JPH01238275A - Device and method for contracting image - Google Patents
Device and method for contracting imageInfo
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- JPH01238275A JPH01238275A JP63063802A JP6380288A JPH01238275A JP H01238275 A JPH01238275 A JP H01238275A JP 63063802 A JP63063802 A JP 63063802A JP 6380288 A JP6380288 A JP 6380288A JP H01238275 A JPH01238275 A JP H01238275A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。(57) [Summary] This bulletin contains application data before electronic filing, so abstract data is not recorded.
Description
【発明の詳細な説明】
〔目次〕
概要
産業上の利用分野
技術の背景(第8.9図)
従来の技術(第20図)
発明が解決しようとする課題(第10図)課題を解決す
るための手段(第1,2図)作用(第1,2図)
実施例
第一の実施例(第3図〜第10図)
第二の実施例(第11図〜第19図)
発明の効果
〔概要〕
被変換画素が配列された平面上に、希望する縮小率に応
じて投影法により定まる分割領域を設定し、当該平面上
に投影された変換画素が位置する分割領域に対応する論
理式に従って近傍被変換画素の濃度から変換画素の濃度
を求める画像縮小装置及び方法に関し、
細線の消失しないような変換画素を行う画像縮小装置及
び方法を提供することを目的とし、変換画素の近傍に位
置する所定の被変換画素群の濃度データを順次入力する
被変換画素入力手段と、前記縮小率に基づいて被変換画
素群の中から縮小により間引かれる細線上の間引き対象
画素を検知するために必要なデータの発生を行う間引き
データ発生手段と、希望する縮小率に基づいて前記変換
画素がどの分割領域に位置するかを判定する分割領域判
定手段と、間引きデータ、変換画素が位置する分割領域
及び被変換画素群の濃度データに基づいて変換画素の濃
度を算出する変換画素濃度算出手段とを有する構成であ
る。[Detailed description of the invention] [Table of Contents] Overview Background of the industrial application field technology (Figure 8.9) Prior art (Figure 20) Problem to be solved by the invention (Figure 10) Solving the problem Means for (Figs. 1 and 2) Effects (Figs. 1 and 2) First embodiment (Figs. 3 to 10) Second embodiment (Figs. 11 to 19) Effect [Summary] Set a divided area determined by a projection method according to the desired reduction ratio on a plane where pixels to be converted are arranged, and apply logic corresponding to the divided area where the converted pixels projected on the plane are located. Regarding an image reduction device and method for calculating the density of a converted pixel from the density of neighboring pixels to be converted according to the formula, the purpose of this article is to provide an image reduction device and method that performs conversion pixels that do not eliminate thin lines. a converted pixel input means for sequentially inputting density data of a predetermined group of located pixels to be converted; and a means for detecting thinning target pixels on a thin line to be thinned out by reduction from among the group of converted pixels based on the reduction rate. a thinned-out data generating means for generating data necessary for the conversion, a divided area determining means for determining in which divided area the converted pixel is located based on a desired reduction ratio, and a divided area determining means for determining in which divided area the converted pixel is located based on the thinned-out data and the converted pixel. The conversion pixel density calculation means calculates the density of the converted pixel based on the density data of the area and the group of pixels to be converted.
本発明はG4からG?lファクシミリ等の高密度から低
密度への画素密度変換または画像編集における画像変換
装置及び方法に係り、特に被変換画素が配列された平面
上に、希望する縮小率に応じて投影法により定まる分割
領域を設定し、当該平面上に投影された変換画素が位置
する分割領域に対応する論理式に従って近傍被変換画素
の濃度から変換画素の濃度を求める画像縮小装置及び方
法に関する。Is this invention G4 to G? It relates to an image conversion device and method for pixel density conversion from high density to low density such as facsimile or image editing, and in particular, division determined by a projection method according to a desired reduction ratio on a plane on which pixels to be converted are arranged. The present invention relates to an image reduction apparatus and method for setting a region and calculating the density of a converted pixel from the density of neighboring pixels to be converted according to a logical formula corresponding to a divided area in which a converted pixel projected onto the plane is located.
従来、画像の縮小を行う場合にSPC(Selecti
veProcessing Conversion)法
、論理和法、九分割法、高速投影法(時開358−97
958画像電子学界誌第11巻、第2号、72−83(
1982) )等が提案されており、いずれも近傍の被
変換画素4画素から変換画素の濃度を決める方法である
。Conventionally, when reducing an image, SPC (Select
veProcessing Conversion) method, logical sum method, nine-part method, high-speed projection method (Jikai 358-97
958 Image Electronics Academic Journal Vol. 11, No. 2, 72-83 (
1982)) and the like have been proposed, and both methods determine the density of a converted pixel from four nearby pixels to be converted.
SPC法では、縮小時に画像が細る傾向にあり、白・黒
画素の抜け(欠落)が目立つ。In the SPC method, the image tends to become thinner when reduced, and missing white and black pixels are noticeable.
また論理和法、九分割法では逆に画像が太り、黒画像に
よる潰れが増える欠点を持っている。In addition, the logical sum method and the nine-part method have the disadvantage that the image becomes thicker and the black image becomes more blurred.
一方、高速投影法は白・黒画素の抜けや潰れの少ない方
法として知られている。On the other hand, the high-speed projection method is known as a method that reduces omissions and collapse of black and white pixels.
高速投影法とは変換画素の濃度を決定する際の算術演算
を論理演算に替えて高速処理を実現したものである。高
速投影法は第8図に示すように被変換画像の平面内に変
換倍率に応じた分割領域G工〜G8を設定し、当該分割
領域内に被変換画素から変換画素の濃度を決定するため
の論理式を予め用意し、当該変換画素が位置する前記分
割領域に割り当てられた論理式に基づいて変換画素の濃
度を求めるようにしていた。The high-speed projection method realizes high-speed processing by replacing arithmetic operations with logical operations when determining the density of converted pixels. In the high-speed projection method, as shown in Fig. 8, divided regions G to G8 are set in the plane of the converted image according to the conversion magnification, and the density of the converted pixel is determined from the converted pixel within the divided region. A logical formula is prepared in advance, and the density of the converted pixel is determined based on the logical formula assigned to the divided area where the converted pixel is located.
ここで、表1に当該論理式を示す。Here, Table 1 shows the logical formula.
表1.高速投影法(従来方式)論理式
第8図に投影法の原理を示す。同図に示すようにまず所
定の変換画素の近傍4画素A、B、C。Table 1. High-speed projection method (conventional method) Logical formula FIG. 8 shows the principle of the projection method. As shown in the figure, first, four pixels A, B, and C near a predetermined converted pixel.
Dを含む被変換画像面を4等分する。近傍4画素の画素
濃度をIA、IB、IC,1,とじ、変換画素Rを被変
換画素面に投影した際に、前記4等分した各分割領域に
投影される面積比率をWA、WB。Divide the converted image plane including D into four equal parts. The pixel densities of the four neighboring pixels are set as IA, IB, IC, 1, and when the converted pixel R is projected onto the converted pixel surface, the area ratios projected to each of the four equally divided areas are WA and WB.
W、、WDとする。Let W,,WD be.
投影法では変換側、素Rの濃度をIR=Σ1.*W。In the projection method, on the conversion side, the density of the element R is IR=Σ1. *W.
(i=A、B、C,D)としてする二値化するので、■
8≧0.5→IR=1 (黒) 、IR<0.5→■□
=0(白)のようになる。尚、第8図中のp 、、qは
X軸、y軸方向の変換縮小倍率である。(i = A, B, C, D), so ■
8≧0.5→IR=1 (black), IR<0.5→■□
= 0 (white). Note that p, , and q in FIG. 8 are conversion/reduction magnifications in the X-axis and y-axis directions.
さらに、当該投影法では変換画素Rの濃度を求めるのに
算術演算が必要なため、高速処理ができない。そこで、
高速投影法では、その算術演算を論理演算に置き換えて
高速化を図っている。第9図中の曲線は4画素の中の1
画素のみで変換画素Rの濃度が決定できる境界を示して
いる。例えば、G3と07とを分ける曲線は次式で与え
られる。Furthermore, since this projection method requires arithmetic operations to obtain the density of the converted pixel R, high-speed processing is not possible. Therefore,
The high-speed projection method replaces arithmetic operations with logical operations to increase speed. The curve in Figure 9 is one of four pixels.
It shows the boundary where the density of the converted pixel R can be determined only by pixels. For example, the curve separating G3 and 07 is given by the following equation.
(px+0.5)(qy+0.5)=0.5従って、表
1に示すように領域01〜G4では1画素のみ、領域0
5〜G8では他の3画素との結合を考慮した論理式とな
っている。(px+0.5)(qy+0.5)=0.5 Therefore, as shown in Table 1, only one pixel exists in areas 01 to G4;
5 to G8 are logical expressions that take into consideration the combination with the other three pixels.
従来、以上の投影法を用いて画像の縮小を行う場合には
、第20図に示すように投影により変換画素の近傍に位
置する被変換画素群の各濃度データを順次入力する被変
換画素入力手段201と、希望する縮小率に基づいて変
換画素がどの分割領域に属するかを判定する分割領域判
定手段203と、被変換画素人力単段201が入力した
前記被変換画素群の濃度データ及び各変換画素が属する
分割領域に基づいて変換画素の濃度を算出する変換画素
濃度算出手段205とを有する画像縮小装置を用いて画
像の縮小を行っていた。Conventionally, when reducing an image using the above projection method, as shown in FIG. 20, converted pixel input is performed in which each density data of a group of converted pixels located in the vicinity of a converted pixel is sequentially input by projection. means 201, a divided area determining means 203 that determines which divided area the converted pixel belongs to based on a desired reduction rate, and density data of the converted pixel group inputted by the converted pixel manual single stage 201, and each The image is reduced using an image reduction device having a converted pixel density calculation means 205 that calculates the density of the converted pixel based on the divided area to which the converted pixel belongs.
ところで、従来の画像縮小装置にあっては、縮小時にお
いて、X軸方向に対して垂直な線巾1/I)(+)はX
軸方向の縮小率)未満の縦線、y軸方向に対して垂直な
線巾1/q (qはy軸方向の縮小率)未満の横線を消
失するという問題点を有していた。By the way, in conventional image reduction devices, during reduction, the line width 1/I)(+) perpendicular to the X-axis direction is
This has the problem that vertical lines whose width is less than 1/q (where q is the reduction ratio in the y-axis direction) and horizontal lines whose width is less than 1/q (where q is the reduction ratio in the y-axis direction) are eliminated.
