JP7647289B2 - 液晶デバイス用透明基材、及び調光シート - Google Patents
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Description
前記第2面は、前記下地層が含む面であり、前記下地層のうち前記配向層と接する面は鉛筆硬度試験においてF以上の硬度を有し、前記第1面の表面粗さRa1が20nm以下であり、前記第1面の表面粗さRa1及び前記第2面の表面粗さRa2の和Ra1+Ra2が5nm以上である。
上記構成によれば、鉛筆硬度試験においてF以上の硬度を有する下地層の上に配向層を形成するため、配向層の強度を高めることができる。また、第1面の表面粗さRa1及び第2面の表面粗さRa2の和Ra1+Ra2が5nm以上である。このため、第1面及び第2面の間に生じる摩擦力を低減し、配向層の欠損を抑制することができる。また、第1面及び第2面に表面粗さを分散しつつ、第1面の表面粗さRa1が20nm以下とする。このため、第2面の表面粗さを大きくすることでのヘイズの過度な上昇を抑制しつつ、配向層の配向規制力を良好に維持することができる。よって、液晶デバイス用透明基材が備える配向層における物理的な損傷を抑えることができる。
上記構成によれば、液晶デバイス用透明基材を用いた液晶デバイスにおいて第2面における散乱を抑制することができる。
上記構成によれば、配向層の配向規制力を維持しつつ、液晶デバイス用透明基材を用いた液晶デバイスにおいて第2面における散乱を抑制することができる。
上記液晶デバイス用透明基材について、前記ハードコート層は、複数の粒子を含み、前記粒子又は複数の前記粒子からなる凝集粒子の直径は、前記ハードコート層の厚さ、前記導電層の厚さ及び前記配向層の厚さの和よりも大きくてもよい。
上記構成によれば、下地層に含まれる粒子の含有量を調整することにより表面粗さを制御することができる。
上記構成によれば、配向層自体の強度を高めることができる。
[調光シート]
図1を参照して調光シートを説明する。
図2を参照して液晶デバイス用透明基材を説明する。
図2は、液晶デバイス用透明基材の一例である第1基材11の断面構造を示している。なお、第2基材12は、調光シート10の厚さ方向における位置が第1基材11とは異なる一方で、第2基材12が備える層は第1基材11が備える層と共通している。そのため以下では、第1基材11の構造を詳しく説明する一方で、第2基材12の構造の詳しい説明を省略する。
支持基材24は、薄く且つ柔軟性が高いため、枚葉式での製造方法に適していない。このため、第1基材11及び第2基材12の製造や、第1基材11及び第2基材12を用いた調光シートの製造には、ロールツーロール方式が用いられる。しかし、ロールツーロール方式では、巻き取られた基材の摩擦や、互いに及ぼし合う押圧力等により、配向層21の欠陥が生じる。
(条件2)配向層21が含む第1面11S1の表面粗さRa1が0nm超20nm以下である(0nm<Ra1≦20nm)。
条件1について説明する。下地層11Aの表面11A1の高い硬度は、下地層11Aに含まれるハードコート層23によって実現される。配向層21は、その厚さがナノオーダーであるため、強度が小さい。第1基材11によれば、高い鉛筆硬度がハードコート層23によって実現されるから、配向層21が、液晶分子の配向を規制する規制力を好適に備えつつ、高い強度を有することが可能となる。下地層11Aの表面11A1の鉛筆硬度試験における硬度がFより小さくなると、配向層21の強度が低下して、摩擦力や、第1面11S1の法線方向への押し込み力によって配向層21の欠陥が発生しやすくなる。
(条件4)易滑層26が含む第2面11S2の表面粗さRa2が0nm超100nm以下である(0<Ra2≦100nm)。
