JP7543862B2 - 半導体レーザ装置 - Google Patents
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Description
第1実施形態について説明する。図1に示すように、本実施形態の半導体レーザ装置1は、SOA2と、波長選択部3とを備えている。半導体レーザ装置1は、例えばレーザレーダやLiDAR(Light Detection And Ranging)などに適用される。SOA2と波長選択部3は、例えば図示しない半導体基板に半導体プロセスを施すことで形成される。
第2実施形態について説明する。本実施形態は、第1実施形態に対して活性層24の構成を変更したものであり、その他については第1実施形態と同様であるため、第1実施形態と異なる部分についてのみ説明する。
第3実施形態について説明する。本実施形態は、第1実施形態に対して利得スペクトルの極大値の数を変更したものであり、その他については第1実施形態と同様であるため、第1実施形態と異なる部分についてのみ説明する。
なお、本発明は上記した実施形態に限定されるものではなく、特許請求の範囲に記載した範囲内において適宜変更が可能である。また、上記各実施形態において、実施形態を構成する要素は、特に必須であると明示した場合および原理的に明らかに必須であると考えられる場合等を除き、必ずしも必須のものではないことは言うまでもない。また、上記各実施形態において、実施形態の構成要素の個数、数値、量、範囲等の数値が言及されている場合、特に必須であると明示した場合および原理的に明らかに特定の数に限定される場合等を除き、その特定の数に限定されるものではない。
24 活性層
242 量子ドット層
243 量子ドット層
Claims (18)
- 半導体レーザ装置であって、
第1量子ドット層(242)と、前記第1量子ドット層より発光波長が長い第2量子ドット層(243)とをそれぞれ1つ以上含む構成とされた活性層(24)を備え、
前記活性層の利得スペクトルは、前記第1量子ドット層の発光波長と、前記第2量子ドット層の発光波長とに対応して、第1波長と、前記第1波長より長い第2波長とで極大値をとり、
前記利得スペクトルの前記第1波長における極大値を第1極大値とし、
前記利得スペクトルの前記第2波長における極大値を第2極大値として、
前記第1極大値は、前記第2極大値よりも大きく、
前記活性層に含まれる前記第1量子ドット層の数は、前記第2量子ドット層の数よりも多く、
前記第1波長と前記第2波長との間の波長であって、前記利得スペクトルが極小値をとるときの波長を第3波長とし、
前記利得スペクトルの強度が最大となるときの温度をTpとして、
該温度Tpよりも低い温度TLにおける前記第2波長と、該温度Tpにおける該第3波長と、該温度Tpよりも高い温度THにおける前記第1波長とが等しいとき、
前記第1量子ドット層の数をXとし、
前記第2量子ドット層の数をYとし、
該温度Tpにおける前記第1極大値をGMAX1(Tp)とし、
該温度Tpにおける前記第2極大値をGMAX2(Tp)とし、
該温度TLにおける前記第2極大値をGMAX2(TL)とし、
該温度THにおける前記第1極大値をGMAX1(TH)として、
前記Xは、{GMAX2(TL)/GMAX2(Tp)}・{GMAX1(Tp)/GMAX1(TH)}・Yに最も近い整数である半導体レーザ装置。 - 前記第1波長と前記第2波長との間の波長であって、前記利得スペクトルが極小値をとるときの波長を第3波長とし、
前記利得スペクトルの強度が最大となるときの温度をTpとして、
該温度Tpよりも低い温度TLにおける前記第2波長と、該温度Tpにおける該第3波長と、該温度Tpよりも高い温度THにおける前記第1波長とが等しいとき、
該温度TLにおける前記第2極大値は、該温度Tpにおける前記第2極大値よりも該温度Tpにおける該極小値に近く、
該温度THにおける前記第1極大値は、該温度Tpにおける前記第1極大値よりも該温度Tpにおける前記極小値に近い請求項1に記載の半導体レーザ装置。 - 半導体レーザ装置であって、
第1量子ドット層(242)と、前記第1量子ドット層より発光波長が長い第2量子ドット層(243)とをそれぞれ1つ以上含む構成とされた活性層(24)を備え、
前記活性層の利得スペクトルは、前記第1量子ドット層の発光波長と、前記第2量子ドット層の発光波長とに対応して、第1波長と、前記第1波長より長い第2波長とで極大値をとり、
前記利得スペクトルの前記第1波長における極大値を第1極大値とし、
前記利得スペクトルの前記第2波長における極大値を第2極大値として、
前記第1極大値は、前記第2極大値よりも大きく、
前記第1波長と前記第2波長との間の波長であって、前記利得スペクトルが極小値をとるときの波長を第3波長とし、
前記利得スペクトルの強度が最大となるときの温度をTpとして、
該温度Tpよりも低い温度TLにおける前記第2波長と、該温度Tpにおける該第3波長と、該温度Tpよりも高い温度THにおける前記第1波長とが等しいとき、
該温度TLにおける前記第2極大値は、該温度Tpにおける前記第2極大値よりも該温度Tpにおける該極小値に近く、
該温度THにおける前記第1極大値は、該温度Tpにおける前記第1極大値よりも該温度Tpにおける前記極小値に近い半導体レーザ装置。 - 前記活性層に含まれる前記第1量子ドット層の数は、前記第2量子ドット層の数よりも多い請求項3に記載の半導体レーザ装置。
- 前記活性層の動作波長を選択する波長選択部(3)を備え、
前記利得スペクトルの強度が最大となるときの温度をTpとして、
前記波長選択部は、前記動作波長が、該温度Tpにおける前記第1波長よりも長く、該温度Tpにおける前記第2波長よりも短くなるように前記動作波長を選択する請求項1ないし4のいずれか1つに記載の半導体レーザ装置。 - 前記第1波長と前記第2波長との間の波長であって、前記利得スペクトルが極小値をとるときの波長を第3波長として、
前記波長選択部は、前記動作波長が、該温度Tpにおける前記第1波長よりも、該温度Tpにおける該第3波長に近く、該温度Tpにおける前記第2波長よりも、該温度Tpにおける該第3波長に近くなるように、前記動作波長を選択する請求項5に記載の半導体レーザ装置。 - 前記波長選択部は、前記活性層をシングルモード発振させるように前記動作波長を選択する請求項5または6に記載の半導体レーザ装置。
- 半導体レーザ装置であって、
第1量子ドット層(242)と、前記第1量子ドット層より発光波長が長い第2量子ドット層(243)とをそれぞれ1つ以上含む構成とされた活性層(24)を備え、
前記活性層の利得スペクトルは、前記第1量子ドット層の発光波長と、前記第2量子ドット層の発光波長とに対応して、第1波長と、前記第1波長より長い第2波長とで極大値をとり、
前記利得スペクトルの前記第1波長における極大値を第1極大値とし、
前記利得スペクトルの前記第2波長における極大値を第2極大値として、
前記第1極大値は、前記第2極大値よりも大きく、
前記活性層の動作波長を選択する波長選択部(3)を備え、
前記利得スペクトルの強度が最大となるときの温度をTpとして、
前記波長選択部は、前記動作波長が、該温度Tpにおける前記第1波長よりも長く、該温度Tpにおける前記第2波長よりも短くなるように前記動作波長を選択し、
前記波長選択部は、前記活性層をシングルモード発振させるように前記動作波長を選択する半導体レーザ装置。 - 前記活性層に含まれる前記第1量子ドット層の数は、前記第2量子ドット層の数よりも多い請求項8に記載の半導体レーザ装置。
- 前記第1波長と前記第2波長との間の波長であって、前記利得スペクトルが極小値をとるときの波長を第3波長として、
前記波長選択部は、前記動作波長が、該温度Tpにおける前記第1波長よりも、該温度Tpにおける該第3波長に近く、該温度Tpにおける前記第2波長よりも、該温度Tpにおける該第3波長に近くなるように、前記動作波長を選択する請求項8または9に記載の半導体レーザ装置。 - 前記第1波長と前記第2波長との間の波長であって、前記利得スペクトルが極小値をとるときの波長を第3波長とし、
前記利得スペクトルの強度が最大となるときの温度をTpとして、
該温度Tpよりも低い温度TLにおける前記第2波長と、該温度Tpにおける該第3波長と、該温度Tpよりも高い温度THにおける前記第1波長とが等しいとき、
該温度TLにおける前記第2極大値と、該温度Tpにおける該極小値と、該温度THにおける前記第1極大値とが等しい請求項1ないし10のいずれか1つに記載の半導体レーザ装置。 - 半導体レーザ装置であって、
第1量子ドット層(242)と、前記第1量子ドット層より発光波長が長い第2量子ドット層(243)とをそれぞれ1つ以上含む構成とされた活性層(24)を備え、
前記活性層の利得スペクトルは、前記第1量子ドット層の発光波長と、前記第2量子ドット層の発光波長とに対応して、第1波長と、前記第1波長より長い第2波長とで極大値をとり、
前記利得スペクトルの前記第1波長における極大値を第1極大値とし、
前記利得スペクトルの前記第2波長における極大値を第2極大値として、
前記第1極大値は、前記第2極大値よりも大きく、
前記第1波長と前記第2波長との間の波長であって、前記利得スペクトルが極小値をとるときの波長を第3波長とし、
前記利得スペクトルの強度が最大となるときの温度をTpとして、
該温度Tpよりも低い温度TLにおける前記第2波長と、該温度Tpにおける該第3波長と、該温度Tpよりも高い温度THにおける前記第1波長とが等しいとき、
該温度TLにおける前記第2極大値と、該温度Tpにおける該極小値と、該温度THにおける前記第1極大値とが等しい半導体レーザ装置。 - 前記活性層に含まれる前記第1量子ドット層の数は、前記第2量子ドット層の数よりも多い請求項12に記載の半導体レーザ装置。
- 前記利得スペクトルの強度が最大となるときの温度をTpとして、
前記活性層は、温度が該温度Tpよりも低温になると、前記利得スペクトルの強度が低下するとともに発光波長が短波長側へシフトし、温度が該温度Tpよりも高温になると、前記利得スペクトルの強度が低下するとともに発光波長が長波長側へシフトする特性を有する請求項1ないし13のいずれか1つに記載の半導体レーザ装置。 - 半導体レーザ装置であって、
第1量子ドット層(242)と、前記第1量子ドット層より発光波長が長い第2量子ドット層(243)とをそれぞれ1つ以上含む構成とされた活性層(24)を備え、
前記活性層の利得スペクトルは、前記第1量子ドット層の発光波長と、前記第2量子ドット層の発光波長とに対応して、第1波長と、前記第1波長より長い第2波長とで極大値をとり、
前記利得スペクトルの前記第1波長における極大値を第1極大値とし、
前記利得スペクトルの前記第2波長における極大値を第2極大値として、
前記第1極大値は、前記第2極大値よりも大きく、
前記利得スペクトルの強度が最大となるときの温度をTpとして、
前記活性層は、温度が該温度Tpよりも低温になると、前記利得スペクトルの強度が低下するとともに発光波長が短波長側へシフトし、温度が該温度Tpよりも高温になると、前記利得スペクトルの強度が低下するとともに発光波長が長波長側へシフトする特性を有する半導体レーザ装置。 - 前記活性層に含まれる前記第1量子ドット層の数は、前記第2量子ドット層の数よりも多い請求項15に記載の半導体レーザ装置。
- 前記第1量子ドット層における量子ドット(242a)の密度は、前記第2量子ドット層における量子ドット(243a)の密度よりも大きい請求項3ないし16のいずれか1つに記載の半導体レーザ装置。
- 前記活性層は、p型不純物が含まれている請求項1ないし17のいずれか1つに記載の半導体レーザ装置。
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