JP7571482B2 - Infrared gas analyzer and calibration method thereof - Google Patents
Infrared gas analyzer and calibration method thereof Download PDFInfo
- Publication number
- JP7571482B2 JP7571482B2 JP2020187325A JP2020187325A JP7571482B2 JP 7571482 B2 JP7571482 B2 JP 7571482B2 JP 2020187325 A JP2020187325 A JP 2020187325A JP 2020187325 A JP2020187325 A JP 2020187325A JP 7571482 B2 JP7571482 B2 JP 7571482B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- gas
- reference gas
- infrared
- measurement cell
- infrared absorption
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Landscapes
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
本発明は、赤外線ガス分析装置及びその校正方法に関する。 The present invention relates to an infrared gas analyzer and a calibration method thereof.
赤外線ガス分析装置は、試料ガスに含まれる測定対象成分の濃度を測定するものである。例えば、赤外線ガス分析装置では、測定対象成分を含まないガスが基準ガス(比較ガスと呼ばれてもよい)として用いられる。赤外線ガス分析装置は、基準ガスと試料ガスとの赤外線吸収量の差を検出することにより、試料ガス中の測定対象成分の濃度を測定する。 An infrared gas analyzer measures the concentration of a target component contained in a sample gas. For example, an infrared gas analyzer uses a gas that does not contain the target component as a reference gas (which may also be called a comparison gas). An infrared gas analyzer measures the concentration of the target component in the sample gas by detecting the difference in the amount of infrared absorption between the reference gas and the sample gas.
測定対象となる試料ガスには、発電所や焼却炉等の燃焼設備における排出ガスが挙げられる。このような試料ガスには不純物(汚染物質)が含まれるため、試料ガスが流通する測定セルには、不純物が堆積する。その結果、測定基準となるゼロ点が不純物の堆積量に応じてずれてしまう、いわゆるゼロ点ドリフトという現象が生じ得る。従来では、測定セルの汚染によるゼロ点ドリフトを防止するため、基準ガスと試料ガスを一定周期で交互に切り替えながら測定することでゼロ点ドリフトを打ち消すドリフトキャンセル方式が提案されている(例えば、特許文献1参照)。 Examples of sample gases to be measured include exhaust gases from combustion facilities such as power plants and incinerators. Such sample gases contain impurities (pollutants), which accumulate in the measurement cell through which the sample gas flows. As a result, a phenomenon known as zero point drift may occur, in which the zero point, which serves as the measurement standard, shifts depending on the amount of accumulated impurities. Conventionally, in order to prevent zero point drift due to contamination of the measurement cell, a drift cancellation method has been proposed that cancels out zero point drift by measuring while alternately switching between a reference gas and a sample gas at a fixed interval (see, for example, Patent Document 1).
ところで、上記のような赤外線ガス分析装置では、基準ガスとしてドライ窒素が用いられることがある。しかしながら、この場合、ドライ窒素をボンベ等で予め準備しなくてはならず、ランニングコストが高くなってしまう。そのため、実際には、ドライ窒素の代わりとして大気をポンプで吸引し、除湿器で除湿したガス(ドライエア)を基準ガスとして用いることが多い。 In some infrared gas analyzers, dry nitrogen is used as the reference gas. However, in this case, the dry nitrogen must be prepared in advance in a cylinder or the like, which increases the running costs. Therefore, in practice, instead of dry nitrogen, air is often sucked in with a pump and dehumidified in a dehumidifier to be used as the reference gas (dry air).
しかしながら、ドライエアといっても大気中の水分を完全に除去することはできない。このため、ドライエアを基準ガスとして用いた場合には、ガス中の残存水分が僅かに赤外線を吸収してしまい、誤差として測定結果に影響を及ぼすことになる。 However, even dry air cannot completely remove moisture from the atmosphere. For this reason, when dry air is used as a reference gas, the remaining moisture in the gas will absorb a small amount of infrared light, causing an error that will affect the measurement results.
本発明はかかる点に鑑みてなされたものであり、安価なランニングコストで且つ高精度な測定が可能な赤外線ガス分析装置及びその校正方法を提供することを目的の1つとする。 The present invention has been made in consideration of these points, and one of its objectives is to provide an infrared gas analyzer and a calibration method thereof that can perform highly accurate measurements at low running costs.
本発明の一態様の赤外線ガス分析装置は、測定対象成分が含まれた試料ガスの赤外線吸収量と基準ガスの赤外線吸収量との差に基づいて試料ガスの測定対象成分の濃度を測定する赤外線ガス分析装置であって、測定時に前記試料ガス及び前記基準ガスが交互に流通される測定セルと、前記測定セル内で赤外線照射された前記試料ガス及び前記基準ガスの赤外線吸収量をそれぞれ検出する検出器と、前記検出器の出力に基づいて前記試料ガスの測定対象成分の濃度を演算する制御部と、を備え、前記基準ガスは、前記測定対象成分が含まれない第1の基準ガスと第2の基準ガスを含み、前記第1の基準ガスは残存水分が混在する除湿されたガスであり、前記第2の基準ガスは水分を含まないガスであり、前記測定時には、前記第1の基準ガスが前記基準ガスとして前記試料ガスと交互に前記測定セル内に流通され、前記測定セルに対する前記試料ガスの流通を切り替える第1の電磁弁と、前記測定セルに対する前記第1の基準ガスの流通を切り替える第2の電磁弁と、前記測定セルに対する前記第2の基準ガスの流通を切り替える第3の電磁弁と、を更に備え、前記制御部は、前記第1の電磁弁、前記第2の電磁弁及び前記第3の電磁弁を切り替え、前記基準ガスとして前記第1の基準ガスを前記測定セルに流通させて検出した第1の赤外線吸収量と前記試料ガスとして前記測定対象成分が含まれないガスを前記測定セルに流通させて検出した第2の赤外線吸収量との差と、前記基準ガスとして前記第2の基準ガスを前記測定セルに流通させて検出した第3の赤外線吸収量と前記試料ガスとして前記測定対象成分が含まれない前記ガスを前記測定セルに流通させて検出した第4の赤外線吸収量との差と、に基づいて、ゼロ校正を実施する。 An infrared gas analyzer according to one aspect of the present invention is an infrared gas analyzer that measures the concentration of a target component in a sample gas based on the difference between the amount of infrared absorption of a sample gas containing the target component and the amount of infrared absorption of a reference gas, and the infrared gas analyzer includes a measurement cell through which the sample gas and the reference gas flow alternately during measurement, a detector that detects the amount of infrared absorption of the sample gas and the reference gas irradiated with infrared light in the measurement cell, respectively, and a control unit that calculates the concentration of the target component in the sample gas based on the output of the detector, wherein the reference gas includes a first reference gas and a second reference gas that do not contain the target component , the first reference gas is a dehumidified gas containing residual moisture, and the second reference gas is a gas that does not contain moisture, and during the measurement, the first reference gas and the sample gas are alternately circulated as the reference gas within the measurement cell, and the measurement The measurement apparatus further includes a first solenoid valve that switches the flow of the sample gas through a constant cell, a second solenoid valve that switches the flow of the first reference gas through the measurement cell, and a third solenoid valve that switches the flow of the second reference gas through the measurement cell, and the control unit switches the first solenoid valve, the second solenoid valve, and the third solenoid valve , and performs zero calibration based on a difference between a first infrared absorption amount detected by flowing the first reference gas as the reference gas through the measurement cell and a second infrared absorption amount detected by flowing a gas not containing the component to be measured as the sample gas through the measurement cell, and a difference between a third infrared absorption amount detected by flowing the second reference gas as the reference gas through the measurement cell and a fourth infrared absorption amount detected by flowing the gas not containing the component to be measured as the sample gas through the measurement cell .