条件4について説明する。第2面11S2の表面粗さRa2を条件4で規定する範囲とすることで、透明駆動時における調光シート10の透明度を高めることができる。駆動時の調光シート10のヘイズは20%以下が好ましい。透明駆動時の透明性が特に求められる用途によって15%以下であると好ましい場合がある。透明駆動時のヘイズが20%を超えると調光シート10を介して物体が肉眼で識別しにくくなる。調光シート10のヘイズは、第1基材11の空気との界面及び第2基材12の空気との界面での散乱である外部ヘイズ、粒子26Pと易滑層26との屈折率の差や上述したような配向層21の配向力の低下等といった調光シート10の内部構造の要因で生じる内部ヘイズとに応じて決まる。このうち、第2面11S2の表面粗さは外部ヘイズを変化させる。つまり、第2面11S2での可視光の散乱が大きくなり、第1基材11及び第2基材12のヘイズは高くなる。第2面11S2の表面粗さRa2が100nmを超えると、調光シート10を透明駆動した場合の透明度は、用途に応じては実用性を確保できるが、ヘイズが15%を上回る。
図3を参照して、第1基材11の作用を説明する。
第1基材11を用いて調光シート10が製造される際には、第1基材11が、第1基材11の長手方向に沿って、ロールツーロール装置によって搬送される。このとき、第1基材11には、長手方向に沿って張力が印加され、かつ、第1基材11が、ロールツーロール装置が備えるガイドロールに接しながら長手方向に沿って搬送される。そのため、第1基材11の第1面11S1がガイドロールに接する場合には、配向層21が含む第1面11S1とガイドロールとの間において摩擦が生じる。第1面11S1に作用する摩擦力が第1面11S1の強度を超えた場合には、配向層21のうち、摩擦力が作用した部分に物理的な損傷である欠陥が生じる。また、第1基材11の第2面11S2がガイドロールに接する場合には、易滑層26が含む第2面11S2とガイドロールとの間において摩擦が生じる。欠陥は、配向層21の一部が剥離したり損壊したりする等、欠損し、配向規制力を発揮できなくなった部分である。
(1)鉛筆硬度試験においてF以上の硬度を有する下地層11Aの上に配向層21を形成するため、配向層21の強度を高めることができる。また、第1面11S1の表面粗さRa1及び第2面11S2の表面粗さRa2の和Ra1+Ra2が5nm以上である。このため、第1面11S1及び第2面11S2の間に生じる摩擦力を低減し、配向層21の欠損を抑制することができる。また、第1面11S1及び第2面11S2に表面粗さを分散しつつ、第1面11S1の表面粗さRa1が20nm以下とする。このため、第2面11S2の表面粗さを大きくすることでのヘイズの過度な上昇を抑制しつつ、配向層21の配向規制力を良好に維持することができる。よって、調光シート10が備える配向層21における物理的な損傷を抑えることができる。
[変形例]
上記実施形態は、以下のように変更して実施することが可能である。また、以下の各変形例及び上記実施形態は、組み合わせて実施してもよい。
・上記実施形態における下地層11Aはハードコート層23を備えている。これに代えて、第1面11S1が条件1,2を満たせば、下地層11Aはハードコート層23を備えなくてもよい。この場合には、例えば、支持基材24が、第1面11S1がF以上の鉛筆硬度を有する程度に高い強度を有すればよい。
・上記実施形態では、液晶デバイスを、通電時に直線透過率が低くなり非通電時に直線透過率が高くなるリバース型の調光シート10に具体化した。これに代えて、液晶デバイスは、通電時に可視光の直線透過率が高くなり非通電時に直線透過率が低くなるノーマル型の調光シートとして具体化してもよい。ノーマル型の調光シートとしては、例えば水平配向規制力を有する1対の配向層の間にp型液晶を含む調光層を備える調光シート、又は垂直配向力を有する1対の配向層の間にn型液晶を含む調光層を備える調光シート等がある。n型液晶を含む調光層を備える調光シートは、1対の偏光板の間に第1基材、調光層及び第2基材を有する。
・本開示の液晶デバイス用透明基材が適用される液晶デバイスは、配向層を備えるものであれば、上述した調光シートに限られない。例えば、液晶表示デバイス(Liquid Crystal Display)であってもよい。
図4を参照して実施例及び比較例について具体的に説明する。なお、これらの実施例は本発明を限定するものとは限らない。
<易滑層の作製>
