JPH01173766A - Superhigh frequency generating element - Google Patents
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、素子の一部に超電導体を用いた超高周波発生
素子に関するものである。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION Field of Industrial Application The present invention relates to an ultrahigh frequency generating element using a superconductor as a part of the element.
従来の技術
従来、高周波発生素子として、ガンダイオードやインバ
ットダイオードなどが知られている。これらは半導体バ
ルク中の電子の食性抵抗現象や走行時間効果を利用した
ものである。2. Description of the Related Art Conventionally, Gunn diodes, Invat diodes, and the like have been known as high-frequency generating elements. These methods utilize the eating resistance phenomenon and transit time effect of electrons in the semiconductor bulk.
発明が解決しようとする問題点
これらの高周波発生素子は、いずれも電子を高電界で加
速する必要があり、電子がそのエネルギーをもらうまで
の時間が、その発生できる高周波の上限に関与する。そ
のため臨界があり、100GHz程度のものまで得られ
ているが、それ以上高周波を発生させるのは困難である
。Problems to be Solved by the Invention All of these high-frequency generating elements require electrons to be accelerated in a high electric field, and the time it takes for the electrons to receive that energy affects the upper limit of the high frequency that can be generated. Therefore, there is a criticality, and although frequencies up to about 100 GHz have been obtained, it is difficult to generate frequencies higher than that.
本発明はかかる点に鑑みなされたもので、ダイオード構
造の一部に超電導体を用い、この超電導体に注入された
電子−ホール対の再結合を利用して、高周波発生をさせ
るもので、数100HGHz以上の高周波が容易に発生
できる。The present invention was made in view of this point, and uses a superconductor as a part of the diode structure, and uses the recombination of electron-hole pairs injected into the superconductor to generate high frequencies. High frequencies of 100 HGHz or higher can be easily generated.
問題点を解決するための手段
本発明は上記問題点を解決するため、超電導体を挟んで
、一方の側に、トンネル可能な膜厚の層間絶縁膜を介し
て、第1の半導体を有し、他方の側に、トンネル可能な
膜厚の層間絶縁膜を介して、前記第1の半導体よりフェ
ルミレベルから導電帯端までのエネルギー差が小さくか
つ前記第1の半導体よりフェルミレベルから価電子帯端
までのエネルギー差が大きい、第1の半導体と導電型の
異なる第2の半導体を有する構造からなるものである。Means for Solving the Problems In order to solve the above problems, the present invention includes a first semiconductor on one side of the superconductor with an interlayer insulating film having a thickness that allows tunneling. , the energy difference from the Fermi level to the conduction band edge is smaller than that of the first semiconductor, and the energy difference from the Fermi level to the valence band edge is smaller than that of the first semiconductor, and the energy difference from the Fermi level to the valence band edge is smaller than that of the first semiconductor, via an interlayer insulating film having a thickness that allows tunneling. It has a structure including a first semiconductor and a second semiconductor having a different conductivity type, with a large energy difference up to the edge.
作用
本発明は、前記した構造により、一方の半導体をn型半
導体とすると、n型半導体から超電導体に電子がトンネ
ル注入され、他方のp型半導体から超電導体にホールが
トンネル注入されるのに必要な電圧が、トンネル注入さ
れた電子またはホールが、他方の半導体へトンネルする
のに必要とする電圧よりも低くなるようにエネルギーバ
ンド構造を設定することにより、超電導体内で注入され
た電子とホールが蓄積されそこで再結合することによっ
て、超電導体のエネルギーバンドギャップに相当する波
長の高周波を発生するものである。Operation The present invention has the structure described above, and when one semiconductor is an n-type semiconductor, electrons are tunnel-injected from the n-type semiconductor to the superconductor, and holes are tunnel-injected from the other p-type semiconductor to the superconductor. The injected electrons and holes within the superconductor are controlled by setting the energy band structure such that the voltage required is lower than the voltage required for the tunnel-injected electrons or holes to tunnel into the other semiconductor. By accumulating and recombining there, a high frequency wave with a wavelength corresponding to the energy band gap of the superconductor is generated.