また、本発明の一態様の赤外線ガス分析装置の校正方法は、測定対象成分が含まれた試料ガスの赤外線吸収量と基準ガスの赤外線吸収量との差に基づいて試料ガスの測定対象成分の濃度を測定する赤外線ガス分析装置の校正方法であって、測定時に前記試料ガス及び前記基準ガスが測定セルに交互に流通され、前記基準ガスは、前記測定対象成分が含まれない第1の基準ガスと第2の基準ガスを含み、前記第1の基準ガスは残存水分が混在する除湿されたガスであり、前記第2の基準ガスは水分を含まないガスであり、前記測定時には、前記第1の基準ガスが前記基準ガスとして前記試料ガスと交互に前記測定セル内に流通され、前記赤外線ガス分析装置の制御部が、前記基準ガスとして前記第1の基準ガスを前記測定セルに流通させて検出した第1の赤外線吸収量と前記試料ガスとして前記測定対象成分が含まれないガスを前記測定セルに流通させて検出した第2の赤外線吸収量との差と、前記基準ガスとして前記第2の基準ガスを前記測定セルに流通させて検出した第3の赤外線吸収量と前記試料ガスとして前記測定対象成分が含まれない前記ガスを前記測定セルに流通させて検出した第4の赤外線吸収量との差と、に基づいて、ゼロ校正を実施する。 A method for calibrating an infrared gas analyzer according to one aspect of the present invention is a method for calibrating an infrared gas analyzer that measures the concentration of a component to be measured in a sample gas based on the difference between the infrared absorption amount of the sample gas containing the component to be measured and the infrared absorption amount of a reference gas, the method including: at the time of measurement, the sample gas and the reference gas are alternately circulated through a measurement cell; the reference gas includes a first reference gas not containing the component to be measured and a second reference gas; the first reference gas is a dehumidified gas containing residual moisture, and the second reference gas is a gas not containing moisture; and at the time of measurement, the first reference gas is used as the reference gas. The first reference gas and the sample gas are alternately circulated through the measurement cell, and a control unit of the infrared gas analyzer performs zero calibration based on the difference between a first infrared absorption amount detected by circulating the first reference gas as the reference gas through the measurement cell and a second infrared absorption amount detected by circulating a gas not containing the component to be measured as the sample gas through the measurement cell, and the difference between a third infrared absorption amount detected by circulating the second reference gas as the reference gas through the measurement cell and a fourth infrared absorption amount detected by circulating the gas not containing the component to be measured as the sample gas through the measurement cell .
本発明によれば、安価なランニングコストで且つ高精度な測定が可能である。 The present invention makes it possible to perform highly accurate measurements at low running costs.
以下、本発明を適用可能な赤外線ガス分析装置について説明する。図1は、本実施の形態に係る赤外線ガス分析装置の全体構成図である。なお、以下に示す赤外線ガス分析装置はあくまで一例にすぎず、これに限定されることなく適宜変更が可能である。なお、本実施の形態では、赤外線ガス分析装置が通常備える基本構成は当然に備えるものとし、適宜説明を省略する。 The following describes an infrared gas analyzer to which the present invention can be applied. Figure 1 is a diagram showing the overall configuration of an infrared gas analyzer according to this embodiment. Note that the infrared gas analyzer shown below is merely an example, and is not limited to this example and can be modified as appropriate. Note that this embodiment naturally includes the basic components that an infrared gas analyzer normally includes, and explanations will be omitted as appropriate.