まず易滑層を形成するための易滑層用塗料を調整した。高架橋度アクリル系ハードコート剤(リオデュラスLCH6701、トーヨーケム株式会社製)に、平均粒子径2μmのアクリル粒子(テクポリマーSSX‐102、積水化成品工業株式会社製)を0.02重量%添加した。さらに、ハードコート塗料に、メチルエチルケトンを加え、アクリル粒子を含む固形分濃度が50重量%となるように調整した。
次に易滑層付きフィルムのうち、易滑層が形成された面に対して反対側となる面にハードコート層を形成した。まずハードコート塗料(第1塗料)を調整した。高架橋度アクリル樹脂ハードコート剤(リオデュラスLCH6701、トーヨーケム株式会社製)に、平均粒子径2μmのアクリル粒子(テクポリマーSSX‐102、積水化成品工業株式会社製)を0.02重量%添加した。さらに、ハードコート塗料に、メチルエチルケトンを加え、固形分濃度が50重量%となるように調整した。
次に、ハードコート層に導電層を形成した。導電層の成膜には、酸化インジウム(90重量%)と酸化スズ(10重量%)の混合焼結ターゲットを備えたロールスパッタ装置を用いた。このロールスパッタ装置に、フィルムロールをセットし、装置内を0.4Paとなるまで排気した。その後、アルゴンガス及び酸素ガスを装置に導入した。そして、フィルムに加わる温度である基材温度を40℃とし、圧力0.4Paとして成膜を行った。これにより、下地層に厚み50nmの導電層を形成した。さらに導電層を形成したPETフィルムを、140度の温度で90分間加熱処理することで導電層を結晶化させた。この導電層付きのフィルムをロール状に巻き取った。
次に導電層に配向層を積層した。ポリアミック酸を主材料とする配向層用塗料(サンエバー SE-H682、日産化学株式会社製)(サンエバーは登録商標)を固形分が5重量%となるように溶媒を用いて調整することによって、配向層を形成するための塗液を得た。なお、溶媒では、プロピレングリコールモノメチルエーテルとγブチルラクトンとの重量比を以下のように設定した。
フィルムロールから導電層付きフィルムを引き出し、配向層用塗料を導電層上にロールコータを用いて塗布した。そして、配向層用塗料を塗布したフィルムを、150度の温度で5分間乾燥して100nmの厚さを有した配向層を形成した。これにより、ポリアミック酸を主原料とする塗料は、ポリイミドを主骨格とする配向層となる。配向層が積層されたフィルムをロール状に巻き取って回収した。これにより、下地層を含むフィルムを得た。下地層付フィルムを巻き取ったフィルムロールは2ロール1セットとして準備する。液晶デバイス用透明基材を23℃かつ相対湿度が50%RHに保たれたクリーンルーム内で7日間保管した。この下地層付きフィルムを、フィルム単体のサンプルとした。
フィルムロールから下地層付きフィルムを引き出し、所定の大きさにカットした後、以下の評価を行った。
配向層が含む第1面について、白色干渉計(VertScan R3300h Lite、株式会社菱化システム製)を用い、算術平均粗さを測定した。この際に、長方形状を有する視野であって、幅が1.408であり、長さが1.885mmである視野を、算術平均粗さの測定対象とした。また、JIS B 0601:2013に準じた方法によって、算術平均粗さを測定した。そして、この算術平均粗さを第1面の表面粗さRa1とした。実施例1における第1面の表面粗さRa1は、4nmであった。
易滑層26が含む第2面について表面粗さRa2を測定した。第2面の表面粗さRa2は、第1面の表面粗さRa1と同様に測定した。実施例1における第2面の表面粗さRa2は、3nmであった。
第1面の表面粗さRa1及び第2面の表面粗さRa2の和を求めた。実施例1における表面粗さRa1及び表面粗さRa2の和は、7nmであった。
下地層のうち配向層に接する表面に対して鉛筆硬度試験を行った。この際に、JIS K 5600-5-4:1999「塗膜一般試験方法-第5部:塗膜の機械的性質-第4節:引っかき硬度(鉛筆法)」に準拠した方法を用いた。実施例1における鉛筆硬度はHであった。
