JP7268144B2 - 試料を走査する方法および装置 - Google Patents
試料を走査する方法および装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP7268144B2 JP7268144B2 JP2021516682A JP2021516682A JP7268144B2 JP 7268144 B2 JP7268144 B2 JP 7268144B2 JP 2021516682 A JP2021516682 A JP 2021516682A JP 2021516682 A JP2021516682 A JP 2021516682A JP 7268144 B2 JP7268144 B2 JP 7268144B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- wavelength
- illumination
- scanning
- dot pattern
- unit
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/0004—Microscopes specially adapted for specific applications
- G02B21/002—Scanning microscopes
- G02B21/0024—Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
- G02B21/0052—Optical details of the image generation
- G02B21/0064—Optical details of the image generation multi-spectral or wavelength-selective arrangements, e.g. wavelength fan-out, chromatic profiling
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/0004—Microscopes specially adapted for specific applications
- G02B21/002—Scanning microscopes
- G02B21/0024—Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
- G02B21/0032—Optical details of illumination, e.g. light-sources, pinholes, beam splitters, slits, fibers
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/0004—Microscopes specially adapted for specific applications
- G02B21/002—Scanning microscopes
- G02B21/0024—Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
- G02B21/0036—Scanning details, e.g. scanning stages
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/0004—Microscopes specially adapted for specific applications
- G02B21/002—Scanning microscopes
- G02B21/0024—Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
- G02B21/0052—Optical details of the image generation
- G02B21/0076—Optical details of the image generation arrangements using fluorescence or luminescence
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Microscoopes, Condenser (AREA)
- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
Description
12、13 照明点
14 走査ライン
16 走査ステップ
18 走査パス
20 グループ
100 顕微鏡
102 試料
104 対物レンズ光学系
106、108 検出ユニット
110 装置
112 観察ビーム路
114 照明ユニット
116 制御ユニット
118、136、148 光学素子
120、122 光源ユニット
124、132、134 波長選択ビームスプリッタ
126 光源
127 ビーム
128 ビームマルチプリケーションユニット
130 走査ユニット
138、139 検出光
140、144 放射フィルタ
142、146 センサ素子
Claims (18)
- 顕微鏡法において試料(102)を走査する方法であって、
ドットパターン(10)を形成するために少なくとも3つの照明点(12、13)を生成し、
前記ドットパターン(10)の前記照明点(12、13)にそれぞれ対応付けられている走査ライン(14)を生成するために第1方向に沿って前記ドットパターン(10)を移動させ、前記走査ライン(14)を第2方向に順次ずらして、各位置において前記第1方向に走査を行うことで前記試料(102)の少なくとも1つのあらかじめ定められた領域(40)を走査し、前記走査ライン(14)を前記第2方向に順次ずらす際、少なくとも1つの走査ライン(14)の間隔をあけてずらし、
前記ドットパターン(10)は、第1波長(L1)を有する少なくとも2つの照明点(12)と、前記第1波長(L1)とは異なる第2波長(L2)を有するただ1つの照明点(13)と、を有し、
前記第2方向に沿って前記ドットパターン(10)を移動する際に、前記第1波長(L1)を有する前記照明点(12)により、ただ1回の走査の繰り返し(18)で、あらかじめ定められた前記領域(40)を完全に走査し、
前記第2方向に沿って前記ドットパターン(10)を移動する際に、前記第2波長(L2)を有する前記照明点(13)により、少なくとも2回の走査の繰り返し(18)で、あらかじめ定められた前記領域(40)を完全に走査する、
方法。 - 前記第1方向および/または前記第2方向に沿って前記ドットパターン(10)を移動する際に、あらかじめ定められた前記領域(40)を連続的に走査する、
請求項1記載の方法。 - 前記第2方向に沿って前記ドットパターン(10)を移動する際に、前記第2波長(L2)を有する前記照明点(13)により、前記第1波長(L1)を有する照明点(12)の個数に一致する走査の繰り返し(18)の回数で、あらかじめ定められた前記領域(40)を完全に走査する、
請求項1または2記載の方法。 - 一走査ステップ(16)において、前記第2方向に沿い、少なくとも2つの走査ライン(14)だけ前記ドットパターンが移動されるように、前記第2方向に沿って前記ドットパターン(10)を移動する、
請求項1から3までのいずれか1項記載の方法。 - 前記ドットパターン(10)の前記照明点(12、13)を前記第2方向に沿った一直線上に配置する、
請求項1から4までのいずれか1項記載の方法。 - 前記第1波長(L1)を有する前記照明点(12)を等間隔に配置する、
請求項1から5までのいずれか1項記載の方法。 - 前記第1波長(L1)を有する前記照明点(12)間の、前記走査ライン(14)において定められる間隔、および/または一走査ステップ(16)において前記第2方向に沿って前記ドットパターン(10)が移動される走査ライン(14)の個数は、前記第1波長(L1)を有する照明点(12)の個数に依存する、
請求項1から6までのいずれか1項記載の方法。 - 前記第1波長(L1)を有する前記照明点(12)間の、複数の走査ライン(14)において定められる前記間隔は、前記第1波長(L1)を有する照明点(12)の個数+1に等しい、
請求項7記載の方法。 - 前記第1波長(L1)を有する前記照明点(12)と前記第2波長(L2)を有する前記照明点(13)とは、重ならない照明点である、
請求項1から8までのいずれか1項記載の方法。 - 顕微鏡法において試料(102)を走査する装置(110)であって、
前記装置(110)は、ドットパターン(10)を形成するために少なくとも3つの照明点(12、13)を生成する照明ユニット(114)を備えており、
前記装置(110)は、前記照明ユニット(114)を制御する制御ユニット(116)を有し、前記制御ユニット(116)は、前記照明ユニット(114)を制御し、これにより、前記照明ユニット(114)によって、前記ドットパターン(10)の前記照明点(12、13)にそれぞれ対応付けられている走査ライン(14)を生成するために第1方向に沿って前記ドットパターン(10)を移動させ、前記走査ライン(14)を第2方向に順次ずらして、各位置において前記第1方向に走査を行うことで前記試料(102)の少なくとも1つのあらかじめ定められた領域(40)を走査し、前記走査ライン(14)を前記第2方向に順次ずらす際、少なくとも1つの走査ライン(14)の間隔をあけてずらし、
前記照明ユニット(114)によって生成される前記ドットパターン(10)は、第1波長(L1)を有する少なくとも2つの照明点(12)と、前記第1波長(L1)とは異なる第2波長(L2)を有する1つの照明点(13)と、を有し、
前記第2方向に沿って前記ドットパターン(10)を移動する際に、前記第1波長(L1)を有する前記照明点(12)により、ただ1回の走査の繰り返し(18)で、あらかじめ定められた前記領域(40)を完全に走査し、
前記第2方向に沿って前記ドットパターン(10)を移動する際に、前記第2波長(L2)を有する前記照明点(13)により、少なくとも2回の走査の繰り返し(18)で、あらかじめ定められた前記領域(40)を完全に走査する、
装置(110)。 - 前記照明ユニット(114)は、前記第1波長(L1)を有する前記照明点(12)を生成する第1光源ユニット(120)と、前記第2波長を有する前記照明点を生成する第2光源ユニットと、を有し、前記照明ユニット(114)は、前記ドットパターン(10)を生成するユニットを有する、
請求項10記載の装置(110)。 - 前記ドットパターン(10)を生成する前記ユニットは、少なくとも1つの第1波長選択ビームスプリッタ(124)を有する、
請求項11記載の装置(110)。 - 前記第1光源ユニット(120)により、前記第1波長(L1)を有するビーム(127)が生成され、前記照明ユニット(114)は、ビームマルチプリケーションユニット(128)を有し、前記ビームマルチプリケーションユニット(128)により、前記第1波長(L1)を有する前記ビーム(127)から、前記第1波長(L1)を有する複数の前記照明点(12)が生成される、
請求項11または12記載の装置(110)。 - 前記ビームマルチプリケーションユニット(128)に、少なくとも1つの音響光学変向器(AOD:akustooptischer Deflektor)または少なくとも1つのビームスプリッタが含まれている、
請求項13記載の装置(110)。 - 前記照明ユニット(114)は、前記第1方向および/または前記第2方向に沿って前記ドットパターン(10)を移動する走査ユニット(130)を有する、
請求項10から14までのいずれか1項記載の装置(110)。 - 前記第1波長(L1)を有する前記照明点(12)と前記第2波長(L2)を有する前記照明点(13)とは、重ならない照明点である、
請求項10から14までのいずれか1項記載の装置(110)。 - 請求項10から16までのいずれか1項記載の装置(110)を有する顕微鏡。
- 前記顕微鏡は、
前記第1波長(L1)を前記試料(102)に照射した際に検出される第3波長(L1’)を有する、前記試料(102)から放出される検出光(138)を検出する第1検出ユニット(106)と、
前記第2波長(L2)を前記試料(102)に照射した際に検出される第4波長(L2’)を有する、前記試料(102)から放出される検出光(139)を検出する第2検出ユニット(108)と、
を有する、
請求項17記載の顕微鏡。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE102018123381.7A DE102018123381A1 (de) | 2018-09-24 | 2018-09-24 | Verfahren und Vorrichtung zum Abrastern einer Probe |
DE102018123381.7 | 2018-09-24 | ||
PCT/EP2019/075104 WO2020064481A1 (de) | 2018-09-24 | 2019-09-19 | Verfahren und Vorrichtung zum Abrastern einer Probe |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2022500704A JP2022500704A (ja) | 2022-01-04 |
JP7268144B2 true JP7268144B2 (ja) | 2023-05-02 |
Family
ID=68208264
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2021516682A Active JP7268144B2 (ja) | 2018-09-24 | 2019-09-19 | 試料を走査する方法および装置 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US12066614B2 (ja) |
EP (1) | EP3857285A1 (ja) |
JP (1) | JP7268144B2 (ja) |
DE (1) | DE102018123381A1 (ja) |
WO (1) | WO2020064481A1 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102017125688A1 (de) * | 2017-11-03 | 2019-05-09 | Leica Microsystems Cms Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zum Abrastern einer Probe |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008164841A (ja) | 2006-12-27 | 2008-07-17 | Olympus Corp | 共焦点レーザー走査型顕微鏡 |
JP2009103958A (ja) | 2007-10-24 | 2009-05-14 | Olympus Corp | 走査型レーザ顕微鏡 |
US20160054226A1 (en) | 2013-03-25 | 2016-02-25 | Daniela Gandolfi | An image forming method of a fluorescent sample |
US20160299326A1 (en) | 2013-12-17 | 2016-10-13 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Method for scanning microscopy and scanning microscope |
JP2017198971A (ja) | 2016-02-10 | 2017-11-02 | カール ツァイス マイクロスコピー ゲーエムベーハーCarl Zeiss Microscopy Gmbh | マルチスポット走査顕微鏡法のためのデバイスおよび方法 |
Family Cites Families (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB9015793D0 (en) * | 1990-07-18 | 1990-09-05 | Medical Res Council | Confocal scanning optical microscope |
DE19858456A1 (de) * | 1998-12-18 | 2000-07-06 | Leica Microsystems | Verfahren zum Auffinden, zur Aufnahme und gegebenenfalls zur Auswertung von Objektstrukturen |
US7684048B2 (en) * | 2005-11-15 | 2010-03-23 | Applied Materials Israel, Ltd. | Scanning microscopy |
US20100277580A1 (en) * | 2007-11-23 | 2010-11-04 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Multi-modal spot generator and multi-modal multi-spot scanning microscope |
US9103721B2 (en) * | 2011-04-07 | 2015-08-11 | Uwm Research Foundation, Inc. | High speed microscope with spectral resolution |
DE102012019121A1 (de) * | 2011-09-29 | 2013-04-04 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Verfahren zur Variation des Scanfeldes eines Laser-Scanning-Mikroskops |
DE102014119027B4 (de) * | 2014-12-18 | 2024-08-08 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Vorrichtung zur Multispot-Scan-Mikroskopie |
US10365218B2 (en) * | 2016-05-27 | 2019-07-30 | Verily Life Sciences Llc | Systems and methods for 4-D hyperspectral imaging |
DE102016119730A1 (de) | 2016-10-17 | 2018-04-19 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Optikgruppe für Detektionslicht für ein Mikroskop, Verfahren zur Mikroskopie und Mikroskop |
-
2018
- 2018-09-24 DE DE102018123381.7A patent/DE102018123381A1/de active Pending
-
2019
- 2019-09-19 JP JP2021516682A patent/JP7268144B2/ja active Active
- 2019-09-19 WO PCT/EP2019/075104 patent/WO2020064481A1/de unknown
- 2019-09-19 EP EP19786270.9A patent/EP3857285A1/de active Pending
- 2019-09-19 US US17/278,691 patent/US12066614B2/en active Active
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008164841A (ja) | 2006-12-27 | 2008-07-17 | Olympus Corp | 共焦点レーザー走査型顕微鏡 |
JP2009103958A (ja) | 2007-10-24 | 2009-05-14 | Olympus Corp | 走査型レーザ顕微鏡 |
US20160054226A1 (en) | 2013-03-25 | 2016-02-25 | Daniela Gandolfi | An image forming method of a fluorescent sample |
US20160299326A1 (en) | 2013-12-17 | 2016-10-13 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Method for scanning microscopy and scanning microscope |
JP2017198971A (ja) | 2016-02-10 | 2017-11-02 | カール ツァイス マイクロスコピー ゲーエムベーハーCarl Zeiss Microscopy Gmbh | マルチスポット走査顕微鏡法のためのデバイスおよび方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
WO2020064481A1 (de) | 2020-04-02 |
JP2022500704A (ja) | 2022-01-04 |
EP3857285A1 (de) | 2021-08-04 |
US20220043245A1 (en) | 2022-02-10 |
US12066614B2 (en) | 2024-08-20 |
DE102018123381A1 (de) | 2020-03-26 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US11604342B2 (en) | Microscopy devices, methods and systems | |
JP6282706B2 (ja) | 物体の2次元または3次元の位置調整のための高解像度顕微鏡および方法 | |
JP5259154B2 (ja) | 走査型レーザ顕微鏡 | |
JP6810025B2 (ja) | 少なくとも2つの波長範囲を区別する高解像度走査型顕微鏡検査法 | |
JP4723806B2 (ja) | 共焦点顕微鏡 | |
CN102455501B (zh) | 具有连续片光源的spim显微镜 | |
US7619732B2 (en) | Method and microscope for high spatial resolution examination of samples | |
US9632301B2 (en) | Slide scanner with a tilted image | |
JP2018097382A (ja) | 高分解能ルミネッセンス顕微鏡法 | |
CN110596059B (zh) | 光学超分辨显微成像系统 | |
US20100053743A1 (en) | Apparatus for real-time three-dimensional laser scanning microscopy, with detection of single- and multi-photon fluorescence and of higher order harmonics | |
JP6342842B2 (ja) | 走査型顕微鏡システム | |
JP2007233370A (ja) | 試料を高い空間分解能で検査するための方法および顕微鏡 | |
US20130250088A1 (en) | Multi-color confocal microscope and imaging methods | |
US20140339439A1 (en) | Method for High-Resolution 3D Localization Microscopy | |
JP6484234B2 (ja) | 試料の共焦点観察のための装置 | |
JP7268144B2 (ja) | 試料を走査する方法および装置 | |
JP2007506146A (ja) | 共焦点レーザ走査顕微鏡 | |
JP7094225B2 (ja) | 試料を検査する方法および顕微鏡 | |
US20140291484A1 (en) | Microscope with structured illumination | |
US10831008B2 (en) | Microscope and microscopy method having different sequences of evaluating pixels and switching light sources | |
US12124019B2 (en) | Microscope with a wide-field illuminator and a common detection objective for a camera detector and a point detector | |
US9535242B1 (en) | Parallel programmable array microscope | |
JP2006003747A (ja) | 光走査型観察装置 | |
CN118451353A (zh) | 显微镜和用于显微镜检查的方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20210421 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20220310 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20220509 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20220719 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20221007 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20230124 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20230316 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20230328 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20230420 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 7268144 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |