JPH01223342A - 非破壊検査用標準試験体の製造方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） この発明は超音波探傷等の非破壊検査に使用する標準試
験体の製造方法に関するものである。

（従来の技術及びその問題点） 鋳物や溶接部に内在する各種欠陥を検出するための非破
壊検査法としては、超音波探傷法や放射線透過試験法が
周知であるが、これら検査法においては、欠陥の存在を
検出するのみならず、検出された欠陥の形状や寸法をも
特定することが要求されている。しかしながら、上記各
検査法において、欠陥の形状や寸法に関連して得られる
出力値、例えば超音波探傷法において得られる反射エコ
ーの大きさ、反射エコーの存在領域幅等は、内在する欠
陥の形状、寸法等に応じて変化するものの、さら社被検
査部の寸法や材質等によっても大きく変化し、そのため
上記各非破壊検査法によって、欠陥の形状や寸法を正確
には把握し難いのが実情である。

そこでこの対策として、被検査部と同寸法、同材質で、
かつ内部に各種欠陥を内在させた標準試験体を準備して
おき、得られた検査データと上記標準試験体でのデータ
とを比較し、これから実際の欠陥の形状や寸法を推定す
る方法を採用することが考えられる。ところでこの場合
、標準試験体においては、既知の形状及び寸法の欠陥を
内在させておく必要がある訳であるが、現在のところ、
この種の試験体を正確に製造し得る有効な方法が開発さ
れておらず、上記のような標準試験体を利用した検査法
も実用に供せられていない状態である。

この発明は上記した従来の問題点を解決するためになさ
れたものであって、その目的は、上記のような形状、寸
法等の把握された欠陥を内在させた標準試験体を、精度
良く、しかも高能率に製造することのできる非破壊検査
用標準試験体の製造方法を提供することにある。

（問題点を解決するための手段） そこでこの発明の非破壊検査用標準試験体の製造方法に
おいては、アーク溶接等の溶融溶接法にて被溶接部材に
人為的に溶接欠陥を形成し、この溶接欠陥を含む被溶接
部材の一部を欠陥包含体として取出すと共に、非破壊検
査法にて溶接欠陥の状態を把握し、次いで上記欠°陥包
含体を利用して所望形状の標準試験体を製造することを
特徴としている。

（作用） 上記によれば、形状、寸法等の把握された欠陥を、はと
んどそのままの状態で標準試験体に内在させることが可
能となるので、精度の良い試験体が得られることになる
。しかもこの場合、特に複雑な製造プロセスを必要とす
る訳でもないので、その製造作業は容易なものとなる。

（実施例） 次にこの発明の非破壊検査用標準試験体の製造方法の具
体的な実施例について、図面を参照しつつ詳細に説明す
る。

まず第１図に示すように、アーク溶接、例えば被覆アー
ク溶接法、ＴＭＧ溶接法、ＭＩＧ溶接法等によって、被
溶接部材ｌのビード２中に、対象とする自然欠陥を形成
する。この場合、ブローホールは、吸湿させた溶接棒を
使用して被覆アーク溶接を行ったり、シールドガス流量
を減じてＭＩＧ溶接を行ったりすることによって形成す
ることが可能である。すなわち溶接部のシールド性を悪
化させ、溶接部に積極的に外気を混入させた状態でアー
ク溶接を行うのである。またスラグ巻込みは、スラグを
残留させたままの状態で次層以後の溶接を行うことによ
って形成可能である。さらにタングステン巻込みは、溶
接中にタングステン粉末を溶接金属に混入させることに
より形成可能であり、また溶込み不良は、ルートギャッ
プを過大に設定することにより形成可能である。

