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JP7547867B2 - Resin composition, resin film with carrier using same, resin substrate, prepreg, metal-clad laminate, printed wiring board, and semiconductor device - Google Patents

Resin composition, resin film with carrier using same, resin substrate, prepreg, metal-clad laminate, printed wiring board, and semiconductor device Download PDF

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JP7547867B2
JP7547867B2 JP2020144690A JP2020144690A JP7547867B2 JP 7547867 B2 JP7547867 B2 JP 7547867B2 JP 2020144690 A JP2020144690 A JP 2020144690A JP 2020144690 A JP2020144690 A JP 2020144690A JP 7547867 B2 JP7547867 B2 JP 7547867B2
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佳樹 西川
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Description

本発明は、樹脂組成物、それを用いたキャリア付樹脂膜、樹脂基板、プリプレグ、金属張積層板、プリント配線基板、及び半導体装置に関する。 The present invention relates to a resin composition, a resin film with a carrier, a resin substrate, a prepreg, a metal-clad laminate, a printed wiring board, and a semiconductor device that use the resin composition.

これまでプリント配線基板に用いる樹脂組成物について様々な開発がなされてきた。この種の技術として、例えば、特許文献1に記載の技術が知られている。特許文献1には、変性ポリフェニレンエーテル共重合体、架橋型硬化剤、及び無機充填材を含む、ポリフェニレンエーテル樹脂組成物が記載されている(特許文献1の表1)。 Various developments have been made so far regarding resin compositions for use in printed wiring boards. For example, the technology described in Patent Document 1 is known as an example of this type of technology. Patent Document 1 describes a polyphenylene ether resin composition that contains a modified polyphenylene ether copolymer, a crosslinking curing agent, and an inorganic filler (Table 1 of Patent Document 1).

特開2016-113543号公報JP 2016-113543 A

しかしながら、本発明者が検討した結果、上記特許文献1に記載の樹脂組成物において、高難燃性及び低線膨張性の点で改善の余地があることが判明した。 However, as a result of the inventor's investigations, it was found that there is room for improvement in terms of high flame retardancy and low linear expansion in the resin composition described in Patent Document 1.

上記特許文献1における樹脂組成物において、難燃性を向上させる観点から、一般的なリン系難燃剤が使用されている。しかしながら、リン系難燃剤を使用すると、樹脂組成物を用いた部材からリン酸が溶出する恐れがあるため、配線腐食等が発生し、プリント配線基板の絶縁信頼性が低下することが懸念される。 In the resin composition of Patent Document 1, a general phosphorus-based flame retardant is used to improve flame retardancy. However, when a phosphorus-based flame retardant is used, there is a risk that phosphoric acid may be eluted from the component using the resin composition, which may cause wiring corrosion and reduce the insulation reliability of the printed wiring board.

本発明者は、上記事情を鑑み、リン系難燃剤に代替する難燃剤について検討したところ、適切な窒素系難燃剤を使用することによって、リン酸溶出を抑制しつつも、所定の難燃性が得られることを見出した。
このような知見に基づきさらに鋭意研究したところ、窒素系難燃剤として、メチロールメラミン系化合物を用いることにより、回路基板用樹脂組成物の硬化物における、難燃性を向上しつつも、その線膨張係数を低減できることを見出し、本発明を完成するに至った。
In view of the above circumstances, the present inventors have investigated flame retardants that can replace phosphorus-based flame retardants and have found that by using an appropriate nitrogen-based flame retardant, it is possible to obtain a desired flame retardancy while suppressing phosphoric acid elution.
As a result of further intensive research based on this knowledge, the inventors discovered that by using a methylolmelamine-based compound as a nitrogen-based flame retardant, it is possible to improve the flame retardancy of the cured product of a resin composition for circuit boards while reducing its linear expansion coefficient, thereby completing the present invention.

本発明によれば、
回路基板用の樹脂組成物であって、
ポリフェニレンエーテルと、
前記ポリフェニレンエーテルと反応する架橋剤と、
充填材と、
窒素系難燃剤と、を含み、
前記窒素系難燃剤が、メチロールメラミン化合物、その誘導体、及びこれらの縮合物からなる群から選ばれる一または二以上を含む、
樹脂組成物が提供される。
According to the present invention,
A resin composition for a circuit board, comprising:
Polyphenylene ether,
a crosslinking agent reactive with the polyphenylene ether;
A filler material;
A nitrogen-based flame retardant,
The nitrogen-based flame retardant contains one or more selected from the group consisting of methylolmelamine compounds, derivatives thereof, and condensates thereof.
A resin composition is provided.

また本発明によれば、
キャリア基材と、
前記キャリア基材上に設けられている、上記の樹脂組成物からなる樹脂膜と、を備える、キャリア付樹脂膜が提供される。
Further, according to the present invention,
A carrier substrate;
There is provided a resin film with a carrier, comprising: a resin film formed on the carrier base material and made of the above-mentioned resin composition.

また本発明によれば、
上記の樹脂組成物の硬化物で構成された絶縁層を備える、樹脂基板が提供される。
Further, according to the present invention,
There is provided a resin substrate having an insulating layer made of a cured product of the above-mentioned resin composition.

また本発明によれば、
上記の樹脂組成物中に繊維基材を含むプリプレグが提供される。
Further, according to the present invention,
A prepreg is provided which comprises a fibrous substrate in the above resin composition.

また本発明によれば、
上記の樹脂組成物からなる樹脂膜、上記の樹脂基板、又は上記のプリプレグの少なくとも一方の面上に金属層が配置された、金属張積層板が提供される。
Further, according to the present invention,
There is provided a metal-clad laminate comprising a resin film made of the above resin composition, the above resin substrate, or the above prepreg, and a metal layer disposed on at least one surface of the resin film.

また本発明によれば、
上記の金属張積層板の表面に回路層が形成された、プリント配線基板が提供される。
Further, according to the present invention,
A printed wiring board is provided in which a circuit layer is formed on the surface of the metal-clad laminate.

また本発明によれば、
上記のプリント配線基板と、
前記プリント配線基板の回路層上に搭載された、または前記プリント配線基板に内蔵された半導体素子と、を備える、半導体装置が提供される。
Further, according to the present invention,
The above printed wiring board;
and a semiconductor element mounted on a circuit layer of the printed wiring board or embedded in the printed wiring board.

本発明によれば、高難燃性及び低線膨張性に優れた樹脂組成物、それを用いたキャリア付樹脂膜、樹脂基板、プリプレグ、金属張積層板、プリント配線基板、及び半導体装置が提供される。 The present invention provides a resin composition having excellent flame retardancy and low linear expansion, and a resin film with a carrier, a resin substrate, a prepreg, a metal-clad laminate, a printed wiring board, and a semiconductor device using the resin composition.

本実施形態におけるキャリア付樹脂膜の構成の一例を示す断面図である。FIG. 2 is a cross-sectional view showing an example of the configuration of a resin film with a carrier in the present embodiment. 本実施形態におけるプリント配線基板の構成の一例を示す断面図である。1 is a cross-sectional view showing an example of a configuration of a printed wiring board according to an embodiment of the present invention. 本実施形態における半導体装置の構成の一例を示す断面図である。1 is a cross-sectional view showing an example of a configuration of a semiconductor device according to an embodiment of the present invention.

以下、本発明の実施の形態について、図面を用いて説明する。なお、すべての図面において、同様な構成要素には同様の符号を付し、適宜説明を省略する。また、図は概略図であり、実際の寸法比率とは一致していない。 The following describes an embodiment of the present invention with reference to the drawings. Note that in all drawings, similar components are given similar reference symbols and descriptions are omitted where appropriate. Also, the drawings are schematic and do not correspond to the actual dimensional ratios.

本実施形態の樹脂組成物について概説する。 The resin composition of this embodiment is outlined below.

本実施形態の樹脂組成物は、ポリフェニレンエーテルと、ポリフェニレンエーテルと反応する架橋剤と、充填材と、窒素系難燃剤と、を含み、窒素系難燃剤が、メチロールメラミン化合物、その誘導体、及びこれらの縮合物からなる群から選ばれる一または二以上を含むように構成される。
このような樹脂組成物は、回路基板の少なくとも一部を構成する部材を形成するために用いる、回路基板用樹脂組成物である。
The resin composition of the present embodiment contains polyphenylene ether, a crosslinking agent reactive with the polyphenylene ether, a filler, and a nitrogen-based flame retardant, and is configured so that the nitrogen-based flame retardant contains one or more members selected from the group consisting of methylol melamine compounds, derivatives thereof, and condensates thereof.
Such a resin composition is a resin composition for circuit boards, which is used to form a member that constitutes at least a part of a circuit board.

本発明者の知見によれば、ポリフェニレンエーテル、架橋剤、及び充填材を含む樹脂組成物において、窒素系難燃剤として、メチロールメラミン系化合物(メチロールメラミン化合物、その誘導体、及びこれらの縮合物をメチロールメラミン系化合物の総称とする)を用いることによって、難燃性樹脂組成物の硬化物における難燃性を向上できるとともに、線膨張係数を低減できることが見出された。 According to the findings of the present inventors, it has been found that by using a methylolmelamine-based compound (a general term for methylolmelamine compounds, their derivatives, and condensates thereof) as a nitrogen-based flame retardant in a resin composition containing polyphenylene ether, a crosslinking agent, and a filler, it is possible to improve the flame retardancy of the cured product of the flame-retardant resin composition and reduce the linear expansion coefficient.

詳細なメカニズムは定かでないが、上記メチロールメラミン系化合物は、ポリフェニレンエーテルなどのポリマー成分に適度に相溶し、ポリフェニレンエーテルや架橋剤に含まれる水酸基やエポキシ基が開環して生成する水酸基等と架橋反応することによって、高温環境下においても揮発せずに残存し、窒素原子を含む残留分が比較的多いため、これを添加した樹脂組成物の硬化物における難燃性が高まり、比較的高温においても線膨張係数が低減する、と考えられる。 Although the detailed mechanism is unclear, the above methylolmelamine compounds are moderately compatible with polymer components such as polyphenylene ether, and undergo crosslinking reactions with hydroxyl groups and the like generated by ring-opening of hydroxyl groups and epoxy groups contained in polyphenylene ether and crosslinking agents, so that they remain without volatilizing even in high-temperature environments, and because they contain a relatively large amount of residual nitrogen atoms, it is believed that the flame retardancy of the cured product of the resin composition to which they are added is increased, and the linear expansion coefficient is reduced even at relatively high temperatures.

本実施形態において、プリント配線基板における絶縁層は、コア層、ビルドアップ層(層間絶縁層)、ソルダーレジスト層等のプリント配線基板を構成する絶縁性部材が挙げられる。 In this embodiment, the insulating layer in the printed wiring board may be an insulating member that constitutes the printed wiring board, such as a core layer, a build-up layer (interlayer insulating layer), or a solder resist layer.

上記プリント配線基板としては、コア層、ビルドアップ層(層間絶縁層)、ソルダーレジスト層を有するプリント配線基板、コア層を有しないプリント配線基板、パネルパッケージプロセス(PLP)に用いられるコアレス基板、MIS(Molded Interconnect Substrate)基板等が挙げられる。 Examples of the printed wiring board include a printed wiring board having a core layer, a build-up layer (interlayer insulating layer), and a solder resist layer, a printed wiring board without a core layer, a coreless substrate used in a panel package process (PLP), and a MIS (molded interconnect substrate) substrate.

本実施形態の樹脂組成物からなる樹脂膜の硬化物は、例えば、コア層を有しないプリント配線基板におけるビルドアップ層、PLPに用いられるコアレス基板のビルドアップ層、MIS基板のビルドアップ層、等のビルドアップ層に好適に用いることができる。また、複数の半導体パッケージを一括して作成するために利用される大面積のプリント配線基板において、当該プリント配線基板を構成するビルドアップ層に用いてもよく、大規模な電流が供給されるシステム中のプリント配線基を構成するビルドアップ層にも適用できる。 The cured resin film made of the resin composition of this embodiment can be suitably used for build-up layers such as build-up layers in printed wiring boards that do not have a core layer, build-up layers in coreless substrates used in PLP, build-up layers in MIS substrates, etc. In addition, it may be used for build-up layers that constitute a large-area printed wiring board used to simultaneously create multiple semiconductor packages, and can also be applied to build-up layers that constitute a printed wiring board in a system to which a large current is supplied.

以下、本実施形態の樹脂組成物の各成分について詳述する。 Each component of the resin composition of this embodiment is described in detail below.

(ポリフェニレンエーテル)
樹脂組成物は、ポリフェニレンエーテルを含む。これにより、低誘電率及び低誘電正接に優れた絶縁層を実現できる。このため、高周波特性に優れた回路基板を提供できる。
このポリフェニレンエーテルは、分子中に、架橋剤と架橋反応する官能基を一または二以上含む限り、とくに限定されない。
(Polyphenylene ether)
The resin composition contains polyphenylene ether, which makes it possible to realize an insulating layer having a low dielectric constant and a low dielectric loss tangent, thereby making it possible to provide a circuit board having excellent high frequency characteristics.
The polyphenylene ether is not particularly limited as long as it contains, in the molecule, one or more functional groups capable of undergoing a crosslinking reaction with a crosslinking agent.

