JP7565443B2 - 伝導性信号試験における高周波（ｒｆ）信号プローブ不整合に起因したパワー損失について補償するシステム及び方法 - Google Patents

Description

本発明は、ＲＦデータ信号トランシーバの伝導性信号試験における高周波（ＲＦ）信号プローブ不整合のパワー損失について補償することに関し、更に詳しくは、伝導性信号試験の際にこのようなパワー損失について補償することに関する。

現在の電子装置の多くは、接続と通信の両方の目的のために無線信号技術を使用する。無線装置は電磁エネルギーを送信及び受信することから、及び２つ以上の無線装置はその信号周波数とパワースペクトル密度とに起因して互いの動作に干渉する潜在性を有していることから、これらの装置及びその無線信号技術は様々な無線信号技術規格仕様を充足していなければならない。

このような無線装置を設計する際に、エンジニアは、このような装置がその含まれている無線信号技術に基づいて規定された規格に基づいた仕様のそれぞれを確実に充足するか又は超えるように、細心の注意を払っている。更には、後にこれらの装置が大量生産される際、これらは製造上の欠陥が不適切な動作を引き起こすことのないように試験されるが、その試験には、含まれる無線信号技術規格に基づいた仕様をそれらが充足することが含まれている。

このような無線装置の試験には、通常、被検装置（ＤＵＴ）の受信サブシステム及び送信サブシステムの試験が伴う。試験システムは、ＤＵＴ受信サブシステムが適切に動作しているかどうかを判定するために、例えば、異なる周波数、パワーレベル、及び／又は信号変調技法を使用することにより、規定された試験データパケットのシーケンスをＤＵＴに送信する。同様にＤＵＴは、ＤＵＴ送信サブシステムが適切に動作しているかどうかを判定するために、試験システムによる受信及び処理のために試験データパケット信号を様々な周波数、パワーレベル、及び／又は変調技法において送信する。

これらの装置をその製造及び組立の後に試験するために、現時点の無線装置試験システムは、通常、試験信号をそれぞれの被検装置（ＤＵＴ）に提供しそれぞれのＤＵＴから受け取られた信号を分析する様々なサブシステムを有する試験システムを利用する。いくつかのシステム（しばしば、「テスタ」と呼称される）は、少なくとも、ＤＵＴに送信されるソース信号を提供するための（例えば、ベクトル信号生成器又は「ＶＳＧ」の形態における）試験信号の１つ又は複数のソースと、ＤＵＴによって生成された信号を分析するための（例えば、ベクトル信号アナライザ又は「ＶＳＡ」の形態における）１つ又は複数のレシーバを含む。ＶＳＧによる試験信号の生成及びＶＳＡによって実行される信号分析は、異なる周波数範囲、帯域幅、及び信号変調特性を伴う様々な無線信号技術規格の充足について様々な装置を試験するためにそれぞれが使用されることを許容するように、一般に（例えば、内部のプログラミング可能なコントローラ又はパーソナルコンピュータなどの外部のプログラミング可能なコントローラの使用を通じて）プログラミング可能である。

試験環境は、（１）伝導性若しくは有線、及び／又は（２）放射性若しくは無線という、ＲＦ信号伝達の２つの一般的な形態の１つ又は両方を含むことができる。前者（通常は、外部電磁干渉を防止する遮蔽として機能する接地された導体によって取り囲まれた信号導体を有する同軸ケーブルとして実装されている）のケースにおいて、１つの重要な特性は、伝導性信号経路を通じた信号経路損失の特性である。別の特性は、伝導性信号経路とＤＵＴの伝導性信号コネクタのインピーダンスとの間でＤＵＴに接続しているＲＦ信号プローブによって生成される不整合に起因した信号反射及びパワー損失の特性である。信号経路損失及び／又はプローブ不整合を判定するために使用されている実際の技法は簡単なものではあるが、これらは、例えば、それぞれの試験シーケンスの前に及び／又はその最中に、試験動作の一部分としてＲＦ信号接続の中断及び再構成を必要とする。これは、より長い試験時間及びこのような時間遅延に起因した試験費用の増大のみならず、結果的に、信号接続の潜在的な修理又はやり直しをすることになる。