フィルムロールに、基材の表裏の貼り付きや膨らみが生じていないかどうか、フィルムロールの巻姿を目視で観察した。フィルムロールの巻姿が、基材の表裏の貼り付きや膨らみが生じていない標準のフィルムロールに比べて変形している場合には基材の表裏の貼り付きや膨らみが生じていると判定した。例えば、基材の表裏の貼り付きは、基材の表面が視認されるフィルムロールの正面から見たとき周囲に比べて過剰に透明な箇所として確認される。又は捲回された基材の端面が視認されるフィルムロールの側面から見たとき基材の端面が真円に近い円形状をなす状態で捲回されず多角形状をなす態で捲回されている場合に貼り付きや膨らみが生じていると判定する。基材の表裏の貼り付きや膨らみが発生していると、基材をフィルムロールから引き出したときに、基材自体が変形したり、最悪の場合フィルムが破れる等の事態が生じうる。基材の表裏の貼付きや膨らみが生じている場合には、不良(NG)とし、基材の表裏の貼付きや膨らみが確認できない場合は優良(OK)とした。
下地層付きフィルムを捲回したフィルムロールを、23度の温度且つ50%の相対湿度に保たれたクリーンルームに7日間保管した。その後、フィルムロールを次の工程を行う場所に運搬した。
実施例1において、易滑層に添加するアクリル粒子の添加量を1.00重量%に変更した以外は実施例1と同様の方法によってフィルム単体及び調光シートを作製した。実施例2における第1面の表面粗さRa1は5nm、第2面の表面粗さRa2は40nm、表面粗さRa1及び表面粗さRa2の和は45nmであった。また、下地層の表面の鉛筆硬度はHであった。
実施例1において、易滑層に添加するアクリル粒子の添加量を3.00重量%に変更した以外は実施例1と同様の方法によってフィルム単体及び調光シートを作製した。実施例3における第1面の表面粗さRa1は4nm、第2面の表面粗さRa2は97nm、表面粗さRa1及び表面粗さRa2の和は101nmであった。また、下地層の表面の鉛筆硬度はHであった。
実施例1において、ハードコート層のアクリル粒子の0.025重量%に変更した以外は実施例1と同様の方法によってフィルム単体及び調光シートを作製した。実施例4における第1面の表面粗さRa1は6nm、第2面の表面粗さRa2は5nm、表面粗さRa1及び表面粗さRa2の和は11nmであった。また、下地層の表面の鉛筆硬度はHであった。
実施例1において、ハードコート層のアクリル粒子の0.025重量%に変更し、易滑層に添加するアクリル粒子の添加量を1.00重量%に変更した以外は実施例1と同様の方法によってフィルム単体及び調光シートを作製した。実施例5における第1面の表面粗さRa1は9nm、第2面の表面粗さRa2は35nm、表面粗さRa1及び表面粗さRa2の和は44nmであった。また、下地層の表面の鉛筆硬度はHであった。
実施例1において、ハードコート層のアクリル粒子の0.025重量%に変更し、易滑層に添加するアクリル粒子の添加量を3.00重量%に変更した以外は実施例1と同様の方法によってフィルム単体及び調光シートを作製した。実施例6における第1面の表面粗さRa1は6nm、第2面の表面粗さRa2は100nm、表面粗さRa1及び表面粗さRa2の和は106nmであった。また、下地層の表面の鉛筆硬度はHであった。
実施例1において、ハードコート層のアクリル粒子の0.45重量%に変更した以外は実施例1と同様の方法によってフィルム単体及び調光シートを作製した。実施例7における第1面の表面粗さRa1は18nm、第2面の表面粗さRa2は5nm、表面粗さRa1及び表面粗さRa2の和は23nmであった。また、下地層の表面の鉛筆硬度はHであった。
実施例1において、ハードコート層のアクリル粒子の0.45重量%に変更し、易滑層に添加するアクリル粒子の添加量を1.00重量%に変更した以外は実施例1と同様の方法によってフィルム単体及び調光シートを作製した。実施例8における第1面の表面粗さRa1は17nm、第2面の表面粗さRa2は50nm、表面粗さRa1及び表面粗さRa2の和は67nmであった。また、下地層の表面の鉛筆硬度はHであった。
実施例1において、ハードコート層のアクリル粒子の0.45重量%に変更し、易滑層に添加するアクリル粒子の添加量を3.00重量%に変更した以外は実施例1と同様の方法によってフィルム単体及び調光シートを作製した。実施例9における第1面の表面粗さRa1は19nm、第2面の表面粗さRa2は99nm、表面粗さRa1及び表面粗さRa2の和は118nmであった。また、下地層の表面の鉛筆硬度はHであった。
実施例1において、アクリル樹脂ハードコート層塗料として第1塗料に代えて第2塗料(リオデュラスTP-203Xコート剤、東洋インキ株式会社製)を用い、アクリル粒子を添加せず、易滑層に添加するアクリル粒子の添加量を3.00重量%に変更した以外は実施例1と同様の方法によってフィルム単体及び調光シートを作製した。なお、実施例10で用いたアクリル樹脂は、実施例1で用いたアクリル樹脂よりも架橋度が低い。実施例10における第1面の表面粗さRa1は2nm、第2面の表面粗さRa2は98nm、表面粗さRa1及び表面粗さRa2の和は100nmであった。また、下地層の表面の鉛筆硬度はHBであった。
実施例1において、易滑層に添加するアクリル粒子の添加量を4.00重量%に変更した以外は実施例1と同様の方法によってフィルム単体及び調光シートを作製した。実施例11における第1面の表面粗さRa1は4nm、第2面の表面粗さRa2は125nm、表面粗さRa1及び表面粗さRa2の和は129nmであった。また、下地層の表面の鉛筆硬度はHであった。
実施例1において、ハードコート層にアクリル粒子を添加せず、易滑層に添加するアクリル粒子の添加量を3.00重量%に変更した以外は実施例1と同様の方法によってフィルム単体及び調光シートを作製した。実施例12における第1面の表面粗さRa1は3nm、第2面の表面粗さRa2は98nm、表面粗さRa1及び表面粗さRa2の和は101nmであった。また、下地層の表面の鉛筆硬度はHであった。
実施例1において、ハードコート層にアクリル粒子を添付せず、易滑層に添加するアクリル粒子の添加量を0.10重量%に変更した以外は実施例1と同様の方法によってフィルム単体及び調光シートを作製した。実施例13における第1面の表面粗さRa1は2nm、第2面の表面粗さRa2は5nm、表面粗さRa1及び表面粗さRa2の和は7nmであった。また、下地層の表面の鉛筆硬度はHであった。
実施例1において、ハードコート層及び易滑層の両方にアクリル粒子を添加しない以外は実施例1と同様の方法によってフィルム単体及び調光シートを作製した。比較例1における第1面の表面粗さRa1は1nm、第2面の表面粗さRa2は2nm、表面粗さRa1及び表面粗さRa2の和は3nmであった。また、下地層の表面の鉛筆硬度はHであった。
実施例1において、ハードコート層のアクリル粒子の0.839重量%に変更し、易滑層にアクリル粒子を添加しない以外は実施例1と同様の方法によってフィルム単体及び調光シートを作製した。比較例2における第1面の表面粗さRa1は31nm、第2面の表面粗さRa2は2nm、表面粗さRa1及び表面粗さRa2の和は33nmであった。また、下地層の表面の鉛筆硬度はHであった。
実施例1において、ハードコート層を設けずに、支持基材に導電層及び配向層を設け、易滑層に添加するアクリル粒子の添加量を3.00重量%とした以外は実施例1と同様の方法によってフィルム単体及び調光シートを作製した。比較例3における第1面の表面粗さRa1は2nm、第2面の表面粗さRa2は98nm、表面粗さRa1及び表面粗さRa2の和は100nmであった。また、下地層の表面の鉛筆硬度は2Bであった。
実施例1~13及び比較例1~3の調光シートの評価を行った。各調光シートの欠陥数及びヘイズは図4に示す。
実施例1~13及び比較例1~3の液晶デバイス用透明基材について、JIS K 7136:2000「プラスチック-透明材料のヘーズの求め方」に準拠した方法でヘイズを測定した。ヘイズが1.0%以下であるものを優良とした。
実施例および比較例の調光シートから、A3サイズの試験片を切り出した。各試験片において、各ITO層の一部を外部に露出させ、これによって調光シートに電圧を印加するための端子を形成した。そして、各試験片について、電圧が印加されていない状態でのヘイズを測定した。また、露出させた導電層を鰐口クリップで挟み込み、交流電源装置(PCR-3000WE、菊水電子工業株式会社製)を用いて一対の導電層の間に60Hzの周波数で40Vの交流電圧を印加した。そして、電圧を印加しながらヘイズメーター(スガ試験機製NDH-7000SP)を用いてヘイズを測定した。ヘイズを測定する際には、JIS K 7136:2000「プラスチック-透明材料のヘーズの求め方」に準拠した方法を用いた。透明駆動時のヘイズが15%以下であるものを優良とした。