ポリフェニレンエーテルの一例は、下記一般式(1)で表される構造単位を有するポリマーを1種又は2種以上含んでもよい。 An example of a polyphenylene ether may include one or more polymers having a structural unit represented by the following general formula (1):

Figure 0007547867000001
Figure 0007547867000001

上記一般式(1)中、R、R、R、Rは、互いに同じまたは異なっていてもよく、水素原子、ハロゲン原子、置換されていてもよいアルキル基、置換されていてもよいアルケニル基、置換されていてもよいアルキニル基、置換されていてもよいアリール基、置換されていてもよいアラルキル基、および置換されていてもよいアルコキシ基からなる群から選ばれるいずれかを表す。 In the above general formula (1), R 1 , R 2 , R 3 , and R 4 may be the same or different and represent any one selected from the group consisting of a hydrogen atom, a halogen atom, an optionally substituted alkyl group, an optionally substituted alkenyl group, an optionally substituted alkynyl group, an optionally substituted aryl group, an optionally substituted aralkyl group, and an optionally substituted alkoxy group.

上記ハロゲン原子としては、例えば、フッ素原子、塩素原子、臭素原子等が挙げられる。好ましくは、塩素原子、臭素原子である。 The halogen atom may be, for example, a fluorine atom, a chlorine atom, or a bromine atom. Chlorine and bromine atoms are preferred.

上記置換されていてもよいアルキル基の「アルキル基」は、例えば、炭素数が1以上6以下、好ましくは炭素数が1以上3以下の、直鎖状又は分岐鎖状のアルキル基である。より具体的には、メチル基、エチル基、プロピル基、イソプロピル基、ブチル基、イソブチル基、sec-ブチル基、tert-ブチル基、ペンチル基、ヘキシル基等が挙げられ、メチル基、エチル基であることがより好ましい。 The "alkyl group" in the above-mentioned optionally substituted alkyl group is, for example, a linear or branched alkyl group having 1 to 6 carbon atoms, preferably 1 to 3 carbon atoms. More specifically, examples include a methyl group, an ethyl group, a propyl group, an isopropyl group, a butyl group, an isobutyl group, a sec-butyl group, a tert-butyl group, a pentyl group, and a hexyl group, and more preferably a methyl group or an ethyl group.

上記置換されていてもよいアルケニル基の「アルケニル基」としては、例えば、エテニル基、1-プロペニル基、2-プロペニル基、3-ブテニル基、ペンテニル基、ヘキセニル基等が挙げられ、エテニル基、1-プロペニル基であることがより好ましい。 The "alkenyl group" of the above-mentioned optionally substituted alkenyl group includes, for example, ethenyl group, 1-propenyl group, 2-propenyl group, 3-butenyl group, pentenyl group, and hexenyl group, with ethenyl group and 1-propenyl group being more preferred.

上記置換されていてもよいアルキニル基の「アルキニル基」としては、例えば、エチニル基、1-プロピニル基、2-プロピニル(プロパルギル)基、3-ブチニル基、ペンチニル基、ヘキシニル基等が挙げられ、エチニル基、1-プロピニル基、2-プロピニル(プロパルギル)基であることがより好ましい。 The "alkynyl group" of the above-mentioned optionally substituted alkynyl group includes, for example, an ethynyl group, a 1-propynyl group, a 2-propynyl (propargyl) group, a 3-butynyl group, a pentynyl group, and a hexynyl group, and is more preferably an ethynyl group, a 1-propynyl group, or a 2-propynyl (propargyl) group.

上記置換されていてもよいアリール基の「アリール基」としては、例えば、フェニル基、ナフチル基等が挙げられ、フェニル基であることがより好ましい。 The "aryl group" of the above-mentioned optionally substituted aryl group includes, for example, a phenyl group, a naphthyl group, etc., and a phenyl group is more preferable.

上記置換されていてもよいアラルキル基の「アラルキル基」としては、例えば、ベンジル基、フェネチル基、2-メチルベンジル基、4-メチルベンジル基、α-メチルベンジル基、2-ビニルフェネチル基、4-ビニルフェネチル基等が挙げられ、ベンジル基であることがより好ましい。 The "aralkyl group" of the above-mentioned optionally substituted aralkyl group includes, for example, a benzyl group, a phenethyl group, a 2-methylbenzyl group, a 4-methylbenzyl group, an α-methylbenzyl group, a 2-vinylphenethyl group, a 4-vinylphenethyl group, etc., with a benzyl group being more preferred.

上記置換されていてもよいアルコキシ基の「アルコキシ基」は、たとえば炭素数が1以上6以下、好ましくは炭素数が1以上3以下の、直鎖状又は分岐鎖状のアルコキシ基である。例えば、メトキシ基、エトキシ基、プロポキシ基、イソプロポキシ基、ブトキシ基、sec-ブトキシ基、tert-ブトキシ基、ペンチルオキシ基、ヘキシルオキシ基等が挙げられ、メトキシ基、エトキシ基であることがより好ましい。 The "alkoxy group" of the above-mentioned alkoxy group which may be substituted is, for example, a linear or branched alkoxy group having from 1 to 6 carbon atoms, preferably from 1 to 3 carbon atoms. Examples include a methoxy group, an ethoxy group, a propoxy group, an isopropoxy group, a butoxy group, a sec-butoxy group, a tert-butoxy group, a pentyloxy group, a hexyloxy group, etc., and a methoxy group or an ethoxy group is more preferable.

上記のアルキル基、アリール基、アルケニル基、アルキニル基、アラルキル基、及びアルコキシ基が置換されている場合、置換基を1または2以上有していてよい。
このような置換基としては、例えば、ハロゲン原子(例えば、フッ素原子、塩素原子、臭素原子)、炭素数1~6のアルキル基(例えば、メチル基、エチル基、プロピル基、イソプロピル基、ブチル基、イソブチル基、sec-ブチル基、tert-ブチル基、ペンチル基、ヘキシル基)、アリール基(例えば、フェニル基、ナフチル基)、アルケニル基(例えば、エテニル基、1-プロペニル基、2-プロペニル基)、アルキニル基(例えば、エチニル基、1-プロピニル基、2-プロピニル基)、アラルキル基(例えば、ベンジル基、フェネチル基)、アルコキシ基(例えば、メトキシ基、エトキシ基)等が挙げられる。
When the above alkyl groups, aryl groups, alkenyl groups, alkynyl groups, aralkyl groups and alkoxy groups are substituted, they may have one or more substituents.
Examples of such a substituent include halogen atoms (e.g., fluorine, chlorine, and bromine atoms), alkyl groups having 1 to 6 carbon atoms (e.g., methyl, ethyl, propyl, isopropyl, butyl, isobutyl, sec-butyl, tert-butyl, pentyl, and hexyl), aryl groups (e.g., phenyl and naphthyl groups), alkenyl groups (e.g., ethenyl, 1-propenyl, and 2-propenyl groups), alkynyl groups (e.g., ethynyl, 1-propynyl, and 2-propynyl groups), aralkyl groups (e.g., benzyl and phenethyl groups), and alkoxy groups (e.g., methoxy and ethoxy groups).

また、ポリフェニレンエーテルは、下記一般式(1a)で表される構造単位を有してもよい。 The polyphenylene ether may also have a structural unit represented by the following general formula (1a):

Figure 0007547867000002
Figure 0007547867000002

上記一般式(1a)中、R11,R12,R13,R14,R15,R16,R17,R18は、同一又は異なってもよく、水素原子、炭素数6以下のアルキル基又はフェニル基である。-A-は、炭素数20以下の直鎖状、分岐状又は環状の2価の炭化水素基である。 In the above general formula (1a), R 11 , R 12 , R 13 , R 14 , R 15 , R 16 , R 17 and R 18 may be the same or different and are a hydrogen atom, an alkyl group having 6 or less carbon atoms or a phenyl group, and -A- is a linear, branched or cyclic divalent hydrocarbon group having 20 or less carbon atoms.

ポリフェニレンエーテルは、一部又は全部を、ビニルベンジル基等のエチレン性不飽和基、エポキシ基、アミノ基、水酸基、メルカプト基、カルボキシル基、及びシリル基等で官能基化された変性ポリフェニレンエーテルを含んでもよい。 The polyphenylene ether may include modified polyphenylene ethers that are functionalized in whole or in part with ethylenically unsaturated groups such as vinylbenzyl groups, epoxy groups, amino groups, hydroxyl groups, mercapto groups, carboxyl groups, silyl groups, and the like.

また、ポリフェニレンエーテルは、両末端が、ヒドロキシ基、エポキシ基、またはエチレン性不飽和基を有することが好ましい。エチレン性不飽和基としては、エテニル基、アリル基、メタアクリル基、プロペニル基、ブテニル基、ヘキセニル基及びオクテニル基等のアルケニル基、シクロペンテニル基及びシクロヘキセニル基等のシクロアルケニル基、ビニルベンジル基及びビニルナフチル基等のアルケニルアリール基が挙げられる。また、両末端は、同一の官能基であってもよいし、異なる官能基であってもよい。 In addition, it is preferable that the polyphenylene ether has a hydroxy group, an epoxy group, or an ethylenically unsaturated group at both ends. Examples of the ethylenically unsaturated group include alkenyl groups such as ethenyl, allyl, methacrylic, propenyl, butenyl, hexenyl, and octenyl groups, cycloalkenyl groups such as cyclopentenyl and cyclohexenyl groups, and alkenylaryl groups such as vinylbenzyl and vinylnaphthyl groups. In addition, both ends may be the same functional group or different functional groups.

ポリフェニレンエーテルの重量平均分子量は、500以上5000以下であることが好ましく、1000以上4000以下であることがより好ましい。ポリフェニレンエーテルの重量平均分子量を下限値以上とすることにより、得られる樹脂層の可撓性を良好にできる。一方、成分(A)の重量平均分子量を上限値以下とすることにより、薬液に対する溶解性を良好にできる。 The weight average molecular weight of the polyphenylene ether is preferably 500 to 5000, more preferably 1000 to 4000. By making the weight average molecular weight of the polyphenylene ether equal to or greater than the lower limit, the flexibility of the resulting resin layer can be improved. On the other hand, by making the weight average molecular weight of component (A) equal to or less than the upper limit, the solubility in the chemical solution can be improved.

ポリフェニレンエーテルの含有量は、樹脂組成物の固形分100重量%中、2~30重量%、好ましくは2.5~25重量%、より好ましくは3~20重量%である。上記下限値以上とすることにより、低誘電特性を実現できる。上記上限値以下とすることにより、樹脂残渣を抑制できる。 The polyphenylene ether content is 2 to 30% by weight, preferably 2.5 to 25% by weight, and more preferably 3 to 20% by weight, based on 100% by weight of the solid content of the resin composition. By making the content equal to or greater than the lower limit, low dielectric properties can be achieved. By making the content equal to or less than the upper limit, resin residue can be suppressed.

本実施形態において、樹脂組成物の固形分とは、樹脂組成物中における不揮発分を指し、水や溶媒等の揮発成分を除いた残部を指す。樹脂組成物の固形分全体に対する含有量とは、溶媒を含む場合には、樹脂組成物のうちの溶媒を除く固形分全体(100重量%)に対する含有量を指す。 In this embodiment, the solid content of the resin composition refers to the non-volatile content in the resin composition, and refers to the remainder excluding volatile components such as water and solvent. When a solvent is included, the content relative to the total solid content of the resin composition refers to the content relative to the total solid content (100% by weight) of the resin composition excluding the solvent.

(架橋剤)
樹脂組成物は、ポリフェニレンエーテルと反応する架橋剤を含む。この架橋剤は、付加重合タイプ及びラジカル重合タイプの少なくとも一方を含んでもよい。
(Crosslinking Agent)
The resin composition includes a crosslinking agent that reacts with the polyphenylene ether. The crosslinking agent may include at least one of an addition polymerization type and a radical polymerization type.

上記架橋剤は、マレイミド化合物、シアネートエステル樹脂、フェノール樹脂、エポキシ樹脂、及び1分子中に炭素-炭素不飽和二重結合を2個以上有する化合物からなる群から選択される少なくとも1種又は2種以上を含む。 The crosslinking agent includes at least one or more selected from the group consisting of maleimide compounds, cyanate ester resins, phenolic resins, epoxy resins, and compounds having two or more carbon-carbon unsaturated double bonds in one molecule.

マレイミド化合物、シアネートエステル樹脂、フェノール樹脂、及びエポキシ樹脂は、これらの分子中に含まれる官能基と、ポリフェニレンエーテルが持つ官能基との間で、架橋を形成できる。 Maleimide compounds, cyanate ester resins, phenolic resins, and epoxy resins can form crosslinks between the functional groups contained in these molecules and the functional groups of polyphenylene ether.

例えば、マレイミド化合物と、両末端かつ/または一般式(1a)の-A-中にエチレン性不飽和基を有するポリフェニレンエーテルとを組み合わせて使用してもよい。
また、シアネートエステル樹脂、フェノール樹脂、エポキシ樹脂のいずれか一つ以上と、両末端かつ/または一般式(1a)中の-A-中にヒドロキシ基を有するポリフェニレンエーテルとを組み合わせて使用してもよい。
For example, a maleimide compound may be used in combination with a polyphenylene ether having an ethylenically unsaturated group at both ends and/or in -A- in general formula (1a).
Also, at least one of a cyanate ester resin, a phenol resin and an epoxy resin may be used in combination with a polyphenylene ether having hydroxy groups at both ends and/or in -A- in general formula (1a).