被検ＲＦデータ信号トランシーバ装置（ＤＵＴ）の伝導性ＲＦ信号試験における高周波（ＲＦ）信号プローブ不整合に起因したパワー損失について補償するためのシステム及び方法。複数の試験周波数における、ＲＦベクトル信号トランシーバによるＲＦ試験信号の供給は、ＲＦ信号経路の既定の損失に基づいたＲＦ信号プローブとＲＦ ＤＵＴ接続との間の不整合に起因したパワー損失の分離及びこれについての補償を可能にする。

例示のための実施形態によれば、被検装置（ＤＵＴ）の伝導性ＲＦ信号試験において使用される高周波（ＲＦ）信号プローブのパワー損失を補償するためのシステムは、１つ又は複数の送出ＲＦ信号を生成し１つ又は複数の到来ＲＦ信号を時間ドメイン処理することによって１つ又は複数のトランシーバ制御信号に応答するＲＦベクトル信号トランシーバと、それぞれ、ＤＵＴへ及びＤＵＴから１つ又は複数の送出ＲＦ信号及び１つ又は複数の到来ＲＦ信号を伝達するためのＲＦ信号プローブと、１つ又は複数の送出ＲＦ信号及び１つ又は複数の到来ＲＦ信号を伝達するために、それぞれ、第１信号経路端部及び第２信号経路端部を介してＲＦベクトル信号トランシーバ及びＲＦ信号プローブに及びＲＦベクトル信号トランシーバとＲＦ信号プローブとの間に接続された伝導性ＲＦ信号経路と、ＲＦベクトル信号トランシーバと通信するように結合された１つ又は複数のプロセッサと、１つ又は複数のプロセッサに結合され、複数のコンピュータ可読命令を収容する非一時的コンピュータ可読媒体を有する１つ又は複数のメモリ装置と、を含む。コンピュータ可読命令は、１つ又は複数のプロセッサによって実行されると、１つ又は複数のプロセッサに、１つ又は複数の送出ＲＦ信号が単一周波数トーンを有する反復的な複数の相互に別個のＲＦ信号周波数を有するように、１つ又は複数の到来ＲＦ信号がＲＦ信号プローブからの複数の反射ＲＦ信号を有し、複数の反射ＲＦ信号は１つ又は複数の送出ＲＦ信号の少なくとも一部分に関係付けられ、及び、１つ又は複数の到来ＲＦ信号を時間ドメイン処理することが、複数の反射ＲＦ信号の複数の計測信号の大きさを演算することと、複数の相互に別個のＲＦ信号周波数に対応する伝導性ＲＦ信号経路の複数の既定の経路損失の対応するものによって低減された複数の反射ＲＦ信号の複数の正味の信号の大きさを演算することと、を含むように、１つ又は複数のトランシーバ制御信号を提供するようにさせる。

更なる例示のための実施形態によれば、被検装置（ＤＵＴ）の伝導性ＲＦ信号試験において使用される高周波（ＲＦ）信号プローブのパワー損失を補償するための方法は、１つ又は複数の送出ＲＦ信号を生成し１つ又は複数の到来ＲＦ信号を時間ドメイン処理することにより、ＲＦベクトル信号トランシーバによって１つ又は複数のトランシーバ制御信号に応答することと、それぞれ、ＤＵＴへ及びＤＵＴからＲＦ信号プローブを介して１つ又は複数の送出ＲＦ信号及び１つ又は複数の到来ＲＦ信号を伝達することと、それぞれ、第１信号経路端部及び第２信号経路端部を介して、ＲＦベクトル信号トランシーバとＲＦ信号プローブとに及びＲＦベクトル信号トランシーバとＲＦ信号プローブとの間に接続された伝導性ＲＦ信号経路を介して、１つ又は複数の送出ＲＦ信号及び１つ又は複数の到来ＲＦ信号を伝達することと、複数のコンピュータ可読命令にアクセスしこれらを実行することにより、ＲＦベクトル信号トランシーバと通信することと、を含む。コンピュータ可読命令の実行は、１つ又は複数の送出ＲＦ信号が単一周波数トーンを有する反復的な複数の相互に別個のＲＦ信号周波数を有するように、１つ又は複数の到来ＲＦ信号がＲＦ信号プローブからの複数の反射ＲＦ信号を有し、複数の反射ＲＦ信号は１つ又は複数の送出ＲＦ信号の少なくとも一部分に関係付けられ、及び、１つ又は複数の到来ＲＦ信号を時間ドメイン処理することが、複数の反射ＲＦ信号の複数の計測信号の大きさを演算することと、複数の相互に別個のＲＦ信号周波数に対応する伝導性ＲＦ信号経路の複数の既定の経路損失の対応するものによって低減された複数の反射ＲＦ信号の複数の正味の信号の大きさを演算することと、を含むように、１つ又は複数のトランシーバ制御信号が提供されるようにする。

伝導性ＲＦ信号試験用の一般的な試験環境を描く。 例示のための実施形態による伝導性ＲＦ信号用の試験環境を描く。 例示のための実施形態による信号データフィルタの設計及び使用を描く。 従来のＯＳＬ技法及び例示のための実施形態による技法を使用した経験的試験データの比較を描く。 例示のための実施形態による伝導性ＲＦ信号試験用の試験環境を描く。 従来のＲＦパワーメータ及び例示のための実施形態によるＲＦプローブとしてＳＭＡ同軸コネクタを使用した経験的試験データの比較を描く。 対応する入射及び反射ＲＦ信号の間の時間関係を描く。

以下は、本出願において特許請求されている発明の例示のための実施形態に関する添付図面を参照した詳細な説明である。このような説明は、本発明の範囲との関係における限定ではなく、例示となることを意図したものである。このような実施形態は、当業者が本発明を実施することを可能にするように十分詳細に記述されており、及び、その他の実施形態が本発明の精神又は範囲を逸脱することなしにいくつかの変形を伴って実施され得ることを理解されたい。

本開示の全体を通じて、文脈に反する旨の明瞭な通知が存在しない場合、記述されている個々の回路要素は、その数が単数又は複数であり得るものと理解されたい。例えば、「回路」及び「回路構成」という用語は、単一コンポーネント又は複数のコンポーネントを含んでいてもよく、これらは、能動的及び／又は受動的であってもよく、記述されている機能を提供するために一緒に（例えば、１つ又は複数の集積回路チップとして）接続されているか又は結合されている。これに加えて、「信号」という用語は、１つ又は複数の電流、１つ又は複数の電圧、又はデータ信号を意味し得る。図面においては、同一の又は関係する要素は、同一又は関係する英字、数字、又は英数指定子を有する。更には、本発明は、（好ましくは、１つ又は複数の集積回路チップの形態を有する）別個の電子回路構成を使用した実装形態に関連して記述されるが、このような回路構成の任意の部分の機能は、この代わりに、処理対象の信号周波数又はデータレートに応じて１つ又は複数の適切にプログラミングされたプロセッサを使用して実装することもできる。更には、図が様々な実施形態の機能ブロックのダイアグラムを示している場合、その機能ブロックは必ずしも、ハードウェア回路構成間の分割を示すものではない。

図１を参照すると、伝導性ＲＦ信号試験用の一般的な試験環境１０ａは、テスタ１２（例えば、ＶＳＧ及びＶＳＡの組合せ又はベクトルトランシーバ）と、ＤＵＴ１６に接続するための伝導性ＲＦ試験信号経路１４と、を含む。信号経路１４は、ＲＦコネクタ１５ｂを介してテスタ１２に対して及び別のＲＦコネクタ１５ｃを介してＤＵＴ１６に対して接続された１つ又は複数のＲＦケーブル及び１つ又は複数のフィクスチャ１５ａを含むことができる。ＤＵＴ１６を正確に試験するために、信号経路１４のＲＦ信号損失は、ＤＵＴ１６によって及びこれから受け取られた信号の正確な計測を可能にするように判定されなければならない。現時点においては、これを実行するための３つの技法が一般的である。

１つの方法は、パワーメータが受け取るものとソースからの既知の信号パワーとの間の絶対的なパワー差を計測するための、ＤＵＴ１６の代わりの、パワーメータ（図示されてはいない）に対してＲＦ信号経路１４を介して接続されたＲＦ信号ソース（例えば、テスタ１２）の使用を含む。但し、これは、ソースとパワーメータとの間の計測される差の高い正確性のみならず、信号経路１４を介して信号ソースとパワーメータとを接続するためのＤＵＴ試験構成の再構成を必要とする。

