JP7541866B2 - 地物推定装置、及び地物推定方法 - Google Patents
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Description
(1)本願発明の地物推定装置は、大量の計測点群の中から目視など人の判断を介することなく地物を抽出するとともにその種類を推定することから、人為的なミスが排除され、しかも短時間で結果を得ることができる。
(2)本願発明の地物推定方法は、欠測点の両側に位置する着目計測点を表示することから、容易かつ直感的に地物を抽出するとともにその種類を推定することができる。
はじめに、本願発明の実施形態の例を説明するにあたって、ここで用いる用語の定義を示しておく。
既述したとおりレーザー計測は、計測対象にレーザーパルスを照射し、照射されたレーザーパルスが反射した点(計測点)の座標を取得する計測手法である。そしてMMSによるレーザー計測の場合、図1(a)に示すように多数の走査線(スキャンライン)Lが描かれるようにレーザーパルスが照射され、この走査線L上では図1(b)に示すように複数の計測点が得られる。図1(b)では、走査線L1と走査線L2、走査線L3を示しており、それぞれ走査線L1上では計測点P11~P13、走査線L2上では計測点P21~P24、走査線L3上では計測点P31~P33が得られている。
計測点は「計測時刻」という情報を具備していることから、2つの計測点を計測した時間差を求めることができる。便宜上ここでは、2つの計測点の計測時刻から得られる時間差のことを「計測間隔」、連続計測点の計測時刻から得られる時間差のことを特に「連続計測間隔」ということとする。例えば図2(a)では、計測点P11(前)と計測点P12(後)が連続計測点であり、その時間差を連続計測間隔MT1として示している。同様に、図2(b)では、計測点P13(前)と計測点P14(後)が連続計測点であり、その時間差を連続計測間隔MT3として示している。ところで、MMSによるレーザー計測ではレーザー発射部が一定角度ずつ回転しながらレーザーを照射する。そこで、2つの計測時刻から得られる時間差に代えて、2つのレーザー照射角度から得られる「角度差」を計測間隔とすることもできる。この場合、連続計測点のレーザー照射角度から得られる角度差が連続計測間隔とされる。
レーザースキャナが単位時間に照射するレーザーパルスの数(周波数)はその機械ごとに設定されており、つまりレーザーパルスを照射する時間間隔は一定であり、また受信する時間間隔も概ね一定となる。例えばMMSによるレーザー計測では300KHzのレーザースキャナが用いられることが多く、この場合、1/30,000sec(3.34μs)ごとにレーザーパルスが照射され、概ね3.34μsごとに反射したレーザーパルスを受信する。すなわち利用するレーザースキャナの仕様等を確認すれば、原則的な連続計測間隔はあらかじめ把握することができるわけである。
レーザー計測によって得られた計測点には3次元座標が付与されることから、2つの計測点の距離を求めることができる。便宜上ここでは、2つの計測点の3次元座標から得られる距離のことを「点間距離」、連続計測点の3次元座標から得られる距離のことを特に「連続点間距離」ということとする。
次に、本願発明の地物推定装置について詳しく説明する。なお、本願発明の地物推定方法は、本願発明の地物推定装置を用いて計測対象である地物の種類を推定する方法であり、したがってまずは本願発明の地物推定装置について説明し、その後に本願発明の地物推定方法について説明することとする。
続いて、本願発明の地物推定方法ついて図10を参照しながら説明する。なお、本願発明の地物推定方法は、ここまで説明した地物推定装置100を用いて地物の種類を推定する方法であり、したがって地物推定装置100で説明した内容と重複する説明は避け、本願発明の地物推定方法に特有の内容のみ説明することとする。すなわち、ここに記載されていない内容は、「2.地物推定装置」で説明したものと同様である。もちろんあらかじめ定義した用語は、ここの説明でも適用される。
101 計測間隔算出手段
102 着目計測点抽出手段
103 グループ設定手段
104 推定手段
105 補完点設定手段
106 表示手段
107 計測点群記憶手段
108 形状テーブル記憶手段
GR 着目計測点グループ
L 走査線
LA 接近距離
MT 計測間隔
PG 一般計測点
PS 着目計測点
Claims (6)
- レーザー計測により得られた計測点の集合である計測点群を用いて、計測対象の種類を推定する装置において、
連続する2つの計測点の計測時刻に基づいて、2点間の計測間隔を求める計測間隔算出手段と、
前記計測間隔が、あらかじめ定めた間隔閾値を超える2つの計測点を着目計測点として抽出する着目計測点抽出手段と、
点間距離があらかじめ定めた距離閾値を下回る前記着目計測点を集合した着目計測点グループを設定するグループ設定手段と、
前記着目計測点グループの形状に基づいて、該着目計測点グループに対応する計測対象の種類を推定する推定手段と、を備え、
前記間隔閾値は、前記レーザー計測に用いられるレーザースキャナから照射されるレーザーパルス固有の照射間隔に基づいて定められた、
ことを特徴とする地物推定装置。 - 地物の種類と、前記着目計測点グループの形状と、によって構成される形状テーブルを記憶する形状テーブル記憶手段を、さらに備え、
前記推定手段は、前記グループ設定手段によって設定された前記着目計測点グループの形状と、前記形状テーブル記憶手段に記憶された前記着目計測点グループの形状と、を照合することによって、計測対象の種類を推定する、
ことを特徴とする請求項1記載の地物推定装置。 - 前記推定手段は、前記着目計測点グループの形状と、前記着目計測点グループを構成する前記計測点の高さ情報と、に基づいて計測対象の種類を推定する、
ことを特徴とする請求項1又は請求項2記載の地物推定装置。 - 前記着目計測点抽出手段が抽出した2つの前記着目計測点の間に、1又は2以上の補完点を設定する補完点設定手段を、さらに備え、
前記補完点設定手段は、前記計測間隔に基づいて設定する前記補完点の数を推定するとともに、2つの前記着目計測点に基づいて該補完点の位置を算出し、
前記グループ設定手段は、点間距離が前記距離閾値を下回る前記着目計測点と前記補完点によって前記着目計測点グループを設定する、
ことを特徴とする請求項1乃至請求項3のいずれかに記載の地物推定装置。 - レーザー計測により得られた計測点の集合である計測点群を用いて、計測対象の種類を推定する方法において、
連続する2つの計測点の計測時刻に基づいて、2点間の計測間隔を求める計測間隔算出工程と、
前記計測間隔が、あらかじめ定めた間隔閾値を超える2つの計測点を着目計測点として抽出する着目計測点抽出工程と、
前記着目計測点を表示手段に表示する表示工程と、
オペレーターが前記表示手段に表示された前記着目計測点を目視することによって、複数の前記着目計測点からなる着目計測点グループに対して計測対象の種類を推定する推定工程と、を備え、
前記間隔閾値は、前記レーザー計測に用いられるレーザースキャナから照射されるレーザーパルス固有の照射間隔に基づいて定められた、
ことを特徴とする地物推定方法。 - 前記表示工程では、前記計測点群のうち前記着目計測点を除く一般計測点を前記表示手段に表示するとともに、該一般計測点と前記着目計測点が異なる表示色で表示される、
ことを特徴とする請求項5記載の地物推定方法。
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JP2020134658A JP7541866B2 (ja) | 2020-08-07 | 2020-08-07 | 地物推定装置、及び地物推定方法 |
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Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010107300A (ja) | 2008-10-29 | 2010-05-13 | Aisin Seiki Co Ltd | 物体形状評価装置 |
WO2014155715A1 (ja) | 2013-03-29 | 2014-10-02 | 株式会社日立製作所 | 物体認識装置および物体認識方法並びにプログラム |
JP2019196961A (ja) | 2018-05-09 | 2019-11-14 | 国際航業株式会社 | 標識抽出プログラム、及び標識抽出装置 |
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2020
- 2020-08-07 JP JP2020134658A patent/JP7541866B2/ja active Active
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Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
鈴木 貴大,サイズ未知のコンビニ主要4形状商品のための面プリミティブ検出に基づく3D認識手法,映像情報メディア学会技術報告 Vol.43 No.26 ITE Technical Report,日本,(一社)映像情報メディア学会 The Institute of Image Information and Television Engineers,2019年08月,第43巻,pp.27-30 |
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