JP7571582B2 - 粒子画像解析装置、粒子画像解析方法、及び粒子画像解析プログラム - Google Patents

Description

本発明は、粒子画像解析装置、粒子画像解析方法、及び粒子画像解析プログラムに関する。

粒子画像解析装置において、粒子画像を抽出する種々の技術が知られている。なお、粒子画像解析装置では、粒子を分散させた液体試料を所定速度で流路内を流動させ、液体試料を所定周期で撮影することによって得られた試料画像に含まれる粒子の画像を解析する。

例えば、特許文献１に記載の粒子画像解析装置では、粒子画像特定処理部が、試料画像の各画素の輝度を所定値と比較することにより、試料画像中に含まれる粒子の画像を特定する。また、周辺画像抽出処理部は、粒子画像特定処理部によって特定された１つの粒子の画像を含む粒子の周辺画像を試料画像から抽出する。更に、粒子領域特定処理部は、周辺画像抽出処理部によって抽出された周辺画像の各画素の輝度を第２閾値と比較することにより、周辺画像中の粒子領域を特定する。なお、第２閾値は、周辺画像の各画素のうち輝度が最も低い画素、又は最も高い画素の輝度と、周辺画像の粒子以外の領域における各画素の輝度の基準値とに基づいて算出される。

特開２０１９－１５８３５２号公報

しかしながら、特許文献１に記載の粒子画像解析装置では、コンタミ粒子等の異物が流路の壁面に付着する場合には、異物の画像を粒子の画像と誤認識する可能性がある。コンタミ粒子とは、解析対象の粒子とは相違する粒子であって、液体試料に混入した粒子を示す。
また、試料画像を撮影している期間内に、コンタミ粒子等の異物が流路の壁面に付着する場合には、異物の画像を含まない試料画像と、異物の画像を含む試料画像と、が生成される。したがって、異物の画像と粒子の画像とを識別することが更に困難になる。

本発明は、流路に付着したコンタミ粒子等の異物の画像を、粒子の画像と誤認識することを抑制することの可能な粒子画像解析装置、粒子画像解析方法、及び粒子画像解析プログラムを提供することを目的とする。

本発明の第１態様に係る粒子画像解析装置は、粒子を分散させた液体試料を所定速度で流路内を流動させ、前記液体試料を所定周期で撮影することによって得られた試料画像に含まれる前記粒子の画像を解析する粒子画像解析装置であって、複数の前記試料画像に基づいて、ブランク画像を生成する生成部と、前記ブランク画像に基づいて、前記試料画像を補正する補正部と、を備える。

本発明の第２態様に係る粒子画像解析方法は、粒子を分散させた液体試料を所定速度で流路内を流動させ、前記液体試料を所定周期で撮影することによって得られた試料画像に含まれる前記粒子の画像を解析する粒子画像解析装置の粒子画像解析方法であって、複数の前記試料画像に基づいて、ブランク画像を生成する生成ステップと、前記ブランク画像に基づいて、前記試料画像を補正する補正ステップと、を含む。

本発明の第３態様に係る粒子画像解析プログラムは、粒子を分散させた液体試料を所定速度で流路内を流動させ、前記液体試料を所定周期で撮影することによって得られた試料画像に含まれる前記粒子の画像を解析する粒子画像解析プログラムであって、コンピュータを、複数の前記試料画像に基づいて、ブランク画像を生成する生成部、及び、前記ブランク画像に基づいて、前記試料画像を補正する補正部、として機能させる。

本発明の第１態様に係る粒子画像解析装置、本発明の第２態様に係る粒子画像解析方法、及び本発明の第３態様に係る粒子画像解析プログラムによれば、複数の試料画像に基づいて、ブランク画像を生成し、ブランク画像に基づいて、試料画像を補正するため、流路に付着した異物の画像を、粒子の画像と誤認識することを抑制できる。

本発明の実施形態に係る粒子画像解析装置の構成の一例を示す図である。 異物が混入しない場合のブランク画像の一例を示す図である。 異物が混入した場合のブランク画像の一例を示す図である。 従来のブランク画像で補正した場合の補正画像の一例を示す図である。 本発明のブランク画像で補正した場合の補正画像の一例を示す図である。 コンタミ粒子付着前の試料画像をコンタミ粒子付着後のブランク画像で補正した場合の補正画像の一例を示す図である。 コンタミ粒子付着後の試料画像をコンタミ粒子付着前のブランク画像で補正した場合の補正画像の一例を示す図である。 コンタミ粒子付着後の試料画像をコンタミ粒子付着後のブランク画像で補正した場合の補正画像の一例を示す図である。 制御部の処理の一例を示すフローチャートである。 制御部の固定粒子検出処理の一例を示すフローチャートである。

以下、図面を参照して本実施形態について説明する。

［１．粒子画像解析装置の構成］
図１は、本実施形態に係る粒子画像解析装置１の構成の一例を示す図である。
粒子画像解析装置１は、粉体試料ＳＰの粒子ＰＴを分散させた液体試料ＳＬを所定速度ＶＡで流路内を流動させ、液体試料ＳＬを所定周期ＴＡで撮影することによって得られた試料画像ＰＳに含まれる粉体試料ＳＰの粒子ＰＴの画像を解析する。また、粒子画像解析装置１は、画像解析の結果に基づいて、粉体試料ＳＰの粒子ＰＴの粒子性状を解析する。

粉体試料ＳＰは、例えば、顔料、化粧品用パウダー、トナー、粒子状触媒、研磨材、粉末状医薬、合成樹脂製粉末、ファインセラミック粒子、金属粒子等の工業製品の粉体である。また、粒子性状は、代表的には粒子形状であり、円相当径や円形度、アスペクト比などが含まれる。
粒子画像解析装置１は、ＪＩＳ Ｚ８８２７－２で規定される動的画像解析法によって、粉体試料ＳＰの粒子ＰＴの画像を解析する。
また、粉体試料ＳＰの粒子ＰＴの大きさは、例えば、５μｍ～１００μｍである。

図１に示すように、粒子画像解析装置１は、フローセル２と、液体試料供給機構４と、照明部６と、カメラ８と、フォーカス機構１０と、制御部１２と、を備える。
フローセル２は、光学的に略透明な測定容器であり、略矩形の板状に形成される。フローセル２の上端面２Ａには、液体試料ＳＬを導入する導入口１４Ａが形成され、フローセル２の下端面２Ｂには、液体試料ＳＬを排出する排出口１４Ｂが形成され、導入口１４Ａから排出口１４Ｂに至る流路１６が直線状に形成される。
本実施形態のフローセル２には、焦点合わせ用の図略の焦点ターゲットが設けられており、制御部１２が焦点ターゲットに基づいてカメラ８の焦点を合わせるように構成される。

液体試料供給機構４は、フローセル２に液体試料ＳＬを単位時間に所定量ずつ送り込む機構であり、送液ポンプ２２を備える。換言すれば、送液ポンプ２２は、液体試料ＳＬを所定速度ＶＡで流路１６内を流動させる。所定速度ＶＡは、例えば、１４．５ｍｍ／秒である。
本実施形態では、液体試料ＳＬを貯留する液体試料貯留容器２４から延びる導入管２６がフローセル２の導入口１４Ａに接続される。また排出口１４Ｂには排出管２８の一方端が接続され、排出管２８の他方端に送液ポンプ２２の吸込側が接続される。
送液ポンプ２２が作動することによって、液体試料貯留容器２４の液体試料ＳＬが、導入口１４Ａからフローセル２の流路１６に流れ込み、流路１６を経由して、排出口１４Ｂから排出される。
送液ポンプ２２の排出側には、廃液管３０が接続されており、送液ポンプ２２が排出した液体試料は、廃液管３０を通じて廃液タンク３２に回収される。なお、送液ポンプ２２を導入管２６の側に設けてもよい。

照明部６は、フローセル２に測定光３４を照射する光源装置６Ａを備える。本実施形態の光源装置６Ａは、略平行光の測定光３４を、フローセル２の流路１６に対して略直交する方向から照射する。光源装置６Ａは、ＬＥＤ（Ｌｉｇｈｔ Ｅｍｉｔｔｉｎｇ Ｄｉｏｄｅ）光源やレーザ光源などの発光素子を有する光源と、光源が出射する光を平行光化するコリメート光学系と、を備える。なお、光源装置６Ａが、光源として、ＣＯＢ（Ｃｈｉｐ Ｏｎ Ｂｏａｒｄ）型ＬＥＤのように、面状に光を出射する面状光源を備えてもよい。