調光フィルムを1m×1mの大きさにカットしてサンプルとした。駆動電圧をサンプルに印加せず、1000ルクス以上の三波長光源の光を照射し、目視にて欠陥箇所の数を数えた。欠陥箇所は、調光フィルムを目視したときに周囲より白濁してみえる箇所のうち最大直径が2mm以上の箇所とした。配向層の欠陥数が多いと透明駆動時に配向規制力が不足することにより、液晶分子が垂直に配向せずランダムに配向することになる。これにより、入射光が散乱し白濁して見える。欠陥数が50未満であるものを優良とし、欠陥数が50以上のものを不良とした。
(H)の評価が優良であるものを良品と判定し、(H)の評価が不良であるものを不良品とした。
比較例1は、表面粗さの和Ra1+Ra2が3nmであり条件3を満たさない。巻姿に、貼付きや膨れ等の現象が確認されたため、不良として評価とした。これは、第1面及び第2面が平滑すぎるために基材の表裏で貼付きが発生したためと考えられる。また、配向層の欠陥数は50以上であり、欠陥が多く不良とした。これは基材の表裏で貼付きが発生し、基材を引き出す際に配向層の剥離が発生したためと考えられる。よって総合評価では比較例1の基材及び調光シートは不良品とした。
11…第1基材
11A…下地層
12…第2基材
13…調光層
21…配向層
22…導電層
23…ハードコート層
24…支持基材
25…接着層
26…易滑層
Claims (4)
- 液晶デバイスが備える液晶層が含む液晶分子の配向方向を規制する配向層と、前記配向層が形成される下地層とを含む液晶デバイス用透明基材であって、
第1面と、前記第1面とは反対側の第2面とを備え、
前記第1面は、前記配向層が含む面であり、
前記第2面は、前記下地層が含む面であり、
前記下地層のうち前記配向層と接する面は鉛筆硬度試験においてF以上の硬度を有し、
前記第1面の表面粗さRa1が2nm以上20nm以下且つ前記第2面の表面粗さRa2が3nm以上100nm以下であり、
前記第1面の表面粗さRa1及び前記第2面の表面粗さRa2の和Ra1+Ra2が5nm以上120nm以下である
液晶デバイス用透明基材。 - 液晶デバイスが備える液晶層が含む液晶分子の配向方向を規制する配向層と、前記配向層が形成される下地層とを含む液晶デバイス用透明基材であって、
第1面と、前記第1面とは反対側の第2面とを備え、
前記第1面は、前記配向層が含む面であり、
前記第2面は、前記下地層が含む面であり、
前記下地層のうち前記配向層と接する面は鉛筆硬度試験においてF以上の硬度を有し、
前記第1面の表面粗さRa1が20nm以下であり、
前記第1面の表面粗さRa1及び前記第2面の表面粗さRa2の和Ra1+Ra2が5nm以上であるとともに、
前記下地層は、支持基材、ハードコート層、導電層及び前記第2面を有する易滑層を含み、
前記ハードコート層は前記支持基材及び前記導電層の間に位置し、
前記ハードコート層及び前記易滑層は複数の粒子を含み、
前記ハードコート層に含まれる前記粒子又は複数の前記粒子からなる凝集粒子の直径は、前記ハードコート層の厚さ、前記導電層の厚さ及び前記配向層の厚さの和よりも大きく、前記易滑層に含まれる前記粒子又は複数の前記粒子からなる凝集粒子の直径は、前記易滑層の厚さよりも大きく、
前記ハードコート層に含まれる前記粒子又は前記凝集粒子は前記第1面から突出し、前記易滑層に含まれる前記粒子又は前記凝集粒子は前記第2面から突出する
液晶デバイス用透明基材。 - 前記配向層は、シリコーン系樹脂又はポリイミド系樹脂を含む
請求項1又は2に記載の液晶デバイス用透明基材。 - 請求項1~3のいずれか1項に記載の液晶デバイス用透明基材と、
前記液晶デバイス用透明基材の前記第1面に接し、液晶分子を含む調光層を備える
調光シート。
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