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JP7299175B2 - Sample analyzer - Google Patents

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JP7299175B2 JP2020005739A JP2020005739A JP7299175B2 JP 7299175 B2 JP7299175 B2 JP 7299175B2 JP 2020005739 A JP2020005739 A JP 2020005739A JP 2020005739 A JP2020005739 A JP 2020005739A JP 7299175 B2 JP7299175 B2 JP 7299175B2
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Description

本願は、試料分析装置に関する。 The present application relates to sample analyzers.

従来、尿や血液等の試料中の特定成分を分析するために試料分析用基板を用いる技術が知られている。例えば、特許文献1は、流路、チャンバー等が形成された円盤状の試料分析用基板を用い、試料分析用基板を回転等させることで、溶液の移送、分配、混合、試料溶液中の成分の分析等を行う技術を開示している。特定成分は、例えば、免疫反応によって発生した光を検出することによって定量される。 2. Description of the Related Art Conventionally, techniques using sample analysis substrates are known for analyzing specific components in samples such as urine and blood. For example, in Patent Document 1, a disk-shaped sample analysis substrate formed with channels, chambers, etc. is used, and by rotating the sample analysis substrate, a solution is transported, distributed, mixed, and components in the sample solution are analyzed. It discloses the technology to analyze the A specific component is quantified, for example, by detecting light generated by an immune reaction.

免疫測定法や遺伝子検出法には、例えば、磁性粒子(「磁性ビーズ」、「磁気粒子」または「磁気ビーズ」等と称することもある。)が用いられる。特許文献2は、磁性粒子を用いたサンドイッチイムノアッセイ法に言及する。サンドイッチイムノアッセイ法では、抗原抗体反応により、測定対象物である試料に含まれる抗原、磁性粒子の表面に固定化された一次抗体、および標識物質が結合された二次抗体を結合させて複合体を得る。 Magnetic particles (also called “magnetic beads”, “magnetic particles” or “magnetic beads”), for example, are used in immunoassays and gene detection methods. US Pat. No. 5,300,004 refers to a sandwich immunoassay method using magnetic particles. In the sandwich immunoassay method, the antigen-antibody reaction causes the antigen contained in the sample to be measured, the primary antibody immobilized on the surface of the magnetic particles, and the secondary antibody bound to the labeled substance to combine to form a complex. obtain.

特表平7-500910号公報Japanese Patent Publication No. 7-500910 特開2018-163102号公報Japanese Patent Application Laid-Open No. 2018-163102

試料中の特定成分の測定精度を高めるためには、試料中の抗原に可能な限り多くの抗原抗体反応を生じさせ、多くの複合体を得ることが好ましい。そのためには試料中の抗原と、一次抗体および二次抗体の撹拌を効果的に行うことが求められる。 In order to improve the measurement accuracy of a specific component in a sample, it is preferable to generate as many antigen-antibody reactions as possible with antigens in the sample to obtain a large number of complexes. For this purpose, it is required to effectively mix the antigen in the sample with the primary antibody and the secondary antibody.

本願の限定的ではないある例示的な一実施形態は、試料中の特定成分の測定精度を高めることを可能にする試料分析装置を提供する。 One exemplary, non-limiting embodiment of the present application provides a sample analyzer that allows for increased accuracy in measuring specific constituents in a sample.

本開示の試料分析装置は、液体試料を保持した試料分析用基板を回転させ停止させて、前記液体試料中のアナライトと磁性粒子の表面に固定化されたリガンドとの結合反応を生じさせる試料分析装置であって、装填された前記試料分析用基板を支持するターンテーブルと、前記ターンテーブルを回転させるモータと、前記モータの回転および停止を制御する駆動回路と、前記試料分析用基板の回転軸に垂直な第1面側に配置され、前記磁性粒子を吸引する吸引力を発生させる第1磁石ユニットと、前記試料分析用基板の回転軸に垂直な、前記第1面と反対の第2面側に配置され、前記磁性粒子を吸引する吸引力を発生させる第2磁石ユニットと、前記第1磁石ユニットを移動させて前記第1磁石ユニットと前記試料分析用基板との相対位置を変化させる第1アクチュエータと、前記第2磁石ユニットを移動させて前記第2磁石ユニットと前記試料分析用基板との相対位置を変化させる第2アクチュエータと、前記モータ、前記駆動回路、前記第1アクチュエータおよび前記第2アクチュエータの動作を制御する制御回路とを備え、前記試料分析用基板は、前記試料分析装置への装填および前記試料分析装置からの取り外しが可能であり、所定の厚さを有する板状のベース基板と、前記ベース基板内の、前記結合反応を生じさせる空間であるチャンバーとを有しており、前記チャンバー内の液体試料の撹拌時に、前記第1アクチュエータおよび前記第2アクチュエータは、前記チャンバー内の前記磁性粒子が前記磁石ユニットに吸引される位置に、交互に前記第1磁石ユニットおよび前記第2磁石ユニットを移動させる。 The sample analyzer of the present disclosure rotates and stops a sample analysis substrate holding a liquid sample to cause a binding reaction between an analyte in the liquid sample and a ligand immobilized on the surface of magnetic particles. An analysis apparatus comprising: a turntable for supporting the loaded sample analysis substrate; a motor for rotating the turntable; a drive circuit for controlling rotation and stoppage of the motor; and rotation of the sample analysis substrate. A first magnet unit arranged on the side of a first surface perpendicular to the axis and generating an attractive force for attracting the magnetic particles; A second magnet unit arranged on the surface side and generating an attractive force for attracting the magnetic particles, and a first magnet unit are moved to change the relative position between the first magnet unit and the substrate for sample analysis. a first actuator, a second actuator that moves the second magnet unit to change the relative position between the second magnet unit and the sample analysis substrate, the motor, the drive circuit, the first actuator, and the and a control circuit for controlling the operation of the second actuator. The sample analysis substrate is a plate-shaped substrate having a predetermined thickness, which can be loaded into and removed from the sample analysis device. and a chamber, which is a space for causing the binding reaction within the base substrate, and when the liquid sample in the chamber is stirred, the first actuator and the second actuator move the chamber The first magnet unit and the second magnet unit are alternately moved to positions where the magnetic particles inside are attracted to the magnet unit.

本開示によれば、試料中の特定成分の測定精度を高めることが可能な試料分析装置が提供される。 According to the present disclosure, there is provided a sample analyzer that can improve the measurement accuracy of a specific component in a sample.

図1は、磁性粒子を用いたサンドイッチイムノアッセイ法を説明する模式図の一例である。FIG. 1 is an example of a schematic diagram illustrating a sandwich immunoassay method using magnetic particles. 図2Aは、試料分析用基板の構造の一例を示す平面図である。FIG. 2A is a plan view showing an example of the structure of the substrate for sample analysis. 図2Bは、試料分析用基板の分解斜視図である。FIG. 2B is an exploded perspective view of the substrate for sample analysis. 図3は、試料分析装置1のハードウェア構成例を示すブロック図である。FIG. 3 is a block diagram showing a hardware configuration example of the sample analyzer 1. As shown in FIG. 図4Aは、試料分析用基板100の平面図である。FIG. 4A is a plan view of the sample analysis substrate 100. FIG. 図4Bは、試料分析用基板100の分解斜視図である。FIG. 4B is an exploded perspective view of the sample analysis substrate 100. FIG. 図5は、試料分析用基板100に設けられた複数のチャンバーの位置を示す上面図である。FIG. 5 is a top view showing positions of a plurality of chambers provided on the sample analysis substrate 100. FIG. 図6は、試料分析用基板100に予め保持されている洗浄液130、基質液132、一次抗体134および二次抗体136の位置を示す上面図である。FIG. 6 is a top view showing the positions of the washing liquid 130, the substrate liquid 132, the primary antibody 134 and the secondary antibody 136 held in advance on the sample analysis substrate 100. FIG. 図7は、検体である血液190が点着された点着チャンバー110を示す図である。FIG. 7 is a diagram showing a spotting chamber 110 in which blood 190, which is a specimen, is spotted. 図8は、第1磁石ユニット16の分解斜視図である。FIG. 8 is an exploded perspective view of the first magnet unit 16. FIG. 図9は、第1磁石ユニット16の平面図である。FIG. 9 is a plan view of the first magnet unit 16. FIG. 図10Aは、本開示による磁石の形状の例を示す図である。FIG. 10A is a diagram illustrating example magnet shapes according to the present disclosure. 図10Bは、本開示による磁石の形状の例を示す図である。FIG. 10B is a diagram illustrating example magnet shapes according to the present disclosure. 図10Cは、本開示による磁石の形状の例を示す図である。FIG. 10C is a diagram illustrating example magnet shapes according to the present disclosure. 図10Dは、本開示による磁石の形状の例を示す図である。FIG. 10D is a diagram illustrating example magnet shapes according to the present disclosure. 図10Eは、本開示による磁石の形状の例を示す図である。FIG. 10E is a diagram illustrating example magnet shapes according to the present disclosure. 図10Fは、本開示による磁石の形状の例を示す図である。FIG. 10F is a diagram illustrating example magnet shapes according to the present disclosure. 図10Gは、本開示による磁石の形状の例を示す図である。FIG. 10G is a diagram illustrating example magnet shapes according to the present disclosure. 図10Hは、本開示による磁石の形状の例を示す図である。FIG. 10H is a diagram illustrating example magnet shapes according to the present disclosure. 図11は、第1磁石ユニット16と、第2磁石ユニット56と、試料分析用基板100との位置関係の例を示す図である。FIG. 11 is a diagram showing an example of the positional relationship between the first magnet unit 16, the second magnet unit 56, and the sample analysis substrate 100. As shown in FIG. 図12は、第1磁石ユニット16と、第2磁石ユニット56と、試料分析用基板100との位置関係の例を示す図である。FIG. 12 is a diagram showing an example of the positional relationship between the first magnet unit 16, the second magnet unit 56, and the sample analysis substrate 100. As shown in FIG. 図13は、試料分析用基板100を図11に示す状態から約180度回転させた後の、第1磁石ユニット16の位置と測定チャンバー116の位置との関係を示す図である。FIG. 13 is a diagram showing the relationship between the position of the first magnet unit 16 and the position of the measurement chamber 116 after the sample analysis substrate 100 has been rotated about 180 degrees from the state shown in FIG. 図14は、図13におけるA-A断面拡大図である。14 is an enlarged cross-sectional view taken along line AA in FIG. 13. FIG. 図15は、試料分析用基板100の上方から退避した位置に移動された第1磁石ユニット16と、第1磁石ユニット16の移動機構の構成を示す平面図である。FIG. 15 is a plan view showing the configuration of the first magnet unit 16 moved to the retracted position from above the sample analysis substrate 100 and the movement mechanism of the first magnet unit 16 . 図16は、試料分析用基板100の上方から退避した位置に移動された第1磁石ユニット16と、第1磁石ユニット16の移動機構の構成を示す側面図である。FIG. 16 is a side view showing the configuration of the first magnet unit 16 moved to the retracted position from above the sample analysis substrate 100 and the movement mechanism of the first magnet unit 16 . 図17は、試料分析用基板100と重なる位置に移動された第2磁石ユニット56と、第2磁石ユニット56の移動機構の構成を示す平面図である。FIG. 17 is a plan view showing the configuration of the second magnet unit 56 moved to a position overlapping the sample analysis substrate 100 and the movement mechanism of the second magnet unit 56 . 図18は、試料分析用基板100と重なる位置に移動された第2磁石ユニット56と、第2磁石ユニット56の移動機構の構成を示す側面図である。FIG. 18 is a side view showing the configuration of the second magnet unit 56 moved to a position overlapping the sample analysis substrate 100 and the movement mechanism of the second magnet unit 56 . 図19は、図17におけるC-C断面拡大図である。19 is an enlarged cross-sectional view taken along line CC in FIG. 17. FIG. 図20は、磁性粒子を利用した撹拌処理を実行する制御回路22の処理の手順を示すフローチャートである。FIG. 20 is a flow chart showing a procedure of processing of the control circuit 22 that executes a stirring process using magnetic particles. 図21は、発光測定処理を実行する制御回路22の処理の手順を示すフローチャートである。FIG. 21 is a flow chart showing the processing procedure of the control circuit 22 for executing the luminescence measurement processing. 図22は、リング形状の第1磁石ユニット16と、半円形状の第2磁石ユニット56と、試料分析用基板100との位置関係の例を示す図である。FIG. 22 is a diagram showing an example of the positional relationship between the ring-shaped first magnet unit 16 , the semicircular second magnet unit 56 , and the sample analysis substrate 100 . 図23Aは、変形例にかかる試料分析装置1の側面図である。FIG. 23A is a side view of the sample analyzer 1 according to the modification. 図23Bは、磁石40および80のS極同士を向かい合わせた様子を示す図である。FIG. 23B is a diagram showing how the south poles of magnets 40 and 80 face each other. 図24は、さらなる変形例にかかる試料分析装置1の側面図である。FIG. 24 is a side view of the sample analyzer 1 according to a further modified example.

以下、添付の図面を参照しながら、本発明による試料分析装置の実施形態を説明する。本明細書では、必要以上に詳細な説明は省略する場合がある。たとえば、既によく知られた事項の詳細説明や実質的に同一の構成に対する重複説明を省略する場合がある。これは、以下の説明が不必要に冗長になるのを避け、当業者の理解を容易にするためである。なお、本発明者は、当業者が本開示を十分に理解するために添付図面および以下の説明を提供するのであって、これらによって特許請求の範囲に記載の主題を限定することを意図しない。以下の説明においては、同一または類似する構成要素には、同一の参照符号を付している。 An embodiment of a sample analyzer according to the present invention will be described below with reference to the accompanying drawings. In this specification, more detailed description than necessary may be omitted. For example, detailed descriptions of already well-known matters and redundant descriptions of substantially the same configurations may be omitted. This is to avoid unnecessary verbosity in the following description and to facilitate understanding by those skilled in the art. It should be noted that the present inventors provide the accompanying drawings and the following description for a full understanding of the present disclosure by those skilled in the art and are not intended to limit the claimed subject matter thereby. In the following description, identical or similar components are given the same reference numerals.

尿や血液等の試料の成分の分析法には、分析対象物であるアナライトと、アナライトと特異的に結合するリガンドとの結合反応が用いられる場合がある。このような分析法には、例えば、免疫測定法や遺伝子診断法が挙げられる。なお、尿や血液等の試料は医学、薬学分野では検体と呼ばれることがある。 2. Description of the Related Art Methods for analyzing components of samples such as urine and blood sometimes use a binding reaction between an analyte, which is an object to be analyzed, and a ligand that specifically binds to the analyte. Such assays include, for example, immunoassays and genetic diagnostics. Samples such as urine and blood are sometimes called specimens in the medical and pharmaceutical fields.

免疫測定法の一例として、競合法および非競合法(サンドイッチイムノアッセイ法)が挙げられる。また、遺伝子診断法の一例として、ハイブリダイゼーションによる遺伝子検出法が挙げられる。これら免疫測定法や遺伝子検出法は、例えば、磁性粒子(「磁性ビーズ」、「磁気粒子」または「磁気ビーズ」等と称することもある。)が用いられる。これら分析法の一例として、磁性粒子を用いたサンドイッチイムノアッセイ法で具体的に説明する。 Examples of immunoassays include competitive and non-competitive methods (sandwich immunoassays). Moreover, an example of the genetic diagnosis method is a gene detection method based on hybridization. These immunoassays and gene detection methods use, for example, magnetic particles (also referred to as “magnetic beads”, “magnetic particles” or “magnetic beads”). As an example of these analysis methods, a sandwich immunoassay method using magnetic particles will be specifically described.