マレイミド化合物のマレイミド基は、5員環の平面構造を有し、マレイミド基の二重結合が分子間で相互作用しやすく極性が高いため、マレイミド基、ベンゼン環、その他の平面構造を有する化合物等と強い分子間相互作用を示し、分子運動を抑制することができる。そのため、樹脂組成物は、マレイミド化合物を含むことにより、得られる絶縁層の線膨張係数を下げ、ガラス転移温度を向上させることができ、さらに、耐熱性を向上させることができる。 The maleimide group of the maleimide compound has a planar structure of a five-membered ring, and the double bond of the maleimide group is highly polar and prone to intermolecular interactions, so it exhibits strong intermolecular interactions with maleimide groups, benzene rings, and other compounds having planar structures, and can suppress molecular motion. Therefore, by including a maleimide compound in a resin composition, the linear expansion coefficient of the resulting insulating layer can be reduced, the glass transition temperature can be improved, and the heat resistance can be further improved.

マレイミド化合物としては、分子内に少なくとも2つのマレイミド基を有するビスマレイミド化合物が好ましい。
分子内に少なくとも2つのマレイミド基を有するマレイミド化合物としては、例えば、4,4'-ジフェニルメタンビスマレイミド、m-フェニレンビスマレイミド、p-フェニレンビスマレイミド、2,2-ビス[4-(4-マレイミドフェノキシ)フェニル]プロパン、ビス-(3-エチル-5-メチル-4-マレイミドフェニル)メタン、4-メチル-1,3-フェニレンビスマレイミド、N,N'-エチレンジマレイミド、N,N'-ヘキサメチレンジマレイミド、ビス(4-マレイミドフェニル)エーテル、ビス(4-マレイミドフェニル)スルホン、3,3-ジメチル-5,5-ジエチル-4,4-ジフェニルメタンビスマレイミド、ビスフェノールAジフェニルエーテルビスマレイミド等の分子内に2つのマレイミド基を有する化合物、ポリフェニルメタンマレイミド等の分子内に3つ以上のマレイミド基を有するポリマレイミド化合物等が挙げられる。
これらの中の1種類を単独で用いることもできるし、2種類以上を併用することもできる。
The maleimide compound is preferably a bismaleimide compound having at least two maleimide groups in the molecule.
Examples of maleimide compounds having at least two maleimide groups in the molecule include compounds having two maleimide groups in the molecule, such as 4,4'-diphenylmethane bismaleimide, m-phenylene bismaleimide, p-phenylene bismaleimide, 2,2-bis[4-(4-maleimidophenoxy)phenyl]propane, bis-(3-ethyl-5-methyl-4-maleimidophenyl)methane, 4-methyl-1,3-phenylene bismaleimide, N,N'-ethylene dimaleimide, N,N'-hexamethylene dimaleimide, bis(4-maleimidophenyl)ether, bis(4-maleimidophenyl)sulfone, 3,3-dimethyl-5,5-diethyl-4,4-diphenylmethane bismaleimide, and bisphenol A diphenyl ether bismaleimide; and polymaleimide compounds having three or more maleimide groups in the molecule, such as polyphenylmethane maleimide.
These may be used alone or in combination of two or more.

ビスマレイミド化合物は、たとえば、下記一般式(10)に示す化合物を含んでもよい。これらを単独で用いても2種以上を組み合わせて用いてもよい。 The bismaleimide compound may include, for example, a compound shown in the following general formula (10). These may be used alone or in combination of two or more types.

Figure 0007547867000003
(上記一般式(10)中、nは0以上10以下の整数であり、Xはそれぞれ独立に炭素数1以上10以下のアルキレン基、下記式(10a)で表される基、下記(10b)で表される基、式「-SO-」で表される基、「-CO-」で表される基、酸素原子または単結合であり、Rはそれぞれ独立に炭素数1以上6以下の炭化水素基、又はフェニル基であり、aはそれぞれ独立に0以上4以下の整数であり、bはそれぞれ独立に0以上3以下の整数である。)
Figure 0007547867000003
(In the above general formula (10), n 1 is an integer of 0 or more and 10 or less, X 1 is each independently an alkylene group having 1 to 10 carbon atoms, a group represented by the following formula (10a), a group represented by the following formula (10b), a group represented by the formula "-SO 2 -", a group represented by the formula "-CO-", an oxygen atom or a single bond, R 1 is each independently a hydrocarbon group having 1 to 6 carbon atoms or a phenyl group, a is each independently an integer of 0 to 4, and b is each independently an integer of 0 to 3.)

Figure 0007547867000004
(式(10a)中、Yは芳香族環を有する炭素数6以上30以下の炭化水素基であり、nは0以上の整数である。
Figure 0007547867000004
In formula (10a), Y is a hydrocarbon group having an aromatic ring and having 6 to 30 carbon atoms, and n2 is an integer of 0 or more.

Figure 0007547867000005
Figure 0007547867000005

ビスマレイミド化合物は、Xが上記(10b)を備える上記一般式(10)に示す化合物等のビフェニルアラルキル骨格を有するビスマレイミドを含んでもよい。 The bismaleimide compound may include a bismaleimide having a biphenylaralkyl skeleton, such as the compound represented by the above general formula (10) in which X 1 has the above (10b).

シアネートエステル樹脂は、特に限定されないが、例えば、ハロゲン化シアン化合物とフェノール類やナフトール類とを反応させ、必要に応じて加熱等の方法でプレポリマー化することにより得ることができる。また、このようにして調製された市販品を用いることもできる。 The cyanate ester resin is not particularly limited, but can be obtained, for example, by reacting a halogenated cyanide compound with a phenol or naphthol, and prepolymerizing it by a method such as heating as necessary. Commercially available products prepared in this manner can also be used.

シアネートエステル樹脂は、例えば、ノボラック型シアネートエステル樹脂、ビスフェノールA型シアネートエステル樹脂、ビスフェノールE型シアネートエステル樹脂、テトラメチルビスフェノールF型シアネートエステル樹脂などのビスフェノール型シアネートエステル樹脂;ナフトールアラルキル型フェノール樹脂と、ハロゲン化シアンとの反応で得られるナフトールアラルキル型シアネートエステル樹脂;ジシクロペンタジエン型シアネートエステル樹脂;ビフェニルアルキル型シアネートエステル樹脂などを挙げることができる。これらの中でも、ビスフェノールA骨格、またはノボラック骨格を有することが好ましく、具体的には、ビスフェノールA型シアネートエステル樹脂、ノボラック型シアネートエステル樹脂、ナフトールアラルキル型シアネートエステル樹脂が好ましく、ノボラック型シアネートエステル樹脂がより好ましい。なかでも、ビスフェノールA型シアネートエステル樹脂を用いることにより、良好な低誘電正接が得られる。この理由としては、ビスフェノールA型シアネートエステル樹脂は、架橋点が少ないため、トリアジン環を形成した際に未反応のシアネート基が残りにくく、誘電特性を良好に維持しやすくなるためである。 Examples of cyanate ester resins include bisphenol cyanate ester resins such as novolac cyanate ester resins, bisphenol A cyanate ester resins, bisphenol E cyanate ester resins, and tetramethyl bisphenol F cyanate ester resins; naphthol aralkyl cyanate ester resins obtained by reacting naphthol aralkyl phenol resins with cyanogen halides; dicyclopentadiene cyanate ester resins; and biphenyl alkyl cyanate ester resins. Among these, it is preferable to have a bisphenol A skeleton or a novolac skeleton, and specifically, bisphenol A cyanate ester resins, novolac cyanate ester resins, and naphthol aralkyl cyanate ester resins are preferred, and novolac cyanate ester resins are more preferred. Among these, the use of bisphenol A cyanate ester resins provides a good low dielectric tangent. The reason for this is that bisphenol A-type cyanate ester resin has few crosslinking points, so when the triazine ring is formed, unreacted cyanate groups are less likely to remain, making it easier to maintain good dielectric properties.

フェノール樹脂としては、フェノールノボラック樹脂、クレゾールノボラック樹脂、ビスフェノールAノボラック樹脂、トリアジン骨格含有フェノールノボラック樹脂などのノボラック型フェノール樹脂;ビフェニルアラルキル型フェノール樹脂などのアラルキル型フェノール樹脂;未変性のレゾールフェノール樹脂、桐油、アマニ油、クルミ油などで変性した油変性レゾールフェノール樹脂などのレゾール型フェノール樹脂などが挙げられる。 Examples of phenolic resins include novolac-type phenolic resins such as phenol novolac resin, cresol novolac resin, bisphenol A novolac resin, and triazine skeleton-containing phenol novolac resin; aralkyl-type phenolic resins such as biphenyl aralkyl-type phenolic resin; and resol-type phenolic resins such as unmodified resol phenolic resin and oil-modified resol phenolic resin modified with tung oil, linseed oil, walnut oil, etc.

エポキシ樹脂としては、例えば、ビスフェノールA型エポキシ樹脂、ビスフェノールF型エポキシ樹脂、ビスフェノールE型エポキシ樹脂、ビスフェノールS型エポキシ樹脂、ビスフェノールM型エポキシ樹脂(4,4'-(1,3-フェニレンジイソプリジエン)ビスフェノール型エポキシ樹脂)、ビスフェノールP型エポキシ樹脂(4,4'-(1,4-フェニレンジイソプリジエン)ビスフェノール型エポキシ樹脂)、ビスフェノールZ型エポキシ樹脂(4,4'-シクロヘキシジエンビスフェノール型エポキシ樹脂)等のビスフェノール型エポキシ樹脂;フェノールノボラック型エポキシ樹脂、クレゾールノボラック型エポキシ樹脂、テトラフェノール基エタン型ノボラック型エポキシ樹脂、縮合環芳香族炭化水素構造を有するノボラック型エポキシ樹脂等のノボラック型エポキシ樹脂;ビフェニル型エポキシ樹脂;キシリレン型エポキシ樹脂、ビフェニルアラルキル型エポキシ樹脂等のアラルキル型エポキシ樹脂;ナフチレンエーテル型エポキシ樹脂、ナフトール型エポキシ樹脂、ナフタレンジオール型エポキシ樹脂、2官能ないし4官能ナフタレン型エポキシ樹脂、ビナフチル型エポキシ樹脂、ナフタレンアラルキル型エポキシ樹脂等のナフタレン型エポキシ樹脂;アントラセン型エポキシ樹脂;フェノキシ型エポキシ樹脂;ジシクロペンタジエン型エポキシ樹脂;ノルボルネン型エポキシ樹脂;アダマンタン型エポキシ樹脂;フルオレン型エポキシ樹脂等が挙げられる。 Epoxy resins include, for example, bisphenol type epoxy resins such as bisphenol A type epoxy resin, bisphenol F type epoxy resin, bisphenol E type epoxy resin, bisphenol S type epoxy resin, bisphenol M type epoxy resin (4,4'-(1,3-phenylenediisopridiene) bisphenol type epoxy resin), bisphenol P type epoxy resin (4,4'-(1,4-phenylenediisopridiene) bisphenol type epoxy resin), and bisphenol Z type epoxy resin (4,4'-cyclohexydiene bisphenol type epoxy resin); phenol novolac type epoxy resin, cresol novolac type epoxy resin, and tetraphenol group ethane type novolac type epoxy resin. resins, novolac-type epoxy resins such as novolac-type epoxy resins having a condensed ring aromatic hydrocarbon structure; biphenyl-type epoxy resins; aralkyl-type epoxy resins such as xylylene-type epoxy resins and biphenylaralkyl-type epoxy resins; naphthalene-type epoxy resins such as naphthylene ether-type epoxy resins, naphthol-type epoxy resins, naphthalene diol-type epoxy resins, difunctional to tetrafunctional naphthalene-type epoxy resins, binaphthyl-type epoxy resins, and naphthalenearalkyl-type epoxy resins; anthracene-type epoxy resins; phenoxy-type epoxy resins; dicyclopentadiene-type epoxy resins; norbornene-type epoxy resins; adamantane-type epoxy resins; and fluorene-type epoxy resins.

1分子中に炭素-炭素不飽和二重結合を2個以上有する化合物は、融点が30℃以下であり、かつポリフェニレンエーテルに相溶するものを用いることができる。 Compounds having two or more carbon-carbon unsaturated double bonds in one molecule that have a melting point of 30°C or less and are compatible with polyphenylene ether can be used.

1分子中に炭素-炭素不飽和二重結合を2個以上有する化合物の一例は、下記一般式(2)で表される化合物を含んでもよい。これらを単独で用いても2種以上を組み合わせて用いてもよい。 An example of a compound having two or more carbon-carbon unsaturated double bonds in one molecule may include a compound represented by the following general formula (2). These may be used alone or in combination of two or more types.

Figure 0007547867000006
Figure 0007547867000006

上記式(2)中、mは1~3の整数を、nは0又は1を示し、R~Rは独立して水素原子またはアルキル基を示す。Xは、アリーレン基、ジシクロペンタジエニル基、又はイソシアヌレート基のいずれかを示す。Yは、下記(2a)又は(2b)で表される基を示す。 In the above formula (2), m is an integer of 1 to 3, n is 0 or 1, and R 1 to R 3 independently represent a hydrogen atom or an alkyl group. X represents an arylene group, a dicyclopentadienyl group, or an isocyanurate group. Y represents a group represented by the following (2a) or (2b).

Figure 0007547867000007
Figure 0007547867000007

1分子中に炭素-炭素不飽和二重結合を2個以上有する化合物は、例えば、トリアリルイソシアヌレート(TAIC)等のトリアルケニルイソシアヌレート化合物、分子中にメタクリル基を2個以上有する多官能メタクリレート化合物、分子中にアクリル基を2個以上有する多官能アクリレート化合物、及び分子中にビニルベンジル基を有するスチレン、ジビニルベンゼン等のビニルベンジル化合物等が挙げられる。この中でも、好ましくは、トリアルケニルイソシアヌレート化合物、多官能アクリレート化合物、多官能メタクリレート化合物、及びジビニルベンゼン化合物等が挙げられる。 Examples of compounds having two or more carbon-carbon unsaturated double bonds in one molecule include trialkenyl isocyanurate compounds such as triallyl isocyanurate (TAIC), polyfunctional methacrylate compounds having two or more methacrylic groups in the molecule, polyfunctional acrylate compounds having two or more acrylic groups in the molecule, and vinylbenzyl compounds such as styrene and divinylbenzene having vinylbenzyl groups in the molecule. Among these, preferred are trialkenyl isocyanurate compounds, polyfunctional acrylate compounds, polyfunctional methacrylate compounds, and divinylbenzene compounds.

また、炭素-炭素不飽和二重結合を分子中に2個以上有する化合物と、炭素-炭素不飽和二重結合を分子中に1個有する化合物とを併用してもよい。炭素-炭素不飽和二重結合を分子中に1個有する化合物としては、具体的には、分子中にビニル基を1個有する化合物(モノビニル化合物)等が挙げられる。 A compound having two or more carbon-carbon unsaturated double bonds in the molecule may be used in combination with a compound having one carbon-carbon unsaturated double bond in the molecule. Specific examples of compounds having one carbon-carbon unsaturated double bond in the molecule include compounds having one vinyl group in the molecule (monovinyl compounds).

架橋剤の含有量は、樹脂組成物の固形分100重量%中、例えば、10~70重量%、好ましくは15~60重量%、より好ましくは20~50重量%である。上記下限値以上とすることにより、低誘電特性を実現できる。上記上限値以下とすることにより、樹脂残渣を抑制できる。 The content of the crosslinking agent is, for example, 10 to 70% by weight, preferably 15 to 60% by weight, and more preferably 20 to 50% by weight, based on 100% by weight of the solid content of the resin composition. By making the content equal to or greater than the lower limit, low dielectric properties can be achieved. By making the content equal to or less than the upper limit, resin residue can be suppressed.

マレイミド化合物、シアネートエステル樹脂、フェノール樹脂、及びエポキシ樹脂の少なくとも一つの含有量は、樹脂組成物の固形分100重量%中、例えば、10~50重量%、好ましくは11~40重量%、より好ましくは12~30重量%である。上記下限値以上とすることにより、低誘電特性を実現できる。上記上限値以下とすることにより、樹脂残渣を抑制できる。 The content of at least one of the maleimide compound, cyanate ester resin, phenolic resin, and epoxy resin is, for example, 10 to 50% by weight, preferably 11 to 40% by weight, and more preferably 12 to 30% by weight, based on 100% by weight of the solid content of the resin composition. By making it equal to or greater than the lower limit, low dielectric properties can be achieved. By making it equal to or less than the upper limit, resin residue can be suppressed.

炭素-炭素不飽和二重結合を分子中に2個以上有する化合物の含有量は、樹脂組成物の固形分100重量%中、例えば、10~50重量%、好ましくは11~40重量%、より好ましくは12~30重量%である。上記下限値以上とすることにより、低誘電特性を実現できる。上記上限値以下とすることにより、樹脂残渣を抑制できる。 The content of the compound having two or more carbon-carbon unsaturated double bonds in the molecule is, for example, 10 to 50% by weight, preferably 11 to 40% by weight, and more preferably 12 to 30% by weight, based on 100% by weight of the solid content of the resin composition. By making the content equal to or greater than the lower limit, low dielectric properties can be achieved. By making the content equal to or less than the upper limit, resin residue can be suppressed.

(反応開始剤)
樹脂組成物は、必要に応じて、反応開始剤を含んでもよい。
反応開始剤は、ポリフェニレンエーテルと架橋剤との反応を促進することができるものであれば、特に限定されない。反応開始剤は、ラジカル重合タイプの架橋剤の重合反応を促進できる。
(Reaction initiator)
The resin composition may contain a reaction initiator as necessary.
The reaction initiator is not particularly limited as long as it can promote the reaction between the polyphenylene ether and the crosslinking agent. The reaction initiator can promote the polymerization reaction of the radical polymerization type crosslinking agent.

反応開始剤は、有機過酸化物、ジハロゲン、アゾ化合物、酸化剤と還元剤の組み合わせ等が用いられる。 Reaction initiators include organic peroxides, dihalogens, azo compounds, and combinations of oxidizing and reducing agents.

反応開始剤の一例は、例えば、α,α'-ビス(t-ブチルパーオキシ-m-イソプロピル)ベンゼン、2,5-ジメチル-2,5-ジ(t-ブチルパーオキシ)-3-ヘキシン,過酸化ベンゾイル、3,3',5,5'-テトラメチル-1,4-ジフェノキノン、クロラニル、2,4,6-トリ-t-ブチルフェノキシル、t-ブチルペルオキシイソプロピルモノカーボネート、アゾビスイソブチロニトリル等の有機過酸化物が挙げられる。また、必要に応じて、カルボン酸金属塩等を併用することができる。そうすることによって、硬化反応を一層促進させるができる。これらの中でも、α,α'-ビス(t-ブチルパーオキシ-m-イソプロピル)ベンゼンが好ましく用いられる。α,α'-ビス(t-ブチルパーオキシ-m-イソプロピル)ベンゼンは、反応開始温度が比較的に高いため、プリプレグ乾燥時等の硬化する必要がない時点での硬化反応の促進を抑制することができ、ポリフェニレンエーテル樹脂組成物の保存性の低下を抑制することができる。さらに、α,α'-ビス(t-ブチルパーオキシ-m-イソプロピル)ベンゼンは、揮発性が低いため、プリプレグ乾燥時や保存時に揮発せず、安定性が良好である。また、反応開始剤は、単独で用いても、2種以上を組み合わせて用いてもよい。 Examples of reaction initiators include organic peroxides such as α,α'-bis(t-butylperoxy-m-isopropyl)benzene, 2,5-dimethyl-2,5-di(t-butylperoxy)-3-hexyne, benzoyl peroxide, 3,3',5,5'-tetramethyl-1,4-diphenoquinone, chloranil, 2,4,6-tri-t-butylphenoxyl, t-butylperoxyisopropyl monocarbonate, and azobisisobutyronitrile. If necessary, a carboxylate metal salt or the like can be used in combination. By doing so, the curing reaction can be further accelerated. Among these, α,α'-bis(t-butylperoxy-m-isopropyl)benzene is preferably used. Since α,α'-bis(t-butylperoxy-m-isopropyl)benzene has a relatively high reaction initiation temperature, it can suppress the acceleration of the curing reaction at the time when curing is not required, such as when drying the prepreg, and can suppress the deterioration of the storage stability of the polyphenylene ether resin composition. Furthermore, α,α'-bis(t-butylperoxy-m-isopropyl)benzene has low volatility and does not volatilize during drying or storage of the prepreg, providing good stability. The reaction initiator may be used alone or in combination of two or more types.

反応開始剤の含有量は、樹脂組成物の固形分100重量%中、0.2~5重量%、好ましくは0.25~3重量%、より好ましくは0.3~2重量%である。上記下限値以上とすることにより、低誘電特性を実現できる。上記上限値以下とすることにより、樹脂残渣を抑制できる。 The content of the reaction initiator is 0.2 to 5% by weight, preferably 0.25 to 3% by weight, and more preferably 0.3 to 2% by weight, based on 100% by weight of the solid content of the resin composition. By making the content equal to or greater than the lower limit, low dielectric properties can be achieved. By making the content equal to or less than the upper limit, resin residue can be suppressed.

(充填材)
樹脂組成物は、充填材を含む。充填材は、有機充填材及び無機充填材の少なくとも一方を含む。
適度な弾性率、低誘電正接を得る観点から、無機充填材を用いてもよい。
(Filling material)
The resin composition includes a filler. The filler includes at least one of an organic filler and an inorganic filler.
From the viewpoint of obtaining an appropriate elastic modulus and a low dielectric tangent, an inorganic filler may be used.

無機充填材としては、例えば、タルク、焼成クレー、未焼成クレー、マイカ、ガラス等のケイ酸塩;酸化チタン、アルミナ、ベーマイト、シリカ、溶融シリカ等の酸化物;炭酸カルシウム、炭酸マグネシウム、ハイドロタルサイト等の炭酸塩;水酸化アルミニウム、水酸化マグネシウム、水酸化カルシウム等の水酸化物;硫酸バリウム、硫酸カルシウム、亜硫酸カルシウム等の硫酸塩または亜硫酸塩;ホウ酸亜鉛、メタホウ酸バリウム、ホウ酸アルミニウム、ホウ酸カルシウム、ホウ酸ナトリウム等のホウ酸塩;窒化アルミニウム、窒化ホウ素、窒化ケイ素、窒化炭素等の窒化物;チタン酸ストロンチウム、チタン酸バリウム等のチタン酸塩等を挙げることができる。
これらの中でも、タルク、アルミナ、ガラス、シリカ、マイカ、水酸化アルミニウム、水酸化マグネシウムが好ましく、弾性率と低誘電正接、樹脂残渣の低減を両立する観点から、シリカがより好ましい。
これらの中から、1種類を単独で用いてもよく、2種類以上を併用してもよい。
Examples of inorganic fillers include silicates such as talc, calcined clay, uncalcined clay, mica, and glass; oxides such as titanium oxide, alumina, boehmite, silica, and fused silica; carbonates such as calcium carbonate, magnesium carbonate, and hydrotalcite; hydroxides such as aluminum hydroxide, magnesium hydroxide, and calcium hydroxide; sulfates or sulfites such as barium sulfate, calcium sulfate, and calcium sulfite; borates such as zinc borate, barium metaborate, aluminum borate, calcium borate, and sodium borate; nitrides such as aluminum nitride, boron nitride, silicon nitride, and carbon nitride; and titanates such as strontium titanate and barium titanate.
Among these, talc, alumina, glass, silica, mica, aluminum hydroxide, and magnesium hydroxide are preferable, and from the viewpoint of achieving both an elastic modulus, a low dielectric tangent, and a reduction in resin residue, silica is more preferable.
Among these, one type may be used alone, or two or more types may be used in combination.

無機充填材の平均粒子径は、0.01μm以上が好ましく、0.05μm以上がより好ましい。成分(C)の平均粒子径が上記下限値以上であると、ワニスの粘度が高くなるのを抑制でき、絶縁層作製時の作業性を向上させることができる。また、無機充填材の平均粒子径は、5.0μm以下が好ましく、2.0μm以下がより好ましく、1.5μm以下がさらに好ましい。成分(C)の平均粒子径が上記上限値以下であると、ワニス中で成分(C)の沈降等の現象を抑制でき、より均一な樹脂層を得ることができる。 The average particle diameter of the inorganic filler is preferably 0.01 μm or more, and more preferably 0.05 μm or more. When the average particle diameter of component (C) is equal to or more than the above lower limit, the viscosity of the varnish can be prevented from increasing, and the workability during the preparation of the insulating layer can be improved. In addition, the average particle diameter of the inorganic filler is preferably 5.0 μm or less, more preferably 2.0 μm or less, and even more preferably 1.5 μm or less. When the average particle diameter of component (C) is equal to or less than the above upper limit, phenomena such as settling of component (C) in the varnish can be prevented, and a more uniform resin layer can be obtained.

無機充填材の平均粒子径は、例えば、レーザー回折式粒度分布測定装置(HORIBA社製、LA-500)により、粒子の粒度分布を体積基準で測定し、そのメディアン径(D50)を平均粒子径とすることができる。 The average particle size of the inorganic filler can be determined by measuring the particle size distribution of the particles on a volume basis using, for example, a laser diffraction particle size distribution measuring device (LA-500, manufactured by HORIBA), and taking the median diameter (D 50 ) as the average particle size.

無機充填材は、平均粒子径が単分散のものを用いてもよいし、平均粒子径が多分散のものを用いてもよい。さらに平均粒子径が単分散および/または多分散を1種類または2種類以上で併用してもよい。 The inorganic filler may have a monodisperse average particle size, or may have a polydisperse average particle size. Furthermore, one or more types of monodisperse and/or polydisperse average particle sizes may be used in combination.

無機充填材としては、シリカ粒子が好ましく、平均粒子径5.0μm以下のシリカ粒子が好ましく、平均粒子径0.1μm以上4.0μm以下のシリカ粒子がより好ましく、0.2μm以上2.0μm以下のシリカ粒子がさらに好ましい。これにより、成分(C)の充填性をさらに向上させることができる。 As the inorganic filler, silica particles are preferred, with silica particles having an average particle size of 5.0 μm or less being preferred, silica particles having an average particle size of 0.1 μm to 4.0 μm being more preferred, and silica particles having an average particle size of 0.2 μm to 2.0 μm being even more preferred. This can further improve the filling property of component (C).

充填材の含有量は、樹脂組成物の固形分100重量%中、45~70重量%、好ましくは48~68重量%、より好ましくは50~65重量%である。上記下限値以上とすることにより、低誘電特性及び良好な弾性率を実現できる。上記上限値以下とすることにより、組成物の取り扱い性を向上できる。
また、無機充填材の含有量は、上記充填材の含有量の範囲と同様の範囲を採用してもよい。
The content of the filler is 45 to 70% by weight, preferably 48 to 68% by weight, and more preferably 50 to 65% by weight, based on 100% by weight of the solid content of the resin composition. By making the content equal to or greater than the lower limit, low dielectric properties and good elastic modulus can be achieved. By making the content equal to or less than the upper limit, the handleability of the composition can be improved.
The content of the inorganic filler may be in the same range as the above-mentioned range of the content of the filler.

(窒素系難燃剤)
樹脂組成物は、窒素系難燃剤を含む。
窒素系難燃剤は、メチロールメラミン化合物、その誘導体、及びこれらの縮合物からなる群から選ばれる一または二以上を含む。この中でも、メチロールメラミン化合物及び/又はその縮合物を用いることが好ましい。
(Nitrogen-based flame retardant)
The resin composition contains a nitrogen-based flame retardant.
The nitrogen-based flame retardant includes one or more selected from the group consisting of methylolmelamine compounds, derivatives thereof, and condensates thereof. Among these, it is preferable to use a methylolmelamine compound and/or a condensate thereof.

メチロールメラミン化合物は、1分子内に1個~6個のメチロール基を有するメチロールメラミン、すなわち、メラミン-ホルムアルデヒド初期縮合物を一または二以上含む。
メチロールメラミン化合物は、モノメチロールメラミン、ジメチロールメラミン、トリメチロールメラミン、テトラメチロールメラミン、ペンタメチロールメラミン、及びヘキサメチロールメラミンからなるメチロールメラミン類から選ばれるは二以上を含む混合物でもよい。
メチロールメラミン化合物は、25℃において粉末状で構成されてもよい。
The methylolmelamine compound contains one or more methylolmelamines having 1 to 6 methylol groups in one molecule, that is, melamine-formaldehyde initial condensates.
The methylolmelamine compound may be a mixture containing two or more methylolmelamines selected from the group consisting of monomethylolmelamine, dimethylolmelamine, trimethylolmelamine, tetramethylolmelamine, pentamethylolmelamine, and hexamethylolmelamine.
The methylol melamine compound may be constituted in a powder form at 25°C.

メチロールメラミンは、メラミン中の1~3個のアミノ基に1~6個のホルムアルデヒドが付加反応して、少なくなくとも1個以上の-NHのHを-CHOHに置き換えること、すなわち、メラミンのメチロール化により得られる。 Methylolmelamine is obtained by addition reaction of 1 to 6 formaldehyde groups with 1 to 3 amino groups in melamine to replace at least one H of --NH.sub.2 with --CH.sub.2OH , that is, by methylolation of melamine.

メチロールメラミン化合物の誘導体は、メラミンがメチロール基以外の官能基を有してもよく、例えば、メチロール基にアルコールが付加してなるアルキルエーテル基を有するものが挙げられる。 In the case of derivatives of methylol melamine compounds, the melamine may have a functional group other than the methylol group, for example, an alkyl ether group formed by adding an alcohol to the methylol group.

メチロールメラミン化合物の縮合物は、1種又は2種以上のメチロールメラミン類(メラミン-ホルムアルデヒド初期縮合物)とホルムアルデヒドとの重縮合反応により得られるメラミン-ホルムアルデヒド樹脂が挙げられる。 Condensates of methylol melamine compounds include melamine-formaldehyde resins obtained by polycondensation of one or more methylol melamines (melamine-formaldehyde initial condensates) with formaldehyde.

メチロールメラミン化合物、その誘導体、及びこれらの縮合物は、メチロールメラミン化合物、その誘導体、及びこれらの縮合物の単体で構成されてもよく、他の材料との複合化物で構成されてもよい。
複合化物の一例として、例えば、シリカなどの無機材料が挙げられる。
例えば、メチロールメラミン化合物の縮合物(メラミン樹脂)とシリカとの複合化物は、粒子状であってもよい。複合化物粒子中、その表層の一部又は全体がメチロールメラミン化合物の縮合物で構成されてもよい。
The methylol melamine compound, its derivative, and its condensate may be composed of a simple substance such as the methylol melamine compound, its derivative, or its condensate, or may be composed of a composite with another material.
An example of a composite material is an inorganic material such as silica.
For example, a composite of a condensate of a methylolmelamine compound (melamine resin) and silica may be in the form of particles. A part or the entire surface layer of the composite particle may be composed of the condensate of a methylolmelamine compound.

メチロールメラミン化合物の縮合物は、25℃において粒子状に構成されてもよい。
粒子状の縮合物は、平均粒子径が、例えば、0.1μm~50μm、好ましくは0.1μm~10μmで構成されてもよい。
The condensation product of the methylolmelamine compound may be constituted in a particulate form at 25°C.
The particulate condensate may have an average particle size of, for example, 0.1 μm to 50 μm, preferably 0.1 μm to 10 μm.

メチロールメラミン化合物及び/またはその縮合物の含有量の下限は、例えば、樹脂組成物の固形分100質量%中、1.0質量%以上であることが好ましく、2.0質量%以上であることがより好ましく、3.5質量%以上であることがさらに好ましい。これによって、絶縁層の難燃性を向上させつつ、線膨張係数を低減できる。また、熱時弾性率を高めることも可能である。
一方、メチロールメラミン化合物及び/またはその縮合物の含有量の上限は、例えば、樹脂組成物の固形分100質量%中、20質量%以下であることが好ましく、15質量%以下であることがより好ましく、10質量%以下であることが更に好ましい。これにより、低誘電特性等の諸物性のバランスを図ることができる。また、樹脂組成物がワニス状の場合、その塗工性の低下を抑制できる。
The lower limit of the content of the methylolmelamine compound and/or its condensate is, for example, preferably 1.0% by mass or more, more preferably 2.0% by mass or more, and even more preferably 3.5% by mass or more, based on 100% by mass of the solid content of the resin composition. This makes it possible to improve the flame retardancy of the insulating layer while reducing the linear expansion coefficient. It is also possible to increase the hot elastic modulus.
On the other hand, the upper limit of the content of the methylolmelamine compound and/or its condensate is, for example, preferably 20% by mass or less, more preferably 15% by mass or less, and even more preferably 10% by mass or less, based on 100% by mass of the solid content of the resin composition. This allows for a balance of various physical properties such as low dielectric properties. In addition, when the resin composition is in the form of a varnish, the deterioration of its coatability can be suppressed.

本実施形態の樹脂組成物は、上記の成分に加えて、必要に応じて、他の添加剤を含んでもよい。
他の添加剤としては、例えば、硬化促進剤、シランカップリング剤、粘着性付与剤、界面活性剤、熱可塑性樹脂、顔料、染料、消泡剤、レベリング剤、紫外線吸収剤、発泡剤、酸化防止剤、熱安定剤、帯電防止剤、その他の難燃剤、イオン捕捉、滑剤、分散剤等が挙げられる。これらは、本発明の目的を損なわない範囲で、単独で用いても2種以上を組み合わせて用いてもよい。
なお、樹脂組成物は、リン系難燃剤を含まないように構成されてもよい。
The resin composition of the present embodiment may contain other additives, if necessary, in addition to the above components.
Examples of other additives include curing accelerators, silane coupling agents, tackifiers, surfactants, thermoplastic resins, pigments, dyes, defoamers, leveling agents, UV absorbers, foaming agents, antioxidants, heat stabilizers, antistatic agents, other flame retardants, ion traps, lubricants, dispersants, etc. These may be used alone or in combination of two or more kinds, as long as the object of the present invention is not impaired.
The resin composition may be configured so as not to contain a phosphorus-based flame retardant.

本実施形態の樹脂組成物の特性について説明する。 The characteristics of the resin composition of this embodiment are described below.

樹脂組成物の硬化物における、25℃、1GHzで測定された誘電正接は、例えば、0.0050以下、好ましくは0.0045以下、より好ましくは0.0040以下である。これにより、低誘電特性に優れた絶縁層を実現できる。 The dielectric loss tangent of the cured resin composition measured at 25°C and 1 GHz is, for example, 0.0050 or less, preferably 0.0045 or less, and more preferably 0.0040 or less. This makes it possible to realize an insulating layer with excellent low dielectric properties.

樹脂組成物の硬化物における、25℃、1GHzで測定された誘電率は、例えば、3.90以下、好ましくは3.80以下、より好ましくは3.75以下である。これにより、低誘電特性に優れた絶縁層を実現できる。 The dielectric constant of the cured resin composition measured at 25°C and 1 GHz is, for example, 3.90 or less, preferably 3.80 or less, and more preferably 3.75 or less. This makes it possible to realize an insulating layer with excellent low dielectric properties.

樹脂組成物の硬化物における、25℃、10GHzで測定された誘電正接は、例えば、0.0080以下、好ましくは0.0070以下、より好ましくは0.0060以下である。これにより、低誘電特性に優れた絶縁層を実現できる。 The dielectric loss tangent of the cured resin composition measured at 25°C and 10 GHz is, for example, 0.0080 or less, preferably 0.0070 or less, and more preferably 0.0060 or less. This makes it possible to realize an insulating layer with excellent low dielectric properties.

本実施形態の樹脂組成物は、溶剤を含むワニス状組成物としてもよく、フィルム状組成物としてもよい。例えば、ワニス状の樹脂組成物を塗布して得られる塗布膜に対し溶剤除去処理を行うことにより、フィルム状組成物を得ることができる。 The resin composition of this embodiment may be a varnish-like composition containing a solvent, or a film-like composition. For example, a film-like composition can be obtained by applying a varnish-like resin composition to a coating film obtained by performing a solvent removal process.

上記溶剤としては、たとえばアセトン、メチルエチルケトン、メチルイソブチルケトン、トルエン、酢酸エチル、シクロヘキサン、ヘプタン、シクロヘキサン、シクロヘキサノン、テトラヒドロフラン、ジメチルホルムアミド、ジメチルアセトアミド、ジメチルスルホキシド、エチレングリコール、セルソルブ系、カルビトール系、アニソール、およびN-メチルピロリドン等の有機溶剤が挙げられる。これらを単独で用いても2種以上を組み合わせて用いてもよい。 Examples of the above solvents include organic solvents such as acetone, methyl ethyl ketone, methyl isobutyl ketone, toluene, ethyl acetate, cyclohexane, heptane, cyclohexane, cyclohexanone, tetrahydrofuran, dimethylformamide, dimethylacetamide, dimethylsulfoxide, ethylene glycol, cellosolve-based solvents, carbitol-based solvents, anisole, and N-methylpyrrolidone. These may be used alone or in combination of two or more.

樹脂組成物がワニス状である場合において、樹脂組成物の固形分含有量は、たとえば30重量%以上80重量%以下としてもよく、より好ましくは40重量%以上70重量%以下としてもよい。これにより、作業性や成膜性に非常に優れた樹脂組成物が得られる。 When the resin composition is in the form of a varnish, the solid content of the resin composition may be, for example, 30% by weight or more and 80% by weight or less, and more preferably 40% by weight or more and 70% by weight or less. This results in a resin composition with excellent workability and film-forming properties.

ワニス状の樹脂組成物は、上述の各成分を、たとえば、超音波分散方式、高圧衝突式分散方式、高速回転分散方式、ビーズミル方式、高速せん断分散方式、および自転公転式分散方式などの各種混合機を用いて溶剤中に溶解、混合、撹拌することにより調製することができる。 The varnish-like resin composition can be prepared by dissolving, mixing, and stirring the above-mentioned components in a solvent using various mixers, such as those using ultrasonic dispersion, high-pressure collision dispersion, high-speed rotation dispersion, bead mill, high-speed shear dispersion, and rotation-revolution dispersion.

また、本実施形態の樹脂組成物の利用形態としては、特に限定されないが、例えば、上記樹脂組成物からなる樹脂膜、上記樹脂膜をキャリア基材上に設けたキャリア付樹脂膜、上記樹脂組成物の硬化物で構成された絶縁層を備える樹脂基板、上記樹脂組成物を繊維基材に含浸してなるプリプレグ、これらの一面に金属層が配置された金属張積層板、上記樹脂組成物の硬化物で構成された絶縁層を備える樹脂基板、上記金属張積層板の表面に回路層が形成されたプリント配線基板等が挙げられる。 The resin composition of the present embodiment may be used in a form that is not particularly limited, but may be used in a resin film made of the resin composition, a resin film with a carrier in which the resin film is provided on a carrier substrate, a resin substrate having an insulating layer made of a cured product of the resin composition, a prepreg made by impregnating a fiber substrate with the resin composition, a metal-clad laminate having a metal layer disposed on one surface of the prepreg, a resin substrate having an insulating layer made of a cured product of the resin composition, a printed wiring board having a circuit layer formed on the surface of the metal-clad laminate, and the like.