カメラ８は、フローセル２を挟んで照明部６と対向する位置に配置され、フローセル２における測定光３４の照射箇所を、制御部１２の指示に従って、所定周期ＴＡで撮影する。本実施形態のカメラ８は、イメージングセンサである撮像素子３６と、テレセントリック顕微鏡３８とを備える。撮像素子３６は、ＣＣＤ（Ｃｈａｒｇｅ Ｃｏｕｐｌｅｄ Ｄｅｖｉｃｅ）やＣＭＯＳ（Ｃｏｍｐｌｅｍｅｎｔａｒｙ Ｍｅｔａｌ Ｏｘｉｄｅ Ｓｅｍｉｃｏｎｄｕｃｔｏｒ）等で構成される。テレセントリック顕微鏡３８は、撮像素子３６の撮像面３６Ａにフローセル２における照射箇所の像を結像するテレセントリック光学系であり、フローセル２に対向配置されるテレセントリックレンズ４０を備える。

カメラ８の撮影速度は、例えば、８ＦＰＳである。すなわち、所定周期ＴＡは、０．１２５秒である。所定周期ＴＡは、次の条件を満たすように設定される。
すなわち、所定速度ＶＡ、及び所定周期ＴＡの各々は、流路１６内を流動する粒子が、２枚の連続して撮影された試料画像ＰＳに含まれないように設定される。
換言すれば、所定速度ＶＡ、及び所定周期ＴＡは次の式（１）を満たすように設定される。
ＶＡ＞ＬＡ／ＴＡ （１）
ここで、長さＬＡは、カメラ８の視野における粒子ＰＴの流動方向の長さを示す。例えば、長さＬＡは、１．８ｍｍである。この場合には、式（１）の右辺の値は、１４．４（＝１．８／０．１２５）ｍｍ／秒であり、所定速度ＶＡが１４．５ｍｍ／秒であるときには、（１）式を満たす。

このように、所定速度ＶＡ、及び所定周期ＴＡの各々は、流路１６内を流動する粒子ＰＴが、２枚の連続して撮影された試料画像ＰＳに含まれないように設定されるため、同一の粒子ＰＴの画像を複数回撮影することを抑制できる。

フォーカス機構１０は、テレセントリック顕微鏡３８の焦点を可変する機構であり、レンズ駆動機構４２を備える。レンズ駆動機構４２は、制御部１２の制御に従って、テレセントリックレンズ４０をテレセントリック光学系の光軸Ａに沿って駆動することでカメラ８の焦点を可変する機構である。

［２．制御部の構成］
制御部１２は、例えばパーソナルコンピュータで構成され、粒子画像解析装置１の動作を制御する。
制御部１２は、プロセッサ５１と、メモリ５２と、ＨＤＤ（Ｈａｒｄ Ｄｉｓｋ Ｄｒｉｖｅ）やＳＳＤ（Ｓｏｌｉｄ Ｓｔａｔｅ Ｄｒｉｖｅ）などのストレージ装置と、カメラ８などを接続するためのインターフェース回路と、を備える。
プロセッサ５１は、ＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ Ｕｎｉｔ）やＭＰＵ（Ｍｉｃｒｏ－Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ Ｕｎｉｔ）などで構成される。
メモリ５２は、ＲＯＭ(Ｒｅａｄ Ｏｎｌｙ Ｍｅｍｏｒｙ)やＲＡＭ(Ｒａｎｄｏｍ Ａｃｃｅｓｓ Ｍｅｍｏｒｙ)などで構成される。
制御部１２は、「コンピュータ」の一例に対応する。

なお、制御部１２は、パーソナルコンピュータに限らず、ＩＣチップやＬＳＩなどの集積回路といった１つ又は複数の適宜の回路によって構成されてもよい。また、制御部１２は、例えば、タブレット端末、又はスマートフォン等で構成されてもよい。
また、制御部１２は、ＤＳＰ（Ｄｉｇｉｔａｌ Ｓｉｇｎａｌ Ｐｒｏｃｅｓｓｏｒ）やＦＰＧＡ（Ｆｉｅｌｄ Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ Ｇａｔｅ Ａｒｒａｙ）等、プログラムされたハードウェアを備えてもよい。また、制御部１２は、ＳｏＣ（Ｓｙｓｔｅｍ－ｏｎ－ａ－Ｃｈｉｐ）－ＦＰＧＡを備えてもよい。

図１に示すように、制御部１２は、撮像制御部５１１と、検出部５１２と、分類部５１３と、抽出部５１４と、生成部５１５と、補正部５１６と、画像記憶部５２１と、を備える。具体的には、制御部１２のプロセッサ５１がメモリ５２に記憶された制御プログラムＰＧを実行することによって、撮像制御部５１１、検出部５１２、分類部５１３、抽出部５１４、生成部５１５、及び補正部５１６、として機能する。また、制御部１２のプロセッサ５１がメモリ５２に記憶された制御プログラムＰＧを実行することによって、メモリ５２を、画像記憶部５２１として機能させる。
制御プログラムＰＧは、「粒子画像解析プログラム」の一例に対応する。

画像記憶部５２１は、カメラ８によって、液体試料ＳＬを所定周期ＴＡで撮影することによって得られた試料画像ＰＳを記憶する。
また、画像記憶部５２１は、生成部５１５によって生成されたブランク画像ＢＬを記憶する。
また、画像記憶部５２１は、補正部５１６によって生成された補正画像ＰＣを記憶する。

撮像制御部５１１は、カメラ８のオートフォーカスの調整と、カメラ８の撮影タイミングの調整とを行う。
撮像制御部５１１は、カメラ８（テレセントリック顕微鏡３８）の焦点を、フローセル２の焦点ターゲットの撮影画像に基づいて調整する。具体的には、撮像制御部５１１は、カメラ８の撮影画像を取り込み、撮影画像に写った焦点ターゲットの撮影状態に基づいて、カメラ８の焦点と焦点ターゲットとのずれを判定する。そして、撮像制御部５１１は、焦点のずれを解消する位置にテレセントリックレンズ４０が移動するように、レンズ駆動機構４２を制御する。このようにして、撮像制御部５１１は、カメラ８の焦点を焦点ターゲットに合わせることができる。
また、撮像制御部５１１は、カメラ８に所定周期ＴＡで液体試料ＳＬを撮影させ、試料画像ＰＳを生成させる。また、撮像制御部５１１は、生成された試料画像ＰＳを画像記憶部５２１に記録する。

検出部５１２は、流路１６内を流動しない固定粒子ＦＰを検出する。固定粒子ＦＰは、例えば、フローセル２の流路１６側の壁面に付着したコンタミ粒子等の異物である。なお、「コンタミ粒子」とは、解析対象の粒子ＰＴとは相違する粒子であって、液体試料ＳＬに混入した粒子を示す。
検出部５１２は、２枚以上の所定枚数の連続して撮影された試料画像ＰＳにおいて、対応する位置に配置され、互いに隣接した複数画素の輝度値が第１閾値以下である場合に、固定粒子ＦＰを検出する。
第１閾値は、「所定値」の一例に対応する。

後述にて図２及び図３を参照して説明するように、流路１６のサイズは、粉体試料ＳＰの粒子ＰＴのサイズと比較して充分に大きい。例えば、流路１６のサイズは、粉体試料ＳＰの粒子ＰＴの最大サイズの１０倍以上である。また、試料画像ＰＳには、例えば、１個～３個程度の粉体試料ＳＰの粒子ＰＴの画像が含まれるように、液体試料ＳＬに粉体試料ＳＰの粒子ＰＴを分散させる。したがって、粉体試料ＳＰの粒子ＰＴの画像が、試料画像ＰＳの同一位置に連続して検出される確率は極めて低い。
したがって、２枚以上の所定枚数の連続して撮影された試料画像ＰＳにおいて、対応する位置に配置され、互いに隣接した複数画素の輝度値が第１閾値以下である場合に、固定粒子ＦＰを検出できる。

所定枚数が大きい程、検出部５１２は固定粒子ＦＰを正確に検出できる。所定枚数が小さい程、検出部５１２の処理を簡素化できる。所定枚数は、例えば、５枚である。
互いに隣接した複数画素の画素数は、試料画像ＰＳに含まれる粉体試料ＳＰの粒子ＰＴの画像の画素数に応じて設定される。複数画素の画素数は、例えば、最小の粒子ＰＴの画像の画素数よりも小さく設定される。複数画素の画素数は、例えば、最小の粒子ＰＴの画像の画素数の１／４に設定される。
複数画素の画素数が大きい程、検出部５１２の処理を簡素化できる。複数画素の画素数が小さい程、小さい固定粒子ＦＰを検出できる。
第１閾値は、試料画像ＰＳに含まれる粉体試料ＳＰの粒子ＰＴの画像の輝度値に応じて設定される。第１閾値は、例えば、試料画像ＰＳに含まれる粉体試料ＳＰの粒子ＰＴの画像の輝度値の最大値よりも大きく設定される。
第１閾値が小さい程、検出部５１２の処理を簡素化できる。第１閾値が大きい程、検出部５１２は固定粒子ＦＰを正確に検出できる。

固定粒子ＦＰは、第１固定粒子ＦＰ１と、第２固定粒子ＦＰ２と、を含む。
第１固定粒子ＦＰ１は、カメラ８が試料画像ＰＳの撮影を開始した時点で、フローセル２の流路１６側の壁面に付着しているコンタミ粒子等の異物を示す。
第２固定粒子ＦＰ２は、カメラ８が試料画像ＰＳの撮影を開始した時点では、フローセル２の流路１６側の壁面に付着しておらず、カメラ８が試料画像ＰＳの撮影中に、フローセル２の流路１６側の壁面に付着するコンタミ粒子等の異物を示す。
検出部５１２は、主に第２固定粒子ＦＰ２を検出する。第１固定粒子ＦＰ１については、生成部５１５によって生成されたブランク画像ＢＬに基づいて、補正部５１６が試料画像ＰＳを補正することによって、その影響を抑制できるからである。

分類部５１３は、検出部５１２が第２固定粒子ＦＰ２を検出した場合に、液体試料ＳＬを撮影することによって得られた試料画像ＰＳを、第１試料画像群ＰＳ１と、第２試料画像群ＰＳ２と、に分類する。
第１試料画像群ＰＳ１は、検出部５１２が第２固定粒子ＦＰ２を検出した所定枚数の試料画像ＰＳよりも前に撮影された画像を示す。第２試料画像群ＰＳ２は、第２固定粒子ＦＰ２を検出した所定枚数の試料画像ＰＳよりも後に撮影された画像を示す。
なお、第２試料画像群ＰＳ２が、第２固定粒子ＦＰ２を検出した所定枚数の試料画像ＰＳを含んでもよい。

抽出部５１４は、検出部５１２の検出結果に基づいて、液体試料ＳＬを撮影することによって得られた試料画像ＰＳの中から複数の試料画像ＰＳを抽出する。
具体的には、検出部５１２が第２固定粒子ＦＰ２を検出した場合に、抽出部５１４は、以下のようにして、複数の試料画像ＰＳを抽出する。すなわち、抽出部５１４は、生成部５１５が第１ブランク画像ＢＬ１を生成する場合には、第１試料画像群ＰＳ１に含まれる複数の試料画像ＰＳを抽出する。第１ブランク画像ＢＬ１は、第１試料画像群ＰＳ１に含まれる試料画像ＰＳの補正に用いるブランク画像ＢＬを示す。また、抽出部５１４は、生成部５１５が第２ブランク画像ＢＬ２を生成する場合には、第２試料画像群ＰＳ２に含まれる複数の試料画像を抽出する。第２ブランク画像ＢＬ２は、第２試料画像群ＰＳ２に含まれる試料画像ＰＳの補正に用いるブランク画像ＢＬを示す。

生成部５１５は、複数の試料画像ＰＳに基づいて、ブランク画像ＢＬを生成する。ブランク画像ＢＬは、補正部５１６が、試料画像ＰＳを補正する際に使用する画像を示す。生成部５１５は、生成したブランク画像ＢＬを画像記憶部５２１に記録する。
生成部５１５は、例えば、複数の試料画像ＰＳの各画素の輝度値のメディアン値を算出することによってブランク画像ＢＬを生成する。なお、生成部５１５は、例えば、複数の試料画像ＰＳの各画素の輝度値の平均値を算出することによってブランク画像ＢＬを生成してもよい。また、生成部５１５は、例えば、複数の試料画像ＰＳの各画素の輝度値の最頻値を算出することによってブランク画像ＢＬを生成してもよい。
ブランク画像ＢＬについては、図２及び図３を参照して説明する。

また、検出部５１２が第２固定粒子ＦＰ２を検出した場合に、生成部５１５は、以下のようにして、第１ブランク画像ＢＬ１及び第２ブランク画像ＢＬ２を生成する。すなわち、生成部５１５は、抽出部５１４によって抽出された複数の試料画像ＰＳに基づいて、第１ブランク画像ＢＬ１及び第２ブランク画像ＢＬ２を生成する。具体的には、生成部５１５は、第１試料画像群ＰＳ１に含まれる複数の試料画像ＰＳの各画素の輝度値のメディアン値を算出することによって第１ブランク画像ＢＬ１を生成する。また、生成部５１５は、第２試料画像群ＰＳ２に含まれる複数の試料画像ＰＳの各画素の輝度値のメディアン値を算出することによって第２ブランク画像ＢＬ２を生成する。
第１ブランク画像ＢＬ１及び第２ブランク画像ＢＬ２については、図５及び図８を参照して説明する。

補正部５１６は、ブランク画像ＢＬに基づいて、試料画像ＰＳを補正する。
具体的には、補正部５１６は、試料画像ＰＳとブランク画像ＢＬとの差分を算出することによって、試料画像ＰＳを補正する。以下の説明において、補正後の試料画像ＰＳを補正画像ＰＣと記載する場合がある。
更に具体的には、補正部５１６は、試料画像ＰＳの各画素の輝度値ＢＳと、ブランク画像ＢＬの各画素の輝度値ＢＢとの差分を算出することによって、試料画像ＰＳを補正する。補正画像ＰＣの各画素の輝度値ＢＣは、次の式（２）で求められる。
ＢＣ＝ＢＳ＋（ＢＸ－ＢＢ） （２）
ただし、平均輝度値ＢＸは、試料画像ＰＳの輝度値ＢＳの平均値を示す。
補正画像ＰＣについては、図５を参照して説明する。

また、検出部５１２が第２固定粒子ＦＰ２を検出した場合に、補正部５１６は、第１試料画像群ＰＳ１に含まれる試料画像ＰＳと第１ブランク画像ＢＬ１との差分を算出することによって、試料画像ＰＳを補正する。以下の説明において、補正後の試料画像ＰＳを第１補正画像ＰＣ１と記載する場合がある。
また、検出部５１２が第２固定粒子ＦＰ２を検出した場合に、補正部５１６は、第２試料画像群ＰＳ２に含まれる試料画像ＰＳと第２ブランク画像ＢＬ２との差分を算出することによって、試料画像ＰＳを補正する。以下の説明において、補正後の試料画像ＰＳを第２補正画像ＰＣ２と記載する場合がある。

本実施形態では、粒子画像解析装置１の制御部１２が、撮像制御部５１１、検出部５１２、分類部５１３、抽出部５１４、生成部５１５、補正部５１６、及び画像記憶部５２１を備えるが、本発明の実施形態は、これに限定されない。例えば、粒子画像解析装置１の制御部１２が、撮像制御部５１１、及び画像記憶部５２１を備え、粒子画像解析装置１とは別体としてパーソナルコンピュータ等で構成された制御装置が、検出部５１２、分類部５１３、抽出部５１４、生成部５１５、及び補正部５１６を備えてもよい。

［３．制御部の処理の具体例］
次に、図２～図８を参照して、制御部１２の処理の具体例について説明する。
［３－１．生成部及び検出部の処理の具体例］
まず、図２及び図３を参照して、生成部５１５及び検出部５１２の処理の具体例について説明する。
図２は、流路１６に異物が混入しない場合のブランク画像ＢＬの一例を示す図である。
生成部５１５は、複数の試料画像ＰＳの各画素の輝度値のメディアン値を算出することによってブランク画像ＢＬを生成する。
図２の上段に示す試料画像Ｐ１１～試料画像Ｐ１Ｎは、複数の試料画像ＰＳを示す。整数Ｎは、複数の試料画像ＰＳの個数を示す。すなわち、整数Ｎは、ブランク画像ＢＬを生成するために用いられる試料画像ＰＳの枚数を示す。
整数Ｎは、「５」以上であることが好ましい。
なお、生成部５１５が、複数の試料画像ＰＳの各画素の輝度値の平均値を算出することによってブランク画像ＢＬを生成する場合には、整数Ｎは、「５０」以上であることが好ましい。