第２の方法は、更に直接に挿入損失（Ｓパラメータ用語においてＳ２１としばしば呼称されているもの）を計測するための、それぞれの接続１５ｂ、１５ｃにおけるＲＦ信号経路１４に対する２つのポートを有するテスタ１２の代わりの２ポートベクトルネットワークアナライザ（ＶＮＡ、図示されてはいない）の使用を含む。従って、これは、例えば、ＶＮＡなどの相対的に高価な試験機器のみならず、ＶＮＡに接続するためのＤＵＴ試験構成の再構成をも必要とする。

第３の方法は、ＲＦ信号経路１４に対する１つの接続１５ｂにおけるテスタ１２の使用と、開路接続（ＯＰＥＮ）、短絡回路接続（ＳＨＯＲＴ）、及び負荷接続（ＬＯＡＤ）のそれぞれごとのリターン損失の計測を可能にするための、その他の接続１５ｃにおいて毎回試験されるＲＦシステムの適切な特性インピーダンス（例えば、５０Ωの抵抗性）を有する端子接続（ＯＰＥＮ、ＳＨＯＲＴ、及びＬＯＡＤ）の使用と、を含む。この結果、経路損失を算出するために、すべての３つの計測された結果を使用することができる。これは、リターン損失（ＳパラメータＳ１１）を計測するためにエミュレートされたベクトルネットワークアナライザ（ＶＮＡ）として通常のＤＵＴ試験構成を事実上使用するという効果を有する。また、現在のＶＳＡ／ＶＳＧシステムは、同時ＶＳＧ／ＶＳＡ動作をサポートし送信された及び受信された信号の適切な処理を実行している場合にこのような計測を実行することができる。この方法はＤＵＴ試験構成を維持することを可能にし得るが、依然として、ＯＰＥＮ、ＳＨＯＲＴ、及びＬＯＡＤ計測用の特別なコネクタの設計のみならず、これら３つの特別なコネクタ間で切り替えるための３つの動作を必要とする（これは、しばしば、ＯＳＬ方法と呼称される）。

これらの方法の欠点は、本出願において開示されている例示のための実施形態のシステム及び方法を使用することにより、回避することができる。更に詳細に後述するように、ベクトルトランシーバ（例えば、テスタ１２）は、ＲＦ信号経路１４の入力１５ｂに接続され、ＯＰＥＮは出力１５ｃに接続されている。利点として、ＤＵＴ試験構成を維持することと、更なる又は異なる試験機器に対するニーズを回避し、これにより動作時間及び費用を節約することと、が挙げられる。更には、特別なＯＰＥＮコネクタは有用であり得るが、必須でなくてもよく、その理由は、その代わりに単にＲＦ信号経路１４の出力接続１５ｃを未終端状態にすることにより、ＯＰＥＮとして機能し得るからである。ほとんどの自動化された試験構成において、ＲＦ信号プローブは、例えば、ＤＵＴなどの負荷に接続されていないなどのように未終端状態にある場合、ＯＰＥＮ接続として機能し得るケーブルの端部において使用することができる。

図２を参照すると、例示のための実施形態による伝導性ＲＦ信号試験用の試験環境１０ｂは、テスタ１２（例えば、ベクトル信号トランシーバ）と、入力ＲＦコネクタ１５ｂ及び出力ＲＦコネクタ１５ｃを介してテスタ１２に接続された１つ又は複数のＲＦケーブルと１つ又は複数のフィクスチャ１５ａとを含む伝導性ＲＦ試験信号経路１４と、を含む。但し、経路損失について試験する場合は、出力ＲＦコネクタ１５ｃはＯＰＥＮ接続１５ｃを提供するように未終端状態のままにされ得る。

任意選択の初期手順として、使用される１つ又は複数の試験ハードウェア構成についての情報を確立又はその他の方法で判定することができる。例えば、このような情報は、相互接続されたケーブルの数、それぞれのケーブルの長さ、配置されているコネクタの数、などのようなＲＦ信号経路１４に関する詳細を含み得る。記述されているように、出力コネクタ１５ｃをＤＵＴ１６に接続する代わりに、高周波ＯＰＥＮコネクタが接続されるか、或いは、出力コネクタ１５ｃが未接続状態のままにされる（即ち、未終端状態とされる）。

（例えば、対応する周波数マージンを有する）計測対象のＲＦ試験信号周波数の範囲は、意図又は予期されるＤＵＴ動作に基づいて選択又は定義することができる。ベクトル信号トランシーバテスタは、そのトランスミッタによってＲＦ試験信号周波数のそれぞれごとにベースバンド周波数において単一ＤＣトーンを提供（例えば、生成及び放出）するように及びそのレシーバがＲＦ試験信号周波数のそれぞれごとに対応するリターン信号をキャプチャすることを可能にするように、プログラミング又はその他の方法で制御することができる。キャプチャされたＩ／Ｑ信号サンプルは、単一複素数を演算するために時間キャプチャにわたって平均化することができる。周波数の定義された範囲の一部分又はすべてにわたって入射信号を送信する及び反射された信号をキャプチャするこれらのステップを反復することにより、そのそれぞれが定義された周波数の個々のものに対応する複素数のアレイの演算が可能になる。計測対象のそれぞれの周波数ごとに経路損失を算出するために、このような複素数のアレイを既知の原理に従って処理することができる。

図３を参照すると、この処理２０は、その特性２５がリターン信号データ２１をフィルタリング２６するために使用され得るフィルタ２４を設計する際に使用される時間又は距離情報２３（更に詳細に後述する）を抽出するためにリターン信号データ２１が処理２２され得るステップを含むことができる。試験されている周波数における絶対的経路損失２９を演算２８するために、フィルタリングされたリターン信号データ２７を平均化することができる。このような処理２０は、例えば、（例えば、入射及び／又は反射信号パルスが移動する）距離又は（例えば、入射及び／又は反射信号の）周波数に対応した方法に沿って処理される計測信号データを処理、フィルタリング、及び平均化することにより、同一の目的を事実上果たすように距離ドメイン又は周波数ドメインの観点から構造化又は適用することができる。

図４を参照すると、従来のＯＳＬ方法及び上述の例示のための実施形態による方法を使用して１ＧＨｚ未満から５ＧＨｚ超までの周波数範囲にわたって計測された経路損失の経験的試験結果の線形グラフは、本明細書において記述されている相対的に有利な技法が従来のＯＳＬ技法のものに緊密に追随する試験結果を生成する方式を示している。

上述のように、従来の経路損失計測及び補償技法は、ＤＵＴに接続するＲＦプローブにおける１つ又は複数の更なる信号損失をわずかに補償することの説明がつかず、これにより、事実上、ＲＦプローブとＤＵＴ上のＲＦコネクタとの間に完全な整合が存在すると仮定される。但し、ＤＵＴにＲＦプローブを正常に接続することは主に機械的動作に依存しており、適切な物理的力の適用によって制御される。従って、複数の接続が実施され除去された後すぐに、関連する表面摩耗の変化及び力の印加により、ＤＵＴコネクタとＲＦプローブとの間の整合の劣化が引き起こされる。これは、上述のように経路損失計測のみによっては検出又は補償されない、信号経路における更なるパワー損失を結果的にもたらす。このようなＲＦプローブコネクタ不整合によってもたらされるこのような更なるパワー損失は、結果的にＤＵＴの再試験のレートを高める可能性があり、これはＤＵＴ接続の更なるインスタンスを必要とし、製造歩留まりの低下につながり得る。

図５を参照すると、例示のための実施形態に従って伝導性ＲＦ信号試験を実行する際に不整合状態のＲＦプローブを検出し、これについての補償を可能にするための試験環境４０は、テスタ４２（例えば、ＶＳＧ／ＶＳＡの組合せ又はベクトル信号トランシーバ）と、ＤＵＴ１６に対する接続を可能にするための伝導性ＲＦ試験信号経路４４と、を含む。信号経路４４は、ＲＦコネクタ４５ｂを介してテスタ４２に及びＲＦプローブ組立体４５ｃを介してＤＵＴ１６に接続された１つ又は複数のＲＦケーブルと１つ又は複数のフィクスチャ４５ａとを含むことができる。ＤＵＴ１６に対する接続は、入力ＲＦプローブコネクタ４５ｃｂ、ＲＦプローブ４５ｃａ、及び出力ＲＦプローブコネクタ４５ｃｃを介して完了され、これらはＤＵＴ１６のＲＦコネクタ１７に接続される。

更に詳細に後述するように、例示のための実施形態によれば、リターン信号を計測してＲＦプローブ不整合によって生成される反射信号を推定し、次いでこのような反射を更なる信号経路パワー損失として解釈することにより、伝導性ＲＦ信号試験におけるＲＦプローブ不整合のパワー損失についての補償を提供することができる。利点には、ＤＵＴ試験構成が維持されることが挙げられ、その理由は、ＤＵＴがその望ましい試験構成にある状態のまま、任意の更なるパワー損失が計測され得るからである。テスタによって完全な制御が保持され得るが、その理由は、ＤＵＴ制御アクションが不要であるからである。このような更なるパワー損失についての補償は、試験構成内へのそれぞれのＤＵＴの挿入の後に提供され、これにより、ＤＵＴ高周波試験の精度を向上させることができる。

このプロセスは、まず、ＤＵＴをＲＦプローブに接続することによって実行することができる。これは、計測の実行を要する特定の周波数を定義することによって先行されてもよく、これによって後続されてもよく、又はこれと同時に実行されてもよい。ベクトルトランシーバテスタは、ベースバンド信号周波数において単一ＤＣトーンを送信し得る一方で、このような入射信号送信の任意の結果的に得られる反射をテスタのレシーバによってキャプチャすることができる。単一複素数を提供するために、キャプチャされたＩ／Ｑサンプルの時間に伴う平均を演算することができる。このような入射信号の送信、反射信号のキャプチャ、及び平均の演算は、周波数の定義された範囲にわたって反復することができる。最終的に、ＲＦプローブ不整合によってもたらされる反射信号を判定するために、演算された複素数を処理することができる。

このＲＦプローブ不整合によってもたらされる反射信号を判定するための演算された複素数の処理は、上述の従来のＯＳＬ方法に伴って予め判定されたＲＦ信号経路損失データとの関連において実行することができる。これは、オリジナルの試験構成のＲＦ信号経路の影響の除去を許容するとともに、ＲＦプローブ不整合によってもたらされ補償される反射信号に帰される、任意の１つ又は複数の残留損失が伴う。或いは、この代わりに、このような処理は、ＯＰＥＮ（例えば、未終端状態にある）ＲＦ信号経路端子接続が整合問題によってもたらされるＲＦプローブからの反射信号を抽出するためにベクトルトランシーバテスタと共に使用されている上述の技法を使用することによって判定されたＲＦ信号経路損失データとの関連において実行することもできる。反射信号が既定の閾値を超過したか又はその他の方法で横断した場合には、このような問題が修正されるか又はその他の方法で解決されることを可能にするように、試験を中止することができる。さもなければ、ＤＵＴ高周波試験が継続している最中に、追加されたパワー損失についての補償をテスタによって適用することもできる。

図６を参照すると、従来のパワーメータ方法及び上述の例示のための実施形態による方法を使用する１ＧＨｚ未満からほぼ６ＧＨｚまでの周波数範囲にわたるＲＦプローブ反射に起因した計測経路損失の経験的試験結果の線形グラフは、本明細書において記述されている有利な技法が従来のパワーメータ技法のものに緊密に追随する試験結果を生成する方式を示している。

図７を参照すると、上述のように、これらの動作は、時間又は距離ドメインの観点から実行することができる。ここで描かれているように、当業者には容易に理解されるように、時間及び距離ドメインにおける処理の相関関係については、反射された信号パルスが入射試験パルスの送信に後続して移動しなければならない距離に関係していることが既知である時間遅延ΔＴの後に反射信号パルスがテスタのレシーバによってキャプチャされることになるという事実の観点から、相対的に容易に理解することができる。

本発明の動作の構造及び方法の様々なその他の変更及び代替物については、本発明の範囲及び精神を逸脱することなしに当業者に明らかとなろう。本発明は、特定の好適な実施形態との関連において記述されているが、特許請求されている本発明はこのような特定の実施形態に不当に限定されてはならないことを理解されたい。添付の請求項が本発明の範囲を定義しており、これにより、これらの請求項及びその均等物の範囲内の構造及び方法がカバーされているものと解釈されたい。

Claims (2)