実施例
以下に本発明の一実施例について、図面を参照しながら
説明する。EXAMPLE An example of the present invention will be described below with reference to the drawings.
供尖凛−井知
n型半導体であるガリウム砒素(G a A s )基
板の上に、化学気相成長法(CVD)により約20人の
酸化珪素(SiO7)膜を形成し、その上に真空蒸着法
により、約1μmの鉛(Pb)薄膜を形成する。さらに
化学気相成長法(CVD)により約20人の酸化珪素(
Sing)膜を形成し、さらにその上に真空蒸着法によ
り、5000人のp型半導体あるゲルマニウム(Ge)
膜を形成し、GaAsおよびGeにオーミック電極を設
ける。About 20 silicon oxide (SiO7) films were formed by chemical vapor deposition (CVD) on a gallium arsenide (GaAs) substrate, which is an n-type semiconductor, and then A lead (Pb) thin film of approximately 1 μm is formed by vacuum evaporation. Furthermore, about 20 silicon oxides (
Germanium (Ge), which is a p-type semiconductor, is formed on top of the film by vacuum evaporation.
A film is formed and ohmic electrodes are provided on GaAs and Ge.
その構造を第1図に示す。第1図において、1はn型半
導体GaAs基板、2はその上に形成した第1のSin
、薄膜、3はpb薄膜、4はその上に形成した第2のS
in、膜である。5はp型半導体Ge薄膜である。6は
GaAs基板の他方の面に形成されたオーミック電極、
7はGe薄膜の上面に形成されたオーミック電極である
。Its structure is shown in FIG. In FIG. 1, 1 is an n-type semiconductor GaAs substrate, and 2 is a first Si formed thereon.
, a thin film, 3 a PB thin film, 4 a second S formed thereon.
in, the membrane. 5 is a p-type semiconductor Ge thin film. 6 is an ohmic electrode formed on the other surface of the GaAs substrate;
7 is an ohmic electrode formed on the top surface of the Ge thin film.
pbは約7.2にで超電導となる超電導体である。pb is a superconductor that becomes superconducting at about 7.2%.
したがって、このような構造の素子を臨界温度以下、例
えば7に以下に冷却すれば、一つの超電導体が薄い眉間
絶縁膜で分離されたn型半導体およびp型半導体で挟ま
れた構造となっている。この時エネルギーバンド図を第
2図に示す。GaAsのエネルギーバンドギャップ、E
g+ は約1.5e■である。E、はフェルミレベルか
ら導電帯バンド端までのエネルギー、E1′はフェルミ
レベルから価電子帯ハンド端までのエネルギーで、E。Therefore, if an element with such a structure is cooled below the critical temperature, for example, below 7, a single superconductor will be sandwiched between an n-type semiconductor and a p-type semiconductor separated by a thin glabella insulating film. There is. The energy band diagram at this time is shown in FIG. Energy band gap of GaAs, E
g+ is approximately 1.5e■. E is the energy from the Fermi level to the conduction band edge, E1' is the energy from the Fermi level to the valence band hand edge, and E.
十E、’ −Eg、となっている。n型不純物濃度を極
めて高くすることにより、その導電帯バンド端はフェル
ミレベルのすぐ近傍にくる。pbは、超電導状態におい
て、約1.34m e Vのエネルギーバンドギャップ
を有している。pbのエネルギーバンドギャップを2Δ
とすると、そのフェルミレベルはエネルギーバンドギャ
ップの中間に来る。10E, '-Eg. By making the n-type impurity concentration extremely high, the conduction band edge comes close to the Fermi level. Pb has an energy bandgap of about 1.34 m e V in the superconducting state. The energy bandgap of pb is 2Δ
Then, the Fermi level will be in the middle of the energy band gap.
Geのエネルギーバンドギャップ、Eggは約0.8e
vである。Ezはフェルミレベルから導電帯バンド端ま
でのエネルギー、Ex’ はフェルミレベルから価電子
帯バンド端までのエネルギーで、E2”EX ’ =E
gzとなっている。n型不純物濃度を高くすることによ
り、その価電子帯バンド端は、フェルミレベルのすぐ近
傍にくる。したがって第2図のようなエネルギーバンド
図となる。この時GaAs側の多数キャリアである電子
は、層間絶縁Sin、膜が十分薄いため、E、−Δ〉0
の場合極めて低い電圧で、E、−ΔくOの場合、E+−
Δの電圧をかけることによってトンネル効果により、容
易にPb超電導体の中へ入る。しかしPb超電導体から
Geへは、この電圧ではGeO方にトンネルすべきエネ
ルギー準位がないためトンネル注入されない。一方この
時、Ge側の多数キャリアであるホールは、眉間絶縁S
in、膜が十分薄いため、やはりE2゛ −Δ〉Oの場
合極めて低い電圧で、E2° −Δ〈Oの場合、E2′
−Δの電圧でトンネル効果により、容易にPb超電導
体の中へ入る。しかしPb超電導体からGaAsへは、
やはりこの電圧ではGaAs0方にトンネルすべきエネ
ルギー準位がないためトンネル注入されない。すなわち
この時Pb超電導体の中には、電子とホールが多量に注
入蓄積された状態となる。The energy bandgap of Ge, Egg, is approximately 0.8e
It is v. Ez is the energy from the Fermi level to the conduction band edge, Ex' is the energy from the Fermi level to the valence band edge, and E2''EX' = E
It is gz. By increasing the n-type impurity concentration, the valence band edge comes close to the Fermi level. Therefore, an energy band diagram as shown in FIG. 2 is obtained. At this time, the electrons, which are the majority carriers on the GaAs side, are transferred to E, -Δ〉0, because the interlayer insulation film is sufficiently thin.
In the case of , the voltage is extremely low, E, -∆
By applying a voltage of Δ, it easily enters the Pb superconductor due to the tunnel effect. However, tunnel injection is not performed from the Pb superconductor to Ge because there is no energy level to tunnel to GeO at this voltage. On the other hand, at this time, the holes, which are the majority carriers on the Ge side, are
In, since the film is sufficiently thin, the voltage is also extremely low when E2゛ −Δ〉O, and when E2° −Δ〈O, E2′
At a voltage of -Δ, it easily enters the Pb superconductor due to the tunnel effect. However, from Pb superconductor to GaAs,
Again, at this voltage, there is no energy level to be tunneled toward GaAs0, so tunnel injection is not performed. That is, at this time, a large amount of electrons and holes are injected and accumulated in the Pb superconductor.
これらの電子とホールは、適当な緩和時間をもって再結
合する。この時の電子とホールのエネルギー差は平衡状
態でほぼpb超電導体のエネルギーバンドギャップに相
当する。pb超電導体のエネルギーバンドギャップは約
1.3meVであり、このエネルギーに相当する波長は
約1鶴、周波数で約300 G llzである。したが
ってこの構造の素子に、El−ΔまたはE2゛−Δの大
きい方の電圧を加えることにより、超電導体内部に電子
とホールがトンネル注入され、そこで再結合して約30
0CIIzの高周波を発生する。These electrons and holes recombine with an appropriate relaxation time. The energy difference between electrons and holes at this time approximately corresponds to the energy band gap of the pb superconductor in an equilibrium state. The energy bandgap of a pb superconductor is about 1.3 meV, and the wavelength corresponding to this energy is about 1 Tsuru, and the frequency is about 300 Gllz. Therefore, by applying the larger voltage of El-∆ or E2゛-∆ to an element with this structure, electrons and holes are tunnel-injected into the superconductor, where they recombine and
Generates a high frequency of 0CIIz.
この状態でGaAs−Ge間のバイアス電圧をあげてい
く。Ge側を正とした時、E2−Δのバイアス電圧を加
えられた時に初めて超電導体からGeへの電子のトンネ
ルが可能となり急速に電流が流れだす。In this state, the bias voltage between GaAs and Ge is increased. When the Ge side is set as positive, electron tunneling from the superconductor to Ge becomes possible only when a bias voltage of E2-Δ is applied, and current begins to flow rapidly.