すなわち、第10図にX軸、y軸共に273に縮小する
場合の被変換画素と変換画素との位置関係を示す。被変
換画素、5oot〜S2□に対して、変換画素ROOe
Flos、 R□。、R工、が位置する領域は各々G
5. G a 、 G s 、G 7となる。従って
変換画素R□1の値は、表1の論理式即ちAI:(B+
C+D)+B*C*Dから“0″となる。以下変換画素
R1□、R2□。That is, FIG. 10 shows the positional relationship between the pixel to be converted and the converted pixel in the case of reduction to 273 on both the X-axis and the y-axis. For the pixel to be converted, 5oot~S2□, the converted pixel ROOe
Flos, R□. , R, are located in each region G
5. G a , G s , G 7. Therefore, the value of the converted pixel R□1 is determined by the logical formula in Table 1, that is, AI:(B+
C+D)+B*C*D becomes "0". The following converted pixels R1□, R2□.
R2□についても同様で“0′′となる為、被変換画素
S1□→S22→S3□またはS21→S2□→S23
に線巾1の白黒パターンが現れた場合に、変換画素には
上記の細線パターンが表現されず、間引かれた形となる
という問題点がある。そこで、本発明は以上の問題点を
解決することを技術的課題とするものであり、変換縮小
率に応じて間引きの対象となる(細線の消失の可能性の
ある)被変換画素を検知して、細線の消失しないような
変換画素を行う画像縮小装置及び方法を提供することを
目的としてなされたものである。Similarly, R2□ becomes “0'', so the converted pixel S1□→S22→S3□ or S21→S2□→S23
There is a problem in that when a black and white pattern with a line width of 1 appears in the converted pixel, the above-mentioned thin line pattern is not expressed in the converted pixel and becomes a thinned-out pattern. Therefore, the technical object of the present invention is to solve the above-mentioned problems, and detects converted pixels that are to be thinned out (thin lines may disappear) according to the conversion reduction rate. The object of the present invention is to provide an image reduction device and method that performs conversion pixel processing that prevents thin lines from disappearing.
以上の技術的課題を解決するため第一の発明は第1図に
示すように被変換画素が配列された平面上に、希望する
縮小率に応じて投影法により定まる分割領域を設定し、
当該平面上に投影された変換画素が位置する分割領域に
対応する論理式に従って近傍被変換画素の濃度から各変
換画素の濃度を求める画像縮小装置において、前記変換
画素の近傍に位置する被変換画素群の各濃度データを順
次入力する被変換画素入力手段1と、前記縮小率に基づ
いて前記被変換画素群の中から縮小により間引かれる細
線上の間引き対象画素を検知するために必要な間引きデ
ータの発生を行う間引きデータ発生手段2と、前記縮小
率に基づいて前記変換画素がどの分割領域に位置するか
を判定する分割領域判定手段3と、前記間引きデータ、
変換画素が位置する分割領域及び前記被変換画素の濃度
データに基づいて間引き対象か否かを検知して変換画素
の濃度を算出する変換画素濃度算出手段4とを有するこ
とを特徴とする画像縮小装置。In order to solve the above technical problems, the first invention sets divided regions determined by a projection method according to a desired reduction ratio on a plane in which pixels to be converted are arranged as shown in FIG.
In an image reduction device that calculates the density of each converted pixel from the density of neighboring converted pixels according to a logical formula corresponding to a divided area in which a converted pixel projected onto the plane is located, a converted pixel located in the vicinity of the converted pixel conversion pixel input means 1 for sequentially inputting density data of each group; and thinning necessary for detecting thinning target pixels on a thin line to be thinned out by reduction from among the conversion pixel group based on the reduction rate. a thinned-out data generating means 2 that generates data; a divided area determining means 3 that determines in which divided area the converted pixel is located based on the reduction rate; and the thinned-out data;
Image reduction characterized by comprising a divided area in which a converted pixel is located and a converted pixel density calculation means 4 that calculates the density of the converted pixel by detecting whether or not it is a thinning target based on the density data of the converted pixel. Device.
一方、第二の発明は第2図に示すように被変換画素が配
列された平面上に、希望する縮小率に応じて投影法によ
り定まる分割領域を設定し、当該平面上に投影された変
換画素が位置する分割領域に対応する論理式に従って近
傍被変換画素の濃度から変換画素の濃度を求める画像縮
小方法において、前記変換画素の近傍に位置する所定の
被変換画素群の濃度データを順次入力する過程(S1)
と、希望する縮小率に基づいて前記被変換画素群の中か
ら縮小により間引かれる間引き対象画素を検知するため
に必要な間引きデータの発生を行う過程(S2)と、前
記変換画素が属する分割領域の判定を行う過程(S3)
と、前記間引きデータ、変換画素が位置する分割領域及
び前記被変換画素群の濃度データに基づいて間引き対象
か否かを検知して変換画素の濃度を算出する過程(S4
)とを有するものである。On the other hand, the second invention sets divided regions determined by a projection method according to a desired reduction ratio on a plane in which pixels to be converted are arranged as shown in FIG. In an image reduction method that calculates the density of a converted pixel from the density of neighboring pixels to be converted according to a logical formula corresponding to a divided area in which the pixel is located, density data of a predetermined group of converted pixels located in the vicinity of the converted pixel is sequentially input. The process of doing (S1)
, a process (S2) of generating thinning data necessary for detecting thinning target pixels to be thinned out by reduction from among the converted pixel group based on a desired reduction rate; Process of determining area (S3)
and a step of calculating the density of the converted pixel by detecting whether or not it is a thinning target based on the thinning data, the divided area in which the converted pixel is located, and the density data of the converted pixel group (S4
).
本発明(第−及び第二の発明の詳細な説明する。 Detailed explanation of the present invention (first and second inventions).
本発明により画像の縮小を行う場合には、現時点で濃度
を定めようとする対象である変換画素に対して、ステッ
プS1において投影により当該変換画素の近傍に位置す
る所定の被変換画素群の濃度データを順次被変換画素入
力手段1により入力する。ここで、「所定の」とは当該
変換画素の濃度を定める際に影響を与える被変換画素群
であって、例えば被変換画素平面上に投影させた場合に
当該変換画素から一定の距離内にある被変換画素である
。When reducing an image according to the present invention, in step S1, the density of a predetermined group of converted pixels located near the converted pixel is determined by projection for the converted pixel whose density is currently being determined. Data is sequentially inputted by the converted pixel input means 1. Here, "predetermined" refers to a group of converted pixels that affects the density of the converted pixel, and for example, when projected onto the converted pixel plane, the group within a certain distance from the converted pixel. This is a pixel to be converted.
ステップS2において、間引きデータ発生手段2は希望
する前記縮小率に基づいて前記被変換画素が間引き対象
画素であるか否かを検知するために必要な間引きデータ
を発生させる。In step S2, the thinning data generating means 2 generates thinning data necessary for detecting whether the pixel to be converted is a pixel to be thinned out based on the desired reduction rate.
ここで、間引き対象画素とは被変換画素が前記縮小重分
の一未満の線巾をもつ細線(黒画素または白画素が線状
に連続的に配列されたもの)を形成する場合に、従来の
投影法によって縮小の細線が消去されてしまう被変換画
素のことであり、間引きデータとは当該被変換画素が間
引き対象画素であるか否かの判断を行うために必要なデ
ータであって、前記縮小率に基づいて定められる。これ
はある被変換画素が間引きされるか否かは、隣接する変
換画素位置により定められるものであり、当該変換画素
位置は前記希望する縮小率により一義的に定められるか
らである。Here, the pixel to be thinned out means that when the pixel to be converted forms a thin line (black pixels or white pixels arranged continuously in a line) with a line width less than one of the reduction weight, A pixel to be converted is a pixel whose thin line of reduction is erased by the projection method of It is determined based on the reduction rate. This is because whether or not a certain pixel to be converted is thinned out is determined by the position of the adjacent converted pixel, and the position of the converted pixel is uniquely determined by the desired reduction rate.
ステップS3で前記分割領域判定手段3は前記縮小率に
基づいて現時点の変換画素がどの分割領域に位置するか
を判定する。In step S3, the divided area determining means 3 determines in which divided area the current converted pixel is located based on the reduction ratio.
さらにステップS4では前記変換画素濃度算出手段4に
より前記間引きデータ、判定された当該変換画素が位置
する分割領域及び前記被変換画素群の濃度データに基づ
いて変換画素の濃度を算出することになり、以上の手順
は各変換画素毎に繰り返される。Further, in step S4, the converted pixel density calculation means 4 calculates the density of the converted pixel based on the thinned-out data, the divided area where the determined converted pixel is located, and the density data of the converted pixel group, The above procedure is repeated for each converted pixel.
すなわち、ステップs4では前記間引きデータにより前
記被変換画素内に間引き対象画素が存在すると判断され
た場合であっても、前記被変換画素群の濃度データから
当該間引き対象の画素が細線を形成しない場合には従来
と同様の方法で変換画素の濃度を決定するが、当該被変
換画素群の濃度データから当該間引きが縮小により間引
かれることになる当該細線を消去させないために、当該
細線パターンを変換画素の濃度に再現されるようにし、
前記被変換画素が間引き対象でない場合、または間引き
対象であっても細線を形成しない場合には通常の投影法
に従って変換画素の濃度を出力させるようにする。That is, in step s4, even if it is determined based on the thinning data that there is a pixel to be thinned out among the pixels to be converted, if the pixel to be thinned out does not form a thin line based on the density data of the group of pixels to be converted. The density of the converted pixel is determined using the same method as before, but in order to prevent the thin line that would be thinned out due to reduction from the density data of the converted pixel group, the thin line pattern is converted. so that it is reproduced to the density of the pixel,
If the pixel to be converted is not to be thinned out, or if it is to be thinned out but does not form a thin line, the density of the converted pixel is output according to a normal projection method.
続いて、本発明の第−及び第二の実施例について説明す
る。Next, a first and second embodiment of the present invention will be described.
く第一の実施例〉
第一の実施例に係る画像縮小装置として第3図に示すも
のがある。First Embodiment> An image reduction device according to a first embodiment is shown in FIG. 3.
本装置はX軸方向に細線消失防止をしながら画像の縮小
を行う装置であって、縮小率pとしては1>p≧173
に対応するものである。This device is a device that reduces the image while preventing thin lines from disappearing in the X-axis direction, and the reduction rate p is 1>p≧173.
