JP7527855B2 - 眼科装置、眼科装置の制御方法、及びプログラム - Google Patents

Description

この発明は、眼科装置、眼科装置の制御方法、及びプログラムに関する。

近年、レーザー光源等からの光ビームを用いて被測定物体の表面形態や内部形態を表す画像を形成するための光コヒーレンストモグラフィ（Ｏｐｔｉｃａｌ Ｃｏｈｅｒｅｎｃｅ Ｔｏｍｏｇｒａｐｈｙ：ＯＣＴ）が注目を集めている。ＯＣＴは、Ｘ線ＣＴ（Ｃｏｍｐｕｔｅｄ Ｔｏｍｏｇｒａｐｈｙ）のような人体に対する侵襲性を持たないことから、特に医療分野や生物学分野における応用の展開が期待されている。例えば眼科分野においては、眼底や角膜等の画像を形成する装置が実用化されている。

このような装置では、被測定物体の形態の観察に最適な画像を取得するため、ＯＣＴの実行前に撮影条件（計測条件）の調整が行われる（例えば、特許文献１、特許文献２）。撮影条件の調整には、撮影部位の位置の調整、フォーカス調整、偏波調整がある。特に、特許文献２には、撮影時に行われるラスタスキャンに要する時間より短い時間でラスタスキャンを行って撮影条件を調整する手法が開示されている。

特開２０１６－０２２３１２号公報 国際公開第２０１６／００２７４０号

近年、光源の高速化が進み、ＯＣＴの撮影部位をスキャンするための光スキャナの動作速度がボトルネックになるケースが現れ始めている。光源の高速化が進むと、スキャン時間が長いラスタスキャンでは、撮影条件を高精度に調整することがより一層困難になる。

本発明は、このような事情に鑑みてなされたものであり、その目的の１つは、光源が高速化した場合でも撮影条件を高精度に調整することための新たな技術を提供することにある。

いくつかの実施形態の第１態様は、非点収差補正光学部材と、光スキャナとを含み、光源からの光を測定光と参照光とに分割し、前記非点収差補正光学部材及び前記光スキャナを介して前記測定光を被検眼に照射し、前記被検眼からの前記測定光の戻り光と前記参照光との干渉光を検出する干渉光学系と、前記干渉光学系の光軸に垂直な平面における水平方向及び垂直方向に前記測定光を偏向するように前記光スキャナを制御する光スキャナ制御部と、前記干渉光学系により得られた前記干渉光の検出結果に基づいて非点収差を補正するように前記非点収差補正光学部材を制御する補正制御部と、を含む眼科装置である。

いくつかの実施形態の第２態様は、第１態様において、前記干渉光の検出結果を解析する解析部を含み、前記補正制御部は、前記解析部により得られた解析結果に基づいて前記非点収差補正光学部材を制御する。

いくつかの実施形態の第３態様は、第２態様において、前記干渉光の検出結果に基づいて前記被検眼の画像を形成する画像形成部を含み、前記解析部は、前記画像をＡスキャン方向に交差する方向に分割することにより得られた複数の分割画像のそれぞれを解析し、前記補正制御部は、前記複数の分割画像に対する複数の解析結果に基づいて前記非点収差補正光学部材を制御する。

いくつかの実施形態の第４態様では、第３態様において、前記解析部は、各分割画像について解析結果に対応する評価値を算出し、前記補正制御部は、前記複数の分割画像に対する複数の評価値の統計値に基づいて前記非点収差補正光学部材を制御する。

いくつかの実施形態の第５態様は、第４態様において、前記解析部により算出された前記評価値又は前記統計値を表示手段に表示させる第１表示制御部を含む。

いくつかの実施形態の第６態様では、第３態様～第５態様のいずれかにおいて、前記光スキャナ制御部は、前記被検眼の第１スキャン範囲を前記測定光でスキャンするように前記光スキャナを制御することで前記干渉光学系により得られた前記干渉光の検出結果に基づいて前記非点収差補正光学部材を制御した後、前記第１スキャン範囲を内包する第２スキャン範囲を前記測定光でスキャンするように前記光スキャナを制御し、前記画像形成部は、前記第２スキャン範囲を前記測定光でスキャンすることにより得られた前記干渉光の検出結果に基づいて前記被検眼の画像を形成する。

いくつかの実施形態の第７態様では、第６態様において、前記光スキャナ制御部は、前記被検眼の移動に対して前記干渉光学系を追従することにより得られたトラッキング情報に基づいて前記第２スキャン範囲の位置を補正し、補正された前記第２スキャン範囲を前記測定光でスキャンするように前記光スキャナを制御する。

いくつかの実施形態の第８態様は、第６態様又は第７態様において、前記第２スキャン範囲を前記測定光でスキャンすることにより得られた前記干渉光の検出結果に基づいて形成された前記被検眼の画像を表示手段に表示させる第２表示制御部を含む。

いくつかの実施形態の第９態様は、第１態様～第８態様のいずれかにおいて、前記干渉光学系は、前記測定光の光路に配置され、前記測定光の焦点位置を変更可能な合焦位置変更部材を含み、前記補正制御部は、前記干渉光学系により得られた前記干渉光の検出結果に基づいて前記合焦位置変更部材を制御する。

いくつかの実施形態の第１０態様は、第１態様～第９態様のいずれかにおいて、前記干渉光学系は、前記測定光の光路又は前記参照光の光路に配置され、前記測定光と前記参照光との光路長差を変更する光路長変更部材を含み、前記光スキャナ制御部は、前記干渉光学系の光軸に交差する方向に前記測定光を偏向するように前記光スキャナを制御し、前記補正制御部は、前記干渉光学系により得られた前記干渉光の検出結果に基づいて前記光路長変更部材を制御する。

いくつかの実施形態の第１１態様は、第１態様～第１０態様のいずれかにおいて、前記干渉光学系は、前記測定光の光路又は前記参照光の光路に配置され、前記測定光の偏波状態又は前記参照光の偏波状態を変更する偏波状態変更部材を含み、前記光スキャナ制御部は、前記干渉光学系の光軸に交差する方向に前記測定光を偏向するように前記光スキャナを制御し、前記補正制御部は、前記干渉光学系により得られた前記干渉光の検出結果に基づいて前記偏波状態変更部材を制御する。

いくつかの実施形態の第１２態様では、第１態様～第１１態様のいずれかにおいて、前記非点収差補正光学部材は、円柱度数及び円柱軸角度を変更可能である。

いくつかの実施形態の第１３態様では、第１２態様において、前記非点収差補正光学部材は、バリアブルクロスシリンダレンズを含む。

いくつかの実施形態の第１４態様は、第１２態様又は第１３態様において、前記円柱度数及び前記円柱軸角度の少なくとも一方を表示手段に表示させる第３表示制御部を含む。

いくつかの実施形態の第１５態様では、第１態様～第１４態様のいずれかにおいて、前記光スキャナ制御部は、サークル状に前記測定光を偏向するように前記光スキャナを制御することにより前記水平方向及び前記垂直方向に前記測定光を偏向させる。

いくつかの実施形態の第１６態様では、第１５態様において、回折限界をｒとし、前記被検眼におけるサークル状のスキャンラインの直径をＲとし、前記スキャンラインにおけるＡライン数をＮとしたとき、Ｒ×π／Ｎ＜ｒを満たす。

いくつかの実施形態の第１７態様は、非点収差補正光学部材と、光スキャナとを含み、光源からの光を測定光と参照光とに分割し、前記非点収差補正光学部材及び前記光スキャナを介して前記測定光を被検眼に照射し、前記被検眼からの前記測定光の戻り光と前記参照光との干渉光を検出する干渉光学系を含む眼科装置の制御方法である。眼科装置の制御方法は、前記干渉光学系の光軸に垂直な平面における水平方向及び垂直方向に前記測定光を偏向するように前記光スキャナを制御する第１制御ステップと、前記第１制御ステップにおいて偏向された前記測定光を前記被検眼に照射することにより前記干渉光学系により得られた前記干渉光の検出結果に基づいて非点収差を補正するように前記非点収差補正光学部材を制御する第２制御ステップと、を含む。

いくつかの実施形態の第１８態様は、第１７態様において、前記干渉光の検出結果を解析する解析ステップを含み、前記第２制御ステップは、前記解析ステップにおいて得られた解析結果に基づいて前記非点収差補正光学部材を制御する。

いくつかの実施形態の第１９態様は、第１８態様において、前記干渉光の検出結果に基づいて前記被検眼の画像を形成する第１画像形成ステップを含み、前記解析ステップは、前記画像をＡスキャン方向に交差する方向に分割することにより得られた複数の分割画像のそれぞれを解析し、前記第２制御ステップは、前記複数の分割画像に対応する複数の解析結果に基づいて前記非点収差補正光学部材を制御する。

いくつかの実施形態の第２０態様では、第１９態様において、前記解析ステップは、各分割画像について解析結果に対応する評価値を算出し、前記第２制御ステップは、前記複数の分割画像に対する前記評価値の統計値に基づいて前記非点収差補正光学部材を制御する。

いくつかの実施形態の第２１態様は、第２０態様において、前記解析ステップにおいて算出された前記評価値又は前記統計値を表示手段に表示させる第１表示制御ステップを含む。

いくつかの実施形態の第２２態様は、第１７態様～第２１態様のいずれかにおいて、前記第２制御ステップにおいて、前記第１制御ステップにおいて前記被検眼の第１スキャン範囲を前記測定光でスキャンすることにより得られた前記干渉光の検出結果に基づいて前記非点収差補正光学部材を制御した後に、前記第１スキャン範囲を内包する第２スキャン範囲を前記測定光でスキャンするように前記光スキャナを制御する第３制御ステップと、前記第３制御ステップにおいて前記第２スキャン範囲を前記測定光でスキャンすることにより得られた前記干渉光の検出結果に基づいて前記被検眼の画像を形成する第２画像形成ステップと、含む。

いくつかの実施形態の第２３態様では、第２２態様において、前記第２制御ステップは、前記被検眼の移動に対して前記干渉光学系を追従することにより得られたトラッキング情報に基づいて前記第２スキャン範囲の位置を補正し、補正された前記第２スキャン範囲を前記測定光でスキャンするように前記光スキャナを制御する。

いくつかの実施形態の第２４態様は、第２２態様又は第２３態様において、前記第２スキャン範囲を前記測定光でスキャンすることにより得られた前記干渉光の検出結果に基づいて形成された前記被検眼の画像を表示手段に表示させる第２表示制御ステップを含む。

いくつかの実施形態の第２５態様では、第１７態様～第２４態様のいずれかにおいて、前記干渉光学系は、前記測定光の光路に配置され、前記測定光の焦点位置を変更可能な合焦位置変更部材を含み、前記干渉光学系により得られた前記干渉光の検出結果に基づいて前記合焦位置変更部材を制御する第４制御ステップを含む。

いくつかの実施形態の第２６態様では、第１７態様～第２５態様のいずれかにおいて、前記干渉光学系は、前記測定光の光路又は前記参照光の光路に配置され、前記測定光と前記参照光との光路長差を変更する光路長変更部材を含み、前記干渉光学系の光軸に交差する方向に前記測定光を偏向するように前記光スキャナを制御する第５制御ステップと、前記第５制御ステップにおいて偏向された前記測定光を前記被検眼に照射することにより前記干渉光学系により得られた前記干渉光の検出結果に基づいて前記光路長変更部材を制御する第６制御ステップと、を含む。

いくつかの実施形態の第２７態様では、第１７態様～第２６態様のいずれかにおいて、前記干渉光学系は、前記測定光の光路又は前記参照光の光路に配置され、前記測定光の偏波状態又は前記参照光の偏波状態を変更する偏波状態変更部材を含み、前記干渉光学系の光軸に交差する方向に前記測定光を偏向するように前記光スキャナを制御する第７制御ステップと、前記第７制御ステップにおいて偏向された前記測定光を前記被検眼に照射することにより前記干渉光学系により得られた前記干渉光の検出結果に基づいて前記偏波状態変更部材を制御する第８制御ステップと、を含む。

いくつかの実施形態の第２８態様では、第１７態様～第２７態様のいずれかにおいて、前記非点収差補正光学部材は、円柱度数及び円柱軸角度を変更可能である。

いくつかの実施形態の第２９態様では、第２８態様において、前記非点収差補正光学部材は、バリアブルクロスシリンダレンズを含む。

いくつかの実施形態の第３０態様では、第２８態様又は第２９態様において、前記円柱度数及び前記円柱軸角度の少なくとも一方を表示手段に表示させる第３表示制御ステップを含む。

いくつかの実施形態の第３１態様では、第１７態様～第３０態様のいずれかにおいて、前記第１制御ステップは、サークル状に前記測定光を偏向するように前記光スキャナを制御することにより前記水平方向及び前記垂直方向に前記測定光を偏向させる。

いくつかの実施形態の第３２態様では、第３１態様において、回折限界をｒとし、前記被検眼におけるサークル状のスキャンラインの直径をＲとし、前記スキャンラインにおけるＡライン数をＮとしたとき、Ｒ×π／Ｎ＜ｒを満たす。

いくつかの実施形態の第３３態様は、コンピュータに、第１７態様～第３２態様のいずれかに記載の眼科装置の制御方法の各ステップを実行させるプログラムである。

なお、上記した複数の態様に係る構成を任意に組み合わせることが可能である。

本発明に係る実施形態によれば、光源が高速化した場合でも撮影条件を高精度に調整することための新たな技術を提供することができるようになる。

実施形態に係る眼科装置の光学系の構成の一例を表す概略図である。 実施形態に係る眼科装置の光学系の構成の一例を表す概略図である。 実施形態に係る眼科装置の光学系の構成の一例を表す概略図である。 実施形態に係る眼科装置の処理系の構成の一例を表す概略図である。 実施形態に係る眼科装置の処理系の構成の一例を表す概略図である。 実施形態に係る眼科装置の動作説明図である。 実施形態に係る眼科装置の動作説明図である。 実施形態に係る眼科装置の動作説明図である。 実施形態に係る眼科装置の動作説明図である。 実施形態に係る眼科装置の動作説明図である。 実施形態に係る眼科装置の動作例のフロー図である。 実施形態に係る眼科装置の動作例のフロー図である。 実施形態に係る眼科装置の動作例のフロー図である。 実施形態に係る眼科装置の動作説明図である。

この発明に係る眼科装置、眼科装置の制御方法、及びプログラムの実施形態の例について、図面を参照しながら詳細に説明する。なお、この明細書において引用された文献の記載内容や任意の公知技術を、以下の実施形態に援用することが可能である。

実施形態に係る眼科装置は、干渉光学系を含み、光スキャナを用いて偏向された測定光で被検眼をスキャンし、得られた干渉光の検出結果に基づいて、撮影条件（計測条件）の調整を行う。干渉光学系は、光源からの光を測定光と参照光とに分割し、光スキャナを介して測定光を被検眼に照射し、被検眼からの測定光の戻り光と参照光との干渉光を検出する。光スキャナは、所定のスキャンパターン（偏向パターン）に従って測定光を偏向する。撮影条件の調整には、撮影部位の位置の調整、フォーカス調整、偏波調整、非点収差の補正がある

いくつかの実施形態では、干渉光学系は、非点収差補正光学部材（乱視補正部材）を含む。光スキャナは、干渉光学系の光軸に垂直な平面における水平方向及び垂直方向に測定光を偏向する。いくつかの実施形態に係る光スキャナは、メリジオナル（ｍｅｒｉｄｉｏｎａｌ）方向及びサジタル（ｓａｇｉｔｔａｌ）方向に測定光を偏向する。メリジオナル方向は、干渉光学系の光軸を中心とする同心円方向である。サジタル方向は、干渉光学系の光軸を中心とする放射方向である。眼科装置は、光スキャナにより偏向された測定光で被検眼をスキャンすることにより得られた干渉光の検出結果に基づいて非点収差を補正する。

非点収差補正光学部材の例として、バリアブルクロスシリンダー（Ｖａｒｉａｂｌｅ Ｃｒｏｓｓ Ｃｙｌｉｎｄｅｒ：以下、ＶＣＣ）レンズ、液晶レンズ、デフォーマブルミラー、アルバレツ（Ａｌｖａｒｅｚ）レンズなどが挙げられる。

これにより、ラスタスキャン（２以上のラインスキャン）の場合に比べて少ないスキャン回数で、上記の水平方向の情報と上記の垂直方向の情報とを取得することができる。従って、ラスタスキャンに要する時間より短い時間で、水平方向の情報と垂直方向の情報とを取得し、取得された水平方向の情報と垂直方向の情報とから非点収差を補正することができる。ここで、ラスタスキャンに要する時間は、例えば、複数のラインスキャンに要する時間と各ラインスキャンの間のフライバックに要する時間との和に相当する。すなわち、実施形態によれば、光源が高速化した場合でも、眼球の動き等の影響を受けることなく、非点収差を高精度に補正することが可能になる。

特に、干渉光学系の光軸に垂直な平面における水平方向及び垂直方向に測定光を偏向するスキャンモードとしてサークルスキャンを採用することで、スキャン速度をスキャン領域全域でほぼ一定にすることができる。それにより、スキャン領域全域で均質なスキャン結果を取得することができ、均質なスキャン結果に基づいて非点収差を高精度に補正することが可能になる。また、対物レンズの頂点からの正反射の影響を受けにくくなるため、アーチファクトフリーなスキャン結果に基づいて非点収差を高精度に補正することが可能になる。

いくつかの実施形態では、干渉光学系は、測定光の焦点位置を変更可能な合焦位置変更部材を含む。眼科装置は、光スキャナを用いて偏向された測定光で被検眼をスキャンし、得られた干渉光の検出結果に基づいて合焦位置変更部材を制御する。測定光の偏向パターンは、任意のパターンであってよい。例えば、眼科装置は、干渉光学系の光軸に交差するライン方向に偏向された測定光、又は干渉光学系の光軸に垂直な平面における水平方向及び垂直方向に偏向された測定光で被検眼をスキャンすることにより得られた干渉光の検出結果に基づいて合焦位置変更部材を制御する。

合焦位置変更部材としては、光軸に沿って移動可能なレンズ、液晶レンズ、アルバレツレンズなどがある。

いくつかの実施形態では、干渉光学系は、測定光と参照光との光路長差を変更する光路長変更部材を含む。眼科装置は、光スキャナを用いて偏向された測定光で被検眼をスキャンし、得られた干渉光の検出結果に基づいて光路長変更部材を制御する。測定光の偏向パターンは、任意のパターンであってよい。例えば、眼科装置は、干渉光学系の光軸に交差するライン方向に偏向された測定光、又は干渉光学系の光軸に垂直な平面における水平方向及び垂直方向に偏向された測定光で被検眼をスキャンすることにより得られた干渉光の検出結果に基づいて光路長変更部材を制御する。

いくつかの実施形態では、干渉光学系は、測定光の偏波状態又は参照光の偏波状態を変更する偏波状態変更部材を含む。眼科装置は、光スキャナを用いて偏向された測定光で被検眼をスキャンし、得られた干渉光の検出結果に基づいて偏波状態変更部材を制御する。測定光の偏向パターンは、任意のパターンであってよい。例えば、眼科装置は、干渉光学系の光軸に交差するライン方向に偏向された測定光、又は干渉光学系の光軸に垂直な平面における水平方向及び垂直方向に偏向された測定光で被検眼をスキャンすることにより得られた干渉光の検出結果に基づいて偏波状態変更部材を制御する。

実施形態に係る眼科装置の制御方法は、実施形態に係る眼科装置を制御するための方法である。実施形態に係るプログラムは、コンピュータに実施形態に係る眼科装置の制御方法の各ステップを実行させる。実施形態に係る記録媒体は、実施形態に係るプログラムを記録する。

以下の実施形態では、干渉光学系の光軸に垂直な平面における水平方向及び垂直方向に測定光を偏向するためのスキャンモードとして、サークルスキャンを例に説明する。しなしながら、実施形態は、サークルスキャン以外のスキャンパターンで測定光を偏向する場合にも適用可能である。

実施形態に係る眼科装置は、例えば眼底や前眼部など、被検眼の任意の部位に対してＯＣＴを実行することが可能である。この明細書では、ＯＣＴによって取得される画像をＯＣＴ画像と総称することがある。また、ＯＣＴ画像を形成するための計測動作をＯＣＴ計測と呼ぶことがある。

以下、実施形態では、ＯＣＴを用いた計測又は撮影においてスウェプトソースタイプのＯＣＴの手法を用いる場合について特に詳しく説明する。しかしながら、他のタイプ（例えば、スペクトラルドメインタイプ又はタイムドメインタイプ）のＯＣＴを用いる眼科装置に対して、実施形態に係る構成を適用することも可能である。

［構成］
図１～図３に示すように、眼科装置１は、眼底カメラユニット２、ＯＣＴユニット１００及び演算制御ユニット２００を含む。眼底カメラユニット２は、従来の眼底カメラとほぼ同様の光学系を有する。ＯＣＴユニット１００には、眼底（又は前眼部）のＯＣＴ画像を取得するための光学系が設けられている。演算制御ユニット２００は、各種の演算処理や制御処理等を実行するコンピュータを具備している。

〔眼底カメラユニット２〕
図１に示す眼底カメラユニット２には、被検眼Ｅの眼底Ｅｆの表面形態を表す２次元画像（眼底像）を取得するための光学系が設けられている。眼底像には、観察画像や撮影画像などが含まれる。観察画像は、例えば、近赤外光を用いて所定のフレームレートで形成されるモノクロの動画像である。撮影画像は、例えば、可視光をフラッシュ発光して得られるカラー画像、又は近赤外光若しくは可視光を照明光として用いたモノクロの静止画像であってもよい。眼底カメラユニット２は、これら以外の画像、例えばフルオレセイン蛍光画像やインドシアニングリーン蛍光画像や自発蛍光画像などを取得可能に構成されていてもよい。

眼底カメラユニット２には、被検者の顔を支持するための顎受けや額当てが設けられている。更に、眼底カメラユニット２には、照明光学系１０と撮影光学系３０が設けられている。照明光学系１０は眼底Ｅｆに照明光を照射する。撮影光学系３０は、この照明光の眼底反射光を撮像装置（ＣＣＤイメージセンサ（単にＣＣＤと呼ぶことがある）３５、３８）に導く。また、撮影光学系３０は、ＯＣＴユニット１００からの測定光を眼底Ｅｆに導くとともに、眼底Ｅｆを経由した測定光をＯＣＴユニット１００に導く。

照明光学系１０の観察光源１１は、例えばハロゲンランプを含む。観察光源１１から出力された光（観察照明光）は、曲面状の反射面を有する反射ミラー１２により反射され、集光レンズ１３を経由し、可視カットフィルタ１４を透過して近赤外光となる。更に、観察照明光は、撮影光源１５の近傍にて一旦集束し、ミラー１６により反射され、リレーレンズ１７、１８、絞り１９及びリレーレンズ２０を経由する。そして、観察照明光は、孔開きミラー２１の周辺部（孔部の周囲の領域）にて反射され、ダイクロイックミラー４８を透過し、対物レンズ２２により屈折されて眼底Ｅｆを照明する。なお、観察光源としてＬＥＤ（Ｌｉｇｈｔ Ｅｍｉｔｔｉｎｇ Ｄｉｏｄｅ）を用いることも可能である。

観察照明光の眼底反射光は、対物レンズ２２により屈折され、ダイクロイックミラー４８を透過し、孔開きミラー２１の中心領域に形成された孔部を通過し、ダイクロイックミラー５５を透過し、合焦レンズ３１を経由し、ミラー３２により反射される。更に、この眼底反射光は、ハーフミラー３３Ａを透過し、ダイクロイックミラー３３により反射され、集光レンズ３４によりＣＣＤイメージセンサ３５の受光面に結像される。ＣＣＤイメージセンサ３５は、例えば所定のフレームレートで眼底反射光を検出する。表示装置３には、ＣＣＤイメージセンサ３５により検出された眼底反射光に基づく画像（観察画像）が表示される。なお、撮影光学系３０のピントが前眼部に合わせられている場合、被検眼Ｅの前眼部の観察画像が表示される。

撮影光源１５は、例えばキセノンランプを含む。撮影光源１５から出力された光（撮影照明光）は、観察照明光と同様の経路を通って眼底Ｅｆに照射される。撮影照明光の眼底反射光は、観察照明光のそれと同様の経路を通ってダイクロイックミラー３３まで導かれ、ダイクロイックミラー３３を透過し、ミラー３６により反射され、集光レンズ３７によりＣＣＤイメージセンサ３８の受光面に結像される。表示装置３には、ＣＣＤイメージセンサ３８により検出された眼底反射光に基づく画像（撮影画像）が表示される。なお、観察画像を表示する表示装置３と撮影画像を表示する表示装置３は、同一のものであってもよいし、異なるものであってもよい。また、被検眼Ｅを赤外光で照明して同様の撮影を行う場合には、赤外の撮影画像が表示される。また、撮影光源としてＬＥＤを用いることも可能である。

ＬＣＤ（Ｌｉｑｕｉｄ Ｃｒｙｓｔａｌ Ｄｉｓｐｌａｙ）３９は、固視標や視力測定用視標を表示する。固視標は被検眼Ｅを固視させるための視標であり、眼底撮影時やＯＣＴ計測時などに使用される。

ＬＣＤ３９から出力された光は、その一部がハーフミラー３３Ａにて反射され、ミラー３２に反射され、合焦レンズ３１及びダイクロイックミラー５５を経由し、孔開きミラー２１の孔部を通過する。孔部を通過した光は、ダイクロイックミラー４８を透過し、対物レンズ２２により屈折されて眼底Ｅｆに投影される。

ＬＣＤ３９の画面上における固視標の表示位置を変更することにより、被検眼Ｅの固視位置を変更できる。被検眼Ｅの固視位置としては、例えば、従来の眼底カメラと同様に、眼底Ｅｆの黄斑部を中心とする画像を取得するための位置や、視神経乳頭を中心とする画像を取得するための位置や、黄斑部と視神経乳頭との間の眼底中心を中心とする画像を取得するための位置などがある。また、固視標の表示位置を任意に変更することも可能である。

更に、眼底カメラユニット２には、従来の眼底カメラと同様にアライメント光学系５０とフォーカス光学系６０が設けられている。アライメント光学系５０は、被検眼Ｅに対する装置光学系の位置合わせ（アライメント）を行うための視標（アライメント視標）を生成する。フォーカス光学系６０は、眼底Ｅｆに対してフォーカス（ピント）を合わせるための視標（スプリット視標）を生成する。

アライメント光学系５０のＬＥＤ５１から出力された光（アライメント光）は、絞り５２、５３及びリレーレンズ５４を経由してダイクロイックミラー５５により反射され、孔開きミラー２１の孔部を通過する。孔部を通過した光は、ダイクロイックミラー４８を透過し、対物レンズ２２により被検眼Ｅの角膜に投影される。

アライメント光の角膜反射光は、対物レンズ２２、ダイクロイックミラー４８及び上記孔部を経由し、その一部がダイクロイックミラー５５を透過し、合焦レンズ３１を通過し、ミラー３２により反射され、ハーフミラー３３Ａを透過する。ハーフミラー３３Ａを透過した角膜反射光は、ダイクロイックミラー３３に反射され、集光レンズ３４によりＣＣＤイメージセンサ３５の受光面に投影される。ＣＣＤイメージセンサ３５による受光像（アライメント視標）は、観察画像とともに表示装置３に表示される。ユーザは、従来の眼底カメラと同様の操作を行ってアライメントを実施する。また、演算制御ユニット２００がアライメント視標の位置を解析して光学系を移動させることによりアライメントを行ってもよい（オートアライメント機能）。

フォーカス調整を行う際には、照明光学系１０の光路上に反射棒６７の反射面が斜設される。フォーカス光学系６０のＬＥＤ６１から出力された光（フォーカス光）は、リレーレンズ６２を通過し、スプリット視標板６３により２つの光束に分離され、二孔絞り６４を通過し、ミラー６５により反射される。ミラー６５により反射された光は、集光レンズ６６により反射棒６７の反射面に一旦結像されて反射される。更に、フォーカス光は、リレーレンズ２０を経由し、孔開きミラー２１に反射され、ダイクロイックミラー４８を透過し、対物レンズ２２により屈折されて眼底Ｅｆに投影される。

フォーカス光の眼底反射光は、アライメント光の角膜反射光と同様の経路を通ってＣＣＤイメージセンサ３５により検出される。ＣＣＤイメージセンサ３５による受光像（スプリット視標）は、観察画像とともに表示装置３に表示される。演算制御ユニット２００は、従来と同様に、スプリット視標の位置を解析して合焦レンズ３１及びフォーカス光学系６０を移動させてピント合わせを行う（オートフォーカス機能）。また、スプリット視標を視認しつつ手動でピント合わせを行ってもよい。

ダイクロイックミラー４８は、眼底撮影用の光路からＯＣＴ計測用の光路を分岐させている。ダイクロイックミラー４８は、ＯＣＴ計測に用いられる波長帯の光を反射し、眼底撮影用の光を透過させる。このＯＣＴ計測用の光路には、ＯＣＴユニット１００側から順に、コリメートレンズユニット４０と、光路長変更部４１と、光スキャナ４２と、コリメートレンズ４３と、ミラー４４と、ＯＣＴ合焦レンズ４５と、フィールドレンズ４６と、バリアブルクロスシリンダー（Ｖａｒｉａｂｌｅ Ｃｒｏｓｓ Ｃｙｌｉｎｄｅｒ：以下、ＶＣＣ）レンズ４７とが設けられている。

光路長変更部４１は、図１に示す矢印の方向に移動可能に構成され、ＯＣＴ計測用の光路の光路長を変更する。この光路長の変更は、被検眼Ｅの眼軸長に応じた光路長の補正や、干渉状態の調整などに利用される。光路長変更部４１は、例えばコーナーキューブと、これを移動する機構とを含んで構成される。

光スキャナ４２は、被検眼の瞳孔と光学的に共役な位置（瞳孔共役位置）又はその近傍に配置されている。光スキャナ４２は、ＯＣＴ計測用の光路を通過する光（測定光）の進行方向を変更する。光スキャナ４２は、後述の演算制御ユニット２００からの制御を受け、測定光を１次元的又は２次元的に偏向することができる。

光スキャナ４２は、例えば、第１ガルバノミラーと、第２ガルバノミラーと、これらを独立に駆動する機構とを含む。第１ガルバノミラーは、ＯＣＴ光学系８の光軸に直交する水平方向（ｘ方向）に撮影部位（眼底Ｅｆ又は前眼部）をスキャンするように測定光ＬＳを偏向する。ｘ方向は、干渉光学系の光軸に垂直な平面における水平方向である。第２ガルバノミラーは、ＯＣＴ光学系８の光軸に直交する垂直方向（ｙ方向）に撮影部位をスキャンするように、第１ガルバノミラーにより偏向された測定光ＬＳを偏向する。ｙ方向は、干渉光学系の光軸に垂直な平面における垂直方向である。それにより、撮影部位を測定光ＬＳでｘｙ平面上の任意の方向に走査することができる。

例えば、光スキャナ４２に含まれる第１ガルバノミラーの向きと第２ガルバノミラーの向きを同時に制御することで、ｘｙ面上の任意の軌跡に沿って測定光の照射位置を移動刺させることが可能である。それにより、所望のスキャンパターンに従って撮影部位のスキャンを行うことができる。

ＯＣＴ合焦レンズ４５は、測定光ＬＳの光路（干渉光学系の光軸）に沿って移動可能である。ＯＣＴ合焦レンズ４５は、後述の演算制御ユニット２００からの制御を受け、測定光ＬＳの光路に沿って移動する。

いくつかの実施形態では、ＯＣＴ合焦レンズ４５に代えて液晶レンズ又はアルバレツレンズが設けられる。液晶レンズ又はアルバレツレンズは、ＯＣＴ合焦レンズ４５と同様に、演算制御ユニット２００により制御される。

ＶＣＣレンズ４７は、測定光の光路に配置され、円柱度数（乱視度数）及び円柱軸角度（乱視軸角度）の少なくとも１つを変更する。ＶＣＣレンズ４７は、対向配置された２つの円柱レンズ（光学素子）を有し、２つの円柱レンズの軸方向の少なくとも１つを変更することにより円柱度数及び円柱軸角度の少なくとも１つを変更するように構成されている。実施形態では、２つの円柱レンズのそれぞれは、２つの軸方向が相対的に変更されるように独立に回動可能に構成される。また、２つの円柱レンズは、２つの軸方向のなす角を維持した状態で一体的に回動可能に構成される。

ＶＣＣレンズ４７は、被検眼の瞳孔と光学的に共役な位置（瞳共役位置）又はその近傍に配置される。実施形態では、光スキャナ４２が被検眼の瞳孔と光学的に共役な位置に配置されているため、ＶＣＣレンズ４７は、被検眼の瞳孔と光学的に共役な位置の近傍に配置されている。

被検眼Ｅの乱視度数の補正を目的とする場合、ＶＣＣレンズ４７が瞳共役位置の近傍に配置されていても、瞳共役位置に対するＶＣＣレンズ４７の配置位置のずれが、ＶＣＣレンズ４７により変更される円柱度数や円柱軸角度に及ぼす影響は少ないと考えてよい。

被検眼Ｅの検眼データ（他覚測定値、又は自覚検査値）に基づいてＶＣＣレンズ４７が制御される場合、当該検眼データは、主に被検眼Ｅの中心窩における測定値である。しかしながら、瞳共役位置に対するＶＣＣレンズ４７の配置位置のずれがＶＣＣレンズ４７により変更される円柱度数や円柱軸角度に及ぼす影響は少ないと考えてよい。従って、撮影部位が中心窩と異なる部位である場合でも、ＶＣＣレンズ４７が瞳共役位置の近傍に配置されていてもよい。

このようなＶＣＣレンズ４７は、例えば図３に示すように、パワーが等しく、且つ、符号が互いに異なる円柱レンズ４７１、４７２（焦点距離ｆ０、－ｆ０）を含んで構成されている。円柱レンズ４７１（ＶＣＣ１）は、凸状の面（正の度数）を有し、測定光ＬＳの光路（干渉光学系の光軸ＳＯ）を中心に回動方向ｄｒ１に回動可能に設けられる。円柱レンズ４７２（ＶＣＣ２）は、凹状の面（負の度数）を有し、光軸ＳＯを中心に回動方向ｄｒ２に回動可能に設けられる。円柱レンズ４７１、４７２は、パルスモータ等の駆動装置により駆動され、光軸ＳＯを中心にそれぞれ独立に回動される。円柱レンズ４７１、４７２が互いに逆方向に回転されると円柱度数が変更され、同じ方向に一体的に回転されると円柱軸角度が変更される。

例えば、円柱レンズ４７１、４７２の円柱軸角度を光軸ＳＯに対して所定角度（例えば４５度）傾けた状態から、円柱レンズ４７１、４７２を互いに逆方向に回動させることにより、任意の円柱度数を発生させることができる。また、円柱レンズ４７１、４７２を同じ方向に一体的に回動させることにより、任意の円柱軸角度を発生させることができる。

〔ＯＣＴユニット１００〕
図２を参照しつつＯＣＴユニット１００の構成の一例を説明する。ＯＣＴユニット１００には、眼底ＥｆのＯＣＴ画像を取得するための光学系が設けられている。この光学系は、従来のスウェプトソースタイプのＯＣＴ装置と同様の構成を有する。すなわち、この光学系は、波長走査型（波長掃引型）光源からの光を測定光と参照光とに分割し、眼底Ｅｆを経由した測定光と参照光路を経由した参照光とを干渉させて干渉光を生成し、この干渉光を検出する干渉光学系である。干渉光学系における干渉光の検出結果（検出信号）は、干渉光のスペクトルを示す信号であり、演算制御ユニット２００に送られる。

光源ユニット１０１は、一般的なスウェプトソースタイプのＯＣＴ装置と同様に、出射光の波長を走査（掃引）可能な波長走査型（波長掃引型）光源を含んで構成される。光源ユニット１０１は、人眼では視認できない近赤外の波長帯において、出力波長を時間的に変化させる。

光源ユニット１０１から出力された光Ｌ０は、光ファイバー１０２により偏波コントローラ１０３に導かれてその偏波状態（偏光状態）が調整される。偏波コントローラ１０３は、例えばループ状にされた光ファイバー１０２に対して外部から応力を与えることで、光ファイバー１０２内を導かれる光Ｌ０の偏波状態を調整する。

偏波コントローラ１０３により偏波状態が調整された光Ｌ０は、光ファイバー１０４によりファイバーカプラ１０５に導かれて測定光ＬＳと参照光ＬＲとに分割される。

参照光ＬＲは、光ファイバー１１０によりコリメータ１１１に導かれて平行光束となる。平行光束となった参照光ＬＲは、光路長補正部材１１２及び分散補償部材１１３を経由し、コーナーキューブ１１４に導かれる。光路長補正部材１１２は、参照光ＬＲと測定光ＬＳの光路長（光学距離）を合わせるための遅延手段として作用する。分散補償部材１１３は、参照光ＬＲと測定光ＬＳの分散特性を合わせるための分散補償手段として作用する。

コーナーキューブ１１４は、コリメータ１１１により平行光束となった参照光ＬＲの進行方向を逆方向に折り返す。コーナーキューブ１１４に入射する参照光ＬＲの光路と、コーナーキューブ１１４から出射する参照光ＬＲの光路とは平行である。また、コーナーキューブ１１４は、参照光ＬＲの入射光路及び出射光路に沿う方向に移動可能とされている。この移動により参照光ＬＲの光路（参照光路）の長さが変更される。

コーナーキューブ１１４を経由した参照光ＬＲは、分散補償部材１１３及び光路長補正部材１１２を経由し、コリメータ１１６によって平行光束から集束光束に変換されて光ファイバー１１７に入射する。光ファイバー１１７に入射した参照光ＬＲは、偏波コントローラ１１８に導かれて参照光ＬＲの偏波状態が調整される。

偏波コントローラ１１８は、例えば、偏波コントローラ１０３と同様の構成を有する。偏波コントローラ１１８により偏波状態が調整された参照光ＬＲは、光ファイバー１１９によりアッテネータ１２０に導かれて、演算制御ユニット２００の制御の下で光量が調整される。アッテネータ１２０により光量が調整された参照光ＬＲは、光ファイバー１２１によりファイバーカプラ１２２に導かれる。

ファイバーカプラ１０５により生成された測定光ＬＳは、光ファイバー１２７により導かれ、コリメートレンズユニット４０により平行光束とされる。平行光束にされた測定光ＬＳは、光路長変更部４１、ＶＣＣレンズ４７、光スキャナ４２、コリメートレンズ４３、ミラー４４、ＯＣＴ合焦レンズ４５、フィールドレンズ４６、及びＶＣＣレンズ４７を経由してダイクロイックミラー４８に到達する。そして、測定光ＬＳは、ダイクロイックミラー４８により反射され、対物レンズ２２により屈折されて眼底Ｅｆに照射される。測定光ＬＳは、眼底Ｅｆの様々な深さ位置において散乱（反射を含む）される。眼底Ｅｆによる測定光ＬＳの後方散乱光は、往路と同じ経路を逆向きに進行してファイバーカプラ１０５に導かれ、光ファイバー１２８を経由してファイバーカプラ１２２に到達する。

ファイバーカプラ１２２は、光ファイバー１２８を介して入射された測定光ＬＳと、光ファイバー１２１を介して入射された参照光ＬＲとを合成して（干渉させて）干渉光を生成する。ファイバーカプラ１２２は、所定の分岐比（例えば１：１）で、測定光ＬＳと参照光ＬＲとの干渉光を分岐することにより、一対の干渉光ＬＣを生成する。ファイバーカプラ１２２から出射した一対の干渉光ＬＣは、それぞれ光ファイバー１２３、１２４により検出器１２５に導かれる。

検出器１２５は、例えば一対の干渉光ＬＣをそれぞれ検出する一対のフォトディテクタを有し、これらによる検出結果の差分を出力するバランスドフォトダイオード（Ｂａｌａｎｃｅｄ Ｐｈｏｔｏ Ｄｉｏｄｅ）である。検出器１２５は、その検出結果（検出信号）を演算制御ユニット２００に送る。演算制御ユニット２００は、例えば一連の波長走査毎に（Ａライン毎に）、検出器１２５により得られた検出結果に基づくスペクトル分布にフーリエ変換等を施すことで断層像を形成する。演算制御ユニット２００は、形成された画像を表示装置３に表示させる。

実施形態ではマイケルソン型の干渉計を採用しているが、例えばマッハツェンダー型など任意のタイプの干渉計を適宜に採用することが可能である。実施形態では、干渉光学系は、図２に示す構成に加えて、図１に示すコリメートレンズユニット４０、光路長変更部４１、光スキャナ４２、コリメートレンズ４３、ミラー４４、ＯＣＴ合焦レンズ４５、フィールドレンズ４６、ＶＣＣレンズ４７を含んでもよい。この干渉光学系は、この実施形態に係る「干渉光学系」の一例である。ＶＣＣレンズ４７（及びＶＣＣ駆動部４７Ａ）は、実施形態に係る「非点収差補正光学部材」の一例である。ＯＣＴ合焦レンズ４５（及びＯＣＴ合焦駆動部４５Ａ）は、実施形態に係る「合焦位置変更部材」の一例である。光路長変更部４１及びコーナーキューブ１１４（及び参照駆動部１１４Ａ）の少なくとも１つは、実施形態に係る「光路長変更部材」の一例である。偏波コントローラ１０３、１１８の少なくとも１つは、実施形態に係る「偏波状態変更部材」の一例である。表示制御部２１１Ｃは、実施形態に係る「第１表示制御部」、「第２表示制御部」、又は「第３表示制御部」の一例である。

〔演算制御ユニット２００〕
演算制御ユニット２００の構成について説明する。

図４及び図５に、実施形態に係る眼科装置１の処理系の構成例のブロック図を示す。図５は、図４の解析部２３１の構成例の機能ブロック図である。図４において、図１又は図２と同様の部分には同一符号を付し、適宜説明を省略する。

演算制御ユニット２００は、検出器１２５から入力される検出信号を解析して眼底ＥｆのＯＣＴ画像を形成する。そのための演算処理は、従来のスウェプトソースタイプのＯＣＴ装置と同様である。

図４に示すように、演算制御ユニット２００は、制御部２１０を含み、眼底カメラユニット２、表示装置３及びＯＣＴユニット１００の各部を制御する。例えば、演算制御ユニット２００は、眼底ＥｆのＯＣＴ画像（断層像、３次元画像）を形成し、形成されたＯＣＴ画像を表示装置３に表示させる。

眼底カメラユニット２の制御として、観察光源１１、撮影光源１５及びＬＥＤ５１、６１の動作制御、ＬＣＤ３９の動作制御、合焦レンズ３１の移動制御、ＯＣＴ合焦レンズ４５の移動制御、反射棒６７の移動制御、フォーカス光学系６０の移動制御、光路長変更部４１の移動制御、ＶＣＣレンズ４７の駆動制御、光スキャナ４２の動作制御などがある。

ＯＣＴユニット１００の制御として、光源ユニット１０１の動作制御、コーナーキューブ１１４の移動制御、検出器１２５の動作制御、アッテネータ１２０の動作制御、偏波コントローラ１０３、１１８の動作制御などがある。

演算制御ユニット２００は、例えば、従来のコンピュータと同様に、プロセッサ、ＲＡＭ（Ｒａｎｄｏｍ Ａｃｃｅｓｓ Ｍｅｍｏｒｙ）、ＲＯＭ（Ｒｅａｄ Ｏｎｌｙ Ｍｅｍｏｒｙ）、ハードディスクドライブ、通信インターフェイスなどを含んで構成される。ハードディスクドライブ等の記憶装置には、眼科装置１を制御するためのコンピュータプログラムが記憶されている。演算制御ユニット２００は、各種の回路基板、例えばＯＣＴ画像を形成するための回路基板を備えていてもよい。また、演算制御ユニット２００は、キーボードやマウス等の操作デバイス（入力デバイス）や、ＬＣＤ等の表示デバイスを備えていてもよい。

プロセッサは、例えば、ＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ Ｕｎｉｔ）、ＧＰＵ（Ｇｒａｐｈｉｃｓ Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ Ｕｎｉｔ）、ＡＳＩＣ（Ａｐｐｌｉｃａｔｉｏｎ Ｓｐｅｃｉｆｉｃ Ｉｎｔｅｇｒａｔｅｄ Ｃｉｒｃｕｉｔ）、プログラマブル論理デバイス（例えば、ＳＰＬＤ（Ｓｉｍｐｌｅ Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ Ｌｏｇｉｃ Ｄｅｖｉｃｅ）、ＣＰＬＤ（Ｃｏｍｐｌｅｘ Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ Ｌｏｇｉｃ Ｄｅｖｉｃｅ）、ＦＰＧＡ（Ｆｉｅｌｄ Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ Ｇａｔｅ Ａｒｒａｙ））等の回路を含む。プロセッサは、例えば、記憶回路又は記憶装置に格納されているプログラムを読み出し実行することで、実施形態に係る機能を実現する。記憶回路又は記憶装置がプロセッサに含まれていてよい。また、記憶回路又は記憶装置がプロセッサの外部に設けられていてよい。いくつかの実施形態では、演算制御ユニット２００の機能は、１以上のプロセッサにより実現される。

眼底カメラユニット２、表示装置３、ＯＣＴユニット１００及び演算制御ユニット２００は、一体的に（つまり単一の筺体内に）構成されていてもよいし、２つ以上の筐体に別れて構成されていてもよい。

制御部２１０は、主制御部２１１と、記憶部２１２とを含む。

（主制御部２１１）
主制御部２１１は、前述の眼科装置１の各部に制御信号を出力することにより各種制御を行う。特に、主制御部２１１は、眼底カメラユニット２に対して、ＣＣＤイメージセンサ３５、３８、ＬＣＤ３９、合焦駆動部３１Ａ、光路長変更部４１、光スキャナ４２、ＯＣＴ合焦駆動部４５Ａ、及びＶＣＣ駆動部４７Ａを制御する。更に、主制御部２１１は、ＯＣＴユニット１００に対して、光源ユニット１０１、参照駆動部１１４Ａ、偏波コントローラ１０３、１１８、アッテネータ１２０、検出器１２５を制御する。

主制御部２１１は、ＣＣＤイメージセンサ３５又はＣＣＤイメージセンサ３８の露光時間（電荷蓄積時間）、感度、フレームレート等を制御する。いくつかの実施形態では、主制御部２１１は、所望の画質の画像を取得するようにＣＣＤイメージセンサ３５又はＣＣＤイメージセンサ３８を制御する。

主制御部２１１は、ＬＣＤ３９に対して固視標や視力測定用視標の表示制御を行う。それにより、被検眼Ｅに呈示される視標が切り替えられたり、視標の種別が変更されたりする。また、ＬＣＤ３９における視標の表示位置を変更することにより、被検眼Ｅに対する視標呈示位置を変更することが可能である。

合焦駆動部３１Ａは、合焦レンズ３１を光軸方向に移動する。主制御部２１１は、合焦レンズ３１が所望の合焦位置に配置されるように合焦駆動部３１Ａを制御する。それにより、撮影光学系３０の合焦位置が変更される。

例えば、主制御部２１１は、ＣＣＤイメージセンサ３５により得られた受光像（スプリット視標）におけるスプリット視標の位置を解析して、合焦駆動部３１Ａ及びフォーカス光学系６０を制御する。或いは、例えば、主制御部２１１は、被検眼Ｅのライブ画像を後述の表示部２４０Ａに表示させながら、後述の操作部２４０Ｂに対してユーザが行った操作に応じて合焦駆動部３１Ａ及びフォーカス光学系６０を制御する。

主制御部２１１は、光路長変更部４１を制御することにより測定光ＬＳの光路長を変更する。それにより、測定光ＬＳの光路長と参照光ＬＲの光路長との差が変更される。

例えば、主制御部２１１は、ＯＣＴ計測により得られた干渉光ＬＣの検出結果（又は当該検出結果に基づいて形成されたＯＣＴ画像）を解析し、計測部位が所望の深さ位置になるように光路長変更部４１を制御する。

主制御部２１１（後述の光スキャナ制御部２１１Ａ）は、光スキャナ４２を制御する。主制御部２１１は、事前に設定されたスキャンモードに対応した偏向パターンに従って測定光ＬＳを偏向するように光スキャナ４２を制御する。

このようなスキャンモードの例として、ラインスキャン、十字スキャン、サークルスキャン、ラジアルスキャン、同心円スキャン、マルチラインクロススキャン、らせん状スキャン、リサジュー（Ｌｉｓｓａｊｏｕｓ）スキャン、３次元スキャンなどが挙げられる。

ラインスキャンは、撮影部位（計測部位）における測定光ＬＳの照射位置の移動軌跡がライン状になるように測定光ＬＳを偏向するスキャンモードである。移動軌跡のライン方向は、ｘｙ平面上において光軸を中心に変更可能（回転可能）である。

例えば、ラインスキャンは、水平スキャンと、垂直スキャンとを含む。水平スキャンは、測定光ＬＳの照射位置の移動軌跡が水平方向（ｘ方向）になるように測定光ＬＳを偏向するスキャンモードである。水平スキャンには、垂直方向（ｙ方向）に配列された複数の水平方向に延びるスキャンラインに沿って測定光ＬＳを走査させる態様も含まれる。この態様においては、スキャンラインの間隔を任意に設定することが可能である。また、隣接するスキャンラインの間隔を十分に狭くすることにより、３次元画像を形成することができる（３次元スキャン）。垂直スキャンについても同様である。

十字スキャンは、撮影部位（計測部位）における測定光ＬＳの照射位置の移動軌跡が十字状になるように測定光ＬＳを偏向するスキャンモードである。例えば、ライン方向が互いに交差する２つのラインスキャンを実行することにより十字スキャンを実行することができる。２つのラインスキャンが交差する角度は、変更可能である。いくつかの実施形態では、２つのラインスキャンにおけるＢスキャン方向のスキャン長は同一である。いくつかの実施形態では、２つのラインスキャンにおけるＢスキャン方向のスキャン長は異なる。

サークルスキャンは、撮影部位（計測部位）における測定光ＬＳの照射位置の移動軌跡が、例えば光軸ＳＯを中心にサークル状になるように測定光ＬＳを偏向するスキャンモードである。例えば、サークスキャンでは、移動軌跡が真円、楕円、又は円弧状（円周の一部）になるように測定光ＬＳが偏向される。

ラジアルスキャンは、撮影部位（計測部位）における測定光ＬＳの照射位置の移動軌跡が、例えば光軸ＳＯを中心に放射状になるように測定光ＬＳを偏向するスキャンモードである。ラジアルスキャンでは、所定の角度を介して配列された複数の直線軌跡からなる放射状の軌跡に沿って測定光ＬＳの照射位置が移動される。上記の十字スキャンは、ラジアルスキャンの１つの態様である。

例えば、ラジアルスキャンでは、Ｂスキャン方向が互いに異なる２以上のラインスキャンが実行される。いくつかの実施形態では、２以上のラインスキャンにおけるＢスキャン方向のスキャン長は、同一である。いくつかの実施形態では、２以上のラインスキャンの少なくとも１つにおけるＢスキャン方向のスキャン長は、他のスキャン長と異なる。

同心円スキャンは、撮影部位（計測部位）における測定光ＬＳの照射位置の移動軌跡が、例えば光軸ＳＯを中心に同心円状になるように測定光ＬＳを偏向するスキャンモードである。例えば、同心円スキャンでは、各円の移動軌跡が真円、楕円、又は円弧状（円周の一部）になるように測定光ＬＳが偏向される。いくつかの実施形態に係る同心円スキャンでは、互いに径が異なる複数のサークルスキャンを組み合わせて実行される。サークルスキャンは、同心円スキャンの１つの態様である。

マルチラインクロススキャンは、互いに平行な水平スキャンライン群（例えば、５本）と互いに平行な垂直スキャンライン群（例えば、５本）とが双方のスキャンライン群の中央位置付近にて直交するように配列されたスキャンパターンである。

例えば、マルチラインクロススキャンにおける各スキャンライン群では、２以上のラインスキャンが実行される。いくつかの実施形態では、２以上のラインスキャンにおけるＢスキャン方向のスキャン長は、同一である。いくつかの実施形態では、２以上のラインスキャンの少なくとも１つにおけるＢスキャン方向のスキャン長は、他のスキャン長と異なる。

らせん状スキャンは、撮影部位（計測部位）における測定光ＬＳの照射位置の移動軌跡が、例えば光軸ＳＯを中心にらせん状になるように測定光ＬＳを偏向するスキャンモードである。らせん状スキャンでは、回転半径を次第に小さく（又は大きく）させながら螺旋状の軌跡に沿って測定光ＬＳの照射位置を移動させる。

リサジュースキャンは、撮影部位（計測部位）における測定光ＬＳの照射位置の移動軌跡が、リサジュー曲線に沿うように測定光ＬＳを偏向するスキャンモードである。リサジュースキャンについては、例えば、特開２０１８－６８５７８号公報に開示されている。

上記のスキャンモードのうち干渉光学系の光軸に垂直な平面における水平方向及び垂直方向に測定光ＬＳを偏向するスキャンモードの例として、サークルスキャン、ラジアルスキャン、同心円スキャン、マルチラインクロススキャン、らせん状スキャン、リサジュースキャン、３次元スキャンなどが挙げられる。

上記のようなスキャンモードに対応した偏向パターンに従って測定光ＬＳで撮影部位をスキャンすることにより、スキャンライン（スキャン軌跡）に沿う方向と眼底深度方向（ｚ方向）とにより張られる面における断層像を取得することができる。

上記のような測定光ＬＳのスキャン対象となる被検眼Ｅにおける領域、つまりＯＣＴ撮影の対象となる被検眼Ｅにおける領域をスキャン領域と呼ぶ。例えば、３次元スキャンにおけるスキャン領域は、複数の水平スキャンが配列された矩形の領域である。例えば、同心円スキャンにおけるスキャン領域は、最大径の円スキャンの軌跡により囲まれる円盤状の領域である。また、ラジアルスキャンにおけるスキャン領域は、各スキャンラインの両端位置を結んだ円盤状（或いは多角形状）の領域である。

ＯＣＴ合焦駆動部４５Ａは、測定光ＬＳの光軸ＳＯに沿ってＯＣＴ合焦レンズ４５を移動する。主制御部２１１は、ＯＣＴ合焦レンズ４５が所望の合焦位置に配置されるようにＯＣＴ合焦駆動部４５Ａを制御する。それにより、測定光ＬＳの合焦位置が変更される。測定光ＬＳの合焦位置は、測定光ＬＳのビームウェストの深さ位置（ｚ位置）に相当する。

例えば、主制御部２１１は、ＯＣＴ計測により得られた干渉光ＬＣの検出結果の信号対雑音比、又は当該検出結果に基づいて形成されたＯＣＴ画像の画質に対応した評価値（評価値の統計値を含む）に基づいてＯＣＴ合焦駆動部４５Ａを制御する。

ＯＣＴ合焦レンズ４５に代えて液晶レンズ又はアルバレツレンズが設けられる場合、主制御部２１１は、ＯＣＴ合焦駆動部４５Ａに対する制御と同様に、液晶レンズ又はアルバレツレンズを制御することが可能である。

ＶＣＣ駆動部４７Ａは、測定光ＬＳの光軸ＳＯを中心に円柱レンズ４７１、４７２を互いに独立に回動させる。それにより、円柱度数及び円柱軸角度の少なくとも１つが変更される。

例えば、主制御部２１１は、ＯＣＴ計測により得られた干渉光ＬＣの検出結果の信号対雑音比、又は当該検出結果に基づいて形成されたＯＣＴ画像の画質に対応した評価値（評価値の統計値を含む）に基づいてＶＣＣ駆動部４７Ａを制御する。具体的には、主制御部２１１は、サークルスキャンに対応した偏向パターンに従って測定光ＬＳを偏向することにより得られた干渉光ＬＣの検出結果の信号対雑音比、又は当該検出結果に基づいて形成されたＯＣＴ画像の画質に対応した評価値（評価値の統計値を含む）に基づいてＶＣＣ駆動部４７Ａを制御する。

ＶＣＣレンズ４７に代えて、液晶レンズ、デフォーマブルミラー、又はアルバレツレンズが設けられる場合、主制御部２１１は、ＶＣＣ駆動部４７Ａと同様に、液晶レンズ、デフォーマブルミラー、又はアルバレツレンズを制御することが可能である。

主制御部２１１は、光源ユニット１０１を制御する。光源ユニット１０１の制御には、光源の点灯と消灯の切り替え、出射光の強度制御、出射光の中心周波数の変更、出射光の掃引速度の変更、掃引周波数の変更、掃引波長範囲の変更などが含まれる。

参照駆動部１１４Ａは、参照光の光路に設けられたコーナーキューブ１１４を、この光路に沿って移動する。それにより、測定光ＬＳの光路長と参照光ＬＲの光路長との差が変更される。

例えば、主制御部２１１は、ＯＣＴ計測により得られた干渉光ＬＣの検出結果（又は当該検出結果に基づいて形成されたＯＣＴ画像）を解析し、計測部位が所望の深さ位置になるように参照駆動部１１４Ａを制御する。いくつかの実施形態では、光路長変更部４１と参照駆動部１１４Ａのいずれか一方だけが設けられる。

主制御部２１１は、偏波コントローラ１０３、１１８を制御する。例えば、主制御部２１１は、ＯＣＴ計測により得られた干渉光ＬＣの検出結果の信号対雑音比、又は当該検出結果に基づいて形成されたＯＣＴ画像の画質に対応した評価値（評価値の統計値を含む）に基づいて偏波コントローラ１０３、１１８を制御する。

主制御部２１１は、アッテネータ１２０を制御する。例えば、主制御部２１１は、ＯＣＴ計測により得られた干渉光ＬＣの検出結果の信号対雑音比、又は当該検出結果に基づいて形成されたＯＣＴ画像の画質に対応した評価値（評価値の統計値を含む）に基づいてアッテネータ１２０を制御する。

主制御部２１１は、検出器１２５を制御する。検出器１２５の制御には、露光時間（電荷蓄積時間）、感度、フレームレート等の制御がある。

移動機構１５０は、被検眼Ｅに対して眼底カメラユニット２（ＯＣＴユニット１００）を３次元的に相対的に移動する。例えば、主制御部２１１は、移動機構１５０を制御して、眼底カメラユニット２に設けられた光学系を３次元的に移動させることができる。この制御は、アライメントやトラッキングにおいて用いられる。トラッキングとは、被検眼Ｅの運動に合わせて装置光学系を移動させるものである。トラッキングを行う場合には、事前にアライメントとピント合わせが実行される。トラッキングは、被検眼Ｅを動画撮影して得られる画像に基づき被検眼Ｅの位置や向きに合わせて装置光学系をリアルタイムで移動させることにより、アライメントとピントが合った好適な位置関係を維持する機能である。

いくつかの実施形態では、主制御部２１１（後述の光スキャナ制御部２１１Ａ）は、トラッキング制御により得られたトラッキング情報（被検眼Ｅの移動に対して光学系（干渉光学系）を追従することにより得られたトラッキング情報）に基づいて、ＯＣＴ撮影のためのスキャン範囲（第２スキャン範囲）の位置をリアルタイムに補正する。主制御部２１１は、補正されたスキャン範囲を測定光ＬＳでスキャンするように光スキャナ４２を制御することが可能である。

また、主制御部２１１（後述の表示制御部２１１Ｃ）は、各種情報を表示装置３（又は後述の表示部２４０Ａ）に表示させる。表示装置３に表示される情報には、撮影結果（観察画像、ＯＣＴ画像（第２スキャン範囲を測定光ＬＳでスキャンすることにより得られた干渉光ＬＣの検出結果に基づいて形成された被検眼の画像）、測定結果（測定値）、後述する撮影条件の変更結果を表す情報などがある。

実施形態では、本撮影（本計測）の前に、仮撮影（仮計測）が実行される。仮撮影において取得された干渉光ＬＣの検出結果又は当該検出結果から形成されたＯＣＴ画像に基づいて、本撮影のための撮影条件が調整される。

図４に示すように、主制御部２１１は、光スキャナ制御部２１１Ａと、補正制御部２１１Ｂと、表示制御部２１１Ｃとを含む。

光スキャナ制御部２１１Ａは、上記のように、事前に設定されたスキャンモードに対応した偏向パターンに従って測定光ＬＳを偏向するように光スキャナ４２を制御する。光スキャナ制御部２１１Ａは、仮撮影において、本撮影で実行されるスキャンモードと異なるスキャンモードに従って光スキャナ４２を制御することが可能である。例えば、光スキャナ制御部２１１Ａは、仮撮影において、本撮影における測定光ＬＳの偏向方向と異なる偏向方向に測定光ＬＳを偏向するように光スキャナ４２を制御することが可能である。いくつかの実施形態では、光スキャナ制御部２１１Ａは、仮撮影において、調整対象毎に異なるスキャンモードに従って光スキャナ４２を制御する。

補正制御部２１１Ｂは、干渉光ＬＣの検出結果又は当該検出結果から形成されたＯＣＴ画像に基づいて眼科装置１の各部を制御することにより、撮影条件を変更する。補正制御部２１１Ｂは、少なくともＶＣＣレンズ４７、光路長変更部４１、参照駆動部１１４Ａ、偏波コントローラ１０３、１１８の少なくとも１つを制御することによりＯＣＴ撮影の撮影条件を変更する。

表示制御部２１１Ｃは、上記のような表示装置３に対する表示制御に加えて、補正制御部２１１Ｂによる制御結果を表示装置３に表示させることが可能である。

また、主制御部２１１は、記憶部２１２にデータを書き込む処理や、記憶部２１２からデータを読み出す処理を行う。

（記憶部２１２）
記憶部２１２は、各種のデータを記憶する。記憶部２１２に記憶されるデータとしては、例えば、ＯＣＴ画像の画像データ、眼底像の画像データ、被検眼情報などがある。被検眼情報は、患者ＩＤや氏名などの被検者に関する情報や、左眼／右眼の識別情報などの被検眼に関する情報を含む。また、記憶部２１２には、外部の装置（例えば、レフラクトメータや自覚検眼装置）によりあらかじめ取得された検眼データや、眼科装置１を動作させるための各種プログラムやデータが記憶されている。検眼データは、被検眼の乱視度数、及び乱視軸角度を含む。検眼データは、更に被検眼の球面度数を含んでもよい。検眼データは、被検眼の球面度数、乱視度数、及び乱視軸角度の少なくとも１つを含んでもよい。

記憶部２１２に記憶された上記のデータの少なくとも一部は、眼科装置１の外部に設けられた記憶部に記憶されていてもよい。例えば、眼科装置１は、院内ＬＡＮ（Ｌｏｃａｌ Ａｒｅａ Ｎｅｔｗｏｒｋ）等のネットワークを介して、上記のデータの少なくとも一部を記憶する機能を有するサーバ装置と通信可能に接続される。ここで、眼科装置１とサーバ装置は、インターネット等のＷＡＮ（ＷｉｄｅＡｒｅａＮｅｔｗｏｒｋ）を介して接続されていてもよい。また、ＬＡＮとＷＡＮとを組み合わせたネットワークを介して眼科装置１とサーバ装置を接続してもよい。

（画像形成部２２０）
画像形成部２２０は、検出器１２５からの検出信号（干渉信号）に基づいて、眼底Ｅｆの断層像の画像データを形成する。すなわち、画像形成部２２０は、干渉光学系による干渉光ＬＣの検出結果に基づいて被検眼Ｅの画像を形成する。この処理には、従来のスウェプトソースタイプの光コヒーレンストモグラフィと同様に、ノイズ除去（ノイズ低減）、フィルター処理、ＦＦＴ（Ｆａｓｔ Ｆｏｕｒｉｅｒ Ｔｒａｎｓｆｏｒｍ）などの処理が含まれている。このようにして取得される画像データは、複数のＡライン（被検眼Ｅ内における各測定光ＬＳの経路）における反射強度プロファイルを画像化することにより形成された一群の画像データを含むデータセットである。

画質を向上させるために、同じパターンでのスキャンを複数回繰り返して収集された複数のデータセットを重ね合わせる（加算平均する）ことができる。

画像形成部２２０は、例えば、前述の回路基板を含んで構成される。なお、この明細書では、「画像データ」と、それに基づく「画像」とを同一視することがある。また、眼底Ｅｆの部位とその画像とを同一視することもある。

（データ処理部２３０）
データ処理部２３０は、干渉光ＬＣの検出結果、又は画像形成部２２０により形成された画像に対して各種のデータ処理（画像処理）や解析処理を施す。例えば、データ処理部２３０は、干渉信号の信号対雑音比の解析、画像の輝度補正、分散補正等の各種補正処理を実行する。

また、データ処理部２３０は、眼底カメラユニット２により得られた画像（眼底像、前眼部像等）に対して各種の画像処理や解析処理を施す。

データ処理部２３０は、断層像の間の画素を補間する補間処理などの公知の画像処理を実行して、眼底Ｅｆの３次元画像の画像データを形成する。なお、３次元画像の画像データとは、３次元座標系により画素の位置が定義された画像データを意味する。３次元画像の画像データとしては、３次元的に配列されたボクセルからなる画像データがある。この画像データは、ボリュームデータ或いはボクセルデータなどと呼ばれる。ボリュームデータに基づく画像を表示させる場合、データ処理部２３０は、このボリュームデータに対してレンダリング処理（ボリュームレンダリングやＭＩＰ（Ｍａｘｉｍｕｍ Ｉｎｔｅｎｓｉｔｙ Ｐｒｏｊｅｃｔｉｏｎ：最大値投影）など）を施して、特定の視線方向から見たときの擬似的な３次元画像の画像データを形成する。表示部２４０Ａ等の表示デバイスには、この擬似的な３次元画像が表示される。

また、３次元画像の画像データとして、複数の断層像のスタックデータを形成することも可能である。スタックデータは、複数の走査線に沿って得られた複数の断層像を、走査線の位置関係に基づいて３次元的に配列させることで得られる画像データである。すなわち、スタックデータは、元々個別の２次元座標系により定義されていた複数の断層像を、１つの３次元座標系により表現する（つまり１つの３次元空間に埋め込む）ことにより得られる画像データである。

データ処理部２３０は、眼底像とＯＣＴ画像との位置合わせを行うことができる。眼底像とＯＣＴ画像とが並行して取得される場合には、双方の光学系が同軸であることから、（ほぼ）同時に取得された眼底像とＯＣＴ画像とを、撮影光学系３０の光軸を基準として位置合わせすることができる。また、眼底像とＯＣＴ画像との取得タイミングに関わらず、ＯＣＴ画像をｘｙ平面に投影して得られる画像と眼底像との位置合わせをすることにより、そのＯＣＴ画像とその眼底像とを位置合わせすることも可能である。この位置合わせ手法は、眼底像取得用の光学系とＯＣＴ計測用の光学系とが同軸でない場合においても適用可能である。また、双方の光学系が同軸でない場合であっても、双方の光学系の相対的な位置関係が既知であれば、この相対位置関係を参照して同軸の場合と同様の位置合わせを実行することが可能である。

（解析部２３１）
データ処理部２３０は、上記の解析処理を行う解析部２３１を含む。解析部２３１は、少なくとも、干渉光ＬＣの検出結果又は画像形成部２２０により形成された断層像を解析し、断層像の画質（信号対雑音比）に対応した評価値（評価値の統計値を含む）を解析結果として出力する。主制御部２１１（補正制御部２１１Ｂ）は、解析部２３１により得られた解析結果に基づいてＶＣＣレンズ４７、ＯＣＴ合焦駆動部４５Ａ、光路長変更部４１、偏波コントローラ１０３、１１８の少なくとも１つを制御することが可能である。特に、サークルスキャンに対応した偏向パターンに従って測定光ＬＳを偏向することにより取得された干渉光ＬＣの検出結果又は当該検出結果に基づいて形成された断層像を解析部２３１の解析対象とすることで、光源が高速化した場合でも、眼球の動き等の影響を受けることなく、撮影条件を高精度に調整することが可能になる。

解析部２３１は、図５に示すように、画像分割部２３１Ａと、画像評価部２３１Ｂとを含む。

（画像分割部２３１Ａ）
画像分割部２３１Ａは、画像形成部２２０により形成された断層像をＡスキャン方向に交差する方向に分割することにより複数の分割画像を生成する。いくつかの実施形態では、画像分割部２３１Ａは、断層像をＢスキャン方向（又はＡスキャン方向に直交する方向）に分割することにより複数の分割画像を生成する。いくつかの実施形態では、画像分割部２３１Ａは、被検眼Ｅの瞳孔に相当する位置におけるスキャン中心位置を中心とする扇形の径方向に交差する方向に分割することにより複数の分割画像を生成する。複数の分割画像の形状又はサイズは同一であってもよいし、異なっていてもよい。

図６、図７Ａ、及び図７Ｂに、実施形態に係る画像分割部２３１Ａの動作説明図を示す。図６は、サークルスキャンにより得られた断層像ＩＭＧをｎ（ｎは１以上。ｎは４以上が好ましい）分割して得られた分割画像ＤＰ１～ＤＰｎを表す。図７Ａ及び図７Ｂは、画像分割部２３１Ａがサークルスキャンにより得られた断層像を８分割する例を模式的に表したものである。図７Ａ及び図７Ｂは、スキャン開始位置Ｓｔを起点に開始されるサークルスキャンによる測定光ＬＳの照射位置の移動軌跡を模式的に表す。

断層像ＩＭＧでは、１０２４個のＡスキャン画像がＢスキャン方向（Ａスキャン方向の直交する方向）に配列される。画像分割部２３１Ａは、例えば、断層像ＩＭＧをＢスキャン方向にｎ分割して、分割画像ＤＰ１～ＤＰｎを生成する。図６では、耳側Ｔ（Ｔｅｍｐｏｒａｌ）、上方Ｓ（Ｓｕｐｅｒｉｏｒ）、鼻側Ｎ（Ｎａｓａｌ）、下方Ｉ（Ｉｎｆｅｒｉｏｒ）、及び耳側Ｔの順序で移動するサークルスキャン方向に、分割画像ＤＰ１～ＤＰｎが生成される。分割画像ＤＰ１～ＤＰｎのそれぞれのＢスキャン方向の幅は、同一であってもよいし、同一でなくてもよい。

例えば、図７Ａでは、分割画像の境界線の少なくとも１つの向きが水平方向（ｘ方向）又は垂直方向（ｙ方向）になるように断層像が分割される。これに対して、図７Ｂでは、分割画像の境界線の向きが水平方向及び垂直方向に一致しないように断層像が分割される。例えば、図７Ｂに示すようにサークルスキャンのスキャン開始位置Ｓｔを変更することで、スキャン開始位置ＳｔにおけるＡスキャンラインを基準に、断層像を８分割することができる。或いは、スキャン開始位置Ｓｔを変更することなく、断層像の分割位置を変更することで、図７Ｂに示すように断層像を８分割することができる。

図７Ｂに示すように、分割画像の境界線の向きが水平方向及び垂直方向に一致しないように断層像を分割することで、乱視度数及び乱視軸角度に関して垂直方向と水平方向とで画質の差が大きくなる確率が高いことを利用して、分割画像の画質の変化に対する評価値の感度を向上させることができる。それにより、撮影条件を高精度に調整することができるようになる。

いくつかの実施形態では、画像分割部２３１Ａは、断層像を偶数個に分割する。それにより、後述の画像評価部２３１Ｂは、撮影部位におけるサークルスキャンの中心位置を基準として点対称の分割画像の対称性に基づいて画質を評価することが可能である。

（画像評価部２３１Ｂ）
画像評価部２３１Ｂは、画像分割部２３１Ａにより生成された複数の分割画像のそれぞれについて解析処理を施し、得られた解析結果に対応する評価値を算出する。すなわち、画像評価部２３１Ｂは、複数の分割画像に対して複数の評価値を算出する。

画像評価部２３１Ｂは、画質を定量的に表現する任意の評価値を算出することが可能である。典型的には、画像の品質が高いほど値が大きくなるように評価値が算出される。画像評価部２３１Ｂにより実行される評価値の算出処理は、任意の処理であってよい。例えば、画像評価部２３１Ｂは、信号対雑音比（ＳＮＲ）、コントラスト対雑音比（ＣＮＲ）、二乗平均平方根（ＲＭＳ）粒状度、ウィーナースペクトル（Ｗｉｅｎｅｒ Ｓｐｅｃｔｒｕｍ）、変調伝達関数（ＭＴＦ）、品質指標（Ｑｕａｌｉｔｙ Ｉｎｄｅｘ；ＱＩ）など、任意の公知技術を利用した処理を実行することが可能である。

いくつかの実施形態では、画像評価部２３１Ｂは、所定の部位に相当する画像に対して設定された評価領域に対して所定の解析処理（例えば、セグメンテーション処理）を適用する。それにより、画像評価部２３１Ｂは、所望の部位（組織）に相当する画像領域（信号領域）と、それ以外の画像領域（非信号領域）とを特定する。次に、画像評価部２３１Ｂは、信号領域における輝度のヒストグラムと、非信号領域における輝度のヒストグラムとを生成する。続いて、画像評価部２３１Ｂは、これら２つのヒストグラムの重なり具合から画質に対応した評価値を算出する。例えば、双方のヒストグラムが完全に重なっている場合には評価値＝０となり、双方のヒストグラムが完全に分離している場合には評価値＝１００となるように、０～１００の範囲において評価値が定義される。この評価演算は、例えば、２つのヒストグラムの正規化、確率分布関数の生成、所定の演算式を用いた評価値の算出などを含んでいてよい。

更に、画像評価部２３１Ｂは、複数の分割画像に対する複数の評価値の統計値を算出することが可能である。統計値の例として、最大値、最小値、中央値、平均値、最頻値、レンジ、分散、標準偏差、及び、上記のいずれかの統計値を用いた所定の評価式の値などがある。

評価式の例として、複数の分割画像の評価値の合計値が高く、且つ、複数の分割画像の評価値のバラツキが小さくなるほど、評価式の値ＶＣＣＱが大きくなるような下記の式（１）などがある。

式（１）では、評価式の値ＶＣＣＱは、複数の分割画像の評価値の和を（複数の評価値の標準偏差＋１）で除した値である。

主制御部２１１（補正制御部２１１Ｂ）は、画像評価部２３１Ｂにより算出された複数の評価値の統計値に基づいてＶＣＣレンズ４７、ＯＣＴ合焦駆動部４５Ａ、光路長変更部４１、偏波コントローラ１０３、１１８の少なくとも１つを制御することが可能である。例えば、複数の評価値の統計値が最大（最小、又は所望の値）になるようにＶＣＣレンズ４７等の制御とＯＣＴ計測とが繰り返し実行される。

いくつかの実施形態では、主制御部２１１は、式（１）により得られた評価式の値ＶＣＣＱに基づいてＶＣＣレンズ４７、ＯＣＴ合焦駆動部４５Ａ、光路長変更部４１、偏波コントローラ１０３、１１８の少なくとも１つを制御する。この場合、評価式の値ＶＣＣＱが最大になるようにＶＣＣレンズ４７等の制御とＯＣＴ計測とが繰り返し実行される。

主制御部２１１（表示制御部２１１Ｃ）は、画像評価部２３１Ｂにより算出された評価値又は統計値を表示装置３又は表示部２４０Ａ（表示手段）に表示させる。いくつかの実施形態では、主制御部２１１は、画像分割部２３１Ａにより生成された複数の分割画像の少なくとも１つについて、分割画像の評価値を当該分割画像に関連付けて表示装置３等に表示させる。

以上のように機能するデータ処理部２３０は、例えば、前述のプロセッサ、ＲＡＭ、ＲＯＭ、ハードディスクドライブ、回路基板等を含んで構成される。ハードディスクドライブ等の記憶装置には、上記機能をマイクロプロセッサに実行させるコンピュータプログラムがあらかじめ格納されている。

（ユーザインターフェイス２４０）
ユーザインターフェイス２４０には、表示部２４０Ａと操作部２４０Ｂとが含まれる。表示部２４０Ａは、前述した演算制御ユニット２００の表示デバイスや表示装置３を含んで構成される。操作部２４０Ｂは、前述した演算制御ユニット２００の操作デバイスを含んで構成される。操作部２４０Ｂには、眼科装置１の筐体や外部に設けられた各種のボタンやキーが含まれていてもよい。例えば眼底カメラユニット２が従来の眼底カメラと同様の筺体を有する場合、操作部２４０Ｂは、この筺体に設けられたジョイスティックや操作パネル等を含んでいてもよい。また、表示部２４０Ａは、眼底カメラユニット２の筺体に設けられたタッチパネルなどの各種表示デバイスを含んでいてもよい。

なお、表示部２４０Ａと操作部２４０Ｂは、それぞれ個別のデバイスとして構成される必要はない。例えばタッチパネルのように、表示機能と操作機能とが一体化されたデバイスを用いることも可能である。その場合、操作部２４０Ｂは、このタッチパネルとコンピュータプログラムとを含んで構成される。操作部２４０Ｂに対する操作内容は、電気信号として制御部２１０に入力される。また、表示部２４０Ａに表示されたグラフィカルユーザインターフェイス（ＧＵＩ）と、操作部２４０Ｂとを用いて、操作や情報入力を行うようにしてもよい。

表示装置３又は表示部２４０Ａは、この実施形態に係る「表示手段」の一例である。

＜撮影条件の調整例＞
上記のように、実施形態では、本撮影の前に仮撮影が実行され、本撮影のための撮影条件の調整が行われる。撮影条件の調整には、ＶＣＣレンズ４７の調整、ＯＣＴ合焦レンズ４５の調整、光路長変更部４１又はコーナーキューブ１１４の調整、偏波コントローラ１０３、１１８の調整がある。

（ＶＣＣレンズ４７の調整例）
まず、主制御部２１１は、ＯＣＴ計測を実行する。ＯＣＴ計測では、サークルスキャンが実行される（すなわち、干渉光学系の光軸に垂直な平面における水平方向及び垂直方向に測定光ＬＳが偏向される）。画像形成部２２０は、サークルスキャンにより得られた干渉光ＬＣの検出結果に基づいて、図６に示すような断層像ＩＭＧを形成する。

次に、画像分割部２３１Ａは、図６に示すように、断層像ＩＭＧを分割して複数の分割画像を生成する。画像評価部２３１Ｂは、生成された分割画像毎に、上記のように評価値を算出する。続いて、画像評価部２３１Ｂは、複数の分割画像について算出された複数の評価値の統計値を算出する。例えば、画像評価部２３１Ｂは、式（１）に示す評価式の値を統計値として算出する。

主制御部２１１は、画像評価部２３１Ｂにより算出された複数の評価値の統計値に基づいてＶＣＣ駆動部４７Ａを制御する。それにより、複数の分割画像における複数の評価値の統計値に応じて、円柱度数及び円柱軸角度の少なくとも１つが変更される。

主制御部２１１は、統計値が所定の第１終了条件を満足するまで、ＯＣＴ計測と、ＯＣＴ計測により得られた干渉光ＬＣの検出結果に基づく断層像に対する統計値の算出と、ＶＣＣ駆動部４７Ａに対する制御とを反復的に実行する（繰り返す）。第１終了条件は、既定のサイズ以下の最小錯乱円の位置（強主経線が収束する前焦線の位置と弱主経線が収束する後焦線の位置との中間位置）を所定の位置（例えば、眼底Ｅｆ（網膜）又はその近傍）に配置するための条件である。例えば、主制御部２１１は、統計値と第１終了条件を満たすための第１既定値との差が小さくなるように、ＯＣＴ計測と統計値の算出とＶＣＣ駆動部４７Ａに対する制御とを反復的に実行する。主制御部２１１は、統計値と第１既定値との関係が所定の第１関係になったとき、ＶＣＣレンズ４７の調整を終了する。

例えば、主制御部２１１は、複数の分割画像の評価値の合計値が高く、且つ、複数の分割画像の評価値のバラツキが小さくなるように、ＯＣＴ計測と統計値の算出とＶＣＣ駆動部４７Ａに対する制御とを反復的に実行する。

いくつかの実施形態では、表示制御部２１１Ｃは、変更前又は変更後の円柱度数及び円柱軸角度の少なくとも一方を表示装置３又は表示部２４０Ａに表示させる。

いくつかの実施形態では、上記の調整例において実行されるサークルスキャンのスキャン範囲は、ＯＣＴ画像を取得するための撮影範囲に内包される。すなわち、光スキャナ制御部２１１Ａは、被検眼Ｅの第１スキャン範囲を測定光ＬＳでスキャンするように光スキャナ４２を制御することで干渉光学系により得られた干渉光ＬＣの検出結果に基づいてＶＣＣレンズ４７（ＶＣＣ駆動部４７Ａ）を制御する。その後、光スキャナ制御部２１１Ａは、第１スキャン範囲を内包する第２スキャン範囲を測定光ＬＳでスキャンするように光スキャナ４２を制御する。画像形成部２２０は、第２スキャン範囲を測定光ＬＳでスキャンすることにより得られた干渉光ＬＣの検出結果に基づいて被検眼ＥのＯＣＴ画像（断層像）を形成する。

（ＯＣＴ合焦レンズ４５の調整例）
いくつかの実施形態では、ＯＣＴ合焦レンズ４５の調整は、ＶＣＣレンズ４７の調整と同様に、サークルスキャンにより得られた断層像（又は干渉光ＬＣの検出結果）を用いて実行される。すなわち、サークルスキャンにより得られた断層像を分割した複数の分割画像の複数の評価値の統計値が所定の第２終了条件を満足するまで、ＯＣＴ計測と、上記の統計値の算出と、ＯＣＴ合焦駆動部４５Ａに対する制御とが反復的に実行される。第２終了条件は、第１終了条件と同様であってよい。例えば、主制御部２１１は、統計値と第２終了条件を満たすための第２既定値との差が小さくなるように、ＯＣＴ計測と統計値の算出とＯＣＴ合焦駆動部４５Ａに対する制御とを反復的に実行する。主制御部２１１は、統計値と第２既定値との関係が所定の第２関係になったとき、ＯＣＴ合焦レンズ４５の調整を終了する。

いくつかの実施形態では、ＯＣＴ合焦レンズ４５の調整は、サークルスキャン以外のスキャン（例えば、ラインスキャン）により得られた断層像（又は干渉光ＬＣの検出結果）を用いて実行される。すなわち、ラインスキャンにより得られた断層像を分割した複数の分割画像の複数の評価値の統計値が所定の第２終了条件を満足するまで、ＯＣＴ計測と、上記の統計値の算出と、ＯＣＴ合焦駆動部４５Ａに対する制御とが反復的に実行される。第２終了条件は、第１終了条件と同様であってよい。例えば、主制御部２１１は、統計値と第２終了条件を満たすための第２既定値との差が小さくなるように、ＯＣＴ計測と統計値の算出とＯＣＴ合焦駆動部４５Ａに対する制御とを反復的に実行する。主制御部２１１は、統計値と第２既定値との関係が所定の第２関係になったとき、ＯＣＴ合焦レンズ４５の調整を終了する。

いくつかの実施形態では、表示制御部２１１Ｃは、変更前又は変更後のＯＣＴ合焦レンズ４５の位置を表示装置３又は表示部２４０Ａに表示させる。

いくつかの実施形態では、上記の調整例において実行されるスキャンのスキャン範囲は、ＯＣＴ画像を取得するための撮影範囲に内包される。すなわち、光スキャナ制御部２１１Ａは、被検眼Ｅの第１スキャン範囲を測定光ＬＳでスキャンするように光スキャナ４２を制御することで干渉光学系により得られた干渉光ＬＣの検出結果に基づいてＯＣＴ合焦レンズ４５（ＯＣＴ合焦駆動部４５Ａ）を制御する。その後、光スキャナ制御部２１１Ａは、第１スキャン範囲を内包する第２スキャン範囲を測定光ＬＳでスキャンするように光スキャナ４２を制御する。画像形成部２２０は、第２スキャン範囲を測定光ＬＳでスキャンすることにより得られた干渉光ＬＣの検出結果に基づいて被検眼ＥのＯＣＴ画像（断層像）を形成する。

（光路長変更部４１、コーナーキューブ１１４の調整例）
いくつかの実施形態では、光路長変更部４１又はコーナーキューブ１１４の調整は、ＶＣＣレンズ４７の調整と同様に、サークルスキャンにより得られた断層像（又は干渉光ＬＣの検出結果）を用いて実行される。この場合、サークルスキャンにより得られた断層像全体の単一の評価値が所定の第３終了条件を満足するまで、ＯＣＴ計測と、上記の評価値の算出と、光路長変更部４１又は参照駆動部１１４Ａに対する制御とが反復的に実行される。第３終了条件は、断層像における注目部位（組織）に相当する画像領域が所定の深さ範囲内に入るための条件である。断層像における注目部位に相当する画像領域の特定は、断層像に対してセグメンテーション処理を実行することにより得られた複数の層領域から所望の注目部位に相当する層領域を特定することにより行われる。例えば、主制御部２１１は、評価値と第３終了条件を満たすための第３既定値との差が小さくなるように、ＯＣＴ計測と統計値の算出と光路長変更部４１又はコーナーキューブ１１４に対する制御とを反復的に実行する。主制御部２１１は、評価値と第３既定値との関係が所定の第３関係になったとき、光路長変更部４１又はコーナーキューブ１１４の調整を終了する。

いくつかの実施形態では、光路長変更部４１又はコーナーキューブ１１４の調整は、ラインスキャンにより得られた断層像（又は干渉光ＬＣの検出結果）を用いて実行される。この場合、ラインスキャンにより得られた断層像全体の単一の評価値が所定の第３終了条件を満足するまで、ＯＣＴ計測と、上記の評価値の算出と、光路長変更部４１又はコーナーキューブ１１４に対する制御とが反復的に実行される。

いくつかの実施形態では、表示制御部２１１Ｃは、変更前又は変更後の光路長に対応する情報を表示装置３又は表示部２４０Ａに表示させる。

いくつかの実施形態では、上記の調整例において実行されるスキャンのスキャン範囲は、ＯＣＴ画像を取得するための撮影範囲に内包される。すなわち、光スキャナ制御部２１１Ａは、被検眼Ｅの第１スキャン範囲を測定光ＬＳでスキャンするように光スキャナ４２を制御することで干渉光学系により得られた干渉光ＬＣの検出結果に基づいて光路長変更部４１又はコーナーキューブ１１４（参照駆動部１１４Ａ）を制御する。その後、光スキャナ制御部２１１Ａは、第１スキャン範囲を内包する第２スキャン範囲を測定光ＬＳでスキャンするように光スキャナ４２を制御する。画像形成部２２０は、第２スキャン範囲を測定光ＬＳでスキャンすることにより得られた干渉光ＬＣの検出結果に基づいて被検眼ＥのＯＣＴ画像（断層像）を形成する。

（偏波コントローラ１０３、１１８の調整例）
いくつかの実施形態では、偏波コントローラ１０３、１１８の調整は、ＶＣＣレンズ４７の調整と同様に、サークルスキャンにより得られた断層像（又は干渉光ＬＣの検出結果）を用いて実行される。この場合、サークルスキャンにより得られた断層像全体の単一の評価値が所定の第４終了条件を満足するまで、ＯＣＴ計測と、上記の評価値の算出と、偏波コントローラ１０３、１１８に対する制御とが反復的に実行される。第４終了条件は、断層像全体の画質が最も高くなるための条件（例えば、評価値が最大値になること）である。例えば、主制御部２１１は、評価値と第４終了条件を満たすための第４既定値との差が小さくなるように、ＯＣＴ計測と統計値の算出と偏波コントローラ１０３、１１８に対する制御とを反復的に実行する。主制御部２１１は、評価値と第４既定値との関係が所定の第４関係になったとき、偏波コントローラ１０３、１１８の調整を終了する。

いくつかの実施形態では、偏波コントローラ１０３、１１８の調整は、ラインスキャンにより得られた断層像（又は干渉光ＬＣの検出結果）を用いて実行される。この場合、ラインスキャンにより得られた断層像全体の単一の評価値が所定の第４終了条件を満足するまで、ＯＣＴ計測と、上記の評価値の算出と、偏波コントローラ１０３、１１８に対する制御とが反復的に実行される。

いくつかの実施形態では、表示制御部２１１Ｃは、変更前又は変更後の偏波状態に対応する情報を表示装置３又は表示部２４０Ａに表示させる。

いくつかの実施形態では、上記の調整例において実行されるサークルスキャンのスキャン範囲は、ＯＣＴ画像を取得するための撮影範囲に内包される。すなわち、光スキャナ制御部２１１Ａは、被検眼Ｅの第１スキャン範囲を測定光ＬＳでスキャンするように光スキャナ４２を制御することで干渉光学系により得られた干渉光ＬＣの検出結果に基づいて偏波コントローラ１０３、１１８を制御する。その後、光スキャナ制御部２１１Ａは、第１スキャン範囲を内包する第２スキャン範囲を測定光ＬＳでスキャンするように光スキャナ４２を制御する。画像形成部２２０は、第２スキャン範囲を測定光ＬＳでスキャンすることにより得られた干渉光ＬＣの検出結果に基づいて被検眼ＥのＯＣＴ画像（断層像）を形成する。

図８Ａ及び図８Ｂに、仮撮影において実行されるサークルスキャンと本撮影において実行されるスキャンのスキャン範囲を模式的に示す。

図８Ａに示すように、本撮影において実行されるスキャンのスキャン範囲ＳＡ０に対して、仮撮影では、例えばサークルスキャンＣＳ１、ＣＳ２、ＣＳ３が実行される。すなわち、スキャン範囲ＳＡ０内の少なくとも一部をスキャンするようにサークルスキャンが実行される。仮撮影において実行されるサークルスキャンは、スキャン範囲ＳＡ０に内包されることが望ましい（例えば、サークルスキャンＣＳ１、ＣＳ２）。

いくつかの実施形態では、図８Ｂに示すように、スキャン範囲ＳＡ０の中央部又は角部をスキャンするようにサークルスキャンＣＳ１、ＣＳ１１、ＣＳ１２、ＣＳ１２、ＣＳ１３が実行される。撮影条件の調整対象に応じて、スキャン範囲ＳＡ０内の位置を変更してサークルスキャンを実行してもよい。

レーザー光のスペックルノイズの空間的な拡がり（スペックルサイズ）は、回折限界ｒにほぼ等しくなる。回折限界ｒは、レーザー光の中心周波数λに比例し、対物レンズ２２の開口数に反比例する。いくつかの実施形態では、サークルスキャンが実行されたときの被検眼Ｅにおけるサークル状のスキャンライン（直径Ｒ）におけるＡライン数をＮとしたとき、Ｒ×π／Ｎ＜ｒを満たす。このとき、サークルスキャンのＡライン数を減らすことが可能になり、撮影条件をより短時間で高精度に調整することができるようになる。

なお、上記の各調整例では、断層像を形成する場合について説明したが、干渉光ＬＣの検出結果から評価値を算出することも可能である。

［動作例］
実施形態に係る眼科装置１の動作例について説明する。

図９、図１０Ａ、及び図１０Ｂに、実施形態に係る眼科装置１の動作例のフロー図を示す。図９は、実施形態に係る眼科装置１の動作例のフローチャートを表す。図１０Ａ及び図１０Ｂは、図９のステップＳ６の動作例のフローチャートを表す。記憶部２１２には、図９、図１０Ａ、及び図１０Ｂに示す処理を実現するためのコンピュータプログラムが記憶されている。主制御部２１１は、このコンピュータプログラムに従って動作することにより、図９、図１０Ａ及び図１０Ｂに示す処理を実行する。

（Ｓ１：アライメント）
まず、所定の固視位置に固視標を提示した状態で、主制御部２１１は、被検眼Ｅに対する光学系のアライメント調整を行う。アライメント調整の例として、手動で行う場合と自動で行う場合とがある。

アライメント調整を手動で行う場合、主制御部２１１は、アライメント光学系５０により一対のアライメント指標を被検眼Ｅに投影する。表示部２４０Ａには、これらアライメント指標の受光像として一対のアライメント輝点が表示される。また、主制御部２１１は、一対のアライメント輝点の移動目標となる位置を表すアライメントスケールを表示部２４０Ａに表示させる。アライメントスケールは、たとえば括弧型の画像である。

被検眼Ｅと眼底カメラユニット２（対物レンズ２２）との位置関係が適正である場合、すなわち、被検眼Ｅと眼底カメラユニット２との間の距離（ワーキングディスタンス）が適正であり、且つ、眼底カメラユニット２の光学系の光軸と被検眼Ｅの眼軸（角膜頂点位置）とが（ほぼ）一致している場合、公知の手法により、一対のアライメント輝点は、所定位置（たとえば、角膜頂点と角膜曲率中心との中間位置）においてそれぞれ一旦結像して被検眼Ｅに投影されるようになっている。検者（ユーザ）は、一対のアライメント輝点をアライメントスケール内に導くように眼底カメラユニット２を３次元的に移動させることにより、被検眼Ｅに対する光学系のアライメント調整を行うことが可能である。

アライメント調整を自動で行う場合、眼底カメラユニット２を移動させるための移動機構１５０が用いられる。データ処理部２３０は、表示部２４０Ａに表示される画面中の各アライメント輝点の位置を特定し、特定された各アライメント輝点の位置とアライメントスケールとの変位を求める。主制御部２１１は、この変位をキャンセルするように移動機構１５０により眼底カメラユニット２を移動させる。各アライメント輝点の位置の特定は、たとえば、各アライメント輝点の輝度分布を求め、この輝度分布に基づいて重心位置を求めることにより実行できる。アライメントスケールの位置は一定であるので、たとえばその中心位置と上記重心位置との変位を求めることにより、目的の変位を求めることが可能である。眼底カメラユニット２の移動方向及び移動距離は、あらかじめ設定されたｘ方向、ｙ方向及びｚ方向の各方向における単位移動距離（たとえば、眼底カメラユニット２をどの方向にどれだけ移動させると、アライメント指標がどの方向にどれだけ移動するかを事前に計測した結果）を参照して決定することが可能である。主制御部２１１は、決定された移動方向及び移動距離に応じた信号を生成し、この信号を移動機構１５０に送信する。それにより、被検眼Ｅに対する光学系の位置が自動で調整される。

（Ｓ２：ＶＣＣ駆動部を初期化）
次に、主制御部２１１は、ＶＣＣ駆動部４７Ａを初期化する。ＶＣＣ駆動部４７Ａを初期化することにより、ＶＣＣレンズ４７の円柱度数を初期化する。これにより、後述のステップＳ３～ステップＳ６において、意図しない円柱度数が適用された状態で眼科装置１の各部の調整が行われる事態を回避することができる。

（Ｓ３：深さ位置を調整）
続いて、主制御部２１１は、被検眼Ｅにおける注目部位に相当する画像領域が断層像における所定の深さ範囲に入るように、注目部位に相当する画像領域が描出される深さ位置の調整を行う。

具体的には、主制御部２１１は、光源ユニット１０１を点灯させ、ラインスキャンに対応した偏向パターンに従って測定光ＬＳを偏向するように光スキャナ４２を制御することにより、ＯＣＴ計測を実行させる。

次に、主制御部２１１は、ラインスキャンにより得られた干渉光ＬＣの検出結果に基づいて画像形成部２２０に断層像を形成させる。

次に、主制御部２１１は、解析部２３１を制御することにより、断層像に対してセグメンテーション処理を施し、複数の層領域を特定させる。解析部２３１は、特定された複数の層領域から所望の浅層側の第１層領域と深層側の第２層領域とを特定する。主制御部２１１は、特定された第１層領域と第２層領域の間の領域に相当する画像領域が断層像における所定の深さ範囲内に入るように、光路長変更部４１又は参照駆動部１１４Ａを制御する。

いくつかの実施形態では、ステップＳ３は、第１層領域と第２層領域との間の領域に相当する画像領域が断層像における所望の深さ範囲内に入るように、ラインスキャンと、層領域の特定処理とが繰り返される。

いくつかの実施形態では、ステップＳ３では、干渉光ＬＣの検出結果は、サークルスキャンにより取得される。

（Ｓ４：フォーカス調整）
次に、主制御部２１１は、フォーカス調整を行う。

具体的には、主制御部２１１は、光源ユニット１０１を点灯させ、サークルスキャンに対応した偏向パターンに従って測定光ＬＳを偏向するように光スキャナ４２を制御することにより、ＯＣＴ計測を実行させる。

次に、主制御部２１１は、サークルスキャンにより得られた干渉光ＬＣの検出結果に基づいて画像形成部２２０に断層像を形成させる。

続いて、主制御部２１１は、形成された断層像をＢスキャン方向に分割することにより複数の分割画像を画像分割部２３１Ａに生成させる。画像分割部２３１Ａは、例えば、断層像をＢスキャン方向に８分割することにより分割画像ＤＰ１～ＤＰ８を生成する。

次に、主制御部２１１は、生成された分割画像ＤＰ１～ＤＰ８のそれぞれの画質に対応した評価値を画像評価部２３１Ｂに算出させる。画像評価部２３１Ｂは、上記のように、生成された分割画像毎に評価値を算出する。更に、画像評価部２３１Ｂは、複数の分割画像について算出された複数の評価値の統計値を算出する。画像評価部２３１Ｂは、例えば、式（１）に示す評価式の値ＶＣＣＱを統計値として算出する。

主制御部２１１は、画像評価部２３１Ｂにより算出された複数の評価値の統計値（評価式の値ＶＣＣＱ）に基づいて、ＯＣＴ合焦駆動部４５Ａを制御する。それにより、複数の評価値の統計値に対応した位置にＯＣＴ合焦レンズ４５が移動される。

複数の評価値の統計値が所定の終了条件を満足するまで、ＯＣＴ計測と、上記の統計値の算出と、ＯＣＴ合焦駆動部４５Ａに対する制御とが反復的に実行される。例えば、主制御部２１１は、統計値と所定の終了条件を満たすための既定値との差が小さくなるように、ＯＣＴ計測と統計値の算出とＯＣＴ合焦駆動部４５Ａに対する制御とを反復的に実行する。主制御部２１１は、統計値と既定値との関係が所定の関係になったとき、ＯＣＴ合焦レンズ４５の調整を終了する。

（Ｓ５：偏波調整）
次に、主制御部２１１は、偏波調整を行う。偏波調整では、測定光ＬＳの偏波状態及び参照光ＬＲの偏波状態の少なくとも一方が調整される。

具体的には、主制御部２１１は、光源ユニット１０１を点灯させ、サークルスキャンに対応した偏向パターンに従って測定光ＬＳを偏向するように光スキャナ４２を制御することにより、ＯＣＴ計測を実行させる。

次に、主制御部２１１は、サークルスキャンにより得られた干渉光ＬＣの検出結果に基づいて画像形成部２２０に断層像を形成させる。

続いて、主制御部２１１は、形成された断層像をＢスキャン方向に分割することにより複数の分割画像を画像分割部２３１Ａに生成させる。画像分割部２３１Ａは、例えば、断層像をＢスキャン方向に８分割することにより分割画像ＤＰ１～ＤＰ８を生成する。

次に、主制御部２１１は、生成された分割画像ＤＰ１～ＤＰ８のそれぞれの画質に対応した評価値を画像評価部２３１Ｂに算出させる。画像評価部２３１Ｂは、上記のように、生成された分割画像毎に評価値を算出する。更に、画像評価部２３１Ｂは、複数の分割画像について算出された複数の評価値の統計値を算出する。画像評価部２３１Ｂは、例えば、式（１）に示す評価式の値ＶＣＣＱを統計値として算出する。

主制御部２１１は、画像評価部２３１Ｂにより算出された複数の評価値の統計値（評価式の値ＶＣＣＱ）が最大になるように偏波コントローラ１０３又は偏波コントローラ１１８を制御する。それにより、複数の評価値の統計値に応じて、測定光ＬＳの偏波状態及び参照光ＬＲの偏波状態の少なくとも１つが変更される。いくつかの実施形態では、偏波コントローラ１０３及び偏波コントローラ１１８の一方の調整が行われた後、他方の調整が行われる。

複数の評価値の統計値が所定の終了条件を満足するまで、ＯＣＴ計測と、上記の統計値の算出と、偏波コントローラ１０３、１１８に対する制御とが反復的に実行される。例えば、主制御部２１１は、統計値と所定の終了条件を満たすための既定値との差が小さくなるように、ＯＣＴ計測と統計値の算出と偏波コントローラ１０３、１１８に対する制御とを反復的に実行する。主制御部２１１は、統計値と既定値との関係が所定の関係になったとき、偏波コントローラ１０３、１１８の調整を終了する。

（Ｓ６：ＶＣＣレンズを調整）
次に、主制御部２１１は、ＶＣＣレンズ４７の調整を行う。

ステップＳ６の詳細は、後述する。

（Ｓ７：ＯＣＴ計測）
ステップＳ２～ステップＳ６により眼科装置１の各部の調整を調整することにより撮影条件が調整されると、主制御部２１１は、本撮影のためのＯＣＴ計測を実行する。

具体的には、主制御部２１１は、光源ユニット１０１を点灯させ、所望のスキャンモードに対応した偏向パターンに従って測定光ＬＳを偏向するように光スキャナ４２を制御することにより、ＯＣＴ計測を実行させる。ステップＳ７では、例えば、ラインスキャン、サークルスキャン、ラジアルスキャン、マルチラインクロススキャン、又は３Ｄスキャンが実行される。

次に、主制御部２１１は、所望のスキャンモードに対応した偏向パターンのスキャンにより得られた干渉光ＬＣの検出結果に基づいて画像形成部２２０に断層像を形成させる。

ステップＳ７では、形成された断層像を用いて被検眼Ｅの画像がライブ表示されたり、３次元画像が形成されたりする。

以上で、眼科装置１の動作は終了である（エンド）。

図９のステップＳ６では、例えば、図１０Ａ及び図１０Ｂに示すフローが実行される。

図１１に、図９のステップＳ６の動作説明図を示す。図１１は、円柱レンズ４７１（ＶＣＣ１）の軸方向と円柱レンズ４７２（ＶＣＣ２）の軸方向とを模式的に表す。図１１では、説明の便宜上、水平方向の軸角度を０度と表し、垂直方向（上方向）の軸角度を９０度と表し、０度から９０度に向かう回転方向を正方向とする。

（Ｓ１１：円柱度数を初期値に設定）
まず、主制御部２１１は、ＶＣＣ駆動部４７Ａを制御して、円柱レンズ４７１、４７２を回動して円柱度数（図１１のθｐ）を初期値に設定する。

具体的には、主制御部２１１は、ＶＣＣ駆動部４７Ａを制御して、円柱レンズ４７１の軸方向と円柱レンズ４７２の軸方向とを０度に設定する。その後、主制御部２１１は、ＶＣＣ駆動部４７Ａを制御して、円柱レンズ４７１の軸方向と円柱レンズ４７２の軸方向とを変更し、あらかじめ決められている円柱度数θｐをθｐ´に設定する（θｐ＝θｐ´）。

続いて、主制御部２１１は、ＶＣＣレンズ４７の円柱軸角度を決定するための制御を実行する（ステップＳ１２～ステップＳ１６）。

（Ｓ１２：ＯＣＴ計測）
次に、主制御部２１１は、ＯＣＴユニット１００等を制御してＯＣＴ計測を実行する。

具体的には、主制御部２１１は、光源ユニット１０１を点灯させ、サークルスキャンに対応した偏向パターンに従って測定光ＬＳを偏向するように光スキャナ４２を制御することにより、ＯＣＴ計測を実行させる。

（Ｓ１３：ＯＣＴ画像を評価）
次に、主制御部２１１は、ステップＳ１２において得られた干渉光ＬＣの検出結果に基づいてＯＣＴ画像（断層像）を画像形成部２２０に形成させる。

続いて、主制御部２１１は、形成されたＯＣＴ画像をＢスキャン方向に分割することにより分割画像ＤＰ１～ＤＰ８を画像分割部２３１Ａに生成させる。

続いて、主制御部２１１は、生成された分割画像ＤＰ１～ＤＰ８のそれぞれの画質に対応した評価値を画像評価部２３１Ｂに算出させる。画像評価部２３１Ｂは、上記のように、生成された分割画像毎に評価値を算出する。更に、画像評価部２３１Ｂは、分割画像ＤＰ１～ＤＰ８について算出された評価値の統計値を算出する。画像評価部２３１Ｂは、例えば、式（１）に示す評価式の値ＶＣＣＱを統計値として算出する。

（Ｓ１４：次？）
次に、主制御部２１１は、円柱軸角度を更に変更してＯＣＴ画像の再評価を行うか否かを判定する。例えば、主制御部２１１は、０度から１８０度までの範囲の円柱軸角度θａについてＯＣＴ画像の評価を行うようにＯＣＴ画像の再評価を繰り返す。

ステップＳ１４においてＯＣＴ画像の再評価を行うと判定されたとき（ステップＳ１４：Ｙ）、眼科装置１の動作はステップＳ１５に移行する。一方、ステップＳ１４においてＯＣＴ画像の再評価を行わないと判定されたとき（ステップＳ１４：Ｎ）、眼科装置１の動作はステップＳ１６に移行する。

（Ｓ１５：円柱軸角度を変更）
ステップＳ１４においてＯＣＴ画像の再評価を行うと判定されたとき（ステップＳ１４：Ｙ）、主制御部２１１は、ＶＣＣ駆動部４７Ａを制御して、円柱度数θｐを維持した状態で円柱レンズ４７１の軸方向と円柱レンズ４７２の軸方向とを変更する。

具体的には、主制御部２１１は、ＶＣＣ駆動部４７Ａを制御して、正方向に所定のステップだけ円柱軸角度を変更する。

眼科装置１の動作は、ステップＳ１２に移行する。

ステップＳ１２～ステップＳ１５は、０度から１８０度までの範囲の円柱軸角度θａについて繰り返し実行される。

（Ｓ１６：円柱軸角度を決定）
ステップＳ１４においてＯＣＴ画像の再評価を行わないと判定されたとき（ステップＳ１４：Ｎ）、主制御部２１１は、円柱軸角度を決定する。

具体的には、主制御部２１１は、０度から１８０度までの範囲の円柱軸角度θａについて繰り返し実行されたステップＳ１３において算出された統計値の最大値を特定し、統計値が最大値になるときの円柱軸角度θａ´を特定する。主制御部２１１は、特定された円柱軸角度を円柱軸角度θａとして決定する（θａ＝θａ´）。

続いて、主制御部２１１は、ＶＣＣレンズ４７の円柱度数を決定するための制御を実行する（ステップＳ１７～ステップＳ２２）。

（Ｓ１７：円柱度数を設定）
次に、主制御部２１１は、ＶＣＣ駆動部４７Ａを制御して、円柱レンズ４７１、４７２を回動して所定の円柱度数を設定する。

例えば、主制御部２１１は、ＶＣＣ駆動部４７Ａを制御し、円柱レンズ４７１を＋θｐ´／２だけ回動し、円柱レンズ４７２を－θｐ´／２だけ回動する。それにより、円柱レンズ４７１（ＶＣＣ１）の円柱軸角度θａ１は式（２）のように表される。

同様に、円柱レンズ４７２（ＶＣＣ２）の円柱軸角度θａ２は式（３）のように表される。

図１１に示すように、円柱軸角度θａ１、θａ２のなす角度によって円柱度数θｐが決まる。

（Ｓ１８：ＯＣＴ計測）
次に、主制御部２１１は、ステップＳ１２と同様に、ＯＣＴユニット１００等を制御してＯＣＴ計測を実行する。

（Ｓ１９：ＯＣＴ画像を評価）
次に、主制御部２１１は、ステップＳ１３と同様に、ステップＳ１８において得られた干渉光ＬＣの検出結果に基づいてＯＣＴ画像（断層像）を画像形成部２２０に形成させる。

続いて、主制御部２１１は、形成されたＯＣＴ画像をＢスキャン方向に分割することにより分割画像ＤＰ１～ＤＰ８を画像分割部２３１Ａに生成させる。

続いて、主制御部２１１は、生成された分割画像ＤＰ１～ＤＰ８のそれぞれの画質に対応した評価値を画像評価部２３１Ｂに算出させる。画像評価部２３１Ｂは、上記のように、生成された分割画像毎に評価値を算出する。更に、画像評価部２３１Ｂは、分割画像ＤＰ１～ＤＰ８について算出された評価値の統計値を算出する。画像評価部２３１Ｂは、例えば、式（１）に示す評価式の値ＶＣＣＱを統計値として算出する。

（Ｓ２０：次？）
次に、主制御部２１１は、円柱度数を更に変更してＯＣＴ画像の再評価を行うか否かを判定する。例えば、主制御部２１１は、０度から９０度までの範囲の円柱度数θｐについてＯＣＴ画像の評価を行うようにＯＣＴ画像の再評価を繰り返す。

ステップＳ２０においてＯＣＴ画像の再評価を行うと判定されたとき（ステップＳ２０：Ｙ）、眼科装置１の動作はステップＳ２１に移行する。一方、ステップＳ２０においてＯＣＴ画像の再評価を行わないと判定されたとき（ステップＳ２０：Ｎ）、眼科装置１の動作はステップＳ２２に移行する。

（Ｓ２１：円柱度数を変更）
ステップＳ２０においてＯＣＴ画像の再評価を行うと判定されたとき（ステップＳ２０：Ｙ）、主制御部２１１は、ＶＣＣ駆動部４７Ａを制御して、円柱軸角度θａを維持した状態で円柱レンズ４７１の軸方向と円柱レンズ４７２の軸方向とを変更する。

具体的には、主制御部２１１は、ＶＣＣ駆動部４７Ａを制御して、円柱レンズ４７１の軸方向と円柱レンズ４７２の軸方向の少なくとも１つを変更して所定のステップだけ円柱度数を変更する。

眼科装置１の動作は、ステップＳ１８に移行する。

ステップＳ１８～ステップＳ２１は、０度から９０度までの範囲の円柱度数θｐについて繰り返し実行される。

（Ｓ２２：円柱度数を決定）
ステップＳ２０においてＯＣＴ画像の再評価を行わないと判定されたとき（ステップＳ２０：Ｎ）、主制御部２１１は、円柱度数を決定する。

具体的には、主制御部２１１は、０度から９０度までの範囲の円柱度数θｐについて繰り返し実行されたステップＳ１９において算出された統計値の最大値を特定し、統計値が最大値になるときの円柱度数θｐ″を特定する。主制御部２１１は、特定された円柱度数を円柱度数θｐとして決定する（θｐ＝θｐ″）。

（Ｓ２３：ＶＣＣレンズを調整）
続いて、主制御部２１１は、ＶＣＣ駆動部４７Ａを制御して、ステップＳ１６において決定された円柱軸角度θａ´とステップＳ２２において決定された円柱度数θｐ″を用いてＶＣＣレンズ４７を調整する。

具体的には、主制御部２１１は、ＶＣＣ駆動部４７Ａを制御し、円柱レンズ４７１の円柱軸角度θａ１を式（４）に示すように設定する。

同様に、主制御部２１１は、ＶＣＣ駆動部４７Ａを制御し、円柱レンズ４７２の円柱軸角度θａ２を式（５）に示すように設定する。

以上で、図９のステップＳ６のフローは終了である（エンド）。

以上のように、サークルスキャンを用いて少なくともＶＣＣレンズ４７を調整するようにしたので、ラスタスキャン（又は２以上のラインスキャン）の場合に比べて短い時間で、干渉光学系の光軸に垂直な平面における水平方向方向の情報と垂直方向の情報とを取得することができる。従って、より短い時間で、水平方向の情報と垂直方向の情報とを取得し、取得された水平方向の情報と垂直方向の情報とから非点収差を補正することができる。その結果、光源が高速化した場合でも、眼球の動き等の影響を受けることなく、非点収差を高精度に補正することが可能になる。

また、撮影条件を決定する調整対象毎にスキャンモードを変更するようにしたので、調整対象に応じた最適なスキャンモードで撮影条件を変更することが可能になる。それにより、より短い時間で撮影条件を高精度に調整することが可能になる。

なお、実施形態は、図９におけるステップの順序に限定されるものではない。例えば、ステップＳ４～ステップＳ６の各ステップの実行順序は任意に変更可能である。

いくつかの実施形態では、上記の眼科装置の制御方法をコンピュータに実行させるためのプログラムが提供される。このようなプログラムを、コンピュータによって読み取り可能な非一時的な（ｎｏｎ－ｔｒａｎｓｉｔｏｒｙ）任意の記録媒体に記憶させることができる。記録媒体は、磁気、光、光磁気、半導体などを利用した電子媒体であってよい。典型的には、記録媒体は、磁気テープ、磁気ディスク、光ディスク、光磁気ディスク、フラッシュメモリ、ソリッドステートドライブなどである。また、インターネットやＬＡＮ等のネットワークを通じてこのプログラムを送受信することも可能である。

［効果］
実施形態に係る眼科装置、眼科装置の制御方法、及びプログラムについて説明する。

いくつかの実施形態に係る眼科装置（１）は、干渉光学系（ＯＣＴユニット１００に含まれる光学系、光スキャナ４２、ＶＣＣレンズ４７）と、光スキャナ制御部（２１１Ａ）と、補正制御部（２１１Ｂ）とを含む。干渉光学系は、非点収差補正光学部材（ＶＣＣレンズ４７）と、光スキャナ（４２）とを含む。干渉光学系は、光源（光源ユニット１０１）からの光（Ｌ０）を測定光（ＬＳ）と参照光（ＬＲ）とに分割し、非点収差補正光学部材及び光スキャナを介して測定光を被検眼（Ｅ）に照射し、被検眼からの測定光の戻り光と参照光との干渉光（ＬＣ）を検出する。光スキャナ制御部は、干渉光学系の光軸に垂直な平面における水平方向及び垂直方向に測定光を偏向するように光スキャナを制御する。補正制御部は、干渉光学系により得られた干渉光の検出結果に基づいて非点収差を補正するように非点収差補正光学部材を制御する。

このような構成によれば、ラスタスキャン又は２以上のラインスキャンに比べて短時間で干渉光学系の光軸に垂直な平面における水平方向の情報と垂直方向の情報とを取得し、非点収差を補正することができる。それにより、光源が高速化した場合でも、眼球の動き等の影響を受けることなく、非点収差を高精度に補正することが可能になる。

いくつかの実施形態は、干渉光の検出結果を解析する解析部（２３１）を含む。補正制御部は、解析部により得られた解析結果に基づいて非点収差補正光学部材を制御する。

このような構成によれば、干渉光の検出結果に応じて非点収差をより高精度に補正することが可能になる。

いくつかの実施形態は、干渉光の検出結果に基づいて被検眼の画像を形成する画像形成部（２２０）を含む。解析部は、画像をＡスキャン方向に交差する方向に分割することにより得られた複数の分割画像のそれぞれを解析する。補正制御部は、複数の分割画像に対する複数の解析結果に基づいて非点収差補正光学部材を制御する。

このような構成によれば、被検眼の画像をＡスキャン方向に交差する方向に分割することに複数の分割画像を生成し、分割画像を解析して得られた複数の解析結果に基づいて非点収差補正光学部材を制御するようにしたので、被検眼の画像についてより詳細な解析結果に基づいて非点収差補正光学部材を制御することができる。それにより、短い時間で、簡素な処理で非点収差補正光学部材を高精度に調整することが可能になる。

いくつかの実施形態では、解析部は、各分割画像について解析結果に対応する評価値を算出する。補正制御部は、複数の分割画像に対する複数の評価値の統計値に基づいて非点収差補正光学部材を制御する。

このような構成によれば、各分割画像について評価値を算出し、複数の分割画像に対する複数の評価値の統計値に基づいて非点収差補正光学部材を制御するようにしたので、短い時間で、より一層簡素な処理で非点収差補正光学部材を高精度に調整することが可能になる。

いくつかの実施形態は、解析部により算出された評価値又は統計値を表示手段（表示装置３、表示部２４０Ａ）に表示させる第１表示制御部（表示制御部２１１Ｃ）を含む。

このような構成によれば、複数の分割画像から評価値が異なる分割画像を容易に特定することができ、非点収差補正光学部材の調整の適否の要因の特定が容易になる。

いくつかの実施形態では、光スキャナ制御部は、被検眼の第１スキャン範囲を測定光でスキャンするように光スキャナを制御することで干渉光学系により得られた干渉光の検出結果に基づいて非点収差補正光学部材を制御した後、第１スキャン範囲を内包する第２スキャン範囲を測定光でスキャンするように光スキャナを制御する。画像形成部は、第２スキャン範囲を測定光でスキャンすることにより得られた干渉光の検出結果に基づいて被検眼の画像を形成する。

このような構成によれば、被検眼の画像を形成するための第２スキャン範囲における干渉光の検出結果を考慮して非点収差補正光学部材を制御するが可能になるため、本撮影（本計測）のための非点収差を高精度に補正することが可能になる。また、第１スキャン範囲を第２スキャン範囲より狭くすることで、第１スキャン範囲のスキャン時間をより短縮することができ、非点収差をより高精度に補正することができるようになる。

いくつかの実施形態では、光スキャナ制御部は、被検眼の移動に対して干渉光学系を追従することにより得られたトラッキング情報に基づいて第２スキャン範囲の位置を補正し、補正された第２スキャン範囲を測定光でスキャンするように光スキャナを制御する。

このような構成によれば、被検眼の移動に追従しつつ、非点収差をより高精度に補正することができるようになる。

いくつかの実施形態は、第２スキャン範囲を測定光でスキャンすることにより得られた干渉光の検出結果に基づいて形成された被検眼の画像を表示手段（表示装置３、表示部２４０Ａ）に表示させる第２表示制御部（表示制御部２１１Ｃ）を含む。

このような構成によれば、非点収差が高精度に補正された被検眼の画像を表示手段に表示可能な眼科装置を提供することができるようになる。

いくつかの実施形態では、干渉光学系は、測定光の光路に配置され、測定光の焦点位置を変更可能な合焦位置変更部材（ＯＣＴ合焦レンズ４５、ＯＣＴ合焦駆動部４５Ａ）を含む。補正制御部は、干渉光学系により得られた干渉光の検出結果に基づいて合焦位置変更部材を制御する。

このような構成によれば、短時間で非点収差を高精度に補正し、且つ、測定光の焦点位置を調整可能な眼科装置を提供することができるようになる。

いくつかの実施形態では、干渉光学系は、測定光の光路又は参照光の光路に配置され、測定光と参照光との光路長差を変更する光路長変更部材（光路長変更部４１、コーナーキューブ１１４及び参照駆動部１１４Ａ）を含む。光スキャナ制御部は、干渉光学系の光軸に交差する方向に測定光を偏向するように光スキャナを制御する。補正制御部は、干渉光学系により得られた干渉光の検出結果に基づいて光路長変更部材を制御する。

このような構成によれば、短時間で非点収差を高精度に補正し、且つ、測定光と参照光との光路長差を調整可能な眼科装置を提供することができるようになる。

いくつかの実施形態では、干渉光学系は、測定光の光路又は参照光の光路に配置され、測定光の偏波状態又は参照光の偏波状態を変更する偏波状態変更部材（偏波コントローラ１０３、１１８）を含む。光スキャナ制御部は、干渉光学系の光軸に交差する方向に測定光を偏向するように光スキャナを制御する。補正制御部は、干渉光学系により得られた干渉光の検出結果に基づいて偏波状態変更部材を制御する。

このような構成によれば、短時間で非点収差を高精度に補正し、且つ、測定光と参照光との光路長差を調整可能な眼科装置を提供することができるようになる。

いくつかの実施形態では、非点収差補正光学部材は、円柱度数及び円柱軸角度を変更可能である。

このような構成によれば、円柱度数及び円柱軸角度を変更することで、短時間で非点収差を高精度に補正することが可能になる。

いくつかの実施形態では、非点収差補正光学部材は、バリアブルクロスシリンダレンズを含む。

このような構成によれば、バリアブルクロスシリンダレンズを用いることで、低コスト、且つ、短時間で非点収差を高精度に補正することが可能になる。

いくつかの実施形態は、円柱度数及び円柱軸角度の少なくとも一方を表示手段（表示装置３、表示部２４０Ａ）に表示させる第３表示制御部（表示制御部）を含む。

このような構成によれば、非点収差の調整の状態を容易に把握することが可能になる。

いくつかの実施形態では、光スキャナ制御部は、サークル状に測定光を偏向するように光スキャナを制御することにより水平方向及び垂直方向に測定光を偏向させる。

このような構成によれば、スキャン速度をスキャン領域全域でほぼ一定にすることができ、スキャン領域全域で均質なスキャン結果を取得することができる。その結果、均質なスキャン結果に基づいて非点収差を高精度に補正することが可能になる。また、例えば、対物レンズの頂点からの正反射の影響を受けにくくなるため、アーチファクトフリーなスキャン結果に基づいて非点収差を高精度に補正することが可能になる。

いくつかの実施形態では、回折限界をｒとし、被検眼におけるサークル状のスキャンラインの直径をＲとし、スキャンラインにおけるＡライン数をＮとしたとき、Ｒ×π／Ｎ＜ｒを満たす。

このような構成によれば、撮影条件（計測条件）を調整するためのスキャンの精度を低下させることなくＡライン数を低減することが可能になり、より短時間で非点収差を高精度に補正することが可能になる。

いくつかの実施形態に係る眼科装置（１）の制御方法は、干渉光学系（ＯＣＴユニット１００に含まれる光学系、光スキャナ４２、ＶＣＣレンズ４７）と、光スキャナ制御部（２１１Ａ）と、補正制御部（２１１Ｂ）とを含む眼科装置の制御方法である。干渉光学系は、非点収差補正光学部材（ＶＣＣレンズ４７）と、光スキャナ（４２）とを含む。干渉光学系は、光源（光源ユニット１０１）からの光（Ｌ０）を測定光（ＬＳ）と参照光（ＬＲ）とに分割し、非点収差補正光学部材及び光スキャナを介して測定光を被検眼（Ｅ）に照射し、被検眼からの測定光の戻り光と参照光との干渉光（ＬＣ）を検出する。眼科装置の制御方法は、干渉光学系の光軸に垂直な平面における水平方向及び垂直方向に測定光を偏向するように光スキャナを制御する第１制御ステップと、第１制御ステップにおいて偏向された測定光を被検眼に照射することにより干渉光学系により得られた干渉光の検出結果に基づいて非点収差を補正するように非点収差補正光学部材を制御する第２制御ステップと、を含む。

このような方法によれば、ラスタスキャン又は２以上のラインスキャンに比べて短時間で水平方向の情報と垂直方向の情報とを取得し、非点収差を補正することができる。それにより、光源が高速化した場合でも、眼球の動き等の影響を受けることなく、非点収差を高精度に補正することが可能になる。

いくつかの実施形態は、干渉光の検出結果を解析する解析ステップを含む。第２制御ステップは、解析ステップにおいて得られた解析結果に基づいて非点収差補正光学部材を制御する。

このような方法によれば、干渉光の検出結果に応じて非点収差をより高精度に補正することが可能になる。

いくつかの実施形態は、干渉光の検出結果に基づいて被検眼の画像を形成する第１画像形成ステップを含む。解析ステップは、画像をＡスキャン方向に交差する方向に分割することにより得られた複数の分割画像のそれぞれを解析する。第２制御ステップは、複数の分割画像に対応する複数の解析結果に基づいて非点収差補正光学部材を制御する。

このような方法によれば、被検眼の画像をＡスキャン方向に交差する方向に分割することに複数の分割画像を生成し、分割画像を解析して得られた複数の解析結果に基づいて非点収差補正光学部材を制御するようにしたので、被検眼の画像についてより詳細な解析結果に基づいて非点収差補正光学部材を制御することができる。それにより、短い時間で、簡素な処理で非点収差補正光学部材を高精度に調整することが可能になる。

いくつかの実施形態では、解析ステップは、各分割画像について解析結果に対応する評価値を算出する。第２制御ステップは、複数の分割画像に対する評価値の統計値に基づいて非点収差補正光学部材を制御する。

このような方法によれば、各分割画像について評価値を算出し、複数の分割画像に対する複数の評価値の統計値に基づいて非点収差補正光学部材を制御するようにしたので、短い時間で、より一層簡素な処理で非点収差補正光学部材を高精度に調整することが可能になる。

いくつかの実施形態は、解析ステップにおいて算出された評価値又は統計値を表示手段（表示装置３、表示部２４０Ａ）に表示させる第１表示制御ステップを含む。

このような方法によれば、複数の分割画像から評価値が異なる分割画像を容易に特定することができ、非点収差補正光学部材の調整の適否の要因の特定が容易になる。

いくつかの実施形態では、第３制御ステップと、第２画像形成ステップとを含む。第３制御ステップは、第２制御ステップにおいて、第１制御ステップにおいて被検眼の第１スキャン範囲を測定光でスキャンすることにより得られた干渉光の検出結果に基づいて非点収差補正光学部材を制御した後に、第１スキャン範囲を内包する第２スキャン範囲を測定光でスキャンするように光スキャナを制御する。第２画像形成ステップは、第３制御ステップにおいて第２スキャン範囲を測定光でスキャンすることにより得られた干渉光の検出結果に基づいて被検眼の画像を形成する。

このような方法によれば、被検眼の画像を形成するための第２スキャン範囲における干渉光の検出結果を考慮して非点収差補正光学部材を制御するが可能になるため、本撮影（本計測）のための非点収差を高精度に補正することが可能になる。また、第１スキャン範囲を第２スキャン範囲より狭くすることで、第１スキャン範囲のスキャン時間をより短縮することができ、非点収差をより高精度に補正することができるようになる。

いくつかの実施形態では、第２制御ステップは、被検眼の移動に対して干渉光学系を追従することにより得られたトラッキング情報に基づいて第２スキャン範囲の位置を補正し、補正された第２スキャン範囲を測定光でスキャンするように光スキャナを制御する。

このような方法によれば、被検眼の移動に追従しつつ、非点収差をより高精度に補正することができるようになる。

いくつかの実施形態は、第２スキャン範囲を測定光でスキャンすることにより得られた干渉光の検出結果に基づいて形成された被検眼の画像を表示手段（表示装置３、表示部２４０Ａ）に表示させる第２表示制御ステップを含む。

このような方法によれば、非点収差が高精度に補正された被検眼の画像を表示手段に表示することができるようになる。

いくつかの実施形態では、干渉光学系は、測定光の光路に配置され、測定光の焦点位置を変更可能な合焦位置変更部材（ＯＣＴ合焦レンズ４５、ＯＣＴ合焦駆動部４５Ａ）を含む。眼科装置の制御方法は、更に、干渉光学系により得られた干渉光の検出結果に基づいて合焦位置変更部材を制御する第４制御ステップを含む。

このような方法によれば、短時間で非点収差を高精度に補正し、且つ、測定光の焦点位置を調整することができるようになる。

いくつかの実施形態では、干渉光学系は、測定光の光路又は参照光の光路に配置され、測定光と参照光との光路長差を変更する光路長変更部材（光路長変更部４１、コーナーキューブ１１４及び参照駆動部１１４Ａ）を含む。眼科装置の制御方法は、干渉光学系の光軸に交差する方向に測定光を偏向するように光スキャナを制御する第５制御ステップと、第５制御ステップにおいて偏向された測定光を被検眼に照射することにより干渉光学系により得られた干渉光の検出結果に基づいて光路長変更部材を制御する第６制御ステップと、を含む。

このような方法によれば、短時間で非点収差を高精度に補正し、且つ、測定光と参照光との光路長差を調整することができるようになる。

いくつかの実施形態では、干渉光学系は、測定光の光路又は参照光の光路に配置され、測定光の偏波状態又は参照光の偏波状態を変更する偏波状態変更部材（偏波コントローラ１０３、１１８）を含む。眼科装置の制御方法は、干渉光学系の光軸に交差する方向に測定光を偏向するように光スキャナを制御する第７制御ステップと、第７制御ステップにおいて偏向された測定光を被検眼に照射することにより干渉光学系により得られた干渉光の検出結果に基づいて偏波状態変更部材を制御する第８制御ステップと、を含む。

このような方法によれば、短時間で非点収差を高精度に補正し、且つ、測定光と参照光との光路長差を調整することができるようになる。

いくつかの実施形態では、非点収差補正光学部材は、円柱度数及び円柱軸角度を変更可能である。

このような方法によれば、円柱度数及び円柱軸角度を変更することで、短時間で非点収差を高精度に補正することが可能になる。

いくつかの実施形態では、非点収差補正光学部材は、バリアブルクロスシリンダレンズを含む。

このような方法によれば、バリアブルクロスシリンダレンズを用いることで、低コスト、且つ、短時間で非点収差を高精度に補正することが可能になる。

いくつかの実施形態は、円柱度数及び円柱軸角度の少なくとも一方を表示手段（表示装置３、表示部２４０Ａ）に表示させる第３表示制御ステップを含む。

このような方法によれば、非点収差の調整の状態を容易に把握することが可能になる。

いくつかの実施形態では、第１制御ステップは、サークル状に測定光を偏向するように光スキャナを制御することにより水平方向及び垂直方向に測定光を偏向させる。

このような方法によれば、スキャン速度をスキャン領域全域でほぼ一定にすることができ、スキャン領域全域で均質なスキャン結果を取得することができる。その結果、均質なスキャン結果に基づいて非点収差を高精度に補正することが可能になる。また、例えば対物レンズの頂点からの正反射の影響を受けにくくなるため、アーチファクトフリーなスキャン結果に基づいて非点収差を高精度に補正することが可能になる。

いくつかの実施形態では、回折限界をｒとし、被検眼におけるサークル状のスキャンラインの直径をＲとし、スキャンラインにおけるＡライン数をＮとしたとき、Ｒ×π／Ｎ＜ｒを満たす。

このような方法によれば、撮影条件（計測条件）を調整するためのスキャンの精度を低下させることなくＡライン数を低減することが可能になり、より短時間で非点収差を高精度に補正することが可能になる。

いくつかの実施形態に係るプログラムは、コンピュータに、上記のいずれかに記載の眼科装置の制御方法の各ステップを実行させる。

このようなプログラムによれば、ラスタスキャン又は２以上のラインスキャンに比べて短時間で干渉光学系の光軸に垂直な平面における水平方向の情報と垂直方向の情報とを取得し、非点収差を補正することができる。それにより、光源が高速化した場合でも、眼球の動き等の影響を受けることなく、非点収差を高精度に補正することが可能になる。

以上に説明した構成は、この発明を好適に実施するための一例に過ぎない。よって、この発明の要旨の範囲内における任意の変形（省略、置換、付加等）を適宜に施すことが可能である。適用される構成は、例えば目的に応じて選択される。また、適用される構成に応じ、当業者にとって自明の作用効果や、本明細書において説明された作用効果が得られる。

１ 眼科装置
３ 表示装置
４１ 光路長変更部
４５ ＯＣＴ合焦レンズ
４７ ＶＣＣレンズ
４７Ａ ＶＣＣ駆動部
１００ ＯＣＴユニット
１０３、１１８ 偏波コントローラ
１１４ コーナーキューブ
１１４Ａ 参照駆動部
２００ 演算制御ユニット
２１０ 制御部
２１１ 主制御部
２１１Ａ 光スキャナ制御部
２１１Ｂ 補正制御部
２１１Ｃ 表示制御部
２１２ 記憶部
２２０ 画像形成部
２３０ データ処理部
２３１ 解析部
２３１Ａ 画像分割部
２３１Ｂ 画像評価部
２４０Ａ 表示部
Ｅ 被検眼
ＬＣ 干渉光
ＬＲ 参照光
ＬＳ 測定光

Claims (29)

1. 非点収差補正光学部材と、光スキャナとを含み、光源からの光を測定光と参照光とに分割し、前記非点収差補正光学部材及び前記光スキャナを介して前記測定光を被検眼に照射し、前記被検眼からの前記測定光の戻り光と前記参照光との干渉光を検出する干渉光学系と、
   前記干渉光学系の光軸に垂直な平面における水平方向及び垂直方向に前記測定光を偏向するように前記光スキャナを制御する光スキャナ制御部と、
   前記干渉光学系により得られた前記干渉光の検出結果に基づいて非点収差を補正するように前記非点収差補正光学部材を制御する補正制御部と、
   前記干渉光の検出結果に基づいて前記被検眼の画像を形成する画像形成部と、
   前記画像をＡスキャン方向に交差する方向に分割することにより得られた複数の分割画像のそれぞれを解析する解析部と、
   を含み、
   前記補正制御部は、前記複数の分割画像に対する複数の解析結果に基づいて前記非点収差補正光学部材を制御する、眼科装置。
2. 前記解析部は、各分割画像について解析結果に対応する評価値を算出し、
   前記補正制御部は、前記複数の分割画像に対する複数の評価値の統計値に基づいて前記非点収差補正光学部材を制御する
   ことを特徴とする請求項１に記載の眼科装置。
3. 前記解析部により算出された前記評価値又は前記統計値を表示手段に表示させる第１表示制御部を含む
   ことを特徴とする請求項２に記載の眼科装置。
4. 前記光スキャナ制御部は、前記被検眼の第１スキャン範囲を前記測定光でスキャンするように前記光スキャナを制御することで前記干渉光学系により得られた前記干渉光の検出結果に基づいて前記非点収差補正光学部材を制御した後、前記第１スキャン範囲を内包する第２スキャン範囲を前記測定光でスキャンするように前記光スキャナを制御し、
   前記画像形成部は、前記第２スキャン範囲を前記測定光でスキャンすることにより得られた前記干渉光の検出結果に基づいて前記被検眼の画像を形成する
   ことを特徴とする請求項１～請求項３のいずれか一項に記載の眼科装置。
5. 前記光スキャナ制御部は、前記被検眼の移動に対して前記干渉光学系を追従することにより得られたトラッキング情報に基づいて前記第２スキャン範囲の位置を補正し、補正された前記第２スキャン範囲を前記測定光でスキャンするように前記光スキャナを制御する
   ことを特徴とする請求項４に記載の眼科装置。
6. 前記第２スキャン範囲を前記測定光でスキャンすることにより得られた前記干渉光の検出結果に基づいて形成された前記被検眼の画像を表示手段に表示させる第２表示制御部を含む
   ことを特徴とする請求項４又は請求項５に記載の眼科装置。
7. 前記干渉光学系は、前記測定光の光路に配置され、前記測定光の焦点位置を変更可能な合焦位置変更部材を含み、
   前記補正制御部は、前記干渉光学系により得られた前記干渉光の検出結果に基づいて前記合焦位置変更部材を制御する
   ことを特徴とする請求項１～請求項６のいずれか一項に記載の眼科装置。
8. 前記干渉光学系は、前記測定光の光路又は前記参照光の光路に配置され、前記測定光と前記参照光との光路長差を変更する光路長変更部材を含み、
   前記光スキャナ制御部は、前記干渉光学系の光軸に交差する方向に前記測定光を偏向するように前記光スキャナを制御し、
   前記補正制御部は、前記干渉光学系により得られた前記干渉光の検出結果に基づいて前記光路長変更部材を制御する
   ことを特徴とする請求項１～請求項７のいずれか一項に記載の眼科装置。
9. 前記干渉光学系は、前記測定光の光路又は前記参照光の光路に配置され、前記測定光の偏波状態又は前記参照光の偏波状態を変更する偏波状態変更部材を含み、
   前記光スキャナ制御部は、前記干渉光学系の光軸に交差する方向に前記測定光を偏向するように前記光スキャナを制御し、
   前記補正制御部は、前記干渉光学系により得られた前記干渉光の検出結果に基づいて前記偏波状態変更部材を制御する
   ことを特徴とする請求項１～請求項８のいずれか一項に記載の眼科装置。
10. 前記非点収差補正光学部材は、円柱度数及び円柱軸角度を変更可能である
    ことを特徴とする請求項１～請求項９のいずれか一項に記載の眼科装置。
11. 前記非点収差補正光学部材は、バリアブルクロスシリンダレンズを含む
    ことを特徴とする請求項１０に記載の眼科装置。
12. 前記円柱度数及び前記円柱軸角度の少なくとも一方を表示手段に表示させる第３表示制御部を含む
    ことを特徴とする請求項１０又は請求項１１に記載の眼科装置。
13. 前記光スキャナ制御部は、サークル状に前記測定光を偏向するように前記光スキャナを制御することにより前記水平方向及び前記垂直方向に前記測定光を偏向させる
    ことを特徴とする請求項１～請求項１２のいずれか一項に記載の眼科装置。
14. 回折限界をｒとし、前記被検眼におけるサークル状のスキャンラインの直径をＲとし、前記スキャンラインにおけるＡライン数をＮとしたとき、Ｒ×π／Ｎ＜ｒを満たす
    ことを特徴とする請求項１３に記載の眼科装置。
15. 非点収差補正光学部材と、光スキャナとを含み、光源からの光を測定光と参照光とに分割し、前記非点収差補正光学部材及び前記光スキャナを介して前記測定光を被検眼に照射し、前記被検眼からの前記測定光の戻り光と前記参照光との干渉光を検出する干渉光学系を含む眼科装置の制御方法であって、
    前記干渉光学系の光軸に垂直な平面における水平方向及び垂直方向に前記測定光を偏向するように前記光スキャナを制御する第１制御ステップと、
    前記第１制御ステップにおいて偏向された前記測定光を前記被検眼に照射することにより前記干渉光学系により得られた前記干渉光の検出結果に基づいて非点収差を補正するように前記非点収差補正光学部材を制御する第２制御ステップと、
    前記干渉光の検出結果に基づいて前記被検眼の画像を形成する第１画像形成ステップと、
    前記画像をＡスキャン方向に交差する方向に分割することにより得られた複数の分割画像のそれぞれを解析し、干渉光の検出結果を解析する解析ステップと、
    を含み、
    前記第２制御ステップは、前記複数の分割画像に対応する複数の解析結果に基づいて前記非点収差補正光学部材を制御する、眼科装置の制御方法。
16. 前記解析ステップは、各分割画像について解析結果に対応する評価値を算出し、
    前記第２制御ステップは、前記複数の分割画像に対する前記評価値の統計値に基づいて前記非点収差補正光学部材を制御する
    ことを特徴とする請求項１５に記載の眼科装置の制御方法。
17. 前記解析ステップにおいて算出された前記評価値又は前記統計値を表示手段に表示させる第１表示制御ステップを含む
    ことを特徴とする請求項１６に記載の眼科装置の制御方法。
18. 前記第２制御ステップにおいて、前記第１制御ステップにおいて前記被検眼の第１スキャン範囲を前記測定光でスキャンすることにより得られた前記干渉光の検出結果に基づいて前記非点収差補正光学部材を制御した後に、前記第１スキャン範囲を内包する第２スキャン範囲を前記測定光でスキャンするように前記光スキャナを制御する第３制御ステップと、
    前記第３制御ステップにおいて前記第２スキャン範囲を前記測定光でスキャンすることにより得られた前記干渉光の検出結果に基づいて前記被検眼の画像を形成する第２画像形成ステップと、
    を含む
    ことを特徴とする請求項１５～請求項１７のいずれか一項に記載の眼科装置の制御方法。
19. 前記第２制御ステップは、前記被検眼の移動に対して前記干渉光学系を追従することにより得られたトラッキング情報に基づいて前記第２スキャン範囲の位置を補正し、補正された前記第２スキャン範囲を前記測定光でスキャンするように前記光スキャナを制御する
    ことを特徴とする請求項１８に記載の眼科装置の制御方法。
20. 前記第２スキャン範囲を前記測定光でスキャンすることにより得られた前記干渉光の検出結果に基づいて形成された前記被検眼の画像を表示手段に表示させる第２表示制御ステップを含む
    ことを特徴とする請求項１８又は請求項１９に記載の眼科装置の制御方法。
21. 前記干渉光学系は、前記測定光の光路に配置され、前記測定光の焦点位置を変更可能な合焦位置変更部材を含み、
    前記干渉光学系により得られた前記干渉光の検出結果に基づいて前記合焦位置変更部材を制御する第４制御ステップを含む
    ことを特徴とする請求項１５～請求項２０のいずれか一項に記載の眼科装置の制御方法。
22. 前記干渉光学系は、前記測定光の光路又は前記参照光の光路に配置され、前記測定光と前記参照光との光路長差を変更する光路長変更部材を含み、
    前記干渉光学系の光軸に交差する方向に前記測定光を偏向するように前記光スキャナを制御する第５制御ステップと、
    前記第５制御ステップにおいて偏向された前記測定光を前記被検眼に照射することにより前記干渉光学系により得られた前記干渉光の検出結果に基づいて前記光路長変更部材を制御する第６制御ステップと、
    を含む
    ことを特徴とする請求項１５～請求項２１のいずれか一項に記載の眼科装置の制御方法。
23. 前記干渉光学系は、前記測定光の光路又は前記参照光の光路に配置され、前記測定光の偏波状態又は前記参照光の偏波状態を変更する偏波状態変更部材を含み、
    前記干渉光学系の光軸に交差する方向に前記測定光を偏向するように前記光スキャナを制御する第７制御ステップと、
    前記第７制御ステップにおいて偏向された前記測定光を前記被検眼に照射することにより前記干渉光学系により得られた前記干渉光の検出結果に基づいて前記偏波状態変更部材を制御する第８制御ステップと、
    を含む
    ことを特徴とする請求項１５～請求項２２のいずれか一項に記載の眼科装置の制御方法。
24. 前記非点収差補正光学部材は、円柱度数及び円柱軸角度を変更可能である
    ことを特徴とする請求項１５～請求項２３のいずれか一項に記載の眼科装置の制御方法。
25. 前記非点収差補正光学部材は、バリアブルクロスシリンダレンズを含む
    ことを特徴とする請求項２４に記載の眼科装置の制御方法。
26. 前記円柱度数及び前記円柱軸角度の少なくとも一方を表示手段に表示させる第３表示制御ステップを含む
    ことを特徴とする請求項２４又は請求項２５に記載の眼科装置の制御方法。
27. 前記第１制御ステップは、サークル状に前記測定光を偏向するように前記光スキャナを制御することにより前記水平方向及び前記垂直方向に前記測定光を偏向させる
    ことを特徴とする請求項１５～請求項２６のいずれか一項に記載の眼科装置の制御方法。
28. 回折限界をｒとし、前記被検眼におけるサークル状のスキャンラインの直径をＲとし、前記スキャンラインにおけるＡライン数をＮとしたとき、Ｒ×π／Ｎ＜ｒを満たす
    ことを特徴とする請求項２７に記載の眼科装置の制御方法。
29. コンピュータに、請求項１５～請求項２８のいずれか一項に記載の眼科装置の制御方法の各ステップを実行させることを特徴とするプログラム。

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