試料画像Ｐ１１には、流路１６を示す画像と、粉体試料ＳＰの粒子ＰＴを示す粒子画像Ｑ１～粒子画像Ｑ３とが含まれる。
試料画像Ｐ１２には、流路１６を示す画像と、粉体試料ＳＰの粒子ＰＴを示す粒子画像Ｑ４及び粒子画像Ｑ５と、が含まれる。
試料画像Ｐ１Ｎには、流路１６を示す画像と、粉体試料ＳＰの粒子ＰＴを示す粒子画像Ｑ６及び粒子画像Ｑ７と、が含まれる。

図１を参照して説明したように、所定速度ＶＡ、及び所定周期ＴＡの各々は、流路１６内を流動する粒子が、２枚の連続して撮影された試料画像ＰＳに含まれないように設定される。よって、粒子画像Ｑ１～粒子画像Ｑ７は、互いに相違する粒子を示す。
また、図２に示すように、粒子画像Ｑ１～粒子画像Ｑ７の大きさと比較して、流路１６のサイズは充分に大きい。
更に、試料画像ＰＳには、例えば、１個～３個程度の粉体試料ＳＰの粒子ＰＴの画像が含まれるように、液体試料ＳＬに粉体試料ＳＰの粒子ＰＴを分散させる。
したがって、粒子画像Ｑ１～粒子画像Ｑ７は、流路１６において、互いに相違する位置に配置される。

図２の下段には、生成部５１５によって、試料画像Ｐ１１～試料画像Ｐ１Ｎの各画素の輝度値のメディアン値を算出することによって生成されるブランク画像Ｐ１Ａを示す。
ブランク画像Ｐ１Ａには、粉体試料ＳＰの粒子ＰＴ、又は異物を示す画像が含まれていない。換言すれば、ブランク画像Ｐ１Ａにおける流路１６の内側の各画素の輝度値Ｂは、概ね平均輝度値ＢＸである。
ブランク画像Ｐ１Ａにおいて、輝度値Ｂが平均輝度値ＢＸである場合には、図１を参照して説明した式（２）で求められる補正画像ＰＣの各画素の輝度値ＢＣは、試料画像ＰＳの各画素の輝度値ＢＳと一致する。すなわち、後述にて図４を参照して説明するように、補正画像ＰＣは、試料画像ＰＳと一致する。

また、試料画像Ｐ１１～試料画像Ｐ１Ｎが連続して撮影された試料画像ＰＳである場合には、検出部５１２は、試料画像Ｐ１１～試料画像Ｐ１Ｎに基づいて固定粒子ＦＰを検出できる。
検出部５１２は、試料画像Ｐ１１～試料画像Ｐ１Ｎにおいて、対応する位置に配置され、互いに隣接した複数画素の輝度値が第１閾値以下である場合に、固定粒子ＦＰを検出する。
上述のように、流路１６に異物が混入せず、粒子画像Ｑ１～粒子画像Ｑ７は、流路１６において、互いに相違する位置に配置される。したがって、検出部５１２は、固定粒子ＦＰを検出しない。

図３は、流路１６に異物が混入した場合のブランク画像の一例を示す図である。
図３の上段に示す試料画像Ｐ２１～試料画像Ｐ２Ｎは、複数の試料画像ＰＳを示す。整数Ｎは、複数の試料画像ＰＳの個数を示す。すなわち、整数Ｎは、ブランク画像ＢＬを生成するために用いられる試料画像ＰＳの枚数を示す。

試料画像Ｐ２１には、流路１６を示す画像と、粉体試料ＳＰの粒子ＰＴを示す粒子画像Ｑ１～粒子画像Ｑ３と、異物を示す異物画像ＦＭと、が含まれる。
試料画像Ｐ１２には、流路１６を示す画像と、粉体試料ＳＰの粒子ＰＴを示す粒子画像Ｑ４及び粒子画像Ｑ５、異物を示す異物画像ＦＭと、が含まれる。
試料画像Ｐ１Ｎには、流路１６を示す画像と、粉体試料ＳＰの粒子ＰＴを示す粒子画像Ｑ６及び粒子画像Ｑ７、異物を示す異物画像ＦＭと、が含まれる。

図２と同様に、粒子画像Ｑ１～粒子画像Ｑ７は、流路１６において、試料画像Ｐ２１～試料画像Ｐ２Ｎにおいて、互いに相違する位置に配置される。
一方、異物は、フローセル２の流路１６側の壁面に付着しているため、試料画像Ｐ２１～試料画像Ｐ２Ｎにおいて、同一の位置に配置される。

図２の下段には、生成部５１５によって、試料画像Ｐ２１～試料画像Ｐ２Ｎの各画素の輝度値のメディアン値を算出することによって生成されるブランク画像Ｐ２Ａを示す。
ブランク画像Ｐ２Ａには、粉体試料ＳＰの粒子ＰＴは含まれず、異物画像ＦＭが含まれる。

また、試料画像Ｐ２１～試料画像Ｐ２Ｎが連続して撮影された試料画像ＰＳである場合には、検出部５１２は、試料画像Ｐ２１～試料画像Ｐ２Ｎに基づいて固定粒子ＦＰを検出できる。
検出部５１２は、試料画像Ｐ２１～試料画像Ｐ２Ｎにおいて、対応する位置に配置され、互いに隣接した複数画素の輝度値が第１閾値以下である場合に、固定粒子ＦＰを検出する。
上述のように、流路１６に異物が混入する。したがって、検出部５１２は、固定粒子ＦＰを検出する。異物画像ＦＭは、固定粒子ＦＰを示す。

［３－２．補正部の処理の具体例］
次に、図４～図８を参照して、補正部５１６の処理の具体例について説明する。
図４～図８の各々には、３つの画像が、左右方向に沿って記載される。図４～図８の各々において、左側の画像は、補正前の試料画像ＰＳを示し、中央の画像は、ブランク画像ＢＬを示し、右側の画像は、補正部５１６によって生成される補正画像ＰＣを示す。
なお、図４～図８の各々では、粒子ＰＴの画像を見易くするために、図１及び図２と比較して、拡大した画像を記載している。

まず、図４及び図５を参照して、従来のブランク画像と、本発明のブランク画像ＢＬとの差異、及び、本発明の効果について説明する。
図４は、試料画像Ｐ３を従来のブランク画像Ｐ３Ａで補正した場合の補正画像Ｐ３Ｂの一例を示す図である。
ブランク画像Ｐ３Ａは、例えば、流路１６に液体試料ＳＬを流していない状態でカメラ８によって撮影された画像である。ブランク画像Ｐ３Ａは、粉体試料ＳＰの粒子ＰＴを示す粒子画像、及び、異物を示す異物画像を含んでいない。
試料画像Ｐ３には、粉体試料ＳＰの粒子ＰＴを示す粒子画像Ｑ８と、異物を示す異物画像ＦＭとが含まれている。
補正画像Ｐ３Ｂには、粉体試料ＳＰの粒子ＰＴを示す粒子画像Ｑ８と、異物を示す異物画像ＦＭとが含まれている。

このように、従来は、補正画像Ｐ３Ｂには、異物画像ＦＭが含まれるため、異物の画像を、粒子の画像と誤認識する可能性があった。

図５は、試料画像Ｐ４を本発明のブランク画像Ｐ４Ａで補正した場合の補正画像Ｐ４Ｂの一例を示す図である。
ブランク画像Ｐ４Ａは、生成部５１５によって、複数の試料画像ＰＳの各画素の輝度値のメディアン値を算出することによって生成されるブランク画像ＢＬを示す。ブランク画像Ｐ４Ａは、図３を参照して説明したように、粉体試料ＳＰの粒子ＰＴを示す粒子画像を含まず、異物を示す異物画像ＦＭを含む。
試料画像Ｐ４には、粉体試料ＳＰの粒子ＰＴを示す粒子画像Ｑ８と、異物を示す異物画像ＦＭとが含まれている。
補正画像Ｐ４Ｂには、粉体試料ＳＰの粒子ＰＴを示す粒子画像Ｑ８が含まれ、異物を示す異物画像ＦＭが含まれない。

このように、本発明では、生成部５１５が、複数の試料画像ＰＳの各画素の輝度値のメディアン値を算出することによってブランク画像ＢＬを生成するため、試料画像Ｐ４が異物画像ＦＭを含む場合に、補正部５１６によって異物画像ＦＭを含まない補正画像Ｐ４Ｂを生成できる。したがって、流路１６に付着した異物を、粒子ＰＴと誤認識することを抑制できる。

次に、図６～図８を参照して、第２固定粒子ＦＰ２が検出される場合の処理の一例について説明する。
なお、図６及び図７は、本実施形態の分類部５１３及び抽出部５１４の必要性を説明するための図であって、本実施形態を示す図ではない。
図１を参照して説明したように、第２固定粒子ＦＰ２が検出される場合には、第１試料画像群ＰＳ１に含まれる試料画像ＰＳは、第１ブランク画像ＢＬ１で補正し、第２試料画像群ＰＳ２含まれる試料画像ＰＳは、第２ブランク画像ＢＬ２で補正する必要がある。
これに対し、図６は、第１試料画像群ＰＳ１に含まれる試料画像ＰＳを第２ブランク画像ＢＬ２で補正する場合の一例を示し、図７は、第２試料画像群ＰＳ２含まれる試料画像ＰＳを第１ブランク画像ＢＬ１で補正する場合の一例を示す。

図６は、コンタミ粒子付着前の試料画像Ｐ５をコンタミ粒子付着後のブランク画像Ｐ５Ａで補正した場合の補正画像Ｐ５Ｂの一例を示す図である。
試料画像Ｐ５には、粉体試料ＳＰの粒子ＰＴを示す粒子画像Ｑ８と、異物を示す異物画像ＦＭと、が含まれている。ここで、異物は、第１固定粒子ＦＰ１の一例に対応する。
ブランク画像Ｐ５Ａには、粒子画像Ｑ８は含まれず、異物画像ＦＭと、コンタミ粒子画像ＣＰと、が含まれる。コンタミ粒子は、第２固定粒子ＦＰ２の一例に対応する。
ブランク画像Ｐ５Ａは、生成部５１５によって、第２試料画像群ＰＳ２に含まれる複数の試料画像ＰＳの各画素の輝度値のメディアン値を算出することによって生成される。ブランク画像Ｐ５Ａは、第２ブランク画像ＢＬ２の一例に対応する。
補正画像Ｐ５Ｂには、粒子画像Ｑ８が含まれ、異物画像ＦＭが含まれない。また、粒子画像Ｑ８は、コンタミ粒子画像ＣＰの影響を受けて、粒子画像Ｑ８の一部が白抜きされた変形部ＣＰＡを含む。

このように、コンタミ粒子付着前の試料画像Ｐ５を、コンタミ粒子付着後のブランク画像Ｐ５Ａで補正した場合には、補正画像Ｐ５Ｂの粒子画像Ｑ８が変形部ＣＰＡを含むため、適正な補正画像ＰＣを生成することはできない。換言すれば、コンタミ粒子付着前の試料画像Ｐ５を、コンタミ粒子付着前のブランク画像ＢＬで補正する必要がある。

本実施形態では、図１を参照して説明したように、コンタミ粒子付着前の試料画像Ｐ５を、第１ブランク画像ＢＬ１によって、試料画像ＰＳを補正する。第１ブランク画像ＢＬ１は、第１試料画像群ＰＳ１に含まれる複数の試料画像ＰＳの各画素の輝度値のメディアン値を算出することによって生成される。したがって、適正な補正画像ＰＣを生成できる。

図７は、コンタミ粒子付着後の試料画像Ｐ６をコンタミ粒子付着前のブランク画像Ｐ６Ａで補正した場合の補正画像Ｐ６Ｂの一例を示す図である。
試料画像Ｐ６には、粉体試料ＳＰの粒子ＰＴを示す粒子画像Ｑ９と、異物を示す異物画像ＦＭと、コンタミ粒子を示すコンタミ粒子画像ＣＰと、が含まれている。ここで、異物は、第１固定粒子ＦＰ１の一例に対応する。コンタミ粒子は、第２固定粒子ＦＰ２の一例に対応する。
ブランク画像Ｐ６Ａには、粒子画像Ｑ９及びコンタミ粒子画像ＣＰは含まれず、異物画像ＦＭが含まれる。
ブランク画像Ｐ６Ａは、生成部５１５によって、第１試料画像群ＰＳ１に含まれる複数の試料画像ＰＳの各画素の輝度値のメディアン値を算出することによって生成される。ブランク画像Ｐ６Ａは、第１ブランク画像ＢＬ１の一例に対応する。
補正画像Ｐ６Ｂには、粒子画像Ｑ８及びコンタミ粒子画像ＣＰが含まれ、異物画像ＦＭが含まれない。

このように、コンタミ粒子付着後の試料画像Ｐ６を、コンタミ粒子付着前のブランク画像Ｐ６Ａで補正した場合には、補正画像Ｐ５Ｂにコンタミ粒子画像ＣＰが含まれるため、適正な補正画像ＰＣを生成することはできない。換言すれば、コンタミ粒子付着後の試料画像Ｐ５を、コンタミ粒子付着後のブランク画像ＢＬで補正する必要がある。

本実施形態では、図１を参照して説明したように、また、図８を参照して説明するように、コンタミ粒子付着後の試料画像Ｐ５を、第２ブランク画像ＢＬ２によって、試料画像ＰＳを補正する。第２ブランク画像ＢＬ２は、第２試料画像群ＰＳ２に含まれる複数の試料画像ＰＳの各画素の輝度値のメディアン値を算出することによって生成される。したがって、適正な補正画像ＰＣを生成できる。

図８は、コンタミ粒子付着後の試料画像Ｐ７をコンタミ粒子付着後のブランク画像Ｐ７Ａで補正した場合の補正画像Ｐ７Ｂの一例を示す図である。
試料画像Ｐ７には、粉体試料ＳＰの粒子ＰＴを示す粒子画像Ｑ９と、異物を示す異物画像ＦＭと、コンタミ粒子を示すコンタミ粒子画像ＣＰと、が含まれている。ここで、異物は、第１固定粒子ＦＰ１の一例に対応する。コンタミ粒子は、第２固定粒子ＦＰ２の一例に対応する。
ブランク画像Ｐ７Ａには、粒子画像Ｑ９は含まれず、異物画像ＦＭとコンタミ粒子画像ＣＰとが含まれる。
ブランク画像Ｐ７Ａは、生成部５１５によって、第２試料画像群ＰＳ２に含まれる複数の試料画像ＰＳの各画素の輝度値のメディアン値を算出することによって生成される。ブランク画像Ｐ７Ａは、第２ブランク画像ＢＬ２の一例に対応する。
補正画像Ｐ７Ｂには、粒子画像Ｑ８が含まれ、異物画像ＦＭ及びコンタミ粒子画像ＣＰが含まれない。

このように、コンタミ粒子付着後の試料画像Ｐ７を、コンタミ粒子付着後のブランク画像Ｐ７Ａで補正することによって、適正な補正画像Ｐ７Ｂを生成できる。

また、図５を参照して説明したように、コンタミ粒子付着前の試料画像Ｐ４を、コンタミ粒子付着前のブランク画像Ｐ４Ａで補正することによって、適正な補正画像Ｐ４Ｂを生成できる。

第２固定粒子ＦＰ２が検出部５１２によって検出された場合には、以下の処理を実施することによって、適正な補正画像ＰＣを生成できる。
すなわち、分類部５１３は、検出部５１２が第２固定粒子ＦＰ２を検出した場合に、液体試料ＳＬを撮影することによって得られた試料画像ＰＳを、第１試料画像群ＰＳ１と、第２試料画像群ＰＳ２と、に分類する。
生成部５１５は、第１試料画像群ＰＳ１に含まれる複数の試料画像ＰＳの各画素の輝度値のメディアン値を算出することによって第１ブランク画像ＢＬ１を生成する。また、生成部５１５は、第２試料画像群ＰＳ２に含まれる複数の試料画像ＰＳの各画素の輝度値のメディアン値を算出することによって第２ブランク画像ＢＬ２を生成する。
補正部５１６は、第１試料画像群ＰＳ１に含まれる試料画像ＰＳと第１ブランク画像ＢＬ１との差分を算出することによって、試料画像ＰＳを補正して、補正画像ＰＣを生成する。補正部５１６は、第２試料画像群ＰＳ２に含まれる試料画像ＰＳと第２ブランク画像ＢＬ２との差分を算出することによって、試料画像ＰＳを補正して、補正画像ＰＣを生成する。

［４．制御部の処理］
次に、図９及び図１０を参照して、制御部１２の処理について説明する。
図９は、制御部１２の処理の一例を示すフローチャートである。
まず、ステップＳ１０１において、撮像制御部５１１は、カメラ８に所定周期ＴＡで液体試料ＳＬを撮影させ、試料画像ＰＳを生成させ、生成された試料画像ＰＳを画像記憶部５２１に記録する。
次に、ステップＳ１０３において、検出部５１２は、固定粒子検出処理を実行する。「固定粒子検出処理」は、流路１６内を流動しない固定粒子ＦＰを検出する処理を示す。なお、図９及び図１０では、固定粒子ＦＰが、第２固定粒子ＦＰ２である場合について説明する。
次に、ステップＳ１０５において、制御部１２は、固定粒子ＦＰを検出したか否かを判定する。
固定粒子ＦＰを検出していないと制御部１２が判定した場合（ステップＳ１０５；ＮＯ）には、処理がステップＳ１２１に進む。固定粒子ＦＰを検出したと制御部１２が判定した場合（ステップＳ１０５；ＹＥＳ）には、処理がステップＳ１０７に進む。

そして、ステップＳ１０７において、分類部５１３は、液体試料ＳＬを撮影することによって得られた試料画像ＰＳを、第１試料画像群ＰＳ１と、第２試料画像群ＰＳ２と、に分類する。
次に、ステップＳ１０９において、抽出部５１４は、第１試料画像群ＰＳ１から複数の試料画像ＰＳを抽出する。
次に、ステップＳ１１１において、生成部５１５は、ステップＳ１０９で抽出された複数の試料画像ＰＳの各画素の輝度値のメディアン値を算出することによって第１ブランク画像ＢＬ１を生成する。
次に、ステップＳ１１３において、補正部５１６は、第１試料画像群ＰＳ１に含まれる試料画像ＰＳと第１ブランク画像ＢＬ１との差分を算出することによって、試料画像ＰＳを補正し、第１補正画像ＰＣ１を生成する。そして、補正部５１６は、第１補正画像ＰＣ１を画像記憶部５２１に記録する。

次に、ステップＳ１１５において、抽出部５１４は、第２試料画像群ＰＳ２から複数の試料画像ＰＳを抽出する。
次に、ステップＳ１１７において、生成部５１５は、ステップＳ１１５で抽出された複数の試料画像ＰＳの各画素の輝度値のメディアン値を算出することによって第２ブランク画像ＢＬ２を生成する。
次に、ステップＳ１１９において、補正部５１６は、第２試料画像群ＰＳ２に含まれる試料画像ＰＳと第２ブランク画像ＢＬ２との差分を算出することによって、試料画像ＰＳを補正し、第２補正画像ＰＣ２を生成する。そして、補正部５１６は、第２補正画像ＰＣ２を画像記憶部５２１に記録する。その後、処理が終了する。

固定粒子ＦＰを検出していないと制御部１２が判定した場合（ステップＳ１０５；ＮＯ）には、ステップＳ１２１において、抽出部５１４は、液体試料ＳＬを撮影することによって得られた試料画像ＰＳから複数の試料画像ＰＳを抽出する。
次に、ステップＳ１２３において、生成部５１５は、ステップＳ１２１で抽出された複数の試料画像ＰＳの各画素の輝度値のメディアン値を算出することによってブランク画像ＢＬを生成する。
次に、ステップＳ１２５において、補正部５１６は、液体試料ＳＬを撮影することによって得られた試料画像ＰＳと、ブランク画像ＢＬの差分を算出することによって、試料画像ＰＳを補正し、補正画像ＰＣを生成する。そして、補正部５１６は、補正画像ＰＣを画像記憶部５２１に記録する。その後、処理が終了する。

ステップＳ１１１、ステップＳ１１７、及びステップＳ１２３の各々は、「生成ステップ」の一例に対応する。ステップＳ１１３、ステップＳ１１９、及びステップＳ１２５の各々は、「補正ステップ」の一例に対応する。

図９を参照して説明したように、第２固定粒子ＦＰ２が検出部５１２によって検出された場合には、生成部５１５は、第１試料画像群ＰＳ１に含まれる複数の試料画像ＰＳの各画素の輝度値のメディアン値を算出することによって第１ブランク画像ＢＬ１を生成する。
そして、補正部５１６は、第１試料画像群ＰＳ１に含まれる試料画像ＰＳと第１ブランク画像ＢＬ１との差分を算出することによって、試料画像ＰＳを補正して、第１補正画像ＰＣ１を生成する。また、生成部５１５は、第２試料画像群ＰＳ２に含まれる複数の試料画像ＰＳの各画素の輝度値のメディアン値を算出することによって第２ブランク画像ＢＬ２を生成する。
そして、補正部５１６は、第２試料画像群ＰＳ２に含まれる試料画像ＰＳと第２ブランク画像ＢＬ２との差分を算出することによって、試料画像ＰＳを補正して、第２補正画像ＰＣ２を生成する。
このようにして、第１試料画像群ＰＳ１に含まれる試料画像ＰＳ、及び、第２試料画像群ＰＳ２に含まれる試料画像ＰＳの各々を適正に補正できる。

なお、本実施形態では、第１試料画像群ＰＳ１に含まれる試料画像ＰＳを第１ブランク画像ＢＬ１で補正し、第２試料画像群ＰＳ２に含まれる試料画像ＰＳを第２ブランク画像ＢＬ２で補正するが、本発明の実施形態はこれに限定されない。第１試料画像群ＰＳ１に含まれる試料画像ＰＳを第１ブランク画像ＢＬ１で補正する処理、及び、第２試料画像群ＰＳ２に含まれる試料画像ＰＳを第２ブランク画像ＢＬ２で補正する処理の少なくとも一方を実施すればよい。
例えば、第１試料画像群ＰＳ１に含まれる試料画像ＰＳを第１ブランク画像ＢＬ１で補正し、第２試料画像群ＰＳ２に含まれる試料画像ＰＳを破棄してもよい。また、例えば、第１試料画像群ＰＳ１に含まれる試料画像ＰＳを破棄し、第２試料画像群ＰＳ２に含まれる試料画像ＰＳを第２ブランク画像ＢＬ２で補正してもよい。これらの場合には、処理が簡素化できる。

また、本実施形態では、固定粒子ＦＰが、第１固定粒子ＦＰ１、及び第２固定粒子ＦＰ２を含む場合について説明するが、これに限定されない。固定粒子ＦＰが、カメラ８が試料画像ＰＳの撮影を開始した時点では、フローセル２の流路１６側の壁面に付着しておらず、カメラ８が試料画像ＰＳの撮影中に、フローセル２の流路１６側の壁面に付着し、その後、カメラ８が試料画像ＰＳの撮影中に、フローセル２の流路１６側の壁面から剥離する固定粒子ＦＰである形態でもよい。
この場合には、例えば、固定粒子ＦＰがフローセル２の流路１６側の壁面に付着する前の画像群と、固定粒子ＦＰがフローセル２の流路１６側の壁面から剥離した後の画像群と、の少なくとも一方について試料画像ＰＳをブランク画像ＢＬで補正してもよい。

図１０は、制御部１２の固定粒子検出処理の一例を示すフローチャートである。
まず、ステップＳ２０１において、検出部５１２は、液体試料ＳＬを撮影することによって得られた試料画像ＰＳから、連続して撮影された所定枚数の試料画像ＰＳを取得する。
次に、ステップＳ２０３において、検出部５１２は、所定枚数の試料画像ＰＳの対応する位置に配置された画素の輝度値Ｂが第１閾値以下であるか否かを判定する。
所定枚数の試料画像ＰＳの対応する位置に配置された画素の輝度値Ｂが第１閾値以下ではないと検出部５１２が判定した場合（ステップＳ２０３；ＮＯ）には、処理がステップＳ２１１に進む。所定枚数の試料画像ＰＳの対応する位置に配置された画素の輝度値Ｂが第１閾値以下であると検出部５１２が判定した場合（ステップＳ２０３；ＹＥＳ）には、処理がステップＳ２０５に進む。

そして、ステップＳ２０５において、検出部５１２は、輝度値Ｂが第１閾値以下である低輝度画素が互いに隣接して配置されているか否かを判定する。
低輝度画素が互いに隣接して配置されてはいないと検出部５１２が判定した場合（ステップＳ２０５；ＮＯ）には、処理がステップＳ２１１に進む。低輝度画素が互いに隣接して配置されていると検出部５１２が判定した場合（ステップＳ２０５；ＹＥＳ）には、処理がステップＳ２０７に進む。
そして、ステップＳ２０７において、検出部５１２は、低輝度画素の画素数が第２閾値以上であるか否かを判定する。第２閾値は、「互いに隣接した複数画素」における「複数」の個数の一例に対応する。
低輝度画素の画素数が第２閾値以上であると検出部５１２が判定した場合（ステップＳ２０７；ＹＥＳ）には、処理がステップＳ２０９に進む。
そして、ステップＳ２０９において、検出部５１２は、固定粒子ＦＰを検出し、処理が図９のステップＳ１０５へリターンする。
低輝度画素の画素数が第２閾値以上ではないと検出部５１２が判定した場合（ステップＳ２０７；ＮＯ）には、処理がステップＳ２１１に進む。
そして、ステップＳ２１１において、検出部５１２は、固定粒子ＦＰを検出せず、処理が図９のステップＳ１０５へリターンする。

［６．態様と効果］
上述した本実施形態は、以下の態様の具体例であることが当業者により理解される。

（第１項）
第１態様に関わる粒子画像解析装置は、粒子を分散させた液体試料を所定速度で流路内を流動させ、前記液体試料を所定周期で撮影することによって得られた試料画像に含まれる前記粒子の画像を解析する粒子画像解析装置であって、複数の前記試料画像に基づいて、ブランク画像を生成する生成部と、前記ブランク画像に基づいて、前記試料画像を補正する補正部と、を備える。

第１項に記載の粒子画像解析装置によれば、複数の試料画像に基づいて、ブランク画像を生成し、生成されたブランク画像に基づいて、試料画像を補正する。
よって、流路に付着したコンタミ粒子等の異物の画像をブランク画像に含めることができるため、試料画像を適正に補正できる。したがって、流路に付着したコンタミ粒子等の異物の画像を、粒子の画像と誤認識することを抑制できる。

（第２項）
第１項に記載の粒子画像解析装置において、前記補正部は、前記試料画像と前記ブランク画像との差分を算出することによって、前記試料画像を補正する。

第２項に記載の粒子画像解析装置によれば、前記補正部は、前記試料画像と前記ブランク画像との差分を算出することによって、前記試料画像を補正する。
よって、試料画像を適正に補正できる。したがって、流路に付着したコンタミ粒子等の異物の画像を、粒子の画像と誤認識することを抑制できる。

（第３項）
第１項又は第２項に記載の粒子画像解析装置において、前記流路内を流動しない固定粒子を検出する検出部と、前記検出部の検出結果に基づいて、前記液体試料を撮影することによって得られた試料画像の中から前記複数の試料画像を抽出する抽出部と、を更に備える。

第３項に記載の粒子画像解析装置によれば、前記流路内を流動しない固定粒子を検出し、固定粒子の検出結果に基づいて、前記液体試料を撮影することによって得られた試料画像の中から前記複数の試料画像を抽出する。
よって、ブランク画像を生成する複数の試料画像を適正に抽出できる。したがって、適正なブランク画像を生成できる。

（第４項）
第３項に記載の粒子画像解析装置において、前記検出部は、２枚以上の所定枚数の連続して撮影された前記試料画像において、対応する位置に配置され、互いに隣接した複数画素の輝度値が所定値以下である場合に、前記固定粒子を検出する。

第４項に記載の粒子画像解析装置によれば、前記検出部は、２枚以上の所定枚数の連続して撮影された前記試料画像において、対応する位置に配置され、互いに隣接した複数画素の輝度値が所定値以下である場合に、前記固定粒子を検出する。
したがって、所定枚数、複数画素の画素数、及び、所定値を適正に設定することによって、固定粒子を適正に検出できる。

（第５項）
第３項又は第４項に記載の粒子画像解析装置において、前記検出部が前記固定粒子を検出した場合に、前記液体試料を撮影することによって得られた試料画像を、前記固定粒子を検出する前の第１試料画像群と、前記固定粒子を検出した後の第２試料画像群と、に分類する分類部、を更に備え、前記抽出部は、前記第１試料画像群に含まれる試料画像の補正に用いる前記ブランク画像を前記生成部が生成する場合には、前記第１試料画像群に含まれる前記複数の試料画像を抽出し、前記第２試料画像群に含まれる試料画像の補正に用いる前記ブランク画像を前記生成部が生成する場合には、前記第２試料画像群に含まれる前記複数の試料画像を抽出する。

第５項に記載の粒子画像解析装置によれば、前記第１試料画像群に含まれる試料画像の補正に用いる前記ブランク画像を前記生成部が生成する場合には、前記抽出部は、前記第１試料画像群に含まれる前記複数の試料画像を抽出し、前記第２試料画像群に含まれる試料画像の補正に用いる前記ブランク画像を前記生成部が生成する場合には、前記抽出部は、前記第２試料画像群に含まれる前記複数の試料画像を抽出する。
よって、ブランク画像を生成する複数の試料画像を適正に抽出できる。したがって、適正なブランク画像を生成できる。

（第６項）
第１項から第５項のいずれか１項に記載の粒子画像解析装置において、前記所定速度、及び前記所定周期の各々は、前記流路内を流動する前記粒子が、２枚の連続して撮影された前記試料画像に含まれないように設定される。

第６項に記載の粒子画像解析装置によれば、前記所定速度、及び前記所定周期の各々は、前記流路内を流動する前記粒子が、２枚の連続して撮影された前記試料画像に含まれないように設定される。
したがって、同一の粒子の画像を複数回撮影することを抑制できる。

（第７項）
第１項から第６項のいずれか１項に記載の粒子画像解析装置において、前記生成部は、前記複数の試料画像の各画素の輝度値のメディアン値を算出することによって前記ブランク画像を生成する。

第７項に記載の粒子画像解析装置によれば、前記生成部は、前記複数の試料画像の各画素の輝度値のメディアン値を算出することによって前記ブランク画像を生成する。
したがって、適正なブランク画像を生成できる。

（第８項）
第１項から第６項のいずれか１項に記載の粒子画像解析装置において、前記生成部は、前記複数の試料画像の各画素の輝度値の平均値を算出することによって前記ブランク画像を生成する。

第８項に記載の粒子画像解析装置によれば、前記生成部は、前記複数の試料画像の各画素の輝度値の平均値を算出することによって前記ブランク画像を生成する。
したがって、適正なブランク画像を生成できる。

（第９項）
第２態様に関わる粒子画像解析装置の粒子画像解析方法は、粒子を分散させた液体試料を所定速度で流路内を流動させ、前記液体試料を所定周期で撮影することによって得られた試料画像に含まれる前記粒子の画像を解析する粒子画像解析装置の粒子画像解析方法であって、複数の前記試料画像に基づいて、ブランク画像を生成する生成ステップと、前記ブランク画像に基づいて、前記試料画像を補正する補正ステップと、を含む。

第９項に記載の粒子画像解析装置の粒子画像解析方法によれば、第１項に記載の粒子画像解析装置と同様の作用効果を奏する。

（第１０項）
第３態様に関わる粒子画像解析プログラムは、粒子を分散させた液体試料を所定速度で流路内を流動させ、前記液体試料を所定周期で撮影することによって得られた試料画像に含まれる前記粒子の画像を解析する粒子画像解析プログラムであって、コンピュータを、複数の前記試料画像に基づいて、ブランク画像を生成する生成部、及び、前記ブランク画像に基づいて、前記試料画像を補正する補正部、として機能させる。

