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JP7507416B2 - Work line management device, work line management method, and electronic circuit board manufacturing system - Google Patents

Work line management device, work line management method, and electronic circuit board manufacturing system Download PDF

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JP7507416B2 JP2020126188A JP2020126188A JP7507416B2 JP 7507416 B2 JP7507416 B2 JP 7507416B2 JP 2020126188 A JP2020126188 A JP 2020126188A JP 2020126188 A JP2020126188 A JP 2020126188A JP 7507416 B2 JP7507416 B2 JP 7507416B2
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Description

本発明は、電子回路基板を製造する作業ラインを管理する作業ライン管理装置および作業ライン管理方法ならびに電子回路基板製造システムに関する。 The present invention relates to a work line management device and a work line management method for managing a work line that manufactures electronic circuit boards, and an electronic circuit board manufacturing system.

基板に部品を実装する実装装置や検査装置を含む複数の作業装置を備え、基板に部品を実装した電子回路基板を製造する生産ラインには、作業が行われた基板の状態を検査する複数の検査装置を備えるものが知られている(例えば、特許文献1)。特許文献1に記載の生産ライン(表面実装ライン)は、実装後の部品の端子の位置を検出する部品検査装置と、リフロー後の半田の状態を検査して部品検査装置が検出した端子の位置から半田接合の良否を判定する外観検査装置を備えている。部品検査装置と外観検査装置が連携することで、リフロー後では半田に埋没して外から見えなくなる端子の位置を特定して半田接合状態の検査判定精度を向上している。 A production line that manufactures electronic circuit boards with components mounted on them, equipped with multiple work devices including mounting devices and inspection devices, is known to include multiple inspection devices that inspect the condition of the boards after work has been performed (for example, Patent Document 1). The production line (surface mounting line) described in Patent Document 1 is equipped with a component inspection device that detects the position of the terminals of the components after mounting, and an appearance inspection device that inspects the state of the solder after reflow and judges the quality of the solder joints from the positions of the terminals detected by the component inspection device. The component inspection device and appearance inspection device work together to identify the positions of the terminals that are buried in the solder and cannot be seen from the outside after reflow, improving the accuracy of inspecting and judging the condition of the solder joints.

特開2015-148507号公報JP 2015-148507 A

しかしながら、特許文献1を含む従来技術では、複数の作業装置(検査装置)が連携して半田接合状態という特定の検査が精度よくできるものの、作業ラインでは一の作業装置の作業結果情報に基づいて複数の他の作業装置が異なる作業をする場合や、製造する電子回路基板の種類や品質レベルに合わせて作業装置を追加変更して再構成した作業ラインでも再構成前と同様の作業結果情報に基づく作業をしたいという要求も有り、作業ラインの作業装置の間で作業結果情報を柔軟に連携させるためにはさらなる改善の余地があった。 However, in the conventional technology including Patent Document 1, although multiple work devices (inspection devices) work together to perform a specific inspection, such as the state of solder joints, with high accuracy, there are cases where multiple other work devices on a work line perform different tasks based on the work result information of one work device, and there is also a demand for work based on the same work result information as before the reconfiguration even in a work line that has been reconfigured by adding or changing work devices according to the type and quality level of the electronic circuit boards being manufactured, leaving room for further improvement in order to flexibly share work result information between work devices on a work line.

そこで本発明は、複数の作業装置で構成された作業ラインにおける作業結果情報の連携を柔軟に行うことができる作業ライン管理装置および作業ライン管理方法ならびに電子回路基板製造システムを提供することを目的とする。 The present invention aims to provide a work line management device, a work line management method, and an electronic circuit board manufacturing system that can flexibly coordinate work result information on a work line made up of multiple work devices.

本発明の作業ライン管理装置は、基板に部品を実装した電子回路基板を製造するための作業を行う複数の作業装置で構成された作業ラインを管理する作業ライン管理装置であって、複数の作業装置から送信された作業結果情報を収集する情報収集部と、前記作業装置毎に設定された送信条件に基づいて、前記作業結果情報に含まれる情報を前記送信条件に対応した送信情報として前記送信条件に対応した作業装置に送信する情報送信部と、を備え、前記作業結果情報は、前記基板における不良箇所の情報を含み、前記送信情報は、前記送信条件に対応した作業装置が前記不良箇所を実装不良と判定しない指示を含む The work line management device of the present invention is a work line management device that manages a work line composed of a plurality of work devices that perform work for manufacturing an electronic circuit board having components mounted on a board, and is equipped with an information collection unit that collects work result information transmitted from the plurality of work devices, and an information transmission unit that transmits information included in the work result information as transmission information corresponding to the transmission conditions set for each of the work devices to a work device corresponding to the transmission conditions , wherein the work result information includes information of defective parts on the board, and the transmission information includes an instruction for the work device corresponding to the transmission conditions not to determine that the defective parts are a mounting defect .

本発明の作業ライン管理方法は、基板に部品を実装した電子回路基板を製造するための作業を行う複数の作業装置で構成された作業ラインを管理する作業ライン管理方法であって、複数の作業装置から送信された作業結果情報を収集し、前記作業装置毎に設定された送信条件に基づいて、前記作業結果情報に含まれる情報を前記送信条件に対応した送信情報として前記送信条件に応じた作業装置に送信することを含み、前記作業結果情報は、前記基板における不良箇所の情報を含み、前記送信情報は、前記送信条件に対応した作業装置が前記不良箇所を実装不良と判定しない指示を含む The work line management method of the present invention is a work line management method for managing a work line composed of a plurality of work devices that perform work to manufacture electronic circuit boards having components mounted on a board, and includes collecting work result information transmitted from a plurality of work devices, and based on transmission conditions set for each of the work devices, transmitting information contained in the work result information as transmission information corresponding to the transmission conditions to a work device corresponding to the transmission conditions , wherein the work result information includes information on defective parts on the board, and the transmission information includes an instruction for the work device corresponding to the transmission conditions not to determine that the defective parts are a mounting defect .

本発明の電子回路基板製造システムは、基板に部品を実装した電子回路基板を製造するための作業を行う複数の作業装置で構成された作業ラインと、前記作業ラインを管理する作業ライン管理装置を備える電子回路基板製造システムであって、前記作業ライン管理装置は、複数の作業装置から送信された作業結果情報を収集する情報収集部と、前記作業装置毎に設定された送信条件に基づいて、前記作業結果情報に含まれる情報を前記送信条件に対応した送信情報として前記送信条件に対応した作業装置に送信する情報送信部と、を備え、前記作業装置は、受信した前記送信情報に基づいて作業し、前記作業結果情報は、前記基板における不良箇所の情報を含み、前記送信情報を受信した前記作業装置は、前記不良箇所を実装不良と判定しない The electronic circuit board manufacturing system of the present invention is an electronic circuit board manufacturing system including a work line composed of a plurality of work devices that perform work for manufacturing an electronic circuit board having components mounted on a board, and a work line management device that manages the work line, wherein the work line management device includes an information collection unit that collects work result information transmitted from the plurality of work devices, and an information transmission unit that transmits information included in the work result information as transmission information corresponding to the transmission conditions set for each of the work devices to a work device that corresponds to the transmission conditions, wherein the work devices perform work based on the received transmission information , the work result information includes information of defective parts on the board, and the work devices that receive the transmission information do not determine that the defective parts are mounting defects .

本発明によれば、複数の作業装置で構成された作業ラインにおける作業結果情報の連携を柔軟に行うことができる。 The present invention makes it possible to flexibly link work result information on a work line made up of multiple work devices.

本発明の一実施の形態の電子回路基板製造システムの構成説明図FIG. 1 is a configuration explanatory diagram of an electronic circuit board manufacturing system according to an embodiment of the present invention; 本発明の一実施の形態の電子回路基板製造システムの制御系の構成を示すブロック図FIG. 1 is a block diagram showing a configuration of a control system of an electronic circuit board manufacturing system according to an embodiment of the present invention. 本発明の一実施の形態の作業ライン管理装置で使用される条件設定情報の一例を示す説明図FIG. 2 is an explanatory diagram showing an example of condition setting information used in the production line management device according to the embodiment of the present invention; 本発明の一実施の形態の作業ライン管理装置に表示される送信条件設定画面の一例を示す説明図FIG. 13 is an explanatory diagram showing an example of a transmission condition setting screen displayed on the production line management device according to an embodiment of the present invention; (a)(b)本発明の一実施の形態の作業ライン管理装置で使用される送信条件の一例を示す説明図1A and 1B are explanatory diagrams showing an example of a transmission condition used in an operation line management device according to an embodiment of the present invention; 本発明の一実施の形態の作業ライン管理方法のフローを示す図FIG. 1 is a flow chart showing a method for managing a production line according to an embodiment of the present invention;

以下に図面を用いて、本発明の一実施の形態を詳細に説明する。以下で述べる構成、形状等は説明のための例示であって、電子回路基板製造システム、作業ライン、作業ライン管理装置、作業装置の仕様に応じ、適宜変更が可能である。以下では、全ての図面において対応する要素には同一符号を付し、重複する説明を省略する。 One embodiment of the present invention will be described in detail below with reference to the drawings. The configurations, shapes, etc. described below are examples for the purpose of explanation, and can be modified as appropriate depending on the specifications of the electronic circuit board manufacturing system, work line, work line management device, and work device. In the following, corresponding elements in all drawings are given the same reference numerals, and duplicate explanations will be omitted.

まず図1、図2を参照して電子回路基板製造システム1の構成について説明する。電子回路基板製造システム1は、基板に部品を実装した電子回路基板を製造するための作業を行う複数の作業装置で構成された作業ラインLと、作業ラインLを管理する作業ライン管理装置3を備えている。作業ラインLは、基板搬送方向の上流側(図1における左側)から順番に、作業装置である基板供給装置M1、印刷装置M2、半田検査装置M3、実装装置M4~M6、実装検査装置M7、リフロー装置M8、固着検査装置M9、X線検査装置M10、電気特性検査装置M11、基板回収装置M12を備えている。 First, the configuration of electronic circuit board manufacturing system 1 will be described with reference to Figures 1 and 2. Electronic circuit board manufacturing system 1 includes a work line L made up of multiple work devices that perform work to manufacture electronic circuit boards with components mounted on boards, and a work line management device 3 that manages work line L. Work line L includes, in order from the upstream side in the board transport direction (left side in Figure 1), the following work devices: board supply device M1, printing device M2, solder inspection device M3, mounting devices M4 to M6, mounting inspection device M7, reflow device M8, adhesion inspection device M9, X-ray inspection device M10, electrical property inspection device M11, and board recovery device M12.

図2において、各作業装置M1~M12は、制御部22、記憶部23、作業部24、表示部25、通信部26を備えている。作業部24は、ベルトコンベアを有する基板搬送機構を有し、基板を搬送し、搬送された基板に電子回路基板を製造するための作業を行う。制御部22は、記憶部23が記憶する作業データおよび作業ライン管理装置3から送信される指示に基づいて、作業部24を制御して電子回路基板を製造するための作業を実行させる。表示部25は、液晶パネルなどの表示装置であり、記憶部23が記憶する各種データの他、作業部24の作業状況などを表示する。通信部26は通信インターフェースであり、有線または無線による通信ネットワーク2を介して作業ライン管理装置3、他の作業装置M1~M12との間でデータの送受信を行う。 In FIG. 2, each of the operation devices M1 to M12 includes a control unit 22, a memory unit 23, an operation unit 24, a display unit 25, and a communication unit 26. The operation unit 24 has a board transport mechanism with a belt conveyor, transports boards, and performs work to manufacture electronic circuit boards on the transported boards. The control unit 22 controls the operation unit 24 to perform work to manufacture electronic circuit boards based on the work data stored in the memory unit 23 and instructions sent from the operation line management device 3. The display unit 25 is a display device such as a liquid crystal panel, and displays various data stored in the memory unit 23 as well as the operation status of the operation unit 24. The communication unit 26 is a communication interface, and transmits and receives data between the operation line management device 3 and the other operation devices M1 to M12 via the wired or wireless communication network 2.

図1、図2において、各作業装置M1~M12の基板搬送機構は、上流側と下流側の作業装置M1~M12の基板搬送機構と連結されており、基板を上流側から下流側の作業装置M1~M12に順に搬送する。なお、作業ラインLは通信ネットワーク2を介して接続される作業装置群であり、基板搬送機構によって物理的に作業装置同士が連結されていなくてもよい。また、作業ラインLは上記の構成に限定されることはない。例えば、作業ラインLは上記の全ての作業装置M1~M12を備えている必要はなく、また、実装装置M4~M6が1台、2台であっても4台以上であってもよい。 In Figures 1 and 2, the board transport mechanism of each of the work devices M1 to M12 is connected to the board transport mechanisms of the upstream and downstream work devices M1 to M12, and transports boards in sequence from the upstream side to the downstream work devices M1 to M12. Note that the work line L is a group of work devices connected via the communication network 2, and the work devices do not need to be physically connected to each other by the board transport mechanism. Furthermore, the work line L is not limited to the above configuration. For example, the work line L does not need to include all of the work devices M1 to M12 described above, and the number of mounting devices M4 to M6 may be one, two, or four or more.

次に図1を参照して、作業ラインLを構成する各作業装置M1~M12の構成について説明する。基板供給装置M1は、供給記憶部(記憶部23)が記憶する基板供給データ(作業データ)に基づいて、供給制御部(制御部22)が複数の基板を収納するラックを含む供給作業部(作業部24)を制御することにより、ラックから基板を取り出して下流側の装置に供給する機能を有する。また、基板供給装置M1は、供給作業部として基板に付された1次元コード、2次元コード、またはRFIDなどのマークに記録された基板IDを読み取るリーダを供給作業部に備えており、リーダにより下流側の装置に供給する基板の基板IDを読み取る機能を有する。 Next, referring to FIG. 1, the configuration of each of the work devices M1 to M12 that make up the work line L will be described. Board supply device M1 has the function of removing boards from a rack and supplying them to downstream equipment by controlling a supply work unit (work unit 24) including a rack that stores multiple boards using a supply control unit (control unit 22) based on board supply data (work data) stored in a supply memory unit (memory unit 23). Board supply device M1 also has a reader in the supply work unit that reads board IDs recorded on marks such as one-dimensional codes, two-dimensional codes, or RFIDs attached to boards as a supply work unit, and has the function of reading the board IDs of boards to be supplied to downstream equipment using the reader.

印刷装置M2は、印刷記憶部(記憶部23)が記憶する半田印刷データ(作業データ)に基づいて印刷制御部(制御部22)が印刷作業部(作業部24)を制御することにより、マスクを介して基板にペースト状の半田を塗布(堆積)する印刷作業を実行する機能を有する。また、印刷作業部は、印刷作業部としてマスクの下面に付着した半田を除去するマスク清掃を実行するマスク清掃部(図示省略)を備えている。印刷装置M2は、所定枚数の基板に半田を塗布する毎にマスク清掃を実行する他、作業ライン管理装置3から送信される指示に従ってマスク清掃を実行する。なお、基板に半田を塗布する装置は印刷装置M2に限定されず、例えば半田塗布機であってもよい。 The printing device M2 has a function of executing a printing operation in which paste-like solder is applied (deposited) onto a board through a mask by the printing control unit (control unit 22) controlling the printing operation unit (operation unit 24) based on solder printing data (operation data) stored in the printing memory unit (memory unit 23). The printing operation unit also includes a mask cleaning unit (not shown) that performs mask cleaning to remove solder adhering to the underside of the mask as a printing operation unit. The printing device M2 performs mask cleaning every time solder is applied to a predetermined number of boards, and also performs mask cleaning according to instructions sent from the work line management device 3. Note that the device that applies solder to the board is not limited to the printing device M2, and may be, for example, a solder applicator.

図1において、半田検査装置M3は、半田検査記憶部(記憶部23)が記憶する半田検査データ(作業データ)に基づいて、半田検査制御部(制御部22)が基板の表面を撮像する半田検査カメラを含む半田検査作業部(作業部24)を制御することにより、半田が堆積した後の基板の表面を撮像して半田の堆積状態などを検査する半田検査作業を実行する機能を有する。実装装置M4~M6は、実装記憶部(記憶部23)が記憶する実装データ(作業データ)に基づいて、実装制御部(制御部22)が実装作業部(作業部24)を制御することにより、堆積された半田の上に部品を実装する部品実装作業を実行する機能を有する。 In FIG. 1, the solder inspection device M3 has a function of performing a solder inspection operation in which the solder deposition state and the like are inspected by imaging the surface of the board after solder has been deposited, by controlling a solder inspection work unit (work unit 24) including a solder inspection camera that images the surface of the board, based on solder inspection data (work data) stored in a solder inspection memory unit (memory unit 23) with a solder inspection control unit (control unit 22). The mounting devices M4 to M6 have a function of performing a component mounting operation in which components are mounted on the deposited solder, by controlling a mounting work unit (work unit 24) with a mounting control unit (control unit 22) based on mounting data (work data) stored in a mounting memory unit (memory unit 23).

実装検査装置M7は、実装検査記憶部(記憶部23)が記憶する実装検査データ(作業データ)に基づいて、実装検査制御部(制御部22)が基板の表面を撮像する実装検査カメラを含む実装検査作業部(作業部24)を制御することにより、堆積された半田の上に部品が実装された後の基板の表面を撮像して実装された部品の位置、実装状態などを検査する実装検査作業を実行する機能を有する。リフロー装置M8は、リフロー記憶部(記憶部23)が記憶するリフローデータ(作業データ)に基づいて、リフロー制御部(制御部22)がリフロー作業部(作業部24)を制御することにより、部品が実装された基板を加熱して半田を融解させた後に固化させて基板に固着させるリフロー作業を実行する機能を有する。 The mounting inspection device M7 has a function of performing a mounting inspection operation in which the mounting inspection control unit (control unit 22) controls the mounting inspection work unit (work unit 24) including a mounting inspection camera that images the surface of the board based on the mounting inspection data (work data) stored in the mounting inspection memory unit (memory unit 23), thereby imaging the surface of the board after components are mounted on the deposited solder, and inspecting the positions and mounting conditions of the mounted components. The reflow device M8 has a function of performing a reflow operation in which the reflow control unit (control unit 22) controls the reflow work unit (work unit 24) based on the reflow data (work data) stored in the reflow memory unit (memory unit 23), thereby heating the board on which the components are mounted, melting the solder, solidifying it, and fixing it to the board.

図1において、固着検査装置M9は、固着検査記憶部(記憶部23)が記憶する固着検査データ(作業データ)に基づいて、固着検査制御部(制御部22)が基板の表面を撮像する固着検査カメラを含む固着検査作業部(作業部24)を制御することにより、半田が固着した後の基板の表面を撮像して固着した半田状態など検査する固着検査作業を実行する機能を有する。 In FIG. 1, the adhesion inspection device M9 has a function of performing adhesion inspection work in which an adhesion inspection control unit (control unit 22) controls an adhesion inspection work unit (work unit 24) including an adhesion inspection camera that images the surface of the board based on adhesion inspection data (work data) stored in an adhesion inspection memory unit (memory unit 23), thereby capturing an image of the surface of the board after the solder has been stuck and inspecting the state of the stuck solder, etc.

X線検査装置M10は、X線検査記憶部(記憶部23)が記憶するX線検査データ(作業データ)に基づいて、X線検査制御部(制御部22)がX線センサを含むX線検査作業部(作業部24)を制御することにより、半田が固着した後の基板の透視観察や断面観察を非接触で実行し、接合状態を検査するX線検査作業を実行する機能を有する。すなわち、X線検査装置M10は、半田が固着した後の基板の接合状態を非接触で検査する非接触検査装置である。 The X-ray inspection device M10 has the function of performing X-ray inspection work to inspect the bonding state by performing non-contact fluoroscopic observation and cross-sectional observation of the board after the solder has solidified, by controlling the X-ray inspection control unit (control unit 22) to the X-ray inspection work unit (work unit 24) including an X-ray sensor based on the X-ray inspection data (work data) stored in the X-ray inspection memory unit (memory unit 23). In other words, the X-ray inspection device M10 is a non-contact inspection device that inspects the bonding state of the board after the solder has solidified without contact.

図1において、電気特性検査装置M11は、電気特性検査記憶部(記憶部23)が記憶する電気特性検査データ(作業データ)に基づいて、電気特性検査制御部(制御部22)が電気特性検査作業部(作業部24)を制御することにより、半田が固着した後の基板の電極等に探針を接触させて基板の電気特性を計測して接合状態などを検査する電気特性検査作業を実行する機能を有する。基板回収装置M12は、回収記憶部(記憶部23)が記憶する基板回収データ(作業データ)に基づいて、回収制御部(制御部22)が複数の基板を収納するラックを含む回収作業部(作業部24)を制御することにより、部品が半田付けされた電子回路基板を回収してラックに収納する機能を有する。 In FIG. 1, the electrical characteristic inspection device M11 has a function of performing an electrical characteristic inspection operation in which a probe is brought into contact with the electrodes of the board after the solder has been fixed, and the electrical characteristics of the board are measured and the joining state is inspected, by controlling the electrical characteristic inspection control unit (control unit 22) of the electrical characteristic inspection work unit (work unit 24) based on the electrical characteristic inspection data (work data) stored in the electrical characteristic inspection memory unit (memory unit 23). The board recovery device M12 has a function of recovering electronic circuit boards with soldered components and storing them in a rack, by controlling the recovery control unit (control unit 22) of the recovery work unit (work unit 24) including a rack for storing multiple boards based on the board recovery data (work data) stored in the recovery memory unit (memory unit 23).

次に図2を参照して、電子回路基板製造システム1の制御系の構成について説明する。電子回路基板製造システム1は、複数の作業装置M1~M12で構成された作業ラインLと、作業ラインLを管理する作業ライン管理装置3を備えている。作業ライン管理装置3は、処理装置10、記憶装置である管理記憶部11、入出力表示部16、管理通信部17を備えている。管理記憶部11には、作業結果情報12、条件設定情報13、送信条件14、送信情報15などが記憶されている。 Next, the configuration of the control system of the electronic circuit board manufacturing system 1 will be described with reference to FIG. 2. The electronic circuit board manufacturing system 1 comprises a work line L made up of a plurality of work devices M1 to M12, and a work line management device 3 that manages the work line L. The work line management device 3 comprises a processing device 10, a management memory unit 11 which is a memory device, an input/output display unit 16, and a management communication unit 17. The management memory unit 11 stores work result information 12, condition setting information 13, transmission conditions 14, transmission information 15, etc.

処理装置10はCPUなどのデータ処理装置であり、内部処理部として情報収集部18、条件設定部19、情報送信部20を備えている。なお、作業ライン管理装置3は、ひとつのコンピュータで構成する必要はなく、複数のデバイスで構成してもよい。例えば、記憶装置、データ処理装置の全てもしくは一部を、サーバを介してクラウドに備えてもよい。 The processing device 10 is a data processing device such as a CPU, and includes an information collection unit 18, a condition setting unit 19, and an information transmission unit 20 as internal processing units. The work line management device 3 does not need to be configured as a single computer, but may be configured as multiple devices. For example, all or part of the storage device and data processing device may be provided in the cloud via a server.

図2において、入出力表示部16は、操作コマンドやデータなどを入力する入力機能と、各種データやデータ入力画面などを表示する表示機能を備えるタッチパネルなどの装置である。なお、入出力表示部16は入力機能と表示機能が一体化された装置に限定されることはない。例えば、入力機能をキーボード、タッチパネル、マウス、音声などの入力装置で実施し、表示機能を液晶パネルなどの表示装置で実施するようにしてもよい。管理通信部17は、通信インターフェースであり、通信ネットワーク2を介して作業ラインLを構成する作業装置M1~M12との間でデータの送受信を行う。 In FIG. 2, the input/output display unit 16 is a device such as a touch panel that has an input function for inputting operation commands and data, and a display function for displaying various data and data input screens. Note that the input/output display unit 16 is not limited to a device in which the input function and the display function are integrated. For example, the input function may be performed by an input device such as a keyboard, touch panel, mouse, or voice, and the display function may be performed by a display device such as an LCD panel. The management communication unit 17 is a communication interface that transmits and receives data to and from the work devices M1 to M12 that make up the work line L via the communication network 2.

図2において、情報収集部18は、作業ラインLが電子回路基板を製造している間に作業ラインLの複数の作業装置M1~M12から送信された作業結果情報12を継続して収集し、管理記憶部11に記憶させる。具体的には、情報収集部18は基板供給装置M1から、下流側の印刷装置M2に供給した基板の基板IDを含む作業結果情報12を収集する。また、情報収集部18は印刷装置M2から、印刷作業を行った基板の基板ID、印刷条件などを含む作業結果情報12を収集する。 In FIG. 2, the information collection unit 18 continuously collects work result information 12 transmitted from multiple work devices M1 to M12 on the work line L while the work line L is manufacturing electronic circuit boards, and stores the information in the management memory unit 11. Specifically, the information collection unit 18 collects work result information 12 from the board supply device M1, including the board ID of the board supplied to the downstream printing device M2. The information collection unit 18 also collects work result information 12 from the printing device M2, including the board ID of the board on which the printing work was performed, the printing conditions, etc.

また、情報収集部18は半田検査装置M3から、半田検査作業を行った基板の基板ID、半田の堆積状態が不良である半田不良箇所、堆積状態が不良には至っていないがずれ量が大きな特定箇所や堆積量に過不足がある特定箇所の半田位置などを含む作業結果情報12を収集する。また、基板が複数の個別基板により構成される多面取り基板の場合、情報収集部18は半田検査装置M3から、半田の堆積状態が不良であるため以降の作業を行わないことを決定した個別基板を特定する不良基板情報を含む作業結果情報12を収集する。 In addition, the information collecting unit 18 collects from the solder inspection device M3 work result information 12 including the board ID of the board on which the solder inspection work was performed, defective solder locations where the solder deposition state is defective, and the solder positions of specific locations where the deposition state is not defective but has a large amount of deviation or where the deposition amount is too much or too little. In addition, if the board is a multi-panel board composed of multiple individual boards, the information collecting unit 18 collects from the solder inspection device M3 work result information 12 including defective board information that identifies individual boards for which it has been decided not to perform further work due to a defective solder deposition state.

図2において、情報収集部18は実装装置M4~M6から、部品実装作業を行った基板の基板ID、実装条件、部品を基板に移載する際の位置補正量がエラー範囲ではないが所定範囲よりも大きかった特定箇所、ノズルが部品を正常に保持できずにリトライした特定箇所の実装位置などを含む作業結果情報12を収集する。また、情報収集部18は実装検査装置M7から、実装検査作業を行った基板の基板ID、実装された部品の位置ずれ量、実装状態が不良である実装不良箇所、実装状態が不良には至っていないが位置ずれ量などが大きな特定箇所の位置、実装状態が不良であるため以降の作業を行わないことを決定した個別基板を特定する不良基板情報などを含む作業結果情報12を収集する。 In FIG. 2, the information collection unit 18 collects work result information 12 from mounting devices M4 to M6, including the board ID of the board on which component mounting work was performed, the mounting conditions, specific locations where the amount of position correction when transferring the component to the board was not within the error range but was greater than the specified range, and the mounting position of specific locations where the nozzle was unable to hold the component properly and a retry was performed. The information collection unit 18 also collects work result information 12 from mounting inspection device M7, including the board ID of the board on which mounting inspection work was performed, the amount of positional deviation of the mounted component, mounting defect locations where the mounting state is poor, the positions of specific locations where the mounting state is not yet defective but the amount of positional deviation is large, and defective board information identifying individual boards on which it was decided not to perform further work due to the poor mounting state.

また、情報収集部18は固着検査装置M9から、固着検査作業を行った基板の基板ID、実装された部品の位置ずれ量、半田の固着状態が不良である固着不良箇所、固着状態が不良には至っていないが位置ずれ量などが大きな特定箇所の位置、固着状態が不良であるため以降の作業を行わないことを決定した個別基板を特定する不良基板情報などを含む作業結果情報12を収集する。また、情報収集部18はX線検査装置M10から、X線検査作業を行った基板の基板ID、半田の接合状態が不良である接合不良箇所、半田の接合状態が良好とは断定できずに電気特性検査が必要と判断した特定箇所の位置、接合状態が不良であるため以降の作業を行わないことを決定した個別基板を特定する不良基板情報などを含む作業結果情報12を収集する。 The information collecting unit 18 also collects from the adhesion inspection device M9 work result information 12 including the board ID of the board on which the adhesion inspection work was performed, the amount of misalignment of the mounted components, the defective adhesion points where the solder is poorly adhered, the positions of specific points where the adhesion state is not yet defective but the amount of misalignment is large, and defective board information identifying individual boards on which it has been decided not to perform further work due to the poor adhesion state. The information collecting unit 18 also collects from the X-ray inspection device M10 work result information 12 including the board ID of the board on which the X-ray inspection work was performed, the defective joint points where the solder joint state is poor, the positions of specific points where it has been determined that the solder joint state is not good and an electrical characteristic inspection is necessary, and defective board information identifying individual boards on which it has been determined not to perform further work due to the poor joint state.

図2において、情報収集部18は電気特性検査装置M11から、電気特性検査作業を行った基板の基板ID、半田の接合の電気特性の計測結果が不良である電気特性箇所の位置などを含む作業結果情報12を収集する。このように、作業結果情報12には、基板における不良箇所(半田不良箇所、実装不良箇所、固着不良箇所、接合不良箇所、電気特性不良箇所)の情報、基板における半田堆積の特定箇所の情報、実装の特定箇所の情報が含まれている。 In FIG. 2, the information collection unit 18 collects work result information 12 from the electrical characteristic inspection device M11, including the board ID of the board on which the electrical characteristic inspection work was performed, the location of the electrical characteristic points where the measurement results of the electrical characteristics of the solder joints are poor, etc. In this way, the work result information 12 includes information on the defective points on the board (poor solder points, defective mounting points, poor adhesion points, poor joint points, and poor electrical characteristic points), information on specific points of solder deposition on the board, and information on specific mounting points.

図2において、条件設定部19は、作業装置M1~M12から収集された作業結果情報12から他の作業装置M1~M12に送信する送信情報15を作成する条件が規定された送信条件14を作成する。具体的には、条件設定部19は、作業者が操作する送信条件設定画面を入出力表示部16に表示させ、送信条件設定画面で設定された情報に基づいて送信条件14を作成する。条件設定部19は、管理記憶部11に記憶される条件設定情報13に基づいて、送信条件設定画面を入出力表示部16に表示させる。 In FIG. 2, the condition setting unit 19 creates transmission conditions 14 that specify the conditions for creating transmission information 15 to be transmitted to other work devices M1-M12 from the work result information 12 collected from the work devices M1-M12. Specifically, the condition setting unit 19 displays a transmission condition setting screen operated by the worker on the input/output display unit 16, and creates the transmission conditions 14 based on the information set on the transmission condition setting screen. The condition setting unit 19 displays the transmission condition setting screen on the input/output display unit 16 based on the condition setting information 13 stored in the management memory unit 11.

ここで図3を参照して、条件設定情報13の例について説明する。条件設定情報13には、「番号」30毎に、「情報送信元」31、「方向」32、「情報送信先」33、「設定項目」34が含まれる。情報送信元31は、作業結果情報12を送信する作業装置M1~M12を特定する情報である。方向32は、情報送信元31を基点とした送信情報15を送信する方向を特定する情報であり、「B」は上流側に送信するフィードバックを、「F」は下流側に送信するフィードフォワードであることを示している。情報送信先33は、情報送信元31から収集した作業結果情報12に基づいて作成された送信情報15を送信する作業装置M1~M12を特定する情報である。 Now, referring to FIG. 3, an example of the condition setting information 13 will be described. The condition setting information 13 includes, for each "number" 30, an "information source" 31, a "direction" 32, an "information destination" 33, and a "setting item" 34. The information source 31 is information that specifies the work device M1-M12 that transmits the work result information 12. The direction 32 is information that specifies the direction in which the transmission information 15 is transmitted from the information source 31 as the base point, with "B" indicating feedback that is transmitted upstream and "F" indicating feedforward that is transmitted downstream. The information destination 33 is information that specifies the work device M1-M12 that transmits the transmission information 15 created based on the work result information 12 collected from the information source 31.

設定項目34は、送信情報15として送信する項目を特定する情報である。設定項目34の「調整パラメータ」は、下流側の作業装置M1~M12での検査結果に基づいて、上流側の作業装置M1~M12の作業を最適化する調整パラメータを送信することを示す。「マスク清掃指示」は、半田検査装置M3の半田検査作業の検査結果に基づいて、印刷装置M2が臨時のマスク清掃を実行する指示を送信することを示す。「不良基板情報」は、多面取り基板の場合、上流側の作業装置M1~M12が以降の作業を行わないと決定した個別基板に下流側の作業装置M1~M12が作業をしない指示を送信することを示す。 Setting item 34 is information that specifies the items to be transmitted as transmission information 15. Setting item 34 "Adjustment parameters" indicates that adjustment parameters that optimize the work of upstream work devices M1 to M12 are transmitted based on the inspection results of downstream work devices M1 to M12. "Mask cleaning instruction" indicates that printing device M2 transmits an instruction to perform temporary mask cleaning based on the inspection results of solder inspection work by solder inspection device M3. "Defective board information" indicates that in the case of multiple boards, downstream work devices M1 to M12 transmit an instruction not to perform work on individual boards for which upstream work devices M1 to M12 have decided not to perform further work.

すなわち、作業ライン管理装置3は、取得した情報を分析する分析部と、調整パラメータを生成、マスク清掃指示を生成、もしくは、作業をしない指示を生成するデータ生成部を有する。または、作業ライン管理装置3とは別に構成された分析部、データ生成部と連携してもよい。なお、作業ライン管理装置3で分析部やデータ生成部を備えていなくてもよく、その場合は上流側の作業装置M1~M12の作業を最適化する調整パラメータに必要な情報、印刷装置M2が臨時のマスク清掃を実行する指示に必要な情報、もしくは、上流側の作業装置M1~M12が以降の作業を行わないと決定した個別基板に、下流側の作業装置M1~M12が作業をしない指示に必要な情報を送信する。 That is, the production line management device 3 has an analysis unit that analyzes the acquired information, and a data generation unit that generates adjustment parameters, generates mask cleaning instructions, or generates instructions not to perform work. Alternatively, it may cooperate with an analysis unit and data generation unit configured separately from the production line management device 3. Note that the production line management device 3 does not need to have an analysis unit or data generation unit, in which case it transmits information necessary for adjustment parameters that optimize the work of the upstream production devices M1 to M12, information necessary for instructions for the printing device M2 to perform temporary mask cleaning, or information necessary for instructions for the downstream production devices M1 to M12 not to perform work to individual boards for which the upstream production devices M1 to M12 have decided not to perform further work.

図3において、「検査中止位置」は、上流側の作業装置M1~M12により不良と判定された不良箇所には下流側の作業装置M1~M12が検査作業をしない指示を送信することを示す。「追加作業位置」は、上流側の作業装置M1~M12により特定された特定箇所に、下流側の作業装置M1~M12が追加作業を行う指示を送信することを示す。「簡易検査位置」は、上流側の作業装置M1~M12により特定された特定箇所には、下流側の作業装置M1~M12は簡易プログラムで作業を行う指示を送信することを示す。 In FIG. 3, "Inspection stop position" indicates that the downstream work devices M1-M12 send an instruction not to inspect defective locations determined to be defective by the upstream work devices M1-M12. "Additional work position" indicates that the downstream work devices M1-M12 send an instruction to perform additional work to a specific location identified by the upstream work devices M1-M12. "Simple inspection position" indicates that the downstream work devices M1-M12 send an instruction to perform work using a simple program to a specific location identified by the upstream work devices M1-M12.

「実装中止位置」は、半田検査装置M3により半田の堆積状態が不良と判定された半田不良箇所には実装装置M4~M6が部品実装作業をしない指示を送信することを示す。「実装位置補正情報」は、実装検査装置M7または固着検査装置M9で検出された位置ずれ量に基づき、実装装置M4~M6での部品実装作業で使用される実装位置を補正する実装位置補正値を送信することを示す。 "Mounting abort position" indicates that the mounting devices M4 to M6 send an instruction not to perform component mounting work at defective solder locations where the solder deposition condition has been determined to be defective by the solder inspection device M3. "Mounting position correction information" indicates that a mounting position correction value is sent to correct the mounting position used in component mounting work by the mounting devices M4 to M6, based on the amount of positional deviation detected by the mounting inspection device M7 or adhesion inspection device M9.

図3において、例えば、番号30が「1」の条件設定情報13には、半田検査装置M3から収集した作業結果情報12に基づいて、印刷作業を最適化するための「調整パラメータ」、臨時のマスク清掃を実行する旨の「マスク清掃指示」を印刷装置M2にフィードバックすることが規定されている。また、番号30が「2」の条件設定情報13には、半田検査装置M3から収集した作業結果情報12に基づいて、部品実装作業を行わない個別基板を特定する「不良基板情報」、部品実装作業を行わない「実装中止位置」を実装装置M4~M6にフィードフォワードすることが規定されている。 In FIG. 3, for example, the condition setting information 13 numbered 30 "1" specifies that "adjustment parameters" for optimizing the printing work and "mask cleaning instructions" to perform temporary mask cleaning are fed back to the printing device M2 based on the work result information 12 collected from the solder inspection device M3. Also, the condition setting information 13 numbered 30 "2" specifies that "defective board information" that identifies individual boards on which component mounting work will not be performed and "mounting stop positions" where component mounting work will not be performed are fed forward to the mounting devices M4 to M6 based on the work result information 12 collected from the solder inspection device M3.

次に図4を参照して、条件設定部19が入出力表示部16に表示した送信条件設定画面40の例について説明する。送信条件設定画面40には、「送受信先」設定枠41、「送信項目」設定枠42、「戻る」ボタン43、「確定」ボタン44が表示されている。 Next, referring to FIG. 4, an example of a transmission condition setting screen 40 displayed by the condition setting unit 19 on the input/output display unit 16 will be described. On the transmission condition setting screen 40, a "transmission/reception destination" setting frame 41, a "transmission item" setting frame 42, a "back" button 43, and a "confirm" button 44 are displayed.

「送受信先」設定枠41には、作業ラインLを構成する作業装置毎に、作業結果情報12を送信する「送信元」を排他的に選択するためのラジオボタンと、送信情報15を送信する「送信先」を選択するためのチェックボックスが表示されている。図4の例では、「送信元」として実装検査装置M7が排他的に選択されている。「送信先」として、実装装置M4~M6、固着検査装置M9、X線検査装置M10、電気特性検査装置M11がそれぞれ選択されている。 The "Destination" setting frame 41 displays, for each work device that makes up the work line L, a radio button for exclusively selecting the "source" for sending the work result information 12, and a check box for selecting the "destination" for sending the transmission information 15. In the example of Figure 4, the mounting inspection device M7 is exclusively selected as the "source". The mounting devices M4 to M6, the adhesion inspection device M9, the X-ray inspection device M10, and the electrical characteristic inspection device M11 are each selected as the "destination".

図4において、「送信項目」設定枠42には、「送受信先」設定枠41で選択された「送信元」と「送信先」に対応して、送信情報15として送信可能な「送信項目」と、送信する「送信項目」を選択するためのチェックボックスが表示されている。条件設定部19は、管理記憶部11に記憶されている条件設定情報13に基づいて、「送受信先」設定枠41で選択された「送信元」と「送信先」に対応する「送信項目」を「送信項目」設定枠42に表示させる。 In FIG. 4, the "Transmission item" setting frame 42 displays "transmission items" that can be transmitted as transmission information 15, and check boxes for selecting the "transmission items" to be transmitted, corresponding to the "source" and "destination" selected in the "transmission/reception destination" setting frame 41. The condition setting unit 19 displays, in the "transmission item" setting frame 42, the "transmission items" that correspond to the "source" and "destination" selected in the "transmission/reception destination" setting frame 41, based on the condition setting information 13 stored in the management memory unit 11.

「戻る」ボタン43が操作されると、前の画面に遷移する。「確定」ボタン44が操作されると、「送受信先」設定枠41と「送信項目」設定枠42で設定された情報に基づいて、条件設定部19が送信条件14を作成して管理記憶部11に記憶させる。作業者は、送信条件設定画面40の「送受信先」設定枠41で「送信元」と「送信先」を選択し、「送信項目」設定枠42で「送信項目」を選択した後に「確定」ボタン44を操作する作業を繰り返すことで、作業ラインLを構成する作業装置M1~M12毎に、送信条件14を柔軟に作成することができる。 When the "Back" button 43 is operated, the screen transitions to the previous screen. When the "Confirm" button 44 is operated, the condition setting unit 19 creates a transmission condition 14 based on the information set in the "Destination" setting frame 41 and the "Item to be sent" setting frame 42, and stores the created transmission condition 14 in the management storage unit 11. The worker can flexibly create transmission conditions 14 for each of the work devices M1 to M12 that make up the work line L by repeating the steps of selecting a "source" and a "destination" in the "Destination" setting frame 41 on the transmission condition setting screen 40, selecting an "item to be sent" in the "Item to be sent" setting frame 42, and then pressing the "Confirm" button 44.

なお、「確定」ボタン44を操作した後に、設定された「送信項目」を満たす「送信元」と「送信先」が設定されているかを判定してもよい。図3で示すように、設定項目34には対応する情報送信元31と情報送信先33が設定されている。選択された「送信項目」を満たすように「送信元」と「送信先」が設定されていないと「設定項目」で設定された情報を情報送信先33に送信することができない。そのため、例えば「送信項目」を満たす「送信元」と「送信先」が設定されていない場合、条件設定部19は作業者に設定エラーを報知してもよい。また、「送信項目」を満たす「送信元」と「送信先」が設定されていない場合、条件設定部19は「送信項目」を満たす「送信元」と「送信先」に自動で修正して設定してもよい。 After the "Confirm" button 44 is operated, it may be determined whether the "source" and "destination" that satisfy the set "transmission item" are set. As shown in FIG. 3, the setting item 34 has a corresponding information source 31 and information destination 33 set. If the "source" and "destination" are not set to satisfy the selected "transmission item", the information set in the "setting item" cannot be sent to the information destination 33. Therefore, for example, if the "source" and "destination" that satisfy the "transmission item" are not set, the condition setting unit 19 may notify the operator of a setting error. Also, if the "source" and "destination" that satisfy the "transmission item" are not set, the condition setting unit 19 may automatically correct and set the "source" and "destination" to satisfy the "transmission item".

次に図5を参照して、送信条件14の例について説明する。送信条件14は、作業装置M1~M12毎に設定される。図5(a)は実装装置M4に設定された送信条件14の例であり、図5(b)はX線検査装置M10に設定された送信条件14の例である。送信条件14には、「番号」50毎に、「結果情報」51、「送信項目」52が含まれる。結果情報51は、作業装置M1~M12から収集された作業結果情報12に含まれる情報を特定する情報である。送信項目52は、作業装置M1~M12に送信する送信情報15に含める情報を特定する情報である。 Next, an example of the transmission conditions 14 will be described with reference to FIG. 5. The transmission conditions 14 are set for each of the work devices M1 to M12. FIG. 5(a) is an example of the transmission conditions 14 set for the mounting device M4, and FIG. 5(b) is an example of the transmission conditions 14 set for the X-ray inspection device M10. The transmission conditions 14 include "result information" 51 and "transmission items" 52 for each "number" 50. The result information 51 is information that specifies the information included in the work result information 12 collected from the work devices M1 to M12. The transmission items 52 are information that specifies the information to be included in the transmission information 15 to be transmitted to the work devices M1 to M12.

図5(a)において、例えば、番号50が「1」の送信条件14は、半田検査装置M3から収集される作業結果情報12に含まれる不良基板情報(結果情報51)に基づいて、その基板IDの基板の特定の個別基板には部品実装作業を行わない旨の実装中止指示(送信項目52)を含む送信情報15を実装装置M4に送信することを示している。 In FIG. 5(a), for example, transmission condition 14 numbered 50 as "1" indicates that transmission information 15 including a mounting cancellation instruction (transmission item 52) not to perform component mounting work on a specific individual board of the board with that board ID is transmitted to mounting device M4 based on defective board information (result information 51) included in work result information 12 collected from solder inspection device M3.

番号50が「2」の送信条件14は、半田検査装置M3から収集される作業結果情報12に含まれる半田不良箇所(結果情報51)に基づいて、その基板IDの基板の半田不良箇所には部品実装作業を行わない旨の実装中止位置(送信項目52)を含む送信情報15を実装装置M4に送信することを示している。このように、同じ作業装置(半田検査装置M3)から収集される作業結果情報12であっても、送信条件14に結果情報51と送信項目52を適切に規定することで、作業結果情報12の連携を柔軟に行うことができる。 Transmission condition 14 with number 50 set to "2" indicates that transmission information 15 including a mounting stop position (transmission item 52) indicating that component mounting work will not be performed at the solder defect location on the board with that board ID is transmitted to mounting device M4 based on the solder defect location (result information 51) contained in work result information 12 collected from solder inspection device M3. In this way, even if the work result information 12 is collected from the same work device (solder inspection device M3), by appropriately specifying result information 51 and transmission item 52 in transmission condition 14, it is possible to flexibly link the work result information 12.

図5(b)において、番号50が「16」の送信条件14は、電気特性検査装置M11から収集される作業結果情報12の含まれる特性検査結果(結果情報51)に基づいて、X線検査作業を最適化する調整パラメタ(送信項目52)を含む送信情報15をX線検査装置M10に送信することを示している。 In FIG. 5(b), the transmission condition 14 numbered 50 as "16" indicates that transmission information 15 including adjustment parameters (transmission items 52) for optimizing the X-ray inspection work is transmitted to the X-ray inspection device M10 based on the characteristic inspection results (result information 51) included in the work result information 12 collected from the electrical characteristic inspection device M11.

図2において、情報送信部20は、内部処理部として送信情報作成部21を備えている。送信情報作成部21は、送信条件14と作業ラインLの作業装置M1~M12から収集された作業結果情報12に基づいて、送信情報15を作成して管理記憶部11に記憶させる。情報送信部20は、作成された送信情報15を送信条件14に対応した作業装置M1~M12に送信する。すなわち、情報送信部20は、作業装置M1~M12毎に設定された送信条件14に基づいて、作業結果情報12に含まれる情報を送信条件14に対応した送信情報15として送信条件14に対応した作業装置M1~M12に送信する。 In FIG. 2, the information transmitting unit 20 includes a transmission information creating unit 21 as an internal processing unit. The transmission information creating unit 21 creates transmission information 15 based on the transmission conditions 14 and the work result information 12 collected from the work devices M1 to M12 on the work line L, and stores the information in the management storage unit 11. The information transmitting unit 20 transmits the created transmission information 15 to the work devices M1 to M12 corresponding to the transmission conditions 14. That is, based on the transmission conditions 14 set for each of the work devices M1 to M12, the information transmitting unit 20 transmits the information included in the work result information 12 as transmission information 15 corresponding to the transmission conditions 14 to the work devices M1 to M12 corresponding to the transmission conditions 14.

なお、送信条件14には送信するタイミングを含んでいてもよい。また、設定項目に対応したタイミングで送信情報15が送信されることが好ましい。例えば、不良基板情報、実装中止位置、検査中止位置、簡易検査位置、そして追加作業位置のいずれかひとつが設定される場合は、送信情報15に対応する基板が送信先の作業装置M1~M12に搬送される前までに受信されるようなタイミングで送信情報15が送信されることが好ましい。 The transmission conditions 14 may include the timing of transmission. It is preferable that the transmission information 15 is transmitted at a timing corresponding to the setting item. For example, if any one of defective board information, mounting stop position, inspection stop position, simple inspection position, and additional work position is set, it is preferable that the transmission information 15 is transmitted at a timing such that it is received before the board corresponding to the transmission information 15 is transported to the destination work device M1 to M12.

送信情報15を受信した作業装置M1~M12は、送信情報15に含まれる指示に従って作業を実行する。例えば、図5(a)の番号50が「1」の送信条件14に基づいて作成された送信情報15を受信した実装装置M4は、基板IDが一致する基板の特定の個別基板には部品実装作業を行わない。 The work devices M1 to M12 that receive the transmission information 15 perform work according to the instructions included in the transmission information 15. For example, the mounting device M4 that receives the transmission information 15 created based on the transmission condition 14 with the number 50 of FIG. 5(a) being "1" does not perform component mounting work on the specific individual boards of the board with the matching board ID.

また、図5(b)の番号50が「13」の送信条件14に基づいて作成された検査中止位置情報を含む送信情報15を受信したX線検査装置M10は、基板IDが一致する基板の固着不良箇所にはX線検査作業を行わない。すなわち、作業結果情報12が基板における不良箇所(実装不良箇所、固着不良箇所、接合不良箇所)の情報を含む場合、送信情報15は、送信条件14に対応した作業装置(固着検査装置M9、X線検査装置M10、電気特性検査装置M11)が不良箇所に対して作業を行わない指示を含む。このように、上流側の作業装置(固着検査装置M9、X線検査装置M10)で不良と判断された不良箇所は、検査を省略することで、製造効率を向上させることができる。 Furthermore, when the X-ray inspection device M10 receives transmission information 15 including inspection stop position information created based on transmission condition 14 of "13" (number 50 in FIG. 5B), it does not perform X-ray inspection work on the stuck defective parts of the board with the matching board ID. In other words, when the work result information 12 includes information on defective parts on the board (faulty mounting parts, stuck defective parts, and poor connection parts), the transmission information 15 includes an instruction for the operation device (sticking inspection device M9, X-ray inspection device M10, electrical characteristic inspection device M11) corresponding to transmission condition 14 not to perform work on the defective parts. In this way, manufacturing efficiency can be improved by omitting inspection of defective parts determined to be defective by the upstream operation device (sticking inspection device M9, X-ray inspection device M10).

なお、X線検査装置M10は、該当する固着不良箇所のX線検査作業は実行して、該当箇所を不良箇所とするが、作業者への注意喚起の報知はしなくてもよい。すなわち、送信情報15は、送信条件14に対応した作業装置が不良箇所を実装不良と判定しない指示を含んでいてもよい。 The X-ray inspection device M10 performs an X-ray inspection of the corresponding defective adhesion area and determines the corresponding area as a defective area, but does not have to notify the worker of the defect. In other words, the transmission information 15 may include an instruction for the work device corresponding to the transmission condition 14 not to determine the defective area as a mounting defect.

また、図5(b)の番号50が「14」の送信条件14に基づいて作成された追加検査位置情報を含む送信情報15を受信したX線検査装置M10は、基板IDが一致する基板の特定箇所に追加のX線検査作業を行う。すなわち、作業結果情報12が基板における半田堆積の特定箇所の情報または実装の特定箇所の情報を含む場合、送信情報15は、送信条件14に対応した作業装置(実装検査装置M7、固着検査装置M9、X線検査装置M10、電気特性検査装置M11)が特定箇所に対して追加作業を行う指示を含む。このように、上流側の作業装置(半田検査装置M3、実装検査装置M7、固着検査装置M9、X線検査装置M10)で良否が判定できなかった特定箇所のみ追加作業を行うことで、実装品質を維持しつつ製造効率を向上させることができる。 In addition, the X-ray inspection device M10, which receives the transmission information 15 including the additional inspection position information created based on the transmission condition 14 of "14" in FIG. 5B, performs additional X-ray inspection work on the specific part of the board that matches the board ID. That is, when the work result information 12 includes information on the specific part of the solder deposition on the board or the specific part of the mounting, the transmission information 15 includes an instruction for the operation device corresponding to the transmission condition 14 (mounting inspection device M7, adhesion inspection device M9, X-ray inspection device M10, electrical characteristic inspection device M11) to perform additional work on the specific part. In this way, by performing additional work only on the specific part that could not be judged good or bad by the upstream operation device (solder inspection device M3, mounting inspection device M7, adhesion inspection device M9, X-ray inspection device M10), it is possible to improve manufacturing efficiency while maintaining mounting quality.

また、図5(b)の番号50が「15」の送信条件14に基づいて作成された簡易検査位置情報を含む送信情報15を受信したX線検査装置M10は、基板IDが一致する基板の特定箇所に簡易プロブラムによるX線検査作業を行う。すなわち、作業結果情報12が基板における実装検査の情報(固着検査結果、X線検査結果)を含む場合、送信情報15送信条件14に対応した作業装置(X線検査装置M10、電気特性検査装置M11)のうち通常プログラムと簡易プログラムを有する作業装置が簡易プログラムに切り替えて作業を行う指示を含む。このように、上流側の作業装置(固着検査装置M9、X線検査装置M10)で良好と判断された特定箇所は、検査項目を省略した簡易プログラムで検査することで、実装品質を維持しつつ製造効率を向上させることができる。 In addition, the X-ray inspection device M10, which receives the transmission information 15 including the simplified inspection position information created based on the transmission condition 14 of "15" in FIG. 5(b), performs an X-ray inspection operation using a simplified program on a specific location of the board that matches the board ID. That is, when the work result information 12 includes information on the mounting inspection on the board (adhesion inspection result, X-ray inspection result), the transmission information 15 includes an instruction for the operation device (X-ray inspection device M10, electrical characteristic inspection device M11) that has a normal program and a simplified program corresponding to the transmission condition 14 to switch to the simplified program and perform the operation. In this way, the specific location that is judged to be good by the upstream operation device (adhesion inspection device M9, X-ray inspection device M10) can be inspected using a simplified program that omits the inspection items, thereby improving manufacturing efficiency while maintaining the mounting quality.

次に図6のフローに沿って、作業ライン管理装置3による作業ライン管理方法について説明する。作業ライン管理装置3の管理記憶部11には、条件設定部19などによって既に設定されている送信条件14が記憶されているとする。まず、情報収集部18が、複数の作業装置M1~M12から送信された作業結果情報12を収集する(ST1:作業結果情報収集工程)。次いで送信情報作成部21が、作業装置M1~M12毎に設定された送信条件14に基づいて、収集された作業結果情報12に含まれる情報から送信条件14に対応した送信情報15を作成する(ST2:送信情報作成工程)。 Next, the work line management method by the work line management device 3 will be described along the flow of FIG. 6. It is assumed that the management memory unit 11 of the work line management device 3 stores transmission conditions 14 that have already been set by the condition setting unit 19 or the like. First, the information collection unit 18 collects work result information 12 transmitted from a plurality of work devices M1 to M12 (ST1: work result information collection process). Next, the transmission information creation unit 21 creates transmission information 15 corresponding to the transmission conditions 14 from information contained in the collected work result information 12 based on the transmission conditions 14 set for each of the work devices M1 to M12 (ST2: transmission information creation process).

次いで情報送信部20は、作成された送信情報15を送信条件14に応じた作業装置M1~M12に送信する(ST3:送信情報送信工程)。作業ラインLが電子回路基板を製造している間は(ST4においてNo)、作業結果情報収集工程(ST1)に戻って送信情報作成工程(ST2)、送信情報送信工程(ST3)が繰り返し実行される。これによって、複数の作業装置M1~M12で構成された作業ラインLにおける作業結果情報12の連携を柔軟に行うことができる。 The information transmission unit 20 then transmits the created transmission information 15 to the work devices M1 to M12 according to the transmission conditions 14 (ST3: transmission information transmission process). While the work line L is manufacturing electronic circuit boards (No in ST4), the process returns to the work result information collection process (ST1) and the transmission information creation process (ST2) and the transmission information transmission process (ST3) are repeatedly executed. This allows for flexible coordination of work result information 12 in the work line L, which is made up of multiple work devices M1 to M12.

上記説明したように、本実施の形態の電子回路基板製造システム1は、複数の作業装置M1~M12で構成された作業ラインLと、作業ラインLを管理する作業ライン管理装置3を備えている。作業ライン管理装置3は、複数の作業装置M1~M12から送信された作業結果情報12を収集する情報収集部18と、作業装置M1~M12毎に設定された送信条件14に基づいて、作業結果情報12に含まれる情報を送信条件14に対応した送信情報15として送信条件14に対応した作業装置M1~M12に送信する情報送信部20と、を備えている。そして、作業装置M1~M12は、受信した送信情報15に基づいて作業する。これによって、複数の作業装置M1~M12で構成された作業ラインLにおける作業結果情報12の連携を柔軟に行うことができる。 As described above, the electronic circuit board manufacturing system 1 of this embodiment includes a work line L composed of multiple work devices M1 to M12, and a work line management device 3 that manages the work line L. The work line management device 3 includes an information collection unit 18 that collects work result information 12 transmitted from the multiple work devices M1 to M12, and an information transmission unit 20 that transmits information included in the work result information 12 as transmission information 15 corresponding to the transmission conditions 14 to the work devices M1 to M12 corresponding to the transmission conditions 14 based on the transmission conditions 14 set for each of the work devices M1 to M12. The work devices M1 to M12 then perform work based on the received transmission information 15. This allows for flexible coordination of the work result information 12 on the work line L composed of multiple work devices M1 to M12.

上記説明した、本実施の形態における更なる変形例を以下に説明する。図4において、送信元として実装検査装置M7が選択され、送信先として実装装置M4、M5、M6および固着検査装置M9、X線検査装置M10、電気特性検査装置M11が選択されている。これらの選択された作業装置から必須でない送信先は選択しなくてもよい。例えば、実装装置M4では実装検査装置M7からの調整パラメータや実装位置補正情報を必要としない場合や装置メーカが異なり正しく調整パラメータや実装位置補正情報を使用できない場合、実装装置M4を送信先として選択しなくてもよい。必須でない送信先を選択しないことで、送受信する情報量を削減することができる。 A further modification of the present embodiment described above is described below. In FIG. 4, mounting inspection device M7 is selected as the source, and mounting devices M4, M5, and M6, adhesion inspection device M9, X-ray inspection device M10, and electrical characteristic inspection device M11 are selected as destinations. Non-essential destinations from these selected work devices do not need to be selected. For example, if mounting device M4 does not require adjustment parameters or mounting position correction information from mounting inspection device M7 or if the device manufacturer is different and adjustment parameters or mounting position correction information cannot be used correctly, mounting device M4 does not need to be selected as the destination. By not selecting non-essential destinations, the amount of information sent and received can be reduced.

また、図4では送信元として実装検査装置M7が排他的に選択されているが、半田検査装置M3や固着検査装置M9、X線検査装置M10を送信元として同時に選択してもよい。これら装置の全て又は一部を送信元として選択することで調整パラメータや実装位置補正情報の精度が向上する。すなわち、図3において「設定項目」が重複する送信元は全て又は一部を複数選択することができる。 In addition, in FIG. 4, the mounting inspection device M7 is exclusively selected as the transmission source, but the solder inspection device M3, adhesion inspection device M9, and X-ray inspection device M10 may also be selected as transmission sources at the same time. By selecting all or some of these devices as transmission sources, the accuracy of the adjustment parameters and mounting position correction information is improved. In other words, it is possible to select all or some of the transmission sources with overlapping "setting items" in FIG. 3 multiple times.

本発明の作業ライン管理装置および作業ライン管理方法ならびに電子回路基板製造システムは、複数の作業装置で構成された作業ラインにおける作業結果情報の連携を柔軟に行うことができるという効果を有し、部品を基板に実装する分野において有用である。 The work line management device, work line management method, and electronic circuit board manufacturing system of the present invention have the effect of flexibly linking work result information on a work line made up of multiple work devices, and are useful in the field of mounting components on boards.

1 電子回路基板製造システム
3 作業ライン管理装置
M1 基板供給装置(作業装置)
M2 印刷装置(作業装置)
M3 半田検査装置(作業装置)
M4~M6 実装装置(作業装置)
M7 実装検査装置(作業装置)
M8 リフロー装置(作業装置)
M9 固着検査装置(作業装置)
M10 X線検査装置(作業装置)
M11 電気特性検査装置(作業装置)
M12 基板回収装置(作業装置)
1 Electronic circuit board manufacturing system 3 Work line management device M1 Board supply device (work device)
M2 Printing device (working device)
M3 Solder inspection device (working device)
M4 to M6 Mounting equipment (working equipment)
M7 Mounting inspection device (working device)
M8 Reflow device (working device)
M9 Sticking inspection device (working device)
M10 X-ray inspection device (working device)
M11 Electrical characteristic inspection device (working device)
M12 Substrate recovery device (working device)

Claims (15)

基板に部品を実装した電子回路基板を製造するための作業を行う複数の作業装置で構成された作業ラインを管理する作業ライン管理装置であって、
複数の作業装置から送信された作業結果情報を収集する情報収集部と、
前記作業装置毎に設定された送信条件に基づいて、前記作業結果情報に含まれる情報を前記送信条件に対応した送信情報として前記送信条件に対応した作業装置に送信する情報送信部と、を備え
前記作業結果情報は、前記基板における不良箇所の情報を含み、
前記送信情報は、前記送信条件に対応した作業装置が前記不良箇所を実装不良と判定しない指示を含む、作業ライン管理装置。
A work line management device that manages a work line that is made up of a plurality of work devices that perform work for manufacturing an electronic circuit board having components mounted on a board,
an information collecting unit that collects work result information transmitted from a plurality of work devices;
an information transmission unit that transmits information included in the work result information as transmission information corresponding to a transmission condition set for each of the work devices to the work device corresponding to the transmission condition ,
the work result information includes information on defective locations on the substrate,
The transmission information includes an instruction for a work device corresponding to the transmission condition not to determine the defective portion as a mounting defect .
複数の前記作業装置には、半田が堆積した後の前記基板の表面を撮像して検査する半田検査装置、堆積された前記半田の上に部品を実装する実装装置、堆積された前記半田の上に部品が実装された後の前記基板の表面を撮像して検査する実装検査装置、前記半田が固着した後の前記基板の表面を撮像して検査する固着検査装置、前記半田が固着した後の前記基板の接合状態を非接触で検査する非接触検査装置、および前記半田が固着した後の前記基板の電気特性を計測して検査する電気特性検査装置のいずれかのうち、少なくとも2つを含む、請求項1に記載の作業ライン管理装置。 The work line management device according to claim 1, wherein the plurality of work devices include at least two of the following: a solder inspection device that captures and inspects the surface of the board after solder has been deposited; a mounting device that mounts components on the deposited solder; a mounting inspection device that captures and inspects the surface of the board after components have been mounted on the deposited solder; a solder adhesion inspection device that captures and inspects the surface of the board after the solder has been fixed; a non-contact inspection device that non-contactly inspects the bonding state of the board after the solder has been fixed; and an electrical characteristic inspection device that measures and inspects the electrical characteristics of the board after the solder has been fixed. 前記作業結果情報は、前記基板における不良箇所の情報を含み、
前記送信情報は、前記送信条件に対応した作業装置が前記不良箇所に対して作業を行わない指示を含む、請求項1または2に記載の作業ライン管理装置。
the work result information includes information on defective locations on the substrate,
The production line management device according to claim 1 , wherein the transmission information includes an instruction for a maintenance device corresponding to the transmission condition not to perform maintenance on the defective portion.
前記作業結果情報は、前記基板における半田堆積の特定箇所の情報または実装の特定箇所の情報を含み、
前記送信情報は、前記送信条件に対応した作業装置が前記特定箇所に対して追加作業を行う指示を含む、請求項1または2に記載の作業ライン管理装置。
The work result information includes information on a specific portion of solder deposition on the board or information on a specific portion of mounting,
The work line management device according to claim 1 , wherein the transmission information includes an instruction for a work device corresponding to the transmission condition to perform an additional work on the specific location.
前記作業結果情報は、前記基板における実装検査の情報を含み、
前記送信情報は、前記送信条件に対応した作業装置のうち通常プログラムと簡易プログラムを有する作業装置が簡易プログラムに切り替えて作業を行う指示を含む、請求項1または2に記載の作業ライン管理装置。
the work result information includes information on mounting inspection of the board,
3. The work line management device according to claim 1, wherein the transmission information includes an instruction for a work device having a normal program and a simple program, among the work devices corresponding to the transmission condition, to switch to the simple program and perform the work.
基板に部品を実装した電子回路基板を製造するための作業を行う複数の作業装置で構成された作業ラインを管理する作業ライン管理方法であって、
複数の作業装置から送信された作業結果情報を収集し、
前記作業装置毎に設定された送信条件に基づいて、前記作業結果情報に含まれる情報を前記送信条件に対応した送信情報として前記送信条件に応じた作業装置に送信することを含み、
前記作業結果情報は、前記基板における不良箇所の情報を含み、
前記送信情報は、前記送信条件に対応した作業装置が前記不良箇所を実装不良と判定しない指示を含む、作業ライン管理方法。
1. A work line management method for managing a work line that is made up of a plurality of work devices that perform work for manufacturing an electronic circuit board having components mounted on a board, comprising:
Collecting work result information transmitted from a plurality of work devices;
transmitting information included in the work result information to a work device corresponding to the transmission conditions based on transmission conditions set for each of the work devices ,
the work result information includes information on defective locations on the substrate,
The transmission information includes an instruction for a mounting device corresponding to the transmission condition not to determine the defective portion as a mounting defect.
複数の前記作業装置には、半田が堆積した後の前記基板の表面を撮像して検査する半田検査装置、堆積された前記半田の上に部品を実装する実装装置、堆積された前記半田の上に部品が実装された後の前記基板の表面を撮像して検査する実装検査装置、前記半田が固着した後の前記基板の表面を撮像して検査する固着検査装置、前記半田が固着した後の前記基板の接合状態を非接触で検査する非接触検査装置、および前記半田が固着した後の前記基板の電気特性を計測して検査する電気特性検査装置のいずれかのうち、少なくとも2つを含む、請求項に記載の作業ライン管理方法。 7. The work line management method of claim 6, wherein the plurality of working devices include at least two of a solder inspection device that images and inspects the surface of the board after solder has been deposited, a mounting device that mounts components on the deposited solder, a mounting inspection device that images and inspects the surface of the board after components have been mounted on the deposited solder, a solder adhesion inspection device that images and inspects the surface of the board after the solder has solidified, a non-contact inspection device that non-contactly inspects the bonding state of the board after the solder has solidified, and an electrical characteristic inspection device that measures and inspects the electrical characteristics of the board after the solder has solidified. 前記作業結果情報は、前記基板における不良箇所の情報を含み、
前記送信情報は、前記送信条件に対応した作業装置が前記不良箇所に対して作業を行わない指示を含む、請求項またはに記載の作業ライン管理方法。
the work result information includes information on defective locations on the substrate,
8. The production line management method according to claim 6 , wherein the transmission information includes an instruction for a maintenance device corresponding to the transmission condition not to perform maintenance on the defective portion.
前記作業結果情報は、前記基板における半田堆積の特定箇所の情報または実装の特定箇所の情報を含み、
前記送信情報は、前記送信条件に対応した作業装置が前記特定箇所に対して追加作業を行う指示を含む、請求項またはに記載の作業ライン管理方法。
The work result information includes information on a specific portion of solder deposition on the board or information on a specific portion of mounting,
The work line management method according to claim 6 or 7 , wherein the transmission information includes an instruction for a work device corresponding to the transmission condition to perform additional work on the specific location.
前記作業結果情報は、前記基板における実装検査の情報を含み、
前記送信情報は、前記送信条件に対応した作業装置のうち通常プログラムと簡易プログラムを有する作業装置が簡易プログラムに切り替えて作業を行う指示を含む、請求項またはに記載の作業ライン管理方法。
the work result information includes information on mounting inspection of the board,
8. The work line management method according to claim 6 , wherein the transmission information includes an instruction for a work device having a normal program and a simple program, among the work devices corresponding to the transmission condition, to switch to the simple program and perform work.
基板に部品を実装した電子回路基板を製造するための作業を行う複数の作業装置で構成された作業ラインと、前記作業ラインを管理する作業ライン管理装置を備える電子回路基板製造システムであって、
前記作業ライン管理装置は、
複数の作業装置から送信された作業結果情報を収集する情報収集部と、
前記作業装置毎に設定された送信条件に基づいて、前記作業結果情報に含まれる情報を前記送信条件に対応した送信情報として前記送信条件に対応した作業装置に送信する情報送信部と、を備え、
前記作業装置は、受信した前記送信情報に基づいて作業し、
前記作業結果情報は、前記基板における不良箇所の情報を含み、
前記送信情報を受信した前記作業装置は、前記不良箇所を実装不良と判定しない、電子回路基板製造システム。
An electronic circuit board manufacturing system including a work line including a plurality of work devices that perform work for manufacturing an electronic circuit board having components mounted on a board, and a work line management device that manages the work line,
The production line management device includes:
an information collecting unit that collects work result information transmitted from a plurality of work devices;
an information transmission unit that transmits information included in the work result information as transmission information corresponding to a transmission condition set for each of the work devices to the work device corresponding to the transmission condition,
The work device performs work based on the received transmission information ,
the work result information includes information on defective locations on the substrate,
The operation device that receives the transmitted information does not determine that the defective portion is a mounting defect.
複数の前記作業装置には、半田が堆積した後の前記基板の表面を撮像して検査する半田検査装置、堆積された前記半田の上に部品を実装する実装装置、堆積された前記半田の上に部品が実装された後の前記基板の表面を撮像して検査する実装検査装置、前記半田が固着した後の前記基板の表面を撮像して検査する固着検査装置、前記半田が固着した後の前記基板の接合状態を非接触で検査する非接触検査装置、および前記半田が固着した後の前記基板の電気特性を計測して検査する電気特性検査装置のいずれかのうち、少なくとも2つを含む、請求項11に記載の電子回路基板製造システム。 12. The electronic circuit board manufacturing system of claim 11, wherein the plurality of working devices include at least two of a solder inspection device that images and inspects the surface of the board after solder has been deposited, a mounting device that mounts components on the deposited solder, a mounting inspection device that images and inspects the surface of the board after components have been mounted on the deposited solder, a solder adhesion inspection device that images and inspects the surface of the board after the solder has been fixed, a non-contact inspection device that non-contactly inspects the bonding state of the board after the solder has been fixed, and an electrical characteristic inspection device that measures and inspects the electrical characteristics of the board after the solder has been fixed . 前記作業結果情報は、前記基板における不良箇所の情報を含み、
前記送信情報を受信した前記作業装置は前記不良箇所に対して作業を行わない、請求項11または12に記載の電子回路基板製造システム。
the work result information includes information on defective locations on the substrate,
13. The electronic circuit board manufacturing system according to claim 11 , wherein the operation device that has received the transmitted information does not perform operation on the defective portion.
前記作業結果情報は、前記基板における半田堆積の特定箇所の情報または実装の特定箇所の情報を含み、
前記送信情報を受信した前記作業装置は、前記特定箇所に対して追加作業を行う、請求項11または12に記載の電子回路基板製造システム。
The work result information includes information on a specific portion of solder deposition on the board or information on a specific portion of mounting,
The electronic circuit board manufacturing system according to claim 11 , wherein the operation device that receives the transmitted information performs an additional operation on the specific location.
前記作業結果情報は、前記基板における実装検査の情報を含み、
前記送信情報を受信した前記作業装置うち通常プログラムと簡易プログラムを有する前記作業装置は、簡易プログラムに切り替えて作業を行う、請求項11または12に記載の電子回路基板製造システム。
the work result information includes information on mounting inspection of the board,
13. The electronic circuit board manufacturing system according to claim 11 , wherein among the operation devices that have received the transmitted information, those that have a normal program and a simple program switch to the simple program and perform the operation.
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