そして上記のような自然欠陥を含む被溶接部材１を製作
した後、第２図に示すように、この被溶接部材１を適当
な幅及び板厚にまで削除して欠陥包含体３を製作する。

この欠陥包含体３は、上記自然欠陥を含むものであって
、その幅及び板厚は、引続き行われる放射線透過試験（
以下、ＲＴと略称する）、又はそれに類する他の非破壊
検査法での計測精度を考慮して適当に設定されるもので
ある。例えば、第３図に示すように、欠陥がブローホー
ルである場合には、高張力Ａ１１）ＩＴ５０においては
、板厚を３０ｍ程度にまで減じれば、実欠陥寸法とＸ線
フィルム上の欠陥計測寸法とが略一致することになり、
そのためこの種欠陥に対しては、板厚を３０ｍｍ以下に
すればよい。一方、上記同様な高張力ｔ４ＨＴ５０にお
いて、欠陥がスラグ巻込みである場合には、第４図に示
すように、ＲＴによる計測値は、板厚を１０ｍｍ以下に
しないと、欠陥の実際の長さと一致しないことになる。

したがって、上記欠陥包含体３の板厚等は、ＲＴ等によ
って充分正確に欠陥の寸法、形状が計測し得る程度にま
で減じてお（必要がある。

そしてＲＴ等によって欠陥包含体３に内在する欠陥の寸
法、形状等を充分に把握した後、この欠陥包含体３を利
用゛して、第５図〜第９図に示すような標準試験体４を
製作する。すなわち、他の部材５．６及びアーク溶接法
、拡散接合法等を使用して、Ｋ開先接合型（第５図、第
６図）、ｘ開先埋設型（第７図）、ビード付与型（第８
図）、継手連結型（第９図）等の各種自然欠陥を内包す
る標準試験体４を製作するのである。

以上にこの発明の非破壊検査用標準試験体の製造方法の
実施例の説明をしたが、この実施例によれば次のような
利点が生ずることになる。まず第１には、自然の溶接欠
陥を利用するために、形状及び寸法が自然のままの欠陥
を内在させることができると共に、ＲＴ等によってこの
欠陥の状態が正確に把握された試験体４を製造できるの
で、この試験体４を利用した各種検査が精度良く行える
ということである。また第２には、欠陥を任意の位置に
形成することが可能であることから、検査対象を比較的
自由に設定し得るということである。

さらに、第６図及び第７図に示すように、欠陥包含体３
を溶接金属中に埋設し、溶接部の材料を被検査部の材料
と同一にすれば、現実と同じ形態の溶接継手を再現でき
ることになり、そのため超音波特性（音波の伝播速度等
）の変化がなく、したがって精度の良い検査が行えると
いう利点も生じる。

（発明の効果） この発明の非破壊検査用標準試験体の製造方法によれば
、形状、寸法等の把握された欠陥を、はとんどそのまま
の状態で標準試験体に内在させることが可能となり、そ
のため精度の良い試験体が得られ、これにより各種検査
精度を向上することが可能となる。しかも特に複雑な製
造プロセスが必要とされる訳ではないので、その製造作
業を容易に高能率に行うことが可能となる。

【図面の簡単な説明】

第１図及び第２図はこの発明の非破壊検査用標準試験体
の製造方法の一例の説明図、第３図は実欠陥寸法とＸ線
フィルム上の欠陥計測寸法との関係を示すグラフ、第４
図は試験体の板厚とＲＴによる欠陥の計測長との関係を
示すグラフ、第５図〜第９図は試験体の各種構成態様を
示す説明図である。 ■・・・被溶接部材、２・・・ビード、３・・・欠陥包
含体、４・・・標準試験体。 特許出願人　　　　　　　　川崎重工業株式会社第１図 第２図 欠陥包含体　　　　　　１′ 第３図 第４図

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. １、アーク溶接等の溶融溶接法にて被溶接部材に人為的
   に溶接欠陥を形成し、この溶接欠陥を含む被溶接部材の
   一部を欠陥包含体として取出すと共に、非破壊検査法に
   て溶接欠陥の状態を把握し、次いで上記欠陥包含体を利
   用して所望形状の標準試験体を製造することを特徴とす
   る非破壊検査用標準試験体の製造方法。