1. 被検装置（ＤＵＴ）の伝導性ＲＦ信号試験において使用される高周波（ＲＦ）信号プローブのパワー損失を補償するシステムを含む装置であって、
   １以上の送出ＲＦ信号を生成することと１以上の到来ＲＦ信号を時間ドメイン処理することとによって１以上のトランシーバ制御信号に応答するＲＦベクトル信号トランシーバと、
   前記１以上の送出ＲＦ信号をＤＵＴへ及び前記１以上の到来ＲＦ信号をＤＵＴから伝達するＲＦ信号プローブと、
   前記１以上の送出ＲＦ信号及び前記１以上の到来ＲＦ信号を伝達するために、第１信号経路端部を介して前記ＲＦベクトル信号トランシーバに接続され及び第２信号経路端部を介して前記ＲＦ信号プローブに接続され、並びに第１信号経路端部及び第２信号経路端部それぞれを介して前記ＲＦベクトル信号トランシーバと前記ＲＦ信号プローブとの間に接続される伝導性ＲＦ信号経路と、
   前記ＲＦベクトル信号トランシーバと通信するように結合される１以上のプロセッサと、
   前記１以上のプロセッサに結合され、複数のコンピュータ可読命令を収容する非一時的コンピュータ可読媒体を有する１以上のメモリ装置と
   を含み、
   前記複数のコンピュータ可読命令は、前記１以上のプロセッサによって実行されると、前記１以上のプロセッサに前記１以上のトランシーバ制御信号を提供させ、
   前記１以上の送出ＲＦ信号は単一周波数トーンを有する反復的な複数の相互に別個のＲＦ信号周波数を有し、
   前記１以上の到来ＲＦ信号は、前記ＲＦ信号プローブからの複数の反射ＲＦ信号を有し、
   前記複数の反射ＲＦ信号は、前記１以上の送出ＲＦ信号の少なくとも一部分に関係付けられ、
   前記１以上の到来ＲＦ信号を時間ドメイン処理することは、
   前記複数の反射ＲＦ信号の複数の計測信号の大きさを演算することと、
   前記複数の相互に別個のＲＦ信号周波数に対応する前記伝導性ＲＦ信号経路の複数の既定の経路損失のうち対応する経路損失によって低減された前記複数の反射ＲＦ信号の複数の正味の信号の大きさを演算することと
   を有する、装置。
2. 被検装置（ＤＵＴ）の伝導性ＲＦ信号試験において使用される高周波（ＲＦ）信号プローブのパワー損失を補償する方法であって、
   １以上の送出ＲＦ信号を生成することと１以上の到来ＲＦ信号を時間ドメイン処理することとによってＲＦベクトル信号トランシーバが１以上のトランシーバ制御信号に応答することと、
   ＲＦ信号プローブを介して前記１以上の送出ＲＦ信号をＤＵＴへ及び前記１以上の到来ＲＦ信号をＤＵＴから伝達することと、
   第１信号経路端部を介して前記ＲＦベクトル信号トランシーバに接続され及び第２信号経路端部を介して前記ＲＦ信号プローブに接続され、並びに第１信号経路端部及び第２信号経路端部それぞれを介して前記ＲＦベクトル信号トランシーバと前記ＲＦ信号プローブとの間に接続される伝導性ＲＦ信号経路を介して、前記１以上の送出ＲＦ信号及び前記１以上の到来ＲＦ信号を伝達することと、
   前記１以上のトランシーバ制御信号を提供するために、複数のコンピュータ可読命令にアクセスして前記複数のコンピュータ可読命令を実行することによって前記ＲＦベクトル信号トランシーバと通信することと
   を含み、
   前記１以上の送出ＲＦ信号は単一周波数トーンを有する反復的な複数の相互に別個のＲＦ信号周波数を有し、
   前記１以上の到来ＲＦ信号は、前記ＲＦ信号プローブからの複数の反射ＲＦ信号を有し、
   前記複数の反射ＲＦ信号は、前記１以上の送出ＲＦ信号の少なくとも一部分に関係付けられ、
   前記１以上の到来ＲＦ信号を時間ドメイン処理することは、
   前記複数の反射ＲＦ信号の複数の計測信号の大きさを演算することと、
   前記複数の相互に別個のＲＦ信号周波数に対応する前記伝導性ＲＦ信号経路の複数の既定の経路損失のうち対応する経路損失によって低減された前記複数の反射ＲＦ信号の複数の正味の信号の大きさを演算することと
   を有する、方法。

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