図1に示すように、まず、磁性粒子302の表面に固定化された一次抗体304(以下、「磁性粒子固定化抗体305」と称する。)と測定対象物である試料に含まれる抗原306とを抗原抗体反応により結合させる。次に標識物質307が結合された2次抗体(以下、「標識抗体308」と称する。)と抗原306とを抗原抗体反応により結合させる。これにより、抗原306に対して磁性粒子固定化抗体305及び標識抗体308が結合した複合体310が得られる。 As shown in FIG. 1, first, a primary antibody 304 immobilized on the surface of a magnetic particle 302 (hereinafter referred to as "magnetic particle-immobilized antibody 305") and an antigen 306 contained in a sample to be measured are is bound by an antigen-antibody reaction. Next, the secondary antibody (hereinafter referred to as "labeled antibody 308") to which the labeling substance 307 is bound is bound to the antigen 306 by antigen-antibody reaction. As a result, a complex 310 in which the magnetic particle-immobilized antibody 305 and the labeled antibody 308 are bound to the antigen 306 is obtained.

この複合体310に結合した標識抗体308の標識物質307に基づくシグナルを検出し、検出したシグナルの量に応じて抗原濃度を測定する。標識物質307には、例えば、酵素(例えば、ペルオキシダーゼ、アルカリフォスファターゼ、ルシフェラーゼ等がある。)、化学発光物質、電気化学発光物質、蛍光物質等が挙げられ、それぞれの標識物質307に応じた色素、発光、蛍光等のシグナルを検出する。検出する光は試料そのものから発せられるわけではない。しかし、試料の成分の分析は試料中の抗原306の濃度等を測定することであり、抗原306が結合した複合体310が発光する。このため、本願明細書では、分かりやすさのため、試料が発光すると説明する場合がある。 A signal based on the labeled substance 307 of the labeled antibody 308 bound to the complex 310 is detected, and the antigen concentration is measured according to the amount of the detected signal. The labeling substance 307 includes, for example, enzymes (for example, peroxidase, alkaline phosphatase, luciferase, etc.), chemiluminescent substances, electrochemiluminescent substances, fluorescent substances, and the like. A signal such as luminescence or fluorescence is detected. The light to be detected does not originate from the sample itself. However, the analysis of the components of the sample is to measure the concentration of the antigen 306 in the sample, etc., and the complex 310 to which the antigen 306 binds emits light. Therefore, in this specification, for the sake of clarity, the sample may be described as emitting light.

上述した測定方法によって、試料分析用基板に設けた複数のチャンバー間で試料の移送を行い、試料の発光を検出することによって試料の成分分析を行う場合、試料の移送の手順、あるいは、試料分析用基板の回転による遠心力を利用して試料を移送したり保持したりするため、試料分析用基板を回転させた状態で試料の発光を検出する場合がある。 When the sample is transferred between a plurality of chambers provided on the sample analysis substrate by the above-described measurement method and the component analysis of the sample is performed by detecting the luminescence of the sample, the procedure for transferring the sample or the sample analysis Since the sample is transferred or held using the centrifugal force generated by the rotation of the substrate for analysis, the luminescence of the sample may be detected while the substrate for sample analysis is being rotated.

試料中の抗原306の濃度をより正確に測定するためには、試料中の可能な限り多くの抗原306と磁性粒子固定化抗体305と標識抗体308とが結合した複合体310を生成することが望ましい。そのためには、抗原306と、磁性粒子固定化抗体305および標識抗体308との間で可能な限り多くの抗原抗体反応を生じさせることが求められる。 In order to more accurately measure the concentration of the antigen 306 in the sample, it is possible to generate a complex 310 in which as many antigens 306 as possible in the sample, the magnetic particle-immobilized antibody 305 and the labeled antibody 308 are bound. desirable. For this purpose, it is required to generate as many antigen-antibody reactions as possible between the antigen 306 and the magnetic particle-immobilized antibodies 305 and labeled antibodies 308 .

従来の試料分析装置は、試料分析用基板の回転方向を次々と反転させる揺動動作を行うことで試料を含む溶液を撹拌していた。しかしながら従来の方法には、測定精度を向上させる多く余地が含まれていた。 A conventional sample analyzer agitates a solution containing a sample by performing an oscillating motion in which the direction of rotation of the substrate for sample analysis is reversed one after another. However, the conventional method contains a lot of room for improving the measurement accuracy.

例えば、溶液中では、磁性粒子と未反応の試料(血液等)との凝集が発生することがある。揺動動作によっては当該凝集を解消することはできないため、溶液の撹拌が十分なされたとは言えない場合があった。 For example, in solution, agglutination of magnetic particles and unreacted sample (such as blood) may occur. Since the agglomeration cannot be eliminated by the rocking motion, there are cases where it cannot be said that the solution is sufficiently agitated.

また、上述の発光の測定は、抗原抗体反応が生じなかった未反応物を除去した後の反応液を対象として行われる。そのため、未反応物を除去・分離する工程、すなわちB/F分離(Bound/Free Separation)の工程が必要である。ここで言う「反応物」は複合体であり、「未反応物」は例えば、検体中の未反応物、磁性粒子等に非特異的に吸着した物質、当該複合体の形成に関与しなかった標識物質である。 In addition, the above-mentioned measurement of luminescence is performed on the reaction solution after removing the unreacted substances in which the antigen-antibody reaction did not occur. Therefore, a step of removing and separating unreacted substances, that is, a step of B/F separation (Bound/Free Separation) is required. The "reactant" referred to here is the complex, and the "unreacted substance" is, for example, an unreacted substance in the sample, a substance nonspecifically adsorbed to magnetic particles, etc., which did not participate in the formation of the complex. It is a labeling substance.

B/F分離工程では、磁石を用いて磁性粒子が捕捉され、その状態で反応液が排出される。その後、チャンバーに洗浄液が分注される。このとき、洗浄のために試料分析装置が試料分析用基板を揺動させたとしても、磁石に吸引された凝集状態の磁性粒子の間に未反応の試料が捕捉されたままになっていることがあった。そのため、溶液の洗浄が十分なされたとは言えない場合があった。 In the B/F separation step, magnetic particles are captured using a magnet, and the reaction liquid is discharged in this state. A wash solution is then dispensed into the chamber. At this time, even if the sample analysis device rocks the sample analysis substrate for cleaning, the unreacted sample remains captured between the aggregated magnetic particles attracted to the magnet. was there. Therefore, there were cases where it could not be said that the solution was sufficiently washed.

本開示にかかる試料分析装置の一実施形態では、第1磁石ユニットおよび第2磁石ユニットはそれぞれ、試料分析用基板の第1面側、および第1面と反対の第2面側に配置されている。試料分析装置は、例えばB/F分離工程のチャンバー内の液体試料の撹拌時に、チャンバー内の磁性粒子が磁石ユニットに吸引される位置に、交互に第1磁石ユニットおよび第2磁石ユニットを移動させる。第1磁石ユニットが試料分析用基板に近付くように移動すると磁性粒子は第1面側に吸引され、第2磁石ユニットが試料分析用基板に近付くように移動すると磁性粒子は第2面側に吸引される。これにより、磁性粒子が撹拌されるため、洗浄効果を向上させることができ、試料中の特定成分の測定精度を高めることが可能になる。本開示によれば、試料中の特定成分の測定精度を高めることが可能な試料分析装置が提供される。すなわち本開示の試料分析装置の概要は以下のとおりである。
[項目1]
液体試料を保持した試料分析用基板を回転させ停止させて、前記液体試料中のアナライトと磁性粒子の表面に固定化されたリガンドとの結合反応を生じさせる試料分析装置であって、
前記試料分析用基板は、前記試料分析装置への装填および前記試料分析装置からの取り外しが可能であり、所定の厚さを有する板状のベース基板と、前記ベース基板内の、前記結合反応を生じさせる空間であるチャンバーとを有しており、
装填された前記試料分析用基板を支持するターンテーブルと、
前記ターンテーブルを回転させるモータと、
前記モータの回転および停止を制御する駆動回路と、
前記試料分析用基板の回転軸に垂直な第1面側に配置され、前記磁性粒子を吸引する吸引力を発生させる第1磁石ユニットと、
前記試料分析用基板の回転軸に垂直な、前記第1面と反対の第2面側に配置され、前記磁性粒子を吸引する吸引力を発生させる第2磁石ユニットと、
前記第1磁石ユニットを移動させて前記第1磁石ユニットと前記試料分析用基板との相対位置を変化させる第1アクチュエータと、
前記第2磁石ユニットを移動させて前記第2磁石ユニットと前記試料分析用基板との相対位置を変化させる第2アクチュエータと、
前記モータ、前記駆動回路、前記第1アクチュエータおよび前記第2アクチュエータの動作を制御する制御回路と
を備え、前記チャンバー内の液体試料の撹拌時に、前記第1アクチュエータおよび前記第2アクチュエータは、前記チャンバー内の前記磁性粒子が前記磁石ユニットに吸引される位置に、交互に前記第1磁石ユニットおよび前記第2磁石ユニットを移動させる、試料分析装置。
[項目2]
前記第1面は前記試料分析用基板に関して前記ターンテーブルと反対側の面であり、
前記第1磁石ユニットは、円またはリングの一部または全部である第1形状を有しており、
前記第2磁石ユニットは、円の一部の形状またはリングの一部または全部の形状である第2形状を有している、項目1に記載の試料分析装置。
[項目3]
前記第1磁石ユニットは、前記第1形状を有する単一の磁石、または、前記第1形状に沿って配置された複数の磁石を含み、
前記第2磁石ユニットは、前記第2形状を有する単一の磁石、または、前記第2形状に沿って配置された複数の磁石を含む、項目2に記載の試料分析装置。
[項目4]
前記試料分析用基板が所定の回転数で回転し、かつ、前記回転数において前記磁性粒子を吸引したときに前記磁性粒子の移動にT秒を要するとき、
前記第1アクチュエータは、周期2T秒で、前記第1磁石ユニットを前記試料分析用基板に接近させ、前記試料分析用基板から離隔させ、かつ、
前記第2アクチュエータは、周期2T秒で、前記第2磁石ユニットを前記試料分析用基板から離隔させ、前記試料分析用基板に接近させる、項目2または3に記載の試料分析装置。
[項目5]
前記第1形状および前記第2形状がリングの一部または全部である場合において、
前記第1アクチュエータおよび前記第2アクチュエータはそれぞれ、前記前記第1磁石ユニットおよび前記第2磁石ユニットを前記試料分析用基板に接近させ、前記リングの半径方向に関する中心位置を、前記試料分析用基板の回転中心から最も離れた前記チャンバー内の位置に一致させる、項目2から4のいずれかに記載の試料分析装置。
[項目6]
前記第1アクチュエータおよび前記第2アクチュエータはそれぞれ、前記試料分析用基板の回転軸に平行な方向に沿って前記第1磁石ユニットおよび前記第2磁石ユニットを移動させる、項目1から5のいずれかに記載の試料分析装置。
[項目7]
前記第2形状は前記リングの一部の形状であり、
前記第1アクチュエータおよび前記第2アクチュエータはそれぞれ、前記試料分析用基板の回転軸に垂直な方向に沿って前記第1磁石ユニットおよび前記第2磁石ユニットを移動させる、項目1から5のいずれかに記載の試料分析装置。
[項目8]
前記第1アクチュエータは、前記試料分析用基板の回転軸に平行な方向から見て、前記第1磁石ユニットと前記試料分析用基板とが重ならない位置まで前記第1磁石ユニットを離隔させ、
前記第2アクチュエータは、前記試料分析用基板の回転軸に平行な方向から見て、前記第2磁石ユニットと前記試料分析用基板とが重ならない位置まで前記第2磁石ユニットを離隔させる、項目7に記載の試料分析装置。
[項目9]
前記第1磁石ユニットおよび前記第2磁石ユニットは、前記試料分析用基板を挟んで対向しており、
前記第1磁石ユニットおよび前記第2磁石ユニットの前記試料分析用基板側の極性は互いに逆である、項目1から8のいずれかに記載の試料分析装置。
[項目10]
前記第2面側に配置された光センサをさらに備え、
前記結合反応の完了後、結合した前記アナライトと前記リガンドとの複合体に所定の発光基質を作用させて行う発光反応時に、
前記第2アクチュエータは前記チャンバー内の前記磁性粒子が前記磁石ユニットに吸引される位置に前記第2磁石ユニットを移動させ、
前記光センサは、前記発光反応によって生じた光を検出する、項目1から9のいずれかに記載の試料分析装置。
[項目11]
前記光センサは光電子倍増管である、項目10に記載の試料分析装置。
[項目12]
前記第1アクチュエータおよび前記第2アクチュエータは、ステッピングモータまたはリニアモータである、項目1から11のいずれかに記載の試料分析装置。
In one embodiment of the sample analysis device according to the present disclosure, the first magnet unit and the second magnet unit are arranged on the first surface side and the second surface side opposite to the first surface of the sample analysis substrate, respectively. there is The sample analyzer alternately moves the first magnet unit and the second magnet unit to a position where the magnetic particles in the chamber are attracted to the magnet unit, for example, when the liquid sample in the chamber is stirred in the B/F separation process. . When the first magnet unit moves closer to the sample analysis substrate, the magnetic particles are attracted to the first surface side, and when the second magnet unit moves closer to the sample analysis substrate, the magnetic particles are attracted to the second surface side. be done. As a result, the magnetic particles are agitated, so that the washing effect can be improved, and the measurement accuracy of the specific component in the sample can be improved. According to the present disclosure, there is provided a sample analyzer that can improve the measurement accuracy of a specific component in a sample. That is, the outline of the sample analyzer of the present disclosure is as follows.
[Item 1]
A sample analysis device for causing a binding reaction between an analyte in the liquid sample and a ligand immobilized on the surface of magnetic particles by rotating and stopping a sample analysis substrate holding a liquid sample, wherein
The sample analysis substrate can be loaded into and removed from the sample analysis device. and a chamber, which is the space in which the
a turntable supporting the loaded sample analysis substrate;
a motor for rotating the turntable;
a driving circuit for controlling rotation and stopping of the motor;
a first magnet unit arranged on the side of the first surface perpendicular to the rotation axis of the sample analysis substrate and generating an attractive force for attracting the magnetic particles;
a second magnet unit arranged on the second surface side opposite to the first surface perpendicular to the rotation axis of the sample analysis substrate and generating an attractive force for attracting the magnetic particles;
a first actuator that moves the first magnet unit to change the relative position between the first magnet unit and the sample analysis substrate;
a second actuator that moves the second magnet unit to change the relative position between the second magnet unit and the sample analysis substrate;
and a control circuit that controls operations of the motor, the drive circuit, the first actuator, and the second actuator, wherein the first actuator and the second actuator move the chamber during stirring of the liquid sample in the chamber. and moving the first magnet unit and the second magnet unit alternately to positions where the magnetic particles inside are attracted to the magnet unit.
[Item 2]
the first surface is a surface opposite to the turntable with respect to the sample analysis substrate;
the first magnet unit has a first shape that is part or all of a circle or a ring;
The sample analyzer according to item 1, wherein the second magnet unit has a second shape that is a partial circular shape or a partial or complete ring shape.
[Item 3]
the first magnet unit includes a single magnet having the first shape or a plurality of magnets arranged along the first shape;
The sample analyzer according to item 2, wherein the second magnet unit includes a single magnet having the second shape, or multiple magnets arranged along the second shape.
[Item 4]
When the sample analysis substrate rotates at a predetermined number of rotations, and when the magnetic particles are attracted at the number of rotations, it takes T seconds for the movement of the magnetic particles,
The first actuator causes the first magnet unit to approach and separate from the sample analysis substrate at a period of 2T seconds, and
4. The sample analyzer according to item 2 or 3, wherein the second actuator separates the second magnet unit from the sample analysis substrate and brings it closer to the sample analysis substrate at a period of 2T seconds.
[Item 5]
When the first shape and the second shape are part or all of a ring,
The first actuator and the second actuator cause the first magnet unit and the second magnet unit to approach the sample analysis substrate, respectively, and move the radial center position of the ring to the sample analysis substrate. 5. The sample analyzer according to any one of items 2 to 4, which is matched to a position in the chamber furthest from the center of rotation.
[Item 6]
6. Any one of items 1 to 5, wherein the first actuator and the second actuator respectively move the first magnet unit and the second magnet unit along a direction parallel to the axis of rotation of the sample analysis substrate. A sample analyzer as described.
[Item 7]
the second shape is the shape of a portion of the ring;
6. Any one of items 1 to 5, wherein the first actuator and the second actuator respectively move the first magnet unit and the second magnet unit along a direction perpendicular to the axis of rotation of the sample analysis substrate. A sample analyzer as described.
[Item 8]
the first actuator separates the first magnet unit to a position where the first magnet unit and the sample analysis substrate do not overlap when viewed in a direction parallel to the rotation axis of the sample analysis substrate;
Item 7, wherein the second actuator separates the second magnet unit to a position where the second magnet unit and the sample analysis substrate do not overlap when viewed in a direction parallel to the rotation axis of the sample analysis substrate. The sample analyzer according to .
[Item 9]
The first magnet unit and the second magnet unit face each other with the sample analysis substrate interposed therebetween,
The sample analyzer according to any one of items 1 to 8, wherein the polarities of the first magnet unit and the second magnet unit on the sample analysis substrate side are opposite to each other.
[Item 10]
Further comprising an optical sensor arranged on the second surface side,
After completion of the binding reaction, during a luminescence reaction performed by allowing a predetermined luminescent substrate to act on the bound complex of the analyte and the ligand,
the second actuator moves the second magnet unit to a position where the magnetic particles in the chamber are attracted to the magnet unit;
10. The sample analyzer according to any one of items 1 to 9, wherein the optical sensor detects light generated by the luminescent reaction.
[Item 11]
11. A sample analyzer according to item 10, wherein the optical sensor is a photomultiplier tube.
[Item 12]
12. The sample analyzer according to any one of items 1 to 11, wherein the first actuator and the second actuator are stepping motors or linear motors.

上述の例示的な態様によれば、第1磁石ユニットおよび第2磁石ユニットはそれぞれ、試料分析用基板の第1面側、および第1面と反対の第2面側に配置されている。試料分析装置は、試料分析用基板のチャンバー内の液体試料撹拌時に、チャンバー内の磁性粒子が磁石ユニットに吸引される位置に、交互に第1磁石ユニットおよび第2磁石ユニットを移動させる。第1磁石ユニットが試料分析用基板に近付くように移動すると磁性粒子は第1面側に吸引され、第2磁石ユニットが試料分析用基板に近付くように移動すると磁性粒子は第2面側に吸引される。チャンバー内の磁性粒子の移動によって液体試料が撹拌されるため、反応ムラを抑制しながら抗原抗体反応を生じさせることができる。これにより、試料中の特定成分の測定精度を高めることが可能になる。例えば試料と試薬との間で抗原抗体反応を生じさせようとするとき、上記動作を行ってチャンバー内を撹拌することで、反応を促進させることができる。また、例えばB/F分離工程で上記動作を行うことで、溶液の洗浄を実現することができる。 According to the exemplary aspect described above, the first magnet unit and the second magnet unit are respectively arranged on the first surface side and the second surface side opposite to the first surface of the substrate for sample analysis. The sample analyzer alternately moves the first magnet unit and the second magnet unit to positions where the magnetic particles in the chamber are attracted to the magnet unit when the liquid sample in the chamber of the sample analysis substrate is stirred. When the first magnet unit moves closer to the sample analysis substrate, the magnetic particles are attracted to the first surface side, and when the second magnet unit moves closer to the sample analysis substrate, the magnetic particles are attracted to the second surface side. be done. Since the liquid sample is agitated by the movement of the magnetic particles within the chamber, the antigen-antibody reaction can be caused while suppressing reaction unevenness. This makes it possible to improve the measurement accuracy of the specific component in the sample. For example, when an antigen-antibody reaction is to occur between a sample and a reagent, the reaction can be promoted by performing the above operation to stir the inside of the chamber. Also, by performing the above operation in the B/F separation step, for example, washing of the solution can be achieved.

以下、本開示の例示的な実施形態にかかる試料分析装置を説明する。 A sample analyzer according to an exemplary embodiment of the present disclosure will now be described.

図2Aおよび図2Bは、本開示の例示的な実施形態にかかる試料分析装置1の外観の一例を示す斜視図である。また、図3は、試料分析装置1のハードウェア構成例を示すブロック図である。 2A and 2B are perspective views showing an example of the appearance of the sample analyzer 1 according to the exemplary embodiment of the present disclosure. FIG. 3 is a block diagram showing a hardware configuration example of the sample analyzer 1. As shown in FIG.

試料分析装置1は、液体試料を保持した試料分析用基板100を回転させ停止させて、液体試料中のアナライトと磁性粒子の表面に固定化されたリガンドとの結合反応を生じさせる。 The sample analysis device 1 rotates and stops the sample analysis substrate 100 holding the liquid sample to cause binding reactions between analytes in the liquid sample and ligands immobilized on the surfaces of the magnetic particles.

試料分析装置1は、開閉可能なドア3を有する筐体2を備える。筐体2は、試料分析用基板100を回転可能に収納する収納室2aを有し、収納室2a内に、ターンテーブル10を有するモータ12が配置されている。ドア3を開けた状態で収納室2a内のターンテーブル10に試料分析用基板100を着脱可能である。ドア3を閉じることにより、ドア3は収納室2aに外部から光が入射しないように、収納室2aを遮光する。筐体2には分析結果を表示する表示装置5が設けられている。 A sample analyzer 1 includes a housing 2 having a door 3 that can be opened and closed. The housing 2 has a storage chamber 2a for rotatably storing the substrate for sample analysis 100, and a motor 12 having a turntable 10 is arranged in the storage chamber 2a. With the door 3 open, the sample analysis substrate 100 can be attached to and detached from the turntable 10 in the storage chamber 2a. By closing the door 3, the door 3 blocks light from entering the storage room 2a from outside. The housing 2 is provided with a display device 5 for displaying analysis results.

以下では、まず試料分析用基板100の構成を説明する。本実施形態では、試料分析用基板100を用いて分析される対象は血液であるとする。試料分析用基板100もまた、血液の分析に好適なチャンバーおよび試薬を有している。なお、本実施形態における試料分析用基板100は磁石およびバランサーを有していない。磁石は試料分析装置1側に設けられている。 First, the configuration of the sample analysis substrate 100 will be described below. In this embodiment, it is assumed that the object to be analyzed using the sample analysis substrate 100 is blood. The sample analysis substrate 100 also has chambers and reagents suitable for blood analysis. Note that the sample analysis substrate 100 in this embodiment does not have a magnet and a balancer. The magnet is provided on the sample analyzer 1 side.

図4Aおよび図4Bは、試料分析用基板100の平面図および分解斜視図である。試料分析用基板100は、遮光キャップ101と、回転軸102および回転軸102に平行な方向に所定の厚さを有する板形状の基板103とを備える。本実施形態では、試料分析用基板100の基板103は円形形状を有しているが、多角形形状、楕円形形状、扇形形状等を有していてもよい。基板103は、2つの主面103c、103dを有している。本実施形態では、主面103cおよび主面103dは互いに平行であり、主面103cおよび主面103dの間隔で規定される基板103の厚さは、基板103のどの位置でも同じである。しかし、主面103c、103dは、平行でなくてもよい。例えば、2つの主面の一部分が非平行または平行であってもよいし、全体的に非平行であってもよい。また、基板103の主面103c、103dの少なくとも一方に凹部または凸部を有する構造を備えていてもよい。 4A and 4B are a plan view and an exploded perspective view of the sample analysis substrate 100. FIG. The sample analysis substrate 100 includes a light shielding cap 101 , a rotation axis 102 and a plate-shaped substrate 103 having a predetermined thickness in a direction parallel to the rotation axis 102 . In this embodiment, the substrate 103 of the sample analysis substrate 100 has a circular shape, but may have a polygonal shape, an elliptical shape, a sector shape, or the like. The substrate 103 has two principal surfaces 103c and 103d. In this embodiment, the main surface 103c and the main surface 103d are parallel to each other, and the thickness of the substrate 103 defined by the distance between the main surface 103c and the main surface 103d is the same at any position on the substrate 103. FIG. However, the main surfaces 103c, 103d do not have to be parallel. For example, the two major surfaces may be partially non-parallel, parallel, or entirely non-parallel. Moreover, at least one of the main surfaces 103c and 103d of the substrate 103 may have a structure having a concave portion or a convex portion.

遮光キャップ101は、一対の遮光部101aと連結部101bとを含み、遮光部101aが基板103の主面103c、103dの一部を覆うように基板103に取り付けられている。本実施形態では、遮光部101aは略扇形の形状を有している。遮光部101aは、複合体310から生じる発光を透過しない材料によって形成されている。遮光部101aは、基板103の主面103c、103dのうち、光検出器30の受光面30aに対向する位置に設けられていることが好ましい。光検出器30は、測定チャンバー116における試料の発光を検出する際に用いられ、受光面30aは光を受ける領域である。また、主面103cまたは主面103dにおける、遮光部101aが位置する領域の中心角αは、測定チャンバー116が位置する領域の中心角βよりも大きいことが好ましい。 The light-shielding cap 101 includes a pair of light-shielding portions 101a and connecting portions 101b, and is attached to the substrate 103 so that the light-shielding portions 101a partially cover the main surfaces 103c and 103d of the substrate 103. As shown in FIG. In this embodiment, the light shielding portion 101a has a substantially sector shape. The light shielding portion 101a is made of a material that does not transmit light emitted from the composite 310 . The light shielding portion 101a is preferably provided at a position facing the light receiving surface 30a of the photodetector 30 on the main surfaces 103c and 103d of the substrate 103. As shown in FIG. The photodetector 30 is used to detect the luminescence of the sample in the measurement chamber 116, and the light receiving surface 30a is the area that receives the light. In addition, it is preferable that the central angle α of the area where the light shielding portion 101a is located on the main surface 103c or the main surface 103d be larger than the central angle β of the area where the measurement chamber 116 is located.

試料分析用基板100の基板103は、ベース基板103aとカバー基板103bとによって構成されている。 The substrate 103 of the sample analysis substrate 100 is composed of a base substrate 103a and a cover substrate 103b.

試料分析用基板100は、基板100内に位置する複数のチャンバーおよび、各チャンバー間を接続する流路を有する。複数のチャンバーは、例えば反応チャンバー、測定チャンバー、基質保持チャンバー、回収チャンバーである。 The substrate for sample analysis 100 has a plurality of chambers located within the substrate 100 and channels connecting the chambers. The multiple chambers are, for example, reaction chambers, measurement chambers, substrate holding chambers, and collection chambers.

複数のチャンバーの各々の空間はベース基板103a内に形成され、カバー基板103bでベース基板103aを覆うことにより、それぞれの空間の上部および下部が形成される。つまり、複数のチャンバーの各々の空間は試料分析用基板100の少なくとも1つの内面によって規定されている。流路もベース基板103aに形成されており、カバー基板103bでベース基板103aを覆うことにより、流路の空間の上部および下部が形成される。このように、各チャンバーおよび流路は基板103に閉じ込められている。 Each space of the plurality of chambers is formed within the base substrate 103a, and the top and bottom of each space are formed by covering the base substrate 103a with the cover substrate 103b. That is, each space of the plurality of chambers is defined by at least one inner surface of the sample analysis substrate 100 . The channel is also formed in the base substrate 103a, and the upper and lower spaces of the channel are formed by covering the base substrate 103a with the cover substrate 103b. Thus, each chamber and channel is confined to substrate 103 .

図5は、試料分析用基板100に設けられた複数のチャンバーの位置を示す上面図である。試料分析用基板100は、例えば、点着チャンバー110、血漿定量チャンバー112、反応チャンバー114、測定チャンバー116、基質保持チャンバー118、回収チャンバー120を有している。図5にも、光検出器30の受光面30aの位置が示されている。 FIG. 5 is a top view showing positions of a plurality of chambers provided on the sample analysis substrate 100. FIG. The sample analysis substrate 100 has, for example, a spotting chamber 110, a plasma quantification chamber 112, a reaction chamber 114, a measurement chamber 116, a substrate holding chamber 118, and a collection chamber 120. FIG. 5 also shows the position of the light receiving surface 30a of the photodetector 30. As shown in FIG.

図6は、試料分析用基板100に予め保持されている洗浄液130、基質液132、一次抗体134および二次抗体136の位置を示す上面図である。一次抗体134は磁性粒子固定化抗体305である。二次抗体136は標識抗体308である。磁性粒子固定化抗体305および標識抗体308は乾燥された状態で反応チャンバー114に担持されている。これらは「ドライ化試薬」とも呼ばれ得る。 FIG. 6 is a top view showing the positions of the washing liquid 130, the substrate liquid 132, the primary antibody 134 and the secondary antibody 136 held in advance on the sample analysis substrate 100. FIG. Primary antibody 134 is magnetic particle-immobilized antibody 305 . Secondary antibody 136 is labeled antibody 308 . Magnetic particle-immobilized antibody 305 and labeled antibody 308 are carried in reaction chamber 114 in a dried state. These may also be referred to as "dried reagents".

図7は、検体である血液190が点着された点着チャンバー110を示している。点着時、使用者は支点103を中心に遮光キャップ101を時計回りに回転させ、点着部192を露出させる。使用者は、例えば注射筒194を用いて血液を点着部から点着させる。 FIG. 7 shows a spotting chamber 110 spotted with blood 190, which is a specimen. When spotting, the user rotates the light shielding cap 101 clockwise around the fulcrum 103 to expose the spotting portion 192 . The user uses the syringe 194, for example, to apply blood from the application portion.

血液190は、試料分析装置1による試料分析用基板100の高速回転によって遠心分離される。遠心分離された血漿は、試料分析装置1による試料分析用基板100の回転、揺動および回転の停止により、図5に示す血漿定量チャンバー112から流路を通って移送され、反応チャンバー114に到達する。血漿は、抗原306を含む試料溶液である。反応チャンバー114では当該試料溶液によってドライ化試薬が溶解されて抗原抗体反応(免疫反応)が生じる。それにより複合体310が形成される。 Blood 190 is centrifuged by high-speed rotation of sample analysis substrate 100 by sample analyzer 1 . The centrifuged plasma is transferred from plasma quantification chamber 112 shown in FIG. do. Plasma is a sample solution containing antigens 306 . In the reaction chamber 114, the sample solution dissolves the dried reagent, causing an antigen-antibody reaction (immune reaction). A composite 310 is thereby formed.

背景技術欄で説明したように、抗原抗体反応が生じると、反応物と未反応物とを分離するB/F分離の工程が必要である。ここで言う「反応物」は複合体であり、「未反応物」は例えば、検体中の未反応物、当該複合体の形成に関与しなかった標識物質である。 As explained in the background art section, when an antigen-antibody reaction occurs, a B/F separation step is required to separate reactants and unreacted substances. The “reactant” referred to here is the complex, and the “unreacted substance” is, for example, an unreacted substance in the sample, a labeling substance that did not participate in the formation of the complex.

本開示による一実施形態では、磁石は試料分析装置1に設けられており、試料分析用基板100には磁石およびバランサーは不要である。試料分析装置1は磁石を試料分析用基板100に近付くよう制御して磁性粒子を捕捉し、未反応物を除去する。 In one embodiment according to the present disclosure, the magnet is provided in the sample analysis device 1 and the sample analysis substrate 100 does not require a magnet and a balancer. The sample analyzer 1 controls the magnet to approach the sample analysis substrate 100 to trap magnetic particles and remove unreacted substances.

再び図3を参照し、試料分析装置1のハードウェア構成を説明する。 The hardware configuration of the sample analyzer 1 will be described with reference to FIG. 3 again.

試料分析装置1は、開閉検出スイッチ4と、表示装置5と、モータ12と、駆動回路14、20および60と、第1磁石ユニット16と、第1アクチュエータ18と、制御回路22と、光検出器30と、エンコーダ34と、通信回路36と、第2磁石ユニット56と、第2アクチュエータ58とを有している。 The sample analyzer 1 includes an open/close detection switch 4, a display device 5, a motor 12, drive circuits 14, 20 and 60, a first magnet unit 16, a first actuator 18, a control circuit 22, and a photodetector. It has an instrument 30 , an encoder 34 , a communication circuit 36 , a second magnet unit 56 and a second actuator 58 .

開閉検出スイッチ4は、例えば、ドア3の開閉を検出するモーメンタリスイッチであるが、他の任意のスイッチを採用し得る。 The open/close detection switch 4 is, for example, a momentary switch that detects opening/closing of the door 3, but any other switch may be employed.

モータ12は、装填された試料分析用基板100を支持するターンテーブル10を有し、試料分析用基板100を回転軸102の周りに回転させる。回転軸102は重力方向に対して0°以上90°以下の角度で重力方向から傾いていてもよい。モータ12は、例えば、試料分析用基板100を100rpmから8000rpmの範囲で回転させることができる。回転速度は各チャンバーおよび流路の形状、液体の物性、液体の移送や処理のタイミング等に応じて決定される。モータ12は例えば、直流モータ、ブラシレスモータ、超音波モータ等であってよい。 The motor 12 has a turntable 10 that supports the loaded sample analysis substrate 100 and rotates the sample analysis substrate 100 around a rotation axis 102 . The rotating shaft 102 may be inclined with respect to the direction of gravity at an angle of 0° or more and 90° or less. The motor 12 can, for example, rotate the sample analysis substrate 100 in the range of 100 rpm to 8000 rpm. The rotation speed is determined according to the shape of each chamber and channel, the physical properties of the liquid, the timing of transfer and treatment of the liquid, and the like. Motor 12 may be, for example, a DC motor, a brushless motor, an ultrasonic motor, or the like.

駆動回路14はモータ12の回転および停止を制御する。具体的には、駆動回路14は、制御回路22からの指令に基づき、試料分析用基板100を時計回りまたは反時計回りに回転させ、揺動させ、回転および揺動の停止を制御する。 A drive circuit 14 controls rotation and stopping of the motor 12 . Specifically, the drive circuit 14 rotates the substrate for sample analysis 100 clockwise or counterclockwise based on a command from the control circuit 22, rocks it, and controls the stop of rotation and rocking.

第1磁石ユニット16は1つまたは複数の磁石を有しており、当該1つまたは複数の磁石により、磁性粒子を吸引する力(磁力)を発生させる。第1磁石ユニット16は、「円またはリング」の「一部または全部」の形状を有している。「円またはリング」の「一部または全部」の形状は、1つの磁石の形状により、または、複数の磁石の配置により実現される。第1磁石ユニット16の具体的な構成は後述する。第1磁石ユニット16には、歯が設けられた第1ラック44が取り付けられている。 The first magnet unit 16 has one or more magnets, and the one or more magnets generate a force (magnetic force) that attracts magnetic particles. The first magnet unit 16 has a “partial or whole” shape of a “circle or ring”. A "partial or full" shape of a "circle or ring" can be realized by the shape of one magnet or by an arrangement of multiple magnets. A specific configuration of the first magnet unit 16 will be described later. A first rack 44 provided with teeth is attached to the first magnet unit 16 .

第1アクチュエータ18は、第1ラック44を長手方向に移動させることにより第1磁石ユニット16を移動させ、第1磁石ユニット16と試料分析用基板100との相対位置を変化させる。第1アクチュエータ18の動作は駆動回路20によって制御される。第1アクチュエータ18の一例は、回転運動を行う電動モータである。第1アクチュエータ18は、例えば、ステッピングモータ、リニアモータである。第1アクチュエータ18に関する構成および動作の詳細は後に図11および図12等を参照しながら説明する。 The first actuator 18 moves the first magnet unit 16 by moving the first rack 44 in the longitudinal direction, thereby changing the relative position between the first magnet unit 16 and the sample analysis substrate 100 . The operation of first actuator 18 is controlled by drive circuit 20 . An example of the first actuator 18 is an electric motor that performs rotary motion. The first actuator 18 is, for example, a stepping motor or a linear motor. Details of the configuration and operation of the first actuator 18 will be described later with reference to FIGS. 11 and 12 and the like.

制御回路22は、モータ12、第1アクチュエータ18、および、駆動回路14および20の動作を制御する。 Control circuit 22 controls the operation of motor 12 , first actuator 18 , and drive circuits 14 and 20 .

光検出器30は、試料分析用基板100の測定チャンバー116(図5)に保持された複合体310(図1)に結合した標識抗体308の標識物質307から生じる発光を検出する。ここで発光とは、蛍光、りん光等の発光原理は問わず、光子が放出されることをいう。つまり、光検出器30は、標識物質307から生じて受光面30aに入射した、発光の光子数を測定する。 The photodetector 30 detects luminescence generated from the labeled substance 307 of the labeled antibody 308 bound to the complex 310 (FIG. 1) held in the measurement chamber 116 (FIG. 5) of the sample analysis substrate 100 . Here, luminescence means emission of photons regardless of the principle of luminescence such as fluorescence or phosphorescence. That is, the photodetector 30 measures the number of luminescence photons generated from the labeling substance 307 and incident on the light receiving surface 30a.

光検出器30の受光面30aは、試料分析用基板100をターンテーブル10に取り付けた状態で、測定チャンバー116が位置する同心円の下方、すなわち、試料分析用基板100に関してターンテーブル10と同じ側に配置される。 With the sample analysis substrate 100 attached to the turntable 10, the light receiving surface 30a of the photodetector 30 is located below the concentric circle where the measurement chamber 116 is positioned, that is, on the same side as the turntable 10 with respect to the sample analysis substrate 100. placed.

光検出器30は、例えば、レンズシャッターおよび光子カウンタ(いずれも図示せず)を有する光電子増倍管である。レンズシャッターは、光検出器30の受光面30aと、試料分析用基板100との間に設けられて、受光面30aの開閉を制御する。シャッターを開いた状態では、回転する試料分析用基板100の測定チャンバー116に保持された複合体310から生じる発光が受光面30aに入射する。また、シャッターが閉じた状態では、発光を遮断する。シャッターは、機械的構造を備えていてもよいし、液晶シャッター等であってもよい。光電子増倍管は、受光面30aにおいて標識物質307から生じる発光の光子を受け取って光子の数に応じた数のパルスをカウントし、カウント数を出力する。 Photodetector 30 is, for example, a photomultiplier tube with a lens shutter and a photon counter (both not shown). The lens shutter is provided between the light receiving surface 30a of the photodetector 30 and the sample analysis substrate 100, and controls opening and closing of the light receiving surface 30a. When the shutter is open, light emitted from the composite 310 held in the measurement chamber 116 of the rotating substrate for sample analysis 100 is incident on the light receiving surface 30a. Also, when the shutter is closed, light emission is cut off. The shutter may have a mechanical structure, or may be a liquid crystal shutter or the like. The photomultiplier tube receives photons emitted from the labeling substance 307 on the light receiving surface 30a, counts the number of pulses corresponding to the number of photons, and outputs the count number.

制御回路22は、光子のカウント数を、試料分析用基板100の回転角度と関連付けて光子カウント分布信号を生成する。 The control circuit 22 associates the photon count number with the rotation angle of the sample analysis substrate 100 to generate a photon count distribution signal.

エンコーダ34は、モータ12の回転軸に取り付けられ、モータ12の回転角度を検出する、いわゆるロータリーエンコーダである。ターンテーブル10に試料分析用基板100を取り付けると、試料分析用基板100が回転軸102周りに回転するので、エンコーダ34の出力は、試料分析用基板100の回転角度を検出し、回転角度信号として利用できる。回転角度信号は、例えば、所定の角度ごとに出力されるパルスを含むパルス信号である。モータ12がブラシレスモータである場合には、エンコーダ34に代えて、ブラシレスモータに備えられているホール素子およびホール素子の出力信号を受け取り、回転軸201aの角度を示す回転角度信号を出力する検出回路を採用し得る。制御回路22は、回転角度信号を利用して光子カウント分布信号を生成し、光子カウント分布信号を利用して測定チャンバー116からの光子数を測定することができる。 The encoder 34 is a so-called rotary encoder that is attached to the rotating shaft of the motor 12 and detects the rotation angle of the motor 12 . When the sample analysis substrate 100 is attached to the turntable 10, the sample analysis substrate 100 rotates around the rotation shaft 102. Therefore, the output of the encoder 34 detects the rotation angle of the sample analysis substrate 100, and the rotation angle signal is Available. The rotation angle signal is, for example, a pulse signal including pulses output at predetermined angles. When the motor 12 is a brushless motor, instead of the encoder 34, a Hall element provided in the brushless motor and a detection circuit that receives an output signal from the Hall element and outputs a rotation angle signal indicating the angle of the rotation shaft 201a. can be adopted. The control circuit 22 can utilize the rotation angle signal to generate a photon count distribution signal and utilize the photon count distribution signal to measure the number of photons from the measurement chamber 116 .

表示装置5は、光子の測定値を表示する。表示装置5は、液晶表示パネル、有機ELパネルなどの表示パネルであり、制御回路22から出力される、光子の測定値および/または測定値に基づく情報、過去の測定値を表示する。なお表示装置5は、他の情報、例えば試料分析装置1の操作方法、操作のための入力を促す情報等を表示する。 The display device 5 displays the photon measurements. The display device 5 is a display panel such as a liquid crystal display panel or an organic EL panel, and displays measured values of photons output from the control circuit 22 and/or information based on the measured values and past measured values. Note that the display device 5 displays other information such as an operation method of the sample analyzer 1, information prompting an input for operation, and the like.

光子の測定値は、通信回路36を介して試料分析装置1の外部に送信されてもよい。通信回路36は、例えばイーサネット(登録商標)規格による有線通信を行う回路、または例えばWi-Fi(登録商標)規格による無線通信を行う回路であり得る。 The photon measurement value may be transmitted to the outside of the sample analyzer 1 via the communication circuit 36 . The communication circuit 36 may be, for example, a circuit that performs wired communication according to the Ethernet (registered trademark) standard, or a circuit that performs wireless communication according to, for example, the Wi-Fi (registered trademark) standard.

第2磁石ユニット56は1つまたは複数の磁石を有しており、当該1つまたは複数の磁石により、磁性粒子を吸引する力(磁力)を発生させる。第2磁石ユニット56は、「円またはリング」の「一部または全部」の形状を有している。「円またはリング」の「一部または全部」の形状は、1つの磁石の形状により、または、複数の磁石の配置により実現される。第2磁石ユニット56の具体的な構成は後述する。第2磁石ユニット56には、歯が設けられた第1ラック44が取り付けられている。 The second magnet unit 56 has one or more magnets, and the one or more magnets generate a force (magnetic force) that attracts magnetic particles. The second magnet unit 56 has a “partial or whole” shape of a “circle or ring”. A "partial or full" shape of a "circle or ring" can be realized by the shape of one magnet or by an arrangement of multiple magnets. A specific configuration of the second magnet unit 56 will be described later. A toothed first rack 44 is attached to the second magnet unit 56 .

第2アクチュエータ58は、第2ラック84を長手方向に移動させることにより第2磁石ユニット56を移動させ、第2磁石ユニット56と試料分析用基板100との相対位置を変化させる。第2アクチュエータ58の動作は駆動回路60によって制御される。第2アクチュエータ58の一例は、回転運動を行う電動モータである。第2アクチュエータ58は、例えば、ステッピングモータ、リニアモータである。第2アクチュエータ58に関する構成および動作の詳細もまた、後に図11および図12等を参照しながら説明する。 The second actuator 58 moves the second magnet unit 56 by moving the second rack 84 in the longitudinal direction, thereby changing the relative position between the second magnet unit 56 and the sample analysis substrate 100 . Operation of the second actuator 58 is controlled by a drive circuit 60 . An example of the second actuator 58 is an electric motor that performs rotary motion. The second actuator 58 is, for example, a stepping motor or linear motor. Details of the configuration and operation of the second actuator 58 will also be described later with reference to FIGS. 11 and 12 and the like.

制御回路22は、内部のメモリ22aに記憶されたコンピュータプログラムを実行することにより、上述の試料分析装置1の動作を実現するとともに、駆動回路20を制御して、後述する第1磁石ユニット16と試料分析用基板100との相対位置、および、第2磁石ユニット56と試料分析用基板100との相対位置を変化させる。 The control circuit 22 implements the operation of the sample analyzer 1 described above by executing a computer program stored in an internal memory 22a, and controls the drive circuit 20 to operate the first magnet unit 16 and the magnet unit 16, which will be described later. The relative position with respect to the sample analysis substrate 100 and the relative position between the second magnet unit 56 and the sample analysis substrate 100 are changed.

コンピュータプログラムが読み込まれたメモリ22a、例えば、コンピュータプログラムを格納するRAMは、揮発性であってもよいし、不揮発性であってもよい。揮発性RAMは、電力を供給しなければ記憶している情報を保持できないRAMである。たとえば、ダイナミック・ランダム・アクセス・メモリ(DRAM)は、典型的な揮発性RAMである。不揮発性RAMは、電力を供給しなくても情報を保持できるRAMである。たとえば、磁気抵抗RAM(MRAM)、抵抗変化型メモリ(ReRAM)、強誘電体メモリ(FeRAM)は、不揮発性RAMの例である。揮発性RAMおよび不揮発性RAMはいずれも、一時的でない(non-transitory)、コンピュータ読み取り可能な記録媒体の例である。また、ハードディスクのような磁気記録媒体や、光ディスクのような光学的記録媒体も一時的でない、コンピュータ読み取り可能な記録媒体の例である。すなわち本開示にかかるコンピュータプログラムは、コンピュータプログラムを電波信号として伝搬させる、大気などの媒体(一時的な媒体)以外の、一時的でない種々のコンピュータ読み取り可能な媒体に記録され得る。 The memory 22a loaded with the computer program, eg, the RAM storing the computer program, may be volatile or non-volatile. Volatile RAM is RAM that cannot retain stored information without power. For example, dynamic random access memory (DRAM) is a typical volatile RAM. Non-volatile RAM is RAM that can retain information without being powered. For example, magnetoresistive RAM (MRAM), resistance change memory (ReRAM), and ferroelectric memory (FeRAM) are examples of non-volatile RAM. Both volatile RAM and non-volatile RAM are examples of non-transitory, computer-readable storage media. Magnetic recording media such as hard disks and optical recording media such as optical discs are also examples of non-transitory computer-readable recording media. That is, the computer program according to the present disclosure can be recorded on various non-transitory computer-readable media other than media such as the atmosphere (transitory media) that propagate the computer program as radio signals.

次に、磁石ユニット16および第2磁石ユニット56の構成、および、各磁石ユニットと試料分析用基板100との相対位置を変化させるための試料分析装置1の動作を説明する。 Next, the configuration of the magnet unit 16 and the second magnet unit 56 and the operation of the sample analyzer 1 for changing the relative position between each magnet unit and the sample analysis substrate 100 will be described.

以下では説明の簡略化のため、第1磁石ユニット16を例示して説明するが、第2磁石ユニット56も同様である。下記の説明における「第1磁石ユニット16」を「第2磁石ユニット56」に置き換え、「磁石40」を「磁石80」に、「ケース42」を「ケース82」に置き換えて読めばよい。同様に、「第1アクチュエータ18」を「第2アクチュエータ58」に、「駆動回路20」を「駆動回路60」に、「第1ラック44」を「第2ラック84」に、「ピニオンギア18a」を「ピニオンギア58a」に、「ガイド50」を「ガイド90」に置き換えて読めばよい。必要に応じて、第2磁石ユニット56に関する構成および動作を説明する。 To simplify the explanation, the first magnet unit 16 will be described as an example, but the second magnet unit 56 is the same. In the following description, "first magnet unit 16" should be replaced with "second magnet unit 56", "magnet 40" should be replaced with "magnet 80", and "case 42" should be replaced with "case 82". Similarly, the "first actuator 18" is replaced with the "second actuator 58", the "drive circuit 20" is replaced with the "drive circuit 60", the "first rack 44" is replaced with the "second rack 84", and the "pinion gear 18a" is replaced. ' is replaced with 'pinion gear 58a', and 'guide 50' is replaced with 'guide 90'. The configuration and operation of the second magnet unit 56 will be described as necessary.

なお、第1磁石ユニット16および第2磁石ユニット56は互いに独立しており、同じ構成を採用する必要はない。例えば第2磁石ユニット56の磁石80の形状は、後述の第1磁石ユニット16の磁石40の形状と異なっていてもよい。磁石80を収容するケース82の形状も同様である。 Note that the first magnet unit 16 and the second magnet unit 56 are independent of each other and do not need to have the same configuration. For example, the shape of the magnet 80 of the second magnet unit 56 may be different from the shape of the magnet 40 of the first magnet unit 16 described below. The shape of the case 82 that accommodates the magnet 80 is the same.

図8は、第1磁石ユニット16の分解斜視図である。また図9は第1磁石ユニット16の平面図である。図8および図9に示されるように、第1磁石ユニット16は磁石40およびケース42を有している。ケース42は磁石40を収容し、ケース42内で固定している。 FIG. 8 is an exploded perspective view of the first magnet unit 16. FIG. 9 is a plan view of the first magnet unit 16. FIG. As shown in FIGS. 8 and 9, the first magnet unit 16 has magnets 40 and a case 42 . The case 42 accommodates the magnet 40 and fixes it within the case 42 .

磁石40は、例えば、磁気粒子を用いた競合法による免疫測定法に一般的に用いられる磁石である。具体的には、磁石40としてフェライト磁石、ネオジム磁石等を用いることができる。特に、ネオジム磁石は磁力が強いため、磁石40として好適である。 The magnet 40 is, for example, a magnet commonly used in competitive immunoassays using magnetic particles. Specifically, a ferrite magnet, a neodymium magnet, or the like can be used as the magnet 40 . In particular, a neodymium magnet is suitable for the magnet 40 because of its strong magnetic force.

図8および図9では磁石40は半円のリング形状を有しているが、これは一例である。他の形状を採用してもよい。図10A~図10Dは、本実施形態において採用することが可能な磁石40の形状の例を示している。図10Aは先に説明した半円のリング形状の磁石40aを示している。図10Bは、円形の中央部分に開口を有するリング形状の磁石40bを示している。図10Cは、扇形形状の磁石40cを示している。図10Dは、円形状の磁石40dを示している。ケース42の形状は、採用する磁石40a~40dのいずれかの形状に適合させればよい。 8 and 9, the magnet 40 has a semicircular ring shape, but this is an example. Other shapes may be used. 10A-10D show examples of shapes of magnets 40 that can be employed in this embodiment. FIG. 10A shows the semicircular ring-shaped magnet 40a previously described. FIG. 10B shows a ring shaped magnet 40b with an opening in the circular central portion. FIG. 10C shows a fan-shaped magnet 40c. FIG. 10D shows a circular magnet 40d. The shape of the case 42 may be adapted to the shape of any one of the magnets 40a to 40d to be employed.

図10A~図10Dは、1つの磁石に関する形状の例であったが、複数の磁石を利用してもよい。図10E~図10Hは、複数の磁石を用いて、図10A~図10Dに示す磁石40a~40dと同等の形状を実現した例を示している。図10Eは半円のリング形状に配置された複数の磁石群40eを示している。図10Fは、円形の中央部分に開口を有するリング形状に配置された磁石群40fを示している。図10Gは、扇形形状に配置された磁石群40gを示している。図10Hは、円形状に配置された磁石群40hを示している。ケース42の形状は、採用する磁石群40e~40hのいずれかの形状に適合させればよい。 Although FIGS. 10A-10D were examples of shapes for one magnet, multiple magnets may be utilized. FIGS. 10E-10H show examples of using multiple magnets to achieve shapes equivalent to the magnets 40a-40d shown in FIGS. 10A-10D. FIG. 10E shows a plurality of magnet groups 40e arranged in a semicircular ring shape. FIG. 10F shows a magnet group 40f arranged in a ring shape with an opening in the central part of the circle. FIG. 10G shows a magnet group 40g arranged in a fan shape. FIG. 10H shows a magnet group 40h arranged in a circle. The shape of the case 42 may be adapted to the shape of any one of the magnet groups 40e to 40h to be employed.

図10A~図10Hでは、磁石は1個であり、または複数の磁石群が1つにまとめられているが、複数の磁石が互いに離れていてもよい。その場合、例えば半円のリング形状と扇形とを組み合わせることもできる。図10A~図10Hの例では、リング形状(半円または円)、扇形形状および円形状のいずれも、真円に基づいた形状である必要はなく、楕円に基づいた形状であってもよい。本実施形態では、磁石または磁石群は、円または楕円の中心角の和が90度以上360度以下の円またはリングの一部または全部の形状を有していればよい。 Although FIGS. 10A-10H show a single magnet or group of magnets grouped together, the magnets may be separated from each other. In that case, for example, a semicircular ring shape and a fan shape can be combined. In the examples of FIGS. 10A-10H, none of the ring shape (semicircle or circle), sector shape, and circular shape need to be based on a perfect circle, and may be based on an ellipse. In this embodiment, the magnet or magnet group may have a shape of a part or the whole of a circle or a ring in which the sum of central angles of circles or ellipses is 90 degrees or more and 360 degrees or less.

次に、各磁石ユニットを駆動させる機構および動作の詳細を説明する。当該機構は試料分析装置1の筐体2内に設けられている。以下では必要な構成要素の図示および説明にとどめ、例えば、筐体2およびドア3等の、特に必要でない構成要素の図示および説明は省略する。 Next, the details of the mechanism and operation for driving each magnet unit will be described. The mechanism is provided inside the housing 2 of the sample analyzer 1 . In the following, only necessary constituent elements are shown and explained, and illustration and explanation of unnecessary constituent elements such as the housing 2 and the door 3 are omitted.

図11および図12は、第1磁石ユニット16と、第2磁石ユニット56と、試料分析用基板100との位置関係の例を示している。本実施形態では、第1磁石ユニット16は試料分析用基板100に関してターンテーブル10とは反対側に位置し、第2磁石ユニット56は試料分析用基板100に関してターンテーブル10と同じ側に位置する。また本実施形態では、B/F分離中、および/または発光の測定中は、試料分析用基板100の回転軸102に平行な方向から見て、第1磁石ユニット16および第2磁石ユニット56は同時に試料分析用基板100と重ならないよう駆動される。よって、第1磁石ユニット16のみが試料分析用基板100と重なる、第2磁石ユニット56のみが試料分析用基板100と重なる、または、第1磁石ユニット16および第2磁石ユニット56がいずれも試料分析用基板100と重ならない、のいずれかの態様になるよう、制御回路22が第1磁石ユニット16および第2磁石ユニット56の動作を制御する。図11および図12の例では、第1磁石ユニット16のみが試料分析用基板100と重なっており、第2磁石ユニット56は試料分析用基板100と重ならない位置に退避されている。 11 and 12 show examples of the positional relationship between the first magnet unit 16, the second magnet unit 56, and the sample analysis substrate 100. FIG. In this embodiment, the first magnet unit 16 is located on the opposite side of the sample analysis substrate 100 from the turntable 10 , and the second magnet unit 56 is located on the same side of the sample analysis substrate 100 as the turntable 10 . Further, in this embodiment, during B/F separation and/or during luminescence measurement, the first magnet unit 16 and the second magnet unit 56 are At the same time, it is driven so as not to overlap the sample analysis substrate 100 . Therefore, only the first magnet unit 16 overlaps the sample analysis substrate 100, only the second magnet unit 56 overlaps the sample analysis substrate 100, or both the first magnet unit 16 and the second magnet unit 56 overlap the sample analysis substrate 100. The control circuit 22 controls the operation of the first magnet unit 16 and the second magnet unit 56 so that the first magnet unit 16 and the second magnet unit 56 do not overlap with the substrate 100 for the magnetic tape. 11 and 12, only the first magnet unit 16 overlaps the sample analysis substrate 100, and the second magnet unit 56 is retracted to a position where it does not overlap the sample analysis substrate 100. FIG.

なお、上述のとおり、第1磁石ユニット16および第2磁石ユニット56にそれぞれ利用される磁石の個数および形状は任意であり、かつ独立して決定され得る。 As described above, the number and shape of magnets used in the first magnet unit 16 and the second magnet unit 56 are arbitrary and can be determined independently.

以下、第1磁石ユニット16を駆動方法の詳細を説明する。 The details of the method for driving the first magnet unit 16 will be described below.

第1磁石ユニット16は、第1アクチュエータ18によって駆動される。第1アクチュエータ18が回転運動を行う電動モータであるとする。当該電動モータの回転軸にはピニオンギア18aが取り付けられており、第1ラック44と噛み合っている。駆動回路20は、制御回路22からの指令に基づき、第1アクチュエータ18を時計回りまたは反時計回りに回転させ、または回転を停止させる。第1アクチュエータ18が時計回りに回転し、または反時計回りに回転することにより、ピニオンギア18aが第1ラック44を図面の下方向または上方向に送り出す。すると、第1ラック44に取り付けられた第1磁石ユニット16が試料分析用基板100に近付き、または試料分析用基板100から遠ざかる。 The first magnet unit 16 is driven by a first actuator 18 . Assume that the first actuator 18 is an electric motor that performs rotary motion. A pinion gear 18 a is attached to the rotating shaft of the electric motor and meshes with the first rack 44 . The drive circuit 20 rotates the first actuator 18 clockwise or counterclockwise or stops the rotation based on the command from the control circuit 22 . By rotating the first actuator 18 clockwise or counterclockwise, the pinion gear 18a feeds the first rack 44 downward or upward in the drawing. Then, the first magnet unit 16 attached to the first rack 44 approaches the sample analysis substrate 100 or moves away from the sample analysis substrate 100 .

第1アクチュエータ18は、試料分析用基板100の回転軸102に垂直な方向、換言すれば試料分析用基板100の円形の表面に平行な方向、に沿って第1磁石ユニット16を移動させる。第1磁石ユニット16の移動を実現するために、図11には、1対のガイド50が設けられている。例えば、ガイド50は略「コ」の字形状の断面を有し、溝部分で第1磁石ユニット16の上面および下面を挟みこむ。それにより、試料分析用基板100の移動はガイド50の長手方向のみに規制される。 The first actuator 18 moves the first magnet unit 16 along a direction perpendicular to the rotation axis 102 of the sample analysis substrate 100 , in other words, along a direction parallel to the circular surface of the sample analysis substrate 100 . To achieve movement of the first magnet unit 16, a pair of guides 50 are provided in FIG. For example, the guide 50 has a substantially U-shaped cross section, and the groove portion sandwiches the upper and lower surfaces of the first magnet unit 16 . Thereby, the movement of the substrate for sample analysis 100 is restricted only in the longitudinal direction of the guide 50 .

チャンバー内の反応物と未反応物とを分離するB/F分離時には、第1アクチュエータ18は、測定チャンバー116内の磁性粒子が第1磁石ユニット16に吸引される位置に磁石ユニットを移動させる。具体的には、第1アクチュエータ18は、図11および図12に示される位置まで第1磁石ユニット16を移動させ、当該位置で固定する。 During B/F separation for separating reactants and unreacted substances in the chamber, the first actuator 18 moves the magnet unit to a position where the magnetic particles in the measurement chamber 116 are attracted to the first magnet unit 16 . Specifically, the first actuator 18 moves the first magnet unit 16 to the position shown in FIGS. 11 and 12 and fixes it at that position.

反応チャンバー114内で抗原抗体反応に関与しなかった未反応物はその後、反応物とともに測定チャンバー116に移送される。B/F分離は、測定チャンバー116に存在する未反応物(非磁性成分)を除去するために行われるため、第1磁石ユニット16の磁石の磁力が測定チャンバー116に存在する磁性粒子を効果的に吸引することを要する。そのため、第1磁石ユニット16のリングの半径の大きさは、当該位置に固定されたときの試料分析用基板100の測定チャンバー116の位置に応じて決定されている。すなわち、第1磁石ユニット16のリングの半径の大きさは、試料分析用基板100の回転軸102(回転中心)から測定チャンバー116までの距離に応じて決定されている。 Unreacted substances that did not participate in the antigen-antibody reaction in the reaction chamber 114 are then transferred to the measurement chamber 116 together with the reactants. Since the B/F separation is performed to remove unreacted substances (non-magnetic components) present in the measurement chamber 116 , the magnetic force of the magnets of the first magnet unit 16 effectively removes the magnetic particles present in the measurement chamber 116 . must be aspirated to Therefore, the size of the radius of the ring of the first magnet unit 16 is determined according to the position of the measurement chamber 116 of the substrate for sample analysis 100 when fixed at that position. That is, the radius of the ring of the first magnet unit 16 is determined according to the distance from the rotation axis 102 (rotation center) of the sample analysis substrate 100 to the measurement chamber 116 .

より具体的には、第1磁石ユニット16のリングの半径方向に関する中心位置を、試料分析用基板100の回転中心から最も離れた測定チャンバー116内の位置に一致させる。図11には、破線で示す2つの円が記載されている。内側の円は、第1磁石ユニット16の最内周に沿っており、半径方向に関して測定チャンバー116の概ね中心位置を通過している。一方、外側の円は、第1磁石ユニット16のリングの半径方向に関する中心位置に沿っており、半径方向に関して測定チャンバー116の最も外側の位置を通過している。 More specifically, the center position of the ring of the first magnet unit 16 in the radial direction is aligned with the position in the measurement chamber 116 that is farthest from the center of rotation of the sample analysis substrate 100 . FIG. 11 includes two circles indicated by dashed lines. The inner circle follows the innermost circumference of the first magnet unit 16 and passes through the approximate center position of the measurement chamber 116 in the radial direction. On the other hand, the outer circle is along the radially central position of the ring of the first magnet units 16 and passes through the radially outermost position of the measurement chamber 116 .

図13は、試料分析用基板100を図11に示す状態から約180度回転させた後の、第1磁石ユニット16の位置と測定チャンバー116の位置との関係を示している。図13には、図11における外側の円(破線)のみが示されている。また図14は、図13におけるA-A断面図である。説明の便宜のため、図14は測定チャンバー116周辺の断面を拡大して示している。 FIG. 13 shows the relationship between the position of the first magnet unit 16 and the position of the measurement chamber 116 after the sample analysis substrate 100 has been rotated about 180 degrees from the state shown in FIG. FIG. 13 shows only the outer circle (dashed line) in FIG. 14 is a sectional view taken along the line AA in FIG. 13. FIG. For convenience of explanation, FIG. 14 shows an enlarged cross section around the measurement chamber 116 .

特に図14から明らかなように、第1磁石ユニット16のリングの半径方向に関する中心位置Lが、回転中心から最も離れた測定チャンバー116内の位置116aに一致していることが理解される。磁性粒子142は、試料分析用基板100の半径方向に関しては、試料分析用基板100の回転中は遠心力の作用により、回転中心から最も離れた測定チャンバー116内の位置116a側に集まる。磁性粒子142は、複合体310に含まれる磁性粒子302、一次抗体304が表面に固定化された磁性粒子302である。なお、後者は、一次抗体304と抗原306との抗原抗体反応が生じた磁性粒子と、生じていない磁性粒子とを含む。 As is particularly clear from FIG. 14, it is understood that the center position L in the radial direction of the ring of the first magnet unit 16 coincides with the position 116a in the measurement chamber 116, which is the farthest from the center of rotation. With respect to the radial direction of the sample analysis substrate 100, the magnetic particles 142 are gathered at the position 116a in the measurement chamber 116 farthest from the center of rotation due to centrifugal force while the sample analysis substrate 100 is rotating. The magnetic particles 142 are magnetic particles 302 to which the magnetic particles 302 contained in the complex 310 and the primary antibody 304 are immobilized on the surface. The latter includes magnetic particles in which an antigen-antibody reaction has occurred between the primary antibody 304 and the antigen 306 and magnetic particles in which an antigen-antibody reaction has not occurred.

一方、試料分析用基板100の回転軸方向に関しては、磁性粒子142は、第1磁石ユニット16の磁石40の吸引力により、測定チャンバー116内の位置116b側に張り付く。つまり、磁性粒子142を効果的に吸引することができる。この状態で試料分析用基板100を適切に回転させることにより、磁性粒子142を測定チャンバー116に残しながら、反応液を測定チャンバー116から他のチャンバーへ移送することが可能になる。この後も、磁性粒子142を磁力で吸引した状態で、例えば洗浄液/基質液を測定チャンバー116に移送し、排出してもよい。 On the other hand, with respect to the rotation axis direction of the sample analysis substrate 100 , the magnetic particles 142 stick to the position 116 b side in the measurement chamber 116 due to the attractive force of the magnets 40 of the first magnet unit 16 . That is, the magnetic particles 142 can be effectively attracted. By appropriately rotating the sample analysis substrate 100 in this state, it becomes possible to transfer the reaction liquid from the measurement chamber 116 to another chamber while leaving the magnetic particles 142 in the measurement chamber 116 . After this, the washing liquid/substrate liquid, for example, may be transferred to the measurement chamber 116 and discharged while the magnetic particles 142 are magnetically attracted.

また、図13に示されるように、第1磁石ユニット16の周方向の長さは測定チャンバー116の周方向の長さよりも長い。これにより、測定チャンバー116内の磁性粒子全体に吸引力を印加できる。 Also, as shown in FIG. 13 , the circumferential length of the first magnet unit 16 is longer than the circumferential length of the measurement chamber 116 . Thereby, an attractive force can be applied to all the magnetic particles within the measurement chamber 116 .

図15および図16は、試料分析用基板100の上方から退避した位置に移動された第1磁石ユニット16と、第1磁石ユニット16の移動機構の構成を示す平面図および側面図である。第2磁石ユニット56の位置は引き続き同じである。 15 and 16 are a plan view and a side view showing the configuration of the first magnet unit 16 moved to the retracted position from above the sample analysis substrate 100 and the movement mechanism of the first magnet unit 16. FIG. The position of the second magnet unit 56 remains the same.

第1アクチュエータ18は、試料分析用基板100の回転軸に平行な方向から見て、第1磁石ユニット16と試料分析用基板100とが重ならない位置まで第1磁石ユニット16を移動させる。 The first actuator 18 moves the first magnet unit 16 to a position where the first magnet unit 16 and the sample analysis substrate 100 do not overlap when viewed from the direction parallel to the rotation axis of the sample analysis substrate 100 .

具体的には、図13に示す状態において、駆動回路20は、制御回路22からの指令に基づき、第1アクチュエータ18を反時計回りに回転させる。第1アクチュエータ18が反時計回りに回転することにより、ピニオンギア18aが第1ラック44を図面の上方向に送り出す。すると、第1ラック44に取り付けられた第1磁石ユニット16が試料分析用基板100の円形の表面に平行な方向に沿って移動し、試料分析用基板100から遠ざかる。 Specifically, in the state shown in FIG. 13 , the drive circuit 20 rotates the first actuator 18 counterclockwise based on a command from the control circuit 22 . By rotating the first actuator 18 counterclockwise, the pinion gear 18a feeds the first rack 44 upward in the drawing. Then, the first magnet unit 16 attached to the first rack 44 moves along the direction parallel to the circular surface of the sample analysis substrate 100 and moves away from the sample analysis substrate 100 .

図16は、図15におけるB-B断面図である。説明の便宜のため、図16は測定チャンバー116周辺の断面を拡大して示している。 16 is a cross-sectional view taken along the line BB in FIG. 15. FIG. For convenience of explanation, FIG. 16 shows an enlarged cross section around the measurement chamber 116 .

図16から明らかなように、第1磁石ユニット16が試料分析用基板100から離れることにより、第1磁石ユニット16の磁石40の磁力が弱まる。その結果、磁性粒子142が磁石40の吸引力から解放され、磁性粒子142は回転中心から最も離れた測定チャンバー116内の位置116a側に広がる。B/F分離により、捕捉されなかった不純物を含む非磁性成分が除去されて反応生成物の洗浄効果が高まり、より高精度な分析結果が得られる。 As is clear from FIG. 16, the magnetic force of the magnet 40 of the first magnet unit 16 is weakened when the first magnet unit 16 is separated from the sample analysis substrate 100 . As a result, the magnetic particles 142 are released from the attractive force of the magnet 40, and the magnetic particles 142 spread toward the position 116a in the measurement chamber 116, which is the farthest from the center of rotation. The B/F separation removes non-magnetic components including uncaptured impurities, enhances the effect of washing reaction products, and provides more accurate analytical results.

図17および図18は、試料分析用基板100と重なる位置に移動された第2磁石ユニット56と、第2磁石ユニット56の移動機構の構成を示す平面図および側面図である。第1磁石ユニット16は引き続き図15に示す位置にとどまっている。 17 and 18 are a plan view and a side view showing the configuration of the second magnet unit 56 moved to a position overlapping the sample analysis substrate 100 and the movement mechanism of the second magnet unit 56. FIG. The first magnet unit 16 still remains in the position shown in FIG.

第2アクチュエータ58は、試料分析用基板100の回転軸102に平行な方向から見て、第2磁石ユニット56と試料分析用基板100とが重なる位置まで第2磁石ユニット56を移動させる。 The second actuator 58 moves the second magnet unit 56 to a position where the second magnet unit 56 and the sample analysis substrate 100 overlap when viewed in a direction parallel to the rotation axis 102 of the sample analysis substrate 100 .

具体的には、図15に示す状態において、駆動回路60は、制御回路22からの指令に基づき、第2アクチュエータ58を時計回りに回転させる。第1アクチュエータ18が時計回りに回転することにより、ピニオンギア58aが第2ラック84を図面の上方向に送り出す。すると、第2ラック84に取り付けられた第2磁石ユニット56が試料分析用基板100の円形の表面に平行な方向に沿って移動し、試料分析用基板100に近付く。そして第2磁石ユニット56が図18に示す位置に到達すると、第2アクチュエータ58は回転を停止する。これにより第2磁石ユニット56は図18に示す位置で停止し、当該位置で固定される。 Specifically, in the state shown in FIG. 15 , the drive circuit 60 rotates the second actuator 58 clockwise based on a command from the control circuit 22 . As the first actuator 18 rotates clockwise, the pinion gear 58a feeds the second rack 84 upward in the drawing. Then, the second magnet unit 56 attached to the second rack 84 moves along the direction parallel to the circular surface of the sample analysis substrate 100 and approaches the sample analysis substrate 100 . When the second magnet unit 56 reaches the position shown in FIG. 18, the second actuator 58 stops rotating. As a result, the second magnet unit 56 stops at the position shown in FIG. 18 and is fixed at that position.

図19は、図17におけるC-C断面図である。説明の便宜のため、図19は測定チャンバー116周辺の断面を拡大して示している。 19 is a cross-sectional view taken along line CC in FIG. 17. FIG. For convenience of explanation, FIG. 19 shows an enlarged cross section around the measurement chamber 116 .

第2磁石ユニット56のリングの半径方向に関する中心位置Mが、上述した、回転中心から最も離れた測定チャンバー116内の位置116aに一致している。磁性粒子142は、試料分析用基板100の半径方向に関しては、試料分析用基板100の回転中は遠心力の作用により、回転中心から最も離れた測定チャンバー116内の位置116aに集まる。 The center position M in the radial direction of the ring of the second magnet unit 56 coincides with the position 116a in the measurement chamber 116 farthest from the center of rotation described above. With respect to the radial direction of the sample analysis substrate 100, the magnetic particles 142 are gathered at the position 116a in the measurement chamber 116 farthest from the center of rotation due to centrifugal force while the sample analysis substrate 100 is rotating.

なお、第1磁石ユニット16のリングの半径方向に関する中心位置L(図14)および第2磁石ユニット56のリングの半径方向に関する中心位置Mは、いずれも測定チャンバー116内の位置116aと一致する。したがって、回転軸102からの、中心位置Lまでの距離および中心位置Mまでの距離は等しい。 The radial center position L ( FIG. 14 ) of the ring of the first magnet unit 16 and the radial center position M of the ring of the second magnet unit 56 both coincide with the position 116 a in the measurement chamber 116 . Therefore, the distance from the rotation axis 102 to the center position L and the distance to the center position M are equal.

この後必要に応じて、第2磁石ユニット56の退避および試料分析用基板100の上方への第1磁石ユニット16の移動、第1磁石ユニット16の退避および試料分析用基板100の下方への第2磁石ユニット56の移動を行う。測定チャンバー116内の磁性粒子142が、第1磁石ユニット16または第2磁石ユニット56に吸引される位置に来るよう、第1アクチュエータ18および第2アクチュエータ58が交互に第1磁石ユニット16および第2磁石ユニット56を移動させる。磁性粒子142は、図14に示す吸引状態と図16に示す解放状態との間、および、図16に示す解放状態と図19に示す吸引状態との間を遷移する。磁性粒子142の吸引および解放を繰り返すことにより、測定チャンバー116の溶液が撹拌される。撹拌により、凝集状態の磁性粒子142の間に未反応の試料が捕捉されていたとしても、当該未反応の試料が磁性粒子142の凝集から解放されやすくなる。その結果、さらなる抗原抗体反応の促進および/または溶液の洗浄を実現することができる。 Thereafter, if necessary, the second magnet unit 56 is retracted, the first magnet unit 16 is moved upward from the sample analysis substrate 100, the first magnet unit 16 is retracted, and the sample analysis substrate 100 is moved downward. The 2-magnet unit 56 is moved. The first actuator 18 and the second actuator 58 alternately move the first magnet unit 16 and the second magnet unit 56 such that the magnetic particles 142 in the measurement chamber 116 are positioned to be attracted to the first magnet unit 16 or the second magnet unit 56 . Move the magnet unit 56 . Magnetic particles 142 transition between the attracted state shown in FIG. 14 and the released state shown in FIG. 16, and between the released state shown in FIG. 16 and the attracted state shown in FIG. Repeated attraction and release of magnetic particles 142 agitates the solution in measurement chamber 116 . Even if an unreacted sample is captured between the magnetic particles 142 in the aggregated state, the stirring makes it easier to release the unreacted sample from the aggregation of the magnetic particles 142 . As a result, promotion of further antigen-antibody reaction and/or washing of the solution can be achieved.

上述した、第1磁石ユニット16および第2磁石ユニット56について、試料分析用基板100への接近と試料分析用基板100からの退避とを「交互」に行わせる際の周期は、例えば磁性粒子142の移動速度を考慮して決定し得る。いま、溶液の成分、粘度、試料分析用基板100の回転速度等により、試料分析用基板100の測定チャンバー116の位置116bから位置116cまでの移動に5秒程度を要することが分かったとする。すると、測定チャンバー116の磁性粒子142が、図14に示す位置116bから解放状態(図16)を経て、図19に示す位置116cまで移動し、さらに、その逆の順序で図14に示す位置116bに戻るまでは、最も速くて約10秒を要する。よって、試料分析用基板100への接近開始から退避して同じ位置に戻ってくるまでの1周期を10秒に設定すればよい。なお当業者であれば、移動の開始から停止までの移動速度・加速度を適宜決定し得る。例えば、一方の磁石ユニットが磁性粒子142を迅速に解放するために、退避開始直後の加速度を最大化してもよい。また、他方の磁石ユニットが磁性粒子142を迅速に吸引するために、試料分析用基板100接近時の停止直前の加速度を最小化してもよい。 Regarding the first magnet unit 16 and the second magnet unit 56 described above, the period when the approach to the sample analysis substrate 100 and the withdrawal from the sample analysis substrate 100 are alternately performed is, for example, the magnetic particles 142 can be determined in consideration of the movement speed of Assume that it takes about 5 seconds to move the sample analysis substrate 100 from the position 116b to the position 116c of the measurement chamber 116 depending on the components of the solution, the viscosity, the rotation speed of the sample analysis substrate 100, and the like. Magnetic particles 142 of measurement chamber 116 then move from position 116b shown in FIG. 14 through the open state (FIG. 16) to position 116c shown in FIG. 19 and vice versa. It takes about 10 seconds at the fastest to return to . Therefore, one cycle from the start of approach to the substrate for sample analysis 100 to the retreat and return to the same position may be set to 10 seconds. A person skilled in the art can appropriately determine the movement speed/acceleration from start to stop of movement. For example, acceleration may be maximized immediately after the start of retraction in order for one magnet unit to quickly release the magnetic particles 142 . Also, in order for the other magnet unit to quickly attract the magnetic particles 142, the acceleration just before stopping when the substrate for sample analysis 100 approaches may be minimized.

このように、第1磁石ユニット16および第2磁石ユニット56をそれぞれ移動させて第1磁石ユニット16と試料分析用基板100との相対位置を変化させ、かつ、第2磁石ユニット56と試料分析用基板100との相対位置を変化させることにより、磁性粒子が効果的に吸引され、解放される。 In this way, the first magnet unit 16 and the second magnet unit 56 are respectively moved to change the relative position between the first magnet unit 16 and the sample analysis substrate 100, and the second magnet unit 56 and the sample analysis substrate 100 are moved. By changing the relative position with the substrate 100, the magnetic particles are effectively attracted and released.

上述の処理は、チャンバー内に磁性粒子が存在する状況であれば、どのような工程においても実行され得る。例えば上述の処理は、試料とドライ化試薬とを用いて抗原抗体反応を生じさせる工程で実行されてもよいし、抗原抗体反応を生じさせた後のB/F分離工程で実行されてもよい。上述の処理が例示した全ての工程で実行された場合には試料中の特定成分の測定精度を最も高めることができる。しかしながら、上述の処理が、少なくともいずれかの工程のみで実行されたとしても、試料分析用基板100の揺動のみによって溶液を撹拌する場合よりは、結果として測定精度を高めることが可能である。 The process described above can be performed in any situation where magnetic particles are present in the chamber. For example, the above-described treatment may be performed in a step of causing an antigen-antibody reaction using a sample and a dried reagent, or in a B/F separation step after causing an antigen-antibody reaction. . The measurement accuracy of the specific component in the sample can be maximized when the above-described processing is performed in all the steps exemplified. However, even if at least one of the above-described processes is performed, it is possible to improve the measurement accuracy as compared with the case where the solution is agitated only by shaking the sample analysis substrate 100 .

図20は、磁性粒子を利用した撹拌処理を実行する制御回路22の処理の手順を示すフローチャートである。制御回路22は、当該フローチャートに記載された処理を実行するための命令群を含むコンピュータプログラムを実行する。なお、図20に示す処理を実行する時点で、第1磁石ユニット16および第2磁石ユニット56は図15に示す位置に退避しているとする。例えば試料分析用基板100が試料分析装置1に装填され、試料が点着された直後の時点を想定すればよい。 FIG. 20 is a flow chart showing a procedure of processing of the control circuit 22 that executes a stirring process using magnetic particles. The control circuit 22 executes a computer program including instructions for executing the processes described in the flowchart. It is assumed that the first magnet unit 16 and the second magnet unit 56 have retreated to the positions shown in FIG. 15 when the process shown in FIG. 20 is executed. For example, the time immediately after the sample analysis substrate 100 is loaded into the sample analysis apparatus 1 and the sample is spotted may be assumed.

ステップS10において、制御回路22は、試料分析用基板100の回転/揺動/停止を実行する。 In step S<b>10 , the control circuit 22 rotates/swings/stops the substrate for sample analysis 100 .

ステップS12において、制御回路22は、第1磁石ユニット16を移動させて、第1磁石ユニット16を試料分析用基板100に近付ける。 In step S<b>12 , the control circuit 22 moves the first magnet unit 16 to bring the first magnet unit 16 closer to the sample analysis substrate 100 .

ステップS14において、制御回路22は、第1所定位置で第1磁石ユニット16の移動を停止させ、試料分析用基板100の回転/揺動/停止を実行する。「第1所定位置」とは、第1磁石ユニット16のリングの半径方向に関する中心位置Lが、回転中心から最も離れた測定チャンバー116内の位置116aに到達したときの第1磁石ユニット16の位置である。このとき、制御回路22は試料分析用基板100の揺動を行ってもよい。 In step S<b>14 , the control circuit 22 stops the movement of the first magnet unit 16 at the first predetermined position, and rotates/swings/stops the substrate for sample analysis 100 . The "first predetermined position" is the position of the first magnet unit 16 when the center position L of the ring of the first magnet unit 16 in the radial direction reaches the position 116a in the measurement chamber 116 farthest from the center of rotation. is. At this time, the control circuit 22 may swing the sample analysis substrate 100 .

そしてステップS16において、制御回路22は、第1磁石ユニット16を退避させる。 Then, in step S16, the control circuit 22 causes the first magnet unit 16 to retreat.

ステップS18において、制御回路22は、次は第2磁石ユニット56を移動させて第2磁石ユニット56を試料分析用基板100に近付ける。 In step S<b>18 , the control circuit 22 next moves the second magnet unit 56 to bring the second magnet unit 56 closer to the sample analysis substrate 100 .

ステップS20において、制御回路22は、第2所定位置で第2磁石ユニット56の移動を停止させ、試料分析用基板100の回転/揺動/停止を実行する。「第2所定位置」とは、図19に示す第2磁石ユニット56の位置である。すなわち、第2磁石ユニット56のリングの半径方向に関する中心位置Mが、回転中心から最も離れた測定チャンバー116内の位置116aに到達したときの第2磁石ユニット56の位置である。このとき、制御回路22は試料分析用基板100の揺動を行ってもよい。 In step S<b>20 , the control circuit 22 stops the movement of the second magnet unit 56 at the second predetermined position, and rotates/swings/stops the substrate for sample analysis 100 . "Second predetermined position" is the position of the second magnet unit 56 shown in FIG. That is, the center position M in the radial direction of the ring of the second magnet unit 56 is the position of the second magnet unit 56 when it reaches the position 116a in the measurement chamber 116 farthest from the center of rotation. At this time, the control circuit 22 may swing the sample analysis substrate 100 .

ステップS22において、制御回路22は、終了条件を満たすか否かを判定する。「終了条件」とは、例えば試料とドライ化試薬とを混合して抗原抗体反応を生じさせるために、交互に第1磁石ユニット16および第2磁石ユニット56を移動させる動作を所定回数終了したこと(所定回数の撹拌が終了したこと)、予め定められた時間が経過したこと、洗浄液/基質液を測定チャンバー116に移送し、排出する動作を所定回数完了したこと(B/F分離工程が完了したこと)、試料の分析中に開閉検出スイッチ4がドア3のオープンを検出したこと、等のいずれかである。満たす場合には処理は終了し、満たさない場合には処理はステップS24に進む。 In step S22, the control circuit 22 determines whether or not the termination condition is satisfied. "Termination condition" means that the operation of alternately moving the first magnet unit 16 and the second magnet unit 56 has been completed a predetermined number of times, for example, in order to mix the sample and the dried reagent to cause an antigen-antibody reaction. (a predetermined number of times of agitation has been completed), a predetermined period of time has elapsed, and a predetermined number of operations of transferring the washing liquid/substrate liquid to the measurement chamber 116 and discharging it have been completed (the B/F separation process has been completed). or that the open/close detection switch 4 detects that the door 3 is open during analysis of the sample. If the condition is satisfied, the process ends, and if the condition is not satisfied, the process proceeds to step S24.

ステップS24において、制御回路22は、第1磁石ユニット16を退避させる。その後処理はステップS12に戻り、ステップS12以降の処理が繰り替えされる。 At step S24, the control circuit 22 causes the first magnet unit 16 to retreat. After that, the process returns to step S12, and the processes after step S12 are repeated.

以上により、磁性粒子の移動を利用した撹拌が終了する。 Thus, the stirring using movement of the magnetic particles is completed.

図21は、発光測定処理を実行する制御回路22の処理の手順を示すフローチャートである。先の図21の例と同様、制御回路22は、当該フローチャートに記載された処理を実行するための命令群を含むコンピュータプログラムを実行する。なお、図20に示す処理を実行する時点で、測定チャンバー116の洗浄は完了し、第1磁石ユニット16および第2磁石ユニット56は再び図15に示す位置に退避しているとする。 FIG. 21 is a flow chart showing the processing procedure of the control circuit 22 for executing the luminescence measurement processing. As in the previous example of FIG. 21, the control circuit 22 executes a computer program containing instructions for executing the processing described in the flowchart. It is assumed that cleaning of the measurement chamber 116 is completed and the first magnet unit 16 and the second magnet unit 56 have retreated to the positions shown in FIG. 15 again when the process shown in FIG. 20 is executed.

ステップS30において、制御回路22は、試料分析用基板100の回転/揺動/停止を実行する。 In step S<b>30 , the control circuit 22 rotates/rocks/stops the substrate for sample analysis 100 .

ステップS32において、制御回路22は、第2磁石ユニット56を移動させて第2磁石ユニット56を試料分析用基板100に近付ける。 In step S<b>32 , the control circuit 22 moves the second magnet unit 56 to bring the second magnet unit 56 closer to the sample analysis substrate 100 .

ステップS34において、制御回路22は、第2所定位置で第2磁石ユニット56の移動を停止させ、試料分析用基板100の回転/揺動/停止を実行する。なお第2所定位置は、図20のステップS20に関して説明したとおりである。 In step S<b>34 , the control circuit 22 stops the movement of the second magnet unit 56 at the second predetermined position, and rotates/swings/stops the substrate for sample analysis 100 . The second predetermined position is as described with regard to step S20 in FIG.

ステップS36において、制御回路22は、発光反応に伴う光子数を測定する。 In step S36, the control circuit 22 measures the number of photons associated with the luminescence reaction.

ステップS38において、制御回路22は、測定した光子数の情報を、例えば表示装置5に出力(表示)する。 In step S38, the control circuit 22 outputs (displays) information on the measured number of photons to the display device 5, for example.

ステップS34およびS36についてより詳しく説明する。図18に示すように、第2磁石ユニット56は試料分析用基板100に関して光検出器30と同じ側に位置している。第2磁石ユニット56によって磁性粒子142が吸引された状態で試料分析用基板100が回転すると、磁性粒子142は光検出器30に最も近接した位置を通過する。発光反応が生じる際の発光中心は磁性粒子142の近傍であるため、発光中心を光検出器30側に寄せることにより、光検出器30の受光量を増加させることができる。つまり、発光反応に伴う光子数の測定精度を向上させることができる。これにより、試料中の特定成分の測定精度を向上させることが可能になる。 Steps S34 and S36 will be described in more detail. As shown in FIG. 18, the second magnet unit 56 is positioned on the same side of the sample analysis substrate 100 as the photodetector 30 . When the sample analysis substrate 100 rotates while the magnetic particles 142 are attracted by the second magnet unit 56 , the magnetic particles 142 pass the position closest to the photodetector 30 . Since the luminescence center when the luminescence reaction occurs is in the vicinity of the magnetic particles 142, the amount of light received by the photodetector 30 can be increased by moving the luminescence center toward the photodetector 30 side. That is, it is possible to improve the measurement accuracy of the number of photons associated with the luminescence reaction. This makes it possible to improve the measurement accuracy of the specific component in the sample.

次に、試料分析装置1の変形例を説明する。 Next, a modified example of the sample analyzer 1 will be described.

これまでの試料分析装置1における第1磁石ユニット16は、半円形状であった。変形例にかかる試料分析装置1の第1磁石ユニット16は、欠けのないリング形状(以下、単に「リング形状」と記述する。)である。 The first magnet unit 16 in the conventional sample analyzer 1 has a semicircular shape. The first magnet unit 16 of the sample analyzer 1 according to the modification has a perfect ring shape (hereinafter simply referred to as "ring shape").

図22は、リング形状の第1磁石ユニット16と、半円形状の第2磁石ユニット56と、試料分析用基板100との位置関係の例を示している。第1磁石ユニット16のリングは、円形に変更した点のみにおいて、半円形状の第1磁石ユニット16(図11)と相違する。その他は図11の例と同じである。よって、変形例においても、第1磁石ユニット16の最内周は半径方向に関して測定チャンバー116の概ね中心位置を通過している。また、第1磁石ユニット16のリングの半径方向に関する中心位置は、半径方向に関して測定チャンバー116の最も外側の位置に一致する。その結果、試料分析用基板100の回転中は、測定チャンバー116内で磁性粒子が最も集まる位置に、第1磁石ユニット16の磁力(吸引力)が常に印加されることになる。試料分析用基板100が1回転あたりの吸引力の大きさは、図11の例と比較すると2倍になることが理解される。これにより、より多くの磁性粒子をより迅速に吸着することができる。 FIG. 22 shows an example of the positional relationship between the ring-shaped first magnet unit 16 , the semicircular second magnet unit 56 , and the sample analysis substrate 100 . The ring of the first magnet unit 16 differs from the semicircular first magnet unit 16 (FIG. 11) only in that it is circular. Others are the same as the example of FIG. Therefore, also in the modified example, the innermost circumference of the first magnet unit 16 passes through the approximate center position of the measurement chamber 116 in the radial direction. Also, the radial center position of the ring of the first magnet unit 16 coincides with the radially outermost position of the measurement chamber 116 . As a result, while the sample analysis substrate 100 is rotating, the magnetic force (attractive force) of the first magnet unit 16 is always applied to the position in the measurement chamber 116 where the magnetic particles are most concentrated. It is understood that the magnitude of the suction force per rotation of the substrate for sample analysis 100 is doubled compared to the example of FIG. This allows more magnetic particles to be adsorbed more quickly.

撹拌のために第2磁石ユニット56が試料分析用基板100の下に移動するにあたっては、第1磁石ユニット16は、試料分析用基板100の回転軸に平行に移動し、試料分析用基板100から離れる。 When the second magnet unit 56 moves under the sample analysis substrate 100 for stirring, the first magnet unit 16 moves parallel to the axis of rotation of the sample analysis substrate 100 and moves from the sample analysis substrate 100. Leave.

図23Aは、変形例にかかる試料分析装置1の側面図である。図12の例と比較すると、回転軸102に平行な方向への第1磁石ユニット16の移動を実現するため、第1アクチュエータ18および第1ラック44の位置が変更されている。第1磁石ユニット16を移動させる原理は図12の例と同じであるため、説明は省略する。 FIG. 23A is a side view of the sample analyzer 1 according to the modification. Compared to the example of FIG. 12, the positions of the first actuator 18 and the first rack 44 have been changed to achieve movement of the first magnet unit 16 in a direction parallel to the axis of rotation 102 . Since the principle of moving the first magnet unit 16 is the same as in the example of FIG. 12, the description is omitted.

リング形状の第1磁石ユニット16を採用したことにより、第1磁石ユニット16の一部(図22の下側の半円部分)と第2磁石ユニット56とが、試料分析用基板100を挟んで対向する。第1磁石ユニット16の磁石40の極性、および、第2磁石ユニット56の磁石80の極性にかかわらず、磁性粒子142は第1磁石ユニット16にも第2磁石ユニット56にも吸引される。そのため、第1磁石ユニット16の磁石40の極性、および、第2磁石ユニット56の磁石80の極性は任意に選択することができる。ただし本発明者は、磁石40と磁石80とが互いに向かい合う側の極性を同じにすることがより好適であることを見出した。以下、説明する。 By adopting the ring-shaped first magnet unit 16, a portion of the first magnet unit 16 (a semicircular portion on the lower side of FIG. 22) and the second magnet unit 56 sandwich the substrate 100 for sample analysis. opposite. The magnetic particles 142 are attracted to both the first magnet unit 16 and the second magnet unit 56 regardless of the polarity of the magnets 40 of the first magnet unit 16 and the polarity of the magnets 80 of the second magnet unit 56 . Therefore, the polarity of the magnet 40 of the first magnet unit 16 and the polarity of the magnet 80 of the second magnet unit 56 can be arbitrarily selected. However, the inventors have found that it is more preferable for the magnets 40 and 80 to have the same polarity on the sides facing each other. This will be explained below.

図23Bは、図23Aにおける磁石40および磁石80の極性の関係を説明するための模式図である。参考のため、試料分析用基板100の位置を示している。 FIG. 23B is a schematic diagram for explaining the polar relationship between magnet 40 and magnet 80 in FIG. 23A. For reference, the position of the sample analysis substrate 100 is shown.

本実施形態では一例として、磁石40のS極40aは試料分析用基板100に向けて配置されている。磁石40のN極40bはS極40aの反対側に位置する。一方、磁石80のS極80aが試料分析用基板100に向けて配置されている。磁石80のN極80bはS極80aの反対側に位置する。つまり、本発明者は、磁石40のS極40aと磁石80のS極80aとが向かい合うように配置した。その理由は、磁力線の密度、つまり磁界の大きさ、を実質的に0にすることが可能だからである。 In this embodiment, as an example, the S pole 40 a of the magnet 40 is arranged facing the sample analysis substrate 100 . The north pole 40b of the magnet 40 is located opposite the south pole 40a. On the other hand, the south pole 80 a of the magnet 80 is arranged facing the sample analysis substrate 100 . The north pole 80b of magnet 80 is located opposite the south pole 80a. That is, the inventor arranged the S pole 40a of the magnet 40 and the S pole 80a of the magnet 80 so as to face each other. The reason is that it is possible to make the density of the lines of magnetic force, that is, the magnitude of the magnetic field, substantially zero.

以下により詳しく説明する。磁石40の磁力線と、磁石80の磁力線とが繋がることはない。そのため、磁石40のS極40aと磁石80のS極80aとが向かい合う場合、両者の距離が十分離れていなくても、つまり比較的近い距離であっても、2つの磁石の中間点において磁力線の密度は0になり、磁界の強さを0にすることができる。特定の、または任意のチャンバーに磁界をかけないよう要求される場合がある。2つの磁石40と磁石80との中間点において磁界の強さを0にできることにより、そのような要求に応えることができる。さらに2つの磁石40と磁石80との距離を比較的短くすることができるため、試料分析装置1のサイズをコンパクトに維持することができる。2つの磁石40と磁石80との間の磁界の強さを実質的に0にする観点では、磁石40のN極40bと磁石80のN極80bとを向かい合うように配置してもよい。 More details are provided below. The lines of magnetic force of the magnet 40 and the lines of magnetic force of the magnet 80 are not connected. Therefore, when the S pole 40a of the magnet 40 and the S pole 80a of the magnet 80 face each other, even if the distance between the two is not sufficiently far, that is, even if the distance between the two is relatively close, the line of magnetic force will be at the midpoint between the two magnets. The density becomes 0 and the strength of the magnetic field can be 0. It may be required that no magnetic field be applied to a particular or any chamber. Such a requirement can be met by allowing the magnetic field strength to be zero at the midpoint between the two magnets 40 and 80 . Furthermore, since the distance between the two magnets 40 and the magnet 80 can be made relatively short, the size of the sample analyzer 1 can be kept compact. From the viewpoint of making the strength of the magnetic field between the two magnets 40 and 80 substantially zero, the north pole 40b of the magnet 40 and the north pole 80b of the magnet 80 may be arranged to face each other.

なお、磁石40のS極と磁石80のN極とを向かい合わせた場合、または、磁石40のN極と磁石80のS極とを向かい合わせた場合には、磁力線が両磁石の中間点を通過する。両磁石の距離を十分長く確保すれば磁界の強さを実質的に0にすることは可能であるが、そうすると試料分析装置1のサイズが大きくなる。そのため、上述のように、磁石40および磁石80のS極同士またはN極同士が試料分析用基板100を挟んで向かい合うように配置することが好適である。 When the S pole of the magnet 40 and the N pole of the magnet 80 face each other, or when the N pole of the magnet 40 and the S pole of the magnet 80 face each other, the lines of magnetic force pass through the midpoint between the two magnets. pass. If the distance between the two magnets is sufficiently long, the strength of the magnetic field can be made substantially zero. Therefore, as described above, it is preferable to arrange the magnets 40 and 80 such that the S poles or the N poles of the magnets 40 and 80 face each other with the sample analysis substrate 100 interposed therebetween.

第2磁石ユニット56もまた、回転軸102と平行な方向に移動させてもよい。 The second magnet unit 56 may also be moved in a direction parallel to the rotation axis 102 .

図24は、さらなる変形例にかかる試料分析装置1の側面図である。図23Aの例と比較すると、回転軸102に平行な方向への第2磁石ユニット56の移動を実現するため、第2アクチュエータ58および第2ラック84の位置が変更されている。第2磁石ユニット56を移動させる原理は図12および23の例と同じであるため、説明は省略する。 FIG. 24 is a side view of the sample analyzer 1 according to a further modified example. Compared to the example of FIG. 23A, the positions of the second actuator 58 and the second rack 84 are changed to achieve movement of the second magnet unit 56 in a direction parallel to the axis of rotation 102 . The principle of moving the second magnet unit 56 is the same as in the examples of FIGS. 12 and 23, so the explanation is omitted.

上述の実施形態およびその変形例の説明では、各磁石ユニットを駆動させるため、ピニオンギアとラックとを利用する態様を挙げた。しかしながら当該態様は一例に過ぎず、他の機構を用いることも可能である。例えば、磁石ユニットとモータとを機械的に接続し、モータの回転位置に応じて磁石ユニットの位置を変化させて、試料分析用基板100からの退避と試料分析用基板100への接近を実現してもよい。他の例として、第1磁石ユニット16および第2磁石ユニット56が交互に試料分析用基板100から退避し、接近するよう機械的に連結してもよい。第1アクチュエータ18および第2アクチュエータ58に代わる1台のアクチュエータを設け、当該アクチュエータを用いて、一方の磁石ユニットが試料分析用基板100から退避させ、他方の磁石ユニットが試料分析用基板100に接近させるよう構成してもよい。1台または複数台の磁石ユニットを移動させる構造を、包括的に「磁石移動機構」と読んでもよい。 In the description of the above-mentioned embodiment and its modification example, a mode using a pinion gear and a rack for driving each magnet unit was given. However, this aspect is only an example, and other mechanisms can be used. For example, the magnet unit and the motor are mechanically connected, and the position of the magnet unit is changed according to the rotational position of the motor to achieve withdrawal from the sample analysis substrate 100 and approach to the sample analysis substrate 100. may As another example, the first magnet unit 16 and the second magnet unit 56 may be mechanically coupled so that they alternately retreat from the sample analysis substrate 100 and approach each other. A single actuator is provided instead of the first actuator 18 and the second actuator 58, and the actuator is used to cause one magnet unit to retreat from the sample analysis substrate 100 and the other magnet unit to approach the sample analysis substrate 100. may be configured to allow A structure for moving one or more magnet units may be generically read as a "magnet moving mechanism".

本開示による試料分析装置は、試料分析用基板100内の、磁性粒子と試料との撹拌に好適に利用され得る。または本開示による試料分析装置は、発光測定に好適に利用され得る。 The sample analysis device according to the present disclosure can be suitably used for stirring the magnetic particles and the sample in the sample analysis substrate 100 . Alternatively, the sample analyzer according to the present disclosure can be suitably used for luminescence measurement.

1:試料分析装置、2:筐体、10:ターンテーブル、12:モータ、14:駆動回路、16:第1磁石ユニット、18:第1アクチュエータ、20:駆動回路、22:制御回路、30:光検出器、40、40a~40d:磁石、40e~40h:磁石群、42:ケース、56:第2磁石ユニット、58:第2アクチュエータ、60:駆動回路、100:試料分析用基板、114:反応チャンバー、116:測定チャンバー、142:磁性粒子 1: sample analyzer, 2: housing, 10: turntable, 12: motor, 14: drive circuit, 16: first magnet unit, 18: first actuator, 20: drive circuit, 22: control circuit, 30: Photodetector, 40, 40a-40d: magnet, 40e-40h: magnet group, 42: case, 56: second magnet unit, 58: second actuator, 60: drive circuit, 100: substrate for sample analysis, 114: Reaction chamber, 116: measurement chamber, 142: magnetic particles

Claims (12)

液体試料を保持した試料分析用基板を回転させ停止させて、前記液体試料中のアナライトと磁性粒子の表面に固定化されたリガンドとの結合反応を生じさせる試料分析装置であって、
前記試料分析用基板は、前記試料分析装置への装填および前記試料分析装置からの取り外しが可能であり、所定の厚さを有する板状のベース基板と、前記ベース基板内の、前記結合反応を生じさせる空間であるチャンバーとを有しており、
装填された前記試料分析用基板を支持するターンテーブルと、
前記ターンテーブルを回転させるモータと、
前記モータの回転および停止を制御する駆動回路と、
前記試料分析用基板の回転軸に垂直な第1面側に配置され、前記磁性粒子を吸引する吸引力を発生させる第1磁石ユニットと、
前記試料分析用基板の回転軸に垂直な、前記第1面と反対の第2面側に配置され、前記磁性粒子を吸引する吸引力を発生させる第2磁石ユニットと、
前記第1磁石ユニットを移動させて前記第1磁石ユニットと前記試料分析用基板との相対位置を変化させる第1アクチュエータと、
前記第2磁石ユニットを移動させて前記第2磁石ユニットと前記試料分析用基板との相対位置を変化させる第2アクチュエータと、
前記モータ、前記駆動回路、前記第1アクチュエータおよび前記第2アクチュエータの動作を制御する制御回路と
を備え、前記チャンバー内の液体試料の撹拌時に、前記第1アクチュエータおよび前記第2アクチュエータは、前記チャンバー内の前記磁性粒子が前記磁石ユニットに吸引される位置に、交互に前記第1磁石ユニットおよび前記第2磁石ユニットを移動させる、試料分析装置。
A sample analysis device for causing a binding reaction between an analyte in the liquid sample and a ligand immobilized on the surface of magnetic particles by rotating and stopping a sample analysis substrate holding a liquid sample, wherein
The sample analysis substrate can be loaded into and removed from the sample analysis device. and a chamber, which is the space in which the
a turntable supporting the loaded sample analysis substrate;
a motor for rotating the turntable;
a driving circuit for controlling rotation and stopping of the motor;
a first magnet unit arranged on the side of the first surface perpendicular to the rotation axis of the sample analysis substrate and generating an attractive force for attracting the magnetic particles;
a second magnet unit arranged on the second surface side opposite to the first surface perpendicular to the rotation axis of the sample analysis substrate and generating an attractive force for attracting the magnetic particles;
a first actuator that moves the first magnet unit to change the relative position between the first magnet unit and the sample analysis substrate;
a second actuator that moves the second magnet unit to change the relative position between the second magnet unit and the sample analysis substrate;
and a control circuit that controls operations of the motor, the drive circuit, the first actuator, and the second actuator, wherein the first actuator and the second actuator move the chamber during stirring of the liquid sample in the chamber. and moving the first magnet unit and the second magnet unit alternately to positions where the magnetic particles inside are attracted to the magnet unit.
前記第1面は前記試料分析用基板に関して前記ターンテーブルと反対側の面であり、
前記第1磁石ユニットは、円またはリングの一部または全部である第1形状を有しており、
前記第2磁石ユニットは、円の一部の形状またはリングの一部または全部の形状である第2形状を有している、請求項1に記載の試料分析装置。
the first surface is a surface opposite to the turntable with respect to the sample analysis substrate;
the first magnet unit has a first shape that is part or all of a circle or a ring;
2. The sample analyzer according to claim 1, wherein the second magnet unit has a second shape that is part of a circle or part or all of a ring.
前記第1磁石ユニットは、前記第1形状を有する単一の磁石、または、前記第1形状に沿って配置された複数の磁石を含み、
前記第2磁石ユニットは、前記第2形状を有する単一の磁石、または、前記第2形状に沿って配置された複数の磁石を含む、請求項2に記載の試料分析装置。
the first magnet unit includes a single magnet having the first shape or a plurality of magnets arranged along the first shape;
3. The sample analyzer according to claim 2, wherein said second magnet unit includes a single magnet having said second shape, or a plurality of magnets arranged along said second shape.
前記試料分析用基板が所定の回転数で回転し、かつ、前記回転数において前記磁性粒子を吸引したときに前記磁性粒子の移動にT秒を要するとき、
前記第1アクチュエータは、周期2T秒で、前記第1磁石ユニットを前記試料分析用基板に接近させ、前記試料分析用基板から離隔させ、かつ、
前記第2アクチュエータは、周期2T秒で、前記第2磁石ユニットを前記試料分析用基板から離隔させ、前記試料分析用基板に接近させる、請求項2または3に記載の試料分析装置。
When the sample analysis substrate rotates at a predetermined number of rotations, and when the magnetic particles are attracted at the number of rotations, it takes T seconds for the movement of the magnetic particles,
The first actuator causes the first magnet unit to approach and separate from the sample analysis substrate at a period of 2T seconds, and
4. The sample analyzer according to claim 2, wherein said second actuator separates said second magnet unit from said sample analysis substrate and brings it closer to said sample analysis substrate at a period of 2T seconds.
前記第1形状および前記第2形状がリングの一部または全部である場合において、
前記第1アクチュエータおよび前記第2アクチュエータはそれぞれ、前記前記第1磁石ユニットおよび前記第2磁石ユニットを前記試料分析用基板に接近させ、前記リングの半径方向に関する中心位置を、前記試料分析用基板の回転中心から最も離れた前記チャンバー内の位置に一致させる、請求項2から4のいずれかに記載の試料分析装置。
When the first shape and the second shape are part or all of a ring,
The first actuator and the second actuator cause the first magnet unit and the second magnet unit to approach the sample analysis substrate, respectively, and move the radial center position of the ring to the sample analysis substrate. 5. The sample analyzer according to any one of claims 2 to 4, wherein the position inside the chamber that is the furthest from the center of rotation is matched.
前記第1アクチュエータおよび前記第2アクチュエータはそれぞれ、前記試料分析用基板の回転軸に平行な方向に沿って前記第1磁石ユニットおよび前記第2磁石ユニットを移動させる、請求項1から5のいずれかに記載の試料分析装置。 6. The first actuator and the second actuator respectively move the first magnet unit and the second magnet unit along a direction parallel to the axis of rotation of the sample analysis substrate. The sample analyzer according to . 前記第2形状は前記リングの一部の形状であり、
前記第1アクチュエータおよび前記第2アクチュエータはそれぞれ、前記試料分析用基板の回転軸に垂直な方向に沿って前記第1磁石ユニットおよび前記第2磁石ユニットを移動させる、請求項1から5のいずれかに記載の試料分析装置。
the second shape is the shape of a portion of the ring;
6. The first actuator and the second actuator respectively move the first magnet unit and the second magnet unit along a direction perpendicular to the axis of rotation of the sample analysis substrate. The sample analyzer according to .
前記第1アクチュエータは、前記試料分析用基板の回転軸に平行な方向から見て、前記第1磁石ユニットと前記試料分析用基板とが重ならない位置まで前記第1磁石ユニットを離隔させ、
前記第2アクチュエータは、前記試料分析用基板の回転軸に平行な方向から見て、前記第2磁石ユニットと前記試料分析用基板とが重ならない位置まで前記第2磁石ユニットを離隔させる、請求項7に記載の試料分析装置。
the first actuator separates the first magnet unit to a position where the first magnet unit and the sample analysis substrate do not overlap when viewed in a direction parallel to the rotation axis of the sample analysis substrate;
The second actuator separates the second magnet unit to a position where the second magnet unit and the sample analysis substrate do not overlap when viewed in a direction parallel to the rotation axis of the sample analysis substrate. 8. The sample analyzer according to 7.
前記第1磁石ユニットおよび前記第2磁石ユニットは、前記試料分析用基板を挟んで対向しており、
前記第1磁石ユニットおよび前記第2磁石ユニットのN極同士またはS極同士が対向している、請求項1から8のいずれかに記載の試料分析装置。
The first magnet unit and the second magnet unit face each other with the sample analysis substrate interposed therebetween,
The sample analyzer according to any one of claims 1 to 8, wherein the north poles or the south poles of the first magnet unit and the second magnet unit face each other.
前記第2面側に配置された光センサをさらに備え、
前記結合反応の完了後、結合した前記アナライトと前記リガンドとの複合体に所定の発光基質を作用させて行う発光反応時に、
前記第2アクチュエータは前記チャンバー内の前記磁性粒子が前記磁石ユニットに吸引される位置に前記第2磁石ユニットを移動させ、
前記光センサは、前記発光反応によって生じた光を検出する、請求項1から9のいずれかに記載の試料分析装置。
Further comprising an optical sensor arranged on the second surface side,
After completion of the binding reaction, during a luminescence reaction performed by allowing a predetermined luminescent substrate to act on the bound complex of the analyte and the ligand,
the second actuator moves the second magnet unit to a position where the magnetic particles in the chamber are attracted to the magnet unit;
10. The sample analyzer according to any one of claims 1 to 9, wherein said optical sensor detects light generated by said luminescent reaction.
前記光センサは光電子倍増管である、請求項10に記載の試料分析装置。 11. The sample analyzer of claim 10, wherein said optical sensor is a photomultiplier tube. 前記第1アクチュエータおよび前記第2アクチュエータは、ステッピングモータまたはリニアモータである、請求項1から11のいずれかに記載の試料分析装置。 The sample analyzer according to any one of claims 1 to 11, wherein said first actuator and said second actuator are stepping motors or linear motors.
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