This corresponds to
本装置は被変換画素平面内に現時点の変換画素を投影さ
せた場合に当該変換画素の近傍に位置する被変換画素群
の濃度データを順次入力する被変換画素入力手段1とし
てのシフトレジスタ11a、llbと、間引きデータ発
生手段2及び分割領域判定手段3としての横方向(X軸
方向)及び縦方向(y軸方向)の縮小率p、qに基づい
て間引きデータの発生及び現時点の変換画素の属する分
割領域の判定を行うとともに前記被変換画素入力手段1
1の入力制御を行う制御部12と、前記変換画素濃度算
出手段4としての論理演算回路13とを有する。This device includes a shift register 11a as a converted pixel input means 1 that sequentially inputs density data of a group of converted pixels located in the vicinity of the converted pixel when the current converted pixel is projected onto the converted pixel plane; llb, and the reduction ratios p and q in the horizontal direction (X-axis direction) and vertical direction (y-axis direction) as the thinned-out data generation means 2 and the divided area determination means 3. In addition to determining the divided area to which it belongs, the converted pixel input means 1
1, and a logic operation circuit 13 as the converted pixel density calculation means 4.
前記シフトレジスタlla、llbは各々現時点の変換
画素の近傍に位置する被変換画素群の上段及び下段の被
変換画素を順次入力して移動保持させるものである。The shift registers lla and llb sequentially input and move and hold the upper and lower converted pixels of the converted pixel group located in the vicinity of the current converted pixel.
各シフトレジスタlla、bの各段A−Lは第6図(a
)に示すような被変換画素の位置に相当するものであり
、縮小率pが1> p≧173の場合に対応することが
できるものである。尚、当該縮小率を超えて縮小する場
合については各シフトレジスタの段数を増加させれば良
い。Each stage A-L of each shift register lla, b is shown in FIG.
), and can correspond to the case where the reduction ratio p is 1>p≧173. Incidentally, in the case of reduction exceeding the reduction rate, the number of stages of each shift register may be increased.
前記制御部12はX、y軸方向に関する縮小率p、qに
基づいて間引きデータの発生及び分割領域の判定を行う
ものであり、変換画素濃度算出手段4が間引き対象画素
を検知するためには縮小率の如何に拘らず以下に示す5
個の間引きデータの発生が必要で十分である。The control unit 12 generates thinning data and determines division areas based on the reduction ratios p and q in the X and y axis directions, and in order for the converted pixel density calculation means 4 to detect pixels to be thinned out, Regardless of the reduction rate, the following 5
It is sufficient to generate thinned data of
ここで、間引きデータとは第4図に示すように、例えば
X軸方向について考えると、直前の変換画素R80の被
変換画素平面上での座標位置をXo、現時点の変換画素
R81の被変換画素平面上での座標位置をxl、次の変
換画素R82の被変換画素平面上での座標位置をx2.
変換画素R80からR81に移行する際に通過する被変
換画素の個数(シフト数) xshiftO、変換画素
R8、からRO2に移行する際に通過する被変換画素数
xshiftlの5個のパラメータについて、Xo >
0.0.x、 >0.0゜x2>0.0.xshift
o=1(または2)、xshiftl=1 (または2
)という条件を満たすか否かのデータであり、満たす場
合には1″、満たさない場合には110+1の1ビツト
のデータまたは前記xshiftO。Here, the thinned-out data is as shown in FIG. 4. For example, considering the X-axis direction, the coordinate position of the immediately previous converted pixel R80 on the converted pixel plane is Xo, and the converted pixel of the current converted pixel R81 is The coordinate position on the plane is xl, and the coordinate position of the next converted pixel R82 on the converted pixel plane is x2.
Regarding the five parameters, xshiftO, the number of converted pixels (shift number) that pass when moving from converted pixel R80 to R81, and xshiftl, the number of converted pixels that pass when moving from converted pixel R8 to RO2, Xo >
0.0. x, >0.0°x2>0.0. xshift
o=1 (or 2), xshiftl=1 (or 2
), and if the condition is satisfied, it is 1'', and if it is not, it is 1-bit data of 110+1 or the xshiftO.
xshiftlを区別するために必要な2ビツトのデー
タである(尚、X□〉0.0の条件は前記分割領域を判
定するために使用されるので省略可能である)。This is 2-bit data necessary to distinguish xshiftl (note that the condition of X□>0.0 is used to determine the divided area, so it can be omitted).
前記論理演算回路13で行う演算内容は後述するように
表1.2,3.4に示された内容に基づいて行われる。The contents of the calculation performed by the logic operation circuit 13 are performed based on the contents shown in Tables 1.2 and 3.4, as will be described later.
以下、本実施例の動作について説明する。The operation of this embodiment will be explained below.
当該装置により原画像の273の縮小を行う場合には、
所定の変換画素に対して、投影により当該変換画素の近
傍に属する被変換画素群、すなわち、当該変換画素を囲
む被変換画素群を順次前記被変換画素入力手段11に入
力させる。When reducing the original image by 273 using the device,
For a predetermined converted pixel, a group of converted pixels that belong to the vicinity of the converted pixel, that is, a group of converted pixels surrounding the converted pixel, are sequentially input to the converted pixel input means 11 by projection.
その際、前記シフトレジスタllaには第4図に示した
変換画素の上段にある被変換画素が順次移動保持され、
前記シフトレジスタllbには当該変換画素の下段にあ
る被変換画素が順次移動保持される。当該移動のタイミ
ングは前記制御部12からの信号に基づいて、変換画素
毎に行われることになる。At this time, the pixels to be converted in the upper row of the converted pixels shown in FIG. 4 are sequentially moved and held in the shift register lla,
The shift register llb sequentially moves and holds the converted pixels located below the converted pixel. The timing of the movement is performed for each converted pixel based on the signal from the control section 12.
一方、前記制御部12は直前の変換画素R8゜、現時点
の変換画素R8!、次の変換画素R82についての第4
図に示した座標値x0、xl、x2の3個のパラメータ
についての前記条件を満たすか否かについて判断し満た
す場合には“1°′のデータを満たさない場合にはRO
ljの1ビツトのデータを発生させ、xshiftO,
xshiftlの二条性については2ビツトで表した間
引きデータを発生させる。On the other hand, the control unit 12 controls the previous converted pixel R8°, the current converted pixel R8! , the fourth for the next converted pixel R82
It is judged whether or not the above conditions are satisfied for the three parameters of the coordinate values x0, xl, x2 shown in the figure.
Generate 1-bit data of lj, xshiftO,
Regarding the two-line property of xshiftl, thinned data expressed in 2 bits is generated.
また、分割領域判定手段3としての当該制御部12は当
該縮小率p、qに基づいて前記変換画素Roo、Ro□
、Ro1について順次当該変換画素が属すべき分割領域
についての判定を、当該変換画素の各座標値から
前述した式(px+0.5) (qy+o、5)=o、
sに基づいて行い、G□〜G8のどの分割領域に属する
かを3と・シトのデータで表して出力するものである。Further, the control unit 12 as the divided area determination means 3 determines the converted pixels Roo, Ro□ based on the reduction ratios p and q.
, Ro1, the division area to which the converted pixel belongs is determined sequentially using the above-mentioned formula (px+0.5) (qy+o, 5)=o, from each coordinate value of the converted pixel.
This is performed based on s, and the divided area from G□ to G8 is expressed as data of 3 and . and is output.
こうして得られた前記間引きデータ、前記シフ1−レジ
スタlla、bに入力した前記被変換画素群の濃度デー
タ及び当該変換画素が属すべき分割領域に基づいて間引
き対象を検知して各変換画素の濃度を算出することにな
る。Based on the thinning data thus obtained, the density data of the converted pixel group input to the shift 1 registers lla and b, and the divided area to which the converted pixel belongs, the thinning target is detected, and the density of each converted pixel is detected. will be calculated.
ここで、当該論理演算回路13は以下のようにして変換
画素の濃度の算出を行うことになる。Here, the logical operation circuit 13 calculates the density of the converted pixel as follows.
まず、当該論理演算回路13に入力した間引き条件に基
づいて、現時点の変換画素の近傍に位置する被変換画素
が間引き対象であるか否かを表2または表3に従って判
断する。First, based on the thinning conditions input to the logic operation circuit 13, it is determined according to Table 2 or Table 3 whether the pixel to be converted located near the current converted pixel is to be thinned out.
注11 Xo >0.0.X+ >0.0.X曹>o、
oの11”は不等式が真、”o″は偽を表している。Note 11 Xo >0.0. X+ >0.0. X Cao>o,
11" of o indicates that the inequality is true, and "o" indicates that the inequality is false.
尚、表2は縮小率が1>p≧172に対応するものであ
り、表3は1/2>p≧173に対応するものである。Note that Table 2 corresponds to the reduction ratio of 1>p≧172, and Table 3 corresponds to 1/2>p≧173.
今、希望する縮小率が273とすれば、表2の場合に相
当する。Now, if the desired reduction rate is 273, this corresponds to the case in Table 2.
また、第10図に示すような被変換画素の配列が形成さ
れているとする。Further, it is assumed that an array of pixels to be converted as shown in FIG. 10 is formed.
すなわち、第10図において、被変換画素S工。→S2
□→S3□の濃度が“”1”(黒)で、他の被変換画素
が全て11011(白)の場合を考える。That is, in FIG. 10, the pixel S to be converted. →S2
Consider a case where the density of □→S3□ is "1" (black) and all other pixels to be converted are 11011 (white).
今、現時点の変換画素が第10図におけるR1□である
とする(図4では上R81に相当する)。Assume that the current converted pixel is R1□ in FIG. 10 (corresponding to upper R81 in FIG. 4).
当該変換画素R80は近傍の4個の被変換画素A(S工
t) 、 B (S21) 、 C(S2□)、D(S
t□)に囲まれ、前記制御部12により当該変換画素位
置は分割当領域G5に属すると判定され、当該制御部1
2から該変換座標のX座標値は縮小率が273であるか
ら第10図または第4図に示すようにXo <o、oて
あり、図上x2>0.0.xshiftl=1という間
引きデータを表す信号が入力する。The converted pixel R80 is connected to four nearby converted pixels A (S), B (S21), C (S2□), and D (S).
t
2, the X coordinate value of the converted coordinate has a reduction ratio of 273, so as shown in FIG. 10 or FIG. A signal representing thinned data xshiftl=1 is input.
すると、当該論理演算回路13は当該間引きデータから
表2に表すような論理演算を行うことにより当該変換画
素R工□が表2の条件10に相当し近傍にある被変換画
素のうち、図上CDが間引き対象であることと、当該被
変換画素が第5図に示すような細線パターンNo、2を
形成していることとを検知する。Then, the logic operation circuit 13 performs a logic operation as shown in Table 2 from the thinned-out data, so that the converted pixel R corresponds to condition 10 in Table 2 and is one of the nearby converted pixels on the diagram. It is detected that the CD is to be thinned out and that the pixels to be converted form a thin line pattern No. 2 as shown in FIG.
こうして得られた情報、すなわち当該変換画素R11が
分割領域G5に位置するという情報から表4に示された
論理式に対応させ、当該変換画素の近傍に間引き対象と
なる被変換画素が存在するという情報及び被変換画素の
濃度データを当該論理式に代入することにより当該変換
画素R工、の濃度を算出することになる。Based on the information obtained in this way, that is, the information that the converted pixel R11 is located in the divided area G5, it is determined that there is a converted pixel to be thinned out in the vicinity of the converted pixel, based on the logical formula shown in Table 4. By substituting the information and the density data of the converted pixel into the logical formula, the density of the converted pixel R is calculated.
PI−Xi本八へB$5$5本E車F粍本H5図5の細
線パターン4に対応P2・×2零人事n本CオD零E粁
机零H,l]5の細線パターン3に対応Q1・×1本人
本n零〇寥り家仁零ti掌口;図5の細線パターン2に
対応02〜×2享At8富い5i車Pt5*R:図5の
細線パターン1に対応Xl:IF (xt〉0.0)
OR(xshiftl−2) TIIEN I ELS
E O;表2の条件10.13よりX2:IF (xs
hifto−2) TIIEN I ELSE Q
H表2の条件8よりすなわち、当該変換画素
R工□の濃度は通常の間引き対象でない場合には前記表
4の論理式(表1と同じ)に従い0゛°の濃度となるが
、間引き条件を代入することにより細線パターンを形成
する場合には表3の論理式より“1”の濃度が算出され
ることになる。PI-Xi to book eight B $ 5 $ 5 E car F book H 5 Corresponds to thin line pattern 4 in Figure 5 P2 x 2 zero personnel n book C o D zero E 粁 machine zero H, l ] 5 thin line pattern Corresponds to 3 Q1・×1 Principal n Zero 〇 Owner Rei ti palm mouth; Corresponds to thin line pattern 2 in Figure 5 02~×2 Kyo At8 rich 5i car Pt5*R: To thin line pattern 1 in Figure 5 Compatible Xl: IF (xt>0.0)
OR(xshiftl-2) TIIEN I ELS
E O; From condition 10.13 in Table 2, X2:IF (xs
hifto-2) TIIEN I ELSE Q
According to condition 8 in Table 2, if the converted pixel R is not subject to normal thinning, the density will be 0゛° according to the logical formula in Table 4 (same as Table 1), but under thinning conditions When forming a thin line pattern by substituting , the density of "1" will be calculated from the logical formula in Table 3.
同様にして次の変換画素R1□について前述した手順を
繰り返すことになる。Similarly, the above-described procedure is repeated for the next converted pixel R1□.
当該変換画素R工2にの場合には前記制御部12からX
。<0.0であって、Xi >o、oであり、にshi
’ft0=1という条件を表す間引きデータが発生し、
また当該制御部12より当該変換画素は分割領域G8に
位置する旨が判定される。In the case of the conversion pixel R 2, the control section 12 sends
. <0.0 and Xi >o, o and shi
Thinned data representing the condition 'ft0=1 is generated,
Further, the control unit 12 determines that the converted pixel is located in the divided region G8.
これらの情報及び前記被変換画素入力手段11に入力し
た被変換画素の濃度は前記論理演算回路13に入力する
ことになる。These information and the density of the converted pixel input to the converted pixel input means 11 are input to the logic operation circuit 13.
当該論理演算回路13は前記間引きデータが表2の条件
2に相当することを検知し、被変換画素S□2.$2□
が間引き対象である被変換画素A、 Bとなる。しかし
、既にS1□、S2□の゛1°′情報はR1□にて再現
されているので、第5図の細線パターンN011に該当
するけれども細線パターンとみなさず、前記表3の当該
変換画素が属する分割領域の対応する論理式から0′°
となる。The logic operation circuit 13 detects that the thinned-out data corresponds to condition 2 of Table 2, and converts the pixel to be converted S□2. $2□
are the converted pixels A and B to be thinned out. However, since the '1°' information of S1□ and S2□ has already been reproduced in R1□, although it corresponds to thin line pattern No. 011 in FIG. 5, it is not regarded as a thin line pattern, and the corresponding converted pixels in Table 3 are 0'° from the corresponding logical formula of the divided area to which it belongs
becomes.
また逆に被変換画素S1□→S2□→S3□が“0″′
(白)で、他の被変換画素が全て“1′′ (黒)の場
合には、変換画素R11に対しては表2の条件ioが該
当し、第5図の細線パターンNo、4が対応する。従っ
て変換画素R□、の濃度は細線パターンNo、4が現れ
たため表4の論理式から0′”とする。また、変換画素
R□2の濃度は前例と同様に細線パターンとみなさず1
″とする。Conversely, the pixel to be converted S1□→S2□→S3□ is “0″′
(white) and all other converted pixels are "1'' (black), the condition io in Table 2 applies to the converted pixel R11, and the thin line pattern No. 4 in FIG. Therefore, since thin line pattern No. 4 has appeared, the density of the converted pixel R□ is set to 0''' from the logical formula in Table 4. In addition, the density of the converted pixel R□2 is not regarded as a thin line pattern as in the previous example, but is
”.
尚、縮小率が1/2 > p≧173の場合においては
前記論理演算回路13は前述した表3及び表5を使用し
て変換画素の濃度の算出を行うことになる。Note that when the reduction ratio is 1/2>p≧173, the logical operation circuit 13 uses Tables 3 and 5 described above to calculate the density of the converted pixel.
PI−Aす寥C攻fnE草FtG求1則す攻に暑L
1図61区7の細線パターン7に対応P2−XltA
怠B零CtO旺寥F本ご畦を国人に寥L ;図61図
7の細線パターン8に対応p3−XZtA寥旧E粁tl
lJtK札!(ご、5.a、R) 、図6.lZ7の
細線ハ9−:/30−36ニ対応P4−λ零り粍り畦零
F富G准H専I暑J客に畦 8図61図7の細線パ
ターン5に対応ps−×3家At襲ctoxEtP*a
*o*+t、+txtL; I2e 、 図7tv細線
パ9−ン8に対応P6−X4tljDtGt川tJtK
畦1(人、fi、eJ) ;[26,図7の細線パタ
ーン23〜29ニ対応Ql−λ零n粍暑o*1tPxa
trItThj家RYE ;図60図7の細線パ
ターン3に対応Q2−X1本λ准i硬*ill幕io’
*c求11零■寞]暑R本[:図61図7の細線パター
ン4に対応q3−x2零XonutF*itコtRtE
I(C,D、G、+1) ;図6,1lZ7の細線パ
ターン16〜22ニ対応Q4−Aす寥し5オ1tptj
*j(零Y本コ本R事[6区61図7の細線パターンl
に対応QS−X3富λ2靜C寡す暑Etnati+零■
本コ准R龜[0図6、図7の細線パターン2に対応oa
−x+ti:z5ta*fit?xjtRtE家(^、
n、F、r) 、図63図7の細線パターン9〜15
に対応Xl:IF (xshi川−3) TIIEN
I ELSE O、表3の条件15.16よりX2:I
F((xshiftl−12) AND (X、)0.
[1)) 0R((xshiftl−3) AND (
X、(0,0)) TIIEN I ELSE0 ;表
3の条件10.13よつX3:IF (xshifto
−3)八no (xo(Q、Q) THEN I E
LSE O;表3の条件5よりX4+lF (xshi
ftO−3) TIIEN I ELSE Q
;表3の条件8より注)()内の画素につい
ての論理式は2次の通りである。PI-A Sui C attack fnE grass FtG request 1 rule attack and heat L
1 Corresponds to thin line pattern 7 of 61 section 7 P2-XltA
Lazy B zero CtO want F book ridge to nationals L; Figure 61 Corresponds to thin line pattern 8 in Figure 7 p3-XZtA old E tl
lJtK bill! (Go, 5.a, R), Figure 6. Thin line of lZ7 corresponds to 9-:/30-36 d P4-λ rippling ridge 0 F wealth G junior H special I hot J customer ridge 8 Figure 61 Corresponds to thin line pattern 5 in Figure 7 ps- x 3 house At attackctoxEtP*a
*o*+t, +txtL; I2e, corresponds to Fig. 7 tv thin line pattern 9-8 P6-X4tljDtGtkawatJtK
Ridge 1 (person, fi, eJ); [26, Corresponding to thin line patterns 23 to 29 in Fig. 7 Ql-λ zeron heat o*1tPxa
trItThj house RYE; Fig. 60 Corresponds to thin line pattern 3 in Fig. 7 Q2-X1 line λ quasi i hard *ill curtain io'
*c request 11 zero■寞] Summer R book [: Figure 61 Corresponds to thin line pattern 4 in Figure 7 q3-x2 zero XonutF*it kotRtE
I (C, D, G, +1); Fig. 6, 1lZ7 thin line pattern 16-22 corresponds to Q4-A, 5 o 1tptj
*j (zero Y book book R thing [6th ward 61 thin line pattern l
Compatible with QS-X3 Wealth λ2 Silence C Less Heat Etnati+Zero■
This code corresponds to the thin line pattern 2 in Figures 6 and 7.
-x+ti:z5ta*fit? xjtRtE family (^,
n, F, r), Figure 63 Thin line patterns 9 to 15 in Figure 7
Compatible with Xl:IF (xshikawa-3) TIIEN
I ELSE O, from condition 15.16 in Table 3, X2:I
F((xshiftl-12) AND (X,)0.
[1)) 0R((xshiftl-3) AND (
X, (0,0)) TIIEN I ELSE0; Condition 10.13 of Table 3 X3:IF (xshift
-3) Eight no (xo(Q,Q) THEN I E
LSE O; From condition 5 in Table 3, X4+lF (xshi
ftO-3) TIIEN I ELSE Q
; From Condition 8 in Table 3 Note) The logical formula for the pixels in parentheses is as follows.
(A、B、E、F)・A本F令BtE◆A才[l享E◆
A2BtF◆A享E章F+〇零E本F◆^本B客E家F
以上ではX軸方向についてのみ説明したがy軸方向につ
いても同様である。(A, B, E, F)・A book F order BtE◆A year [lKyoE◆
A2BtF◆A Kyo E Chapter F+〇ZeroE Book F◆^Book B Customer E House F
Although only the X-axis direction has been described above, the same applies to the y-axis direction.
さらに、本実施例では縮小率は1>p≧173について
のみ表を挙げて説明したが、当該範囲に限られることな
く、前記被変換画素入力手段11の各シフトレジスタの
段数が増えて或変換画素に関与する被変換画素数が増加
して、表2.3,4゜5の他に同様な方法で表を作成す
る必要があるが、前記制御部12は間引き対象であるか
否かの判定に使用する間引きデータとして前述した五条
件を満たすか否かの間引きデータの発生を行えば足りる
。Further, in this embodiment, the reduction ratio has been explained using a table only when 1>p≧173, but it is not limited to this range, and the reduction ratio is not limited to this range. As the number of pixels involved in conversion increases, it is necessary to create a table in a similar manner to Tables 2.3 and 4. It is sufficient to generate thinned data that satisfies the five conditions described above as the thinned data used for the determination.
尚、第6図に縮小率pが1/2>p≧173の場合であ
って、線巾1の間引き対象となる細線パターンを示し、
第7図には線巾2の間引き対象となる細線パターンを示
している。In addition, FIG. 6 shows a thin line pattern to be thinned out with a line width of 1 when the reduction rate p is 1/2>p≧173,
FIG. 7 shows a thin line pattern to be thinned out with a line width of 2.
く第二の実施例〉
続いて、本実施例は第一の実施例と異なり、前記被変換
画素群の中から現時点の変換画素に対する間引き対象画
素の検知を行う際に、当該変換画素を被変換画素平面上
に投影させた場合に当該変換画素の近傍に位置する4個
の被変換画素で形成される領域を4区分して四区分領域
に区分して、現時点の変換画素がどの区分領域に属する
かを検知することによって、間引き対象の判断を行う際
に必要とされる被変換画素数の減少を図ったものである
。Next, unlike the first embodiment, this embodiment differs from the first embodiment in that when detecting a thinning target pixel for the current conversion pixel from among the conversion pixel group, the conversion pixel is The area formed by the four converted pixels that are located near the converted pixel when projected onto the converted pixel plane is divided into four divided areas, and the converted pixel at the current moment is divided into which divided area. This is intended to reduce the number of pixels to be converted that are required when determining which pixels are to be thinned out by detecting whether the pixels belong to the .
第11図に本実施例に係る画像縮小装置を示す。FIG. 11 shows an image reduction device according to this embodiment.
本装置は投影により現時点の変換画素の近傍に位置する
前記被変換画素群の各濃度データを順次入力する前記被
変換画素入力手段111と、前記原画像の被変換画素の
濃度データが格納されている二次元画像メモリ110と
、当該二次元画像メモリ110に対するアクセス制御、
前記被変換画素入力手段111に対する制御、前記分割
領域判定手段112及び間引きデータ発生手段2として
現時点の変換画素が属する分割領域の判定並びに前記間
引きデータを発生させる制御部112と、前記被変換画
素群の濃度、前記分割領域及び前記間引きデータに基づ
いて当該変換画素の濃度を算出する変換画素濃度算出手
段4としての論理演算回路113とを有する。This apparatus includes a converted pixel input means 111 which sequentially inputs density data of the converted pixel group located in the vicinity of the current converted pixel by projection, and a converted pixel input means 111 in which density data of the converted pixels of the original image is stored. a two-dimensional image memory 110, and access control to the two-dimensional image memory 110;
A control unit 112 that controls the converted pixel input means 111, determines the divided area to which the current converted pixel belongs as the divided area determination means 112 and the thinned-out data generation means 2, and generates the thinned-out data, and the converted pixel group. and a logic operation circuit 113 as a converted pixel density calculating means 4 for calculating the density of the converted pixel based on the density of the converted pixel, the divided area, and the thinned-out data.
前記被変換画素入力手段111は第11図に示すように
、8個のシフトレジスタ111a〜111hを有してい
る。As shown in FIG. 11, the converted pixel input means 111 has eight shift registers 111a to 111h.
シフトレジスタ1lla、bは第1の画像ライン上にあ
る被変換画素を保持するものである。The shift registers 1lla and 1lla and b hold pixels to be converted on the first image line.
同様にシフトレジスタ1llc、dは第2のライン上、
シフトレジスタ1lle、fは第3のライン上、シフト
レジスタ111g、hは第4のライン上にある被変換画
素を順次移動保持するものである。Similarly, shift register 1llc,d is on the second line,
The shift registers 1lle and 111f sequentially move and hold the pixels to be converted on the third line, and the shift registers 111g and h on the fourth line.
前記制御部112は希望するX軸方向及びy軸方向に関
する縮小率p、qに基づいて現時点での変換画素が属す
る前記分割領域の判定を行うとともに、当該変換画素の
近傍に位置する各被変換画素に間引き対象があるか否か
を検出するために必要な間引きデータの発生及び現時点
の変換画素がどの前記各四区分領域に属するか否かの判
定を行うものである。The control unit 112 determines the divided area to which the current converted pixel belongs based on the desired reduction ratios p and q in the X-axis direction and the y-axis direction, and also determines the divided area to which the currently converted pixel belongs It generates thinning data necessary for detecting whether or not a pixel is to be thinned out, and determines which of the above-mentioned four-section regions the current converted pixel belongs to.
ここで、間引きデータとは第12図に示すようにX軸方
向に関しては直前の変換画素R1oの被変換画像平面内
での座標位置X。>0.0 、現時点での変換画素R工
、の座標位置x1>0.0 、次の変換画素R工2の座
標位置x2>0.0という条件を満たしているか否か及
び前記変換画素R□。からR1□に移行する際に通過す
る被変換画素の数xshi ft01変換画素R11か
らR工2に移行する際に通過する被変換画素の数xsh
iftlの値を表示する1ビツトまたは2ビツトのデー
タであり、y軸方向に関しても同様に直前の変換画素R
工。の被変換画像平面内での座標位置y。、現時点の変
換画素R□1の座標位置y工、次の変換画素R21の被
変換画像面での座標位置y2、変換画素R8□からRo
lに移行する際に通過する被変換画素の数yshift
O、変換画素R0,からR2□に移行する際に通過する
被変換画素の数yshiftlの値を表示するデータで
ある。Here, as shown in FIG. 12, the thinned-out data is the coordinate position X of the immediately preceding converted pixel R1o within the converted image plane in the X-axis direction. >0.0, the coordinate position of the current converted pixel R, x1>0.0, the coordinate position of the next converted pixel R, x2>0.0, and whether or not the following conditions are satisfied, and the converted pixel R □. Number of pixels to be converted that pass when transitioning from to R1 □
This is 1-bit or 2-bit data that displays the value of iftl, and similarly in the y-axis direction, it is the value of the immediately preceding converted pixel R.
Engineering. The coordinate position y in the transformed image plane. , the coordinate position y of the current converted pixel R□1, the coordinate position y2 of the next converted pixel R21 on the converted image plane, the converted pixel R8□ to Ro
The number of converted pixels passed when moving to l yshift
This is data that displays the value of yshiftl, the number of converted pixels that pass when moving from the converted pixel R0, to R2□.
さらに、本実施例においては現時点の変換画素を囲む4
個の被変換画素が形成する正方形の領域を4個に区分し
た四区分領域のどの領域に変換画素が位置するか否かの
データをも間引き対象を検知するための間引きデータと
して使用する。Furthermore, in this embodiment, 4 pixels surrounding the current converted pixel are used.
The data as to which area of a four-part area in which the square area formed by the pixels to be converted is divided into four areas is used as the thinning data for detecting the thinning target.
これは、参照する被変換画素数をあまり増やさずに間引
き対象を検知することができるようにするためである。This is to enable the thinning target to be detected without significantly increasing the number of reference pixels to be converted.
すなわち、第14図に示すように変換画素がg□+ g
4に位置する場合にはロ、n+1.n+2.n+3ラ
イン目のデータで足り、変換画素がg2.g:+区分領
域に位置する場合にはn−2,n−1,n、n+1ライ
ン目のデータを読み出せば足りる。That is, as shown in FIG. 14, the converted pixel is g□+g
If it is located at 4, then b, n+1. n+2. The n+3rd line data is sufficient, and the converted pixel is g2. When located in the g:+ segmented area, it is sufficient to read the data on the n-2, n-1, n, and n+1 lines.
言い換えれば変換画素がgx、g4の区分領域に位置す
る場合には画素A、B、C,D、G、H。In other words, when the converted pixel is located in the segmented area of gx and g4, the pixels are A, B, C, D, G, and H.
I、J、O,P、Q、Rの12画素を参照し、変換画素
がg 2. g 3区分領域に位置する場合には画素A
、B、C,E、F、に、L、M、N、S、Tの12画素
が参照される。Referring to 12 pixels of I, J, O, P, Q, and R, the converted pixel is g2. g Pixel A if located in the 3-section area
, B, C, E, F, 12 pixels L, M, N, S, and T are referenced.
また、前記論理演算回路113は当該間引きデータ、被
変換画素の濃度及び前記分割領域に基づいて現時点の変
換画素の濃度を算出するものであって、そのために例え
ば後述するような表6〜表9(縮小率1>p、Q≧17
3)に掲げた内容に基づいて算出が行われることになる
。Further, the logic operation circuit 113 calculates the current density of the converted pixel based on the thinned-out data, the density of the pixel to be converted, and the divided area, and for this purpose, for example, Tables 6 to 9, which will be described later, are used. (Reduction rate 1>p, Q≧17
Calculations will be made based on the details listed in 3).
続いて、本実施例に係る装置の動作について説明する。Next, the operation of the apparatus according to this embodiment will be explained.
二次元画像メモリ110に格納されている被変換画素を
縮小率p=2/3で縮小する場合について説明する。A case will be described in which the converted pixels stored in the two-dimensional image memory 110 are reduced at a reduction rate of p=2/3.
前記制御部112は縮小変換の対象となる原画像が格納
されている前記画像メモリ110に対して一定語長単位
毎(第11図に示した場合は4ビツトとしている)に読
み出して、各現時点の変換画素の近傍に位置する被変換
画素群の各濃度データを最大順次4ライン分保持前記被
変換画素入力手段111としてのシフトレジスタ111
a、c、e、gに入力させる。The control unit 112 reads out the image memory 110 in which the original image to be subjected to reduction conversion is stored in units of a certain word length (4 bits in the case shown in FIG. 11), A shift register 111 serving as the converted pixel input means 111 holds each density data of a group of converted pixels located in the vicinity of the converted pixel for a maximum of four lines sequentially.
Input a, c, e, and g.
すなわち、第14図に示すように1>p、q≧172の
場合であって、現時点の変換画素を被変換画像平面内の
被変換画素ABCDで形成される格子内に投影される場
合には、当該変換画素に対して各被変換画素群A−Lの
各濃度データが各ライン(n−1ライン目、nライン目
、n+1ライン目、n+2ライン目)毎に前記各シフト
レジスタas C’+ e* gに入力させる。That is, as shown in FIG. 14, in the case of 1>p and q≧172, and when the current converted pixel is projected into a grid formed by the converted pixels ABCD in the converted image plane, , each density data of each converted pixel group A-L for the conversion pixel is stored in each shift register as C' for each line (n-1st line, nth line, n+1st line, n+2nd line). +e* Input to g.
当該制御部112は所定のタイミングで当該シフトレジ
スタ1lla、c、e、gに入力して保持されている各
被変換画素の濃度データを移動させ前記シフトレジスタ
b、d、f、hに移動保持させ前記論理演算回路113
に送出させることになる。The control unit 112 moves the density data of each pixel to be converted, which is input and held in the shift registers 1lla, c, e, and g, at a predetermined timing, and moves and holds them in the shift registers b, d, f, and h. The logic operation circuit 113
It will be sent to
その際、当該制御部112は第13図に示されているよ
うに現時点での変換画素の近傍に位置している4個の被
変換画素群によって形成される格子内を4区分された各
四区分領域gxtg2+g3*g4すなわち、第13図
に示すように被変換画素が配列された平面内で4個の被
変換画素で形成される最小の格子単位を4つの面積の等
しい矩形(正方形を含む)に区分された領域のいずれか
に位置するかを判断して当該領域を区別する3ビツトの
データを前記論理演算回路113に送出する。At this time, as shown in FIG. 13, the control unit 112 divides the lattice formed by the four pixel groups located near the current pixel to be converted into four sections. Segmented area gxtg2+g3*g4 That is, as shown in FIG. 13, the minimum lattice unit formed by four pixels to be converted in the plane where the pixels to be converted are arranged is four rectangles (including squares) of equal area. 3-bit data for distinguishing the area is sent to the logic operation circuit 113.
同時に、当該制御部112は二次元画像メモリ110か
ら読み出されて前記被変換画素入力手段111に保持さ
れている前記被変換画素群の中から間引き対象画素を判
断するために必要な前記間引きデータの発生を行い前記
論理演算回路113に送出するとともに当該現時点の変
換画素が分割領域G□〜G8のどの領域に属するかを判
定して当該領域を示す信号を当該論理演算回路113に
送出する。At the same time, the control unit 112 controls the thinning data necessary for determining thinning target pixels from the group of converted pixels read out from the two-dimensional image memory 110 and held in the converted pixel input means 111. is generated and sent to the logic operation circuit 113, and it is determined to which region of the divided regions G□ to G8 the current converted pixel belongs, and a signal indicating the region is sent to the logic operation circuit 113.
すると、吊鎖演算回路113は当該制御部112により
出力された前記四区分領域g工〜g4についての情報、
前記間引きデータ、前記分割領域の情報及び前記被変換
画素群の濃度データに基づいて間引き対象か否かを検知
して被変換画素の濃度を算出する。Then, the hanging chain arithmetic circuit 113 receives the information about the four divided areas g-g4 outputted by the control unit 112,
The density of the pixel to be converted is calculated by detecting whether or not the pixel is to be thinned out based on the thinning data, information on the divided area, and density data of the pixel group to be converted.
以下縮小率p (x軸方向の縮小率)、q(y軸方向
の縮小率)が共に273の場合について、■X軸に垂直
な細線パターン及び■X軸に垂直な細線パターンに分け
て説明する。Below, the case where the reduction ratio p (reduction ratio in the x-axis direction) and q (reduction ratio in the y-axis direction) are both 273 will be explained by dividing it into ■ Thin line pattern perpendicular to the X axis and ■ Thin line pattern perpendicular to the X axis. do.
■X軸に垂直な細線パターンの場合
第19図により、被変換画素S□2→S2□→S3□が
“1パ(黒)で、他の被変換画素が全て(白)の場合を
考える。この場合、前記間引きデータ及び前記四区分領
域で定まる表6の条件(縮小率が273なので表6−1
または表6−2を使用する)、第15図に示した間引き
対象画素として消去される前記被変換画素群の細線パタ
ーン及び表7に示した各分割領域毎に対応させた論理式
に基づいて当該論理演算回路113は現時点の変換画素
の濃度を算出する。■For a thin line pattern perpendicular to the X-axis According to Figure 19, consider the case where the converted pixel S□2→S2□→S3□ is “1pa (black)” and all other converted pixels are (white). In this case, the conditions in Table 6 determined by the thinning data and the four-part area (reduction rate is 273, so Table 6-1
or using Table 6-2), based on the thin line pattern of the converted pixel group to be erased as pixels to be thinned out as shown in FIG. 15 and the logical formula corresponding to each divided area shown in Table 7. The logical operation circuit 113 calculates the density of the converted pixel at the current time.
表6−1.1>p、Q≧丁の場合の間引き対象の被変換
画素検知条件!
表6−2.1>p、Q≧丁の場合の間引き対象の被変換
画素検知条件Pi−Y1本(パターンso、1);図1
5の細線パターン1に対応P2諧Y1本(パターンNo
、2)H図15の細線パターン2に対応P:1−Xl!
(パターンNo、3);図15の細線パターン3に対応
P4−XI車(パターンNo、4) ; f315 (
Q細線)<ターン4に対応711表2の条件より、パタ
ーンNo、1.2が対象となる場合−1,他!0x16
表2の条件より、パターンNo、3.4が対象となる堝
合諺1.他l1110今、現時点の変換画素R□1に対
して、被変換画素平面上において当該画素R□1の近傍
に位置する周囲4画素ABCDは第19図に示すように
各々S工□、S工2. S2.、 S2□である。Table 6-1.1 Detection conditions for converted pixels to be thinned out when p, Q≧D! Table 6-2.1 Detection conditions for converted pixels to be thinned out when p, Q≧D 1 piece Pi-Y (pattern so, 1); Figure 1
Corresponding to thin line pattern 1 of 5, P2 tone Y 1 line (pattern No.
, 2) H Corresponding to thin line pattern 2 in Figure 15 P: 1-Xl!
(Pattern No. 3); Corresponds to thin line pattern 3 in Fig. 15 P4-XI car (Pattern No. 4); f315 (
Q thin line) < Corresponds to turn 4 711 According to the conditions in Table 2, if pattern No. 1.2 is the target -1, etc.! 0x16
According to the conditions in Table 2, pattern No. 3.4 is the target proverb 1. 1110 Now, for the current converted pixel R□1, the surrounding four pixels ABCD located near the pixel R□1 on the pixel plane to be converted are S-process □ and S-process, respectively, as shown in FIG. 2. S2. , S2□.
変換画素R1□の位置は分割領域G5に属しxshif
tl=1.yshiftl=1.x2>0.0.y2>
0.0から表6−1の条件g□−NO04に対応する。The position of the converted pixel R1□ belongs to the divided area G5 xshif
tl=1. yshiftl=1. x2>0.0. y2>
0.0 corresponds to condition g□-NO04 in Table 6-1.
よって、対象となる細線パターンは第15図のg□−N
o、1〜No、4である。Therefore, the target thin line pattern is g□-N in Figure 15.
o, 1 to No, 4.
当該例の細線パターンはgl−No、3に対応する。The thin line pattern in this example corresponds to gl-No.3.
従って、変換画素R11の濃度は被変換画素群中に通常
の間引き対象でない場合であって前記被変換画素群が細
線パターンを形成しない場合には表7の05の論理式か
ら“0″を採用することになるが、被変換画素群中に間
引き対象画素が存在し、かつ細線パターンgニーNo、
3が現れたので表7の01の論理式からR11lとする
。Therefore, the density of the converted pixel R11 is set to "0" from the logical formula 05 in Table 7 when the converted pixel group is not a normal thinning target and the converted pixel group does not form a thin line pattern. However, if there is a pixel to be thinned out in the pixel group to be converted, and the thin line pattern g knee No.
3 appears, so it is set as R11l from the logical formula 01 in Table 7.
ここでは縮小率p、qは2/3なので、表7を使用する
。Here, since the reduction ratios p and q are 2/3, Table 7 is used.
同様にして変換画素R1□では表6−2の条件g 4−
No、4に相当し、第15図のg 4−No、 3が細
線パターンとなる。Similarly, for the converted pixel R1□, the condition g in Table 6-2 is satisfied 4-
This corresponds to No. 4, and g 4-No. 3 in FIG. 15 is a thin line pattern.
しかし、Sl。、S2□に存在する細線パターンは既に
画素R□1で表現しているので、現時点の変換画素R0
□の濃度はS13の値を採用して“0゛とする。However, Sl. , S2□ has already been expressed by pixel R□1, so the current converted pixel R0
The density of □ is set to "0" by adopting the value of S13.
以上の過程は画素R2□、R22についても同様である
。The above process is the same for pixels R2□ and R22.
また、逆に被変換画素群のうち、S工2→S22→S3
□が“0″ (白)で、他の被変換画素が全て1(II
I(黒)の場合、変換画素R1□に対しては条件g、−
No、4により、細線パターンg 、−No、4が該当
する。Conversely, among the pixel group to be converted, S 2 → S 22 → S 3
□ is “0” (white) and all other pixels to be converted are 1 (II
In the case of I (black), conditions g, - for the converted pixel R1□
According to No. 4, the thin line pattern g, -No. 4 corresponds to the thin line pattern g.
従って、変換画素R11の濃度は表7の論理式から0゛
′とする。Therefore, the density of the converted pixel R11 is set to 0' from the logical formula in Table 7.
変換画素R1□の濃度は前例と同様に細線パターンとみ
なさず、前述した表7の08の論理式により1gIII
の値が採用される。As in the previous example, the density of the converted pixel R1□ is not regarded as a thin line pattern, but is 1gIII according to the logical formula 08 in Table 7 mentioned above.
The value of is adopted.
以上の過程は変換画素R2□、R2□についても同様で
ある。The above process is the same for the converted pixels R2□ and R2□.
■y軸に垂直な細線パターンの場合
第19図より、被変換画素群のうち、被変換画素S21
→S2□→S23が“1″ (黒)で、他の被変換画素
が全て0”(白)の場合を考える。この場合、表6の条
件、第15図の細線パターン及び表7の論理式が対応す
る。■In the case of a thin line pattern perpendicular to the y-axis From FIG. 19, the converted pixel S21 among the converted pixel group
→S2□→Consider the case where S23 is “1” (black) and all other pixels to be converted are “0” (white).In this case, the conditions in Table 6, the thin line pattern in FIG. 15, and the logic in Table 7 are considered. The expressions correspond.
現時点の変換画素R11に対する投影した被変換画像平
面上での当該変換画素の近傍に位置する周囲4つの被変
換画素群A、B、C,Dは各々S工□、S1□、S2□
、S2□である。変換画素R工。The four surrounding converted pixel groups A, B, C, and D located in the vicinity of the converted pixel on the converted image plane projected to the current converted pixel R11 are S, S1, and S2, respectively.
, S2□. Conversion pixel R engineering.
の位置は前記分割領域G、に属し、xshifto=1
。The position belongs to the divided area G, and xshifto=1
.
yshiftl=1 、 x2>0.0 、 y2>0
.0から表6−1の条件に対応する。yshiftl=1, x2>0.0, y2>0
.. 0 corresponds to the conditions in Table 6-1.
よって、対象となる細線パターンはg□−No、 1〜
N004である。そのうち当該例の細線パターンはg□
−No、1に相当する。従って、変換画素R0□の濃度
は当該変換画素の近傍に位置する被変換画素に通常の間
引き対象が画素がない場合または間引き対象であっても
細線パターンを形成しない場合には表7の該当する分割
領域G5に対応する論理式により0゛′となるが、本例
では細線パターンg□−NO91の細線パターンが現れ
たので、前述した表7の該当する論理式から′1″とな
る。Therefore, the target thin line pattern is g□-No, 1~
It is N004. The thin line pattern in this example is g□
- No, corresponds to 1. Therefore, the density of the converted pixel R0□ falls under Table 7 when there is no pixel to be thinned out in the converted pixel located near the converted pixel, or when a thin line pattern is not formed even if it is thinned out. The logical expression corresponding to the divided area G5 gives 0'', but in this example, since the thin line pattern g□-NO91 has appeared, the corresponding logical expression in Table 7 mentioned above gives 1.
同様にして、変換画素R2□では表6−2の条件g 2
−No、4に相当し、第15図のg2−No、1の細線
パターンとなる。Similarly, for the converted pixel R2□, the condition g 2 in Table 6-2 is satisfied.
-No. 4 corresponds to g2-No. 1 in FIG. 15.
しかし、被変換画素S2□+S2□に存在する細線パタ
ーンは既に画素R□1で表現されているので、前記衣7
の該当する論理式から画素R□1の濃度はS31の濃度
データの値を採用して゛0パとする。However, since the thin line pattern existing in the converted pixel S2□+S2□ is already expressed by the pixel R□1, the
From the corresponding logical formula, the density of the pixel R□1 is set to 0% by adopting the value of the density data in S31.
以上の過程は画素R□2.R2□についても同様である
。The above process is for pixel R□2. The same applies to R2□.
また、逆に被変換画素S2□→S2□→S23が0゛′
(白)で、他の被変換画素が全て11111(黒)の
場合、被変換画素R1□に対しては、条件gニーNo、
4により、細線パターンはg 、−No、2が該当する
。Conversely, the converted pixel S2□→S2□→S23 is 0゛'
(white) and all other converted pixels are 11111 (black), for the converted pixel R1□, the condition g knee No.
4, the thin line pattern corresponds to g, -No., and 2.
従って、変換画素R1□の濃度は表7の論理式から0″
とする。Therefore, the density of converted pixel R1□ is 0'' from the logical formula in Table 7.
shall be.
変換画素R2□の濃度は前例と同様に細線パターンとみ
なさず“1″とする。以上の過程は画素R□2.R2□
についても同様である。As in the previous example, the density of the converted pixel R2□ is not regarded as a thin line pattern and is set to "1". The above process is for pixel R□2. R2□
The same applies to
以上本実施例によれば細線の白または黒パターンを同等
に、然も逆に線巾を太らす事もなく少ない被変換画素(
1)p 、 q≧1/2の場合8画素、1/2>p、(
1≧1/3の場合12画素)を参照することにより変換
画像に細線を再現することができることになる。As described above, according to this embodiment, thin line white or black patterns can be made equally, without increasing the line width, and with fewer converted pixels (
1) 8 pixels when p, q≧1/2, 1/2>p, (
If 1≧1/3, then 12 pixels), it is possible to reproduce a thin line in the converted image.
尚、以上では縮小率が1>p、q≧172の場合、特に
273の場合について説明したが、当該縮小率に限られ
ることなく、縮小率が1/2 > p 、 q≧173
の場合は表8−1、表8−2及び表9に従って前記装置
を用いて算出することができるだけでなく、 1>p、
q≧1/Hに対してN+1ラインの画像データ及び4N
個の被変換画素群を参照するだけで細線パターンを消失
することなく、前述した間引きデータを参照することに
より画像データの縮小を行うことができる。In addition, although the case where the reduction rate is 1>p, q≧172, and especially the case of 273 has been explained above, the case is not limited to the reduction rate, and the reduction rate is 1/2>p, q≧173.
In the case of 1>p, it is possible to calculate using the device according to Table 8-1, Table 8-2, and Table 9.
N+1 lines of image data and 4N for q≧1/H
Image data can be reduced by referring to the thinned-out data described above without erasing the thin line pattern just by referring to the pixel groups to be converted.
表8−1.−>p、q≧丁の場合の間引き対象の被変換
画素検知条件PL−Yl吟炒−ン恥、■)2図171図
18の細線パターン1に対応P2−Yl吟汐−ン恥、2
):図17.図18の細線パターン2に対応P3−Y2
t(A>−7No、)) ;図170
図1v)細線バ9−ン3に対応P4−Y2t()沙−ン
恥、4):図17.図18の細線パターン4に対応P5
−Y3オ(最−ン恥、1−18の奇数lトン) ;図
17.図18の細線パターン1〜18(奇数)に対応P
6−Y3呻汐−ンNo、1−1&7)偶aA9−y)’
;図176図18ノ細線バター:、t 1〜18
(偶数)に対応P7〜x1畔ノ秒−ン恥、19)
;図17.図18171細線パターン19
に対応P8−X11(+G−ン1io、20)
; I2117.図18ノ細線バ9−ン20
に対応P9−X2打ノ沙−ン恥、21)
:図17.図1幼細線パターン21に対応1’IQ
・X9(#−7+io、22) ;図1
7.[2111の細線パターン22に対応P11−X3
本(ルト:/No、+9−36の奇ashy)r図17
11格の細線パターン19〜36(奇数)に対応P12
・X31(If)Ao、 19−36の偶数1トン):
図17.図1の細線パターン19〜36(偶数)に対応
718表3の条件より、1Ij−7No、 1 、2の
細線パターンを対象とする場合−1,他!OY2・表3
の条件より、バ←:/No、j、4の細線パターンを対
象とする場合鵡1.他=OY31表3の条件より、酬7
No、 1−18の細線パターンを対象とする場合震1
.他−0x1=表3の条件より、バ←;4io、+9.
20の細線パターンを対象とする場合−1,他!Ox2
:表3の条件より、バ針ニア+10.21.22の細線
パターンを対象とする場合−1,他=Ox33表3の条
件より3ノ企りNo、 19−11iの細線パターンを
対象とする場合=1.他=O因みに、従来では1>p、
q≧1/Nに対して細線パターンを検出するためには2
Nラインの画像データ及び8N+4個の被変換画素を参
照する必要があった。Table 8-1. ->p, pixel detection condition for conversion to be thinned out when q≧th PL-Yl Gin-shai, ■) 2 Figure 171 Corresponds to thin line pattern 1 in Fig. 18 P2-Yl Gin-shai, 2
): Figure 17. Corresponds to thin line pattern 2 in Figure 18 P3-Y2
t(A>-7No, )); Figure 170
FIG. 1v) Corresponding to thin line bar 9-3 P4-Y2t()sha-bansha, 4): FIG. P5 corresponding to thin line pattern 4 in Figure 18
-Y3o (the most embarrassing, odd number lton of 1-18); Figure 17. Corresponds to thin line patterns 1 to 18 (odd numbers) in Figure 18 P
6-Y3 groaning No. 1-1&7) even aA9-y)'
; Figure 176 Figure 18 Thin line butter:, t 1-18
(Even number) corresponds to P7 ~
;Figure 17. Figure 18171 Thin line pattern 19
Compatible with P8-X11 (+G-n1io, 20)
; I2117. Figure 18 Thin wire bar 9-20
Corresponds to P9-X2 Utsunosha, 21)
:Figure 17. Figure 1 1'IQ corresponding to small line pattern 21
・X9 (#-7+io, 22); Figure 1
7. [Corresponds to thin line pattern 22 of 2111 P11-X3
Book (Ruto:/No, +9-36 odd ashy) r Figure 17
Compatible with thin line patterns 19 to 36 (odd numbers) of 11 cases P12
・X31 (If) Ao, 19-36 even number 1 ton):
Figure 17. Corresponding to thin line patterns 19 to 36 (even numbers) in Figure 1 718 From the conditions in Table 3, when targeting thin line patterns of 1Ij-7No, 1, 2 -1, etc! OY2・Table 3
Based on the conditions, if the target is the thin line pattern of bar←:/No, j, 4, then 1. Others = OY31 From the conditions in Table 3, reward 7
No. 1-18 when targeting thin line patterns
.. Others -0x1=From the conditions in Table 3, B←;4io, +9.
When targeting 20 thin line patterns - 1, etc! Ox2
: According to the conditions in Table 3, if the thin line pattern of Bar needle near + 10, 21, 22 is targeted -1, other = Ox33 From the conditions of Table 3, the target is the thin line pattern of No. 3, 19-11i Case=1. Other=O Incidentally, in the past, 1>p,
2 to detect a thin line pattern for q≧1/N
It was necessary to refer to N lines of image data and 8N+4 pixels to be converted.
以上、本実施例によれば細線の白または黒パターンを同
等に、然も逆に線巾を太らすこともなく変換画素に細線
を再現することができる。As described above, according to this embodiment, the thin line can be reproduced in the converted pixel equally with the white or black pattern of the thin line, without increasing the line width.
(発明の効果)
以上説明したように本発明では原画像の縮小により間引
かれることとなる線巾が縮小重分の一未満の細線パター
ンをもつ被変換画素を検知するために必要な間引きデー
タを、希望する縮小率に基づいて発生させて、当該デー
タに基づいて自動的に変換画素に細線パターンの再現を
行うようにしている。(Effects of the Invention) As explained above, in the present invention, thinning data necessary for detecting pixels to be converted having a thin line pattern whose line width is less than one of the reduction weight is thinned out by reducing the original image. is generated based on the desired reduction ratio, and the thin line pattern is automatically reproduced in the converted pixels based on the data.
したがって、本発明により信頼性のある縮小画像を高速
に得ることができる。Therefore, according to the present invention, reliable reduced images can be obtained at high speed.
第1図は第一の発明の原理ブロック図、第2図は第二の
発明の原理流れ図、第3図は第一の実施例に係る画像縮
小装置を示す図、第4図は第一の実施例に係る間引き対
象の被変換画像を検知するために必要な間引きデータの
説明図、第5図は第一の実施例に係る縮小率が1>p≧
172の場合の細線パターンを示す図、第6図は第一の
実施例に係る縮小率が1/2>p≧173の場合の細線
パターンを示す図、第7図は第一の実施例に係る縮小率
1/2>p≧173の場合の細線パターンを示す図、第
8図は投影法の原理を示す説明図、第9図は高速投影法
の分割領域を示す図、第10図は第一の実施例に係る縮
小率2/3の場合の変換画素と被変換画素との位置関係
を示す図、第11図は第二の実施例に係る画像縮小装置
を示す図、第12図は第二の実施例に係る間引き対象の
被変換画像を検知するために必要な間引きデータの説明
図、第13図は四区分領域を示す図、第14図は第二の
°実施例に係る縮小率1>p、q≧1/2の場合の参照
画素を示す図、第15図は第二の実施例に係る縮小率i
>p、q≧172の場合の細線パターンを示す図、第1
6図は第二の実施例に係る縮小率1/2>I)、q≧1
/3の場合の参照画素を示す図、第17図は第二の実施
例に係る縮小率1/2>p、q≧1/3の場合の細線パ
ターンを示す図、第18図は第二の実施例に係る縮小率
1/2>p、q≧1/3の場合の細線パターンを示す図
、第19図は第二の実施例に係る縮小率2/3の場合の
変換画素と被変換画素との位置関係を示す図、第20図
は従来例に係るブロック図である。FIG. 1 is a block diagram of the principle of the first invention, FIG. 2 is a flowchart of the principle of the second invention, FIG. 3 is a diagram showing an image reduction device according to the first embodiment, and FIG. 4 is a diagram of the principle of the second invention. FIG. 5 is an explanatory diagram of the thinning data necessary for detecting the converted image to be thinned out according to the embodiment, and FIG. 5 shows that the reduction rate according to the first embodiment is 1>p≧
172, FIG. 6 is a diagram showing a thin line pattern when the reduction ratio is 1/2>p≧173 according to the first embodiment, and FIG. FIG. 8 is an explanatory diagram showing the principle of the projection method. FIG. 9 is a diagram showing the divided regions of the high-speed projection method. FIG. A diagram showing the positional relationship between the converted pixel and the converted pixel when the reduction rate is 2/3 according to the first embodiment, FIG. 11 is a diagram showing the image reduction device according to the second embodiment, and FIG. 12 is an explanatory diagram of thinning data necessary for detecting a converted image to be thinned out according to the second embodiment, FIG. 13 is a diagram showing four divided regions, and FIG. 14 is a diagram according to the second embodiment. A diagram showing reference pixels in the case of reduction ratio 1>p and q≧1/2, FIG. 15 is the reduction ratio i according to the second embodiment.
>p, q≧172, first diagram showing a thin line pattern
Figure 6 shows the reduction ratio 1/2>I) and q≧1 according to the second embodiment.
/3, FIG. 17 is a diagram showing a thin line pattern when reduction ratio 1/2>p and q≧1/3 according to the second embodiment, and FIG. 18 is a diagram showing the reference pixel in the case of the second embodiment. FIG. 19 shows the thin line pattern when the reduction rate is 1/2>p and q≧1/3 according to the second embodiment, and FIG. FIG. 20, a diagram showing the positional relationship with converted pixels, is a block diagram related to a conventional example.
Claims (3)
率に応じて投影法により定まる分割領域を設定し、当該
平面上に投影された変換画素が位置する分割領域に対応
する論理式に従って近傍被変換画素の濃度から各変換画
素の濃度を決定する画像縮小装置において、変換画素の
近傍に位置する所定の被変換画素群の濃度データを順次
入力する被変換画素入力手段(1)と、 縮小率に基づいて被変換画素群の中から縮小により間引
かれる細線上にある間引き対象画素を検知するために必
要な間引きデータを発生させる間引きデータ発生手段(
2)と、 縮小率に基づいて前記変換画素がどの分割領域に位置す
るかを判定する分割領域判定手段(3)と、 前記間引きデータ、前記変換画素が位置する分割領域及
び前記被変換画素群の濃度データに基づいて間引き対象
か否かを検知して前記変換画素の濃度を算出する変換画
素濃度算出手段(4)とを有することを特徴とする画像
縮小装置。(1) Set a divided area determined by a projection method according to the desired reduction ratio on the plane where the pixels to be converted are arranged, and use a logical formula corresponding to the divided area where the converted pixels projected onto the plane are located. In an image reduction device that determines the density of each converted pixel from the density of neighboring converted pixels according to the method, converted pixel input means (1) sequentially inputs density data of a predetermined group of converted pixels located in the vicinity of a converted pixel; , a thinning data generating means for generating thinning data necessary for detecting thinning target pixels on a thin line thinned out by reduction from among the group of pixels to be converted based on the reduction ratio (
2); divided area determining means (3) for determining in which divided area the converted pixel is located based on the reduction ratio; the thinned-out data, the divided area where the converted pixel is located, and the converted pixel group. An image reduction device comprising a converted pixel density calculation means (4) that calculates the density of the converted pixel by detecting whether or not the converted pixel is to be thinned out based on density data of the converted pixel.
率に応じて投影法により定まる分割領域を設定し、当該
平面上に投影された変換画素が位置する分割領域に対応
する論理式に従って近傍被変換画素の濃度から変換画素
の濃度を決定する画像縮小方法において、 前記変換画素の近傍に位置する所定の被変換画素群の濃
度データを順次入力する過程(S1)と、 前記縮小率に基づいて前記被変換画素群の中から縮小に
より間引かれる細線上の間引き対象画素を検知するため
に必要な間引きデータの発生を行う過程(S2)と、 前記変換画素が位置する分割領域の判定を行う過程(S
3)と、 前記間引きデータ、変換画素が位置する分割領域及び前
記被変換画素の濃度データに基づいて間引き対象か否か
を検知して変換画素の濃度を算出する過程(S4)とを
有することを特徴とする画像縮小方法。(2) Set a divided area determined by a projection method according to the desired reduction ratio on the plane where the pixels to be converted are arranged, and use a logical formula corresponding to the divided area where the converted pixels projected onto the plane are located. In an image reduction method for determining the density of a converted pixel from the density of neighboring converted pixels according to the method, the step (S1) of sequentially inputting density data of a predetermined group of converted pixels located in the vicinity of the converted pixel; a step (S2) of generating thinning data necessary for detecting thinning target pixels on a thin line thinned out by reduction from among the converted pixel group based on the converted pixel group; The process of making a judgment (S
3), and a step (S4) of detecting whether or not the pixel is to be thinned out based on the thinning data, the divided area in which the converted pixel is located, and the density data of the converted pixel and calculating the density of the converted pixel. An image reduction method characterized by:
素を取り囲む被変換画素の4画素を基準とする座標面と
して横軸または縦軸をx軸方向とした場合に、x軸方向
について直前の変換画素の被変換画像面上での位置座標
x_0、現時点での位置座標x_1、次の変換画素の被
変換画像面上での位置座標x_2によりx_0>座標基
準値、x_1>座標基準値、x_2>座標基準値の不等
式の真偽及び前記直前と現時点での変換画素との間に存
在する被変換画素数若しくは前記現時点での変換画素と
次の変換画素との間に存在する被変換画素数を間引きデ
ータとして発生することを特徴とする請求項1記載の画
像縮小装置。(3) As the thinning data generating means (2), when the horizontal axis or the vertical axis is set as the x-axis direction as a coordinate plane based on the four pixels of the converted pixels surrounding the converted pixel, the immediately preceding The position coordinate x_0 of the converted pixel on the converted image plane, the current position coordinate x_1, and the position coordinate x_2 of the next converted pixel on the converted image plane, so that x_0>coordinate reference value, x_1>coordinate reference value, x_2 >The truth or falsity of the inequality of the coordinate reference value and the number of converted pixels that exist between the immediately preceding and current converted pixels or the number of converted pixels that exist between the current converted pixel and the next converted pixel. 2. The image reduction apparatus according to claim 1, wherein the image reduction apparatus generates the data as thinned-out data.
Priority Applications (6)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63063802A JP2588742B2 (en) | 1988-03-18 | 1988-03-18 | Image reduction apparatus and method |
CA000593928A CA1306052C (en) | 1988-03-18 | 1989-03-16 | Process and apparatus for reducing picture with fine line disappearance prevention |
DE68923110T DE68923110T2 (en) | 1988-03-18 | 1989-03-17 | Avoiding the disappearance of thin lines in image reduction processes. |
EP89302645A EP0333496B1 (en) | 1988-03-18 | 1989-03-17 | Avoiding fine line disappearance in picture reduction processes |
KR1019890003372A KR920008904B1 (en) | 1988-03-18 | 1989-03-18 | Picture decreasing method and device for fax |
US07/325,912 US4930021A (en) | 1988-03-18 | 1989-03-20 | Process and apparatus for reducing a picture with fine line disappearance prevention |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP63063802A JP2588742B2 (en) | 1988-03-18 | 1988-03-18 | Image reduction apparatus and method |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01238275A true JPH01238275A (en) | 1989-09-22 |
JP2588742B2 JP2588742B2 (en) | 1997-03-12 |
Family
ID=13239867
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63063802A Expired - Lifetime JP2588742B2 (en) | 1988-03-18 | 1988-03-18 | Image reduction apparatus and method |
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Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2588742B2 (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5901254A (en) * | 1993-09-20 | 1999-05-04 | Hitachi, Ltd. | Apparatus and method for image reduction |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61147668A (en) * | 1984-12-21 | 1986-07-05 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | Reduction converting method of image |
-
1988
- 1988-03-18 JP JP63063802A patent/JP2588742B2/en not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61147668A (en) * | 1984-12-21 | 1986-07-05 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | Reduction converting method of image |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5901254A (en) * | 1993-09-20 | 1999-05-04 | Hitachi, Ltd. | Apparatus and method for image reduction |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2588742B2 (en) | 1997-03-12 |
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