本実施例では、E2−E、の方がE+’ E2’よ
りも小さいとしたため、E、−E、で電流が流出すが、
El” −E2°の方が小さければ、E、−E2′で電
流が流れだす。したがって、電子、ホールの両者が超電
導体に蓄積される状態は、E2gl>oで、E、’ −
E、° 〉0、言い変えれば、一方の半導体のエネルギ
ーバンド構造が、他方の半導体よりフェルミレベルから
導電帯端までのエネルギー差が小さくかつフェルミレベ
ルカラ価電子帯端までのエネルギー差が大きい場合であ
る。In this example, since E2-E is smaller than E+'E2', current flows at E and -E, but
If El'' -E2° is smaller, a current begins to flow at E, -E2'. Therefore, the state in which both electrons and holes are accumulated in the superconductor is E2gl>o, and E,' -
E, ° 〉0, in other words, if the energy band structure of one semiconductor has a smaller energy difference from the Fermi level to the conduction band edge than the other semiconductor, and a larger energy difference from the Fermi level to the valence band edge. It is.
本実施例では、超電導体としてPbを用いたが、Ln、
Bag Cu3酸化物(但しLnは、Y、Nd、Sm、
Eus Gd、Tb、Dy% HO% Er。In this example, Pb was used as the superconductor, but Ln,
Bag Cu3 oxide (However, Ln is Y, Nd, Sm,
Eus Gd, Tb, Dy% HO% Er.
Tm、Yb、Luの少なくとも一つ)などの臨界温度9
0に程度の超電導体や、La+、as Ael)15
−Cul酸化物(但し、AeはBa、、Sr、Caのう
ちの少なくとも一つ以上)などの、臨界温度30に程度
の超電導体を用いることにより、より高い温度で本実施
例と同様の電圧−ホール再結合による高周波発生作用の
得られることは明らかである。この場合1.n、Bat
Cu3酸化物の超電導体としてのエネルギーバンドギ
ャップは20−30 meVであり、約5−77Hzの
超高周波が発生できる。At least one of Tm, Yb, Lu), etc. 9
0 degree superconductor, La+, as Ael)15
By using a superconductor such as -Cul oxide (where Ae is at least one of Ba, Sr, and Ca) whose critical temperature is around 30, the same voltage as in this example can be achieved at a higher temperature. - It is clear that a high frequency generation effect can be obtained by hole recombination. In this case 1. n, Bat
The energy bandgap of Cu3 oxide as a superconductor is 20-30 meV, and ultra-high frequencies of about 5-77 Hz can be generated.
Ln、BatCu、、酸化物において、BaをSrに置
換していっても、pn臨界温度高い超電導体が得られる
。したがって、超電導体として、BaをSrに置換した
ものを用いても同様の効果の得られることは明らかであ
る。Even if Ba is replaced with Sr in Ln, BatCu, and oxides, a superconductor with a high pn critical temperature can be obtained. Therefore, it is clear that the same effect can be obtained even if a superconductor in which Ba is replaced with Sr is used.
また本実施例では、半導体としてn型GaAsおよびp
型Geを用いたが、第2の半導体のエネルギーバンド構
造が、第1の半導体よりフェルミレベルから導電帯端ま
でのエネルギー差が小さくかつ第1の半導体よりフェル
ミレベルから価電子帯端までのエネルギー差が大きくな
っておれば良く、これらの半導体に限られるものではな
い。Furthermore, in this example, n-type GaAs and p-type semiconductors are used.
Ge type was used, but the energy band structure of the second semiconductor has a smaller energy difference from the Fermi level to the conduction band edge than the first semiconductor, and a smaller energy difference from the Fermi level to the valence band edge than the first semiconductor. It is sufficient that the difference is large, and the difference is not limited to these semiconductors.
本実施例では、眉間絶縁膜の厚みとして特定の値を用い
たが、この厚みは、トンネル効果の起こる範囲内で任意
である。In this example, a specific value was used as the thickness of the glabellar insulating film, but this thickness may be arbitrary within the range in which the tunnel effect occurs.
本実施例では、層間絶縁膜としてSiO2を用いたが、
これに限られないことは明らかである。In this example, SiO2 was used as the interlayer insulating film, but
It is clear that the invention is not limited to this.
発明の効果
以上述べた如く、本発明は、超電導体を挟んで、一方の
側に、トンネル可能な膜厚の層間絶縁膜を介して、第1
の半導体を有し、他方の側に、トンネル可能な膜厚の層
間絶縁膜を介して、前記第1の半導体よりフェルミレベ
ルから導電帯端までのエネルギー差が小さくかつ前記第
1の半導体よりフェルミレベルから価電子帯端までのエ
ネルギー差が大きい、第1の半導体と導電型の異なる第
2の半導体を有する構造からなり、きわめて高い周波数
の電磁波を発生する素子を提供するものである。Effects of the Invention As described above, the present invention provides a superconductor on one side of the superconductor with an interlayer insulating film having a thickness that allows tunneling.
A semiconductor having a smaller energy difference from the Fermi level to the conductive band edge than the first semiconductor, and a semiconductor having a smaller energy difference from the Fermi level to the conductive band edge than the first semiconductor and a semiconductor having a smaller energy difference than the first semiconductor through an interlayer insulating film having a thickness that allows tunneling. The present invention provides an element that has a structure including a first semiconductor and a second semiconductor of a different conductivity type, with a large energy difference from the level to the valence band edge, and generates electromagnetic waves of extremely high frequency.
第1図は本発明の構造の一実施例を示す断面図、第2図
は本発明の素子のエネルギーバンド図の一例を示した模
式図である。
1・・・・・・n型半導体基板、2・・・・・・層間絶
縁膜、3・・・・・・超電導体膜、4・・・・・・層間
絶縁膜、5・・・・・・p型半導体膜、6.7・・・・
・・電極。FIG. 1 is a sectional view showing an example of the structure of the present invention, and FIG. 2 is a schematic diagram showing an example of an energy band diagram of the element of the present invention. 1... N-type semiconductor substrate, 2... Interlayer insulating film, 3... Superconductor film, 4... Interlayer insulating film, 5... ...p-type semiconductor film, 6.7...
··electrode.
Claims (1)
膜厚の層間絶縁膜を介して、第1の半導体を有し、他方
の側に、トンネル可能な膜厚の層間絶縁膜を介して、前
記第1の半導体よりフェルミレベルから導電帯端までの
エネルギー差が小さくかつ前記第1の半導体よりフェル
ミレベルから価電子帯端までのエネルギー差が大きい、
第1の半導体と導電型の異なる第2の半導体を有する構
造からなる超高周波発生素子。(1) Having a first semiconductor on one side of the superconductor with an interlayer insulating film thick enough to allow tunneling, and on the other side an interlayer insulating film with a thickness that allows tunneling. wherein the energy difference from the Fermi level to the conduction band edge is smaller than that of the first semiconductor, and the energy difference from the Fermi level to the valence band edge is larger than that of the first semiconductor;
An ultrahigh frequency generating element having a structure including a first semiconductor and a second semiconductor having a different conductivity type.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62331979A JP2506871B2 (en) | 1987-12-28 | 1987-12-28 | Ultra high frequency generator |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP62331979A JP2506871B2 (en) | 1987-12-28 | 1987-12-28 | Ultra high frequency generator |
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Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01173766A true JPH01173766A (en) | 1989-07-10 |
JP2506871B2 JP2506871B2 (en) | 1996-06-12 |
Family
ID=18249785
Family Applications (1)
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JP62331979A Expired - Lifetime JP2506871B2 (en) | 1987-12-28 | 1987-12-28 | Ultra high frequency generator |
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Country | Link |
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JP (1) | JP2506871B2 (en) |
-
1987
- 1987-12-28 JP JP62331979A patent/JP2506871B2/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2506871B2 (en) | 1996-06-12 |
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