図1に示すように、本実施の形態に係る赤外線ガス分析装置100は、測定対象成分を含む試料ガスに赤外線を照射し、その赤外線の吸収量を検出することにより、試料ガス中の測定対象成分の濃度を測定する。赤外線ガス分析装置100は、その役割に応じて、光学系、ガス供給系、制御系の3つに大別される。具体的に光学系は、測定セル10、光源11、チョッパ12、モータ13、検出器14を含んで構成される。ガス供給系は、試料ガス供給源、後述する2つの基準ガス供給源、及び各ガス供給源から測定セルに導入されるガスの切り替えを行うガス切り替え機構(後述する複数の電磁弁)を含んで構成される。ガス供給系の詳細は後述する。制御系は、A/D変換部20、制御部21、及び半導体リレー22を含んで構成される。
As shown in FIG. 1, the
測定セル10は、一端側にガスの導入口15が設けられ、他端側にガスの排出口16が設けられた筒状体で形成される。測定セル10には、所定のガス(後述する試料ガス、基準ガス等)が流通される。測定セル10の一端側には、赤外線の光源11、チョッパ12、及びモータ13が設けられている。測定セル10の他端側には、検出器14設けられている。
The
光源11は、所定波長の赤外線を測定セル10内で一端側から他端側に向けて照射する。チョッパ12は、測定セル10と光源11との間に設けられており、モータ13によって回転駆動される。チョッパ12は、光源11と検出器14との間の光路を断続的に遮断する。すなわち、チョッパ12は、モータ13によって回転駆動されることにより、測定セル10に対する赤外線の入射を一定周期で断続的に制御する。モータ13の駆動は制御部21によって制御される。
The
検出器14は、ガス中の測定対象成分が吸収する赤外線吸収波長と同一波長域の赤外線強度を検出する。検出器14は、測定セル10内のガスの測定対象成分の濃度(以下、単にガスの濃度と呼ぶことがある)に応じた赤外線吸収量の変化を検出し、その変化に応じた電気信号を出力する。
The
A/D変換部20は、上記の電気信号をアナログ信号からデジタル信号に変換する。なお、検出器14とA/D変換部20との間に、検出器14からの電気信号を増幅するアンプ(不図示)が設けられてもよい。A/D変換部20で変換されたデジタル信号は、制御部21に入力される。
The A/
制御部21は、装置内の所定構成を統括制御するものであり、各種処理を実行するマイクロプロセッサやメモリ等のハードウエアと、メモリから読み出されてマイクロプロセッサによって実行されるソフトウエアにより構成される。メモリは、用途に応じてROM(Read Only Memory)、RAM(Random Access Memory)等の一つ又は複数の記憶媒体で構成される。
The
例えば制御部21は、上記したA/D変換部20から入力されたデジタル信号に基づいて、ガスの濃度を算出する。また、制御部21は、モータ13の駆動を制御する。更に制御部21は、ガス切り替え機構を構成する複数の電磁弁40の開閉制御を半導体リレー22を介して実施する。半導体リレー22は、各電磁弁の開閉信号を制御部21から各電磁弁に中継する。また、詳細は後述するが、測定時、ゼロ校正時、又はスパン校正時に、所定のガスに対応した電気信号に基づいて、種々の演算処理を実施する。
For example, the
次にガス供給系について説明する。図1では、測定セル10に流通されるガスとして1つの試料ガスと、2つの基準ガス(第1の基準ガスと第2の基準ガス)が示されている。各ガスの供給元は特に図示しないものの、各ガスは、所定のガス通路及び電磁弁を介して測定セル10に流通可能に構成される。なお、測定セル10に流通されるガスはこれらに限らず、適宜変更が可能である。例えば、後述するスパン校正用のドライスパンガス(不図示)の供給系統を設けてもよい。この場合、ガスの種類ごとに電磁弁を設けることが好ましい。
Next, the gas supply system will be described. In FIG. 1, one sample gas and two reference gases (a first reference gas and a second reference gas) are shown as gases circulating in the
なお、試料ガスは、検出器14で検出可能な測定対象成分を含むガスであり、当該ガス中の測定対象成分の濃度に応じて赤外線を吸収する。試料ガスは、例えば発電所や焼却炉等の燃焼設備における排出ガスである。本実施の形態では、基準ガスが、第1の基準ガスと第2の基準ガスとによって構成される。基本的に、基準ガスには、赤外線を吸収しないガスが用いられる。
The sample gas is a gas that contains a component to be measured that can be detected by the
具体的に、第1の基準ガスは、所定温度(例えば2℃~5℃)の冷却された除湿空気(以下、ドライエアと呼ぶ)である。ドライエアは、僅かながら水分を含んでいる。また、第2の基準ガスは、赤外線を吸収する測定対象成分を含まない乾燥窒素(以下、ドライ窒素と呼ぶ)である。ドライ窒素は、水分を含んでいない。なお、本実施の形態では、第1の基準ガスとしてドライエアを用い、第2の基準ガスとしてドライ窒素を用いる場合について説明するが、この構成に限定されない。第1、第2の基準ガスの種類は、適宜変更が可能である。また、これらのガスの詳細については後述する。 Specifically, the first reference gas is dehumidified air (hereinafter referred to as dry air) cooled to a predetermined temperature (for example, 2°C to 5°C). Dry air contains a small amount of moisture. The second reference gas is dry nitrogen (hereinafter referred to as dry nitrogen) that does not contain the measurement target component that absorbs infrared rays. Dry nitrogen does not contain moisture. Note that in this embodiment, a case will be described in which dry air is used as the first reference gas and dry nitrogen is used as the second reference gas, but this configuration is not limiting. The types of the first and second reference gases can be changed as appropriate. Details of these gases will be described later.
ここで各ガスの流通経路について説明する。図1に示すように、試料ガスは、試料ガス流路30から電磁弁40(第1の電磁弁)及び導入ガス流路31を介して測定セル10に流通可能である。第1の基準ガスは、基準ガス流路32から電磁弁41(第2の電磁弁)及び導入ガス流路33を介して測定セル10に流通可能である。第2の基準ガスは、基準ガス流路34から電磁弁42(第3の電磁弁)及び導入ガス流路35を介して測定セル10に流通可能である。
The flow paths of each gas will now be described. As shown in FIG. 1, the sample gas can flow from the sample
上記した3つの電磁弁40-42は、例えば、三方電磁弁で構成することができる。三方電磁弁は、共通流入ポート(Common:com)と、常閉流出ポート(Normally Close:NC)及び常開流出ポート(Normally Open:NO)から構成されている。NCとNOの切り替えは、上記した制御部21によって制御される。
The three solenoid valves 40-42 described above can be configured, for example, as three-way solenoid valves. The three-way solenoid valves are configured with a common inlet port (Common: com), a normally closed outlet port (Normally Close: NC), and a normally open outlet port (Normally Open: NO). The switching between NC and NO is controlled by the
試料ガス流路30の下流端は、電磁弁40の共通流入ポートに接続されている。導入ガス流路31の上流端は、電磁弁40の常開流出ポートに接続されている。導入ガス流路31の下流端は、測定セル10の導入口15に接続されている。また、測定セル10の排出口16には、排出ガス流路36の上流端が接続されている。排出ガス流路36の下流端は、外部に開放されている。また、電磁弁40の常閉流入ポートには、排出ガス流路37の上流端が接続されている。試料ガスは、電磁弁40の開閉状態に応じて測定セル10に流通、又は外部に排出される。
The downstream end of the sample
基準ガス流路32の下流端は、電磁弁41の共通流入ポートに接続されている。導入ガス流路33の上流端は、電磁弁41の常閉流出ポートに接続されている。導入ガス流路33の下流端は、導入ガス流路31の途中に接続されている。また、電磁弁41の常開流入ポートには、排出ガス流路38の上流端が接続されている。排出ガス流路38の下流端は、外部に開放されている。また、排出ガス流路37の下流端は、排出ガス流路38の途中に接続されている。第1の基準ガスは、電磁弁41の開閉状態に応じて測定セル10に流通、又は外部に排出される。
The downstream end of the reference
基準ガス流路34の下流端は、電磁弁42の共通流入ポートに接続されている。導入ガス流路35の上流端は、電磁弁42の常閉流出ポートに接続されている。導入ガス流路35の下流端は、導入ガス流路31の途中に接続されている。また、電磁弁42の常開流入ポートには、排出ガス流路39の上流端が接続されている。排出ガス流路39の下流端は、外部に開放されている。第2の基準ガスは、電磁弁42の開閉状態に応じて測定セル10に流通、又は外部に排出される。
The downstream end of the reference
このように構成される赤外線ガス分析装置100においては、所定のガスが測定セル10内を流通している際に、当該ガスに赤外線を照射してその吸収量を検出する。例えば、試料ガスの測定の際には、図1に示すように、電磁弁40の常開流出ポートが開放され、試料ガスは、試料ガス流路30及び導入ガス流路31を通じて導入口15から測定セル10内に流通する。
In the
測定セル10内では、光源11から発せられた赤外光が、チョッパ12によって断続光となり、測定セル10の内側面を反射しながら検出器14に向かって入射する。その際、測定セル10内に存在する測定対象成分の濃度に応じて、測定セル10内での赤外線吸収量が変化する。検出器14は、その赤外線吸収量の変化を検出して、所定の電気信号(濃度信号と呼ばれてもよい)として出力する。そして、試料ガスは、排出口16から排出ガス流路36を通じて外部に排出される。
In the
ところで、上記したように、測定対象となる試料ガスには、発電所や焼却炉等の燃焼設備における排出ガスが挙げられる。このような排出ガスには、不純物が含まれるため、測定が繰り返されると、測定セル10内には不純物が堆積するおそれがある。この結果、測定基準となるゼロ点が不純物の堆積量に応じてずれてしまう、いわゆるゼロ点ドリフトという現象が生じ得る。
As mentioned above, the sample gas to be measured includes exhaust gas from combustion facilities such as power plants and incinerators. Such exhaust gas contains impurities, and so there is a risk that impurities will accumulate in the
そのため、従来を含め本実施の形態では、測定セル10内へ試料ガスと基準ガスを所定時間おきに交互に流通させ、2つのガスの赤外線吸収量の差から試料ガス中の測定対象成分を算出することで測定が行われる。測定セル10に試料ガスと基準ガスとを交互に複数回流通させることで、基準ガスによるゼロ点信号と、試料ガスによる試料ガス測定信号とを交互に取得することが可能である。このため、試料ガス測定信号からゼロ点信号を差し引く演算処理を行うことで、上記のようなゼロ点ドリフトの影響を受けない濃度信号を得ることが可能である。このような測定方法は、例えばドリフトキャンセル方式と呼ばれている。
Therefore, in this embodiment, including the conventional method, the sample gas and the reference gas are alternately passed through the
また、こうした方式が採用された赤外線ガス分析装置100であっても、試料ガスを測定するに先立って、測定の基準となるゼロ校正及びスパン校正が定期的に実施される。ゼロ校正とは、測定範囲の下限となるゼロ点を定めることをいい、スパン校正とは、スパン校正用のガスを用いて予め定められた測定範囲の基準点となるスパン点を定めることをいう。
Even in an
ところで、校正を実施する際には、基準ガス又は試料ガスとして、しばしばドライ窒素が採用される。例えば、ゼロ校正時において、基準ガスとしてドライ窒素が使用された場合、試料ガスにもドライ窒素が使用される。ドライ窒素は、測定対象成分を一切含まないため、試料ガス及び基準ガスの電気信号のレベルは等しくなり、2つの電気信号の差は0となる。これにより、適正なゼロ校正が実施される。また、スパン校正時には、基準ガスとしてドライ窒素が使用され、試料ガスとして予め定められた濃度信号を示すドライスパンガスが使用される。 When performing calibration, dry nitrogen is often used as the reference gas or sample gas. For example, when dry nitrogen is used as the reference gas during zero calibration, dry nitrogen is also used as the sample gas. Since dry nitrogen does not contain any components to be measured, the levels of the electrical signals of the sample gas and reference gas are equal, and the difference between the two electrical signals is zero. This allows for proper zero calibration. Also, during span calibration, dry nitrogen is used as the reference gas, and a dry span gas that shows a predetermined concentration signal is used as the sample gas.
しかしながら、基準ガスにドライ窒素を用いる場合、ドライ窒素専用のボンベを準備する必要があるため、装置のランニングコストが高くなる傾向がある。そのため、除湿した空気(ドライエア)を基準ガスに用いることが多くなっている。ドライエアは、空気をポンプで吸引し、電子クーラー等によって2度程度に冷却されることで除湿される。 However, when using dry nitrogen as the reference gas, a special cylinder must be prepared, which tends to increase the running costs of the device. For this reason, dehumidified air (dry air) is often used as the reference gas. Dry air is dehumidified by drawing in the air with a pump and cooling it to about 2 degrees using an electronic cooler or similar device.
ところが、ドライエアといっても、空気中の水分を完全に除去することはできず、ドライエアには、僅かながら残存水分が混在している。この場合、ドライエア中に残った水分が赤外線を吸収してしまう。その結果、ゼロ校正時における試料ガス及び基準ガスの検出信号のレベルが異なってしまい、2つの電気信号の差が0とならずに誤差が発生する。 However, even when using dry air, it is not possible to completely remove moisture from the air, and a small amount of moisture remains mixed in the dry air. In this case, the moisture remaining in the dry air absorbs infrared rays. As a result, the detection signal levels of the sample gas and reference gas during zero calibration differ, and the difference between the two electrical signals does not become zero, resulting in an error.
ここで、図2を参照して、基準ガスにドライエアを用いた場合のゼロ校正方法について説明する。図2は、従来例に係るゼロ校正方法を示すタイムチャートである。図2の横軸は時間を示しており、縦軸は電気信号の大きさ(レベル)を示している。 Now, referring to Figure 2, we will explain the zero calibration method when dry air is used as the reference gas. Figure 2 is a time chart showing a conventional zero calibration method. The horizontal axis of Figure 2 indicates time, and the vertical axis indicates the magnitude (level) of the electrical signal.
図2に示すように、基準ガスと試料ガスを交互に一定周期で切り替えながら測定を実施する。その際、基準ガスとしてドライエアが用いられ、試料ガスとしてドライ窒素が用いられる。上記したように、ドライエアには残存水分が含まれるため、残存水分が吸収した分の赤外線が電気信号として出力される。一方で、ドライ窒素は測定対象成分を一切含まないため、電気信号のレベルがゼロとなっている。両者の電気信号のレベル差をΔSとすると、このドライエアのレベルを基準にゼロ校正が実施される。また、この条件でスパン校正が実施されると、スパン信号のレベルは、上記誤差が含まれた値となってしまう。 As shown in Figure 2, measurements are performed by alternating between the reference gas and the sample gas at regular intervals. In this case, dry air is used as the reference gas, and dry nitrogen is used as the sample gas. As mentioned above, dry air contains residual moisture, so the amount of infrared light absorbed by the residual moisture is output as an electrical signal. On the other hand, dry nitrogen does not contain any components to be measured, so the level of the electrical signal is zero. If the level difference between the two electrical signals is ΔS, zero calibration is performed based on the level of this dry air. Furthermore, if span calibration is performed under these conditions, the level of the span signal will be a value that includes the above-mentioned error.
このように、赤外線ガス分析装置において、ランニングコストと測定精度は、トレードオフの関係にあるといえる。 In this way, there is a trade-off between running costs and measurement accuracy when it comes to infrared gas analyzers.
そこで、本件発明者は、装置のランニングコストと測定精度を両立すべく、本発明に想到した。本実施の形態では、基準ガスとして2種類のガス(ドライエア及びドライ窒素)を用意し、測定セル10に対してドライエアとドライ窒素を選択的に流通させることの可能な第3の電磁弁42を設ける構成とした。ゼロ校正時においては、ドライエアに基づく電気信号とドライ窒素に基づく電気信号との差分を演算することで、基準ガスにドライエアを用いた場合に生じていた校正誤差をなくすことが可能となっている。また、スパン校正時には、ドライエアを用いたゼロ校正の誤差分を補正することにより、ドライ窒素を用いてスパン校正した場合と同等の校正を行うことが可能になっている。
The inventors of the present invention have therefore come up with the idea of achieving both low running costs and high measurement accuracy. In this embodiment, two types of gas (dry air and dry nitrogen) are prepared as reference gases, and a
ここで、図3から図6を参照して、本実施の形態に係る赤外線ガス分析装置の構成方法について説明する。図3は、本実施の形態に係るゼロ校正方法の一例を示すタイムチャートである。図4は、本実施の形態に係るスパン校正方法の一例を示すタイムチャートである。図3及び図4の横軸は時間を示しており、縦軸は電気信号の大きさ(レベル)を示している。図5及び図6は、本実施の形態に係る赤外線ガス分析装置の動作説明図である。以下の説明において、各電磁弁の開閉を制御する主体及び各種校正のための演算処理の主体は、制御部21とする。
Now, referring to Figures 3 to 6, a method for configuring an infrared gas analyzer according to this embodiment will be described. Figure 3 is a time chart showing an example of a zero calibration method according to this embodiment. Figure 4 is a time chart showing an example of a span calibration method according to this embodiment. The horizontal axis of Figures 3 and 4 indicates time, and the vertical axis indicates the magnitude (level) of the electrical signal. Figures 5 and 6 are diagrams explaining the operation of the infrared gas analyzer according to this embodiment. In the following description, the main entity that controls the opening and closing of each solenoid valve and the main entity that performs the calculation processing for various calibrations is the
図3に示すように、ゼロ校正の際には、先ず、第1の基準ガスとしてドライエアが用いられ、第1の基準ガスは、測定セル10内に流通される。具体的には、図5に示すように、電磁弁41の常閉流出ポートが開放され、第1の基準ガスは、基準ガス流路32及び導入ガス流路33を通じて導入口15から測定セル10内に流通する。そして、第1の基準ガスは、排出口16から排出ガス流路36を通じて外部に排出される。このときの電気信号のレベルをSrz1とする。
As shown in FIG. 3, during zero calibration, dry air is first used as the first reference gas, and the first reference gas is circulated inside the
所定時間の経過後、各電磁弁が切り替えられ、試料ガスとしてドライ窒素が用いられ、試料ガスは、測定セル10内に流通される。試料ガスの流れは、図1と同様のため、説明を省略する。なお、このときの電気信号のレベルをSsz1とする。制御部21は、第1の基準ガスによるゼロ点信号レベルとして、Ssz1-Srz1=Sz1を算出する。
After a predetermined time has elapsed, the solenoid valves are switched, dry nitrogen is used as the sample gas, and the sample gas is circulated through the
更に所定時間の経過後、各電磁弁が切り替えられ、次に第2の基準ガスとしてドライ窒素が用いられ、第2の基準ガスは、測定セル10内に流通される。具体的には、図6に示すように、電磁弁42の常閉流出ポートが開放され、第2の基準ガスは、基準ガス流路34及び導入ガス流路35を通じて導入口15から測定セル10内に流通する。そして、第2の基準ガスは、排出口16から排出ガス流路36を通じて外部に排出される。このときの電気信号のレベルをSrz2とする。
After a further predetermined time has elapsed, the solenoid valves are switched, and then dry nitrogen is used as the second reference gas, and the second reference gas is circulated within the
所定時間の経過後、各電磁弁が切り替えられ、試料ガスとしてドライ窒素が用いられ、試料ガスは、測定セル10内に流通される。試料ガスの流れは、図1と同様のため、説明を省略する。なお、このときの電気信号のレベルをSsz2とする。制御部21は、第2の基準ガスによるゼロ点信号レベルとして、Ssz2-Srz2=Sz2を算出する。このように、第1の基準ガスによるゼロ校正によるレベルと第2の基準ガスによるゼロ校正のレベルは異なるため、制御部21は、その差分として、Sz1-Sz2=Sz3を算出して記憶する。このSz3は、補正値と呼ばれてもよい。
After a predetermined time has elapsed, each solenoid valve is switched, dry nitrogen is used as the sample gas, and the sample gas is circulated through the
このように、2種類の基準ガスによって算出されたSz1とSz2の差分Sz3を算出することにより、基準ガスにドライエアを用いた場合に生じていた校正誤差をなくすことが可能になっている。なお、ゼロ校正は、上記の手順を複数回繰り返して実施し、その平均をとってもよい In this way, by calculating the difference Sz3 between Sz1 and Sz2 calculated using two types of reference gas, it is possible to eliminate the calibration error that occurs when dry air is used as the reference gas. Note that the zero calibration can be performed by repeating the above procedure multiple times and taking the average.
また、スパン校正の際には、図4に示すように、先ず、第1の基準ガスとしてドライエアが用いられ、第1の基準ガスは、測定セル10内に流通される。第1の基準ガスの流れは、図5と同様のため、説明を省略する。なお、このときの電気信号のレベルをSrs1とする。
When performing span calibration, as shown in FIG. 4, dry air is first used as the first reference gas, and the first reference gas is circulated through the
所定時間の経過後、各電磁弁が切り替えられ、試料ガスとしてドライスパンガスが用いられ、試料ガスは、測定セル10内に流通される。試料ガスの流れは、図1と同様のため、説明を省略する。なお、このときの電気信号のレベルをSss1とする。制御部21は、第1の基準ガスによるスパン点信号レベルとして、Sss1-Srs1=Ss1を算出する。更に制御部21は、先のゼロ校正で算出したゼロ校正の補正値Sz3を用いて、スパン信号レベルとして、Ss1-Sz3を算出する。この場合、Ss1及びSz3は共に、ドライエアを用いた場合の誤差分が含まれている。そのため、その差分であるSs1-Sz3は、当該誤差分が相殺され、上記したようなドライ窒素を用いた場合の校正と同等の校正を実施することが可能である。なお、スパン校正は、上記の手順を複数回繰り返して実施し、その平均をとってもよい。
After a predetermined time has passed, the solenoid valves are switched, and the dry span gas is used as the sample gas, and the sample gas is circulated through the
このように、本実施の形態によれば、ゼロ校正の際に基準ガスとして第1、第2の基準ガス(ドライエア及びドライ窒素)を交互に切り替えたことにより、両者の差分を考慮して基準ガスにドライエアを用いた場合の誤差分を補正することが可能である。また、スパン校正の際にも当該差分(補正値)を用いることでドライエアの誤差分を気にすることなく適切な校正を実施することが可能である。なお、高価なドライ窒素は、ゼロ校正の一部分でしか使用されず、スパン校正や通常の測定の際には、基準ガスとして第1の基準ガスであるドライエアを使用することが可能である。したがって、ランニングコストと測定精度を両立した赤外線ガス分析装置100を実現することが可能である。
In this way, according to this embodiment, by alternately switching between the first and second reference gases (dry air and dry nitrogen) as the reference gas during zero calibration, it is possible to correct the error when dry air is used as the reference gas by taking into account the difference between the two. In addition, by using this difference (correction value) during span calibration, it is possible to perform appropriate calibration without worrying about the error of dry air. Note that expensive dry nitrogen is only used for a part of the zero calibration, and it is possible to use dry air, which is the first reference gas, as the reference gas during span calibration and normal measurement. Therefore, it is possible to realize an
また、本実施の形態は上記の実施の形態及び変形例に限定されるものではなく、技術的思想の趣旨を逸脱しない範囲において様々に変更、置換、変形されてもよい。さらに、技術の進歩又は派生する別技術によって、技術的思想を別の仕方で実現することができれば、その方法を用いて実施されてもよい。したがって、特許請求の範囲は、技術的思想の範囲内に含まれ得る全ての実施態様をカバーしている。 Furthermore, the present embodiment is not limited to the above-mentioned embodiment and modifications, and may be modified, substituted, or altered in various ways without departing from the spirit of the technical idea. Furthermore, if the technical idea can be realized in a different way due to technological advances or derived other technologies, it may be implemented using that method. Therefore, the claims cover all embodiments that may fall within the scope of the technical idea.
下記に、上記の実施の形態における特徴点を整理する。
上記実施の形態に係る赤外線ガス分析装置は、測定対象成分が含まれた試料ガスの赤外線吸収量と基準ガスの赤外線吸収量との差に基づいて試料ガスの測定対象成分の濃度を測定する赤外線ガス分析装置であって、測定時に前記試料ガス及び前記基準ガスが交互に流通される測定セルと、前記測定セル内で赤外線照射された前記試料ガス及び前記基準ガスの赤外線吸収量をそれぞれ検出する検出器と、前記検出器の出力に基づいて前記試料ガスの濃度を演算する制御部と、を備え、前記基準ガスは、前記測定対象成分が含まれない第1の基準ガスと第2の基準ガスによって構成され、前記測定セルに対する前記試料ガスの流通を切り替える第1の電磁弁と、前記測定セルに対する前記第1の基準ガスの流通を切り替える第2の電磁弁と、前記測定セルに対する前記第2の基準ガスの流通を切り替える第3の電磁弁と、を更に備え、前記制御部は、前記第2の電磁弁及び前記第3の電磁弁を切り替えてゼロ点校正を実施する。
The features of the above embodiment are summarized below.
The infrared gas analyzer according to the above embodiment is an infrared gas analyzer that measures the concentration of a target component in a sample gas based on the difference between the infrared absorption amount of a sample gas containing the target component and the infrared absorption amount of a reference gas, and includes a measurement cell through which the sample gas and the reference gas flow alternately during measurement, a detector that detects the infrared absorption amounts of the sample gas and the reference gas irradiated with infrared light in the measurement cell, respectively, and a control unit that calculates the concentration of the sample gas based on the output of the detector, wherein the reference gas is composed of a first reference gas and a second reference gas that do not contain the target component, and further includes a first solenoid valve that switches the flow of the sample gas to the measurement cell, a second solenoid valve that switches the flow of the first reference gas to the measurement cell, and a third solenoid valve that switches the flow of the second reference gas to the measurement cell, and the control unit performs zero-point calibration by switching the second solenoid valve and the third solenoid valve.
また、上記実施の形態に係る赤外線ガス分析装置において、前記第1の基準ガスは、ドライエアであり、前記第2の基準ガスは、ドライ窒素である。 In the infrared gas analyzer according to the above embodiment, the first reference gas is dry air, and the second reference gas is dry nitrogen.
また、上記実施の形態に係る赤外線ガス分析装置において、前記制御部は、ゼロ校正時に前記第1の基準ガスに基づく電気信号と前記第2の基準ガスに基づく電気信号との差分を演算する。 In addition, in the infrared gas analyzer according to the above embodiment, the control unit calculates the difference between the electrical signal based on the first reference gas and the electrical signal based on the second reference gas during zero calibration.
