[go: up one dir, main page]

JPH01130547A - 半導体装置の製造方法 - Google Patents

半導体装置の製造方法

Info

Publication number
JPH01130547A
JPH01130547A JP62291315A JP29131587A JPH01130547A JP H01130547 A JPH01130547 A JP H01130547A JP 62291315 A JP62291315 A JP 62291315A JP 29131587 A JP29131587 A JP 29131587A JP H01130547 A JPH01130547 A JP H01130547A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
ceramic
main body
cover
lid
protrusions
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP62291315A
Other languages
English (en)
Inventor
Mitsuharu Ishibashi
光治 石橋
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Priority to JP62291315A priority Critical patent/JPH01130547A/ja
Publication of JPH01130547A publication Critical patent/JPH01130547A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/4805Shape
    • H01L2224/4809Loop shape
    • H01L2224/48091Arched
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/161Cap
    • H01L2924/1615Shape
    • H01L2924/16195Flat cap [not enclosing an internal cavity]

Landscapes

  • Die Bonding (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、半導体装置のガラスシールセラミック形パ
ッケージに関するものである。
〔従来の技術〕
第3図は従来のガラスシールセラεツク形ノくツケージ
の製造方法を示す断面図、第4図は第3図のパッケージ
の製造の際に発生し易い不具合を説明する断面図である
。図において、【1)はセラはツク本体、(21はセラ
ミックフタ、(3)は透明ガラス、(4)はチップ、(
6)はアルミ線%(1)は接着剤である。
セラミック本体(1)にはチップ(4)をダイポ7ドレ
アルミ線(6)に1って配線されt後、あらかじめセラ
ミックフタ(2)の接合面に予め低融点ガラスの接着剤
(7)を付着させたセラεツクフタ(21t K温で熱
しセラミンク本体(1)に圧着し、封止する。
〔発明が解決しようとする問題点〕
従来のガラスシールセラばツク形パッケージはセラミン
クフタ121の封止工程にてセラミックフタ12)全文
うばツク本体(1)に圧着する時、第4図の如く接着剤
(1)の厚さが均一になり蝿<、セラミンクフタ+2)
が傾いて接着されるという問題が発生し−〔いた。セラ
ミックフタ121が傾いて接着されると、パッケージ厚
みのバラツキが発生し、後工程に種々の問題(マーキン
グ工程及び製品送り時のパッケージ引掛かシ)があった
又、セラばツクフタ(2)が傾くと、第4図のように接
着剤(1)が一定の厚みにならず気密性が低下するとい
う問題も発生していた。
この発明は上記のLうな問題点を解消する為になされた
もので、セラミンクフタ+2)、または、セラはツク本
体mに突起を設けることによシ、セラばンク7タ孟2)
が傾いて接着されることを防止することケ目的としてい
る。
〔問題点を解決す々ための手段] この発明に係るガラスシールセラばツク形パッケージの
セラミック本体+1) 、ま7cは七ラミック7り+2
1 K 突起ヲ設け、セラミックフタ12+ カ傾い−
C接着?されろことを防止すめと#vc%気密性も向上
させたものである。
〔作用] この発明に2けるガラスシールtラミンク形パッケージ
のセラはツク本体C1)、またはセラばツノフタ(2)
に設けられた突起に工つ〔セラミックフタ(2)が正確
に接着1れ、気密性も向上する。
〔実癩例〕
以下、この発明について図?用いて説明する。
瀉1図はこの発明の一実施例の韓造方法を示す断面図、
第2図はこの発明の他の4施例の製造方法を示す断面図
である。図Vこおいて、C1)はセラばツク本体、(2
)はセラミックフタ、+31v′iJ明ガラス窓、(4
)は千ノグ、(5)は突起部、(6)はアルε報、(7
)は接着剤である。
第1図と第2図の相違μ、突起部(5)が第1図ではセ
ラミックフタ(2)に、第2図ではセラミンク本体+1
)に設けた点にある。
次?にの発明の作用について説明する。セラミンク本体
fi+またに、セラばツノフタζ2)に突起’k 付け
ることで、セラミックフタ12)の接着高さ全一定にす
ることができる。こnは突起部f5)の作用に1って接
着剤(υの厚みが規正され、正確な接着が可能となるた
めであり、同時に接着l/)気密性も向上する。
また、上記実踊例では突起部は凸状?しCいるが、突起
部の形状にri例えば三角形など、種々の形状でも同様
の作用金することはもちろんである。
〔発明の効果] 以上のようにこの発明vc工Ari、ヤラεツク本体(
1)、セラばツノフタ(2)に突起を設は之ことで。
ニジ品質の高い半導体装置が得られる効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図にこの発明の一実4りlによる半導体装置の製造
方法r示す断面図、第2図はこの発明の他の実tA 1
ケJによる半導体装置の製造方法で示す断面図、第3図
は促米の半導体装置の製造方法を示す断面図、第4図な
第3図の製造方法に工つに場合に発生し易い不具合を説
明する断面図である。 図Vこおい“C1“+11にセラばツク本体、(21は
てうはツノフタ、(3)は透明カラス窓、(4)はチッ
プ%15>は突起部、(6)にfルミ線、(7)に接着
剤である。 な2、図中同−付号は同一、または相当部分を示す。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1.  半導体チップを固着する第一のセラミック本体と、ガ
    ラスにより封着される第二のセラミツクフタとからなる
    半導体チップ外囲器(ガラスシールセラミック形パッケ
    ージ)において、上記第一のセラミック本体又は上記第
    二のセラミツクフタの接合面側に突起部を備え、パッケ
    ージの高さを一定にでき、また、プタ付けの気密性も向
    上させたことを特徴とする半導体装置の製造方法。
JP62291315A 1987-11-17 1987-11-17 半導体装置の製造方法 Pending JPH01130547A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP62291315A JPH01130547A (ja) 1987-11-17 1987-11-17 半導体装置の製造方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP62291315A JPH01130547A (ja) 1987-11-17 1987-11-17 半導体装置の製造方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH01130547A true JPH01130547A (ja) 1989-05-23

Family

ID=17767310

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP62291315A Pending JPH01130547A (ja) 1987-11-17 1987-11-17 半導体装置の製造方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH01130547A (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011205270A (ja) * 2010-03-25 2011-10-13 Nippon Dempa Kogyo Co Ltd 圧電デバイス
JP2012189327A (ja) * 2011-03-08 2012-10-04 Nissan Motor Co Ltd 検出装置及びその製造方法
JP2014179405A (ja) * 2013-03-14 2014-09-25 Seiko Epson Corp 接合体、接合体の製造方法、センサーデバイス、電子機器、および移動体

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011205270A (ja) * 2010-03-25 2011-10-13 Nippon Dempa Kogyo Co Ltd 圧電デバイス
US8624470B2 (en) 2010-03-25 2014-01-07 Nihon Dempa Kogyo Co., Ltd. Piezoelectric devices including electrode-less vibrating portions
JP2012189327A (ja) * 2011-03-08 2012-10-04 Nissan Motor Co Ltd 検出装置及びその製造方法
JP2014179405A (ja) * 2013-03-14 2014-09-25 Seiko Epson Corp 接合体、接合体の製造方法、センサーデバイス、電子機器、および移動体

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TW521410B (en) Semiconductor package article
US5436407A (en) Metal semiconductor package with an external plastic seal
US4558346A (en) Highly reliable hermetically sealed package for a semiconductor device
JPH01130547A (ja) 半導体装置の製造方法
JPH01241828A (ja) 半導体パッケージ
JPH03105950A (ja) 半導体集積回路のパッケージ
JPH05315540A (ja) 半導体装置
JPH11354764A (ja) 固体撮像装置及びその製造方法
JPS61267363A (ja) イメ−ジセンサ
JP2868868B2 (ja) 半導体装置
TWI357664B (en) Process of making image sensor packages
JP2522165B2 (ja) 半導体装置
KR0175295B1 (ko) 페이스다운방식을 이용한 반도체칩의 시일링방법
KR19980079223A (ko) 반도체 장치 및 그의 제조 방법
KR200152651Y1 (ko) 리드프레임
JPH0366150A (ja) 半導体集積回路装置
JPH06163729A (ja) 半導体装置のシール構造
JPS6185861A (ja) 半導体装置
JPS6197842A (ja) 半導体装置
JPH01310563A (ja) 半導体装置
JPH0582705A (ja) リードフレーム
JPH0232557A (ja) 半導体チップ用セラミックパッケージ
JPH0318046A (ja) 半導体装置
JPS62144343A (ja) Ic用パツケ−ジ
JPH01123442A (ja) 半導体装置用セラミツクパツケージ