JP7373924B2 - 撥水処理剤、撥水処理体、電気接続構造、およびワイヤーハーネス - Google Patents
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Description
最初に本開示の実施形態を列記して説明する。本開示にかかる撥水処理剤は、成分Aとして、疎水化処理されたシリカ粒子と、成分Bとして、ガラス転移温度が100℃以上の樹脂と、成分Cとして、酸変性樹脂と、成分Dとして、有機溶剤と、を含有し、前記成分Bと前記成分Cの質量比B:Cが、95:5から50:50の範囲にある。
以下に、本開示の実施形態について、図面を用いて詳細に説明する。本開示の実施形態にかかる撥水処理剤を用いて、本開示の実施形態にかかる撥水処理体および電気接続構造を形成することができる。また、そのような電気接続構造を含んで、本開示の実施形態にかかるワイヤーハーネスを構成することができる。
まず、本開示の一実施形態にかかる撥水処理剤について説明する。本開示の一実施形態にかかる撥水処理剤は、以下の成分A~成分Dを含有する組成物として構成される。
・成分A:疎水化処理されたシリカ粒子
・成分B:ガラス転移温度が100℃以上の樹脂
・成分C:酸変性樹脂
・成分D:有機溶剤
成分Bと成分Cの質量比B:Cは、95:5から50:50の範囲にある。なお、質量比の範囲には、比率が上限および下限に一致する場合も含むものとする。以下でも、本明細書における比率の記載に関しては、同様とする。
成分Aは、撥水処理剤に撥水性を付与する成分である。シリカ粒子が疎水化処理されていることにより、シリカ粒子自体、またシリカ粒子を含有する撥水処理剤が、撥水性を示すものとなる。さらに、撥水処理剤を用いて撥水処理対象面に撥水処理層を形成すると、撥水処理層の表面に、シリカ粒子の粒子形状に由来する微細な凹凸構造が形成されることになる(図1参照)。この凹凸構造が存在することで、撥水処理層の表面における水の接触角が大きくなり、撥水処理層表面の撥水性が高められる。つまり、シリカ粒子は、疎水化処理されていることに加え、凹凸構造を形成することによっても、撥水性を発揮するものとなる。
成分Bは、100℃以上のガラス転移温度(Tg)を有するポリマー材料よりなっている。ガラス転移温度は、例えば、JIS K7121に従って評価することができる。
成分Cは、酸変性樹脂である。酸変性樹脂は、ポリマーが、カルボン酸等の酸分子によってグラフト変性されたものである。
撥水処理剤は、上記成分A~Cに加え、成分Dとして、有機溶剤を含有している。有機溶剤は、成分Aの疎水化処理されたシリカ粒子を分散させることができ、かつ、樹脂成分である成分Bおよび成分Cを分散または溶解させられるものであれば、特に具体的な種類を限定されるものではない。好適な有機溶剤として、テトラヒドロフラン(THF)、酢酸ブチル、トルエン、酢酸エチル、イソプロパノール、メチルエチルケトン、メチルイソブチルケトン、キシレン等を例示することができる。
撥水処理剤は、上記成分A~Dによって付与される特性を著しく損なわない範囲において、成分A~D以外の成分を、それらの成分に加えて含有していてもよい。そのような成分として、分散剤、増粘剤、無機充填剤、顔料、界面活性剤、pH調整剤、皮膜形成助剤、レベリング剤、消泡剤、酸化防止剤、紫外線吸収剤、防錆剤、着色剤、防腐剤、除菌剤、帯電防止剤、艶出し剤、防カビ剤等、各種添加剤を挙げることができる。
次に、本開示の一実施形態にかかる撥水処理体について説明する。図1に示すように、本実施形態にかかる撥水処理体1は、基材11と、撥水処理層12とを有している。撥水処理層12により、基材11の表面に撥水性が付与されている。
次に、本開示の一実施形態にかかる電気接続構造について説明する。本実施形態にかかる電気接続構造は、他の電気接続部材との間に電気的接続を形成することができる部材であり、その一部または全体に、上記で説明した本開示の実施形態にかかる撥水処理体1を含んでいる。つまり、電気接続構造を構成する基材11の表面の一部または全域に、撥水処理層12を有している。なお、ここで、基材11の表面とは、電気接続構造全体としての形状の外側に露出された外表面のみならず、電気接続構造の各部を構成する面状の部位の表面を指し、次に説明するコネクタ2におけるコネクタハウジング4の内表面43のように、電気接続構造の内側に露出した内表面等も含むものである。
最後に、本開示の一の実施形態にかかるワイヤーハーネスについて説明する。本実施形態にかかるワイヤーハーネスは、上記実施形態にかかる電気接続構造を有している。一例として、被覆電線の端部に、電気接続構造として、コネクタを備えたワイヤーハーネスについて、図3を参照しながら説明する。
(1)撥水処理剤の調製
まず、表1および表2に示す成分組成で、各成分を混合し、試料1~19および試料31~42にかかる撥水処理剤を調製した。混合に際しては、常温で1時間、超音波分散を行った後、常温にて15時間、撹拌子による撹拌を行った。撥水処理剤には、表1,2に示した以外の成分は添加しなかった。
(成分A)
・H2000:メチルクロロシラン処理したシリカ粒子(平均粒径12nm);旭化成ワッカーシリコーン社製「WACKER HDK H2000」
・H3004:メチルクロロシラン処理したシリカ粒子(平均粒径10nm);旭化成ワッカーシリコーン社製「WACKER HDK H3004」
・R805:オクチル基で表面処理剤処理したシリカ粒子(平均粒径12nm);日本アエロジル社製「アエロジルR805」
・R974:ジメチルシリル基表面処理剤で処理したシリカ粒子(平均粒径12nm);日本アエロジル社製「アエロジルR974」
・RX200:トリメチルシリル基表面処理剤で処理したシリカ粒子(平均粒径12nm);日本アエロジル社製「アエロジルRX200」
・SX110:トリメチルシリル基表面処理剤で処理したシリカ粒子(平均粒径110nm);日本アエロジル社製「アエロジルSX110」
・A-200:疎水化処理していないシリカ粒子(平均粒径20nm);日本アエロジル社製「アエロジル200」
・TP120:シリコーン樹脂微粒子(平均粒径2000nm);モメンティブ社製「トスパール120」
・D1000:タルク粒子(平均粒径1000nm);日本タルク社製「ナノエースD-1000」
(成分B)
・PMMA:メタクリル酸メチルポリマー(Tg=101℃);和光純薬社製
・PC:ポリカーボネート(Tg=135℃);三菱エンジニアリングプラスチックス社製「ユーピロンS3000」
・PS:ポリスチレン(Tg=100℃);シグマアルドリッチ社製
・SEBS:水添スチレン系エラストマー SEBS(Tg=18℃);旭化成社製「S.O.E. S1605」
・PVC:ポリ塩化ビニル(重合度1000)(Tg=85℃);大洋塩ビ社製
(成分C)
・MAH-SBS:マレイン酸変性SEBS(Tg=15℃);旭化成社製「タフプレン912」
・MAH-SEBS:マレイン酸変性SEBS(Tg=18℃);旭化成社製「タフテックM1911」
・MAH-PE:マレイン酸変性ポリエチレン(Tg=-110℃);シグマアルドリッチ社製
・MAH-PS:マレイン酸変性ポリスチレン(Tg=100℃);シグマアルドリッチ社製
(成分D)
テトラヒドロフラン(THF)、酢酸ブチル、トルエン(いずれも和光純薬社製 試薬一級)
(2-1)水接触角測定
30mm×30mm×0.5mm厚の平坦なポリアミド製の板材を、板面を鉛直方向にして立てた状態で、表1,2に示す各試料液中に常温で浸漬し、10秒間静置した後に引き上げた。そして、余剰の試料液を落としながら、常温で1時間風乾して、初期接触角測定試料とした。また、同様に、試料液への浸漬と乾燥を行って形成した試料を、100℃のオーブンに96時間入れた後に取り出し、耐熱後接触角測定試料とした。なお耐熱条件は、JIS C60068-2-2に従うものとした。
撥水処理対象の基材となるコネクタハウジングとして、日本圧着端子製造社製のプリント基板用コネクタハウジング「VHシリーズハウジング」(ナイロン6製)を準備した。このコネクタハウジングは、接続端子としてのピンを挿入するピン差し込み孔を有しているが、そのピン差し込み孔が上下方向に向くように、コネクタハウジングを配置し、表1,2に成分組成を有する各試料液中に、常温にて浸漬した。試料液中で、コネクタハウジングを軽く揺すってピン差し込み孔の内部の気泡を除いた後、すぐに引上げた。さらに、コネクタハウジングを、浸漬中と同じ方向で配置したまま、常温ドライヤーにてピン差し込み孔の内部まで風を通して余剰の液を落としながら、1時間乾燥して、初期撥水試験用試料とした。また、同様に、コネクタハウジングの試料液への浸漬と乾燥を経て形成した試料を、100℃のオーブンに96時間入れた後に取り出し、耐熱後撥水試験用試料とした。なお、耐熱条件は、JIS C60068-2-2に従うものとした。
上記撥水試験において用いた初期撥水試験用試料と同様の試料を準備し、密着強度試験用の試料とした。この試料のコネクタハウジングのピン差し込み孔に、接続端子を挿入してから抜去する端子挿抜を行った。端子挿抜を1回、2回または5回繰り返した後に、上記撥水性試験において行ったのと同様にして、純水への浸漬を行った。そして、純水浸漬前後の質量を比較し、浸漬後の質量が、浸漬前の質量に対して1%以上増加していた場合には、端子挿抜を経て、撥水処理層が剥離したものと判断した。一方、浸漬後の質量の増加量が、浸漬前の質量に対して1%未満である場合には、端子挿抜を経ても、撥水処理層の剥離が起こっていないと判断した。1回の端子挿抜を経て、撥水処理層の剥離が起こっていると判断された試料については、密着強度が不十分である(B)と評価した。一方、1回の端子挿抜を経ても、撥水処理層の剥離が起こっていないと判断された試料については、密着強度が十分である(A)と評価した。さらに、2回の端子挿抜を経ても、撥水処理層の剥離が起こっていないと判断された試料については、密着強度に優れる(A+)と評価した。さらに、5回の端子挿抜を経ても、撥水処理層の剥離が起こっていないと判断された試料については、特に密着強度に優れる(A++)と評価した。
下の表1,2に、試料1~19および試料31~42にかかる撥水処理剤の成分組成と、上記の各評価試験の結果を示す。成分組成については、各成分の含有量を、質量部を単位として記載している。
11 基材
11a 撥水処理対象面
12 撥水処理層
13 疎水化処理されたシリカ粒子
14 樹脂膜
2 コネクタ
3 接続端子
31 嵌合部
32 バレル部
4 コネクタハウジング
41 キャビティ
42 外表面
43 内表面
44 開口部
45 隙間
5 ワイヤーハーネス
51 メインハーネス部
52 分岐ハーネス部
53 コネクタ
54 粘着テープ
9 被覆電線
91 絶縁被覆
92 導体
Claims (15)
- 成分Aとして、疎水化処理されたシリカ粒子と、
成分Bとして、いずれも酸変性を受けていないメタクリル酸メチルポリマー、ポリスチレン、ポリカーボネートより選択される1種または2種以上の、ガラス転移温度が100℃以上の樹脂と、
成分Cとして、酸変性樹脂と、
成分Dとして、有機溶剤と、を含有し、
前記成分Bと前記成分Cの質量比B:Cが、95:5から50:50の範囲にある、撥水処理剤。 - 前記成分Cは、酸変性されたエラストマーを含有する、請求項1に記載の撥水処理剤。
- 前記成分Cは、マレイン酸変性樹脂である、請求項1または請求項2に記載の撥水処理剤。
- 前記成分Aのシリカ粒子の平均粒径は、100nm以下である、請求項1から請求項3のいずれか1項に記載の撥水処理剤。
- 前記成分Aの含有量が、0.1質量%以上、10質量%以下である、請求項1から請求項4のいずれか1項に記載の撥水処理剤。
- 前記成分Aと、前記成分Bおよび前記成分Cの合計との質量比A:(B+C)が、90:10から30:70の範囲にある、請求項1から請求項5のいずれか1項に記載の撥水処理剤。
- フッ素原子を含む物質を含有していない、請求項1から請求項6のいずれか1項に記載の撥水処理剤。
- アルコキシシランを含有していない、請求項1から請求項7のいずれか1項に記載の撥水処理剤。
- 前記成分Dの有機溶剤の沸点が、150℃以下である、請求項1から請求項8のいずれか1項に記載の撥水処理剤。
- 基材と、
前記基材の表面に、請求項1から請求項9のいずれか1項に記載の撥水処理剤が配置された撥水処理層と、を有する撥水処理体。 - 前記撥水処理層において、前記成分Dは揮発している、請求項10に記載の撥水処理体。
- 前記基材は、樹脂材料または金属を表面に有している、請求項10または請求項11に記載の撥水処理体。
- 請求項10から請求項12のいずれか1項に記載の撥水処理体を含み、他の電気接続部材との間に電気的接続を形成することができる、電気接続構造。
- 前記電気接続構造は、金属材料を表面に有する接続端子と、前記接続端子を収容し、樹脂材料を表面に有するコネクタハウジングとを有するコネクタとして構成され、
前記接続端子の前記金属材料の表面、および前記コネクタハウジングの前記樹脂材料の表面の少なくとも一方に、前記撥水処理層を有する、請求項13に記載の電気接続構造。 - 請求項13または請求項14に記載の電気接続構造を有する、ワイヤーハーネス。
Priority Applications (4)
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