JPH01248396A - Dynamic random access memory - Google Patents
Dynamic random access memoryInfo
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- JPH01248396A JPH01248396A JP63077120A JP7712088A JPH01248396A JP H01248396 A JPH01248396 A JP H01248396A JP 63077120 A JP63077120 A JP 63077120A JP 7712088 A JP7712088 A JP 7712088A JP H01248396 A JPH01248396 A JP H01248396A
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明はダイナミック・ランダム・アクセス・メモリに
関し、特に半導体メモリのうち機能の切り換えのできる
ダイナミック・ランダム・アクセス・メモリに関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to a dynamic random access memory, and more particularly to a dynamic random access memory whose function can be switched among semiconductor memories.
現在、半導体メモリの中でも、特に、ダイナミック・ラ
ンダム・アクセス・メモリ(以後DRAMと略す)にお
いて、高速化を計るための機能としてページ・モード(
Page Mode)、 N B Lモード(Nibb
le Mode)、或いはスタチックコラムモード(S
tatic column Mode)といっな様々な
ものが実現されている。しかしこれらの機能は、同一デ
バイスにおいては同時にもなせることができず、それぞ
れ別な品種として存在している。例えば、従来のNBL
モードのデバイスとページモードのデバイスとの切り換
えは、第4図で示すようになっていた。Currently, among semiconductor memories, especially dynamic random access memories (hereinafter referred to as DRAM), page mode (page mode) is used as a function to increase speed.
Page Mode), NBL Mode (Nibb
mode) or static column mode (S
tatic column mode). However, these functions cannot be performed simultaneously in the same device, and they exist as different types. For example, traditional NBL
Switching between a mode device and a page mode device is as shown in FIG.
第4図において、QNIO〜QN+3はNチャネルトラ
ンジスタ、INV29〜INV32は反転回路、NO5
はNOR回路、NA10〜NAl1はNAND回路、1
はコラムアドレスストローブ(以下” CA S ”と
いう)系制御回路、2はNBLにプル)系制御回路、5
EENDはセンス完了信号でCAS系のスタート信号、
MSI・2はマスクスライスによる切断もしくはヒユー
ズを示す(以下“MS]・MS2′′という)。In FIG. 4, QNIO to QN+3 are N-channel transistors, INV29 to INV32 are inverting circuits, and NO5
is a NOR circuit, NA10 to NAl1 are NAND circuits, 1
is a column address strobe (hereinafter referred to as "CAS") system control circuit, 2 is a pull to NBL) system control circuit, 5
EEND is the sense completion signal and the CAS system start signal.
MSI.2 indicates a cut or fuse by mask slicing (hereinafter referred to as "MS".MS2'').
この従来の例では、MSI・MS2部分を接続状態とす
れば、−度CAS系かアクティブ状態となると、CAS
系のアクティブ信号CAS 1により接点aおよびbを
低電位にクランプする。その結果CAS−信号がリセッ
ト状態となってもCAS系のリセットはされず、NBL
系のみがリセッ1〜され、CAS信号に同期してNBL
系のみが動作する。すなわち第3図に示す回路は、NB
Lモードで動作する。また、MSIおよびMS2が切断
状態であれば、CAS系のアクティブ信号CAS2によ
り接点aおよびbにはなんら変化も与えず、CAS信号
に同期してCAS系は動作する。In this conventional example, if the MSI/MS2 part is in the connected state, when the CAS system becomes active, the CAS
Contacts a and b are clamped to a low potential by system active signal CAS1. As a result, even if the CAS- signal goes into the reset state, the CAS system is not reset, and the NBL
Only the system is reset from 1 to NBL in synchronization with the CAS signal.
Only the system works. That is, the circuit shown in FIG.
Operates in L mode. Furthermore, if MSI and MS2 are in the disconnected state, the CAS system active signal CAS2 causes no change to contacts a and b, and the CAS system operates in synchronization with the CAS signal.
すなわちページモードの動作が可能となる。In other words, page mode operation becomes possible.
このようにMSIおよびMS2を接続するか否かによっ
て、2つの機能の切り換えを行なっていた。ここでCA
S系のアクティブ信号CASIとセンス完了信号5EE
NDを使ったラッチ回路はスタンバイ状態においてCA
S信号の初段での電流消費をカットするためのものであ
る。In this way, two functions were switched depending on whether or not the MSI and MS2 were connected. Here CA
S-system active signal CASI and sense completion signal 5EE
The latch circuit using ND is CA in standby state.
This is to cut the current consumption at the first stage of the S signal.
上述したように、従来の機能の切り換えに際しては、接
点MSI・MS2を拡散工程における後工程でマスクス
ライス化するか、或いはヒユーズを設けてマスクセーバ
ー等で切断するかといったように、ハード的に行なって
いた。そのため組立て後の切り換えは不可能であるとい
う欠点がある。As mentioned above, conventional switching of functions is done by hardware, such as by slicing the contacts MSI and MS2 into mask slices in a post-diffusion process, or by providing a fuse and cutting it with a mask saver or the like. was. Therefore, there is a drawback that switching after assembly is impossible.
上述した従来の機能の切り換え方法かハード的なものに
対して本発明は、RAS信号およびσT丁倍信号共にロ
ウのアクティブ状態からます[TS−信号をリセットし
くすなわちハイ状態とし)、その後RAS信号をリセッ
トした時からある一定時間の間、例えはライトイネーブ
ル信号(以下パW−r信号′”という)などのクロック
をロウにした時のみモードを切り換える事がてきるよう
に、リセッ1〜時に簡単にモート切り換えができるとい
う相違点を有する。In contrast to the conventional function switching method described above, which is based on hardware, the present invention starts with the active state of both the RAS signal and the σT double signal (resetting the TS- signal, that is, setting it in the high state), and then switches the RAS signal to the high state. From reset 1 to The difference is that mote switching can be done easily.
本発明のダイナミック・ランダム・アクセスメモリは、
ダイナミック・ランタム・アクセス・メモリにおいて、
ロウ・アドレス・ストローブ信号と、コラム・アドレス
・ストローブ信号とがロウレベルのアクティブ状態とさ
れた後、前記2個のストローブ信号のうちいずれか一方
がリセットされたとき、他のクロック信号の状態によっ
てデバイスの機能を切替えるための判定回路を備えて構
成される。The dynamic random access memory of the present invention is
In dynamic random access memory,
After the row address strobe signal and the column address strobe signal are activated at low level, when one of the two strobe signals is reset, the device is activated depending on the state of the other clock signal. The system is equipped with a determination circuit for switching the functions of the system.
次に、本発明について図面を参照して説明する。 Next, the present invention will be explained with reference to the drawings.
第1図は本発明の一実施例の構成を示す回路図で、第2
図は第1図の回路のタイムチャートである。FIG. 1 is a circuit diagram showing the configuration of one embodiment of the present invention.
The figure is a time chart of the circuit of FIG.
まず、第1図〜第2図より本発明の詳細な説明する。本
実施例においては、デバイスの機能を切替えるための判
定回路は、CAS先行先行リセット判御
5回路11と、CAS先行リセすトWE判定回路制御回
路12と、CAS先行リセすトWE判定回路13と、モ
ード変換回路制御回路14と、モード変換回路15とか
ら構成される。First, the present invention will be explained in detail with reference to FIGS. 1 and 2. In this embodiment, the determination circuits for switching the functions of the device include a CAS advance reset determination circuit 5 circuit 11, a CAS advance reset WE determination circuit control circuit 12, and a CAS advance reset WE determination circuit 13. , a mode conversion circuit control circuit 14 , and a mode conversion circuit 15 .
第1図において、11丁はロウ・アドレス・ストローブ
、CASはコラム・アドレス・ストローブで外部入力信
号である。INVI〜INV24は反転回路、NAI〜
NA7はナンド(NAND)回路、NOI〜NO3はノ
ア(NOR,)回路、DE1〜DE2は遅延回路、Q
p l” Q p3はPチャネルトランジスタ、QNI
〜QN3はNチャネルトランジスタである。In FIG. 1, numeral 11 is a row address strobe, and CAS is a column address strobe, which are external input signals. INVI~INV24 is an inverting circuit, NAI~
NA7 is a NAND circuit, NOI to NO3 are NOR circuits, DE1 to DE2 are delay circuits, Q
p l” Q p3 is P channel transistor, QNI
~QN3 is an N-channel transistor.
本発明の動作は、RAS信号 −V子信号共にロウにお
けるアクティブ状態の後、CAS信号をRAS信号より
も先にリセットし、次にRAS信号をリセットした時か
らある一定時間T[信号をロウとする事により、モード
の変換を可能とさせるものである。The operation of the present invention is to reset the CAS signal before the RAS signal after both the RAS signal and the V-signal are in the active state at low level, and then keep the signal low for a certain period of time T from the time the RAS signal is reset. By doing so, it is possible to convert the mode.
すなわち、第2図も併用して見るに、CAS先行リセッ
ト判定回路11により、CAS信号が先6一
にリセットされ次にRAS信号がリセットされた時、信
号A1がハイからロウになり、CAS先行リセすトWE
判定回路制御回路12が活性化され、信号B1がハイか
らロウになる。CAS先行リセすトWE判定回路13が
イネーブルとなり、その時T[信号かロウであれば、そ
の状態を信号B2がロウからハイに信号「Yがその逆と
なる事によりラッチし、それにより信号C1かハイから
ロウにラッチされる。この信号C1のハイがらロウへの
変化がモード変換回路制御回路14の反転回路INV1
5〜17とNAND回路NA7と遅延回路DE1とで構
成された単パルス発生回路に入力され、信号「「はハイ
からロウへの、信号D1はロウからハイへの単パルスと
なる。That is, as seen in conjunction with FIG. 2, when the CAS signal is first reset and then the RAS signal is reset by the CAS advance reset determination circuit 11, the signal A1 changes from high to low, and the CAS advance reset determination circuit 11 changes the signal A1 from high to low. Reset WE
The determination circuit control circuit 12 is activated, and the signal B1 changes from high to low. The CAS pre-reset WE determination circuit 13 is enabled, and if the T[ signal is low at that time, the state is latched by the signal B2 changing from low to high and the signal Y becoming the opposite, and thereby the signal C1 The signal C1 is latched from high to low.The change of the signal C1 from high to low causes the inversion circuit INV1 of the mode conversion circuit control circuit 14 to be latched.
5 to 17, a NAND circuit NA7, and a delay circuit DE1, the signal "" becomes a single pulse from high to low, and the signal D1 becomes a single pulse from low to high.
これらの信号によりモード変換回路15のPチャネルト
ランジスタQPSおよびNチャネルトランジスタQN3
のトランスファーが導通状態となり、信号E2の状態が
信号E3に伝わり、モード変換信号CMODEがハイで
あったならロウに、ロウ−7=
てあったならハイというように出力が反転する。These signals cause the P channel transistor QPS and the N channel transistor QN3 of the mode conversion circuit 15 to
The transfer becomes conductive, the state of the signal E2 is transmitted to the signal E3, and the output is inverted such that if the mode conversion signal CMODE was high, it becomes low, and if it was low -7, it becomes high.
次に、信号D1を遅延回路DE2に通して遅延した信号
D2が遅れてハイからロウへ、信号「Yはロウからハイ
への単パルス信号によりMODE変換回路のPチャネル
トランジスタQP2.NチャネルトランジスタQN2の
1ヘランスフアーが導通状態となり、信号E]の状態を
逆転させラッチする。Next, the signal D1 is passed through the delay circuit DE2, and the delayed signal D2 is delayed and changes from high to low. 1 of the signal becomes conductive, inverting the state of the signal E and latching it.
ここでモード変換信号(以下CMODE信号という)が
ハイてあれば、第3図におけるMSI・MS2が導通し
ている状態と同等になりNBLモードの動作を可能とし
、CMODE信号がロウであればMSI・MS2が非導
通状態と同等になりページモートを可能とする。このよ
うにCAS信号をRA S信号より先にリセットし、R
AS信号がハイとなってからある一定時間T「信号をロ
ウに保持すると、今までNBLモードであればページモ
ードに、ページモートであればNBLモードになるとい
うように、リセット期間中にモード変換を可能としたも
のである。Here, if the mode conversion signal (hereinafter referred to as CMODE signal) is high, it is equivalent to the state in which MSI/MS2 is conductive in Figure 3, and NBL mode operation is possible, and if the CMODE signal is low, MSI - MS2 becomes equivalent to a non-conducting state, allowing page mote. In this way, the CAS signal is reset before the RAS signal, and the R
If the AS signal is held low for a certain period of time T after the AS signal goes high, mode conversion will occur during the reset period, such as changing from NBL mode to page mode and page mode to NBL mode. This made it possible.
この時、電源投入後の最初の状態をN B Lモードか
ページモードかどちらかに決めた方が使いやすいがそれ
は以下の方法で可能である。例えば、最初の状態をペー
ジモードにする時は、モード変換回路15の反転回路I
NV2Oを反転回路INV21に比較して電流能力を
大きくしかつ信号E1・E2の負荷を同じにすると共に
、同様に反転回路INV22を反転回路INV23に比
較して電流能力を大きくしかつ信号E3・E4の負荷を
同じにする。こうすると電源投入後信号E2は、信号E
1より先にハイとなり、信号E4は信号E3より先にハ
イとなり、CMODE信号はロウとなる。そして電源投
入後最初のモードは、ページモードとなってその後σn
信号をR,AS信号より先にリセットし、その後RAS
信号をリセットした時T[信号をロウとすると、NBL
モードに変換され、次に同様のリセット方法を行うとペ
ージモードに変わるという事になる。なお、ここではC
AS信号をRAS信号より先にリセットしているが、リ
セットする信号の前後関係を逆にしても実現できる。At this time, it is easier to use if the initial state after the power is turned on is set to either NBL mode or page mode, but this can be done in the following manner. For example, when setting the initial state to page mode, the inversion circuit I of the mode conversion circuit 15
The current capacity is increased by comparing NV2O with the inverting circuit INV21 and the loads of the signals E1 and E2 are made the same, and the current capacity is similarly increased by comparing the inverting circuit INV22 with the inverting circuit INV23 and the signals E3 and E4 are made the same. make the load the same. In this way, after the power is turned on, the signal E2 becomes the signal E
1, the signal E4 goes high before the signal E3, and the CMODE signal goes low. The first mode after turning on the power is page mode, and then σn
The signal is reset before the R and AS signals, and then the RAS
When the signal is reset, T [if the signal is low, NBL
mode, and the next time you use the same reset method, it will change to page mode. In addition, here C
Although the AS signal is reset before the RAS signal, this can also be achieved by reversing the order of the signals to be reset.
以上説明したように、本発明は、RAS信号とCA□「
信号とをともにロウのアクティブ状態からCAS信号を
RAS信号より先にリセットし、R−AS信号をリセッ
トした時からある一定時間の間、T[信号をロウにした
時にのみ信号が変化するモード変換回路を設ける事によ
り、不安のダミーサイクルを必要とせす、リセット時に
モードの切り換えを行う事が可能となったため、1デバ
イスで複数種類の機能を持たせ、なおかつモードの切換
か容易であるという効果かある。As explained above, the present invention combines the RAS signal and the CA
The CAS signal is reset from the low active state together with the RAS signal, and for a certain period of time after resetting the R-AS signal, the T By providing a circuit, it is now possible to switch modes at reset, which eliminates the need for an uneasy dummy cycle. This has the effect of allowing one device to have multiple types of functions, while also making it easy to switch modes. There is.
第1−図は本発明の一実施例の構成を示す回路図、第2
図は第1図の回路のタイムチャート、第3図は従来の技
術による一例の構成を示す回路図。
■・・・CAS系制御回路、2・・・NBL系制御回路
、]−1・・・CAS先行リセット判定回路、12・・
・CAS先行リセすトWE判定回路制御回路、13・・
・CAS先行リセすトWE判定回路、14・・・モード
変換回路制御回路、15・・・モード変換回路。Figure 1 is a circuit diagram showing the configuration of an embodiment of the present invention;
1 is a time chart of the circuit shown in FIG. 1, and FIG. 3 is a circuit diagram showing an example of the configuration of a conventional technique. ■...CAS system control circuit, 2...NBL system control circuit, ]-1...CAS advance reset determination circuit, 12...
・CAS advance reset WE judgment circuit control circuit, 13...
- CAS advance reset WE determination circuit, 14... mode conversion circuit control circuit, 15... mode conversion circuit.
Claims (1)
ロウ・アドレス・ストローブ信号と、コラム・アドレス
・ストローブ信号とがロウレベルのアクティブ状態とさ
れた後、前記2個のストローブ信号のうちいずれか一方
がリセットされたとき、他のクロック信号の状態によっ
てデバイスの機能を切替えるための判定回路を備えて成
ることを特徴とするダイナミック・ランダム・アクセス
・メモリ。In dynamic random access memory,
After the row address strobe signal and the column address strobe signal are activated at low level, when one of the two strobe signals is reset, the device is activated depending on the state of the other clock signal. What is claimed is: 1. A dynamic random access memory comprising a determination circuit for switching functions of a dynamic random access memory.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63077120A JPH01248396A (en) | 1988-03-29 | 1988-03-29 | Dynamic random access memory |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63077120A JPH01248396A (en) | 1988-03-29 | 1988-03-29 | Dynamic random access memory |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01248396A true JPH01248396A (en) | 1989-10-03 |
Family
ID=13624934
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63077120A Pending JPH01248396A (en) | 1988-03-29 | 1988-03-29 | Dynamic random access memory |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH01248396A (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH08180674A (en) * | 1994-07-19 | 1996-07-12 | Micron Technol Inc | Dynamic random-access memory device and its control method |
-
1988
- 1988-03-29 JP JP63077120A patent/JPH01248396A/en active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH08180674A (en) * | 1994-07-19 | 1996-07-12 | Micron Technol Inc | Dynamic random-access memory device and its control method |
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