(キャリア付き樹脂膜)
図1は、本実施形態におけるキャリア付樹脂膜100の構成の一例を示す断面図である。
本実施形態のキャリア付樹脂膜100は、図1に示すように、キャリア基材12と、キャリア基材12上に設けられている、上記樹脂組成物からなる樹脂膜10と、を備えることができる。これにより、樹脂膜10のハンドリング性を向上させることができる。
(Resin film with carrier)
FIG. 1 is a cross-sectional view showing an example of the configuration of a carrier-attached resin film 100 in this embodiment.
1, the resin film 100 with a carrier of this embodiment can include a carrier base material 12 and a resin film 10 made of the above-mentioned resin composition provided on the carrier base material 12. This can improve the handleability of the resin film 10.

キャリア付樹脂膜100は、巻き取り可能なロール形状でも、矩形形状などの枚葉形状(シート状)であってもよい。 The resin film 100 with carrier may be in a roll shape that can be wound up, or in a rectangular or other discrete (sheet) shape.

キャリア基材12としては、例えば、高分子フィルムや金属箔などを用いることができる。
高分子フィルムとしては、特に限定されないが、例えば、ポリエチレン、ポリプロピレン等のポリオレフィン、ポリエチレンテレフタレート、ポリブチレンテレフタレートなどのポリエステル、ポリカーボネート、シリコーンシート等の離型紙、フッ素系樹脂、ポリイミド樹脂などの耐熱性を有した熱可塑性樹脂シート等が挙げられる。
金属箔としては、特に限定されないが、例えば、銅および\または銅系合金、アルミおよび\またはアルミ系合金、鉄および\または鉄系合金、銀および\または銀系合金、金および金系合金、亜鉛および亜鉛系合金、ニッケルおよびニッケル系合金、錫および錫系合金などが挙げられる。これらの中でも、ポリエチレンテレフタレートで構成されるシートが安価および剥離強度の調節が簡便なため最も好ましい。これにより、上記キャリア付樹脂膜100から、適度な強度で剥離することが容易となる。
The carrier substrate 12 may be, for example, a polymer film or a metal foil.
Examples of polymer films include, but are not limited to, polyolefins such as polyethylene and polypropylene, polyesters such as polyethylene terephthalate and polybutylene terephthalate, polycarbonates, release papers such as silicone sheets, and heat-resistant thermoplastic resin sheets such as fluorine-based resins and polyimide resins.
The metal foil is not particularly limited, but may be, for example, copper and/or copper-based alloys, aluminum and/or aluminum-based alloys, iron and/or iron-based alloys, silver and/or silver-based alloys, gold and/or gold-based alloys, zinc and/or zinc-based alloys, nickel and/or nickel-based alloys, tin and/or tin-based alloys, etc. Among these, a sheet made of polyethylene terephthalate is most preferable because it is inexpensive and the peel strength can be easily adjusted. This makes it easy to peel off the sheet from the resin film 100 with the carrier with a moderate strength.

樹脂膜10の厚みの下限値は、特に限定されないが、例えば、1μm以上でもよく、3μm以上でもよく、5μm以上でもよい。これにより、樹脂膜10の機械強度を高めることができる。一方、樹脂膜10の厚みの上限値は、特に限定されないが、例えば、500μm以下としてもよく、300μm以下としてもよく、100μm以下としてもよい。これにより、半導体装置の薄層化を図ることができる。 The lower limit of the thickness of the resin film 10 is not particularly limited, but may be, for example, 1 μm or more, 3 μm or more, or 5 μm or more. This allows the mechanical strength of the resin film 10 to be increased. On the other hand, the upper limit of the thickness of the resin film 10 is not particularly limited, but may be, for example, 500 μm or less, 300 μm or less, or 100 μm or less. This allows the semiconductor device to be made thinner.

キャリア基材12の厚みは、特に限定されないが、例えば、10~100μmとしてもよく、10~70μmとしてもよい。これにより、キャリア付樹脂膜100を製造する際の取り扱い性が良好であり好ましい。 The thickness of the carrier substrate 12 is not particularly limited, but may be, for example, 10 to 100 μm, or 10 to 70 μm. This provides good handleability when manufacturing the carrier-attached resin film 100, which is preferable.

キャリア付樹脂膜100は、単層でも多層でもよく、1種または2種以上の樹脂膜10を含むことができる。当該樹脂シートが多層の場合、同種で構成されてもよく、異種で構成されてもよい。また、キャリア付樹脂膜100は、樹脂膜10上の最外層側に、保護膜を有していてもよい。 The resin film 100 with a carrier may be a single layer or a multilayer, and may contain one or more types of resin film 10. When the resin sheet is a multilayer, it may be composed of the same type or different types. In addition, the resin film 100 with a carrier may have a protective film on the outermost layer side on the resin film 10.

本実施形態において、キャリア付樹脂膜100を形成する方法としては、特に限定されないが、例えば、ワニス状の樹脂組成物をキャリア基材12上に、各種コーター装置を用いて塗布することにより塗布膜を形成した後、当該塗布膜を適切に乾燥させることにより溶剤を除去する方法を用いることができる。 In this embodiment, the method for forming the carrier-attached resin film 100 is not particularly limited, but for example, a method can be used in which a coating film is formed by applying a varnish-like resin composition onto the carrier substrate 12 using various coater devices, and then the coating film is appropriately dried to remove the solvent.

本実施形態の樹脂膜は、ワニス状である上記樹脂組成物をフィルム化することにより得ることができる。例えば、本実施形態の樹脂膜は、ワニス状の樹脂組成物を塗布して得られた塗布膜に対して、溶剤を除去することにより得ることができる。このような樹脂膜においては、溶剤含有率が樹脂膜全体に対して5重量%以下とすることができる。本実施形態において、たとえば100℃~150℃、1分~5分の条件で溶剤を除去する工程を実施してもよい。これにより、熱硬化性樹脂を含む樹脂膜の硬化が進行することを抑制しつつ、十分に溶剤を除去することが可能となる。 The resin film of this embodiment can be obtained by forming the above-mentioned resin composition in a varnish form into a film. For example, the resin film of this embodiment can be obtained by removing the solvent from a coating film obtained by applying the resin composition in a varnish form. In such a resin film, the solvent content can be 5% by weight or less based on the entire resin film. In this embodiment, the step of removing the solvent can be carried out under conditions of, for example, 100°C to 150°C and 1 minute to 5 minutes. This makes it possible to sufficiently remove the solvent while suppressing the progress of curing of the resin film containing the thermosetting resin.

(樹脂基板)
本実施形態の樹脂基板は、上記の樹脂組成物の硬化物で構成された絶縁層を備える。このような樹脂基板は、ガラス繊維を含まないコアレス基板として、プリント配線基板に利用することができる。
(Resin substrate)
The resin substrate of the present embodiment includes an insulating layer made of the cured product of the resin composition. Such a resin substrate can be used as a printed wiring board as a coreless substrate that does not contain glass fibers.

(プリプレグ)
本実施形態のプリプレグは、上記の樹脂組成物中に繊維基材を含む。
このプリプレグは、例えば、樹脂組成物を繊維基材に含浸させることにより形成できる。
プリプレグは、半硬化させて得られるシート状の材料として利用できる。このような構造のシート状材料は、誘電特性、高温多湿下での機械的、電気的接続信頼性等の各種特性に優れ、プリント配線基板の絶縁層の製造に適している。
(Prepreg)
The prepreg of the present embodiment contains a fiber base material in the above-mentioned resin composition.
The prepreg can be formed, for example, by impregnating a fiber base material with a resin composition.
Prepregs can be used as semi-cured sheet-like materials. Sheet-like materials with such structures have excellent properties such as dielectric properties and mechanical and electrical connection reliability under high temperature and humidity, and are suitable for producing insulating layers for printed wiring boards.

樹脂組成物を繊維基材に含浸させる方法としては、特に限定されないが、例えば、樹脂組成物を溶剤に溶かして樹脂ワニスを調製し、繊維基材を上記樹脂ワニスに浸漬する方法、各種コーターにより上記樹脂ワニスを繊維基材に塗布する方法、スプレーにより上記樹脂ワニスを繊維基材に吹き付ける方法、樹脂組成物からなる上記樹脂膜で繊維基材の両面をラミネートする方法等が挙げられる。 The method of impregnating the fiber substrate with the resin composition is not particularly limited, but examples include a method of dissolving the resin composition in a solvent to prepare a resin varnish and immersing the fiber substrate in the resin varnish, a method of applying the resin varnish to the fiber substrate using various coaters, a method of spraying the resin varnish onto the fiber substrate using a sprayer, and a method of laminating both sides of the fiber substrate with the resin film made of the resin composition.

上記繊維基材としては、とくに限定されないが、ガラス織布、ガラス不織布等のガラス繊維基材;ポリアミド樹脂繊維、芳香族ポリアミド樹脂繊維、全芳香族ポリアミド樹脂繊維等のポリアミド系樹脂繊維;ポリエステル樹脂繊維、芳香族ポリエステル樹脂繊維、全芳香族ポリエステル樹脂繊維等のポリエステル系樹脂繊維;ポリイミド樹脂繊維、フッ素樹脂繊維のいずれかを主成分とする織布または不織布で構成される合成繊維基材;クラフト紙、コットンリンター紙、あるいはリンターとクラフトパルプの混抄紙等を主成分とする紙基材;等が挙げられる。これらのうち、いずれかを使用することができる。これらの中でもガラス繊維基材が好ましい。これにより、低吸水性で、高強度、低熱膨張性の樹脂基板を得ることができる。 The fiber substrate may be, but is not limited to, a glass fiber substrate such as a woven glass fabric or a nonwoven glass fabric; a polyamide resin fiber such as a polyamide resin fiber, an aromatic polyamide resin fiber, or a wholly aromatic polyamide resin fiber; a polyester resin fiber such as a polyester resin fiber, an aromatic polyester resin fiber, or a wholly aromatic polyester resin fiber; a synthetic fiber substrate made of a woven or nonwoven fabric mainly composed of a polyimide resin fiber or a fluororesin fiber; a paper substrate mainly composed of a kraft paper, a cotton linter paper, or a mixed paper of a linter and a kraft pulp; etc. Any of these may be used. Among these, a glass fiber substrate is preferable. This allows a resin substrate to be obtained that is low in water absorption, high in strength, and low in thermal expansion.

繊維基材の厚みは、とくに限定されないが、好ましくは5μm以上150μm以下であり、より好ましくは10μm以上100μm以下であり、さらに好ましくは12μm以上90μm以下である。このような厚みを有する繊維基材を用いることにより、プリプレグ製造時のハンドリング性がさらに向上できる。
繊維基材の厚みが上記上限値以下であると、繊維基材中の樹脂組成物の含浸性が向上し、ストランドボイドや絶縁信頼性の低下の発生を抑制することができる。また炭酸ガス、UV、エキシマ等のレーザーによるスルーホールの形成を容易にすることができる。また、繊維基材の厚みが上記下限値以上であると、繊維基材やプリプレグの強度を向上させることができる。その結果、ハンドリング性が向上できたり、プリプレグの作製が容易となったり、基板の反りを抑制できたりする。
The thickness of the fiber base material is not particularly limited, but is preferably 5 μm to 150 μm, more preferably 10 μm to 100 μm, and even more preferably 12 μm to 90 μm. By using a fiber base material having such a thickness, the handleability during prepreg production can be further improved.
When the thickness of the fiber substrate is equal to or less than the upper limit, the impregnation of the resin composition in the fiber substrate is improved, and the occurrence of strand voids and deterioration of insulation reliability can be suppressed. In addition, the formation of through holes by carbon dioxide, UV, excimer, or other lasers can be facilitated. In addition, when the thickness of the fiber substrate is equal to or more than the lower limit, the strength of the fiber substrate and prepreg can be improved. As a result, the handling property can be improved, the preparation of prepreg can be facilitated, and warping of the substrate can be suppressed.

上記ガラス繊維基材として、例えば、Eガラス、Sガラス、Dガラス、Tガラス、NEガラス、UTガラス、Lガラス、HPガラスおよび石英ガラスから選ばれる一種または二種以上のガラスにより形成されたガラス繊維基材が好適に用いられる。 As the glass fiber substrate, for example, a glass fiber substrate formed from one or more types of glass selected from E glass, S glass, D glass, T glass, NE glass, UT glass, L glass, HP glass, and quartz glass is preferably used.

本実施形態において、プリプレグは、例えば、プリント配線基板におけるコア層中の絶縁層やビルドアップ層を形成するために用いることができる。
プリプレグをプリント配線基板におけるコア層中の絶縁層を形成するために用いる場合は、例えば、2枚以上のプリプレグを重ね、得られた積層体を加熱硬化することによりコア層用の絶縁層とすることもできる。
In this embodiment, the prepreg can be used to form, for example, an insulating layer in a core layer or a build-up layer in a printed wiring board.
When the prepreg is used to form an insulating layer in a core layer of a printed wiring board, for example, two or more prepregs can be stacked and the resulting laminate can be heat-cured to form an insulating layer for the core layer.

(金属張積層板)
本実施形態の金属張積層板は、上記樹脂組成物からなる樹脂膜、上記樹脂基板、又は上記プリプレグの少なくとも一方の面上に金属層が配置された構造を備える。
(Metal-clad laminate)
The metal-clad laminate of the present embodiment has a structure in which a metal layer is disposed on at least one surface of the resin film made of the resin composition, the resin substrate, or the prepreg.

また、プリプレグを用いた金属張積層板製造方法は、例えば以下の通りである。
プリプレグまたはプリプレグを2枚以上重ね合わせた積層体の外側の上下両面または片面に金属箔を重ね、ラミネーター装置やベクレル装置を用いて高真空条件下でこれらを接合する、あるいはそのままプリプレグの外側の上下両面または片面に金属箔を重ねる。また、プリプレグを2枚以上積層するときは、積層したプリプレグの最も外側の上下両面もしくは片面に金属箔を重ねる。次いで、プリプレグと金属箔とを重ねた積層体を、加熱加圧成形することで金属張積層板を得ることができる。ここで、加熱加圧成形時に、冷却終了時まで加圧を継続することが好ましい。
上記金属張積層板製造方法は、上記プリプレグに代えて、上記樹脂膜や上記樹脂基板を用いて加熱加圧成形する方法を使用してもよい。
A method for producing a metal-clad laminate using a prepreg is, for example, as follows.
A metal foil is placed on both the upper and lower sides or one side of the outer side of a prepreg or a laminate of two or more prepregs, and these are bonded under high vacuum conditions using a laminator or Becquerel device, or a metal foil is placed on both the upper and lower sides or one side of the outer side of the prepreg as is. When two or more prepregs are laminated, a metal foil is placed on both the upper and lower sides or one side of the outermost side of the laminated prepregs. Next, the laminate of the prepreg and the metal foil is heated and pressurized to obtain a metal-clad laminate. Here, it is preferable to continue pressing until the end of cooling during the heating and pressurizing.
The above-mentioned metal-clad laminate manufacturing method may employ a method of hot-press molding using the above-mentioned resin film or the above-mentioned resin substrate instead of the above-mentioned prepreg.

上記金属箔を構成する金属としては、例えば、銅、銅系合金、アルミ、アルミ系合金、銀、銀系合金、金、金系合金、亜鉛、亜鉛系合金、ニッケル、ニッケル系合金、錫、錫系合金、鉄、鉄系合金、コバール(商標名)、42アロイ、インバー、スーパーインバー等のFe-Ni系の合金、W、Mo等が挙げられる。これらの中でも、金属箔105を構成する金属としては、導電性に優れ、エッチングによる回路形成が容易であり、また安価であることから銅または銅合金が好ましい。すなわち、金属箔105としては、銅箔が好ましい。
また、金属箔としては、キャリア付金属箔等も使用することができる。
金属箔の厚みは、好ましくは0.5μm以上20μm以下であり、より好ましくは1.5μm以上18μm以下である。
Examples of metals constituting the metal foil include copper, copper-based alloys, aluminum, aluminum-based alloys, silver, silver-based alloys, gold, gold-based alloys, zinc, zinc-based alloys, nickel, nickel-based alloys, tin, tin-based alloys, iron, iron-based alloys, Fe-Ni-based alloys such as Kovar (trade name), 42 alloy, Invar, and Super Invar, W, and Mo. Among these, the metal constituting the metal foil 105 is preferably copper or a copper alloy because it has excellent conductivity, is easy to form a circuit by etching, and is inexpensive. That is, copper foil is preferable as the metal foil 105.
As the metal foil, a metal foil with a carrier or the like can also be used.
The thickness of the metal foil is preferably 0.5 μm or more and 20 μm or less, and more preferably 1.5 μm or more and 18 μm or less.

(プリント配線基板)
本実施形態のプリント配線基板は、表面に回路層が形成された上記金属張積層板を備えてもよい。
プリント配線基板は、具体的には、上記樹脂組成物の硬化物、上記樹脂膜の硬化物、上記樹脂基板、上記プリプレグの硬化物で構成された絶縁層と、絶縁層上に形成された回路パターン(回路層)と、を備えてもよい。
(Printed wiring board)
The printed wiring board of the present embodiment may include the above-mentioned metal-clad laminate having a circuit layer formed on the surface thereof.
Specifically, the printed wiring board may include an insulating layer constituted by the cured product of the resin composition, the cured product of the resin film, the resin substrate, and the cured product of the prepreg, and a circuit pattern (circuit layer) formed on the insulating layer.

本実施形態のプリント配線基板300の一例を、図2を用いて説明する。
図2のプリント配線基板300は、絶縁層301(コア層)と、絶縁層301上に形成された金属層303(回路層)と、を備える。このプリント配線基板300は、層間絶縁層を介して複数層の回路層が積層した多層回路構造を有してもよい。
なお、プリント配線基板300は、絶縁層401(ソルダーレジスト層)をさらに備えてもよい。
An example of a printed wiring board 300 according to the present embodiment will be described with reference to FIG.
2 includes an insulating layer 301 (core layer) and a metal layer 303 (circuit layer) formed on the insulating layer 301. This printed wiring board 300 may have a multilayer circuit structure in which a plurality of circuit layers are stacked with an interlayer insulating layer interposed therebetween.
The printed wiring board 300 may further include an insulating layer 401 (solder resist layer).

プリント配線基板300中、コア層や層間絶縁層は、上記樹脂組成物の硬化物、上記樹脂膜の硬化物、上記樹脂基板、上記プリプレグの硬化物で構成された絶縁層のいずれかで構成される。 In the printed wiring board 300, the core layer and the interlayer insulating layer are composed of either the cured product of the resin composition, the cured product of the resin film, the resin substrate, or an insulating layer composed of the cured product of the prepreg.

また、プリント配線基板300は、片面プリント配線基板であってもよいし、両面プリント配線基板または多層プリント配線基板であってもよい。両面プリント配線基板とは、絶縁層301の両面に金属層303を積層したプリント配線基板である。また、多層プリント配線基板とは、メッキスルーホール法やビルドアップ法等により、コア層である絶縁層301に、ビルドアップ層を2層以上積層したプリント配線基板でもよい。 The printed wiring board 300 may be a single-sided printed wiring board, a double-sided printed wiring board, or a multi-layer printed wiring board. A double-sided printed wiring board is a printed wiring board in which metal layers 303 are laminated on both sides of an insulating layer 301. A multi-layer printed wiring board may be a printed wiring board in which two or more build-up layers are laminated on an insulating layer 301, which is a core layer, by a plated through-hole method, a build-up method, or the like.

また、本実施形態において、上記金属層303は、例えば、回路パターンであってもよいし、電極パットであってもよい。この金属層303は、例えば、金属箔105および電解金属めっき層309の金属積層構造を有していてもよい。 In this embodiment, the metal layer 303 may be, for example, a circuit pattern or an electrode pad. The metal layer 303 may have, for example, a metal laminate structure of a metal foil 105 and an electrolytic metal plating layer 309.

金属層303は、例えば、薬液処理またはプラズマ処理された金属箔105または、本実施形態の樹脂膜の硬化物からなる絶縁層(例えば、絶縁層301)の面上に、SAP(セミアディティブプロセス)法により形成される。例えば、金属箔105または絶縁層301,305上に無電解金属めっき膜308を施した後、めっきレジストにより非回路形成部を保護し、電解めっきにより電解金属めっき層309付けを行い、めっきレジストの除去とフラッシュエッチングによる電解金属めっき層309をパターニングすることにより、金属層303を形成する。 The metal layer 303 is formed by, for example, a SAP (semi-additive process) method on the surface of the metal foil 105 that has been treated with a chemical solution or plasma, or an insulating layer (e.g., insulating layer 301) made of the cured resin film of this embodiment. For example, after applying an electroless metal plating film 308 to the metal foil 105 or insulating layers 301, 305, non-circuit forming portions are protected with a plating resist, and an electrolytic metal plating layer 309 is formed by electrolytic plating, and the plating resist is removed and the electrolytic metal plating layer 309 is patterned by flash etching to form the metal layer 303.

なお、本実施形態において、ビアホール307は、層間を電気的に接続するための孔であればよく、貫通孔および非貫通孔いずれでもよい。ビアホール307は金属を埋設して形成されてもよい。この埋設した金属は、無電解金属めっき膜308で覆われた構造を有していてもよい。 In this embodiment, the via holes 307 may be holes for electrically connecting layers, and may be either through holes or non-through holes. The via holes 307 may be formed by embedding a metal. This embedded metal may have a structure covered with an electroless metal plating film 308.

また、本実施形態のプリント配線基板300は、ガラス繊維を含まない樹脂基板とすることができる。例えば、コア層である絶縁層301は、ガラス繊維を含有しない構成であってもよい。このような樹脂基板を用いた半導体パッケージにおいても、樹脂膜の硬化物の線膨張係数を低くすることができるので、パッケージ反りを十分に抑制することができる。 The printed wiring board 300 of this embodiment can be a resin board that does not contain glass fibers. For example, the insulating layer 301, which is the core layer, can be configured not to contain glass fibers. Even in a semiconductor package using such a resin board, the linear expansion coefficient of the cured resin film can be reduced, so package warpage can be sufficiently suppressed.

(半導体パッケージ)
次に、本実施形態の半導体装置400について説明する。図3は、半導体装置400の構成の一例を示す断面図である。
本実施形態の半導体装置400は、プリント配線基板300と、プリント配線基板300の回路層上に搭載された、またはプリント配線基板300に内蔵された半導体素子407と、を備えることができる。
半導体素子407は、例えば、発光ダイオード(LED)等を用いることができる。
(Semiconductor Package)
Next, a description will be given of the semiconductor device 400 of this embodiment.
The semiconductor device 400 of this embodiment can include a printed wiring board 300 and a semiconductor element 407 mounted on a circuit layer of the printed wiring board 300 or embedded in the printed wiring board 300 .
The semiconductor element 407 may be, for example, a light emitting diode (LED).

例えば、図3に示される半導体装置400は、プリント配線基板300の回路層(金属層303)の上に、半導体素子407が搭載された構造を有する。
半導体パッケージは、半田バンプ410および金属層303を介して、半導体素子407が、プリント配線基板300と電気的に接続するフリップチップ構造であってもよい。
For example, a semiconductor device 400 shown in FIG. 3 has a structure in which a semiconductor element 407 is mounted on a circuit layer (metal layer 303) of a printed wiring board 300.
The semiconductor package may have a flip-chip structure in which the semiconductor element 407 is electrically connected to the printed wiring board 300 via the solder bumps 410 and the metal layer 303 .

以上、本発明の実施形態について述べたが、これらは本発明の例示であり、上記以外の様々な構成を採用することができる。また、本発明は上述の実施形態に限定されるものではなく、本発明の目的を達成できる範囲での変形、改良等は本発明に含まれる。 The above describes the embodiments of the present invention, but these are merely examples of the present invention, and various configurations other than those described above can be adopted. Furthermore, the present invention is not limited to the above-described embodiments, and modifications and improvements within the scope of the present invention are included in the present invention.

以下、本発明について実施例を参照して詳細に説明するが、本発明は、これらの実施例の記載に何ら限定されるものではない。 The present invention will be described in detail below with reference to examples, but the present invention is not limited to the description of these examples.

<樹脂組成物の調製>
下記表1に示す固形分割合で、ポリフェニレンエーテル、架橋剤、充填材、窒素系難燃剤、及び反応開始剤等の原料成分を溶解または分散させ、メチルエチルケトンで不揮発分70質量%となるように調整し、高速撹拌装置を用い撹拌して樹脂ワニスを調製した。
<Preparation of Resin Composition>
Raw material components such as polyphenylene ether, crosslinking agent, filler, nitrogen-based flame retardant, and reaction initiator were dissolved or dispersed in the solid content ratio shown in Table 1 below, and the non-volatile content was adjusted to 70 mass % with methyl ethyl ketone. The mixture was then stirred using a high-speed stirrer to prepare a resin varnish.

以下、表1中の原料成分の情報を示す。
(充填材)
・シリカ粒子1(アドマテックス社製、SC4050-KNT、平均粒径:1.1μm)
(シランカップリング剤)
・シランカップリング剤1:ビニルトリメトキシシラン(信越シリコーン社製、KBM-1003)
(ポリフェニレンエーテル)
・ポリフェニレンエーテル1:両末端にメタクリレート基を有するポリフェニレンエーテル樹脂(SABICジャパン合同会社製、SA9000、重量平均分子量Mw=1,700)
(粘接着付与剤)
・粘接着付与剤1:クマロン樹脂(日塗化学社製、V-120S)
・粘接着付与剤2:ビニル基含有ポリブタジエン(日本曹達社製、B-1000)
(架橋剤)
・マレイミド化合物1:ビフェニルアラルキル骨格を有するビスマレイミド(日本化薬社製、MIR-3000-70T)
・1分子中に炭素-炭素不飽和二重結合を2個以上有する化合物1:トリアリルイソシアヌレート(三菱化学社製、TAIC)
(界面活性剤)
・界面活性剤1:アクリル系界面活性剤(ビックケミー社製、BYK-361N)
(反応開始剤)
・有機過酸化物1:1,3-ビス(ブチルパーオキシイソプロピル)ベンゼン(日油株式会社製、パーブチルP)
(窒素系難燃剤)
・メチロールメラミン1:水溶性メチロールメラミン(日本カーバイド工業社製、R-260、粉末状)
The information on the raw material components in Table 1 is shown below.
(Filling material)
Silica particles 1 (manufactured by Admatechs Co., Ltd., SC4050-KNT, average particle size: 1.1 μm)
(Silane coupling agent)
Silane coupling agent 1: vinyltrimethoxysilane (manufactured by Shin-Etsu Silicones, KBM-1003)
(Polyphenylene ether)
Polyphenylene ether 1: polyphenylene ether resin having methacrylate groups at both ends (SABIC Japan, SA9000, weight average molecular weight Mw = 1,700)
(Adhesiveness imparting agent)
Adhesive agent 1: Coumarone resin (manufactured by Nippon Paint Chemical Co., Ltd., V-120S)
Adhesion promoter 2: vinyl group-containing polybutadiene (manufactured by Nippon Soda Co., Ltd., B-1000)
(Crosslinking Agent)
Maleimide compound 1: bismaleimide having a biphenylaralkyl skeleton (manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd., MIR-3000-70T)
Compound 1 having two or more carbon-carbon unsaturated double bonds in one molecule: Triallyl isocyanurate (manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation, TAIC)
(Surfactant)
Surfactant 1: Acrylic surfactant (BYK-361N, manufactured by BYK-Chemie)
(Reaction initiator)
Organic peroxide 1: 1,3-bis(butylperoxyisopropyl)benzene (Perbutyl P, manufactured by NOF Corporation)
(Nitrogen-based flame retardant)
Methylolmelamine 1: Water-soluble methylolmelamine (Nippon Carbide Industries, R-260, powder form)

Figure 0007547867000008
Figure 0007547867000008

得られた樹脂組成物(樹脂ワニス)について、以下の項目について評価を行った。 The resulting resin composition (resin varnish) was evaluated for the following items:

<UL94V試験>
(プリプレグの作製)
得られた樹脂ワニスを、ガラス織布(クロスタイプ♯1078、Eガラス、坪量47.5g/m)に塗布装置で含浸させ、150℃の熱風乾燥装置で4分間乾燥して、厚さ80μmのプリプレグを得た。
得られたプリプレグを255℃で2時間加熱して硬化させ、厚さ80μmの樹脂板(試験片)を得た。
得られた試験片を127mm×12.7mmにカットした後、UL-94垂直試験に準拠して測定した。5本中、完全燃焼した試験片の本数をカウントした。
<UL94V Test>
(Preparation of prepregs)
The obtained resin varnish was impregnated into a glass woven fabric (cloth type #1078, E glass, basis weight 47.5 g/m 2 ) using a coating device, and dried for 4 minutes in a hot air dryer at 150° C. to obtain a prepreg with a thickness of 80 μm.
The obtained prepreg was heated at 255° C. for 2 hours to be cured, and a resin plate (test piece) having a thickness of 80 μm was obtained.
The obtained test pieces were cut to 127 mm x 12.7 mm, and then measured in accordance with the UL-94 vertical test. The number of test pieces that were completely burned out of the five pieces was counted.

(銅張積層板の作製)
上記(プリプレグの作製)で得られたプリプレグの両面に極薄銅箔(三井金属鉱業社製、マイクロシンFL、1.5μm)を重ね合わせ、圧力3MPa、温度225℃で2時間加熱加圧成形することにより、金属箔付き積層板を得た。得られた金属箔付き積層板のコア層(樹脂基板からなる部分)の厚みは、0.080mmであった。
(Preparation of copper-clad laminate)
Ultra-thin copper foil (Microthin FL, 1.5 μm, manufactured by Mitsui Mining & Smelting Co., Ltd.) was laminated on both sides of the prepreg obtained above (Preparation of prepreg), and heated and pressurized for 2 hours at a pressure of 3 MPa and a temperature of 225° C. to obtain a laminate with metal foil. The thickness of the core layer (portion consisting of the resin substrate) of the obtained laminate with metal foil was 0.080 mm.

<銅ピール強度>
金属箔付き積層板に電気めっきにより厚さ30μmの銅めっき膜を形成したものをサンプルとして用い、JISC6481に準拠して、90度で銅めっき膜を引き剥がしたときの銅ピール強度(kN/m)の測定を行った。
<Copper peel strength>
A 30 μm-thick copper plating film was formed by electroplating on a metal foil-attached laminate, and the copper peel strength (kN/m) was measured when the copper plating film was peeled off at 90 degrees in accordance with JIS C6481.

<誘電率、誘電正接>
金属箔付き積層板の銅箔をエッチングにより除去したものをサンプルとして用い、周波数1GHz、10GHzでの誘電率(Dk)、誘電正接(Df)を空洞共振器法で測定した。
<Dielectric constant, dielectric loss tangent>
The copper foil of the metal foil-attached laminate was removed by etching, and the resulting sample was used to measure the dielectric constant (Dk) and dielectric loss tangent (Df) at frequencies of 1 GHz and 10 GHz by a cavity resonator method.

<弾性率>
金属箔付き積層板をエッチングして銅を除去したものをサンプルとして用い、動的粘弾性装置により、JISC-6481(DMA法)に準拠し、周波数1GHz、温度250℃における弾性率(GPa)を測定した。
<Elastic modulus>
The laminate with the metal foil was etched to remove the copper, and the elastic modulus (GPa) was measured at a frequency of 1 GHz and a temperature of 250° C. using a dynamic viscoelasticity device in accordance with JIS C-6481 (DMA method).

<線膨張係数(CTE)>
金属箔付き積層板をエッチングして銅を除去し、4mm×20mmの試験片を作製し、これをサンプルとして用い、TMA(熱機械的分析)装置(TAインスツルメント社製、Q400)により、昇温速度5℃/分、温度範囲30~300℃、10℃/分、荷重5gの条件で、2サイクル目の50℃~100℃、50℃~150℃の範囲における線膨張係数(ppm/℃)を測定した。
<Coefficient of Linear Expansion (CTE)>
The laminate with the metal foil was etched to remove the copper, and a test piece of 4 mm x 20 mm was prepared. This was used as a sample, and the linear expansion coefficient (ppm/°C) in the ranges of 50°C to 100°C and 50°C to 150°C in the second cycle was measured using a TMA (thermal mechanical analysis) device (TA Instruments, Q400) under conditions of a heating rate of 5°C/min, a temperature range of 30 to 300°C, 10°C/min, and a load of 5 g.

実施例1~3の樹脂組成物は、比較例1と比べて、高難燃性及び低線膨張性に優れる結果を示した。このような実施例の樹脂組成物は、回路基板を構成する部材に好適に用いることができる。 The resin compositions of Examples 1 to 3 showed superior results in terms of high flame retardancy and low linear expansion compared to Comparative Example 1. The resin compositions of these Examples can be suitably used for components that constitute circuit boards.

10 樹脂膜
12 キャリア基材
100 キャリア付樹脂膜
105 金属箔
300 プリント配線基板
301 絶縁層
303 金属層
307 ビアホール
308 無電解金属めっき膜
309 電解金属めっき層
400 半導体装置
401 絶縁層
407 半導体素子
410 半田バンプ
Reference Signs List 10 Resin film 12 Carrier substrate 100 Resin film with carrier 105 Metal foil 300 Printed wiring board 301 Insulating layer 303 Metal layer 307 Via hole 308 Electroless metal plating film 309 Electrolytic metal plating layer 400 Semiconductor device 401 Insulating layer 407 Semiconductor element 410 Solder bump

Claims (13)

回路基板用の樹脂組成物であって、
ポリフェニレンエーテルと、
前記ポリフェニレンエーテルと反応する架橋剤と、
充填材と、
窒素系難燃剤と、を含み、
前記窒素系難燃剤が、メチロールメラミン化合物、その誘導体、及びこれらの縮合物からなる群から選ばれる一または二以上を含む、
樹脂組成物。
A resin composition for a circuit board, comprising:
Polyphenylene ether,
a crosslinking agent reactive with the polyphenylene ether;
A filler material;
A nitrogen-based flame retardant,
The nitrogen-based flame retardant contains one or more selected from the group consisting of methylolmelamine compounds, derivatives thereof, and condensates thereof.
Resin composition.
請求項1に記載の樹脂組成物であって、
前記ポリフェニレンエーテルが、下記一般式(1)で表される構造単位を有するポリマーを含む、樹脂組成物。
Figure 0007547867000009
(上記一般式(1)中、R、R、R、Rは、互いに同じまたは異なっていてもよく、水素原子、ハロゲン原子、置換されていてもよいアルキル基、置換されていてもよいアルケニル基、置換されていてもよいアルキニル基、置換されていてもよいアリール基、置換されていてもよいアラルキル基、および置換されていてもよいアルコキシ基からなる群から選ばれるいずれかを表す。)
The resin composition according to claim 1,
The resin composition, wherein the polyphenylene ether contains a polymer having a structural unit represented by the following general formula (1):
Figure 0007547867000009
(In the above general formula (1), R 1 , R 2 , R 3 and R 4 may be the same or different and represent any one selected from the group consisting of a hydrogen atom, a halogen atom, an optionally substituted alkyl group, an optionally substituted alkenyl group, an optionally substituted alkynyl group, an optionally substituted aryl group, an optionally substituted aralkyl group and an optionally substituted alkoxy group.)
請求項1又は2に記載の樹脂組成物であって、
前記架橋剤が、マレイミド化合物、シアネートエステル樹脂、フェノール樹脂、エポキシ樹脂、及び1分子中に炭素-炭素不飽和二重結合を2個以上有する化合物からなる群から選択される少なくとも一種を含む、樹脂組成物。
The resin composition according to claim 1 or 2,
The resin composition, wherein the crosslinking agent comprises at least one selected from the group consisting of a maleimide compound, a cyanate ester resin, a phenolic resin, an epoxy resin, and a compound having two or more carbon-carbon unsaturated double bonds in one molecule.
請求項1~3のいずれか一項に記載の樹脂組成物であって、
反応開始剤を含む、樹脂組成物。
The resin composition according to any one of claims 1 to 3,
A resin composition comprising a reaction initiator.
請求項4に記載の樹脂組成物であって、
前記反応開始剤が、有機過酸化物を含む、樹脂組成物。
The resin composition according to claim 4,
The resin composition, wherein the reaction initiator comprises an organic peroxide.
請求項1~5のいずれか一項に記載の樹脂組成物であって、
当該樹脂組成物の硬化物における、25℃、1GHzで測定された誘電正接が0.0050以下である、樹脂組成物。
The resin composition according to any one of claims 1 to 5,
A resin composition, in which a cured product of the resin composition has a dielectric loss tangent of 0.0050 or less, as measured at 25°C and 1 GHz.
請求項1~6のいずれか一項に記載の樹脂組成物であって、
当該樹脂組成物の硬化物における、25℃、10GHzで測定された誘電正接が0.0080以下である、樹脂組成物。
The resin composition according to any one of claims 1 to 6,
A resin composition, wherein a cured product of the resin composition has a dielectric loss tangent of 0.0080 or less, as measured at 25°C and 10 GHz.
キャリア基材と、
前記キャリア基材上に設けられている、請求項1~7のいずれか一項に記載の樹脂組成物からなる樹脂膜と、を備える、キャリア付樹脂膜。
A carrier substrate;
A resin film with a carrier, comprising: a resin film formed on the carrier base material and made of the resin composition according to any one of claims 1 to 7.
請求項1~7のいずれか一項に記載の樹脂組成物の硬化物で構成された絶縁層を備える、樹脂基板。 A resin substrate having an insulating layer made of a cured product of the resin composition according to any one of claims 1 to 7. 請求項1~7のいずれか一項に記載の樹脂組成物中に繊維基材を含むプリプレグ。 A prepreg comprising a fiber substrate in the resin composition according to any one of claims 1 to 7. 請求項1~7のいずれか一項に記載の樹脂組成物からなる樹脂膜、請求項9に記載の樹脂基板、又は請求項10に記載のプリプレグの少なくとも一方の面上に金属層が配置された、金属張積層板。 A metal-clad laminate comprising a resin film made of the resin composition according to any one of claims 1 to 7, a resin substrate according to claim 9, or a prepreg according to claim 10, on at least one surface of which a metal layer is disposed. 請求項11に記載の金属張積層板の表面に回路層が形成された、プリント配線基板。 A printed wiring board having a circuit layer formed on the surface of the metal-clad laminate according to claim 11. 請求項12に記載のプリント配線基板と、
前記プリント配線基板の回路層上に搭載された、または前記プリント配線基板に内蔵された半導体素子と、を備える、半導体装置。
The printed wiring board according to claim 12;
a semiconductor element mounted on a circuit layer of the printed wiring board or embedded in the printed wiring board.
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