第１０項に記載の粒子画像解析プログラムによれば、第１項に記載の粒子画像解析装置と同様の作用効果を奏する。

［７．その他の実施形態］
なお、本実施形態に係る粒子画像解析装置１は、あくまでも本発明に係る粒子画像解析装置の態様の例示であり、本発明の主旨を逸脱しない範囲において任意に変形および応用が可能である。
例えば、本実施形態では、粒子画像解析装置１の制御部１２が、撮像制御部５１１、検出部５１２、分類部５１３、抽出部５１４、生成部５１５、補正部５１６、及び画像記憶部５２１を備えるが、本発明の実施形態は、これに限定されない。例えば、粒子画像解析装置１の制御部１２が、撮像制御部５１１、及び画像記憶部５２１を備え、粒子画像解析装置１とは別体としてパーソナルコンピュータ等で構成された制御装置が、検出部５１２、分類部５１３、抽出部５１４、生成部５１５、及び補正部５１６を備えてもよい。

また、図１に示した各機能部は機能的構成を示すものであって、具体的な実装形態は特に制限されない。つまり、必ずしも各機能部に個別に対応するハードウェアが実装される必要はなく、一つのプロセッサがプログラムを実行することで複数の機能部の機能を実現する構成とすることも勿論可能である。また、上記実施形態においてソフトウェアで実現される機能の一部をハードウェアで実現してもよく、或いは、ハードウェアで実現される機能の一部をソフトウェアで実現してもよい。

また、図９及び図１０に示すフローチャートの処理単位は、制御部１２の処理を理解容易にするために、主な処理内容に応じて分割したものである。図９及び図１０のフローチャートに示す処理単位の分割の仕方や名称によって制限されることはなく、処理内容に応じて、さらに多くの処理単位に分割することもできるし、１つの処理単位がさらに多くの処理を含むように分割することもできる。また、上記のフローチャートの処理順序も、図示した例に限られるものではない。

また、粒子画像解析装置１の制御部１２は、制御部１２が備えるプロセッサ５１に粒子画像解析装置１の粒子画像解析方法に対応した制御プログラムＰＧを実行させる。また、この制御プログラムＰＧは、コンピュータで読み取り可能に記録した記録媒体に記録しておくことも可能である。記録媒体としては、磁気的、光学的記録媒体又は半導体メモリデバイスを用いることができる。具体的には、フレキシブルディスク、ＨＤＤ、ＣＤ－ＲＯＭ（Ｃｏｍｐａｃｔ Ｄｉｓｋ Ｒｅａｄ Ｏｎｌｙ Ｍｅｍｏｒｙ）、ＤＶＤ、Ｂｌｕ－ｒａｙ（登録商標） Ｄｉｓｃ、光磁気ディスク、フラッシュメモリ、カード型記録媒体等の可搬型、或いは固定式の記録媒体が挙げられる。また、記録媒体は、制御部１２が備える内部記憶装置であるＲＡＭ、ＲＯＭ、ＨＤＤ等の不揮発性記憶装置であってもよい。また、制御プログラムＰＧをサーバー装置等に記憶させておき、サーバー装置から制御部１２に、制御プログラムＰＧをダウンロードしてもよい。

１ 画像解析式粒子分析装置
２ フローセル
４ 液体試料供給機構
６Ａ 光源装置
８ カメラ
１０ フォーカス機構
１２ 制御部（コンピュータ）
１６ 流路
２２ 送液ポンプ
２４ 液体試料貯留容器
３２ 廃液タンク
３４ 測定光
３８ テレセントリック顕微鏡
４０ テレセントリックレンズ
４２ レンズ駆動機構
５１ プロセッサ
５１１ 撮像制御部
５１２ 検出部
５１３ 分類部
５１４ 抽出部
５１５ 生成部
５１６ 補正部
５２ メモリ
５１２ 画像記憶部
ＢＣ、ＢＳ、ＢＢ 輝度値
ＢＸ 平均輝度値
ＢＬ ブランク画像
ＢＬ１ 第１ブランク画像
ＢＬ２ 第２ブランク画像
ＣＰ コンタミ粒子画像
ＦＭ 異物画像
ＦＰ 固定粒子
ＦＰ１ 第１固定粒子
ＦＰ２ 第２固定粒子
ＰＣ 補正画像
ＰＧ 制御プログラム（粒子画像解析プログラム）
ＰＳ 試料画像
ＰＳ１ 第１試料画像群
ＰＳ２ 第２試料画像群
ＰＴ 粒子
ＳＬ 液体試料
ＳＰ 粉体試料
ＴＡ 所定周期
ＶＡ 所定速度

Claims (9)

1. 粒子を分散させた液体試料を所定速度で流路内を流動させ、前記液体試料を所定周期で撮影することによって得られた試料画像に含まれる前記粒子の画像を解析する粒子画像解析装置であって、
   複数の前記試料画像に基づいて、ブランク画像を生成する生成部と、
   前記ブランク画像に基づいて、前記試料画像を補正する補正部と、
   前記流路内を流動しない固定粒子を検出する検出部と、
   前記検出部の検出結果に基づいて、前記液体試料を撮影することによって得られた試料画像の中から前記複数の試料画像を抽出する抽出部と、
   を備える、粒子画像解析装置。
2. 前記補正部は、前記試料画像と前記ブランク画像との差分を算出することによって、前記試料画像を補正する、
   請求項１に記載の粒子画像解析装置。
3. 前記検出部は、２枚以上の所定枚数の連続して撮影された前記試料画像において、対応する位置に配置され、互いに隣接した複数画素の輝度値が所定値以下である場合に、前記固定粒子を検出する、
   請求項１に記載の粒子画像解析装置。
4. 前記検出部が前記固定粒子を検出した場合に、前記液体試料を撮影することによって得られた試料画像を、前記固定粒子を検出する前の第１試料画像群と、前記固定粒子を検出した後の第２試料画像群と、に分類する分類部、を更に備え、
   前記抽出部は、
   前記第１試料画像群に含まれる試料画像の補正に用いる前記ブランク画像を前記生成部が生成する場合には、前記第１試料画像群に含まれる前記複数の試料画像を抽出し、
   前記第２試料画像群に含まれる試料画像の補正に用いる前記ブランク画像を前記生成部が生成する場合には、前記第２試料画像群に含まれる前記複数の試料画像を抽出する、
   請求項１又は請求項３に記載の粒子画像解析装置。
5. 前記所定速度、及び前記所定周期の各々は、前記流路内を流動する前記粒子が、２枚の連続して撮影された前記試料画像に含まれないように設定される、
   請求項１から請求項４のいずれか１項に記載の粒子画像解析装置。
6. 前記生成部は、前記複数の試料画像の各画素の輝度値のメディアン値を算出することによって前記ブランク画像を生成する、
   請求項１から請求項５のいずれか１項に記載の粒子画像解析装置。
7. 前記生成部は、前記複数の試料画像の各画素の輝度値の平均値を算出することによって前記ブランク画像を生成する、
   請求項１から請求項５のいずれか１項に記載の粒子画像解析装置。
8. 粒子を分散させた液体試料を所定速度で流路内を流動させ、前記液体試料を所定周期で撮影することによって得られた試料画像に含まれる前記粒子の画像を解析する粒子画像解析装置の粒子画像解析方法であって、
   複数の前記試料画像に基づいて、ブランク画像を生成する生成ステップと、
   前記ブランク画像に基づいて、前記試料画像を補正する補正ステップと、
   前記流路内を流動しない固定粒子を検出する検出ステップと、
   前記検出ステップでの検出結果に基づいて、前記液体試料を撮影することによって得られた試料画像の中から前記複数の試料画像を抽出する抽出ステップと、
   を含む、粒子画像解析方法。
9. 粒子を分散させた液体試料を所定速度で流路内を流動させ、前記液体試料を所定周期で撮影することによって得られた試料画像に含まれる前記粒子の画像を解析する粒子画像解析プログラムであって、
   コンピュータを、
   複数の前記試料画像に基づいて、ブランク画像を生成する生成部、
   前記ブランク画像に基づいて、前記試料画像を補正する補正部、
   前記流路内を流動しない固定粒子を検出する検出部、及び、
   前記検出部の検出結果に基づいて、前記液体試料を撮影することによって得られた試料画像の中から前記複数の試料画像を抽出する抽出部、
   として機能させる、粒子画像解析プログラム。

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