成する。
次に第2図(b)、第2図(g)の如く、基板7上に第
1絶縁層9及びITO等の透明導電体薄膜を順次形成し
、該透明導電体薄膜をホトリソグラフィ技術にてパター
ニングして絵素電極2と第2ソース配線12とを形成す
る。この時、第1絶縁層9は透明である必要があるため
、5i02等の絶縁膜を用いるとよい。続いて第2図(
C)、第2図(h)の如く、前記基板7上にアモルファ
スシリコン等からなる半導体層を形成し、一端が絵素電
極2に接し、他端が第2ソース配線12に接するようパ
ターニングして、半導体層4を形成する。次に第2図(
d)。
1絶縁層9及びITO等の透明導電体薄膜を順次形成し
、該透明導電体薄膜をホトリソグラフィ技術にてパター
ニングして絵素電極2と第2ソース配線12とを形成す
る。この時、第1絶縁層9は透明である必要があるため
、5i02等の絶縁膜を用いるとよい。続いて第2図(
C)、第2図(h)の如く、前記基板7上にアモルファ
スシリコン等からなる半導体層を形成し、一端が絵素電
極2に接し、他端が第2ソース配線12に接するようパ
ターニングして、半導体層4を形成する。次に第2図(
d)。
第2図(i)の如くゲート絶縁膜5をなす窒化シリコン
等の第2絶縁層を基板7全面に形成した後、該ゲート絶
縁膜5.第2ソース配線+2.及び第1絶縁層9をエツ
チングして遮光用金属層(第1ソース配線)8に達する
スルーホール10を形成スる。最後に第2図(e)、第
2図(j)の如く、基板7にTa、Mo等の第2不透明
金属層を形成し、該金属層をパターニングして半導体層
4上にゲートを極6を、第1ンース配線8及び第2ソー
ス配線12上に第3ソース配線11を形成する。この時
前記スルーホール10内にも金属層が形成されるため、
第3ソース配線11は第1ソース配線8及び第2ソース
配線12と接続される。こうして第1図の如きTPTが
完成する。
等の第2絶縁層を基板7全面に形成した後、該ゲート絶
縁膜5.第2ソース配線+2.及び第1絶縁層9をエツ
チングして遮光用金属層(第1ソース配線)8に達する
スルーホール10を形成スる。最後に第2図(e)、第
2図(j)の如く、基板7にTa、Mo等の第2不透明
金属層を形成し、該金属層をパターニングして半導体層
4上にゲートを極6を、第1ンース配線8及び第2ソー
ス配線12上に第3ソース配線11を形成する。この時
前記スルーホール10内にも金属層が形成されるため、
第3ソース配線11は第1ソース配線8及び第2ソース
配線12と接続される。こうして第1図の如きTPTが
完成する。
このようにソース配線を透明導電体薄膜、及び第1、第
2不透明金属層の三重配線構造にするこ了 とにより、ソース配線の冗長がなされ、eクチイブマト
リクス基板を高い歩留りで製造できるようになる。また
、不透明金属層と透明導電体薄膜とを接続することによ
りソース配線の抵抗が低くなり、信号のロスを軽減でき
安定してTPTを駆動することができる。更に、不透明
金属層により基板背面からの光がTPTの半導体層に達
するのを防止でき、TPTのオンオフ比を十分高くする
ことができてコントラストの高い表示を得ることができ
る。
2不透明金属層の三重配線構造にするこ了 とにより、ソース配線の冗長がなされ、eクチイブマト
リクス基板を高い歩留りで製造できるようになる。また
、不透明金属層と透明導電体薄膜とを接続することによ
りソース配線の抵抗が低くなり、信号のロスを軽減でき
安定してTPTを駆動することができる。更に、不透明
金属層により基板背面からの光がTPTの半導体層に達
するのを防止でき、TPTのオンオフ比を十分高くする
ことができてコントラストの高い表示を得ることができ
る。
〈発明の効果〉
本発明により、配線の断線がなく、安定した駆動が可能
なTPTを得ることが可能になるため、了 信頼性の高いTPTを備えたaクチイブマトリクス基板
を高歩留りにて製造することが可能となる。
なTPTを得ることが可能になるため、了 信頼性の高いTPTを備えたaクチイブマトリクス基板
を高歩留りにて製造することが可能となる。
第1図は本発明の一実施例を示す平面図、第2図(a)
〜(j)は本発明の一実施例の製造プロセスを示す要部
断面図、第3図はTPTの等価回路図、第4図(a)
、 (b)は従来例を示す断面図である。 2:絵素電極、4:半導体層、5:第2絶縁層。 6:ゲート電極、7:透明絶縁基板、8:第1不透明金
属層(第1ソース配線)、9:第1絶縁層。 10ニスルーホール、11:第2不透明金属層(第3ソ
ース配線)、+2;第2ソース配線。
〜(j)は本発明の一実施例の製造プロセスを示す要部
断面図、第3図はTPTの等価回路図、第4図(a)
、 (b)は従来例を示す断面図である。 2:絵素電極、4:半導体層、5:第2絶縁層。 6:ゲート電極、7:透明絶縁基板、8:第1不透明金
属層(第1ソース配線)、9:第1絶縁層。 10ニスルーホール、11:第2不透明金属層(第3ソ
ース配線)、+2;第2ソース配線。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、透明絶縁基板と、 該基板上に形成され、第1の不透明金属からなる遮光膜
と、 少なくとも該遮光膜を覆うよう基板上に形成された第1
の絶縁層と、 該絶縁層上に互いに離間して形成され、透明導電体薄膜
からなるソース電極及びドレイン電極と、 該両電極に両端を接して形成された半導体層と、 少なくとも前記両電極及び半導体層を覆う第2の絶縁層
と、 該第2の絶縁層上に設けられ、第2の不透明金属を含む
ゲート電極と、を備えた薄膜トランジスタがマトリクス
状に配列されたアクティブマトリクス基板において、 前記第1の絶縁層、ソース電極、及び第2の絶縁層を順
次選択的に除去して、前記遮光膜に達するよう形成され
たスルーホールと、 該スルーホール底面の遮光膜から第2の絶縁膜上に達し
、前記遮光膜及びソース電極と電気的に接続され、不透
明金属を含む導体と、を有してなることを特徴とするア
クティブマトリクス基板。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63095057A JPH01266513A (ja) | 1988-04-18 | 1988-04-18 | アクティブマトリクス基板 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63095057A JPH01266513A (ja) | 1988-04-18 | 1988-04-18 | アクティブマトリクス基板 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01266513A true JPH01266513A (ja) | 1989-10-24 |
Family
ID=14127416
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63095057A Pending JPH01266513A (ja) | 1988-04-18 | 1988-04-18 | アクティブマトリクス基板 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH01266513A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5426313A (en) * | 1993-04-22 | 1995-06-20 | Nec Corporation | Thin film transistor array having optical shield layer |
JPH0850308A (ja) * | 1994-06-03 | 1996-02-20 | Furontetsuku:Kk | 電気光学素子の製造方法 |
JP2008224806A (ja) * | 2007-03-09 | 2008-09-25 | Mitsubishi Electric Corp | 表示装置及びその製造方法 |
-
1988
- 1988-04-18 JP JP63095057A patent/JPH01266513A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5426313A (en) * | 1993-04-22 | 1995-06-20 | Nec Corporation | Thin film transistor array having optical shield layer |
JPH0850308A (ja) * | 1994-06-03 | 1996-02-20 | Furontetsuku:Kk | 電気光学素子の製造方法 |
JP2008224806A (ja) * | 2007-03-09 | 2008-09-25 | Mitsubishi Electric Corp | 表示装置及びその製造方法 |
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