また、上記実施の形態に係る赤外線ガス分析装置において、前記制御部は、前記第1の電磁弁及び前記第2の電磁弁を切り替え、前記第1の基準ガスを用いて前記試料ガスの測定を実施する。 In addition, in the infrared gas analyzer according to the above embodiment, the control unit switches the first solenoid valve and the second solenoid valve, and measures the sample gas using the first reference gas.
また、上記実施の形態に係る赤外線ガス分析装置において、前記制御部は、前記ゼロ校正時に演算した前記差分に基づいてスパン校正を実施する。 In addition, in the infrared gas analyzer according to the above embodiment, the control unit performs span calibration based on the difference calculated during the zero calibration.
また、上記実施の形態に係る赤外線ガス分析装置の校正方法は、測定対象成分が含まれた試料ガスの赤外線吸収量と基準ガスの赤外線吸収量との差に基づいて試料ガスの測定対象成分の濃度を測定する赤外線ガス分析装置の校正方法であって、測定時に前記試料ガス及び前記基準ガスが測定セルに交互に流通され、前記基準ガスは、前記測定対象成分が含まれない第1の基準ガスと第2の基準ガスによって構成され、ゼロ校正の際に、前記第1の基準ガスと前記基準ガスとを切り替えて誤差分を補正する。 The calibration method for the infrared gas analyzer according to the above embodiment is a calibration method for an infrared gas analyzer that measures the concentration of a component to be measured in a sample gas based on the difference between the amount of infrared absorption of the sample gas containing the component to be measured and the amount of infrared absorption of a reference gas, in which the sample gas and the reference gas are alternately circulated through a measurement cell during measurement, and the reference gas is composed of a first reference gas that does not contain the component to be measured and a second reference gas, and in zero calibration, the first reference gas and the reference gas are switched to correct the error.
以上説明したように、本発明は、安価なランニングコストで且つ高精度な測定することができるという効果を有し、特に、赤外線ガス分析装置及びその構成方法に有用である。 As described above, the present invention has the effect of enabling highly accurate measurements at low running costs, and is particularly useful for infrared gas analyzers and methods for constructing the same.
100 赤外線ガス分析装置
10 測定セル
11 光源
12 チョッパ
13 モータ
14 検出器
15 導入口
16 排出口
20 A/D変換部
21 制御部
22 半導体リレー
30 試料ガス流路
31 導入ガス流路
32 基準ガス流路
33 導入ガス流路
34 基準ガス流路
35 導入ガス流路
36 排出ガス流路
37 排出ガス流路
38 排出ガス流路
39 排出ガス流路
40 電磁弁(第1の電磁弁)
41 電磁弁(第2の電磁弁)
42 電磁弁(第3の電磁弁)
41 Solenoid valve (second solenoid valve)
42 Solenoid valve (third solenoid valve)
Claims (6)
測定時に前記試料ガス及び前記基準ガスが交互に流通される測定セルと、
前記測定セル内で赤外線照射された前記試料ガス及び前記基準ガスの赤外線吸収量をそれぞれ検出する検出器と、
前記検出器の出力に基づいて前記試料ガスの測定対象成分の濃度を演算する制御部と、を備え、
前記基準ガスは、前記測定対象成分が含まれない第1の基準ガスと第2の基準ガスを含み、
前記第1の基準ガスは残存水分が混在する除湿されたガスであり、
前記第2の基準ガスは水分を含まないガスであり、
前記測定時には、前記第1の基準ガスが前記基準ガスとして前記試料ガスと交互に前記測定セル内に流通され、
前記測定セルに対する前記試料ガスの流通を切り替える第1の電磁弁と、
前記測定セルに対する前記第1の基準ガスの流通を切り替える第2の電磁弁と、
前記測定セルに対する前記第2の基準ガスの流通を切り替える第3の電磁弁と、を更に備え、
前記制御部は、前記第1の電磁弁、前記第2の電磁弁及び前記第3の電磁弁を切り替え、
前記基準ガスとして前記第1の基準ガスを前記測定セルに流通させて検出した第1の赤外線吸収量と前記試料ガスとして前記測定対象成分が含まれないガスを前記測定セルに流通させて検出した第2の赤外線吸収量との差と、
前記基準ガスとして前記第2の基準ガスを前記測定セルに流通させて検出した第3の赤外線吸収量と前記試料ガスとして前記測定対象成分が含まれない前記ガスを前記測定セルに流通させて検出した第4の赤外線吸収量との差と、に基づいて、ゼロ校正を実施する、赤外線ガス分析装置。 An infrared gas analyzer for measuring a concentration of a target component in a sample gas based on a difference between an amount of infrared absorption of the sample gas containing the target component and an amount of infrared absorption of a reference gas, comprising:
a measurement cell through which the sample gas and the reference gas are alternately passed during measurement;
a detector for detecting the amount of infrared absorption of the sample gas and the reference gas irradiated with infrared rays in the measurement cell;
a control unit that calculates a concentration of a measurement target component in the sample gas based on an output of the detector,
The reference gas includes a first reference gas and a second reference gas that do not contain the component to be measured,
the first reference gas is a dehumidified gas containing residual moisture,
the second reference gas is a gas that does not contain moisture;
During the measurement, the first reference gas is alternately circulated as the reference gas and the sample gas through the measurement cell;
a first solenoid valve that switches the flow of the sample gas to the measurement cell;
a second solenoid valve for switching the flow of the first reference gas to the measurement cell;
a third solenoid valve that switches the flow of the second reference gas to the measurement cell;
The control unit switches the first solenoid valve, the second solenoid valve, and the third solenoid valve ,
a difference between a first infrared absorption amount detected by passing the first reference gas through the measurement cell as the reference gas and a second infrared absorption amount detected by passing a gas not containing the component to be measured through the measurement cell as the sample gas;
an infrared gas analyzer that performs zero calibration based on a difference between a third infrared absorption amount detected by flowing the second reference gas through the measurement cell as the reference gas and a fourth infrared absorption amount detected by flowing the gas not containing the component to be measured through the measurement cell as the sample gas .
前記制御部は、前記ゼロ校正時に、前記第1の赤外線吸収量と前記第2の赤外線吸収量との差に応じた電気信号と、前記第3の赤外線吸収量と前記第4の赤外線吸収量との差に応じた電気信号と、の差分を演算する、請求項1又は請求項2に記載の赤外線ガス分析装置。 the detector outputs an electrical signal corresponding to a change in the amount of infrared absorption of the sample gas and the reference gas;
3. The infrared gas analyzer according to claim 1, wherein the control unit calculates, during the zero calibration, a difference between an electrical signal corresponding to a difference between the first infrared absorption amount and the second infrared absorption amount and an electrical signal corresponding to a difference between the third infrared absorption amount and the fourth infrared absorption amount .
測定時に前記試料ガス及び前記基準ガスが測定セルに交互に流通され、
前記基準ガスは、前記測定対象成分が含まれない第1の基準ガスと第2の基準ガスを含み、
前記第1の基準ガスは残存水分が混在する除湿されたガスであり、
前記第2の基準ガスは水分を含まないガスであり、
前記測定時には、前記第1の基準ガスが前記基準ガスとして前記試料ガスと交互に前記測定セル内に流通され、
前記赤外線ガス分析装置の制御部が、
前記基準ガスとして前記第1の基準ガスを前記測定セルに流通させて検出した第1の赤外線吸収量と前記試料ガスとして前記測定対象成分が含まれないガスを前記測定セルに流通させて検出した第2の赤外線吸収量との差と、
前記基準ガスとして前記第2の基準ガスを前記測定セルに流通させて検出した第3の赤外線吸収量と前記試料ガスとして前記測定対象成分が含まれない前記ガスを前記測定セルに流通させて検出した第4の赤外線吸収量との差と、に基づいて、ゼロ校正を実施する
赤外線ガス分析装置の校正方法。 1. A method for calibrating an infrared gas analyzer that measures the concentration of a component to be measured in a sample gas based on a difference between an amount of infrared absorption of the sample gas containing the component to be measured and an amount of infrared absorption of a reference gas, comprising:
During measurement, the sample gas and the reference gas are alternately passed through a measurement cell,
The reference gas includes a first reference gas and a second reference gas that do not contain the component to be measured,
the first reference gas is a dehumidified gas containing residual moisture,
the second reference gas is a gas that does not contain moisture;
During the measurement, the first reference gas is alternately circulated as the reference gas and the sample gas through the measurement cell;
A control unit of the infrared gas analyzer
a difference between a first infrared absorption amount detected by passing the first reference gas through the measurement cell as the reference gas and a second infrared absorption amount detected by passing a gas not containing the component to be measured through the measurement cell as the sample gas;
Zero calibration is performed based on the difference between a third infrared absorption amount detected by passing the second reference gas through the measurement cell as the reference gas and a fourth infrared absorption amount detected by passing the gas not containing the component to be measured through the measurement cell as the sample gas.
How to calibrate an infrared gas analyzer.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2020187325A JP7571482B2 (en) | 2020-11-10 | 2020-11-10 | Infrared gas analyzer and calibration method thereof |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2020187325A JP7571482B2 (en) | 2020-11-10 | 2020-11-10 | Infrared gas analyzer and calibration method thereof |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2022076765A JP2022076765A (en) | 2022-05-20 |
JP7571482B2 true JP7571482B2 (en) | 2024-10-23 |
Family
ID=81618129
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2020187325A Active JP7571482B2 (en) | 2020-11-10 | 2020-11-10 | Infrared gas analyzer and calibration method thereof |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP7571482B2 (en) |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3113919U (en) | 2005-06-21 | 2005-09-22 | 株式会社島津製作所 | Volatile organic compound measuring device |
JP2015127678A (en) | 2013-12-27 | 2015-07-09 | 株式会社堀場製作所 | Gas analyser and gas analysis method |
JP2020008382A (en) | 2018-07-06 | 2020-01-16 | 富士電機株式会社 | Infrared gas analyzer |
-
2020
- 2020-11-10 JP JP2020187325A patent/JP7571482B2/en active Active
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3113919U (en) | 2005-06-21 | 2005-09-22 | 株式会社島津製作所 | Volatile organic compound measuring device |
JP2015127678A (en) | 2013-12-27 | 2015-07-09 | 株式会社堀場製作所 | Gas analyser and gas analysis method |
JP2020008382A (en) | 2018-07-06 | 2020-01-16 | 富士電機株式会社 | Infrared gas analyzer |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2022076765A (en) | 2022-05-20 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN103487593B (en) | Gas analysis device and method | |
JP2017219499A (en) | Infrared gas analyzer | |
JP5729285B2 (en) | Combustion exhaust gas analyzer | |
WO2011077938A1 (en) | Gas analysis device | |
JP2011132936A (en) | Exhaust gas recirculation (egr) ratio measuring device | |
CN108593586A (en) | A Fourier Transform Infrared Spectrum Detection Device for High Humidity Pollution Gas | |
JP4025702B2 (en) | Method and apparatus for analyzing sulfur component by ultraviolet fluorescence method | |
JP7571482B2 (en) | Infrared gas analyzer and calibration method thereof | |
US4180733A (en) | Infrared ray gas analyzing apparatus | |
JP3024904B2 (en) | Optical gas analyzer | |
JP7200519B2 (en) | Infrared gas analyzer | |
JP4413160B2 (en) | Exhaust gas component analyzer | |
JP2012047659A (en) | Hydrogen concentration measurement apparatus with humidity correction function | |
JP4042638B2 (en) | Infrared gas analyzer | |
JP4550645B2 (en) | Vehicle-mounted exhaust gas analyzer | |
JP2008261865A (en) | Instrument for measuring volatile organic compound | |
JP6168172B2 (en) | Infrared gas analyzer | |
JP2010271048A (en) | Gas analyzer | |
JP2004138467A (en) | Ultraviolet absorption type measuring instrument and method for treating measurement specimen | |
JPH04303743A (en) | Carbon-dioxide-gas measuring apparatus | |
WO2023282282A1 (en) | Gas measurement device | |
EP4524549A1 (en) | Infrared gas analyzer, and infrared gas analysis method | |
JP4688672B2 (en) | Gas analyzer | |
KR102763953B1 (en) | Gas emission monitoring system for ships | |
JP2006112900A (en) | Infrared gas analyzing method and infrared gas analyzer |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20231016 |
|
RD03 | Notification of appointment of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7423 Effective date: 20231017 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20240529 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20240604 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20240802 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20240910 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20240923 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 7571482 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |