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JP7498646B2 - Switchgear maintenance device and switchgear maintenance method - Google Patents

Switchgear maintenance device and switchgear maintenance method Download PDF

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JP7498646B2 JP2020184144A JP2020184144A JP7498646B2 JP 7498646 B2 JP7498646 B2 JP 7498646B2 JP 2020184144 A JP2020184144 A JP 2020184144A JP 2020184144 A JP2020184144 A JP 2020184144A JP 7498646 B2 JP7498646 B2 JP 7498646B2
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Description

本明細書は、開閉器メンテナンス装置および開閉器メンテナンス方法に関する技術を開示する。 This specification discloses technology relating to a switchgear maintenance device and a switchgear maintenance method.

特許文献1に記載の信号切替回路は、通常使用される回路から通常使用されない回路にリレー接点を定期的に切り替えて接点に電流を流し、接点の表面に付着した不伝導被膜を除去する。リレー接点の切り替えは、一日に一度または一週間に一度程度の頻度で行われる。 The signal switching circuit described in Patent Document 1 periodically switches the relay contacts from a normally used circuit to a normally unused circuit, causing a current to flow through the contacts and removing the non-conductive coating that has adhered to the surface of the contacts. The relay contacts are switched about once a day or once a week.

特開2011-238423号公報JP 2011-238423 A

しかしながら、特許文献1に記載の信号切替回路は、リレー接点を定期的に切り替えるものであり、対基板作業機に着脱可能に設けられる機器の着脱に合わせて開閉する開閉器の接点に付着した異物を除去するものではない。また、特許文献1に記載の信号切替回路のように、長期間不動状態のリレー接点に付着した不伝導被膜は、定期的に除去すれば済む。しかしながら、上記開閉器の接点に付着した異物を除去すべき除去タイミングは、必ずしも一定時間ごとに到来するものではなく、上記除去タイミングを知得したいという要請がある。 However, the signal switching circuit described in Patent Document 1 periodically switches the relay contacts, and does not remove foreign matter adhering to the contacts of a switch that opens and closes in accordance with the attachment and detachment of equipment that is detachably mounted on a substrate-related operating machine. Also, as with the signal switching circuit described in Patent Document 1, the non-conductive coating that adheres to relay contacts that remain stationary for long periods of time can be removed periodically. However, the timing for removing foreign matter adhering to the contacts of the switch does not necessarily occur at regular intervals, and there is a demand to know the timing for removal.

このような事情に鑑みて、本明細書は、対基板作業機に着脱可能に設けられる機器の着脱に合わせて開閉する開閉器の接点に付着した異物を除去すべき除去タイミングを知得可能な開閉器メンテナンス装置および開閉器メンテナンス方法を開示する。 In light of these circumstances, this specification discloses a switch maintenance device and a switch maintenance method that can determine the timing for removing foreign matter adhering to the contacts of a switch that opens and closes in accordance with the attachment and detachment of equipment that is detachably mounted on a substrate-related operating machine.

本明細書は、判断部を備える開閉器メンテナンス装置を開示する。前記判断部は、基板に所定の対基板作業を行って基板製品を生産する対基板作業機に着脱可能に設けられる機器の着脱に合わせて開閉する開閉器の接点に付着した異物を除去すべき除去タイミングであるか否かを判断する。 This specification discloses a switch maintenance device that includes a judgment unit. The judgment unit judges whether or not it is time to remove foreign matter attached to the contacts of a switch that opens and closes in accordance with the attachment and detachment of equipment that is detachably mounted on a substrate-related operation machine that performs a specified substrate-related operation on a substrate to produce a substrate product.

また、本明細書は、判断工程を備える開閉器メンテナンス方法を開示する。前記判断工程は、基板に所定の対基板作業を行って基板製品を生産する対基板作業機に着脱可能に設けられる機器の着脱に合わせて開閉する開閉器の接点に付着した異物を除去すべき除去タイミングであるか否かを判断する。 This specification also discloses a switch maintenance method that includes a judgment step. The judgment step judges whether or not it is time to remove foreign matter attached to the contacts of a switch that opens and closes in accordance with the attachment and detachment of equipment that is detachably mounted on a substrate-related operation machine that performs a specified substrate-related operation on a substrate to produce a substrate product.

上記の開閉器メンテナンス装置によれば、判断部を備える。よって、対基板作業機に着脱可能に設けられる機器の着脱に合わせて開閉する開閉器の接点に付着した異物を除去すべき除去タイミングを知得することができる。上述されていることは、開閉器メンテナンス方法についても同様に言える。 The above-mentioned switch maintenance device includes a judgment unit. Therefore, it is possible to know the timing for removing foreign matter adhering to the contacts of the switch, which opens and closes in accordance with the attachment and detachment of equipment that is detachably mounted on the substrate-related operation machine. The above also applies to the switch maintenance method.

基板生産ラインの構成例を示す平面図である。FIG. 2 is a plan view showing a configuration example of a board production line. 図1の交換システムおよび部品装着機の構成例を示す斜視図である。FIG. 2 is a perspective view showing a configuration example of the replacement system and the component mounting machine of FIG. 1 . 搬送装置と部品装着機の部品供給装置との間におけるフィーダの交換作業の一例を示す平面図である。11 is a plan view showing an example of a feeder replacement operation between a conveying device and a component supplying device of a component mounting machine. FIG. 機器の着脱を検出する検出回路の一例を示す回路図である。FIG. 4 is a circuit diagram showing an example of a detection circuit for detecting attachment/detachment of a device. 開閉器メンテナンス装置の制御ブロックの一例を示すブロック図である。2 is a block diagram showing an example of a control block of the switch maintenance device; FIG. 開閉器メンテナンス装置による制御手順の一例を示すフローチャートである。4 is a flowchart showing an example of a control procedure performed by the switch maintenance device. 開閉器の接点の抵抗値を測定する際の回路例を示す回路図である。FIG. 2 is a circuit diagram showing an example of a circuit for measuring a resistance value of a contact of a switch. 開閉器の接点に付着した異物を除去する際の回路例を示す回路図である。FIG. 1 is a circuit diagram showing an example of a circuit for removing foreign matter adhering to a contact of a switch.

1.実施形態
1-1.基板生産ラインWL0の構成例
本実施形態の開閉器メンテナンス装置70は、基板生産ラインWL0に適用される。図1に示すように、基板生産ラインWL0は、少なくとも一つ(同図では、4つ)の部品装着機10と、交換システム30と、搬送装置40と、保管装置50と、ライン管理装置60とを備えている。4つの部品装着機10は、図2に示す基板90の搬送方向(X方向)に沿って設置されている。部品装着機10は、基板90に所定の対基板作業を行って基板製品900を生産する対基板作業機WM0に含まれる。部品装着機10による対基板作業には、基板90の搬入作業および搬出作業、部品の供給作業、採取作業および装着作業などが含まれる。部品装着機10には、例えば、カセット式のフィーダ20が着脱可能に設けられる。
1. Embodiment 1-1. Configuration example of board production line WL0 The switch maintenance device 70 of this embodiment is applied to the board production line WL0. As shown in FIG. 1, the board production line WL0 includes at least one (four in the figure), a component mounting machine 10, a replacement system 30, a conveying device 40, a storage device 50, and a line management device 60. The four component mounting machines 10 are installed along the conveying direction (X direction) of the board 90 shown in FIG. 2. The component mounting machine 10 is included in a board-related operation machine WM0 that performs a predetermined board-related operation on the board 90 to produce a board product 900. The board-related operation by the component mounting machine 10 includes a board 90 loading and unloading operation, a component supply operation, a component picking operation, and a mounting operation. The component mounting machine 10 is provided with, for example, a cassette-type feeder 20 that can be detached.

基板生産ラインWL0の基板搬入側(図1の紙面左側)には、例えば、フィーダ20の保管に用いられる保管装置50が設置されている。また、基板生産ラインWL0には、交換システム30および搬送装置40が設けられており、フィーダ20の供給作業、交換作業および回収作業を行う。なお、基板生産ラインWL0は、例えば、生産する基板製品900の種別などに応じて、その構成が適宜追加され、変更され得る。具体的には、基板生産ラインWL0には、例えば、はんだ印刷機、はんだ検査機、リフロー炉、外観検査機などの対基板作業機WM0を適宜設置することができる。このように、基板生産ラインWL0は、種々の対基板作業機WM0を用いて、基板90を順に搬送し、検査処理を含む生産処理を実行して基板製品900を生産することができる。 On the board carrying-in side of the board production line WL0 (left side of the paper in FIG. 1), for example, a storage device 50 used for storing the feeder 20 is installed. In addition, the board production line WL0 is provided with an exchange system 30 and a transport device 40, which perform the supplying, replacing, and recovering operations of the feeder 20. The board production line WL0 may be appropriately modified and added to in accordance with, for example, the type of board product 900 to be produced. Specifically, the board production line WL0 may be appropriately equipped with, for example, a board-related operation machine WM0 such as a solder printer, a solder inspection machine, a reflow oven, and a visual inspection machine. In this way, the board production line WL0 may use various board-related operation machines WM0 to transport the boards 90 in sequence and perform production processes including inspection processes to produce the board products 900.

基板生産ラインWL0を構成する対基板作業機WM0は、ネットワークを介してライン管理装置60と種々のデータを入出力可能に構成されている。例えば、保管装置50は、複数のスロット51を備えている。保管装置50は、複数のスロット51の各々に装備されたフィーダ20を保持する。スロット51に装備されたフィーダ20は、ライン管理装置60との間で通信可能な状態になる。これにより、保管装置50のスロット51と当該スロット51に装備されたフィーダ20の識別情報が関連付けられて、ライン管理装置60に記録される。 The substrate-related work machine WM0 that constitutes the substrate production line WL0 is configured to be able to input and output various data to and from the line management device 60 via a network. For example, the storage device 50 has a plurality of slots 51. The storage device 50 holds the feeders 20 installed in each of the plurality of slots 51. The feeders 20 installed in the slots 51 are able to communicate with the line management device 60. As a result, the identification information of the slots 51 of the storage device 50 and the feeders 20 installed in the slots 51 are associated with each other and recorded in the line management device 60.

また、ライン管理装置60は、基板生産ラインWL0の動作状況を監視し、部品装着機10などの対基板作業機WM0、交換システム30、搬送装置40および保管装置50を統括制御する。ライン管理装置60には、対基板作業機WM0、交換システム30、搬送装置40および保管装置50を制御するための各種データが記憶されている。ライン管理装置60は、例えば、部品装着機10による部品の装着処理の実行に際して、生産プログラムなどの各種データを送出する。 The line management device 60 also monitors the operating status of the board production line WL0 and provides overall control of the substrate-related operation machines WM0, such as the component mounting machine 10, the exchange system 30, the transport device 40, and the storage device 50. The line management device 60 stores various data for controlling the substrate-related operation machines WM0, the exchange system 30, the transport device 40, and the storage device 50. The line management device 60 transmits various data, such as a production program, when the component mounting machine 10 executes the component mounting process, for example.

1-2.部品装着機10の構成例
図2に示すように、4つの部品装着機10の各々は、基板搬送装置11と、部品供給装置12と、ヘッド駆動装置13とを備えている。本明細書では、基板90の搬送方向をX方向とする。また、水平面においてX方向と直交する方向をY方向とする。さらに、X方向およびY方向と直交する鉛直方向(図2の紙面上下方向)をZ方向とする。
1-2. Example of configuration of component mounting machine 10 As shown in Fig. 2, each of the four component mounting machines 10 includes a board transport device 11, a component supply device 12, and a head drive device 13. In this specification, the transport direction of the board 90 is defined as the X direction. The direction perpendicular to the X direction in the horizontal plane is defined as the Y direction. Furthermore, the vertical direction perpendicular to the X and Y directions (the up and down directions on the paper surface of Fig. 2) is defined as the Z direction.

基板搬送装置11は、例えば、ベルトコンベアおよび位置決め装置などによって構成されている。基板搬送装置11は、基板90を搬送方向(X方向)へ順次搬送すると共に、機内の所定位置に基板90を位置決めする。基板搬送装置11は、部品装着機10による装着処理が終了した後に、基板90を部品装着機10の機外に搬出する。 The board transport device 11 is composed of, for example, a belt conveyor and a positioning device. The board transport device 11 sequentially transports the board 90 in the transport direction (X direction) and positions the board 90 at a predetermined position within the machine. After the mounting process by the component mounting machine 10 is completed, the board transport device 11 transports the board 90 out of the component mounting machine 10.

部品供給装置12は、基板90に装着される部品を供給する。部品供給装置12は、複数のフィーダ20を装備可能な第一スロット12aおよび第二スロット12bを備えている。本実施形態では、第一スロット12aは、部品装着機10の前部側の上部に配置され、装備されたフィーダ20を動作可能に保持する。第一スロット12aに装備されたフィーダ20は、部品装着機10による装着処理において動作を制御され、当該フィーダ20の上部の規定位置に設けられた取り出し部において部品を供給する。このように、第一スロット12aは、基板製品900の生産で使用されるフィーダ20を保持可能である。 The component supply device 12 supplies components to be mounted on the board 90. The component supply device 12 has a first slot 12a and a second slot 12b in which a plurality of feeders 20 can be mounted. In this embodiment, the first slot 12a is disposed at the upper part of the front side of the component mounting machine 10, and holds the mounted feeder 20 in an operable manner. The operation of the feeder 20 mounted in the first slot 12a is controlled in the mounting process by the component mounting machine 10, and supplies components at a removal section provided at a specified position above the feeder 20. In this way, the first slot 12a can hold the feeder 20 used in the production of the board product 900.

本実施形態では、第二スロット12bは、第一スロット12aの下方に配置され、装備されたフィーダ20をストックする。具体的には、第二スロット12bは、基板製品900の生産で使用予定のフィーダ20を予備的に保持する。また、第二スロット12bは、基板製品900の生産で不要になったフィーダ20を一時的に保持する。なお、第一スロット12aと第二スロット12bとの間におけるフィーダ20の交換作業は、搬送装置40によって行われる。 In this embodiment, the second slot 12b is disposed below the first slot 12a and stocks the installed feeders 20. Specifically, the second slot 12b holds the spare feeders 20 to be used in the production of the board product 900. The second slot 12b also temporarily holds the feeders 20 that are no longer needed in the production of the board product 900. The exchange of the feeders 20 between the first slot 12a and the second slot 12b is performed by the transport device 40.

図2に示すように、フィーダ20は、フィーダ本体21と、駆動装置22とを備えている。本実施形態のフィーダ本体21は、扁平な箱形状に形成されている。フィーダ本体21は、多数の部品を収容するキャリアテープが巻回されたリール23を着脱可能(交換可能)に保持する。駆動装置22は、キャリアテープに設けられた送り穴に係合するスプロケット22aを備えている。駆動装置22は、スプロケット22aを回転させてキャリアテープを送り移動させる。 As shown in FIG. 2, the feeder 20 includes a feeder body 21 and a drive unit 22. In this embodiment, the feeder body 21 is formed in a flat box shape. The feeder body 21 detachably (replaceably) holds a reel 23 around which a carrier tape that contains a large number of components is wound. The drive unit 22 includes a sprocket 22a that engages with a feed hole provided in the carrier tape. The drive unit 22 rotates the sprocket 22a to feed and move the carrier tape.

フィーダ20は、部品装着機10の制御装置によって駆動装置22の駆動制御が行われる。フィーダ20は、部品装着機10の第一スロット12aに装備されると、コネクタを介して部品装着機10から電力の供給を受け、部品装着機10との間で通信可能な状態となる。これにより、部品装着機10は、第一スロット12aにおけるフィーダ20の供給および回収を検出することができる。第一スロット12aについて上述されていることは、第二スロット12bについても同様に言える。 The drive of the drive unit 22 of the feeder 20 is controlled by the control device of the component mounting machine 10. When the feeder 20 is installed in the first slot 12a of the component mounting machine 10, it receives power from the component mounting machine 10 via a connector and is able to communicate with the component mounting machine 10. This allows the component mounting machine 10 to detect the supply and withdrawal of the feeder 20 in the first slot 12a. What has been described above about the first slot 12a also applies to the second slot 12b.

第一スロット12aに装備されたフィーダ20は、部品装着機10による制御指令などに基づいて、部品を収容するキャリアテープの送り動作が制御される。これにより、フィーダ20は、フィーダ20の上部に設けられた取り出し部において、装着ヘッド13bの保持部材によって部品を採取可能に供給する。 The feeder 20 installed in the first slot 12a controls the feeding operation of the carrier tape that contains the components based on control commands from the component mounting machine 10. As a result, the feeder 20 supplies the components so that they can be picked up by the holding member of the mounting head 13b at the removal section provided at the top of the feeder 20.

ヘッド駆動装置13は、直動機構によって移動台13aを水平方向(X方向およびY方向)に移動させる。移動台13aには、クランプ部材によって装着ヘッド13bが交換可能(着脱可能)に固定されている。装着ヘッド13bは、ヘッド駆動装置13の直動機構によって移動台13aと一体的にX方向およびY方向に移動される。装着ヘッド13bは、保持部材を用いて、部品供給装置12によって供給された部品を採取する。保持部材は、例えば、供給される負圧エアによって部品を吸着する吸着ノズル、部品を把持するチャックなどを用いることができる。 The head driving device 13 moves the moving table 13a in the horizontal direction (X direction and Y direction) by a linear motion mechanism. The mounting head 13b is fixed to the moving table 13a in a replaceable (detachable) manner by a clamp member. The mounting head 13b is moved in the X direction and Y direction together with the moving table 13a by the linear motion mechanism of the head driving device 13. The mounting head 13b uses a holding member to pick up the parts supplied by the part supply device 12. The holding member can be, for example, a suction nozzle that sucks up the parts by supplied negative pressure air, a chuck that grips the parts, or the like.

装着ヘッド13bは、保持部材をZ方向に移動可能に、且つ、Z軸に平行なQ軸周りに回転可能に保持する。装着ヘッド13bは、採取した部品の姿勢に応じて保持部材の位置および角度を調整する。そして、装着ヘッド13bは、生産プログラムによって指令される基板90の装着位置に部品を装着する。上記の部品のピックアンドプレースサイクルの所定サイクル数分の所要時間と、基板90の搬入および搬出に要する所要時間との合計時間は、基板90一枚当たりのサイクルタイムに相当する。 The mounting head 13b holds the holding member so that it can move in the Z direction and rotate around the Q axis parallel to the Z axis. The mounting head 13b adjusts the position and angle of the holding member depending on the posture of the picked component. The mounting head 13b then mounts the component at the mounting position on the board 90 as instructed by the production program. The total time required for a specified number of cycles of the above-mentioned component pick-and-place cycle and the time required to load and unload the board 90 corresponds to the cycle time for one board 90.

なお、装着ヘッド13bに設けられる保持部材は、基板90に部品を装着する装着処理において部品の種別に応じて適宜変更され得る。部品装着機10は、例えば、実行する装着処理において用いる吸着ノズルが装着ヘッド13bに取り付けられていない場合に、ノズルステーションに収容されている吸着ノズルを、装着ヘッド13bに取り付ける。ノズルステーションは、部品装着機10の機内の所定位置に着脱可能に装備される。 The holding member provided on the mounting head 13b can be changed as appropriate depending on the type of component in the mounting process for mounting the components on the board 90. For example, when the suction nozzle used in the mounting process to be performed is not attached to the mounting head 13b, the component mounting machine 10 attaches the suction nozzle housed in the nozzle station to the mounting head 13b. The nozzle station is removably installed at a predetermined position inside the component mounting machine 10.

1-3.交換システム30および搬送装置40の構成例
図1および図2に示すように、交換システム30は、第一レール31と、第二レール32とを備えている。第一レール31および第二レール32は、搬送装置40の走行路30Rを形成する。第一レール31は、基板90の搬送方向(X方向)に沿って延伸し、鉛直方向(Z方向)において、第一スロット12aと、第二スロット12bとの間に設けられている。
1 and 2, the exchange system 30 includes a first rail 31 and a second rail 32. The first rail 31 and the second rail 32 form a running path 30R of the transport device 40. The first rail 31 extends along the transport direction (X direction) of the substrate 90, and is provided between the first slot 12a and the second slot 12b in the vertical direction (Z direction).

第二レール32は、基板90の搬送方向(X方向)に沿って延伸し、鉛直方向(Z方向)において、第二スロット12bの下方に設けられている。第一レール31および第二レール32は、基板生産ラインWL0において、基板90の搬送方向(X方向)の概ね全域に亘って延伸している。基板90の搬送方向(X方向)は、4つの部品装着機10の配置方向に相当する。 The second rail 32 extends along the conveying direction (X direction) of the board 90 and is provided below the second slot 12b in the vertical direction (Z direction). The first rail 31 and the second rail 32 extend over almost the entire area of the conveying direction (X direction) of the board 90 in the board production line WL0. The conveying direction (X direction) of the board 90 corresponds to the arrangement direction of the four component mounting machines 10.

搬送装置40は、第一レール31および第二レール32によって形成される走行路30Rを走行可能に設けられている。搬送装置40は、例えば、第一レール31に設けられる送電部と対向して設けられる受電部を介して、非接触給電によって送電部から電力の供給を受ける。受電部が受け取った電力は、受電回路を介して搬送装置40の走行、所定作業などに用いられる。なお、搬送装置40は、例えば、位置検出装置によって走行路30R上の位置(現在位置)を知得する。位置検出装置は、例えば、光学的な検出方法、電磁誘導を用いた検出方法などによって上記位置を検出することができる。 The conveying device 40 is provided so as to be capable of traveling on the travel path 30R formed by the first rail 31 and the second rail 32. The conveying device 40 receives power from a power transmitting unit by non-contact power supply, for example, via a power receiving unit provided opposite the power transmitting unit provided on the first rail 31. The power received by the power receiving unit is used for the travel of the conveying device 40, predetermined work, etc., via a power receiving circuit. The conveying device 40 obtains its position (current position) on the travel path 30R, for example, by a position detection device. The position detection device can detect the above position, for example, by an optical detection method, a detection method using electromagnetic induction, etc.

上記の所定作業には、部品装着機10などの対基板作業機WM0による基板製品900の生産で使用される機器DD0を、対基板作業機WM0との間で交換する交換作業が含まれる。本実施形態の搬送装置40は、基板90に装着される部品を供給するフィーダ20を機器DD0として、対基板作業機WM0である部品装着機10との間でフィーダ20の交換作業を行う。また、搬送装置40は、フィーダ20を機器DD0として、保管装置50との間でフィーダ20の交換作業を行うこともできる。 The above-mentioned predetermined work includes an exchange work for exchanging equipment DD0 used in the production of the board product 900 by the board-related work machine WM0 such as the component mounting machine 10 with the board-related work machine WM0. In this embodiment, the transport device 40 performs the exchange work of the feeder 20 between the component mounting machine 10, which is the board-related work machine WM0, with the feeder 20, which supplies the components to be mounted on the board 90, as equipment DD0. The transport device 40 can also perform the exchange work of the feeder 20 between the storage device 50, with the feeder 20 as equipment DD0.

本実施形態の搬送装置40は、保管装置50から部品装着機10の第一スロット12aまたは第二スロット12bにフィーダ20を搬送して、フィーダ20の供給作業を行う。また、搬送装置40は、部品装着機10の第一スロット12aと第二スロット12bとの間で、フィーダ20の交換作業を行う。さらに、搬送装置40は、不要になったフィーダ20を部品装着機10から保管装置50に搬送して、フィーダ20の回収作業を行う。 The conveying device 40 of this embodiment conveys the feeder 20 from the storage device 50 to the first slot 12a or the second slot 12b of the component mounting machine 10, and performs the feeder 20 supplying operation. The conveying device 40 also performs the feeder 20 replacement operation between the first slot 12a and the second slot 12b of the component mounting machine 10. Furthermore, the conveying device 40 conveys the feeder 20 that is no longer needed from the component mounting machine 10 to the storage device 50, and performs the feeder 20 recovery operation.

図3に示すように、搬送装置40は、少なくとも一つ(同図では、2つ)の保持部41と、制御装置42とを備えている。本実施形態では、2つの保持部41の各々は、複数(同図では、2つ)のフィーダ20を同時にクランプ可能であり、複数(2つ)のフィーダ20を同時に保持することができる。また、2つの保持部41の各々は、例えば、直動機構などによって、フィーダ20の着脱方向(本実施形態ではY方向)に沿って独立して移動可能であり、複数(2つ)のフィーダ20を同時にY方向に沿って移動させることができる。 As shown in FIG. 3, the conveying device 40 includes at least one holding unit 41 (two in the figure) and a control device 42. In this embodiment, each of the two holding units 41 can clamp multiple (two in the figure) feeders 20 simultaneously, and can hold multiple (two) feeders 20 simultaneously. In addition, each of the two holding units 41 can move independently along the attachment/detachment direction of the feeder 20 (Y direction in this embodiment) by, for example, a linear motion mechanism, and can move multiple (two) feeders 20 along the Y direction simultaneously.

さらに、2つの保持部41は、例えば、直動機構などによって、鉛直方向(Z方向)に一体的に移動可能であり、複数(4つ)のフィーダ20を同時にZ方向に移動させることもできる。なお、搬送装置40は、例えば、複数(4つ)の保持部41を備えることもできる。この場合、複数(4つ)の保持部41の各々が一つのフィーダ20をクランプして、複数(4つ)のフィーダ20を独立にY方向およびZ方向に移動させることができる。また、保持部41の形態は、クランプ機構、直動機構に限定されるものではなく、種々の形態をとり得る。例えば、保持部41は、フィーダ20に設けられる穴部と嵌合可能な突出部を備えることもできる。この場合、保持部41の突出部がフィーダ20の穴部と嵌合することにより、フィーダ20が保持される。 Furthermore, the two holding parts 41 can be moved together in the vertical direction (Z direction) by, for example, a linear motion mechanism, and multiple (four) feeders 20 can be moved simultaneously in the Z direction. The conveying device 40 can also be provided with, for example, multiple (four) holding parts 41. In this case, each of the multiple (four) holding parts 41 can clamp one feeder 20 and move the multiple (four) feeders 20 independently in the Y direction and Z direction. The form of the holding part 41 is not limited to a clamping mechanism or a linear motion mechanism, and can take various forms. For example, the holding part 41 can be provided with a protrusion that can fit into a hole provided in the feeder 20. In this case, the protrusion of the holding part 41 fits into the hole of the feeder 20 to hold the feeder 20.

制御装置42は、公知の演算装置および記憶装置を備えており、制御回路が構成されている。制御装置42は、4つの部品装着機10、交換システム30、保管装置50およびライン管理装置60と通信可能に接続されている。制御装置42は、搬送装置40の走行、2つの保持部41の動作などを制御する。上記の構成により、搬送装置40は、第一レール31および第二レール32に沿って所定位置まで移動すると共に、停止位置においてフィーダ20の交換作業を行うことができる。 The control device 42 is equipped with a known arithmetic device and memory device, and a control circuit is configured. The control device 42 is communicatively connected to the four component mounting machines 10, the replacement system 30, the storage device 50, and the line management device 60. The control device 42 controls the travel of the conveying device 40, the operation of the two holding units 41, etc. With the above configuration, the conveying device 40 can move to a predetermined position along the first rail 31 and the second rail 32, and perform the replacement work of the feeder 20 at the stopped position.

なお、保管装置50は、フィーダ20に限らず、対基板作業機WM0を用いた基板製品900の生産で使用される機器DD0を保管することができる。例えば、対基板作業機WM0が部品装着機10の場合、複数の部品を収容するトレイを収容するトレイユニット、装着ヘッド13bは、機器DD0に含まれる。対基板作業機WM0が基板90にはんだを印刷するはんだ印刷機の場合、ディスペンスヘッドは、機器DD0に含まれる。対基板作業機WM0が検査機の場合、検査ヘッドは、機器DD0に含まれる。検査機には、基板90に印刷されたはんだを検査するはんだ検査機、基板90に装着された部品を検査する外観検査機が含まれる。 The storage device 50 can store not only the feeder 20, but also equipment DD0 used in the production of the board product 900 using the board-related work machine WM0. For example, if the board-related work machine WM0 is a component mounting machine 10, the tray unit that stores a tray that stores multiple components and the mounting head 13b are included in the equipment DD0. If the board-related work machine WM0 is a solder printing machine that prints solder on the board 90, the dispense head is included in the equipment DD0. If the board-related work machine WM0 is an inspection machine, the inspection head is included in the equipment DD0. The inspection machine includes a solder inspection machine that inspects the solder printed on the board 90 and a visual inspection machine that inspects the components mounted on the board 90.

また、搬送装置40は、フィーダ20に限らず、上述されている機器DD0を対基板作業機WM0に供給することができる。具体的には、搬送装置40は、保管装置50に保管されている機器DD0を対基板作業機WM0に供給することができる。また、搬送装置40は、基板製品900の生産で不要になった機器DD0を保管装置50に回収することもできる。 The transport device 40 can also supply the above-mentioned equipment DD0 to the substrate-related operation machine WM0, not limited to the feeder 20. Specifically, the transport device 40 can supply the equipment DD0 stored in the storage device 50 to the substrate-related operation machine WM0. The transport device 40 can also collect the equipment DD0 that is no longer needed in the production of the substrate product 900 to the storage device 50.

1-4.開閉器メンテナンス装置70の構成例
上述されている機器DD0は、対基板作業機WM0に着脱可能に設けられる。機器DD0の着脱を検知するために、機器DD0または対基板作業機WM0には、機器DD0の着脱に合わせて開閉する開閉器SW0が設けられる。
1-4. Example of the configuration of the switch maintenance device 70 The above-mentioned device DD0 is detachably provided on the substrate-related operation machine WM0. In order to detect the attachment and detachment of the device DD0, the device DD0 or the substrate-related operation machine WM0 is provided with a switch SW0 that opens and closes in accordance with the attachment and detachment of the device DD0.

例えば、本実施形態では、対基板作業機WM0は、基板90に部品を装着する部品装着機10であり、機器DD0は、部品を供給するフィーダ20である。既述したように、フィーダ20は、部品供給装置12の第一スロット12aまたは第二スロット12bに着脱可能に設けられる。また、フィーダ20は、保管装置50のスロット51に着脱可能に設けられる。第一スロット12a、第二スロット12bおよびスロット51は、いずれもパレット部材PL0に形成されている。 For example, in this embodiment, the substrate-related operation machine WM0 is a component mounting machine 10 that mounts components on a substrate 90, and the device DD0 is a feeder 20 that supplies components. As described above, the feeder 20 is detachably provided in the first slot 12a or the second slot 12b of the component supply device 12. The feeder 20 is also detachably provided in the slot 51 of the storage device 50. The first slot 12a, the second slot 12b, and the slot 51 are all formed in the pallet member PL0.

図4は、機器DD0の着脱を検出する検出回路C0の一例を示している。本実施形態では、開閉器SW0は、機器DD0であるフィーダ20に設けられている。図3に示すように、フィーダ20には、突起部20aが設けられている。また、パレット部材PL0には、凹部PL0aが設けられている。例えば、フィーダ20が第一スロット12aに装備されると、突起部20aおよび凹部PL0aが嵌合して、開閉器SW0の接点CP0が開状態から閉状態に切り替わる。逆に、フィーダ20が第一スロット12aから取り外されると、突起部20aが凹部PL0aから離脱して、開閉器SW0の接点CP0が閉状態から開状態に切り替わる。 Figure 4 shows an example of a detection circuit C0 that detects the attachment and detachment of the device DD0. In this embodiment, the switch SW0 is provided on the feeder 20, which is the device DD0. As shown in Figure 3, the feeder 20 is provided with a protrusion 20a. In addition, the pallet member PL0 is provided with a recess PL0a. For example, when the feeder 20 is mounted in the first slot 12a, the protrusion 20a and the recess PL0a engage with each other, and the contact CP0 of the switch SW0 switches from an open state to a closed state. Conversely, when the feeder 20 is removed from the first slot 12a, the protrusion 20a disengages from the recess PL0a, and the contact CP0 of the switch SW0 switches from a closed state to an open state.

図4に示すように、検出回路C0は、電圧源V0、抵抗器R1、検知回路D0および接点CP0を備えている。電圧源V0、抵抗器R1、検知回路D0および接点CP0は、この順に直列接続されている。例えば、フィーダ20が第一スロット12aに装備されて、開閉器SW0の接点CP0が開状態から閉状態に切り替わったとする。この場合、検知回路D0が検出する電圧は、ハイレベルの電圧(電圧源V0が出力する直流電圧Vccと略同等)からローレベルの電圧(検出回路C0の基準電圧(例えば、ゼロボルト)と略同等)に変動する。これにより、検知回路D0は、フィーダ20が第一スロット12aに装備されたことを検知することができる。 As shown in FIG. 4, the detection circuit C0 includes a voltage source V0, a resistor R1, a detection circuit D0, and a contact CP0. The voltage source V0, the resistor R1, the detection circuit D0, and the contact CP0 are connected in series in this order. For example, assume that the feeder 20 is installed in the first slot 12a and the contact CP0 of the switch SW0 is switched from an open state to a closed state. In this case, the voltage detected by the detection circuit D0 changes from a high-level voltage (approximately equivalent to the DC voltage Vcc output by the voltage source V0) to a low-level voltage (approximately equivalent to the reference voltage of the detection circuit C0 (e.g., zero volts)). This allows the detection circuit D0 to detect that the feeder 20 is installed in the first slot 12a.

逆に、フィーダ20が第一スロット12aから取り外されて、開閉器SW0の接点CP0が閉状態から開状態に切り替わったとする。この場合、検知回路D0が検出する電圧は、ローレベルの電圧からハイレベルの電圧に変動する。これにより、検知回路D0は、フィーダ20が第一スロット12aから取り外されたことを検知することができる。上述されていることは、第二スロット12bおよびスロット51についても同様に言える。 Conversely, suppose that the feeder 20 is removed from the first slot 12a and the contact CP0 of the switch SW0 switches from a closed state to an open state. In this case, the voltage detected by the detection circuit D0 changes from a low-level voltage to a high-level voltage. This allows the detection circuit D0 to detect that the feeder 20 has been removed from the first slot 12a. The same applies to the second slot 12b and slot 51.

このように、機器DD0が着脱されて開閉器SW0の開閉が繰り返されると、開閉器SW0の接点CP0に異物が付着する可能性がある。例えば、低分子シロキサンの雰囲気中で機器DD0が使用されると、開閉器SW0の開閉によって発生するアーク熱により、低分子シロキサンが分解され、開閉器SW0の接点CP0の表面に酸化シリコンが生成される。開閉器SW0の開閉が繰り返されると、開閉器SW0の接点CP0の表面に酸化シリコンが堆積し、酸化シリコン膜が生成される。酸化シリコン膜は、絶縁物であり、開閉器SW0の接点CP0の導通不良の要因になり得る。 In this way, when the device DD0 is attached and detached and the switch SW0 is repeatedly opened and closed, foreign matter may adhere to the contact CP0 of the switch SW0. For example, when the device DD0 is used in an atmosphere of low molecular weight siloxane, the low molecular weight siloxane is decomposed by the arc heat generated by the opening and closing of the switch SW0, and silicon oxide is generated on the surface of the contact CP0 of the switch SW0. When the switch SW0 is repeatedly opened and closed, silicon oxide accumulates on the surface of the contact CP0 of the switch SW0, and a silicon oxide film is generated. The silicon oxide film is an insulator and can be a cause of poor conductivity of the contact CP0 of the switch SW0.

そこで、本実施形態の基板生産ラインWL0には、開閉器メンテナンス装置70が設けられている。開閉器メンテナンス装置70は、制御ブロックとして捉えると、判断部71を備える。開閉器メンテナンス装置70は、案内部72を備えることもできる。開閉器メンテナンス装置70は、除去部73を備えることもできる。図5に示すように、本実施形態の開閉器メンテナンス装置70は、判断部71と、案内部72と、除去部73とを備えている。 Therefore, the circuit board production line WL0 of this embodiment is provided with a switchgear maintenance device 70. When considered as a control block, the switchgear maintenance device 70 has a judgment unit 71. The switchgear maintenance device 70 can also have a guidance unit 72. The switchgear maintenance device 70 can also have a removal unit 73. As shown in FIG. 5, the switchgear maintenance device 70 of this embodiment has the judgment unit 71, the guidance unit 72, and the removal unit 73.

また、開閉器メンテナンス装置70は、ライン管理装置60に設けることができる。開閉器メンテナンス装置70は、複数の基板生産ラインWL0を管理する管理装置、クラウド上などに設けることもできる。図5に示すように、本実施形態では、開閉器メンテナンス装置70は、ライン管理装置60に設けられている。さらに、開閉器メンテナンス装置70は、例えば、図6に示すフローチャートに従って、制御を実行する。判断部71は、ステップS11に示す判断を行う。案内部72は、ステップS12に示す処理を行う。除去部73は、ステップS13に示す処理を行う。 The switchgear maintenance device 70 can also be provided in the line management device 60. The switchgear maintenance device 70 can also be provided in a management device that manages multiple board production lines WL0, on the cloud, etc. As shown in FIG. 5, in this embodiment, the switchgear maintenance device 70 is provided in the line management device 60. Furthermore, the switchgear maintenance device 70 executes control, for example, according to the flowchart shown in FIG. 6. The judgment unit 71 performs the judgment shown in step S11. The guidance unit 72 performs the process shown in step S12. The removal unit 73 performs the process shown in step S13.

1-4-1.判断部71
判断部71は、開閉器SW0の接点CP0に付着した異物を除去すべき除去タイミングであるか否かを判断する(図6に示すステップS11)。既述したように、本実施形態では、機器DD0は、フィーダ20であり、異物は、開閉器SW0の開閉により発生するアークによって、接点CP0の表面に生成された酸化シリコン膜である。
1-4-1. Determination unit 71
The determination unit 71 determines whether or not it is time to remove the foreign matter adhering to the contact CP0 of the switch SW0 (step S11 shown in FIG. 6). DD0 is the feeder 20, and the foreign matter is a silicon oxide film formed on the surface of the contact CP0 by an arc generated by opening and closing the switch SW0.

判断部71は、除去タイミングであるか否かを判断することができれば良く、種々の形態をとり得る。例えば、機器DD0の着脱回数が増加するほど、開閉器SW0の開閉が繰り返されて、接点CP0の表面に異物が付着し易くなる。そこで、判断部71は、機器DD0の着脱回数が、異物による開閉器SW0の接点CP0の導通不良を考慮して予め設定される所定回数以上になったときに、除去タイミングであると判断することができる。 The determination unit 71 may take various forms as long as it can determine whether or not it is time to remove the device. For example, the more the number of times the device DD0 is removed and connected, the more the switch SW0 is repeatedly opened and closed, and the more likely it is that foreign matter will adhere to the surface of the contact CP0. Therefore, the determination unit 71 can determine that it is time to remove the device DD0 when the number of times the device DD0 is removed and connected reaches or exceeds a predetermined number that is set in advance in consideration of poor continuity of the contact CP0 of the switch SW0 due to foreign matter.

既述したように、機器DD0の着脱は、図4に示す検知回路D0によって検知される。また、機器DD0が装備される部材(例えば、既述したパレット部材PL0)には、制御装置CU0が設けられている。さらに、機器DD0には、機器DD0を識別可能な識別情報が付与されている。制御装置CU0は、検知回路D0によって、機器DD0が上記部材(パレット部材PL0)に装備されて、その後、取り外されたことが検知されると、当該機器DD0の識別情報と、当該機器DD0が着脱されたことを示す着脱情報とをライン管理装置60に送信する。 As mentioned above, the attachment/detachment of the device DD0 is detected by the detection circuit D0 shown in FIG. 4. In addition, the member on which the device DD0 is mounted (for example, the pallet member PL0 mentioned above) is provided with a control device CU0. Furthermore, the device DD0 is provided with identification information that allows the device DD0 to be identified. When the detection circuit D0 detects that the device DD0 has been mounted on the member (pallet member PL0) and then removed, the control device CU0 transmits the identification information of the device DD0 and attachment/detachment information indicating that the device DD0 has been attached or detached to the line management device 60.

図5に示すように、ライン管理装置60は、記憶装置60mを備えている。記憶装置60mは、機器DD0ごとの着脱回数を記憶することができる。ライン管理装置60は、制御装置CU0から機器DD0の識別情報および着脱情報を受信すると、記憶装置60mから当該識別情報に関連付けて記憶されている機器DD0の着脱回数を取得する。ライン管理装置60は、当該機器DD0の着脱回数を一回、増加させて着脱回数を更新し、更新後の着脱回数を記憶装置60mに記憶させる。機器DD0が着脱される度に上記更新が繰り返される。 As shown in FIG. 5, the line management device 60 includes a storage device 60m. The storage device 60m can store the number of times each device DD0 has been attached or detached. When the line management device 60 receives identification information and attachment/detachment information of the device DD0 from the control device CU0, it obtains the number of times each device DD0 has been attached or detached, which is stored in association with the identification information, from the storage device 60m. The line management device 60 increments the number of times each device DD0 has been attached or detached once, updating the number of times each device DD0 has been attached or detached, and stores the updated number of times each device DD0 has been attached or detached in the storage device 60m. The above update is repeated each time the device DD0 is attached or detached.

判断部71は、記憶装置60mから機器DD0ごとの着脱回数を取得する。判断部71は、着脱回数が所定回数以上の機器DD0について、除去タイミングであると判断する。また、判断部71は、着脱回数が所定回数未満の機器DD0について、除去タイミングでないと判断する。なお、所定回数は、異物による開閉器SW0の接点CP0の導通不良を考慮して予め設定される。具体的には、所定回数は、シミュレーション、実機による検証などによって、予め取得しておくことができる。このように、判断部71は、機器DD0の着脱回数に基づいて、除去タイミングを容易に判断することができる。 The judgment unit 71 acquires the number of times each device DD0 has been attached and detached from the storage device 60m. The judgment unit 71 judges that it is time to remove a device DD0 whose number of attachments and detachments is equal to or greater than a predetermined number. The judgment unit 71 also judges that it is not time to remove a device DD0 whose number of attachments and detachments is less than the predetermined number. The predetermined number is set in advance, taking into consideration a continuity failure of the contact CP0 of the switch SW0 due to a foreign object. Specifically, the predetermined number can be acquired in advance by simulation, verification using an actual device, or the like. In this way, the judgment unit 71 can easily judge the timing to remove the device DD0 based on the number of attachments and detachments.

また、開閉器SW0の接点CP0に異物が付着するほど、接点CP0の抵抗値が増加し易くなる。そこで、判断部71は、開閉器SW0の接点CP0の抵抗値が、異物による開閉器SW0の接点CP0の導通不良を考慮して予め設定される所定値以上になったときに、除去タイミングであると判断することもできる。例えば、図7に示すように、検出回路C0は、測定回路M0を備えることができる。 In addition, the more foreign matter adheres to the contact CP0 of the switch SW0, the more likely the resistance value of the contact CP0 increases. Therefore, the judgment unit 71 can also judge that it is time to remove the foreign matter when the resistance value of the contact CP0 of the switch SW0 becomes equal to or exceeds a predetermined value that is set in advance in consideration of poor continuity of the contact CP0 of the switch SW0 due to the foreign matter. For example, as shown in FIG. 7, the detection circuit C0 can be equipped with a measurement circuit M0.

測定回路M0は、開閉器SW0の接点CP0の抵抗値を測定する。例えば、測定回路M0は、抵抗器R1の一端側(電圧源V0の側)の電圧V11と、抵抗器R1の他端側(検知回路D0の側)の電圧V12とを測定する。抵抗器R1に流れる電流(後述する通常時電流UI0)は、電圧V11から電圧V12を減じた電圧差を、抵抗器R1の抵抗値で除した除算値である。開閉器SW0の接点CP0の抵抗値は、電圧V12を通常時電流UI0で除した除算値である。 The measurement circuit M0 measures the resistance value of the contact CP0 of the switch SW0. For example, the measurement circuit M0 measures the voltage V11 at one end of the resistor R1 (the side of the voltage source V0) and the voltage V12 at the other end of the resistor R1 (the side of the detection circuit D0). The current flowing through the resistor R1 (the normal current UI0 described below) is the voltage difference obtained by subtracting the voltage V12 from the voltage V11, divided by the resistance value of the resistor R1. The resistance value of the contact CP0 of the switch SW0 is the voltage V12 divided by the normal current UI0.

判断部71は、測定回路M0によって測定された電圧V11および電圧V12を取得する。判断部71は、任意のタイミングで電圧V11および電圧V12を取得することができる。例えば、判断部71は、機器DD0の着脱回数が、既述した所定回数(異物による開閉器SW0の接点CP0の導通不良を考慮して予め設定される回数)より少ない任意の回数に到達する度に、電圧V11および電圧V12を取得することができる。例えば、判断部71は、機器DD0が着脱される度に、電圧V11および電圧V12を取得しても良い。 The determination unit 71 acquires the voltages V11 and V12 measured by the measurement circuit M0. The determination unit 71 can acquire the voltages V11 and V12 at any timing. For example, the determination unit 71 can acquire the voltages V11 and V12 each time the number of times the device DD0 is attached or detached reaches an arbitrary number that is less than the predetermined number described above (a number that is set in advance taking into account poor continuity of the contact CP0 of the switch SW0 due to a foreign object). For example, the determination unit 71 may acquire the voltages V11 and V12 each time the device DD0 is attached or detached.

判断部71は、電圧V11から電圧V12を減じた電圧差で電圧V12を除した除算値に、抵抗器R1の抵抗値を乗じて、開閉器SW0の接点CP0の抵抗値を算出することができる。判断部71は、開閉器SW0の接点CP0の抵抗値が所定値以上の機器DD0について、除去タイミングであると判断する。また、判断部71は、開閉器SW0の接点CP0の抵抗値が所定値未満の機器DD0について、除去タイミングでないと判断する。 The determination unit 71 can calculate the resistance value of the contact CP0 of the switch SW0 by multiplying the resistance value of resistor R1 by the voltage difference obtained by dividing voltage V12 by voltage V11 minus voltage V12. The determination unit 71 determines that it is time to remove a device DD0 for which the resistance value of the contact CP0 of the switch SW0 is equal to or greater than a predetermined value. The determination unit 71 also determines that it is not time to remove a device DD0 for which the resistance value of the contact CP0 of the switch SW0 is less than the predetermined value.

なお、開閉器SW0の接点CP0の抵抗値と比較される上記所定値は、異物による開閉器SW0の接点CP0の導通不良を考慮して予め設定される。具体的には、上記所定値は、シミュレーション、実機による検証などによって、予め取得しておくことができる。このように、判断部71は、開閉器SW0の接点CP0の抵抗値に基づいて、除去タイミングを判断することもできる。 The above-mentioned predetermined value to be compared with the resistance value of the contact CP0 of the switch SW0 is set in advance, taking into consideration poor continuity of the contact CP0 of the switch SW0 due to a foreign object. Specifically, the above-mentioned predetermined value can be obtained in advance by simulation, verification using an actual device, or the like. In this way, the judgment unit 71 can also judge the removal timing based on the resistance value of the contact CP0 of the switch SW0.

また、開閉器SW0の接点CP0に付着した異物を除去するために、基板製品900の生産を停止させると、生産効率が低下する。そこで、判断部71は、基板製品900の生産を継続しつつ異物を除去可能なときに、除去タイミングであると判断すると良い。これにより、開閉器メンテナンス装置70は、基板製品900の生産効率を低下させないで、異物を除去可能な除去タイミングを取得することができる。 Furthermore, if production of the board product 900 is stopped to remove the foreign matter adhering to the contact CP0 of the switch SW0, production efficiency will decrease. Therefore, the judgment unit 71 may determine that it is time to remove the foreign matter when it is possible to remove the foreign matter while continuing production of the board product 900. This allows the switch maintenance device 70 to obtain the removal timing at which the foreign matter can be removed without decreasing the production efficiency of the board product 900.

例えば、機器DD0を保管可能な保管装置50のスロット51に機器DD0が保持されている場合、当該機器DD0は、基板製品900の生産に使用されておらず、かつ、異物を除去可能な状態にある。そこで、判断部71は、機器DD0を保管可能な保管装置50のスロット51に機器DD0が保持されているときに、基板製品900の生産を継続しつつ異物を除去可能であると判断することができる。 For example, when equipment DD0 is held in slot 51 of storage device 50 capable of storing equipment DD0, the equipment DD0 is not being used in the production of board products 900 and is in a state in which foreign matter can be removed. Therefore, when equipment DD0 is held in slot 51 of storage device 50 capable of storing equipment DD0, the determination unit 71 can determine that foreign matter can be removed while continuing production of board products 900.

また、既述したように、対基板作業機WM0である部品装着機10は、第一スロット12aと、第二スロット12bとを備えている。第一スロット12aは、基板製品900の生産で使用される機器DD0を保持可能である。第二スロット12bは、基板製品900の生産で使用予定の機器DD0を予備的に保持可能または基板製品900の生産で不要になった機器DD0を一時的に保持可能である。 As described above, the component mounting machine 10, which is the substrate-related work machine WM0, is equipped with a first slot 12a and a second slot 12b. The first slot 12a is capable of holding equipment DD0 used in the production of the board product 900. The second slot 12b is capable of holding spare equipment DD0 to be used in the production of the board product 900, or temporarily holding equipment DD0 that is no longer needed in the production of the board product 900.

機器DD0が第二スロット12bに保持されている場合、当該機器DD0は、基板製品900の生産に使用されておらず、かつ、異物を除去可能な状態にある。そこで、判断部71は、機器DD0が第二スロット12bに保持されているときに、基板製品900の生産を継続しつつ異物を除去可能であると判断することができる。 When the device DD0 is held in the second slot 12b, the device DD0 is not being used in the production of the board product 900 and is in a state where the foreign matter can be removed. Therefore, when the device DD0 is held in the second slot 12b, the determination unit 71 can determine that the foreign matter can be removed while continuing the production of the board product 900.

なお、判断部71は、機器DD0の着脱回数が所定回数以上になり、かつ、開閉器SW0の接点CP0の抵抗値が所定値以上になったときに、除去タイミングであると判断することもできる。また、判断部71は、機器DD0の着脱回数、および、開閉器SW0の接点CP0の抵抗値のうちの少なくとも一方が既述した条件を満たし、かつ、基板製品900の生産を継続しつつ異物を除去可能なときに、除去タイミングであると判断することもできる。 The judgment unit 71 can also judge that it is time to remove the foreign object when the number of times the device DD0 is removed and connected is equal to or greater than a predetermined number and the resistance value of the contact CP0 of the switch SW0 is equal to or greater than a predetermined value. The judgment unit 71 can also judge that it is time to remove the foreign object when at least one of the number of times the device DD0 is removed and connected is equal to or greater than a predetermined value and the resistance value of the contact CP0 of the switch SW0 satisfies the above-mentioned conditions and the foreign object can be removed while continuing production of the board product 900.

いずれの形態においても、判断部71によって、少なくとも一つの機器DD0について、除去タイミングであると判断されると(図6に示すステップS11でYesの場合)、開閉器メンテナンス装置70による制御は、ステップS12に示す制御に進む。判断部71によって、すべての機器DD0について、除去タイミングでないと判断されると(ステップS11でNoの場合)、開閉器メンテナンス装置70による制御は、一旦、終了する。 In either case, when the judgment unit 71 judges that it is time to remove at least one device DD0 (Yes in step S11 shown in FIG. 6), the control by the switchgear maintenance device 70 proceeds to the control shown in step S12. When the judgment unit 71 judges that it is not time to remove all devices DD0 (No in step S11), the control by the switchgear maintenance device 70 is temporarily terminated.

1-4-2.案内部72
案内部72は、判断部71によって除去タイミングであると判断されたときに、作業者に除去タイミングであることを案内する(図6に示すステップS12)。具体的には、図5に示すように、ライン管理装置60は、表示装置60dを備えている。例えば、案内部72は、判断部71によって除去タイミングであると判断されたときに、表示装置60dに除去タイミングである旨を表示させる。これにより、作業者は、開閉器SW0の接点CP0に付着した異物を除去すべき除去タイミングを知得することができる。
1-4-2. Guide unit 72
When the determining unit 71 determines that it is time to remove the object, the notifying unit 72 notifies the operator that it is time to remove the object (step S12 shown in FIG. 6). The line management device 60 further includes a display device 60d. For example, when the determination unit 71 determines that it is time to remove the waste paper, the guide unit 72 causes the display device 60d to display a message indicating that it is time to remove the waste paper. This allows the worker to know the timing to remove the foreign matter adhering to the contact CP0 of the switch SW0.

なお、案内部72は、判断部71によって除去タイミングであると判断されたときに、作業者の携帯端末機器に除去タイミングである旨を表示させることもできる。また、案内部72は、除去タイミングの機器DD0を特定可能な情報(例えば、識別情報)、当該機器DD0の所在(例えば、パレット部材PL0およびスロット番号)、当該機器DD0の状態(基板製品900の生産で使用中であるか否か)などを作業者に案内することもできる。作業者は、例えば、当該機器DD0を正常な機器DD0(接点CP0に異物が付着していない機器DD0または許容レベルの異物が接点CP0に付着している機器DD0)と交換することができる。また、作業者は、入力装置としても機能する表示装置60dまたは携帯端末機器を介して、以下に示す除去部73に接点CP0に付着した異物を除去させることもできる。 When the determination unit 71 determines that it is time to remove the device DD0, the guidance unit 72 can display the fact that it is time to remove the device on the worker's mobile terminal device. The guidance unit 72 can also guide the worker to information that can identify the device DD0 at the removal timing (e.g., identification information), the location of the device DD0 (e.g., pallet member PL0 and slot number), the status of the device DD0 (whether it is being used in the production of the board product 900), and the like. The worker can, for example, replace the device DD0 with a normal device DD0 (a device DD0 with no foreign matter attached to the contact CP0 or a device DD0 with an acceptable level of foreign matter attached to the contact CP0). The worker can also have the removal unit 73 described below remove the foreign matter attached to the contact CP0 via the display device 60d that also functions as an input device or a mobile terminal device.

1-4-3.除去部73
除去部73は、判断部71によって除去タイミングであると判断されたときに、除去時電流RI0を開閉器SW0の接点CP0に流し接点CP0にアークを発生させて、接点CP0に付着した異物を除去する(図6に示すステップS13)。除去時電流RI0は、基板製品900の生産において開閉器SW0の接点CP0に流す通常時電流UI0よりも大きな電流である。除去時電流RI0は、シミュレーション、実機による検証などによって、予め取得しておくことができる。
1-4-3. Removal unit 73
When the determination unit 71 determines that it is time for removal, the removal unit 73 applies a removal current RI0 to a contact CP0 of the switch SW0 to generate an arc at the contact CP0, thereby removing the foreign matter attached to the contact CP0. The removal current RI0 is a current larger than the normal current UI0 that flows through the contact CP0 of the switch SW0 in the production of the board product 900. The removal current RI0 is determined based on the results of simulation, actual machine The identification information can be obtained in advance by verification using the above method.

除去部73は、除去時電流RI0を開閉器SW0の接点CP0に流し接点CP0にアークを発生させて、接点CP0に付着した異物を除去することができれば良く、種々の形態をとり得る。例えば、異物が既述した酸化シリコン膜であって、通常時電流UI0が数ミリアンペアの場合、除去時電流RI0は、数百ミリアンペアから数アンペア必要である。よって、開閉器SW0の接点CP0に通常時電流UI0を供給する通常時使用回路UC0、既述した検知回路D0、測定回路M0などの保護の観点から、開閉器SW0の接点CP0に除去時電流RI0を供給する除去時使用回路RC0を別途設けると良い。 The removal unit 73 may take various forms as long as it can pass the removal current RI0 through the contact CP0 of the switch SW0 to generate an arc at the contact CP0 and remove the foreign matter attached to the contact CP0. For example, if the foreign matter is the silicon oxide film described above and the normal current UI0 is several milliamperes, the removal current RI0 needs to be several hundred milliamperes to several amperes. Therefore, from the viewpoint of protecting the normal use circuit UC0 that supplies the normal current UI0 to the contact CP0 of the switch SW0, the detection circuit D0 described above, the measurement circuit M0, etc., it is advisable to separately provide a removal use circuit RC0 that supplies the removal current RI0 to the contact CP0 of the switch SW0.

具体的には、除去部73は、開閉器SW0の接点CP0に通常時電流UI0を供給する通常時使用回路UC0から開閉器SW0の接点CP0に除去時電流RI0を供給する除去時使用回路RC0に切り替えて、開閉器SW0の接点CP0に除去時電流RI0を流すと良い。例えば、図8に示すように、検出回路C0は、電圧源V0と、通常時使用回路UC0と、除去時使用回路RC0と、接点CP0とを備えることができる。検出回路C0は、検知回路D0および測定回路M0のうちの少なくとも検知回路D0をさらに備えることもできる。同図に示すように、本実施形態の検出回路C0は、電圧源V0と、通常時使用回路UC0と、除去時使用回路RC0と、接点CP0と、検知回路D0と、測定回路M0とを備えている。 Specifically, the removal unit 73 may switch from the normal use circuit UC0, which supplies the normal current UI0 to the contact CP0 of the switch SW0, to the removal use circuit RC0, which supplies the removal current RI0 to the contact CP0 of the switch SW0, and pass the removal current RI0 through the contact CP0 of the switch SW0. For example, as shown in FIG. 8, the detection circuit C0 may include a voltage source V0, a normal use circuit UC0, a removal use circuit RC0, and a contact CP0. The detection circuit C0 may further include at least the detection circuit D0 of the detection circuit D0 and the measurement circuit M0. As shown in the figure, the detection circuit C0 of this embodiment includes a voltage source V0, a normal use circuit UC0, a removal use circuit RC0, a contact CP0, a detection circuit D0, and a measurement circuit M0.

通常時使用回路UC0および除去時使用回路RC0は、並列接続されている。通常時使用回路UC0は、既述した抵抗器R1と、切り替え用開閉器SW1を備えており、既述した検知回路D0および測定回路M0が設けられる。切り替え用開閉器SW1は、通常時使用回路UC0と除去時使用回路RC0を選択的に切り替えるための開閉器である。切り替え用開閉器SW1は、通常時使用回路UC0が選択されるときに閉状態に制御され、除去時使用回路RC0が選択されるときに開状態に制御される。 The normal use circuit UC0 and the removal use circuit RC0 are connected in parallel. The normal use circuit UC0 is equipped with the resistor R1 and the switching switch SW1 described above, and is provided with the detection circuit D0 and measurement circuit M0 described above. The switching switch SW1 is a switch for selectively switching between the normal use circuit UC0 and the removal use circuit RC0. The switching switch SW1 is controlled to a closed state when the normal use circuit UC0 is selected, and is controlled to an open state when the removal use circuit RC0 is selected.

除去時使用回路RC0は、抵抗器R2と、切り替え用開閉器SW2を備えている。抵抗器R2の抵抗値は、除去時電流RI0を供給可能に、抵抗器R1の抵抗値と比べて小さく設定される。例えば、通常時電流UI0が一ミリアンペアであり、除去時電流RI0が百ミリアンペア必要な場合、抵抗器R2の抵抗値は、抵抗器R1の抵抗値の百分の一に設定される。また、切り替え用開閉器SW2は、通常時使用回路UC0と除去時使用回路RC0を選択的に切り替えるための開閉器である。切り替え用開閉器SW2は、通常時使用回路UC0が選択されるときに開状態に制御され、除去時使用回路RC0が選択されるときに閉状態に制御される。切り替え用開閉器SW1および切り替え用開閉器SW2の開閉制御は、制御装置CU0を介して行われる。 The removal-use circuit RC0 includes a resistor R2 and a switching switch SW2. The resistance value of the resistor R2 is set smaller than that of the resistor R1 so that the removal-use current RI0 can be supplied. For example, if the normal-use current UI0 is one milliampere and the removal-use current RI0 is one hundred milliamperes, the resistance value of the resistor R2 is set to one hundredth of the resistance value of the resistor R1. The switching switch SW2 is a switch for selectively switching between the normal-use circuit UC0 and the removal-use circuit RC0. The switching switch SW2 is controlled to an open state when the normal-use circuit UC0 is selected, and is controlled to a closed state when the removal-use circuit RC0 is selected. The opening and closing control of the switching switches SW1 and SW2 is performed via the control device CU0.

除去部73は、判断部71によって除去タイミングであると判断されたときに、除去時電流RI0を開閉器SW0の接点CP0に流し接点CP0にアークを発生させて、接点CP0に付着した異物を除去する。具体的には、判断部71によって除去タイミングであると判断されると、除去部73は、開閉器SW0の接点CP0を開状態に制御する。例えば、図3に示す搬送装置40の保持部41は、保持している機器DD0(この場合、フィーダ20)の開閉器SW0の接点CP0を開状態または閉状態に切り替え可能な操作部41aを備えている。判断部71によって除去タイミングであると判断されると、除去部73は、操作部41aを用いて、開閉器SW0の接点CP0を開状態に切り替える。 When the determination unit 71 determines that it is time to remove the foreign matter, the removal unit 73 passes a removal current RI0 through the contact CP0 of the switch SW0 to generate an arc at the contact CP0, and removes the foreign matter adhering to the contact CP0. Specifically, when the determination unit 71 determines that it is time to remove the foreign matter, the removal unit 73 controls the contact CP0 of the switch SW0 to an open state. For example, the holding unit 41 of the conveying device 40 shown in FIG. 3 includes an operation unit 41a that can switch the contact CP0 of the switch SW0 of the held device DD0 (feeder 20 in this case) to an open state or a closed state. When the determination unit 71 determines that it is time to remove the foreign matter, the removal unit 73 uses the operation unit 41a to switch the contact CP0 of the switch SW0 to an open state.

除去部73は、開閉器SW0の接点CP0が開状態に制御された状態で、制御装置CU0に切り替え信号を送出して、通常時使用回路UC0から除去時使用回路RC0に切り替える。これにより、切り替え用開閉器SW1は、開状態に制御され、切り替え用開閉器SW2は、閉状態に制御される。除去部73は、この状態で、操作部41aを用いて、開閉器SW0の接点CP0を閉状態に切り替えて、除去時使用回路RC0から接点CP0に除去時電流RI0を供給する。そして、除去部73は、操作部41aを用いて、開閉器SW0の接点CP0を開状態に切り替える。開閉器SW0の接点CP0の切り替え時に、接点CP0にアークが発生して、接点CP0に付着した異物が除去される。 With the contact CP0 of the switch SW0 controlled to the open state, the removal unit 73 sends a switching signal to the control device CU0 to switch from the normal use circuit UC0 to the removal use circuit RC0. As a result, the switching switch SW1 is controlled to the open state, and the switching switch SW2 is controlled to the closed state. In this state, the removal unit 73 uses the operation unit 41a to switch the contact CP0 of the switch SW0 to the closed state, and supplies the removal current RI0 from the removal use circuit RC0 to the contact CP0. Then, the removal unit 73 uses the operation unit 41a to switch the contact CP0 of the switch SW0 to the open state. When the contact CP0 of the switch SW0 is switched, an arc is generated at the contact CP0, and the foreign matter attached to the contact CP0 is removed.

なお、除去部73は、複数の機器DD0について、接点CP0に付着した異物を同時に除去することもできる。例えば、除去部73は、同一の保持部41に保持されている複数(図3では、2つ)の機器DD0について、接点CP0に付着した異物を同時に除去することもできる。また、除去部73は、異なる保持部41に保持されている複数(図3では、4つ)の機器DD0について、接点CP0に付着した異物を同時に除去することもできる。これらにより、異物を除去する除去作業の作業効率が向上する。 The removal unit 73 can also simultaneously remove foreign matter adhering to the contacts CP0 of multiple devices DD0. For example, the removal unit 73 can also simultaneously remove foreign matter adhering to the contacts CP0 of multiple devices DD0 (two in FIG. 3) held in the same holding unit 41. The removal unit 73 can also simultaneously remove foreign matter adhering to the contacts CP0 of multiple devices DD0 (four in FIG. 3) held in different holding units 41. This improves the efficiency of the removal work to remove foreign matter.

接点CP0に付着した異物の除去が終了すると、除去部73は、制御装置CU0に切り替え信号を送出して、除去時使用回路RC0から通常時使用回路UC0に切り替える。これにより、切り替え用開閉器SW1は、閉状態に制御され、切り替え用開閉器SW2は、開状態に制御される。なお、除去部73は、判断部71によって除去タイミングであると判断されたときに、作業者による指示を受けることなく、接点CP0に付着した異物を除去することもできる。 When the removal of the foreign matter adhering to the contact CP0 is completed, the removal unit 73 sends a switching signal to the control unit CU0 to switch from the removal use circuit RC0 to the normal use circuit UC0. As a result, the switching switch SW1 is controlled to the closed state, and the switching switch SW2 is controlled to the open state. Note that the removal unit 73 can also remove the foreign matter adhering to the contact CP0 without receiving instructions from the operator when the determination unit 71 determines that it is time for removal.

1-5.変形形態
既述した形態では、判断部71は、保管装置50のスロット51に機器DD0が保持されているときに、基板製品900の生産を継続しつつ異物を除去可能であると判断する。また、判断部71は、機器DD0が第二スロット12bに保持されているときに、基板製品900の生産を継続しつつ異物を除去可能であると判断する。しかしながら、基板製品900の生産を継続しつつ異物を除去可能な除去タイミングは、これらに限定されない。
1-5. Modified Form In the above-described form, when the equipment DD0 is held in the slot 51 of the storage device 50, the determination unit 71 determines that the foreign matter can be removed while continuing the production of the board product 900. Also, when the equipment DD0 is held in the second slot 12b, the determination unit 71 determines that the foreign matter can be removed while continuing the production of the board product 900. However, the removal timing at which the foreign matter can be removed while continuing the production of the board product 900 is not limited to these.

例えば、機器DD0がフィーダ20の場合、判断部71は、フィーダ20を保管するフィーダラックのスロットにフィーダ20が保持されているときに、基板製品900の生産を継続しつつ異物を除去可能であると判断することもできる。また、判断部71は、フィーダ20を検査するフィーダ検査治具、フィーダ20の清掃、駆動調整を行うフィーダ自動メンテナンスユニットなどのスロットにフィーダ20が保持されているときに、基板製品900の生産を継続しつつ異物を除去可能であると判断することもできる。 For example, when the device DD0 is a feeder 20, the judgment unit 71 can also judge that the foreign matter can be removed while continuing production of the substrate product 900 when the feeder 20 is held in a slot of a feeder rack that stores the feeder 20. The judgment unit 71 can also judge that the foreign matter can be removed while continuing production of the substrate product 900 when the feeder 20 is held in a slot of a feeder inspection jig that inspects the feeder 20, a feeder automatic maintenance unit that cleans the feeder 20, and adjusts the drive of the feeder 20, etc.

このように、機器DD0を保管する保管庫のスロット、機器DD0のメンテナンスを行うメンテナンス装置のスロットなどに機器DD0が保持されているときに、判断部71は、基板製品900の生産を継続しつつ異物を除去可能であると判断することもできる。また、機器DD0を保管する保管庫のスロット、機器DD0のメンテナンスを行うメンテナンス装置のスロットなどに機器DD0が保持されているときに、除去部73は、接点CP0に付着した異物を除去することもできる。 In this way, when device DD0 is held in a slot of a storage facility that stores device DD0, a slot of a maintenance device that performs maintenance on device DD0, or the like, the determination unit 71 can determine that the foreign matter can be removed while continuing production of the board product 900. Also, when device DD0 is held in a slot of a storage facility that stores device DD0, a slot of a maintenance device that performs maintenance on device DD0, or the like, the removal unit 73 can also remove the foreign matter attached to contact CP0.

既述した形態では、機器DD0は、搬送装置40によって保管装置50から第二スロット12bに供給され、第二スロット12bから保管装置50に回収される。しかしながら、機器DD0は、種々の方法によって搬送することができる。例えば、機器DD0は、作業者または無人搬送車によって搬送することもできる。 In the embodiment described above, the equipment DD0 is supplied from the storage device 50 to the second slot 12b by the transport device 40, and is retrieved from the second slot 12b to the storage device 50. However, the equipment DD0 can be transported by various methods. For example, the equipment DD0 can also be transported by a worker or an automated guided vehicle.

既述した形態では、通常時使用回路UC0および除去時使用回路RC0は、同一の電圧源V0に接続されている。そして、除去部73は、通常時使用回路UC0から除去時使用回路RC0に切り替えて、開閉器SW0の接点CP0に除去時電流RI0を流す。しかしながら、除去時電流RI0の供給方法は、上記の形態に限定されない。 In the embodiment described above, the normal use circuit UC0 and the removal use circuit RC0 are connected to the same voltage source V0. The removal unit 73 switches from the normal use circuit UC0 to the removal use circuit RC0, and passes the removal current RI0 through the contact CP0 of the switch SW0. However, the method of supplying the removal current RI0 is not limited to the embodiment described above.

例えば、通常時使用回路UC0のみを用いて、電圧源V0の出力電圧を昇圧して、開閉器SW0の接点CP0に除去時電流RI0を流すこともできる。但し、例えば、通常時電流UI0が一ミリアンペアであり、除去時電流RI0が百ミリアンペア必要な場合、除去時電流RI0を供給するときの電圧源V0の出力電圧は、通常時電流UI0を供給するときの出力電圧の百倍に設定される。そのため、この形態では、通常時使用回路UC0、検知回路D0、測定回路M0などの耐圧が、除去時電流RI0を供給するときの出力電圧以上であることが必要である。 For example, the output voltage of the voltage source V0 can be boosted using only the normal use circuit UC0 to pass the removal current RI0 through the contact CP0 of the switch SW0. However, for example, if the normal use current UI0 is one milliampere and the removal current RI0 is required to be 100 milliamperes, the output voltage of the voltage source V0 when supplying the removal current RI0 is set to 100 times the output voltage when supplying the normal current UI0. Therefore, in this form, the withstand voltages of the normal use circuit UC0, detection circuit D0, measurement circuit M0, etc. must be equal to or greater than the output voltage when supplying the removal current RI0.

2.開閉器メンテナンス方法
開閉器メンテナンス装置70について既述されていることは、開閉器メンテナンス方法についても同様に言える。具体的には、開閉器メンテナンス方法は、判断工程を備える。判断工程は、判断部71が行う制御に相当する。開閉器メンテナンス方法は、案内工程を備えることもできる。案内工程は、案内部72が行う制御に相当する。開閉器メンテナンス方法は、除去工程を備えることもできる。除去工程は、除去部73が行う制御に相当する。
2. Switchgear maintenance method What has already been described about the switchgear maintenance device 70 can also be applied to the switchgear maintenance method. Specifically, the switchgear maintenance method includes a determination step. The determination step corresponds to the control performed by the determination unit 71. The switchgear maintenance method can also include a guidance step. The guidance step corresponds to the control performed by the guidance unit 72. The switchgear maintenance method can also include a removal step. The removal step corresponds to the control performed by the removal unit 73.

3.実施形態の効果の一例
開閉器メンテナンス装置70によれば、判断部71を備える。よって、対基板作業機WM0に着脱可能に設けられる機器DD0の着脱に合わせて開閉する開閉器SW0の接点CP0に付着した異物を除去すべき除去タイミングを知得することができる。上述されていることは、開閉器メンテナンス方法についても同様に言える。
3. Example of Effects of the Embodiment The switch maintenance device 70 includes a determination unit 71. Therefore, it is possible to know the timing for removing a foreign object attached to the contact CP0 of the switch SW0 that opens and closes in accordance with the attachment and detachment of the device DD0 that is detachably provided on the substrate-related operation machine WM0. The same can be said about the switch maintenance method described above.

10:部品装着機、12a:第一スロット、12b:第二スロット、20:フィーダ、
50:保管装置、51:スロット、70:開閉器メンテナンス装置、71:判断部、
72:案内部、73:除去部、90:基板、900:基板製品、DD0:機器、
SW0:開閉器、CP0:接点、UC0:通常時使用回路、UI0:通常時電流、
RC0:除去時使用回路、RI0:除去時電流、WM0:対基板作業機。
10: component mounting machine, 12a: first slot, 12b: second slot, 20: feeder,
50: storage device, 51: slot, 70: switch maintenance device, 71: determination unit,
72: Guide unit, 73: Removal unit, 90: Substrate, 900: Substrate product, DD0: Equipment,
SW0: switch, CP0: contact, UC0: normal use circuit, UI0: normal current,
RC0: Circuit used during removal, RI0: Current during removal, WM0: Substrate-related work machine.

Claims (11)

基板に所定の対基板作業を行って基板製品を生産する対基板作業機に着脱可能に設けられる機器の着脱に合わせて開閉する開閉器の接点に付着した異物を除去すべき除去タイミングであるか否かを判断する判断部を備え、
前記判断部は、前記機器を保管可能な保管装置のスロットに前記機器が保持されているときに、前記基板製品の生産を継続しつつ前記異物を除去可能であると判断し、前記基板製品の生産を継続しつつ前記異物を除去可能なときに、前記除去タイミングであると判断る開閉器メンテナンス装置。
a determination unit that determines whether or not it is time to remove a foreign object attached to a contact of a switch that opens and closes in response to the installation and removal of a device that is detachably provided in a substrate-related operation machine that performs a predetermined substrate-related operation on a substrate to produce a substrate product,
The judgment unit determines that the foreign object can be removed while continuing production of the board product when the equipment is held in a slot of a storage device capable of storing the equipment, and determines that the timing for removal has arrived when the foreign object can be removed while continuing production of the board product .
基板に所定の対基板作業を行って基板製品を生産する対基板作業機に着脱可能に設けられる機器の着脱に合わせて開閉する開閉器の接点に付着した異物を除去すべき除去タイミングであるか否かを判断する判断部を備え、
前記対基板作業機は、
前記基板製品の生産で使用される前記機器を保持可能な第一スロットと、
前記基板製品の生産で使用予定の前記機器を予備的に保持可能または前記基板製品の生産で不要になった前記機器を一時的に保持可能な第二スロットと、
を備え、
前記判断部は、前記機器が前記第二スロットに保持されているときに、前記基板製品の生産を継続しつつ前記異物を除去可能であると判断し、前記基板製品の生産を継続しつつ前記異物を除去可能なときに、前記除去タイミングであると判断る開閉器メンテナンス装置。
a determination unit that determines whether or not it is time to remove a foreign object attached to a contact of a switch that opens and closes in response to the installation and removal of a device that is detachably provided in a substrate-related operation machine that performs a predetermined substrate-related operation on a substrate to produce a substrate product,
The substrate-related operating machine includes:
a first slot capable of holding the equipment used in the production of the substrate product;
a second slot capable of preliminarily holding the device to be used in the production of the substrate product or temporarily holding the device that is no longer needed in the production of the substrate product;
Equipped with
The judgment unit determines that the foreign object can be removed while continuing production of the board product when the equipment is held in the second slot, and determines that the timing for removal has arrived when the foreign object can be removed while continuing production of the board product .
前記判断部は、前記機器の着脱回数が、前記異物による前記開閉器の前記接点の導通不良を考慮して予め設定される所定回数以上になったときに、前記除去タイミングであると判断する請求項1または請求項2に記載の開閉器メンテナンス装置。 3. The switch maintenance device according to claim 1, wherein the judgment unit judges that it is time to remove the foreign object when the number of times the equipment is removed and attached reaches or exceeds a predetermined number that is set in advance taking into account a conductivity defect in the contacts of the switch caused by the foreign object . 前記判断部は、前記開閉器の前記接点の抵抗値が、前記異物による前記開閉器の前記接点の導通不良を考慮して予め設定される所定値以上になったときに、前記除去タイミングであると判断する請求項1請求項3のいずれか一項に記載の開閉器メンテナンス装置。 The switch maintenance device according to any one of claims 1 to 3, wherein the determination unit determines that it is time to remove the foreign object when a resistance value of the contacts of the switch becomes equal to or greater than a predetermined value that is set in advance taking into account a conduction defect of the contacts of the switch due to the foreign object. 前記判断部によって前記除去タイミングであると判断されたときに、作業者に前記除去タイミングであることを案内する案内部を備える請求項1~請求項のいずれか一項に記載の開閉器メンテナンス装置。 The switch maintenance device according to any one of claims 1 to 4 , further comprising a guidance unit that, when the determination unit determines that it is time to remove the switch, notifies an operator that it is time to remove the switch. 前記判断部によって前記除去タイミングであると判断されたときに、前記基板製品の生産において前記開閉器の前記接点に流す通常時電流よりも大きな電流である除去時電流を前記開閉器の前記接点に流し前記接点にアークを発生させて、前記接点に付着した前記異物を除去する除去部を備える請求項1~請求項のいずれか一項に記載の開閉器メンテナンス装置。 A switch maintenance device as described in any one of claims 1 to 5, comprising a removal unit that, when the judgment unit determines that it is the removal timing, passes a removal current through the contacts of the switch, which is a current larger than the normal current passed through the contacts of the switch in the production of the board product, to generate an arc at the contacts, thereby removing the foreign matter adhering to the contacts. 前記除去部は、前記開閉器の前記接点に前記通常時電流を供給する通常時使用回路から前記開閉器の前記接点に前記除去時電流を供給する除去時使用回路に切り替えて、前記開閉器の前記接点に前記除去時電流を流す請求項に記載の開閉器メンテナンス装置。 The switch maintenance device according to claim 6, wherein the removal unit switches from a normal use circuit that supplies the normal current to the contacts of the switch to a removal use circuit that supplies the removal current to the contacts of the switch, and passes the removal current through the contacts of the switch. 前記対基板作業機は、前記基板に部品を装着する部品装着機であり、
前記機器は、前記部品を供給するフィーダである請求項1~請求項のいずれか一項に記載の開閉器メンテナンス装置。
the substrate-related operation machine is a component mounting machine that mounts components on the substrate,
The switch maintenance device according to any one of claims 1 to 7 , wherein the equipment is a feeder that supplies the parts.
前記異物は、前記開閉器の開閉により発生するアークによって、前記接点の表面に生成された酸化シリコン膜である請求項1~請求項のいずれか一項に記載の開閉器メンテナンス装置。 The switch maintenance device according to any one of claims 1 to 8 , wherein the foreign matter is a silicon oxide film formed on a surface of the contact by an arc generated by opening and closing the switch. 基板に所定の対基板作業を行って基板製品を生産する対基板作業機に着脱可能に設けられる機器の着脱に合わせて開閉する開閉器の接点に付着した異物を除去すべき除去タイミングであるか否かを判断する判断工程を備え
前記判断工程は、前記機器を保管可能な保管装置のスロットに前記機器が保持されているときに、前記基板製品の生産を継続しつつ前記異物を除去可能であると判断し、前記基板製品の生産を継続しつつ前記異物を除去可能なときに、前記除去タイミングであると判断する開閉器メンテナンス方法。
a determining step of determining whether or not it is time to remove a foreign object attached to a contact of a switch which opens and closes in response to the installation and removal of a device which is detachably provided in a substrate-related operation machine which performs a predetermined substrate-related operation on a substrate to produce a substrate product ,
The judgment process determines that the foreign object can be removed while continuing production of the board products when the equipment is held in a slot of a storage device capable of storing the equipment, and determines that the timing for removal has come when the foreign object can be removed while continuing production of the board products .
基板に所定の対基板作業を行って基板製品を生産する対基板作業機に着脱可能に設けられる機器の着脱に合わせて開閉する開閉器の接点に付着した異物を除去すべき除去タイミングであるか否かを判断する判断工程を備え
前記判断工程は、前記基板製品の生産で使用される前記機器を保持可能な第一スロットと、前記基板製品の生産で使用予定の前記機器を予備的に保持可能または前記基板製品の生産で不要になった前記機器を一時的に保持可能な第二スロットとを備える前記対基板作業機の前記第二スロットに前記機器が保持されているときに、前記基板製品の生産を継続しつつ前記異物を除去可能であると判断し、前記基板製品の生産を継続しつつ前記異物を除去可能なときに、前記除去タイミングであると判断する開閉器メンテナンス方法。
a determining step of determining whether or not it is time to remove a foreign object attached to a contact of a switch which opens and closes in response to the installation and removal of a device which is detachably provided in a substrate-related operation machine which performs a predetermined substrate-related operation on a substrate to produce a substrate product ,
The judgment process determines that the foreign object can be removed while continuing production of the board products when the equipment is held in the second slot of the substrate-related processing machine, which has a first slot capable of holding the equipment used in the production of the board products and a second slot capable of holding the equipment on a spare basis that is to be used in the production of the board products or capable of temporarily holding the equipment that is no longer needed in the production of the board products, and determines that the timing for removal has come when the foreign object can be removed while continuing production of the board products .
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